JP2548703Y2 - 回路基板検査装置 - Google Patents
回路基板検査装置Info
- Publication number
- JP2548703Y2 JP2548703Y2 JP1056791U JP1056791U JP2548703Y2 JP 2548703 Y2 JP2548703 Y2 JP 2548703Y2 JP 1056791 U JP1056791 U JP 1056791U JP 1056791 U JP1056791 U JP 1056791U JP 2548703 Y2 JP2548703 Y2 JP 2548703Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- inspected
- inspection
- measuring
- inspecting
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は回路基板検査装置に関
し、さらに詳しく言えば、両面に被検査部品を有する回
路基板に好適な回路基板検査装置に関するものである。
し、さらに詳しく言えば、両面に被検査部品を有する回
路基板に好適な回路基板検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】回路基板検査装置には、大きく分けて
Ｘ−Ｙ型と、ピンボード式の２つがある。
Ｘ−Ｙ型と、ピンボード式の２つがある。
【０００３】Ｘ−Ｙ型回路基板検査装置は、被検査回
路基板と平行な平面内において、自在に移動し得る少な
くとも２本の移動プローブを備えている。
路基板と平行な平面内において、自在に移動し得る少な
くとも２本の移動プローブを備えている。
【０００４】これによると、被検査回路基板ごとにピン
ボードを作成しなくてよいため、多品種少量生産に向い
ているが、他方において、両面を同時に測定することが
できないことが短所とされている。
ボードを作成しなくてよいため、多品種少量生産に向い
ているが、他方において、両面を同時に測定することが
できないことが短所とされている。
【０００５】ピンボード式のものは、被検査回路基板
の各測定ポイントに対応する位置にプローブを立設した
ピンボードを備え、検査時にはそれらの固定プローブを
同時に接触させる。
の各測定ポイントに対応する位置にプローブを立設した
ピンボードを備え、検査時にはそれらの固定プローブを
同時に接触させる。
【０００６】したがって、表面側用のピンボードと裏面
側用のピンボードとを用意しておくことで、基板の両面
を同時に検査することができる。しかしながら、被検査
回路基板ごとにそれ固有のピンボードを必要とし、ま
た、そのピンボードの作成にはかなりの時間とコストが
かかる。
側用のピンボードとを用意しておくことで、基板の両面
を同時に検査することができる。しかしながら、被検査
回路基板ごとにそれ固有のピンボードを必要とし、ま
た、そのピンボードの作成にはかなりの時間とコストが
かかる。
【０００７】
【考案が解決しようとする課題】ところで、回路基板に
電解コンデンサが実装されている場合、その極性の正
誤、所謂「逆差し」を検査するには、その金属ケースと
リード端子のいずれか一方とにプローブを接触させて、
その間のインピーダンスを測定するようにしている。
電解コンデンサが実装されている場合、その極性の正
誤、所謂「逆差し」を検査するには、その金属ケースと
リード端子のいずれか一方とにプローブを接触させて、
その間のインピーダンスを測定するようにしている。
【０００８】したがって、このような回路基板において
は、同基板の両面にプローブを配置しなければならない
ため、それがたとえ小ロットであっても、ピンボード式
の検査装置を使用せざるを得なかった。
は、同基板の両面にプローブを配置しなければならない
ため、それがたとえ小ロットであっても、ピンボード式
の検査装置を使用せざるを得なかった。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この考案は上記従来の事
情に鑑みなされたもので、その構成上の特徴は、被検査
回路基板の一方の面を電気的に検査する第１の検査手段
および同被検査回路基板の他方の面を検査する第２の検
査手段と、該各検査手段に測定信号を供給する測定信号
発生部および同各検査手段を介して得られる測定信号を
測定する信号測定部を有する測定手段と、上記各検査手
段および上記測定手段などを所定のプログラムにしたが
って制御する制御手段とを備えた回路基板検査装置にお
いて、上記第１の検査手段は上記被検査回路基板とほぼ
平行な平面内において自在に移動し得る少なくとも２本
の移動プローブを有するとともに、上記第２の検査手段
は、被検査部位に接触し得るようにピンボードの所定位
置に立設された固定プローブを備えていることにある。
情に鑑みなされたもので、その構成上の特徴は、被検査
回路基板の一方の面を電気的に検査する第１の検査手段
および同被検査回路基板の他方の面を検査する第２の検
査手段と、該各検査手段に測定信号を供給する測定信号
発生部および同各検査手段を介して得られる測定信号を
測定する信号測定部を有する測定手段と、上記各検査手
段および上記測定手段などを所定のプログラムにしたが
って制御する制御手段とを備えた回路基板検査装置にお
いて、上記第１の検査手段は上記被検査回路基板とほぼ
平行な平面内において自在に移動し得る少なくとも２本
の移動プローブを有するとともに、上記第２の検査手段
は、被検査部位に接触し得るようにピンボードの所定位
置に立設された固定プローブを備えていることにある。
【００１０】
【作用】上記構成によると、被検査回路基板のハンダ付
け面側がＸ−Ｙ型の移動プローブにて検査され、部品実
装面側は固定プローブが受け持つ。この場合、固定プロ
ーブは最小の数だけ用意されればよい。
け面側がＸ−Ｙ型の移動プローブにて検査され、部品実
装面側は固定プローブが受け持つ。この場合、固定プロ
ーブは最小の数だけ用意されればよい。
【００１１】したがって、本来Ｘ−Ｙ型でありながら、
電解コンデンサの逆差しなどをも検査することができ
る。
電解コンデンサの逆差しなどをも検査することができ
る。
【００１２】
【実施例】図１はこの回路基板検査装置の一実施例を概
略的に示した斜視図、図２はその模式図である。
略的に示した斜視図、図２はその模式図である。
【００１３】これによると、この回路基板検査装置は、
検査すべき回路基板Ｐの両側に配置された第１の検査手
段１０と第２の検査手段２０とを備えている。
検査すべき回路基板Ｐの両側に配置された第１の検査手
段１０と第２の検査手段２０とを備えている。
【００１４】第１の検査手段１０は、回路基板Ｐと平行
な平面内において、互いに平行に延びる一対のガイドア
ーム１１ａ，１１ｂを有している。各ガイドアーム１１
ａ，１１ｂはそれと直交する送りネジ軸１２ａ，１２ｂ
に支持されている。
な平面内において、互いに平行に延びる一対のガイドア
ーム１１ａ，１１ｂを有している。各ガイドアーム１１
ａ，１１ｂはそれと直交する送りネジ軸１２ａ，１２ｂ
に支持されている。
【００１５】各ガイドアーム１１ａ，１１ｂには、移動
プローブ１３ａ，１３ｂを有するキャリヤ１４ａ，１４
ｂが同アーム１１ａ，１１ｂに沿って往復動可能に設け
られている。
プローブ１３ａ，１３ｂを有するキャリヤ１４ａ，１４
ｂが同アーム１１ａ，１１ｂに沿って往復動可能に設け
られている。
【００１６】ここで、ガイドアーム１１ａ，１１ｂの延
在方向をＸ方向、送りネジ軸１２ａ，１２ｂの延在方向
をＹとすると、各移動プローブ１３ａ，１３ｂは回路基
板Ｐとほぼ平行なＸ−Ｙ平面内において自在に移動す
る。
在方向をＸ方向、送りネジ軸１２ａ，１２ｂの延在方向
をＹとすると、各移動プローブ１３ａ，１３ｂは回路基
板Ｐとほぼ平行なＸ−Ｙ平面内において自在に移動す
る。
【００１７】なお図示されていないが、各ガイドアーム
１１ａ，１１ｂおよび各キャリヤ１４ａ，１４ｂはサー
ボ系駆動手段にて目的とする位置に動かされ、また、各
移動プローブ１３ａ，１３ｂはソレノイド、エアーシリ
ンダもしくは円板クランクなどにて、回路基板Ｐに対し
て進退可能とされている。
１１ａ，１１ｂおよび各キャリヤ１４ａ，１４ｂはサー
ボ系駆動手段にて目的とする位置に動かされ、また、各
移動プローブ１３ａ，１３ｂはソレノイド、エアーシリ
ンダもしくは円板クランクなどにて、回路基板Ｐに対し
て進退可能とされている。
【００１８】第２の検査手段２０は、回路基板Ｐの部品
実装面側にそれと平行に配置されるピンボード２１を備
えている。このピンボード２１には、電解コンデンサの
金属ケースＣに接触する固定プローブ２２ａや同部品実
装面側の配線パターンなどに接触する固定プローブ２２
ｂなどが立設されている。
実装面側にそれと平行に配置されるピンボード２１を備
えている。このピンボード２１には、電解コンデンサの
金属ケースＣに接触する固定プローブ２２ａや同部品実
装面側の配線パターンなどに接触する固定プローブ２２
ｂなどが立設されている。
【００１９】なお測定時、図２に示されているように、
このピンボード２１は図示しないリフト手段にて各固定
ピン２２ａ，２２ｂなどが対応する測定ポイントに接触
するように持ち上げられる。
このピンボード２１は図示しないリフト手段にて各固定
ピン２２ａ，２２ｂなどが対応する測定ポイントに接触
するように持ち上げられる。
【００２０】図３にはこの回路基板検査装置の概略的な
電気的ブロック線図が例示されている。同図において、
３１はスキャナ部、３２は測定手段である。
電気的ブロック線図が例示されている。同図において、
３１はスキャナ部、３２は測定手段である。
【００２１】この測定手段３２は、測定信号発生器およ
び被測定部品などからの応答信号を測定する信号測定器
とを含み、この場合、これらはスキャナ部３１を介して
第１もしくは第２の検査手段１０，２０の移動プローブ
１３ａ，１３ｂもしくは固定プローブ２２ａ，２２ｂな
どに選択的に接続される。
び被測定部品などからの応答信号を測定する信号測定器
とを含み、この場合、これらはスキャナ部３１を介して
第１もしくは第２の検査手段１０，２０の移動プローブ
１３ａ，１３ｂもしくは固定プローブ２２ａ，２２ｂな
どに選択的に接続される。
【００２２】３３は送りネジ軸１２ａ，１２ｂ、キャリ
ヤ１４ａ，１４ｂ、移動プローブ１３ａ，１３ｂおよび
ピンボード２１の駆動系を制御する駆動制御部、３４は
検査プログラムや良否判定データおよび測定データなど
が格納されるメモリ、３５はＣＲＴ、プリンタ、キーボ
ードおよびフロッピーディスクなどの外部記憶手段を有
する入出力部、３６はＣＰＵからなる中央制御部であ
る。
ヤ１４ａ，１４ｂ、移動プローブ１３ａ，１３ｂおよび
ピンボード２１の駆動系を制御する駆動制御部、３４は
検査プログラムや良否判定データおよび測定データなど
が格納されるメモリ、３５はＣＲＴ、プリンタ、キーボ
ードおよびフロッピーディスクなどの外部記憶手段を有
する入出力部、３６はＣＰＵからなる中央制御部であ
る。
【００２３】同ＣＰＵ３６は、メモリ３４に格納されて
いる検査プログラムなどによってスキャナ部３１、測定
手段３２、駆動制御部３３などを制御する。
いる検査プログラムなどによってスキャナ部３１、測定
手段３２、駆動制御部３３などを制御する。
【００２４】上記の構成において、回路基板Ｐはそのハ
ンダ付け面側を移動プローブ１４ａ，１４ｂを有する第
１の検査手段１０と対向するようにして、所定の検査位
置にセットされる。
ンダ付け面側を移動プローブ１４ａ，１４ｂを有する第
１の検査手段１０と対向するようにして、所定の検査位
置にセットされる。
【００２５】次に、ピンボード２１が持ち上げられ、各
プローブ２２ａ，２２ｂなどが測定ポイントに接触させ
られる。そして、測定作業に入るのであるが、例えば最
初に移動プローブ１３ａ，１３ｂにより、回路基板Ｐの
ハンダ付け面側の検査が行なわれる。
プローブ２２ａ，２２ｂなどが測定ポイントに接触させ
られる。そして、測定作業に入るのであるが、例えば最
初に移動プローブ１３ａ，１３ｂにより、回路基板Ｐの
ハンダ付け面側の検査が行なわれる。
【００２６】すなわち、一方の移動プローブ１３ａが測
定手段３２内の測定信号発生器に接続され、他方の移動
プローブ１３ｂは信号測定器に接続される。そして、各
ガイドアーム１１ａ，１１ｂのＹ方向移動およびキャリ
ヤ１４ａ，１４ｂのＸ方向移動により、目的とする測定
ポイントに自在に動かされる。
定手段３２内の測定信号発生器に接続され、他方の移動
プローブ１３ｂは信号測定器に接続される。そして、各
ガイドアーム１１ａ，１１ｂのＹ方向移動およびキャリ
ヤ１４ａ，１４ｂのＸ方向移動により、目的とする測定
ポイントに自在に動かされる。
【００２７】このようにして、各測定部位のピン間テス
トが行なわれるのであるが、電解コンデンサの逆差しを
検査するには、スキャナ部３１を切り替えてその金属ケ
ースＣに接触するプローブ２２ａを例えば測定信号発生
器側に接続し、一方の移動プローブ１３ａを信号測定器
に接続する。
トが行なわれるのであるが、電解コンデンサの逆差しを
検査するには、スキャナ部３１を切り替えてその金属ケ
ースＣに接触するプローブ２２ａを例えば測定信号発生
器側に接続し、一方の移動プローブ１３ａを信号測定器
に接続する。
【００２８】そして、一方のリード端子Ｒ１と金属ケー
スＣとの間のインピーダンスを測定するとともに、他方
のリード端子Ｒ２と金属ケースＣとの間のインピーダン
スを測定し、それらの値を比較して正誤を判断する。
スＣとの間のインピーダンスを測定するとともに、他方
のリード端子Ｒ２と金属ケースＣとの間のインピーダン
スを測定し、それらの値を比較して正誤を判断する。
【００２９】上記実施例では、Ｘ−Ｙ型としての第１の
検査手段１０には、２本のプローブ１３ａ，１３ｂしか
設けられていないが、これにガーデング用のプローブが
加えられることもある。また、部品実装面側の検査例と
して、電解コンデンサの極性検査について説明したが、
これに限定されるものではない。
検査手段１０には、２本のプローブ１３ａ，１３ｂしか
設けられていないが、これにガーデング用のプローブが
加えられることもある。また、部品実装面側の検査例と
して、電解コンデンサの極性検査について説明したが、
これに限定されるものではない。
【００３０】
【考案の効果】以上説明したように、この考案によれ
ば、Ｘ−Ｙ型検査装置にと最小限のピンボード式を取り
入れ、回路基板のハンダ付け面のみならず、部品実装面
側をも同時に検査することができる回路基板検査装置が
提供される。
ば、Ｘ−Ｙ型検査装置にと最小限のピンボード式を取り
入れ、回路基板のハンダ付け面のみならず、部品実装面
側をも同時に検査することができる回路基板検査装置が
提供される。
【図１】この考案による回路基板検査装置の一実施例を
概略的に示した斜視図。
概略的に示した斜視図。
【図２】同実施例の模式図。
【図３】同実施例の概略的なブロック線図。
１０ 第１の検査手段 １１ａ，１１ｂ ガイドアーム １２ａ，１２ｂ 送りネジ軸 １３ａ，１３ｂ 移動プローブ １４ａ，１４ｂ キャリヤ ２０ 第２の検査手段 ２１ ピンボード ２２ａ，２２ｂ 固定プローブ ３１ スキャナ部 ３２ 測定手段 ３３ 駆動制御部 ３４ メモリ ３６ ＣＰＵ
Claims (1)
- 【請求項１】被検査回路基板の一方の面を電気的に検査
する第１の検査手段および同被検査回路基板の他方の面
を検査する第２の検査手段と、該各検査手段に測定信号
を供給する測定信号発生部および同各検査手段を介して
得られる測定信号を測定する信号測定部を有する測定手
段と、上記各検査手段および上記測定手段などを所定の
プログラムにしたがって制御する制御手段とを備えた回
路基板検査装置において、上記第１の検査手段は上記被
検査回路基板とほぼ平行な平面内において自在に移動し
得る少なくとも２本の移動プローブを有するとともに、
上記第２の検査手段は、被検査部位に接触し得るように
ピンボードの所定位置に立設された固定プローブを備え
ていることを特徴とする回路基板検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1056791U JP2548703Y2 (ja) | 1991-02-04 | 1991-02-04 | 回路基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1056791U JP2548703Y2 (ja) | 1991-02-04 | 1991-02-04 | 回路基板検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0499086U JPH0499086U (ja) | 1992-08-27 |
| JP2548703Y2 true JP2548703Y2 (ja) | 1997-09-24 |
Family
ID=31743709
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1056791U Expired - Lifetime JP2548703Y2 (ja) | 1991-02-04 | 1991-02-04 | 回路基板検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2548703Y2 (ja) |
-
1991
- 1991-02-04 JP JP1056791U patent/JP2548703Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0499086U (ja) | 1992-08-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970401 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |