JP2002055062A - X線ct装置 - Google Patents
X線ct装置Info
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Abstract
もないX線CT装置を提供する。 【解決手段】 校正治具付き試料台10を回転台3aに
装着し、試料11を中央にセットする。試料台3に設け
られた回転台3aを昇降させ、上下にX線透過性の良い
材料に埋設されたタングステン線10aをX線ビーム高
さに位置する。そして、回転走査し回転中心位置のずれ
を検出器6で検出記憶する。次に試料11をX線ビーム
高さに位置し、回転走査して検出器6からデータ処理装
置7にデータ収集する。得られたデータから断層像を再
構成する時に、前記回転中心位置のずれのデータ値だけ
空間座標をずらせて畳込み演算と逆投影演算を行い、回
転中心の校正をソフトによって自動で行い、断層像を得
る。
Description
わり、特に、非破壊X線検査装置の回転中心位置を校正
する治具を用い、試料を回転してX線管とそれに対向し
て配置された検出器からのデータを位置校正するX線C
T装置に関する。
中心にして回転をし、投影データを収集して被検体の断
層画像を得るX線CT装置が、医用分野で一般に広く使
われている。この場合、撮影領域を一度に覆うだけの広
がりを持つ扇状のX線ビーム(通常30〜50度)が用
いられ、検出器は円弧状に緻密に配列された数百にも及
ぶ検出器素子群で構成されている。そして、検出器は被
検体を挟んでX線管に対向して配置され検出器素子の数
に対応した放射状に分布するX線通路が得られる。撮影
は、X線管と検出器が一体となって被検体の周りを36
0度回転する時に、一定角度毎に投影データを得て、D
AS(データ収集ユニット)に取り入れ、高速演算処理
装置で演算し、画像再構成を行い、表示装置で断層像を
表示し、同時に磁気ディスク装置にそのデータを保存し
ている。この場合、被検体は静止した状態でX線管と検
出器が回転する機構であるが、工業用の非破壊X線検査
装置として使用されるX線CT装置として、X線管と検
出器が固定された状態で非破壊検査物を360度回転さ
せるX線CT装置がある
T装置の側面図を示す。非破壊検査物(図3では中心位
置校正治具2)は、試料台3に設けられたモータ4で一
定の速度で回転する回転台3aにセットされる。その非
破壊検査物を挟んで、X線管1とそれに対向して検出器
6を配置し、散乱X線入射を防御するために水平方向に
開口度可変のX線用のスリット5を検出器6の前面に備
えている。この場合、X線管1と検出器6は固定で、非
破壊検査物が回転台3aの上で所定の速度で回転してい
る。非破壊検査物の回転軸はX線管1と検出器6の中心
を結ぶ線上にセットされる。このような各部の配置であ
れば前記の医用のX線CT装置と原理が同じである。
線透過信号は、プリアンプを通してデータ処理装置7に
送られる。データ処理装置7は、A/D変換器、DAS
(データ収集ユニット)、高速演算処理装置、コントロ
ーラ、CPU、磁気ディスク等から構成され、取り入れ
たデータから画像再構成を行い、モニタ8上に非破壊検
査物の水平方向の断層画像を表示する。そして、回転台
3aの高さを変えて非破壊検査物の回転走査を行えば、
各層の断層像が得られる。X線管1からのX線が回転す
る非破壊検査物を透過して検出器6に投影され、そのX
線透過信号から画像を再構成する方法として、コンボル
ーションバックプロジェクション(CBP)法が使われ
ている。CPB法はコンボルーション(畳込み)演算と
バックプロジェクション(逆投影)演算の2つの段階を
得て画像再構成をおこなっている。図3のモニタ8に
は、非破壊検査物が回転しているときの走査中の検出器
6でのスリット5の水平方向の強度信号を縦軸に表示し
たものである。走査が終了すればモニタ8上に断層像が
表示される。
は、以上のように構成されているが、画像再構成のソフ
トは、所定位置に装置がセットされているとして、取込
みデータがデータ処理装置7側に格納される。したがっ
てこれらの条件を満足するように装置のチェックが必要
となる。そして、チェックをした後、ソフト上で画像再
構成時に座標のずれ分を補正し演算するか、又は、ハー
ド上でX線管1と検出器6を移動させるか、試料台3を
移動させて、回転中心に試料をセットし、走査して画像
再構成することが必要である。チェックをして校正しな
ければ、画像再構成したものがアーチファクトを生じた
り、鮮明な画像にならなかったり、または、崩れた画像
になったりすることがある。そのため、従来の装置は、
回転台3a上に、X線透過性の良い材料、例えばアクリ
ライト樹脂でできた円柱上のブロックに、中央に垂直に
金属線、例えばタングステン線2aなどが埋設された中
心位置校正治具2をセットし回転走査して、タングステ
ン線2aが装置の回転中心に一致しているか否かのチェ
ックを行い、一致していなければ、試料台3を移動させ
たり、または、X線管1と検出器6を移動させて、回転
中心を一致させるか、または、ソフト上で座標のずれ値
を投入してから、その後に非破壊検査物を回転台3a上
にセットし、走査してデータを収集し、画像再構成をし
てX線画像を得ていた。上記のような作業を検査前に行
うために、中心位置校正治具2を毎回セットしチェック
後に取外し、それから非破壊検査物を回転台3aにセッ
トしなければならないという煩わしい問題がある。
たものであって、中心位置校正治具を毎回セットし、回
転中心位置をチェック後に取外し、それから非破壊検査
物を回転台にセットして行うのでなく、自動で、画像再
構成時にソフト上でずれ補正演算を行うか、または、装
置の位置をハード上で矯正することができるX線CT装
置を提供することを目的とする。
め、本発明のX線CT装置は、回転するテーブル上の試
料を中心に、X線管とそれに対向してX線検出器を配置
し、回転して得られた試料のX線透過データからその断
層像を再構成するX線CT装置において、試料をセット
する空間の上下の中心に、金属線を垂直に埋設したX線
透過性の良いブロックからなる中心位置校正治具付き試
料台と、その試料台を上方及び下方に移動させることが
できる昇降機構と、その昇降機構により前記金属線をX
線走査位置に移動させ試料台を回転することによって2
本の前記金属線のX線像位置の移動ずれを検出記憶する
回路とを設け、試料を回転走査して得られたデータから
断層像を再構成する時に前記移動ずれのデータ値だけ空
間座標をずらせて畳込み演算と逆投影演算を行い回転中
心の校正を自動でできるようにしたものである。
回転する前記テーブルを前記移動ずれデータにより自動
的に回転中心位置に移動させる移動機構とを設け、試料
を回転中心にして走査することができるものである。
されており、中央に試料がセットできる空間と、その試
料の上部と下部の中心の2箇所に、金属線、例えばタン
グステン線を垂直に埋設したX線透過性の良いブロッ
ク、例えばアクリライト樹脂ブロックを、回転テーブル
にセットし、上下の金属線を中心位置校正治具とし、試
料を中央にセットした状態で、回転中心位置を上下で、
チェックすることができる。その移動ずれのデータによ
り、試料を回転走査して得られたデータから断層像を再
構成する時に、前記移動ずれのデータ値だけ空間座標を
ずらせて畳込み演算と逆投影演算を行い回転中心の校正
を自動ですることができる。また、本発明のX線CT装
置は、試料を回転する前記テーブルを移動させる移動機
構を設け、前記移動ずれデータから自動的に回転中心位
置に前記テーブルを移動させることができ、試料を回転
中心にして走査することができる。これにより、治具の
取外しをすることなく、試料の上と下の2箇所で回転中
心をチェックし、自動で校正することができ、作業の手
間が省けて、試料の断層像を得ることができる。
を図1、図2を参照しながら説明する。図1は本発明の
X線CT装置の構成を示す図である。図2は校正治具付
き試料台10の斜視図を示す。本X線CT装置は、モー
タ4で試料11を載せる回転台3aを回転しその回転台
3aを上下に昇降できる昇降機構とX線管1と検出器6
を結ぶ線に対し垂直方向に移動できる移動機構を備えた
試料台3と、回転台3a上の試料11を中心にしてX線
管1と、それに対向して配置された検出器6と、回転中
心位置を校正するために回転中心軸上に試料11をセッ
トすることのできる空間とその上方と下方の2箇所にタ
ングステン線10aを埋設したX線透過性の良いブロッ
クからなる中心位置合せ用の校正治具付き試料台10
と、前記昇降機構によりタングステン線10aをX線走
査位置に移動させ試料台3を回転することによって2本
の前記タングステン線10aのX線像位置の移動ずれを
検出記憶する回路と、試料11を回転走査して得られた
データから断層像を再構成する時に前記移動ずれのデー
タ値だけ空間座標をずらせて畳込み演算と逆投影演算を
行い回転中心の校正を自動で行うデータ処理装置7と、
回転走査時にスリット5を通して検出器6で検出される
水平方向検出信号を及び回転走査終了後にデータ処理装
置7で画像再構成された断層像を表示するモニタ8とか
ら構成されている。
は、図2に示すように中央に試料11をセットできる空
間を有する半円筒形のX線透過性の良い材料、例えばア
クリライト樹脂からなる半円筒部10dと、その試料を
セットできる空間の上下にタングステン線10aを中心
軸に垂直に埋設したX線透過性の良い材料、例えばアク
リライト樹脂からなるブロック10b及び10cとを一
体として縦方向に形成したものである。試料台3は、内
部にモータ4を備え、上部に回転台3aを設けて、所定
の速度で回転し、そして、回転台3aを上下に昇降する
ことができる昇降機能を備えている。さらに、X線管1
と検出器6を結ぶ線に対して直角方向に移動することが
できる移動機構を備えている。この移動機構はデータ処
理装置7からの回転中心位置のずれ値と連動して移動す
ることができる。スリット5は、試料11で発生した散
乱線を除去するために検出器6の前面に置かれる。検出
器6は、シンチレータとフォトダイオードからなる検出
器素子を水平方向に円弧状または平面状に配列したも
の、また、X線変換層を有する半導体素子からなる検出
器、また、イメージインテンシファイアとTVカメラを
組み合わせ、A/D変換して信号を取りこむもの、何れ
のものでも良い。データ処理装置7は、A/D変換器、
DAS(データ収集ユニット)、高速演算処理装置、コ
ントローラ、CPU、磁気ディスク等から構成され、校
正治具付き試料台10によって検出された回転中心位置
のずれ値を記憶装置に記憶し、試料11を回転走査して
得られたデータから断層像を再構成する時に前記回転中
心のずれのデータ値だけ空間座標をずらせて畳込み演算
と逆投影演算を行い回転中心の校正をソフトによって自
動で行うことができる。モニタ8は、試料11を回転走
査中は、水平方向の検出信号の強度を縦軸に表示し、回
転走査後、取り入れたデータから画像再構成が行われ、
モニタ8上に試料11の水平方向の断層画像を表示す
る。
する。最初に回転台3a上に校正治具付き試料台10を
セットする。そして、その校正治具付き試料台10の中
央の空間に試料11をセットする。次に、回転台3aを
上昇させ、校正治具付き試料台10の下方に埋設された
タングステン線10aを、X線ビームの走査位置の高さ
まで移動させる。そして回転台3aを所定の速度で回転
させ、タングステン線10aの回転中心ずれを検出し、
そのデータを記憶回路に記憶させる。次に、回転台3a
を下降させ、校正治具付き試料台10の上方に埋設され
たタングステン線10aを、X線ビームの走査位置の高
さまで移動させる。そして、回転台3aを所定の速度で
回転させ、タングステン線10aの回転中心ずれを検出
し、そのデータを記憶回路に記憶させる。そして、両方
の回転中心のずれを平均し、その回転中心ずれ値を記憶
回路に記憶させる。次に、回転台3aを上昇させ、試料
11の検査すべき断層面の高さを、X線ビームの走査位
置の高さまで移動させる。そして、回転台3aを所定の
速度で回転させ、断層面のデータを検出器6から、デー
タ処理装置7に取りこみ、そのデータから断層像を再構
成する時に、前記回転中心ずれ値だけ空間座標をずらせ
て畳込み演算と逆投影演算を行い回転中心の校正を自動
で行い、断層像をモニタ8上に表示する。
校正を、演算するソフトを用いて、データ処理装置7で
行っているが、回転中心のずれによる校正は、直接ハー
ドを移動させて、回転中心を矯正する方法でも良い。直
接ハードを矯正する方法は、試料11をセットした校正
治具付き試料台10を装着している回転台3aを備えた
試料台3を、X線管1と検出器6を結ぶ線に対し直角に
移動させる方法と、X線管1と検出器6を平行して移動
させる方法がある。何れの方法も校正治具付き試料台1
0のタングステン線10aで検出した回転中心のずれ値
に基づいて、データ処理装置7からの信号で、ハードを
自動的に移動させる機構を備えて行われる。
成されており、試料をセットする空間の上下の中心に、
金属線を垂直に埋設したX線透過性の良いブロックから
なる中心位置校正治具付き試料台を、回転台に載せて昇
降し、2本の金属線による回転走査で回転中心のずれ値
を検出し、試料位置の高さで回転走査して得られたデー
タから断層像を再構成する時に、前記移動ずれのデータ
値だけ空間座標をずらせて畳込み演算と逆投影演算を行
い回転中心の校正を自動で行うことができる。これによ
り、治具の取外しをすることなく、ソフトで自動校正す
ることができ、作業の手間を省くことができる。また、
中心位置校正治具付き試料台を載せる回転台を、X線管
と検出器中心を結ぶ線に対して直角に、2本の金属線に
よる回転走査で得られた回転中心のずれ値だけ自動的に
移動させて、回転中心で試料のデータを収集する方法
や、また、回転台を移動させる替わりに、X線管と検出
器を平行に回転中心のずれ値だけ移動させる機構で行う
こともできる。これにより、治具の取外しをすることな
く、ハードで直接回転中心を矯正することができ、作業
の手間を省くことができる。
ある。
10を示す図である。
Claims (2)
- 【請求項1】回転するテーブル上の試料を中心に、X線
管とそれに対向してX線検出器を配置し、回転して得ら
れた試料のX線透過データからその断層像を再構成する
X線CT装置において、試料をセットする空間の上下の
中心に、金属線を垂直に埋設したX線透過性の良いブロ
ックからなる中心位置校正治具付き試料台と、その試料
台を上方及び下方に移動させることができる昇降機構
と、その昇降機構により前記金属線をX線走査位置に移
動させ試料台を回転することによって2本の前記金属線
のX線像位置の移動ずれを検出記憶する回路とを設け、
試料を回転走査して得られたデータから断層像を再構成
する時に前記移動ずれのデータ値だけ空間座標をずらせ
て畳込み演算と逆投影演算を行い回転中心の校正を自動
でできるようにしたことを特徴とするX線CT装置。 - 【請求項2】回転するテーブル上の試料を中心に、X線
管とそれに対向してX線検出器を配置し、回転して得ら
れた試料のX線透過データからその断層像を再構成する
X線CT装置において、試料をセットする空間の上下の
中心に、金属線を垂直に埋設したX線透過性の良いブロ
ックからなる中心位置校正治具付き試料台と、その試料
台を上方及び下方に移動させることができる昇降機構
と、その昇降機構により前記金属線をX線走査位置に移
動させ試料台を回転することによって2本の前記金属線
のX線像位置の移動ずれを検出記憶する回路と、試料を
回転する前記テーブルを前記移動ずれデータにより自動
的に回転中心位置に移動させる移動機構とを設け、試料
を回転中心にして走査することができることを特徴とす
るX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000243549A JP4374753B2 (ja) | 2000-08-11 | 2000-08-11 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000243549A JP4374753B2 (ja) | 2000-08-11 | 2000-08-11 | X線ct装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002055062A true JP2002055062A (ja) | 2002-02-20 |
JP4374753B2 JP4374753B2 (ja) | 2009-12-02 |
Family
ID=18734383
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000243549A Expired - Lifetime JP4374753B2 (ja) | 2000-08-11 | 2000-08-11 | X線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4374753B2 (ja) |
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JP4400737B2 (ja) | 画像処理方法および放射線断層撮像装置 |
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