JPS6064235A - Ctスキヤナ - Google Patents

Ctスキヤナ

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Publication number
JPS6064235A
JPS6064235A JP58173513A JP17351383A JPS6064235A JP S6064235 A JPS6064235 A JP S6064235A JP 58173513 A JP58173513 A JP 58173513A JP 17351383 A JP17351383 A JP 17351383A JP S6064235 A JPS6064235 A JP S6064235A
Authority
JP
Japan
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turntable
radiation
subject
ray
drive system
Prior art date
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Application number
JP58173513A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeo Nakamura
滋男 中村
Yoshitetsu Tanimoto
谷本 慶哲
Masaji Fujii
正司 藤井
Kiichiro Uyama
喜一郎 宇山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP58173513A priority Critical patent/JPS6064235A/ja
Publication of JPS6064235A publication Critical patent/JPS6064235A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40Imaging
    • G01N2223/419Imaging computed tomograph

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  • Analytical Chemistry (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、工業用製品の断層像を得るため(=使用する
CTスキャナに係り、特に被検体を自在(二位置決めし
かつ回転させながら透過放射線データを検出するCTス
キャナに関する。
〔発明の技術的背景およびその間加点〕一般に、CTス
キャナは人体(被検体)各部の断層像を撮影するために
使用されており、そのデータ収集方式には各種の方式の
ものが開発されている。しかし、これらの方式は何れも
回転可能なフレームにX線発生器とX線検出器とを対同
配置し、天板に被検体を乗せて上下の位置決めを行なっ
た後、所定の位置に設定し、この状態においてX線発生
器とX線検出器とを所定角度ずつ回転させながらX線発
生器から被検体へX線を照射し、この被検体より透過さ
れて出てくる透過X線データをX線検出器およびデータ
収集部によりデータ収集する構成である。
しかし、以上のようなCTスキャナでは、フレームの回
転によって生ずる振動がX線検出器およびデータ収集部
に云わってノイズの原因になり、またX線発生器が回転
と停止を繰返すときにX線発生器に加速度が加わり、こ
れが原因でX線発生器の寿命を短かくする問題がある。
また、X線発生器およびX線検出器から導出されるケー
ブルは比較的長く、これに加えてフレームの回転によっ
て揺動するため、ケーブルがノイズを受けやすく、寿命
を早める問題がある。
さらに、X線発生器とX線検出器の両方を回転させる必
要があるため、回転系の重量および慣性モーメントが大
きく、回転系の駆動のために大きな・やワーを必要とし
、全体的に構造が複雑となる欠点がある。
また、CTスキャナは人体のffjr 7m撮影だけで
なく、最近その応用分野として工業製品の検査ラインに
も使用される傾向になりつつある。この場合、CTスギ
ャンは実際に製品を作っている現場に設置する必要があ
るが、一般に工場内は医療用の室と異なって環境または
被検体自体より発生する粉塵が多く、しかも時々検査ラ
インおよび検査対象の変更によりCTスキャナの設置場
所を変える必要があるが、従来のCTスキャナではそれ
に十分対処させることができない。また、CTスキャナ
は収集データの均一化を図るために空調設備の持った室
に設置しているが、現場の検量ラインではそれも難しい
問題がある。
〔発明の目的〕
本発明は上記実情にかんがみてなされたもので、機械的
な可動部を一個所に集中させて構造の簡素化、メンテナ
ンスの簡便なものにし、また、X線発生器の寿命を延ば
し、耐ノイズ性にすぐれたものとするCTスキャナを提
供することにある。
さらに、もう1つの発明の目的とするところは、工業用
製品の検量ラインに適用して有効なものとするCTスキ
ャナを提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、放射線発生器および放射線検出器、データ収
集部などを固定設置する一方、放射線発生器と放射線検
出器との間(=配置される被検体を載置するターンテー
ブルを回転可能に支持して回転駆動するとともに、この
ターンテーブルを支持する可動体に昇降駆動系を設けて
可動体を介してターンテーブルを昇降および進退駆動す
ることにより、被検体の形態、性状などに合せて自在に
位置決めするCTスキャナである。
また、もう1つの発明は、被検体を回転させるものにお
いて、前記放射線発生器、被検体を分し、この積分値を
マルチプレクサで順次選択してA−D変換回路でディジ
タル変換し、前処理回路19へ送出するものである。こ
の前処理回路19は、例えばバッファメモリおよび補正
処理系を有し、データ収集部18からのデータを各検出
素子ごとに対応するバッファメモ9のメモリ要素に順次
格納した後、補正処理を行なう。この補正処理は、入カ
パツファメモリから送られてくるデータを受けて各検出
素子ごとの検出感度のバラツキおよびX線強度の変動な
どに伴なう補正を行なって、各検出素子が同一条件で検
出したデータに変換する機能をもっている。この補正の
ためにリファレンス検出器12の出力が使用される。
20は再構成画像処理部であって、これはコンデリュー
ジョン処理部およびパックプロジェクション処理部など
を備えている。コン?リューンヨン処理部は、前処理部
で補正されたデータヲコンポリューション法に基づいて
コンテリューンヨン全行なって修正した投影データをめ
る機能をもっている。また、パックプロジェクション処
理部は、一般に逆投影と呼ばれ、X線発生器IQの投影
方向からの逆投影を行なって二次元平面における各画素
位置の画像データ(再構成画像データ)を得るものであ
る。21は中央演算制御部(以下、CPUと指称する)
であって、これはデータ収集部18〜20などに必要な
信号を供給するとともに、再構成画像処理部20で再構
成された画像をCRT22に表示させ、さらに機構制御
部23とX線制御部24とに接続されている。この機構
制御部23はCPU21から回転指令信号を受けるとタ
ーンテーブル15を所定の速度で回転制御するものであ
る。また、同機構部23は被検体16の位置を変えたと
きCPU21からの指令に基づいてスリット駆動部25
を制御し、X線発生器10の前面側に配置されるスリッ
ト13を位置制御する機能をもっている。さらに、機構
制御部23はターンテーブル15がα度回転するごとに
ノ4ルスを発生する角度検出エンコーダからのパルスを
受けてCPU2ノに阪達する機能をもっている。一方、
X線制御部24は、ターンテーブル15が例えば2α度
回転するごとにCPU、? Jから発せられるX線発生
用指令信号を受けてX線発生器10に高電圧を与え、X
線11を発生させるものである。図中、26は電源引込
用端子盤であって、X線制御部24へは電源を直接供給
し、CPU、2ノおよび機構制御部23へはシス1、テ
ムトランス27を介して電源を供給している。
次に、本発明に係るCTスキャナの機構について第2図
cA) l (B)および第3図を参照して説明する。
先ず、′X線発生糸Aについて述べると、X線発生器1
0は第1の支持体3ノおよびX線発生器用ペース、12
i二上って所要の高さに支持され、さらに第1の支持体
31には冷却器33が取り付けられている。この冷却器
、73は例えば2本のパイプ34を用いてX線発生器1
0と接続され、冷却媒体例えば冷却油をパイプ34を介
してX線発生器10へ循環供給するようにしている。ま
た、X線発生器1θの前面には被検体16の形状、性状
などに拘らず常に一定のX線強度分布でX線1ノを通す
ウニツノ・フィルタ35およびスリット13が配置され
ている。
そして、これらのX線光生糸Aは第1の室36に収納さ
れている。この第1の室36は、X線遮蔽材例えば鉛な
どで構成されており、かつX線光生糸Aと被検体設定系
Cとは防塵隔壁37によって仕切られている。この防塵
隔壁37はX線通過部分を除いて薄い鉄板で形成され、
X線通過部分にはアクリルal l]旨製板が使用され
ている。また、第1の室36の壁部は外気を第1の室3
6へ導入するフィルタ、? 8 aと室内の空気を外部
へ排気するファン38bとが設けられている。さらに、
第1の室36の壁部には電源引込部39が設けられてい
る。この電源引込部39は、両側から伸びる壁部に隙間
を有するよう(二重ね合せた重合壁部39 a 、 3
9 a’ と、外側に位置する重合壁部39a′ 側(
二数り付けられ、外部からの電源を中継して第1の室3
6内部のX線発生器1oおよび冷却器33などへ電源ラ
イン39bを引込むための端子板39cと、重合壁部3
9 a 、 39 a’ の隙間を通る電源ライン39
bを固定しかつ該隙間を閉塞するモールド部39d と
、この電源引込部39の外箱となる端子箱39eとによ
って構成されている。なお、第1の室36には図示イ(
二示すように片開き用扉が設けられている。また、第2
図において図示されてbないが、ウニツノ・フィルタ3
5の上側(ニリファレンス検出器ノ2が設けられてbる
次に、データ検出・収集系Bにっbて述べる。
X線検出器14は第2の支持体4ノにより前記X線発生
器1θとほぼ等しい高さを有し支持されている。なお、
この第2の支持体41とX線検出器14との間には断熱
材42およびヒータ43が介在されている。また、X線
検出器14には図示されていないが温度センサが取り付
けられ、この七ソサの検出信号は第2の支持体4ノに取
着されている温度制御部44(二人力されるようになっ
ている。この温度制御部44は温度センサの出力に基づ
いてヒータ43を制御するものである。さらに、X線検
出器14の上側にはデータ収集部18が設けられている
。X線検出器14とデータ収集部18との接続関係は第
1図で述べたように接続されている。45はX線検出器
用電源、46はデータ収集用′市源である。そして、こ
れらのデータ検出・収集系BはX線光生糸Aと同様(二
防塵構造とした第3の室47に収納されている。即ち、
この第3の室47は、X線遮蔽材例えば鉛などで構成さ
れ、データ検出・収集系Bと被検体設定系Cとは防塵隔
壁48(二よって仕切られている。この防塵隔壁48は
、例えばX線通過部分を除いて薄い鉄板で形成され、X
線通過部分にはアクリル樹脂製板が使用されている。ま
た、第3の室47の内壁部には室内の温度を一定の値に
制御する温度制御部49が設けられている。この温度制
御部49は、外部から冷却媒体を収り込むパイプ49a
と、冷却媒体を熱交換する熱交換器49bと、熱交換後
の媒体を外部へ排出するパイプ49cと、冷却駅気を第
3の室47に送り込むファン49dとで構成されている
。さらに、第3の室47の壁部には電源引込部50が設
けられている。この電源引込部50は、両側から伸びる
壁部に隙間を有するように重ね合せた重合壁部50 a
 、 50 a’ と、外側(=位置する重合壁部50
a′ 側に収り付けられ、外部からの電源を中継して第
3の室47内部の電源45゜46およびファン49dな
どへ電源ラインsobを引込むための端子板50cと、
重合壁部50a。
50 a’ の隙間を通る電源ライン50bを固定しか
つ該隙間を閉塞するモールド部50dと、この電源引込
部50の外箱となる端子箱50eと(二よって構成され
ている。なお、第3の室47には図示口で示すように両
開き周界が設けられている。
次に被検体設定系Cについて述べる。この被検体設定系
Cは、第1の室36と第3の室47との間(二装置され
る。この被検体設定系Cにあ昇降させる昇降駆動系と、
ターンテーブル15を回転させる回転駆動系とを備えて
いる。この進退駆動系は、X線光生糸Aよりデータ検出
・収集系Bの方向へ所定の間隙を有して敷設された一対
のレール51.51と、例えば前記第1の室36の底部
に設置され、機構制御部23からの進退制御信号を受け
て回転するモー夕などの進退駆動源52と、この進退駆
動源52の回転軸に接続されて防塵隔壁37を貫通して
水平かつ前記レール51と平行をなすように被検体設定
系Cの方向へ延在せしめた螺子体53と、この螺子体5
3の回転によってレール上を走行する基台54とよりな
り、この基台54上に可動体17が設けられている。
次に、昇降駆動系は、機構制御部23からの昇降制御信
号を受けて回転するモータなどの昇降駆動源61と、前
記可動体17の一側部でかつ基台54から可動体17に
跨がって立設され、しかも下部が前記一対のレール51
.51のうち一方のレール5]上に係合されて走行せら
れルヨうになっている昇降支持体62と、この昇降支持
体62の可動体17側に面する面部で上下方向に並設せ
しめた一対のレール63.63と、可動体17の昇降支
持体62側に面する面部に前記一対のレール63.63
と係合するように設けられた一対の係合体64.64と
、この一対の係合体64.64のほぼ中間位置で可動体
17に係合するように立設されている螺子体65と、前
記昇降駆動源61の回転軸66の回転を前記螺子体65
へ伝達する回転伝達手段67とで(V成されている。従
って、R降駆動系にあっては、機構制御部23からの昇
降制御信号によって昇降駆動源6)が回転すると、回転
軸66および回転伝達手段67を介して可動体17に立
設係合されている螺子体65が回転駆動するので、この
螺子体65に係合されている可動体17は係合体64.
64を介してレール63.63上を走行し、その昇降制
御信号の内容に応じて上昇または丁14するものである
。なお、可動体17にはターンテーブル15が回転可能
に載置されている。
次に、回転駆動系について述べる。この回転駆動系は、
図示されていないが可動体17の内部に収納されている
。この回転駆動系は、機構制御部23からの回転制御(
回転指令)信号によって回転するモータなどの回転、駆
iI!II源と、この回転駆動源の回転軸にブレーキお
よびギヤを介してターンテーブル15の回転軸が接続さ
れている。このターンテーブル15の下部側には角1.
f検出エンコーダが設けられ、ターンテーブル15が例
えば0.3°回転するごとにA?ルスを発生して機構制
御部23を経由してCPU21へ供給するものである。
そして、被検体設定系Cは第2の¥66に収納されてい
る。この第2の室66は、第1および第3の室36.4
7と隣接する部分が前記防塵隔壁37.48で形成され
、他の二つの壁部はX線遮蔽材例えば鉛などで形成され
、その1つの壁部に図示ハに示すように片開き周界が設
けられている。
次に、以上のように構成されたCTスキャナの作用につ
いて説明する。被検体16がX線発生器1θより発生す
るファン状X線1ノの照射範囲より広幅であるとか或い
は狭幅である場合、X線発生器10のX線照射方向に対
しターンテーブル15上の被検体16を進退移動させて
照射範囲内でかつ適正な位置に設定する必要があり、ま
た、X線のスライス位置が被検体16の撮影丁べき断面
位置より下位または上位に有る場合、ターンテーブル1
5を介して被検体16を上昇または下降させる必要があ
る。そこで、X線発生器ノ0よりX線を発生させる前に
、CPU21の一部として41+8成されているキーボ
ード(図示せず)よりX線照射方向とX線スライス方回
の位置決め信号を入力する。これらの信号の入力順序は
どちらが先であると言う必要のものではない。今、仮に
キーが一部からX線照射方向の位置決め信号を入力する
と、CPU21はX線照射方向の位置決めである旨およ
び移動距離を示す信号を出力し、機構制御部23へ供給
する。ここで、機構制御部23は進退駆動系の進退駆動
源52に進退制御信号を供給すると、進退駆動源52は
進退制御信号に応じて正転または逆転し、それに伴なっ
て螺子体53が回転する。この螺子体53には基台54
が係合され、この基台54はレール51.51上に乗か
つているので、進退制御信号に応じてレール51.51
上を基台54が走行し所定位置で停止されることになる
。また、キーボードからスライス方向の位置決め信号を
入力すると、同様にCPU21および機構制御部23を
介して昇降制御信号が昇降駆動源6ノに供給され、これ
によって昇降駆動源61は正転または逆転する。そして
、昇降駆動源6ノの回転は、回転伝達手段67を介して
螺子体65に伝達され、この螺子体65は回転する。こ
の螺子体65の回転方向により、螺子体65に係合され
ている可動体17が係合体64.64を介してレール6
3.63にそって上昇または下降され、所定位置で停止
される。つまり、以上の動作(二より、被検体16が適
切な位置に設定されることになる。
しかして、以上のようC二して被検体16が適切な位置
に設定された後、ターンテーブル15を回転制御する。
この回転制御にあっては、キーボードから例えばスター
ト信号を入力することにより、CPU2Jは予めROM
またはディスク盤に記憶されるプログラムにそって回転
指令信号を出力する。この信号を受けた機構制御部23
は、ここで初めて可動体17内に内蔵されている回転駆
動系を介してターンテーブル15を所定の速度で回転さ
せる。そして、このターンテーブル15の回転角度は角
度検出エンコーダによって検出されて例えば0.3°ご
とに・平ルスとして出力される。この角度検出パルスは
ms制御部23を通ってCPU、? iへ入力される。
ここで、CPU21は例えばターンテーブル15が0.
6度回転するごとにX線制御部24へX線発生用信号を
供給する。この信号を受けたX線制御部24ではスイッ
チを制御してX線発生器10へ高電圧を供給し、これに
よりX線発生器1θからファン状X線11が発生される
このX線11の発生タイミングはターンテーブル15が
0.6度回転するととにCPU21から発生される(E
号により、X線制御部24から高電圧の供給を受けて行
なわれる。
このようにしてX線発生器10より被検体16にX線1
1が照射され、その透過X線データはX線検出器14の
各検出素子によって検出され、ここで入射X線量に対応
する電気的な投影データに変換される。このとき、CP
U2Jからデータ収集用のタイミング信号が入力される
と、データ収集部18はX線検出器14の各検出素子で
得た投影データを各検出素子ごとに取り込んで積分する
ととも(二、これらの積分データをマルチブレフサで順
次取り出してA−D変換して前処理回路19へ送出され
る。前処理回路19では、データ収集部18のデイジタ
ルデータをバッファメモリに格納した後、順次読出して
補正処理を行なう。このとき、リファレンス検出器12
の出力も補正処理に使用される。
かかる補正処理は、X線強度や各検出素子の検出感度の
検出条件を合せるもので、ここで補正処理されたデータ
は再構成画像処理部2Qへ送られる。この画像処理部2
0にあっては、コンボリューション法に基づいてコンボ
リューションを行なって修正データをめ、次いで、パッ
クプロノエクション処理においては逆投影処理が行なわ
れて二次元平面上の各画像位置の画像データが作成され
る。そして、再構成画像処理部20で作成された最終画
像はCPU21を経てCRT22に表示される。なお、
X線発生器10でX線1ノが発生される前に、進退駆動
系および昇降駆動系によって位置決めがなされたとき、
その位置に応じてリミッタ13がリミッタ駆動部25に
よって位置制御されるようになっている。このリミッタ
駆動部25によるリミッタ13の位置制御はCPU2 
Jから機構制御部23を介して行なわれる。
一方、第2の発明にあっては、X線発生糸A、被検体設
定系Cおよびデータ検出・収集系Bをそれぞれ第1.第
2および第3の室36,66゜42に収納させるととも
に、これら各室36゜66.42におりては外側に面す
る壁部をX線遮蔽材で構成するとともに、X線発生糸A
と被検体設定系C1被検体設定系Cとデータ検出・収集
系Bとのそれぞれの境界壁部にX線通過部分を除いて例
えばIMの薄い鉄板を、X線通過部分にはアクリル樹脂
板を用いて閉塞し、特に第1および第3の室36.47
にはファン38b。
496などを設けたことにより、工場などの検査ライン
であっても粉塵などの影響を受けることなく透過X線デ
ータをX線検出器14で高精度に検出することができる
。勿論、第1.第3の室36,47にあっては、電源引
込部39゜50も気密に形成され、粉塵などが室36゜
47に入らなりようになっている。また、各室36.6
6.47は防塵化される一方、扉イ。
ロ、へが設けられているので、保守1点検が容易に行な
える。さらに、X線検出器14およびデータ収集部18
を収納する$3の室47は、支持体41とX線検出器1
4との間に断熱材42およびヒータ43を介在するとと
もに、X線検出器14の温度センナで検出して6v度制
御部44でヒータをコントロールするので、X線検出器
14の各検出素子は均一の温度に保持され、加えて第3
の室47はlQ変度制御49でコントロールするので所
定の温度でデータを収集することができる。
なお、上記実施例では各室36,66.47の外壁部を
一体化し、各室、? 6 、66 、47が分離不可能
としているが、各5J、16,66゜47が防塵隔壁、
? 7 、48によって隔離されていることを考えれば
、各室、96 、66 、47をそれぞれ独立とし、そ
れぞれの室下部にローラなどを取り付けたり、検査ライ
ン上に敷設されたレール上を走行させるなどして任意の
位置に移動させることが可能である。また、X線発生器
10に代えて他の放射線発生器を用すてもよいことは言
うまでもない。この場合には被検体16の性状等が考慮
される。また、昇降駆動系の回転気迷手段67としてギ
ヤおよびベルトなどが用いられるが、これに限らずに従
来公知の種々の回転気迷部材を使用できるものである。
さらに、上記実施例は、被検体ノロを連続回転としたが
、例えば所定角度ごと間欠回転させてまた、進退駆動源
52および螺子体53の代りにピストンや差動トランス
などを用いてアームにて基台を進退させてもよい。
〔発明の効果〕 以上詳記したように本発明によれば、放射線発生器およ
び放射線検出器、データ収集部をそれぞれ固定設置とテ
る一方、両機器の間に配置される被検体をターンテーブ
ルおよび可動体などを介して放射線照射方向に進退自在
、スライス方向に昇降自在とし、がっ回転可能としだの
で、放射線発生系や放射線検出系(二側用されるケーブ
ルがふらつくようなことがなく、ケーブルの寿命を延ば
すことができ、耐ノイズ性を高めてデータを収集できる
。また、放射線発生系および放射線検出系を可動させた
場合、ケーブルの接続などが間匙となるが、被検体設定
系の可動のみの場合にはその問題を解決することができ
、構造的にも簡素化しうる。また、放射線照射方向およ
びスライス方向に自在に位置決めできるため、種々の形
状、大きさ、性状などをもった工業製品の断層像を撮影
することが可能である。
さらに、第2の発明にあっては、放射線発生系、被検体
設定系およびテ゛−タ検出・収集系を第1.第2および
第3の室に収納し、特に第1゜第3の室は防塵化構造と
したことにより、工場などのように粉塵の多い場所ある
いは被検体自体から粉塵が発生するものであっても、そ
の影響を受けることなく確実かつ高精凹にデータを収集
し得るCTスキャナを提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第3図は本発明の詳細な説明するために示
したもので、第1図はCTスキャナの全体構成を示すブ
ロック図、第2図はCTスキャナの機構部分の構成な示
す図であって。 同図(5)は一部断面(ニして示す平面図、同図(B)
は一部断面にして示す正面図、第3図は第1の発明要部
を示す外観斜視図である。 Δ・・・X線発生系、旦・・・データ検出・収集系、C
・・・被検体設定系、10・・・X線発生器、12・・
・リファレンス検出器、13°°゛スリツト、14・・
・X線検出器、15・・・ターンテーブル、16・・・
被検体、17・・・可動体、1B・・・データ収集部、
19・・・前処理回路、20・・・再構成画像処理部、
21・・・CPU、22・・・CRT、2.9・・・機
構制御部、24・・・X線制御部、25・・・スリット
駆動部、3ノ・・・第1の支持体、33・・・冷却器、
35・・・ウェッジ−フィルタ、36・・・第1の室、
37・・・防塵隔壁、38a・・・フィルタ、38b・
・・ファン、39・・・電源引込部、41・・・第2の
支持体、42・・・断熱材、43・・・ヒータ、44,
49・・・温度制御部、48・・・防塵隔壁、50・・
・電源引込部、5ノ・・・レール、52・・・進退駆動
源、53・・・螺子体、54・・・基台、6ノ・・・昇
降駆動源、62・・・昇降支持体、63−°°レール、
64・・・係合体、65・・・螺子体、67・・・回転
気迷手段。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)第1の支持体によって所要の高さに支持された放
    射線発生器と、第2の支持体上に前記放射線発生器と所
    要の距離を陥てて対向するように設置された放射線検出
    器と、この放射線検出器と前記放射線発生器との間に配
    置され、被検体を載置して回転するターンテーブルと、
    このターンテーブルの下部に位置してターンテーブルを
    回転可能に載置する可動体と、この可動体に取付けられ
    、外部からの回転指令信号に基づいて前記ターンテーブ
    ルを回転駆動する回転駆動系と、降曇号養非好毒苧頃哄
    ≠1訓を叱;0咄り釜倭月tマー° ・・・ヲや毛前記
    可動体を介して前記ターンテーブルを昇降する昇降駆動
    系と、前記可動体の支持台に進退アームが水平に設けら
    れ、この進退アームを駆動させて前記可動体を介して前
    記ターンテーブルを前記放射線発生器に対して進退自在
    に駆動する進退駆動系とを備え、前記昇降駆動系によっ
    て被検体のスライス方向の位置決めを行ない、前記進退
    駆動系によって被検体の放射線照射方向の位置決めを行
    ない、かつ前記ターンテーブルによって被検体を回転さ
    せながら放射線発生器から放射線を照射して被検体より
    透過されて出てくる透過放射線データを前記放射線検出
    器により検出するようにしたことを特徴とするCTスキ
    ャナ。
  2. (2)第1の支持体によって所要の高さに支持された放
    射線発生器と、第2の支持体上に前記放射線発生器と所
    要の距離を隔てて対応するように設置された放射線検出
    器と、この放射線検出器と前記放射線発生器との間に回
    転可能に支持され、被検体を載置して回転するターンテ
    ーブルと、外部からの回転指令信号に基づいて前記ター
    ンテーブルを回転する回転駆動系と、前記放射線発生器
    を第1の室、前記ターンテーブルおよび回転駆動系を第
    2の室、前記放射線検出器および検出器の出力データを
    収集するデータ収集部を第3の室にそれぞれ収納する収
    納手段と、この第3の¥(=設けられ堅温を所要の値に
    制御する温度制御手段とを備えたことを特徴とするCT
    スキャナ。
  3. (3) 第1および第3の室は、防塵構造としたことを
    特徴とする特許請求の範囲第2項記載のCTスキャナ。
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