JPS6144435Y2 - - Google Patents

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JPS6144435Y2
JPS6144435Y2 JP1716181U JP1716181U JPS6144435Y2 JP S6144435 Y2 JPS6144435 Y2 JP S6144435Y2 JP 1716181 U JP1716181 U JP 1716181U JP 1716181 U JP1716181 U JP 1716181U JP S6144435 Y2 JPS6144435 Y2 JP S6144435Y2
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JP
Japan
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resin
lead frame
sealed
semiconductor device
lead
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JP1716181U
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JPS57132461U (ja
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は樹脂封止型半導体装置に関する。リー
ドフレームを有する半導体装置の製造工程の一つ
に、リードフレームの素子配設部および内部リー
ド部を樹脂にて封止する樹脂モールド工程があ
る。
この工程は、第1図で示すように、素子配設部
1、内部リード部2および外部リード部3を等厚
に形成たリードフレーム4に半導体ペレツト5を
接合(マウント)し、該半導体ペレツト5の電極
(図示せず)と内部リード2a(第2図)とをワ
イヤ6を用いて結線した後、該リードフレーム4
を金型(図示せず)に移送し、そこで熱硬化性等
の樹脂を用いて上記素子配設部1および内部リー
ド部2を樹脂7にてモールドすることによつてな
されている。
しかしながら、かかる樹脂封止型半導体装置に
おいては、上述の如く等厚のリードフレームが使
用されていることから次のような難点がある。
即ち、樹脂モールド時に、内部リード部から外
部リード部に向つて流れやすく、これが樹脂モー
ルド後バリとなり、その後の工程において必要と
される半田付性を損なつたり、また電気的接触を
著しく低下させる。
更に、リードフレームの上部および下部にモー
ルドされる樹脂の体積が違うため、この影響から
樹脂硬化後に樹脂封止部内部に変形を生じ半導体
装置の特性劣化を招く。
また、樹脂封止後に、リードフレームと樹脂と
のパーテイングライン(境界)に隙間が生じた場
合に、水分等が容易に浸入し、半導体装置の特性
劣化を招く。
本考案はかかる難点を解消するためになされた
もので、リードフレームの素子配設部および内部
リード部を樹脂にて封止してなる樹脂封止型半導
体装置において、前記リードフレームは、樹脂封
止部の外側に囲繞壁を有することを特徴とする樹
脂封止型半導体装置を提供するものである。
以下図面に基づいて本考案の一実施例を詳細に
説明する。
本考案に係る樹脂封止型半導体装置は、第3図
に示すように、囲繞壁8a,8bを有するリード
フレーム8の素子配設部9に半導体ペレツト10
を接合し、該半導体ペレツト10の電極(図示せ
ず)と内部リード11a(第4図)とをワイヤ1
2等で結線し、該リードフレーム8の素子配設部
9および内部リード部11を熱硬化性等の樹脂1
3を用いてモールドしたものである。
ここで、樹脂封止型半導体装置として囲繞壁8
a,8bを有するリードフレーム8を用いた理由
は次の通りである。
即ち、樹脂モールド時に、内部リード部11か
ら外部リード部14に向つて樹脂が流れるのを囲
繞壁8a,8bにて食い止めることができる。
更に、囲繞壁8a,8bの高さを変えることに
より、リードフレーム8の上部および下部にモー
ルドされる樹脂の体積の相違から生じる樹脂封止
部内部の変形を緩和できる。
また、囲繞壁8a,8bにより、リードフレー
ム8と樹脂のパーテイングラインから浸入する水
分等の素子配設部9への到達経路を長くすること
ができる。
以上のように本考案は、リードフレームに囲繞
壁を有するので、バリの発生、樹脂封止部内部の
変形および水分等の素子配設部への到達を緩和す
ることができ、したがつて半導体装置の信頼性お
よび歩留の向上を図ることができその実用的価値
は頗る甚大である。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は従来の樹脂封止型半導体装置
の説明図、第3図、第4図は本考案に係る樹脂封
止型半導体装置の説明図である。 1,9……素子配設部、2,11……内部リー
ド部、4,8……リードフレーム、8a,8b…
…囲繞壁、7,13……樹脂。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. リードフレームの素子配設部および内部リード
    部を樹脂にて封止してなる樹脂封止型半導体装置
    において、前記リードフレームは、樹脂封止部の
    外側にこの樹脂封止部を囲むよう、前記内部リー
    ド部より厚く形成された囲繞壁を有することを特
    徴とする樹脂封止型半導体装置。
JP1716181U 1981-02-12 1981-02-12 Expired JPS6144435Y2 (ja)

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JP1716181U JPS6144435Y2 (ja) 1981-02-12 1981-02-12

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JP1716181U JPS6144435Y2 (ja) 1981-02-12 1981-02-12

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JPS57132461U JPS57132461U (ja) 1982-08-18
JPS6144435Y2 true JPS6144435Y2 (ja) 1986-12-15

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