JP2567052B2 - スキャノグラム装置 - Google Patents
スキャノグラム装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、被測定物を透過した放射線を検出して被測
定物の透過画像を得る例えばCTスキャナまたは放射線透
視装置等のスキャノグラム装置に関する。
定物の透過画像を得る例えばCTスキャナまたは放射線透
視装置等のスキャノグラム装置に関する。
（従来の技術） この種の従来の装置は、透過画像を得ようとする被測
定物を回転テーブル上に載置し、この回転テーブルをト
ラバースフレームに固定してから、被測定物に向けて放
射線、例えばＸ線をファンビーム状に放射するととも
に、被測定物をＸ線に対して上下動させながら、被測定
物を透過したＸ線を検出器で検出することによりＸ線の
ファンビームで被われた被測定物の部分の透視画像を得
ている。
定物を回転テーブル上に載置し、この回転テーブルをト
ラバースフレームに固定してから、被測定物に向けて放
射線、例えばＸ線をファンビーム状に放射するととも
に、被測定物をＸ線に対して上下動させながら、被測定
物を透過したＸ線を検出器で検出することによりＸ線の
ファンビームで被われた被測定物の部分の透視画像を得
ている。
（発明が解決しようとする課題） 従来の装置においては、Ｘ線ファンビームで被われた
被測定物の部分の透視画像した得られないため、透過画
像領域を広くとることができないという課題がある。
被測定物の部分の透視画像した得られないため、透過画
像領域を広くとることができないという課題がある。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目
的とするところは、透過画像領域を広く取ることができ
るスキャノグラム装置を提供することにある。
的とするところは、透過画像領域を広く取ることができ
るスキャノグラム装置を提供することにある。
［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 上記目的を達成するため、本発明のスキャノグラム装
置は、被測定物に向けて所定角度を有するファンビーム
状の放射線を発生する放射線発生手段と、被測定物を挾
んで前記放射線発生手段に対向して配設され、被測定物
を透過した前記放射線手段からの放射線を検出する検出
手段と、前記被測定物を前記放射線発生手段と前記検出
手段との間で相対的に回転させる回転手段と、前記回転
手段による前記回転の軸に直角な方向に被測定物を前記
放射線発生手段および前記検出手段からなる測定系に対
して相対的にトラバースさせるトラバース手段と、前記
回転の軸に平行な方向に被測定物を前記測定系に対して
相対的に移動させる移動手段と、前記放射線発生手段か
らの放射線が被測定物の全断面を透過すべく被測定物を
所定角度ずつ回転させるとともに、所定距離ずつトラバ
ースさせるように前記回転手段および前記トラバース手
段を制御し、これらの各回転位置およびトラバース位置
において被測定物に対して前記回転の軸に平行な方向へ
の相対的移動を行わせるように前記移動手段を制御する
制御手段と、前記相対的移動の間において前記検出手段
で検出した被測定物の放射線透過データを収集し、この
収集データを並び替えて一連の被測定物の透過像を表す
透過データを得る並び替え手段とを有する。
置は、被測定物に向けて所定角度を有するファンビーム
状の放射線を発生する放射線発生手段と、被測定物を挾
んで前記放射線発生手段に対向して配設され、被測定物
を透過した前記放射線手段からの放射線を検出する検出
手段と、前記被測定物を前記放射線発生手段と前記検出
手段との間で相対的に回転させる回転手段と、前記回転
手段による前記回転の軸に直角な方向に被測定物を前記
放射線発生手段および前記検出手段からなる測定系に対
して相対的にトラバースさせるトラバース手段と、前記
回転の軸に平行な方向に被測定物を前記測定系に対して
相対的に移動させる移動手段と、前記放射線発生手段か
らの放射線が被測定物の全断面を透過すべく被測定物を
所定角度ずつ回転させるとともに、所定距離ずつトラバ
ースさせるように前記回転手段および前記トラバース手
段を制御し、これらの各回転位置およびトラバース位置
において被測定物に対して前記回転の軸に平行な方向へ
の相対的移動を行わせるように前記移動手段を制御する
制御手段と、前記相対的移動の間において前記検出手段
で検出した被測定物の放射線透過データを収集し、この
収集データを並び替えて一連の被測定物の透過像を表す
透過データを得る並び替え手段とを有する。
（作用） 本発明のスキャノグラム装置では、回転手段およびト
ラバース手段によって被測定物を所定角度ずつ回転させ
るとともに、所定距離ずつトラバースさせ、これらの各
回転位置およびトラバース位置において前記回転の軸に
平行な方向に被測定物を相対的に移動させ、この相対的
移動の間に被測定物の放射線透過データを収集し、この
収集した放射線透過データを並び替えて一連の被測定物
の透視像を表す透過データを得ている。
ラバース手段によって被測定物を所定角度ずつ回転させ
るとともに、所定距離ずつトラバースさせ、これらの各
回転位置およびトラバース位置において前記回転の軸に
平行な方向に被測定物を相対的に移動させ、この相対的
移動の間に被測定物の放射線透過データを収集し、この
収集した放射線透過データを並び替えて一連の被測定物
の透視像を表す透過データを得ている。
（実施例） 以下、図面を用いて本発明の実施例を説明する。
第１図は本発明の一実施例に係わる分割スキャノグラ
ム装置の構成を示すブロック図である。同図に示す分割
スキャノグラム装置は、被測定物にＸ線を照射し、被測
定物を透過したＸ線を検出するスキャナ部１を有し、こ
のスキャナ部１にはスキャナ部１のＸ線管を制御するＸ
線制御部３およびスキャナ部１の機構部を制御する機構
制御部５が接続されている。また、この機構制御部５に
は分割サイノ用シーケンサ７が接続されている。
ム装置の構成を示すブロック図である。同図に示す分割
スキャノグラム装置は、被測定物にＸ線を照射し、被測
定物を透過したＸ線を検出するスキャナ部１を有し、こ
のスキャナ部１にはスキャナ部１のＸ線管を制御するＸ
線制御部３およびスキャナ部１の機構部を制御する機構
制御部５が接続されている。また、この機構制御部５に
は分割サイノ用シーケンサ７が接続されている。
前記スキャナ部１において検出した被測定物のＸ線透
過データはスキャナ部１からデータ収集部９で収集さ
れ、このデータ収集部９から透過データメモリ11に記憶
される。この透過データメモリ11に記憶された透過デー
タは前処理部および再構成制御部15を介して断面像を再
構成させて画像メモリ部17に記憶される（CTスキャナ動
作の場合）とともに、また分割サイノ用並び替え制御部
19を介して並び替えて画像メモリ部17に記憶され（スキ
ャノグラム動作の場合）、それからディスプレイ21に被
測定物の透過画像として表示されるようになっている。
過データはスキャナ部１からデータ収集部９で収集さ
れ、このデータ収集部９から透過データメモリ11に記憶
される。この透過データメモリ11に記憶された透過デー
タは前処理部および再構成制御部15を介して断面像を再
構成させて画像メモリ部17に記憶される（CTスキャナ動
作の場合）とともに、また分割サイノ用並び替え制御部
19を介して並び替えて画像メモリ部17に記憶され（スキ
ャノグラム動作の場合）、それからディスプレイ21に被
測定物の透過画像として表示されるようになっている。
第２図（ａ），（ｂ）は第１図の装置に使用されてい
るスキャナ部１の詳細な構成を示す図であり、第２図
（ａ）はその平面図、第２図（ｂ）は側面図である。
るスキャナ部１の詳細な構成を示す図であり、第２図
（ａ）はその平面図、第２図（ｂ）は側面図である。
このスキャナ部１は、Ｘ線を発生するＸ線管23および
このＸ線管23との間に所定距離を設けて対向して配設さ
れている検出器25を有し、これらのＸ線管23と検出器25
との間には被測定物27が設けられている。被測定物27は
回転テーブル29上に載置され、この回転テーブル29は回
転機構35によって回転するようになっている。回転テー
ブル29はトラバーステーブル31上から取り付けられ、こ
のトラバーステーブル31はトラバース機構33によって前
記Ｘ線管23と検出器25との間を横切るようにトラバース
制御され、これにより被測定物27はＸ線管23と検出器25
との間をＸ線管23からのＸ線を直角に横切るように制御
されている。なお、Ｘ線管23および検出器25の直前には
それぞれコリメータ37、38が設けられ、これによりＸ線
管23からのＸ線はファンビーム45としてファンビーム状
に放射して被測定物27を透過し、検出器25で検出される
ようになっている。
このＸ線管23との間に所定距離を設けて対向して配設さ
れている検出器25を有し、これらのＸ線管23と検出器25
との間には被測定物27が設けられている。被測定物27は
回転テーブル29上に載置され、この回転テーブル29は回
転機構35によって回転するようになっている。回転テー
ブル29はトラバーステーブル31上から取り付けられ、こ
のトラバーステーブル31はトラバース機構33によって前
記Ｘ線管23と検出器25との間を横切るようにトラバース
制御され、これにより被測定物27はＸ線管23と検出器25
との間をＸ線管23からのＸ線を直角に横切るように制御
されている。なお、Ｘ線管23および検出器25の直前には
それぞれコリメータ37、38が設けられ、これによりＸ線
管23からのＸ線はファンビーム45としてファンビーム状
に放射して被測定物27を透過し、検出器25で検出される
ようになっている。
また、Ｘ線管23と検出器25とはコの字状の上下動フレ
ーム39によって互いに固定されるとともに、この上下動
フレーム39は支柱41に取り付けられた上下動機構43によ
って上下方向、すなわちＸ線管23から検出器25へのＸ線
の放射方向に直角な回転テーブル29による回転の軸方向
に平行な方向に上下動するように駆動されている。な
お、Ｘ線管23は第１図に示す前記Ｘ線制御部３によって
制御されるようにＸ線制御部３に接続され、また検出器
25は第１図のデータ収集部９に接続され、この検出器25
で検出した被測定物27の通過データはデータ収集部９に
よって収集され、更に回転機構35、トラバース機構33お
よび上下動機構43は第１図の前記機構制御部５および分
割サイノ用シーケンサ７によって制御されるようになっ
ている。また、前記トラバース機構33および支柱41はベ
ースフレーム47上に固定されている。
ーム39によって互いに固定されるとともに、この上下動
フレーム39は支柱41に取り付けられた上下動機構43によ
って上下方向、すなわちＸ線管23から検出器25へのＸ線
の放射方向に直角な回転テーブル29による回転の軸方向
に平行な方向に上下動するように駆動されている。な
お、Ｘ線管23は第１図に示す前記Ｘ線制御部３によって
制御されるようにＸ線制御部３に接続され、また検出器
25は第１図のデータ収集部９に接続され、この検出器25
で検出した被測定物27の通過データはデータ収集部９に
よって収集され、更に回転機構35、トラバース機構33お
よび上下動機構43は第１図の前記機構制御部５および分
割サイノ用シーケンサ７によって制御されるようになっ
ている。また、前記トラバース機構33および支柱41はベ
ースフレーム47上に固定されている。
次に、第３図のフローチャートおよび第４図の回転テ
ーブル29の動作および被測定物27に対するＸ線の透過状
態を第４図を参照して作用を説明する。
ーブル29の動作および被測定物27に対するＸ線の透過状
態を第４図を参照して作用を説明する。
まず、被測定物27を回転テーブル29上に載置し、機構
制御部５の制御により上下動機構43を駆動して上下動フ
レーム39を下方の停止点まで降下させる（ステップ11
0）。
制御部５の制御により上下動機構43を駆動して上下動フ
レーム39を下方の停止点まで降下させる（ステップ11
0）。
それから、Ｘ線制御部３を介してＸ線管23に電源を投
入してオンする（ステップ120）。Ｘ線管23がオンする
と、第４図（ａ）に示すようにトラバース機構33によっ
てトラバーステーブル31を駆動して、被測定物27をトラ
バース位置X2に設定するとともに、また回転機構35を介
して回転テーブル29を回転位置θ＝０゜に設定する（ス
テップ130）。
入してオンする（ステップ120）。Ｘ線管23がオンする
と、第４図（ａ）に示すようにトラバース機構33によっ
てトラバーステーブル31を駆動して、被測定物27をトラ
バース位置X2に設定するとともに、また回転機構35を介
して回転テーブル29を回転位置θ＝０゜に設定する（ス
テップ130）。
このようにトラバーステーブル31および回転テーブル
29をそれぞれトラバース位置X2および回転角度θ＝０゜
に設定して、被測定物27を第４図（ａ）の位置に設定す
ると、次に上下動機構43の制御により上下動フレーム39
を上昇させながら、Ｘ線管23からの被測定物27を透過し
たＸ線を検出器25で検出し、このデータをデータ収集部
９を介して透過データメモリ11に収集記憶する（ステッ
プ140）。この結果、被測定物27は第４図（ａ）におい
て斜線を施された部分領域ａのデータが得られる。上下
動フレーム39が上方の停止点に達すると、上昇動作は停
止する。
29をそれぞれトラバース位置X2および回転角度θ＝０゜
に設定して、被測定物27を第４図（ａ）の位置に設定す
ると、次に上下動機構43の制御により上下動フレーム39
を上昇させながら、Ｘ線管23からの被測定物27を透過し
たＸ線を検出器25で検出し、このデータをデータ収集部
９を介して透過データメモリ11に収集記憶する（ステッ
プ140）。この結果、被測定物27は第４図（ａ）におい
て斜線を施された部分領域ａのデータが得られる。上下
動フレーム39が上方の停止点に達すると、上昇動作は停
止する。
第４図（ａ）の位置における被測定物27の透過データ
を収集すると、次に同様に第４図（ｂ）に示すようにト
ラバース機構33によってトラバーステーブル31を駆動し
て被測定物27をトラバース位置X1に設定するとともに、
また回転機構35を介して回転テーブル29回転位置θ＝15
゜に設定し（ステップ150）、それから上下動機構43の
制御により上方位置で停止していた上下動フレーム39を
下降させながら、被測定物27を透過Ｘ線を検出器25で検
出し、データ収集部９を介して透過データメモリ11に収
集記憶する（ステップ160）。この結果、被測定物27は
第４図（ｂ）において斜線を施された部分、領域ｂの透
過データを得る。また、上下動フレーム39は下方の停止
点で停止する。
を収集すると、次に同様に第４図（ｂ）に示すようにト
ラバース機構33によってトラバーステーブル31を駆動し
て被測定物27をトラバース位置X1に設定するとともに、
また回転機構35を介して回転テーブル29回転位置θ＝15
゜に設定し（ステップ150）、それから上下動機構43の
制御により上方位置で停止していた上下動フレーム39を
下降させながら、被測定物27を透過Ｘ線を検出器25で検
出し、データ収集部９を介して透過データメモリ11に収
集記憶する（ステップ160）。この結果、被測定物27は
第４図（ｂ）において斜線を施された部分、領域ｂの透
過データを得る。また、上下動フレーム39は下方の停止
点で停止する。
更に、次に、第４図（ｃ）に示すようにトラバース機
構33によってトラバーステーブル31を駆動して被測定物
27をトラバース位置−X1に設定するとともに、また回転
機構35を介して回転テーブル29を回転位置θ＝30゜に設
定し（ステップ170）、それから上下動機構43の制御に
より下方位置で停止していた上下動フレーム39を再び上
昇させながら、被測定物27の透過Ｘ線を検出器25で検出
し、データ収集部９を介して透過データメモリ11に収集
記憶する（ステップ180）。この結果、被測定物27は第
４図（ｃ）において斜線を施された部分、領域ｃの透過
データを検出をされる。また、上下動フレーム39は上方
の停止点で停止する。
構33によってトラバーステーブル31を駆動して被測定物
27をトラバース位置−X1に設定するとともに、また回転
機構35を介して回転テーブル29を回転位置θ＝30゜に設
定し（ステップ170）、それから上下動機構43の制御に
より下方位置で停止していた上下動フレーム39を再び上
昇させながら、被測定物27の透過Ｘ線を検出器25で検出
し、データ収集部９を介して透過データメモリ11に収集
記憶する（ステップ180）。この結果、被測定物27は第
４図（ｃ）において斜線を施された部分、領域ｃの透過
データを検出をされる。また、上下動フレーム39は上方
の停止点で停止する。
それから、また同様に、第４図（ｄ）に示すようにト
ラバース機構33によってトラバーステーブル31を駆動し
て被測定物27をトラバース位置−X2に設定するととも
に、また回転機構35を介して回転テーブル29を回転位置
θ＝45゜に設定し（ステップ190）、それから上下動機
構43の制御により上方位置で停止していた上下動フレー
ム39を再び下降させながら、被測定物27の透過データを
検出器25で検出し、データ収集部９を介して透過データ
メモリ11に収集記憶する（ステップ200）。この結果、
被測定物27は第４図（ｄ）において斜線を施された部
分、領域ｄの透過データを得る。また、上下動フレーム
39は下方の停止点で停止する。なお、上述したトラバー
ステーブル31のトラバース位置、回転テーブル29の回転
位置等は前記分解サイノ用シーケンサ７によりそれぞれ
トラバース機構33および回転機構35を介して制御される
ようになっている。
ラバース機構33によってトラバーステーブル31を駆動し
て被測定物27をトラバース位置−X2に設定するととも
に、また回転機構35を介して回転テーブル29を回転位置
θ＝45゜に設定し（ステップ190）、それから上下動機
構43の制御により上方位置で停止していた上下動フレー
ム39を再び下降させながら、被測定物27の透過データを
検出器25で検出し、データ収集部９を介して透過データ
メモリ11に収集記憶する（ステップ200）。この結果、
被測定物27は第４図（ｄ）において斜線を施された部
分、領域ｄの透過データを得る。また、上下動フレーム
39は下方の停止点で停止する。なお、上述したトラバー
ステーブル31のトラバース位置、回転テーブル29の回転
位置等は前記分解サイノ用シーケンサ７によりそれぞれ
トラバース機構33および回転機構35を介して制御される
ようになっている。
以上のようにして、第４図（ａ）〜（ｄ）に示すよう
に被測定物27の全領域ａ、b,c,dについての透過データ
を収集すると、Ｘ線管23をオフにし（ステップ210）、
データ収集を終了する（ステップ220）。
に被測定物27の全領域ａ、b,c,dについての透過データ
を収集すると、Ｘ線管23をオフにし（ステップ210）、
データ収集を終了する（ステップ220）。
第５図は以上のようにして得られるスキャノグラム画
像を示している。被測定物27の前記各領域ａ、b,c,dに
対する透過データは同図において矢印で示す方向に順次
収集され、透過データメモリ11に記憶されることになる
が、この矢印の方向は各領域毎に反対となっているた
め、この収集データを前処理部13を介して分解サイノ用
並び替え制御部19に供給し、この分割サイノ用並び替え
制御部19において並び替えを行い、第５図に示すような
全体が連続した透過像データとして再生して画像メモリ
部17に記憶し、この並び替えた透過像データを第５図に
おいて斜線で示す透過像としてディスプレイ21で表示す
るようにしている。
像を示している。被測定物27の前記各領域ａ、b,c,dに
対する透過データは同図において矢印で示す方向に順次
収集され、透過データメモリ11に記憶されることになる
が、この矢印の方向は各領域毎に反対となっているた
め、この収集データを前処理部13を介して分解サイノ用
並び替え制御部19に供給し、この分割サイノ用並び替え
制御部19において並び替えを行い、第５図に示すような
全体が連続した透過像データとして再生して画像メモリ
部17に記憶し、この並び替えた透過像データを第５図に
おいて斜線で示す透過像としてディスプレイ21で表示す
るようにしている。
第６図は本発明の他の実施例の説明図である。同実施
例の装置構成は前述した第１図および第２図に示した構
成と同じであるが、この実施例において前記検出器25を
構成する複数の検出素子25aの各隣接検出素子間の各ギ
ャップにおける被測定物27のＸ線透過データも得て画質
の向上を図ろうとするものである。すなわち、第６図に
おいてＸ線管23の焦点Ｓから放射されて検出器25aの各
検出素子25aで検出される各Ｘ線は同図の実線で示すよ
うに検出素子の間隔によって決まり、各検出素子間のギ
ャップ部の透過画像データは得られないことになるが、
これをカバーするために、同実施例においては、回転テ
ーブル29およびトラバーステーブル31をそれぞれ僅かに
回転およびトラバースして同図において実線の間に相当
する点線で示す位置の透過データを検出しようとするも
のである。
例の装置構成は前述した第１図および第２図に示した構
成と同じであるが、この実施例において前記検出器25を
構成する複数の検出素子25aの各隣接検出素子間の各ギ
ャップにおける被測定物27のＸ線透過データも得て画質
の向上を図ろうとするものである。すなわち、第６図に
おいてＸ線管23の焦点Ｓから放射されて検出器25aの各
検出素子25aで検出される各Ｘ線は同図の実線で示すよ
うに検出素子の間隔によって決まり、各検出素子間のギ
ャップ部の透過画像データは得られないことになるが、
これをカバーするために、同実施例においては、回転テ
ーブル29およびトラバーステーブル31をそれぞれ僅かに
回転およびトラバースして同図において実線の間に相当
する点線で示す位置の透過データを検出しようとするも
のである。
更に具体的には、前述した実施例では、被測定物27を
載置するテーブルのトラバース位置Ｘおよび回転位置θ
をそれぞれ （１）Ｘ＝X2、θ＝０゜ （２）Ｘ＝X1、θ＝15゜ （３）Ｘ＝−X1θ＝30゜ （４）Ｘ＝−X2、θ＝45゜ の４ケ所としておいたが、本実施例で、各位置の間にΔ
ＸおよびΔθを加えた８ケ所の位置、すなわち （１）Ｘ＝X2、θ＝０゜ （２）Ｘ＝X2＋ΔＸ、θ＝０゜＋Δθ （３）Ｘ＝X1、θ＝15゜ （４）Ｘ＝X1＋ΔＸ、θ＝15゜＋Δθ （５）Ｘ＝−X1、θ＝30゜ （６）Ｘ＝−X1＋ΔＸ、θ＝30゜＋Δθ （７）Ｘ＝−X2、θ＝45゜ （８）Ｘ＝−X2＋ΔＸ、θ＝45゜＋Δθ の８ケ所の位置の２倍の透過データを収集し、画質を向
上しようというものである。なお、ΔＸは回転テーブル
29の回転中心でのＸ線通路ピッチの1/2の量であり、ま
たΔθは検出素子25aのピッチ角φＤの1/2の量である。
載置するテーブルのトラバース位置Ｘおよび回転位置θ
をそれぞれ （１）Ｘ＝X2、θ＝０゜ （２）Ｘ＝X1、θ＝15゜ （３）Ｘ＝−X1θ＝30゜ （４）Ｘ＝−X2、θ＝45゜ の４ケ所としておいたが、本実施例で、各位置の間にΔ
ＸおよびΔθを加えた８ケ所の位置、すなわち （１）Ｘ＝X2、θ＝０゜ （２）Ｘ＝X2＋ΔＸ、θ＝０゜＋Δθ （３）Ｘ＝X1、θ＝15゜ （４）Ｘ＝X1＋ΔＸ、θ＝15゜＋Δθ （５）Ｘ＝−X1、θ＝30゜ （６）Ｘ＝−X1＋ΔＸ、θ＝30゜＋Δθ （７）Ｘ＝−X2、θ＝45゜ （８）Ｘ＝−X2＋ΔＸ、θ＝45゜＋Δθ の８ケ所の位置の２倍の透過データを収集し、画質を向
上しようというものである。なお、ΔＸは回転テーブル
29の回転中心でのＸ線通路ピッチの1/2の量であり、ま
たΔθは検出素子25aのピッチ角φＤの1/2の量である。
また回転機構の簡略化のためΔθ＝０としてもよい。
この場合Ｘ線通路の補間がやや不正確になるが実用上ほ
とんど問題ない。
この場合Ｘ線通路の補間がやや不正確になるが実用上ほ
とんど問題ない。
［発明の効果］ 以上説明したように、本発明によれば、回転手段およ
びトラバース手段によって被測定物を所定角度づつ相対
回転させるとともに、所定距離ずつ相対トラバースさ
せ、これらの各回転位置およびトラバース位置において
前記回転の軸に平行な方向に被測定物を相対的に移動さ
せ、この相対的移動の間に被害測定物の放射線透過デー
タを収集し、この収集データを並び替えて一連の被測定
物の透過像を表わす透過データを得ているので、被測定
物の透過領域を広く取ることができる。
びトラバース手段によって被測定物を所定角度づつ相対
回転させるとともに、所定距離ずつ相対トラバースさ
せ、これらの各回転位置およびトラバース位置において
前記回転の軸に平行な方向に被測定物を相対的に移動さ
せ、この相対的移動の間に被害測定物の放射線透過デー
タを収集し、この収集データを並び替えて一連の被測定
物の透過像を表わす透過データを得ているので、被測定
物の透過領域を広く取ることができる。
第１図は本発明の一実施例に係わる分割スキャノグラム
装置の構成を示すブロック図、第２図（ａ）、（ｂ）は
それぞれ第１図の実施例に使用されるスキャナ部の構成
を示す平面図および側面図、第３図は第１図の実施例の
作用を示すフローチャート、第４図は第１図の作用の説
明図、第５図は第１図の実施例で得られる透過画像を示
す図、第６図は本発明の他の実施例の説明図である。 １……スキャナ部 ３……Ｘ線制御部 ５……機構制御部 ７……分割サイノ用シーケンサ ９……データ収集部 11……透過データメモリ 15……再構成制御部 17……画像メモリ部 19……分割サイノ用並び替え制御部 21……ディスプレイ 23……Ｘ線管 25……検出器 27……被測定物 29……回転テーブル 31……トラバーステーブル 33……トラバース機構 43……上下動機構
装置の構成を示すブロック図、第２図（ａ）、（ｂ）は
それぞれ第１図の実施例に使用されるスキャナ部の構成
を示す平面図および側面図、第３図は第１図の実施例の
作用を示すフローチャート、第４図は第１図の作用の説
明図、第５図は第１図の実施例で得られる透過画像を示
す図、第６図は本発明の他の実施例の説明図である。 １……スキャナ部 ３……Ｘ線制御部 ５……機構制御部 ７……分割サイノ用シーケンサ ９……データ収集部 11……透過データメモリ 15……再構成制御部 17……画像メモリ部 19……分割サイノ用並び替え制御部 21……ディスプレイ 23……Ｘ線管 25……検出器 27……被測定物 29……回転テーブル 31……トラバーステーブル 33……トラバース機構 43……上下動機構
Claims (1)
- 【請求項１】被測定物に向けて所定角度を有するファン
ビーム状の放射線を発生する放射線発生手段と、 被測定物を挾んで前記放射線発生手段に対向して配設さ
れ、被測定物を透過した前記放射線発生手段からの放射
線を検出する検出手段と、 前記被測定物を前記放射線発生手段と、前記検出手段と
の間で相対的に回転させる回転手段と、 前記回転手段による前記回転の軸に直角な方向に被測定
物を前記放射線発生手段および前記検出手段からなる測
定系に対して相対的にトラバースさせるトラバース手段
と、 前記回転の軸に平行な方向に被測定物を前記測定系に対
して相対的に移動させる移動手段と、 前記放射線発生手段からの放射線が被測定物の全断面を
透過すべく被測定物を所定角度ずつ回転させるととも
に、所定距離づつトラバースさせるように前記回転手段
および前記トラバース手段を制御し、これらの各位置お
よびトラバース位置において被測定物に対して前記回転
の軸に平行な方向への相対的移動を行わせるように前記
移動手段を制御する制御手段と、 前記相対的移動の間において前記検出手段で検出した被
測定物の放射線透過データを収集し、この収集データを
並び替えて一連の被測定物の透過像を表す透過データを
得る並び替え手段と、 を有することを特徴とするスキャノグラム装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63215282A JP2567052B2 (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | スキャノグラム装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63215282A JP2567052B2 (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | スキャノグラム装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0264442A JPH0264442A (ja) | 1990-03-05 |
| JP2567052B2 true JP2567052B2 (ja) | 1996-12-25 |
Family
ID=16669738
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63215282A Expired - Lifetime JP2567052B2 (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | スキャノグラム装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2567052B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03209120A (ja) * | 1990-01-10 | 1991-09-12 | Nippon Steel Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| CN101382508A (zh) * | 2007-09-05 | 2009-03-11 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种检查航空货运集装箱中违禁物品的装置和方法 |
| CN101382507A (zh) * | 2007-09-05 | 2009-03-11 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种检查航空货运集装箱中违禁物品的装置 |
-
1988
- 1988-08-31 JP JP63215282A patent/JP2567052B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0264442A (ja) | 1990-03-05 |
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Legal Events
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