JPS60163295A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPS60163295A
JPS60163295A JP59017059A JP1705984A JPS60163295A JP S60163295 A JPS60163295 A JP S60163295A JP 59017059 A JP59017059 A JP 59017059A JP 1705984 A JP1705984 A JP 1705984A JP S60163295 A JPS60163295 A JP S60163295A
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JP
Japan
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voltage
sense
circuit
terminal
drain
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Application number
JP59017059A
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English (en)
Inventor
Nobuaki Miyagawa
宣明 宮川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はメモリのセンス方式に係り、特に情報を読み出
す際の高速化に好適な半導体記憶装置に関する。
〔発明の背景〕
マイクロプログラムをはじめとするIC(integr
ated circuit )、 L S I (la
rgescale integrated circu
it )で使われるメモリの中に、マイクロプログラム
する場合などに用いられまったく変更を必要としない固
定情報で読み出すことを主な機能とする)LOM (R
ead OnlyMemory )がある。
しかし、素子の微細化に伴い各々のLSIの高速化がは
かられるにつれROMの読み出し速度も高速化が要求さ
れている。ROMは通常第1図のような構成で、アドレ
ス人力であるnビットのディジタル信号が与えられると
デコーダDにより211本のワード線の中から一本を選
びそのワード線上にあるmビットの記憶パターンをセン
ス回路So”5−−tで検出する。図でワード線とm本
のセンス線(tI〜t、、)の交点にある○印は結合素
子の有無で′H#、″′L”に対応する情報を作ること
を示している。
センス回路8 g ”’= S +m−1は消費電力等
の点から電圧検出方法が多く用いられている。また、通
常メモリの小形化をはかるためのセンス方法としてセン
ス線を211本のワード線に共通に用いる方法がとられ
ている。すなわち、まずセンス線をプリチャージ回路(
P6−P−+ )であらかじめ任意の電圧レベルに充電
する。(プリチャージ)つぎにアドレス人力で選択され
たワード線の記憶パターンによりセンス線のプリチャー
ジ電圧は放電するかそのままの状態に保持される。この
センス線の状態をセンスアンプ等のセンス回路S。
〜Sm−1で検出する。
このような構成において、周辺回路の高速化に伴いRO
Mの高速化に際して、問題となるのはセンス線を充電す
るためのプリチャージ回路と読み出しの際に用いるセン
ス回路である。
メモリは高集積化の点からMOS)ランジスタで構成す
るのが有効である。しかし、MOSトランジスタのg、
が小さいためにオン抵抗が大きく、負荷容量や寄生容量
を充電するのに時間がかかる。
このため、センス線を充電するプリチャージ回路の高速
化をはかるには充電用MOSトランジスタの寸法を大き
くしたり、ゲート制御方法に工夫が必要である。しかし
、これらの対応策は小型化。
高集積化に反することになる。
また、センスアンプの高速化を狙うだめにセン。
スアンプの比較電圧とセンス線の充電電圧の差を数10
01nV程度にしているが、従来この方法には電圧振幅
を小さくするために電圧クランプやフィードバック構成
のセンスアンプを用いたり、比較電圧源としてダミーセ
ルを用い僅かな差電圧を作るのに工夫している。したが
って、センスアンプが比較的大きな回路構成となったり
、加工精度などによる比較電圧への影響が避けられなか
った。
〔発明の目的〕
本発明の目的は上記欠点を除去し、センス線の変化を高
速に検出できる半導体記憶装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
上記目的を達成する本発明の特徴とするところは、差動
増幅器を有するセンス回路を具備する半導体記憶装置に
於いて、一方の電圧から該一方の電圧より低い他方の電
圧を発生する制御回路を具備し、上記一方の電圧と上記
他方の電圧とを上記差動増幅器の入力とすることにある
本発明の好ましい実施態様に於いては、上記一方の電圧
はプリチャージ電圧でsb、また上記一方の電圧から該
一方の電圧より低い他方の電圧を発生する制御回路は、
MOSトランジスタのフィールドスルーを利用する。
さらに、本発明の好ましい実施態様に於いては、センス
回路を直流差動増幅器と交流増幅器で構成し、高利得、
高速のセンスアンプを得る。
さらに、本発明の好ましい実施態様に於いてはバイポー
ラトランジスタとMOSトランジスタとを組み合わせた
増幅器によシ高速プリチャージ回路とセンスアンプの比
較電圧を同一の構成で実現できる。
さらにまた、本発明の好ましい実施態様に於いてはセン
ス回路の直流差動増幅器の出力から交流増幅器の人力に
与える信号をセンス線に接続されていない差動入力端の
方から取ることによりセンス線容量に影響されることな
く高速検出でき、高速、大容量のROMを実現する。
〔発明の実施例〕
第2図は本発明の第1の実施例の基本構成を示す図で、
1がセンス線、2がセンス線をプリチャージするだめの
プリチャージ回路、3がプリチャージ回路の出力電圧か
ら僅かに低い電圧を作る制御回路、4がセンス線1の状
態を検出するセンス回路、5がセンス線1の状態に対応
する出力信号である。第2図には第1図で示した結合素
子は記述されていない。
本構成は電圧発生手段をプリチャージ回路2のみに置き
、このプリチャージ電圧をもとにしてセンス回路4の2
つの入力端子(センス線1のプリチャージ電圧と制御回
路3の出力電圧)を決めるようになっている。このため
、各部分の電圧関係が一つの電圧源から決められるため
動作上不都合の起こりにくい構成となっている。
第3図にプリチャージ回路の構成を示す。
第3図(a)において、100は電源陽極端、20はソ
ース端を電源陽極端100に接続するpチャネルMOS
トランジスタ(以下pMO8と称す)、21はコレクタ
を電源陽極端100に接続し、ベース端を9MO820
のドレイン端に接続するnpn)ランジスタ、22はド
レイン端をI)MO820のドレイン端に接続し、ゲー
ト端を9MO820のゲート端とnpn)ランジスタ2
1のエミッタ端に接続し、ソース端を電源陰極端1o1
に接続する11チャネルMOSトランジスタ(以下nM
O8と称すン、23はドレイン端をnprl)ランジス
タ21のエミッタ端に接続するnチャネルMOSトラン
ジスタ、24は0MO823(Dゲート端に信号を与え
る入力端子、25は一端を0MO823のソース端に接
続し、他端を電源陰極端101に接続するコンデンサ、
26は0MO823のソース端に接続する出力端子、c
、はnpnトランジスタ21のエミッタ端につく容量で
記憶容量の大小で異る値をもつ。
本構成の動作は次のようになる。
いま、コンデンサ25の端子電圧が電源陰極端子電圧に
あり端子24がto H”レベルになったとするとa点
は″′L″レベルとなり、このとき9MO820を流れ
る電流I、は と表わされる。ここで、βOp+β、はそれぞれ1)M
O820のチャネルコンダクタンス回数とチャネル寸法
比(チャネル幅/チャネル長)を表わし、Vaはゲート
電圧、Vcci’tili源陽極端100の電圧、vt
昨はしきい電圧である。
(1)式の電流はnpn )ランジスタ21のベース電
流となるためnpnトランジスタ21のエミッタ電流1
.は I 、 = (1+ hrw )I、 = LrtIp
 −・−(z)となる。ここで、hl’には口pnトラ
ンジスタ21の直流増幅率である。
(礎式の゛電流は、9MO820、n M OS 22
 (Dゲートが高インピーダンスのため、コンデンサC
2の充電と0MO823を通りコンデンサ25を充電す
る(プリチャージ)。2つのコンデンサの充電電圧が9
MO820と1MO822からなるインバータの論理し
きい電圧以上になると9MO820のゲート・ソース間
電圧が小さくなり9MO820はオフ状態になる。した
がって、口pnトランジスタ21のベース電流が供給さ
れなくなるためnpn )ランジスタ21はカットオフ
される。
このときのペース電圧はa点の電圧よりもnpロトラン
ジスタ21のベース・エミッタ間順方向電圧分(Vgg
)だけ高い状態にある。
通常のインバータ構成では伝達特性が第3図(b)のよ
うになる。この図でβ1〜β3は9MO820とr1M
O822との寸法比((nMOsチャネル幅/チャネル
長)/(pMosのチャネル幅/チャネル長))で寸法
比が小さくなる程β1からβ3に伝達特性は変化する。
インバータの入出力端子を短絡すると入出力電圧は伝達
特性とV l a =V * w tの直線との交点の
電圧となるが、本構成のインバータ出力電圧は■1=V
 e w tの直線よりも順方向電圧分シフトした直線
と伝達特性との交点となる。
第3図の構成でa点の電圧がV、まで充電された(プリ
チャージ)あとでV、より僅かに低い電圧を作る方法に
ついて説明する。このように僅かに低い電圧を作る機能
は第2図の制御回路3で行うものでセンス線lの電圧変
化を高速に検出するためのものである。
第4図は、nチャネルMO8)ランジスタSwをスイッ
チ素子として入力端子V’+aを出力側に伝達する構成
を示している。ここで C0は出力端子につく容量、C
はMOSトランジスタSvにおいてゲート電極とドレイ
/(またはソース)拡散層の間にできる重なり容量、φ
はゲート電極に印加される制御入力端である。
いまφに制御信号”H”を人力すると出力端子V ea
tには入力端子v−1が伝達される。v+、は負荷容量
C0に充電されるが制御信号が“L”になるとC0に充
電された電荷は重なシ容量Cのため電荷分配され出力電
圧はV ratからΔVだけ小さくなる。このΔVは ΔV=□ΔVφ (3) C,+C と表わされるが、ΔVφは端子φにおける′H“レベル
から″′L″レベルへの電圧変化量である。
(3)式のΔVは一般にはフィードスルー誤差電圧と呼
ばれMo8)ランジスタのスイッチング時に生ずる誤差
として問題にされている。このΔVは(3ン式のように
CゆとCの値で決められるため寸法が決まるとめられる
値であゆ、Δ■φも論理レベルで決めることができるた
め(3)式のΔVは設計的にその量に見通しをもって制
御できる値である。
この機能は、第3図においてa点の電圧v1.0MO8
23、コンデンサ25によって実現でき、口MO823
をオフすることによりコンデンサ25に充電されていた
電圧V、はV、−ΔVに変化する。
このa点の電圧■、とコンデンサの電圧v、−割をはた
す。
、第5図に複数のセンス線に対して有効な本発明のプリ
チャージ回路と制御回路を示す。
図において、100.20〜26、C2は第3図と同様
の構成を示している。27はドレイン端をl1pnトラ
ンジスタ21のベース端に接続し、ソース端を電源陰極
端に接続するnチャネルMOSトランジスタ、28は0
MO827のゲート信号入力端子である。211はコレ
クタ端を電源陽極端100に接続し、ベース端を9MO
820のドレイン端に接続するnpnl−ランジスタ、
tlはnpロトランジスタ211のエミッタ端に接続さ
れるセンス線、CLIはセンス線21につく負荷容量、
同様に212. 2ijはそれぞれコレクタ端を電源陽
極端に接続し、ベース端を9MO820のドレイン端に
接続するnpn)ランジスタ、Z2 + 11はそれぞ
れ2番目とj番目のセンス線、C1,z 、Ct、Jは
それぞれ2番目とj番目のセンス、線につく負荷容量で
ある。
0MO823がオンでr1MO827がオフのとき、コ
ンデンサ25、C,は先に述べたa点の電圧V、まで充
電され、npn)ランジスタ21のベース′亀圧はV 
−+ V m mの電圧になる。
またnpn)ランジスタ21,211,212゜211
のベースは互いに接続されているので各トランジスタの
ベース電圧もV −+ V B vとなる。したがって
、各センス線t1〜1.の負荷容量CLI。
CbjはV、まで充電されることになる。
口MO827はプリチャージ動作を停止する際にゲート
28に1H”レベルの信号を印加しnpnトランジスタ
21,211,212,21jをカットオフさせるとと
もに、オフ時の各トランジスタの蓄積時間を小さくする
だめの抵抗の作用をする。
以上述べてきたプリチャージ回路、制御回路を使って第
2図のH,OMの1ピット分を構成すると第6図のよう
になる。
ここで、第2図から第5図までで述べて来たと同様の部
分は同一符号で示しである。
31は入力端子、32はドレイン端を0MO823のゲ
ート端を入力端子31に接続し、ソース端を電源陽極端
100に接続するpチャネルMOSトランジスタ、33
はドレイン端を0MO823のゲート端に接続し、ゲー
ト端を入力端子31に接続し、ソース端を電源陰極端1
01に接続するnチャネルMo8)ランジスタである。
31〜33の構成はインバータで口MO823のゲート
信号を与えるものであるが、特性上支障のない場合は無
くても良い。
40〜48はセンス回路を構成する。
図において、40はソース端を電源陽極端1o。
に接続するpチャネルMOSトランジスタ、41はソー
ス端を電源陽極端100に接続し、ゲート端とドレイン
端を9MO840のゲート端に接続するpチャネルトラ
ンジスタ、42はドレイン端を9MO840のドレイン
端に接続し、ゲート端をセンス線1に接続するnチャネ
ルMoSトランジスタ、43はドレイン端を9MO84
1のドレイン端に接続し、ソース端を0MO842のン
ース端に接続し、ゲート端をコンデンサ25の一端に接
続するnチャネルMO8)ランジス、り、45はドレイ
ン端を0MO842のソース端に接続し、ソース端を電
源陰極端101に接続するnチャネルMOSトランジス
タ、46は0MO845のゲート電圧を与える端子、4
7はドレイン端を電源陽極端100に接続し、ゲート端
を口MO842のドレイン端に接続するpチャネルMO
8)ランジスタ、48はドレイン端を9MO847のソ
ース端に接続し、ゲート端を0MO842のドレイン端
に接続し、ソース端を電源陰極端101に接続するnチ
ャネルMO8)ランジスタである。
40〜46は直流差動増幅器を構成する。すなわち、セ
ンス線1の電圧とコンデンサ25の端子電圧の差電圧に
対応して0MO842,43のドレイン電流°が変化し
、その変化量が0MO842゜43のドレイン電圧とし
て読み出される。
0MO845は差動増幅器の定電流回路で端子46の電
圧V46により次式の定電流工。が流れる。
1、=−19m”β−(V46 Vth−)” ・’・
(4)ここで、β0.β、はそれぞれ0MO845のチ
ャネルコンダクタンス定数と寸法比(チャネル幅/チャ
ネル長)、Vthsはしきい電圧である。
0MO842,43のドレイン電流をそれぞれInH,
Io<3とすると(4)式の1.は■ 。 = I 0
42−)−I D43 −(5)となる。
また、Io4□、Io4Bは と表わされる。ここで、β、2.β43はそれぞれ0M
O842と43の寸法比(チャネル幅/チャネル長)、
Vrはセンス線の電圧、V25はコンデンサ25の充1
!亀圧、V、finMO842と0MO843のソース
端と口MO845とのドレイン端電圧である。
(6)、 (7)式からセンス線電圧とコンデンサの端
子電圧の差は と表わされる。ここで、V7ンVβ0.・βは定数であ
る。
(8)式によるセンス線電圧とコンデンサの端子電圧の
差電圧V+ Vzsの変化は第7図のように変化し、差
電圧のある信号域では線形の増幅器として動作する。こ
の信号域での出力電圧(口MO842,43のドレイン
電圧)は差電圧とその利得に応じて決まる。
つぎに、この構成での電圧利得G、はつぎのようになる
。いま簡単のため9MO841と口MO843で利得を
める。9MO841,0MO843がともに飽和領域に
あるときそれぞれを流れる電流I、、1.はつぎのよう
になる。
ここで、βOPsβ、t/′i、それぞり、p M O
Sのチャネルコンダクタンス定数と寸法比(チャネル幅
/チャネル長)、Vo fd pMOS 41のドレイ
ン端電圧、V2.はコンデンサ25の端子電圧、Vcc
は電源陽極端電圧、Vよは0MO843のソース端電圧
、Vthpは2MO8のしきい電圧である。
(9)式とα〔式から βop’βp (Vo Vcc Vtbp)2−βOR
・β。(V25 V−Vth−F・・・aυ ・・・αの が得られ、電圧利得G7は とめられる。
以上の差動増幅器によりセンス線1とコンデンサ25の
端子電圧の差電圧(Vr Vzs)に対応して0MO8
42,43のドレイン電流が変化し〔(8)式〕、I)
MO841のドレイン端電圧の変化は電圧利得〔(2)
式〕によシ得られる。
プリチャージ動作後からとの差動増幅器までの動作は次
のようになる。
まず、プリチャージ回路によってセンス線1とコンデン
サ25が同電位に充電される。プリチャージ動作終了後
にコンデンサ25の端子電圧はフィードスルー動作によ
りセンス線1の電圧より僅かに低いΔ■だけ低い電圧に
なる。
このような電位関係のときセンス線1の電圧とコンデン
サ25の差電圧は僅かであるため差動増幅器の動作点を
第7図の直線領域でしかも最も高利得が得られるV8付
近に置くことができる。
47.48はインバータを構成し、差動増幅器の出力信
号を次段に伝達するだめの波形整形をする。このため出
力端5ではセンス線の状態を′H”′L”のレベルで検
出することができる。
2′はデコーダによシ選択された1番目のワード線で、
60はドレイン端をセンス線1に接続し、ゲート端をワ
ード線2Iに接続し、ノース端を接地するnチャネルM
OS)う/ジスタで第1図で説明した結合素子である。
第6図の動作について詳述する。
端子28が″′L#レベルになるとプリチャージ回路が
動作し、npnトランジスタによりセンス線1は充電さ
れる。このとき、端子31も″L”レベルにありnMO
S23もオン状態となるためコンデンサ25もセンス線
1の充電電圧と等しい電圧に充電される。
センス線の電圧が上昇しI)MOS20がオフするとn
pn)ランジスタ21,211もオフされプリチャージ
回路は不動作となるっ つぎに、端子31がH”レベルになるとnMOS23が
オフしコンデンサ25の充電電圧はフィードスルーによ
りプリチャージ電圧よシも(3)式のΔVだけ低い電圧
となる。この状態では直流差動増幅器の動作点は線形領
域にあシ高利得検出が可能である。
この状態のときワード線2′が選択され”H”レベルに
なると1MO860がオンしセンス線1のプリチャージ
電圧は放電される。この放電電圧変化がコンデンサ25
の電圧よシも低くなると直流差動増幅器の出力電圧(第
6図す点の電圧)が上がシ出力端子5の信号は′H″か
ら′L″に変化する。
もし、1MO860が無い場合はワード線2Iが選択さ
れてもセンス線工のプリチャージ電圧は放電されず出力
端子5の信号は″H#レベルのままでちる。
本発明の第1の実施例によれば (1)MOSトランジスタのスイッチング時に生ずるフ
ィードスルー誤差電圧を利用することによりスイッチン
グ前の電圧よシも僅かに低い電圧を作り出せるので、こ
れを用いたセンス回路によりROMの読み出しの高速化
がはかれる。
(2)MOSのインバータとノ(イボーラトランジスタ
とを組み合わせたプリチャージ回路で、センス線に接続
されたバイポーラトランジスタのエミッタとMOSイン
バータのゲートを接続することによシ自己バイアスされ
た高速のプリチャージ回路ができる。
(3)プリチャージ回路の電圧をもとにセンス回路の比
較電圧を作り出しているため電位の大小関係が一律に決
まる。
本発明の第2の実施例を第8図に示す。
第8図はフィードスルー誤差電圧を更に小さくし、セン
ス線との差電圧を非常に小さくするもので、第6図と異
る点はコンデンサ25の一端にnMO323と逆相動作
のMOS)ランジスタ230を設けたところにある。先
にも述べたようにフィードスルー誤差電圧はMOS)ラ
ンジスタを使用する場合では避けられないものであるが
設計的に見通しの立てられるものである。
端子31が+ LIIレベルから′″H17レベルに変
化すると(3)式のΔ■は となる。ここで、C230は0MO8230のゲートと
ドレイン、ソース間の重なシ容量である。
Journal of 5olid 5tate C1
rcuits vol。
8C−10All −M2S Charge i(、e
distril)utionAnalog to Di
gital Conversion Techniqu
epart [によると0式の値がiomv程度になる
との報告もありプリチャージ電圧と比較して非常に小さ
な差電圧が作れる。したがって、本実施例によシセンス
回路の直流差動増幅器の差電圧を小さくできるので更に
高速化がはかれるという効果がある。
本発明の第3の実施例を第9図に示す。
第9図は複数のセンス線1.−1.に対しプリチャージ
回路のMOSインバータとセンス回路を共通に用いる構
成を示している。
本構成は第6図の構成にセンス線とセンス回路の間にス
イッチング用MO8)ランジスタ400〜40jと、セ
ンス線とプリチャージ回路の間にスイッチング用MO8
)ランジスタ200〜20jを設けたものである。
図において、lθ〜1jは入力端子である。
400〜40jはセンス線とセンス回路の間に設けたス
イッチである。
400はドレイン端をセンス線toに接続しゲート端を
入力端子10に接続し、ソース端を0MO823のドレ
イン端と直流差動増幅器のnMO842のゲート端に接
続するnチャネルMOSトランジスタ、401はドレイ
ン端をセンス線t1に接続し、ゲート端を入力端子11
に接続しソース端を0MO823のドレイン端と直流差
動増幅器のnMO842のゲート端に接続するnチャネ
ルMO8)ランジスタである。
以下402〜40jまで同様の接続となっている。
200〜20jはセンス線1o−1,とプリチャージ回
路の間に設けたスイッチである。
200はドレイン端をセンス線toに接続し、ゲート端
を入力端子lOに接続し、ソース端を0MO822のゲ
ート端に接続するnチャネルMOSトランジスタ、20
1はドレイン端をセンス線tIに接続し、ゲート端を入
力端子11に接続し、ソース端を0MO822のゲート
端に接続するnチャネルトランジスタである。
以下202〜20」まで同様の構成となってい仝・ センス線1.oKついて本構成の動作を説明するとまず
、入力端子10がH”レベルになる11〜1jはL”レ
ベルにあるとnMO820Q。
400がオンしセンス線1.をプリチャージする。
このとき、1MO827はオフ状態にあるっまた、1M
O8402〜40jはオフ状態にあるが各センス線1.
−1.につく負荷容量もプリチャージされる。
勿論このときコンデンサ25もセンス線と同じ電圧にプ
リチャージされる。
以下の動作は第9図で説明した動作と同様の動作で2M
O820がオフするとnpn)ランジスタもオフされプ
リチャージ回路の動作は停止する。
つぎに、端子31が1H”レベルになると0MO823
がオフしコンデンサ25の充電電圧はフィードスルーに
よりプリチャージ電圧よりも(3)式のΔVだけ低い電
圧となる。この状態では直流差動増幅器の動作点は線形
領域にあシ高利得検出が可能である。
この状態のときワード線2′が選択され1H#レベルに
なるとnMO860がオンしセンス線1、のプリチャー
ジ電圧は放電される。この放電電圧変化がコンデンサ2
5の電圧よりも低くなると直流差動増幅器の出力電圧が
上昇し出力端子25の信号はH”からL”に変化する。
本構成により複数のセンス線に対し、プリチャージ回路
、プリチャージ電圧よりも僅かに低い電圧を作る制御回
路及びセンス回路を共通に用いることができるとbう効
果がある。
第10図は本発明の’jj44の実施例の基本構成を示
す図で、1がセンス線、2がセンス線をプリチャージす
るためのプリチャージ回路、3がプリチャージ回路の出
力電圧から僅かに低い電圧aを作る制御回路、4がセン
ス線1の状態を検出するセンス回路、5がプリチャージ
を停止したり、センス回路4の出力信号をラッチしたり
するタイミングを決めるための制御信号入力端子、6が
センス回路4の出力信号と端子5からの制御信号からプ
リチャージを停止する信号すを作る制御回路である。
本構成でも電圧発生手段をプリチャージ回路2のみに置
きこの出力電圧をもとにしてセンス回路402つの入力
電圧(aとセンス線1の電圧)を決める構成となってい
る。したがって、各部分の電圧関係(大小関係)が一つ
の電圧源から決められるため動作上不都合の起こりにく
い構成となっている。。
第11図にプリチャージ回路の構成を示す。
第11図(a)において、100は電源陽極端、20は
ソース端を電源陽極端100に接続するpチャネルMO
Sトランジスタ、21はコレクタを電源陽極端100に
接続し、ペース端を9MO820のドレイン端に接続す
るnpn)ランジスタ、522はドレイ/端をnpn)
ランジスタ21のエミッタ端に接続し、ゲート端を9M
O820のゲート端に接続し、ソース端を電源陰極端1
01に接続するnチャネルh、10S)ランジスタ、2
3−はドレイン端を口MO822のドレイン端に接続し
、ソース端を0MO822のゲート端に接続す→(nチ
ャネルMO8)ランジスタ、24はnMO823のゲー
ト端に接続する信号入力端、25は一端を口MO852
2のゲート端に接続し、他端を電源陰極端101に接続
するコンデンサ、26は口MO822のドレイン端に接
続する出力端子である。
本構成の動作は次のようになる。
9MO820を流れる電流I、は と表わされる。ここで、βOprβ、はそれぞれ9MO
820のチャネルコンダクタンス定数と寸法比(チャネ
ル幅/チャネル長)を表わし、Vaはゲート電圧、V 
* b p はしきい電圧である。
(1ン式の電流は口pnトランジスタのベース電流とな
るためエミッタ電流1.は L*=(1+hrg)Ip=hyclp −(2)とな
る。ここで、hrffiはnpロトランジスタ21の直
流増幅率である。
一方、0MO8522を流れる電流1.dと表わされる
。ここで、βo、、β、はそれぞれ0MO8522のチ
ャネルコンダクタンス定数と寸法比を表わし、Vtha
はしきい電圧である。
いま、端子24に@H#レベルを印加すると(2ン式の
電流は0MO8522と1MO824に分流されるが1
MO824に流れる電流は、9MO820,0MO85
22のゲートが高インピーダンスのためコンデンサ25
に流れ、コンデンサ25を充電する。このとき口MO8
24のドレイン端とソース端が等しい電圧になったとこ
ろで口MO824をオフすると、(2)式の電流は0M
O8522にのみ流れ込む。
この状態では(2)式とαω式が等しくなるのでJlr
z・Ip=−βQa’β。(Vo Vth−)” ”’
Q61hF11’βop’βp (Va Vcc V−
hp)”=βo 、 Hβ−(Vo Vth、 )”・
・・(Iη ・・・α樟 ここで、 となるようにすると、Vs++++= Vlbpである
からとなる。このときのVoはコンデンサ25の充電電
圧であり、出力端子26の端子電圧に等しい。
したがって、第11図(a)の構成は第11図(b)に
示した反転の伝達特性でvl、=V0wtO点を作シ出
すことができる。第11図(a)の20. 21.52
2は反転増幅回路を構成するとともに、nMO824を
オンすることにより反転増幅回路の最も利得の高い点、
すなわちV 1m =Lwt 0点を容易に作ることが
できる。
第11図(a)の構成のプリチャージ回路では出力電圧
が電源電圧の2分の1になるため出力端子26をセンス
線に接続するとセンス線を電源電圧の2分の1にプリチ
ャージできることになる。
また、第11図(a)の構成は1つの構成で複数のセン
ス線を同時に電源電圧の2分の1にプリチャージする場
合に有効である。第12図にその構成例を示す。
第12図において、100.20〜25,522は第1
1図(a)と同様の構成を示している。526はドレイ
ン端をI)MO820のドレイン端に接続し、ソース端
を電源陰極端101に接続するnチャネルMOSトラン
ジスタ、527は0MO8526のゲート端に接続する
制御信号入力端子である。211はコレクタ端を電源陽
極端100に接続し、ベース端を9MO820のドレイ
ン端に接続するnpn)ランジスタ、tIはnpn)ラ
ンジスタ211のエミッタ端に接続されるセンス線、C
+4はセンス線につく負荷容量、同様に、212.21
jはそれぞれコレクタ端を電源陽極端100に接続し、
ベース端を9MO820のドレイン端に接続するnpn
)ランジスタ、t2゜1、はそれぞれ2番目とj番目の
センス線、Ct2 。
CLJはそれぞれ2番目とj番目のセンス線につく負荷
容量である。
1MO823がオンで1MO826がオフ(7)とき、
コンデンサ25は01式及びぐ9式でめられる電圧に充
電される。このときn p n )ランジスタ21のベ
ース電圧Vgに比べVBEだけ高い電圧にある。
VB =Vo+Vag −−・@ npnトランジスタ21,211,212.・・・21
jのベースは互いに接続されているのでnpnトランジ
スタ211,212,21jのベース電圧もQ式で表わ
される。したがって、各センス線t、−t、0負荷容量
CLl ”−Ct、j’b (11式、Qv式で表わさ
れる電圧まで充電されることになる。
口MO8526はプリチャージ動作を停止する際にnp
ロトランジスタ21,211.・・・21jをカットオ
フさせるとともに、オフ時の各トランジスタの蓄積時間
を小さくするためのものである。
第12図の構成でプリチャージすることにより各センス
線のプリチャージ電圧のばらつきが小さく、高速のプリ
チャージ回路が可能となる。
第13図に本実施例のセンス回路4を示す。
図において、1はセンス線、100は電源陽極端、40
はノース端を電源陽極端100に接続するpチャネルM
O8I−ランジスタ、41はソース端を電源陽極端10
0に接続し、ゲート端とドレイン端をpMO8400ゲ
ート端に接続するpチャネルMO8)ランジスタ、42
はドレイン端を1)MO840のドレイン端に接続し、
ゲート端をセンス線1に接続するnチャネルMOSトラ
ンジスタ、43はドレイン端を9MO841のドレイン
端に接続し、ソース端を0MO842のソース端に接続
するnチャネルMOSトランジスタ、44は0MO84
3のゲート電圧を与える端子、45はドレイン端を0M
O842のソース端に接続し、ソース端を電源陰極端に
接続するnチャネルMOSトランジスタ、46は0MO
845のゲート電圧を与える端子であるっ 以上は直流差動増幅器を構成する。すなわち、センス線
1と端子44の差電圧に対応して0MO842,43の
ドレイン電#:j;変化し、0MO842,43のドレ
イン電圧が変化する。
0MO845は差動増幅器の定電流回路で端子46の電
圧により次式の定電流I0が流れる。
ここで、β。1.β、はそれぞれ0MO845のチャネ
ルコンダクタンス定数と寸法比(チャネル幅/チャネル
長)、V46は端子46の電圧、V Ihaはしきい電
圧である。
図示した如<0MO842,43のドレイン電流をそれ
ぞれI oB 、I O43とすると(4)式の1゜は ■。= I O42+ I O43・・・(5)となる
また)I D421 I ossは と表わされる。ここで、βOa+ β4Z+β43はそ
れぞれ1MO8のチャネルコンダクタンス定数と1MO
842の寸法比(チャネル幅/チャネル長)、0MO8
43の寸法比(チャネル幅/チャネル長)、V+はセン
ス線の電圧、v44は端子44の電圧、■、は1MO8
42と0MO843のソース端と1MO845のドレイ
ン端の電圧、V tha はしきい電圧である。
式(6)、四から 一般に差動増幅段を構成する場合、1MO842と0M
O843の寸法比は等しいのでae式においてはβ42
=β43=βとなシ(ハ)式はとなる。ここで、VT/
V7真ΣFは定数である。
したがって、センス線電圧と端子44の電圧の差電圧の
変化は第7図と同様に変化し、差電圧のある信号域では
線形の増幅器として動作する。この信号域の出力電圧(
1MO842,43のドレイン電圧)は差電圧とその利
得に応じて決壕る。
つぎにこの構成での電圧利得G、はつぎのようになる。
いま簡単のだめ9MO841と0MO843で利得をめ
る。
pM0841を流れる電流■、とnA40s43を流れ
る電流■、は飽和領域にあるときそれぞれ次のようにな
る。
1、=−βop’βp (Vo Vcc V Ibp 
)2−(9)1、=−βQ++’β。(V+−V−Vt
h−)2−Q1ここで、βOp+β、とβo、、β、は
それぞれ9MO8,!:nMO8のチャネルコンダクタ
ンス定数と寸法比(チャネル幅/チャネル長)、Voは
pMO841のドレイン端電圧、vl、は0MO843
のゲート電圧、Vccは電源陽極端電圧、■。
は0MO843のソース端電圧、VthplVsbaは
それぞれ9MO8,1MO8のしきい電圧である。
(9)式と四式を等しいとおくと βop’βp (Vo −Vce−V tbp )”=
βoa’β−(VlaV−Vtha)’・・・αυ ・・・aの 電圧利得GvはdVo/ d V + 、でめられるか
ら通常G、は3〜10倍程度でバイポーラの回路に比べ
ると小さい。
以上のことからセンス線1と端子44の電圧差に対応し
てドレイン電流が変化し〔(イ)式) 9MO8のドレ
イン端電圧の変化は電圧利得G、Cm式〕により得られ
る。たとえば、端子44の電圧を固定電圧44とした場
合の動作は次のようになる。
センス線1の電圧がV44よシも僅かに低くなると1M
O842のドレイン電流I D42が減少し1MO84
2のドレイン電圧は上昇する。一方、0MO843のド
レイン電流はID42の減少に伴って(5)式の差分だ
け増加するので0MO843のドレイン電圧は減少する
この動作の高速化をはかるには第7図の直線領域にあり
しかも最も高利得が得られるvII付近に動作点をおく
のが有効である。また、差電圧がほんの僅かで直流領域
から飽和領域に変化するように直流領域幅を狭く、勾配
を急峻にする(高利得化〕のが高速化には有効である。
しかし、先にも述べたようにMOS)ランジスタで構成
する差動増幅器は高利得化(バイポーラのように簡単に
G、=50〜60が得られること)が難しい。そこで、
さらに交流増幅器と併用してセンス回路を構成する。
第13図において、547は一端を0MO843のドレ
イン端に接続するコンデンサ、548はソース端を電源
陽極端100に接続し、ゲートiをコンデンサ547の
他端に接続するpチャネルMOSトランジスタ、549
はドレイン端を1)M08548のドレイン端に接続し
、ゲート端をI)M、08548のゲート端に接続し、
ソース端を電源陰極端101に接続するnチャネルMO
Sトランジスタ、550はドレイン端を1MO8549
のゲート端に接続し、ソース端を1MO8549のドレ
イン端に接続するnチャネルMOSトランジスタ、55
1は0MO8550のゲートに制御信号を与える端子、
552はソース端を電源陽極端100に接続し、ゲート
端を1MO8549のドレイン端に接続するpチャネル
MOSトランジスタ、553はドレイン端を9MO85
52のドレイン端に接続し、ゲート端を9MO8552
のゲート端に接続し、ソース端を電源陰極端101に接
続するnチャネルMO8)ランジスタ、554は口MO
8553のドレイン端に接続する出力端子である。
547〜554は交流増幅器を構成する。
コンデンサ547は結合コンデンサで直流的な結合を除
く働きをするっ548〜551は0MO8のインバータ
構成に自己バイアスをかけた回路で0MO8550のオ
ン抵抗によって帰還がかかり第14図のようにV 1a
== N’aatO点に自己バイアスがかかる。自己バ
イアスで得られるV+ゎ=■。■の点は電源電圧の2分
の1で構成上最も利得が高い点となる。したがって、出
力側(1MO8549のドレイン端)での出力条幅は次
段のバッファ回路(p〜108552と口MO8553
で作られるインバータ)の状態を変化させるだけの論理
振幅となる。しかも、自己バイアス用のスイッチ(nM
QS550)がオフの状態では動作点に対し人力振幅の
方向が一旦決まると(第8図の■(あるいは[F]))
その方向と反転する方向に出力振幅が増幅されるので誤
動作を起こしたりハンチング等の必要が少ない。
この構成での利得も(7)式と同様に1MO8549と
I)MO8548の寸法比によって決まる。すなわち、 と利得は表わされる。β。49.β948はそれぞれ1
MO8549とpMO854sの寸法比(チャネル幅/
チャネル長)である。
552.553はインバータを構成するがこのインバー
タの9MO8552,nMo555aでもある利得をも
つことになる。すなわち、インバータの伝達特性は第1
4図のように増幅器としての電圧利得を持っているから
である。しかし、インバータのゲート電圧は0MO85
50がオンのときほぼVcc/2になっているため出力
端子54で次段への論理振幅を得られるようにしなけれ
ばならない。すなわち、ゲート電圧がVcc/2にある
とき出力端では″′H″レベルに、Vcc/2より僅か
でも高くなると”L”レベルに変化するように電圧利得
(具体的には0MO8553と9MO8552の寸法比
)を選ばなければならない。
以上の構成のセンス回路においては全体の電圧利得が G=G−・G&v−OB −Qij となる。GIIはバッファとなるインバータでの利得を
示す。
以上述べてきた構成を匝って第10図のROMの1ビッ
ト分を構成すると第15図のようになる。
ここで第10図〜第14図までに述べて来たと同様の部
分は同一符号で示しである。
センス回路の1MO843のゲート端はプリチャージ回
路のコンデンサ25の一端に接続されている。また、セ
ンス回路の結合コンデンサ547はMOSトランジスタ
のゲート容量を利用するためMOS)ランジスタのゲー
ト端と、ドレイン端とソース端を接続する拡散層の間で
形成する。これは静電容量に対する面積効率を向上する
有効な方法である。さらに、センス回路の交流増幅器を
構成する2つのインバータ548,549と552゜5
53とは論理記号で省略記述してありインバータ400
,500となっている。
60〜63はセンス回路の出力信号と端子24の制御信
号からプリチャージを停止するための制両回路を構成す
る。この構成の機能はセンス線1の状態変化をセンス回
路で高速に検出し、センス線1にプリチャージした電圧
が完全に放電しきらない前に再度プリチャージを行うこ
とによりプリチャージに要する時間の短縮をはかること
にある。
60はインバータ500の出力端に接続するラッチ回路
、61はラッチ回路60にラッチ信号を与える入力端子
、62はラッチ回路60の出力端子、63はラッチ回路
からの信号と端子24からの信号からプリチャージ回路
を動作させるか停止させるかの制御をする制御回路であ
る。
この60〜63の構成の動作は、端子24が%%H”レ
ベルのときこの信号で制御回路はb信号を′L”レベル
にしプリチャージ回路の0M08526をオフ状態にす
る。このだめプリチャージ回路はプリチャージ動作とな
る。つぎに端子24が″′L#レベルに変化するとこの
信号変化によシ制御回路はb信号を′H”レベルに変化
させf1MO826をオン状態にする。これによシブリ
チャージ動作は停止する。
れた場合にはラッチ回路60でこの変化が確立すると制
御回路ではb信号を“L”レベルにし、センス線lにプ
リチャージされた電圧が放電しきらないうちに再びプリ
チャージ動作をさせプリチャージ動作の高速化がはかれ
る。
2Iはデコーダ(より選択されたi番目のワード線で、
30はドレイン端をセンス線1に接続し、ゲート端をワ
ード#J 21 に接続し、ソース端を接地するnチャ
ネルMO8)ランジスタで第1図で説明した結合素子で
ある。
第15図の動作について詳述する。
端子24がH”レベルになるとプリチャージ回路は動作
し、npnトランジスタ21,211によりセンス線1
は充電される。このとき、コンデンサ25もセンス線1
の充電電圧と等しい電圧′に充電される。一方、センス
回路のnhioss。
もオン状態で動作点は電源電圧の2分の1の点に自己バ
イアスされる。
つぎに、端子24が“L”レベルになるとプリチャージ
動作が停止すると同時にコンデンサ25の充電電圧はフ
ィードスルーによりプリチャージ電圧よりも(3)式の
ΔVだけ低い電圧となる。この状態のときワード線2I
が選択され″′H″レベルになると口MOf930はオ
ンしセンス線1のプリチャージ電圧は放電される。
この放電ML電圧変化コンデンサ25の電圧より低くな
ると直流差動増幅器の0点の電圧が下がりインバータ5
00の出力電圧も下がる。この電圧変化は端子61の信
号でラッチ回路60にラッチされると同時に制御回路6
3のb信号により再びプリチャージを開始する。
もし、0MO830が無い場合はワード線2Iが選択さ
れてもセンス線1のプリチャージ電圧は放電されず、イ
ンバータ500の出力信号も変化しない。ラッチ回路は
この状態が変化しない情報をラッチするが制御回路63
のb信号は@−LHレベルのままである。端子24の信
号が再び″′H″レベルになるとプリチャージ回路はプ
リチャージ動作に入るがセンス線1のプリチャージ電圧
は放電されていないので電源電圧の2分の1までプリチ
ャージする時間は短い。
本発明の第4の実施例によれば (1)MOS)ランジスタのスイッチング時に生ずるフ
ィードスルー誤差電圧を利用することによりスイッチン
グ前の電圧よりも僅かに低い電圧を作り出せるので、こ
れを用いたセンス回路により)LOMの読み出しの高速
化がはかれる。
(2) バイポーラトランジスタとMOS)ランジスタ
とを組み合わせたインバータを自己バイアスさせること
によシ高速プリチャージ回路ができる、 (3) プリチャージ回路の電圧をもとにセンス回路の
比較電圧を作り出しているため電位の大小関係が一律に
決まる。
(4) センス回路を直流差動増幅器と聞流増幅器で構
成し電圧利得を大きくすることにより高利得。
高速のセンス回路が構成できる。
本発明の第5の実施例を第16図に示す。
第16図はフィードスルー誤差血圧を更に小さくシ、セ
ンス線との差電圧を非常に小さくするもので、第15図
と異なる点はコンデンサ25の一端に1MO823と逆
相動作のMO8)ランジスタ230を設けたところにあ
る。先にも述べたようにフィードスルー誤差電圧はMO
sトランジスタを使用する場合では避けられないもので
あるが設計的に見通しの立てられるものであるから端子
24がH”レベルから″′L#レベルに変化するときに
インバータ240によって口MO8230のゲート端を
to L wから1H#レベルに変化させることにより
(3)式のΔVを とすることができる。ここで、C230fd n MO
5230のゲートとドレイン、ソース間の重なり容量で
ある。Journal of 5olid 5tate
 circujtsによると(2)式の匝が10mV程
度になるとの報告もありプリチャージ電圧と比較して非
常に小さな差電圧が作れる。
したがって、本実施例によシセンス回路の直流差動増幅
器の差電圧を小さくできるので更に高速化がはかれると
いう効果がある。
第17図は本発明の第6の実施例を示すもので第15図
と異るのはプリチャージ回路のバイポーラトランジスタ
がダーリントン接続になっている点である。本実施例に
よりセンス線へのプリチャージ性能がhFEの2乗で効
いてくるのでプリチャージ動作の一層の高速化と大容量
化に対応できるという効果がある。
尚、本発明は、上述した第1〜第6の実施例の様なIL
 OMに限定されずに、1i1.AMにも適用できうる
〔発明の効果〕
本発明によれば、センス線の変化を高速に検出できる半
導体記憶装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はROMの構成を示す図、第2図は本発明の第1
の実施例の構成を示すブロック線図、第3図は本発明の
第1の実施例に用いるプリチャージ回路の一実施例、第
4図はフィードスルー動作を説明する図、第5図は複数
のセンス線をプリチャージする構成を示す図、第6図は
本発明の第1の実施例になるセンス線1ビツトに対する
ROMの構成を示す図、第7図は直流差動増幅器の伝達
特性を示す図、第8図は本発明の第2の実施例になるl
(、OM fJ成を示す図、第9図は本発明の第3の実
施例になる複数のセンス線に対しプリチャージ回路と制
御回路、センス回路を共通に用いる構成を示す図、第1
0図は本発明の第4の実施例の構成を示すブロック図、
第11図は本発明の第4の実施例に用いるプリチャージ
回路の一実施例、第12図は複数のセンス線をプリチャ
ージする構成を示す図、第13図は本発明の第4の実施
例のセンス回路の構成を示す図、第14図は交流増幅器
の増幅特性を説明するための図、第15図は本発明の第
4の実施例になるROMのセンス線1ビツトに対する構
成を示す図、第16図は本発明の第5の実施例になるフ
ィードスルー誤差電圧を更に小さくする方法のROM構
成を示す図、第17図は本発明の第6の実施例になるプ
リチャージ速度を更に高速化する構成を示す図である。 2・・・プリチャージ回路、3・・・制御回路、4・・
・セン10 Y20 131フ #L) ¥l−7−DI S+w V 75m 40 Y7図 り1力へカ屯瓦 (Vt −V25 )χ8図 ¥90 1oQ %/2(2 Y130 K /=l−ロ 775図 Y/ろ図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、差動増幅器を有するセンス回路を具備する半導体記
    憶装置に於いて、一方の電圧から該一方の電圧より低い
    他方の電圧を発生する制御回路を具備し、上記一方の電
    圧と上記他方の電圧とを上記差動増幅器の入力とするこ
    とを特徴とする半導体記憶装置。 2、特許請求の範囲第1項に於いて、上記一方の電圧は
    プリチャージ電圧であることを特徴とする半導体記憶装
    置。 3、特許請求の範囲第1項に於いて、上記一方の電圧か
    ら該一方の電圧より低い他方の電圧を発生する制御回路
    は、MOSトランジスタのフィールドスルーを利用する
    ことを特徴とする半導体記憶装置。
JP59017059A 1984-02-03 1984-02-03 半導体記憶装置 Pending JPS60163295A (ja)

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