JPS618610A - 鋼板表面検査装置 - Google Patents

鋼板表面検査装置

Info

Publication number
JPS618610A
JPS618610A JP59128963A JP12896384A JPS618610A JP S618610 A JPS618610 A JP S618610A JP 59128963 A JP59128963 A JP 59128963A JP 12896384 A JP12896384 A JP 12896384A JP S618610 A JPS618610 A JP S618610A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flaw
flaw detection
steel plate
signal
primary
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP59128963A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0477843B2 (ja
Inventor
Hirokatsu Katou
加藤 裕勝
Shuji Matsumoto
修二 松本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Industries Ltd filed Critical Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority to JP59128963A priority Critical patent/JPS618610A/ja
Publication of JPS618610A publication Critical patent/JPS618610A/ja
Publication of JPH0477843B2 publication Critical patent/JPH0477843B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は鋼板連続搬送ラインにおいて用いられる鋼板
表面検査装置に関するものである。
従来技術 圧延工程の酸洗ライン出側においては冷延母材としての
品質向上の為に熱延鋼帯の探傷が必要とされている。
従来、こうした熱延鋼帯の探傷には光学的探傷法、電磁
式探傷法等が用いられているが、光学的探傷法では酸洗
後の鋼材表面よごれ(水、油等)による誤検出が多く、
探傷精度を向上させる為には別途前処理が必要になって
いた。
また、検出精度及び高速度で移動する被探傷物体への探
傷性からは電磁式探傷法が優れているが測定範囲が狭い
為、被探傷物体幅に応じて高価なプローブを複数台配置
しなければならなかった。
さらに、浸透液式等では探傷速度に問題があるため連続
搬送ラインでの探傷には適さないという問題があった。
−このため、鋼板の連続搬送ラインの様に鋼板の搬送速
度が速く、板幅も広く、かつ酸洗によるヨゴレがある場
合には従来法による鋼板表面疵の完金な把握は困難であ
シ、最終的にはオペレータの感と目視と判断に頼ってい
るのが現状であった。
発明の目的 そこで、この発明は前記のような鋼板連続搬送ラインの
表面検査における従来技術の不都合な点を改善して、鋼
板の板幅や搬送速度に充分に対応でき、かつ酸洗による
ヨゴレも疵等と的確に判別出来得る鋼板表面検査装置を
提供することを目的とする。
発明の構成 この発明による鋼板表面検査装置は、鋼板表面を撮像す
る撮像装置と、との撮像装置の鋼板搬送方向下流側に設
けられる鋼板表面の平坦度を測定する平担度測定装置と
、これら両装置を制御する演算制御部とを備え、この演
算制御部は前記撮像装置からの撮像画面を画像処理して
鋼板表面疵である確率の高い部分を選定し、この部分に
平担度測定装置を移動して再び測定し疵とよごれを区別
するよう構成された点に特徴がある。
実施例 以下、図示する本発明の実施例によシ説明する。
第1図にこの発明による鋼板表面検査装置実施例の制御
ブロック図を示j−たが、この鋼板表面検査装置は撮像
装置である光学式探傷装置A、平平担測測定装置ある電
磁式探傷装置B、及び演算制御部Cとから構成される。
光学式探傷装[Aは熱延から冷延間の鋼板連続搬送ライ
ン中で第2図に示した様に鋼板1のバクつきの少ないプ
ライドル・ロール23部付近に設置されている。
この光学式探傷装置Aは鋼板1の幅方向に並べて配列さ
れた3台のITV(CCDカメラ)2と各ITY2の鋼
板1撮像面にストロボ光を照射する3台のストロボ3が
備えられている。これら3台のストロボ;うの中で2台
のストロボ3は鋼板1幅方向の一側方に配置されてお如
、残シの1台のストロボ3は鋼板l@力方向他側に配置
されている。とうして、対向関係にあるストロボ間の光
の相互干渉を防ぐために遮光板4が設けられている。
これらのITV2とス)oボ3は同期制御部5に接続さ
れてお)、この同期制御部5は鋼板lの通板速度に合わ
せてITV視野が重ならない様にストロボ発光タイミン
グが制御される。同期制御部5の次段にはタイミング制
御部6が接続されてお)各ITV2からの撮像信号が同
期制御部5からタイミング制御部6に入力される。この
タイミング制御部6には通板トラッキングを行なってい
るパルス・ジェネレータ7からのトラッキングi号が入
力されておシ、入力する撮像信号の撮像・画像処理タイ
ミング制御を行なって演算制御部C側に出力する。また
、タイミング制御部6がら同期制御部5へ同期信号が出
方され、通板速度に応じたITV2とス・トロボ3との
間の同期制御を行なう。
ここで、光学式探傷装置AのITV2とストロボ3との
関係をtlca図に示した配置図に従って詳述すると、
ストロボ3はITV2の解像度不足を補うためにITV
2撮儂範囲ABに斜めからストロボ光を照射するよう構
成されている。また、ストロボ3の照射角αと照射距離
!に関するデータを第4図及び第5図に示したが、鋼板
1面上の深さIIuIlの疵を検出させるためにス)1
−ボ3の照射角を200未満とすることによ1)ztu
n長以上長形上発生させることができる。こうして発生
させる影と共に、斜め方向からのストロボ照射による鋼
板1表面幅方向の照度比をITV2の解像能力範囲に入
れるために鋼板1からストロボ3tIでの照射距離ノを
1000su+以上と表るように配置し良好な画像を得
ている。
この実施例では各々3台ずつのITV2とストロボ3を
使用しているが銅板1の板幅が狭ければITV2は1台
とするととも可能であり、同様にストロボ3も照射能力
が充分に大きければ1台だけとすることも出来る。
また、搬送ラインの前記光学式探傷装置Aよシも所定長
だけ下流には平担度測定装置である電磁式探傷装置Bが
設けられている。この電磁式探傷装置Bは鋼板lの幅方
向に変位自在となるように配置された2個のプローブ9
と、このプローブ9を検出端とする渦流探傷部8とを備
えている。
2個のプローブ9は鋼板10幅方向中心から各々独立し
て幅方向外側に延在する2本のボール・ネジ10に螺合
されている。このボール・ネジ10の鋼板幅方向外側端
部にはモータ11が各々取付けられておシ、そ−夕11
で回転されるボール・ネジ10によって、2個のプロー
ブ9を独立して鋼板1の幅方向に変位可能としている。
モータ11にはサーボ回路14を介して後述する演算制
御部Cからの探傷位置信号が入力される。また2個のモ
ータ11には各々パルス・ジェネレータ12とタコ・ジ
ェネレータ13が取付けられており、これらのパルス・
ジェネレータ12とタコ・ジェネレータ13によシ各々
のプローブ9の変位量及び変位方向を示すモータ11の
回転数及び回転方向がサーボ回路14に入力される。こ
うして電磁式探傷装置Bは演算制御部Cからの探傷信号
によって鋼板1@方向の半分ずつの領域をカバーする2
個のプローブ9をサーボ制御し、鋼板1の渦流探傷を行
なう。
さらに、この発明の鋼板表面検査装置には前記光学式探
傷装置Aと電磁式探傷装置Bを制御する演算制御部Cが
設けられている。
この演算制御部Cは3ch、の1次疵検出部16を備え
ておセ、光学式探傷装置Aのタイミング制御部6からの
画像信号を入力し、30回/秒程度の画像をリアルタイ
ムで疵判定して次段のフレーム・メモリ17に疵の画像
を記憶させる。この1次疵検出部11jITV画像の走
査線輝度を微分したものを微分スライスにより設定値以
上の値の有無を検出し、この設定値を越えた分の面積計
算もしくはピーク値によ)、第1次の疵有無判定を行な
い、疵有と判定した場合は尚該画面情報をフレーム・メ
モリ17に出力する。
1次疵検出部16とフレーム・メモリ17線3台のIT
V2に対応するよう各々3チヤンネル(3ch、)で構
成されているが、処理能力の大きなものであれば各々1
チヤンネルで構成することも可能である。
フレーム・メモリ17の出力側には2次疵検出部18が
接続されておシ、フレーム・メそす17内に記憶された
1次疵検出部16での疵判定で疵有となった部分と、電
磁式探傷装置Bの渦流探傷部8から入力される探傷結果
とから2次疵検出が行なわれる。この2次疵検出により
疵の有無確認疵の種類、深さ、危険の大きさ等の判定を
行う。
2次疵検出部18の出力側にはモニター19と疵ア2−
ム20とが接続されており、2次疵検出部18での2次
疵検出結果として七ニター19上に疵部位の静止画、疵
の種類、および定量化された疵の大きさを表示し、必要
に応じて疵アラーム20を作動してオペレータに異常を
知らせる。
また、2次疵検出部18から1次疵検出部16には2次
疵検出結果としての1次検出設定値変更信号が出力され
る。この1次検出設定値変更信号は、1次検出で疵の疑
いをかけた撮像に対し、電磁式探傷装置Bでの探傷で疵
でないと判定された時(1次検出での誤検出)、2次検
出のソフトウェアロジックで暗部断面積、暗部長さ、明
部−暗部の判別レベル等の設定値を自動変更する。こう
して、1次疵検出部16の誤検出率を改善するととによ
シ、よシ高速の通板検査に対応し、よシ少ないプ四−プ
での検査を可能にする。
さらに、演算制御部Cにはマイクロ・コンピュータ15
が備えられておシ、1次疵検出部16から疵検用信号の
入力があるとパルス・ジェネレータ7の通板トラッキン
グ信号から所定距離だけ光学式探傷装置Aよシも搬送方
向下流に位置する電磁式探傷装置Bへの当該疵検山部到
達に合わせ−Cサーボ回路14によ多制御する。こうし
てサーボ回路】4は各々のモータ11を作動してプロー
ブ9の鋼板1の疵検山部への追従制御を行なうよう構成
されている。
このマイクロ・コンピュータ15は、渦流探傷部8から
の探傷信号と1次疵検出部16からの入力信号とから溶
接点を検出して酸洗プロセス・コンピュータ21に溶接
点検出信号を出力する。また、酸洗プロセス・コンピュ
ータ21からはタイミング制御部6に通板中の板幅、材
質及び溶接点の位置等の表示信号を出力する。
さらに、冷延プロセス・コンピュータ22には酸洗プロ
セス・コンピュータ21から疵の有無、位置等の情報が
入力され、疵検用位置の通板時には冷圧速度を下げて板
破断事故を防止する。
作用 以上の構成において、この装置は搬送ライン上を鋼板1
が搬送されて光学式探傷装置Aに到達すると、タイミン
グ制御部6は入力するパルス・ジェネレータ7からの通
板トラッキング信号を同期制御部5に出力する。そこで
、同期制御部5はITV2とストロボ3を通板速度に合
わせて同期制御を行なう。
こうして、ITV2で撮像された撮像信号は同期制御部
5からタイミング制御部6に送られる。
このタイミング制御部6で撮像信号は静止画像に画偉処
理された後に1次疵検出部16に出力されて1次疵検出
が行なわれる。
ここで、第6図(a)、Φ) 、 ((り 、 (d)
に各々鋼板表面疵を示す斜視図、その断面図、撮像輝度
、及び2次検出例を示した。第6図(a)の鋼板表面の
各部は■かぶれ疵、■線状光沢、■、■、■水又は油等
のよごれ、■耳われ疵、■耳おれあとを示すものとする
。この鋼板A−A’  部所面形状は第6図(′b)に
示すもので、とのA −A’  部に相幽する撮像画面
上の走査線輝度を第6図(e)に示す。1次疵検出部1
6では撮像画面の走査線輝度上下制限値(第6図(e)
上の破線)を越えた量(同図の黒ぬシ部分)及び微分後
のピーク値、ピーク数等を元に、あらかじめ限界値とし
て設定された値との比較によシ疵の有無を判定する。
こうして、設定値以上で疵の疑いがある部位を検出し、
その画面情報をフレーム・メモリ17に記憶する。
これと同時に、1次疵検出部16はマイクロ・コンピュ
ータ15に1次疵検出信号を出力し、この信号を入力し
たマイクロ・コンピュータ15は電磁式探傷装置Bのサ
ーボ回路14に信号を送91次疵検出部16によシ疵と
みなされた部位にプローブ9を追従制御して渦流探傷を
行なう。
この電磁探傷部8は探傷結果をマイクロ・コンピュータ
15と2次疵検出部18に出力する。電磁式探傷部Bか
らの探傷結果を入力した2次疵検出部18は、この探傷
結果とフレーム・メモリ17から読み出した1次疵検出
のデータを付き合わせて判定を行なう。
第6図(d)に2次疵検出例を示したが、■′ は明線
、暗線が連続して閉じてお)電磁式探傷部Bからの探傷
結果と付き合わせて1かぶれ疵”と判定し面積、深さを
算出する。同様に、エツジで終わる階状線部である■′
 を1耳われ疵”として長さをチェックし、暗線・明線
が連続しエツジとで閉じている■′ を1耳おれあと”
と判別して面積及び深さを算出する。″また、閉じてい
ない暗部■′及び第1図(IL)の■7.■、■は2次
疵検出によっては疵とは見なさない。
こうして、2次疵検出部18の出力はモニター19に入
力されて疵部位の静止画、疵の種類及び定量化された疵
の大きさを表示することによシオペレータに疵の検出を
知らせる。
また、必要に応じて疵アラーム20からアラームを発し
、疵部位の冷圧時には圧延速度を減速して冷圧時の鋼板
破断を防止する。
また、2次疵検出部18からは1次疵検出部16に1次
検出設定値変更信号を出力して、1次疵検出部16での
過検出もしくは検出漏れ気味となるめを修正する。
さらに、1次疵検出部16からの検出信号と渦流探傷部
8からの探傷信号を入力するマイクロ・コンピュータ1
5は鋼板の溶接点も検出できるので、この溶接点検出信
号を酸洗プロセス・コンピュータ21に出力し、酸洗プ
ロセス・コンピュータ21中の通板トラッキングの誤差
補正用として使用する。
この点に関して詳述すると、酸洗プロセス・コンピュー
タ21内では酸洗入側の溶接器よシ溶接したとの信号が
入力すると、酸洗ラインの動きよシ溶接点位置を時間を
追って計算する。この計算によシ、鋼板表面検査装置に
溶接点が到達したとみなす時点で鋼板表面検査装置のタ
イミング制御部6を通してマイクロ・コンピュータ15
に(1を送力、次に鋼板表面検査装置自体で溶接点を検
知した信号を得る事によ〕、今までの計算上の溶接位置
との誤差を算出する。そこで、この誤差に基づいて巻取
シ鋼帯長さ等の値の補正を行なうと同時に、本装置以外
に送っている通板トラッキング情報用に誤差補正の為の
リセットを行なう。
これによシ、例えば酸洗出側シャーでの溶接点部切断除
去作業では、溶接点の位置情報が格段に正確となる事よ
υ、最適減速・停止が行なえ、従来は自動減速、目視停
止であったものを完全自動化することができる。
なお、電磁式探傷装置B[光学式探傷装置Aが疵を検出
しない間は、鋼板の角部近傍の横割れ(毛割れ)検出の
ためにエツジ近傍を探傷する。
本実施例装置の採用により、疵検出量は光学式のみの場
合に比べて1/4〜115の検出量に減シ目視によるサ
ンプル部での比較では過検出量は1.2であシ、本装置
の疵情報を冷間圧延工程時の圧延速度調整に適用した結
果、冷間圧延時の板破断が全く発生しなかった。
この実施例では、熱延−冷延間に本発明の装置を設置す
るものとしたが、冷圧後に設置することによシ製品の最
終検査をオンラインで行なえ、圧延油による誤検出を減
少させることができる。
発明の効果 本発明による鋼板表面検査装置実施例は以上の通シであ
シ、次に述べる効果を挙げることができる。
鋼板の連続搬送ラインでの鋼板表面検査において鋼板の
板幅や搬送速度に充分に対応でき、かつ酸洗によるヨゴ
レと疵等と的確に判別すると共に過検出を大巾に減少し
て自動化の信頼性を大巾に向よさせることが可能となる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による鋼板表面検査装置実施例の制御ブ
ロック図、第2図はITVの設置位置を示す概略図、第
3図はストロボの照射角と照射距離を示す概略図、第4
図はス)oボ照射角と疵影長さ゛の関係を示すグラフ、
第5図は照射距離とITV視野左右コーナの照度比を示
すグラフ、第6図(a) a鋼板表面例を示す斜視図、
同図中)はそのA −A’  線断面図、同図(C)は
その撮像輝度信号波形図、同図(d)は2次疵検出例を
示すパターンであるO A・・光学式探傷装置、B・・電磁式探傷装置C・・演
算制御部、1・・鋼板、2・・ITV。 3・・ストロボ、4・・遮光板、5・・同期制御部、6
・・タイミング制御部、7・・パルス・ジェネレータ、
8・・渦流探傷部、9・・プローブ10書・ボールネジ
、11・・モータ、12・争パルス0ジェネレータ、1
3・・タコ・ジェネレータ、14・・サーボ回路、 15・・マイクロ・コンピュータ、 16−・1次疵検出部、17・9フレーム・メモリ、1
8・・2次疵検出部、19・・・モニター、20・・疵
アラーム、21・・酸洗プロセス参コンピュータ、22
@−冷延7’ロセス−コンピュータ、23・・プライド
ル・ロール。 第2図 第3図 ;;−5+I 超明sE#tノ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 鋼板連続搬送ラインにおいて、 鋼板搬送方向の上流側に配置され、当該搬送ライン上を
    移送される鋼板表面を撮像する撮像装置と、 前記撮像装置の鋼板搬送方向下流側に配置され、当該搬
    送ライン上を搬送される鋼板表面の平坦度を測定する平
    坦度測定装置と、 前記撮像装置から入力される撮像画面を画像処理して鋼
    板表面疵である確率の高い部分を選定し当該選定された
    部分を前記平坦度測定装置に指令して再測定すると共に
    その平坦度測定装置の測定値から鋼板の疵部分を確定す
    る演算制御部とを備えたことを特徴とする鋼板表面検査
    装置。
JP59128963A 1984-06-22 1984-06-22 鋼板表面検査装置 Granted JPS618610A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59128963A JPS618610A (ja) 1984-06-22 1984-06-22 鋼板表面検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59128963A JPS618610A (ja) 1984-06-22 1984-06-22 鋼板表面検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS618610A true JPS618610A (ja) 1986-01-16
JPH0477843B2 JPH0477843B2 (ja) 1992-12-09

Family

ID=14997742

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59128963A Granted JPS618610A (ja) 1984-06-22 1984-06-22 鋼板表面検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS618610A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01291386A (ja) * 1988-05-18 1989-11-22 Mitsubishi Electric Corp 外観検査装置
JPH02269943A (ja) * 1989-04-11 1990-11-05 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置の外観検査装置
JP2003344013A (ja) * 2002-05-31 2003-12-03 Tomoegawa Paper Co Ltd 位置検出又は外観検査装置、並びに位置検出又は外観検査方法
JP2010025652A (ja) * 2008-07-17 2010-02-04 Nippon Steel Corp 表面疵検査装置
JP2010071722A (ja) * 2008-09-17 2010-04-02 Nippon Steel Corp 凹凸疵検査方法及び装置
JP2022011396A (ja) * 2020-06-30 2022-01-17 Jfeスチール株式会社 表面検査装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5334586A (en) * 1976-09-10 1978-03-31 Ishikawajima Harima Heavy Ind Method of and apparatus for detecting surface flaw

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5334586A (en) * 1976-09-10 1978-03-31 Ishikawajima Harima Heavy Ind Method of and apparatus for detecting surface flaw

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01291386A (ja) * 1988-05-18 1989-11-22 Mitsubishi Electric Corp 外観検査装置
JPH02269943A (ja) * 1989-04-11 1990-11-05 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置の外観検査装置
JP2003344013A (ja) * 2002-05-31 2003-12-03 Tomoegawa Paper Co Ltd 位置検出又は外観検査装置、並びに位置検出又は外観検査方法
JP2010025652A (ja) * 2008-07-17 2010-02-04 Nippon Steel Corp 表面疵検査装置
JP2010071722A (ja) * 2008-09-17 2010-04-02 Nippon Steel Corp 凹凸疵検査方法及び装置
JP2022011396A (ja) * 2020-06-30 2022-01-17 Jfeスチール株式会社 表面検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0477843B2 (ja) 1992-12-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100941592B1 (ko) 롤의 권취형상의 결함 검사방법 및 검사장치
JP2009008659A (ja) 表面疵検査装置
US20110268343A1 (en) Method for the nondestructive testing of pipes
KR100914897B1 (ko) 롤링 및 프로세싱 설비에서 표면 형상을 광학적으로 측정하고 이동하는 스트립들의 광학적 표면 검사를 위한 방법 및 장치
JP4901578B2 (ja) 表面検査システム及び表面検査システムの検査性能の診断方法
JPS618610A (ja) 鋼板表面検査装置
JP2002156333A (ja) 表面検査装置
JPH01212352A (ja) 電磁気探傷方法および装置
JP4023295B2 (ja) 表面検査方法及び表面検査装置
JPH0628690Y2 (ja) 金属板の欠陥検出装置
JP6597691B2 (ja) 表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査システム
JPS5922894B2 (ja) 走行物体の表面品位識別方法
JPH11248638A (ja) プレス成形品の自動表面検査方法
JPH0238952A (ja) 表面欠陥検査装置
JPH0690148B2 (ja) 表面欠陥検査装置
RU2777718C1 (ru) Способ неразрушающего оптико-визуального контроля изделий методом машинного зрения
JPS6250775B2 (ja)
JP2002090306A (ja) 表面検査装置の自己診断方法
JP3230295B2 (ja) ガイドローラのフランジ間寸法の測定方法及びその装置
JPH071236B2 (ja) 表面欠陥検査装置
JPH0335148A (ja) シート状物の欠点検査装置
JPH05249051A (ja) 分塊圧延材の溶削不良検知装置
JPS62115357A (ja) 欠陥検査装置
JPH03150859A (ja) 半導体ウエハ検査装置
JP3132931B2 (ja) 傷検査装置