JPS59191679A - 円板形状体の識別用記号または文字の読み取り装置 - Google Patents

円板形状体の識別用記号または文字の読み取り装置

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JPS59191679A
JPS59191679A JP58065674A JP6567483A JPS59191679A JP S59191679 A JPS59191679 A JP S59191679A JP 58065674 A JP58065674 A JP 58065674A JP 6567483 A JP6567483 A JP 6567483A JP S59191679 A JPS59191679 A JP S59191679A
Authority
JP
Japan
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notch
wafer
information
character
fringe
Prior art date
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Pending
Application number
JP58065674A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Fukuda
真 福田
Makoto Asakawa
誠 浅川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP58065674A priority Critical patent/JPS59191679A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、半導体素子の製造工程における半導体基板(
以下、ウェハと称する)など、直線状の切欠を有する円
板形状体に記入はれた識別用記号や文字を読み取るため
の装置に関し、日板形状体を機械的に位置決めすること
々(識別用記号や文字を読み取れるようKしたものであ
るO 第1図に示すようにウェハ2の表面には、ウェハの種類
や処理経歴を示すためにロット名あるいけウニ八番号と
いった識別用記号または文字1が、ウェハ2に設けられ
たオリエンテーションフラットと称する切欠3を基準と
して記入されている・ この種の識別用記号または文字lを読み取る装置の従来
例t−第2図に示す@第2図の従来装M#i、センタリ
ング治具4.(ロ)転可能なウェハ保持具5及びフォト
センサ6かうするウェハ位置決め手段と、識別用記号ま
たは又字lt−撮像するための撮像装置7と、撮像信号
をデジタル画像情報として記憶する記憶部8と、そのデ
ジタル画像情報から識別用記号または文字lを読み取る
読み取勺処理部9とにより構成されている。この従来装
置の動作としては、まず、製造工程において移送装置l
Oにより送られてきたウェハ2をセンタリング治具4に
よって中心合せを行い、この状態でウェハ保持具5によ
りウニ^2を保持してから1転させ、フォトセンサ6の
田カイ言号によりオリエンテーションフラット(切欠)
3を一定方向に整置させる0このよう忙機械的な位置決
め操作を行った後、即ち識別用記号または文字lを一定
の方向及び位置に定めた後、撮像装置7により識別用記
号筒たは文字lを撮像し、これ罠より記憶部8に書き込
まれたデジタル画像情報から読み取り処理部9で識別用
記号または文字lを判読する0上述の如〈従来装置では
、 (a)  ウェハ2と装置との接触部分が多く、またウ
ェハ2のセンタリング及び保持のために機械的な力が加
わり、こ几らがウェハ2の汚染や破損の原因になるとい
う問題があり、更に、Φ) ウェハ2を位置決めするた
めの処理時間を要することから、本質的に、移動中のウ
ェハを対象とした高速な読み取nKは適していない・ 本発明は上述した従来技術の問題を除去するため、機械
的な位i1決め操作を行うことなく、切欠を基準に記入
された識別用記号または文字を読み承ることができる装
置を提供することを目的とする口この目的は、直線状の
切欠を有する円板形状体を位置決めすることなく撮像し
、これKより得られたデジタル画情報から識別用記号ま
たは文字の基準となる切欠の方向及び位置f、:17#
出し、切欠の方向及び位置の情報に基づいて識別用記号
または文字を読み取ることKより、達成することができ
る・ 以下、第3図、第4図により本発明を説明する。第3図
は、ウェハ2の直線状の切欠(オリエンテーションフラ
ット)3を基準にして記入された識別用記号または文字
lを対象とした本発明の一実施例を示す。第3図におい
て、移送装置10tj汎用されているベルト駆動のもの
、あるいは高速移送忙適したエアー駆動のもの等、なん
でも良い。11はウェハ2の有無を検出するためのフォ
トセンサでメジ、この例でh移送装置lOに埋め込まれ
ている。撮像装置7はウェハ2全体を撮像するようKな
っておシ、フォトセンサ114Cよりウェハ2の存在を
検出した時にウェハ2の画像情報が瞬時に記憶される◎
12は撮像装置7の光軸まわ)K円環状に設置した光源
で69、ウェハ2の位置換言すれば識別用記号または文
字lの位置や傾きによらず一定の散乱光を得るために設
置しである。従って、光源12自体が環状体でなくても
良い◎撮像装置7から出力される撮像信号はA/、変換
されたのち、デジタル画像情報として記憶部8に取り込
まれる@13は切欠(オリエンテーションフラット)3
の検出を行う第1の処理部であり、記憶されたデジタル
画像情報に基づいて切欠3の方向及び位置の情報を算出
する。14tit識別用記号または文字lを判読する第
2の処理部であり、先に求められた切欠3の方向及び位
置の情報と、既に記憶されているデジタル画像情報とに
基づいて識別用記号または文字lを読み取る・なお、第
1及び第2の各処理部13゜14の詳細は後で説明する
本発明の読み取り装置の動作を説明する。移送装置10
4cよシ移動してきたウェハ2がフォトセンサll上全
通過すると、ウェハ2の向きに関係なく、センサ11の
出力変化をきっかけにして撮像装置7からの撮像信号が
デジタル画像情報として瞬時に記憶部8に記憶される。
記憶されたデジタル画像情報に基づいてウエノ・2の切
欠3の方向と位置の情報が第1の処理部13で算出され
、次いで第2の処理部14において切欠3の方向及び位
置の情報に基づき識別用信号または文字lの部分が切9
出され、記号筒たは文字の並び順が逆になることなく・
読みJ12夛が行われる。
次に切欠3の検出に関する第1の処理部13の具体例を
説明する。この例の第1の処理部13は注目周縁画素検
出部15と、周縁等距離検出部16と、直線判断部17
と、注目画素移動処理部18と、切欠方向算出部19と
からなっている。初めの検出部15は、ウェハ2の画像
から任意のその一つの注目周縁画素Poを見い出しその
位置情報を出力するための処理手段である。
具体的full、例えば画面の左端中央の画素S!から
右端中央の画素Szへ向けて各画素の0N10FFを検
出しながら順次走査し、最初K OFFから0N4Cな
った画素をPoとして求める0次の検出部16は、注目
周縁画素P、から一定距離にある2つの周縁画素PK−
Pxt−見い出し、それぞれの位置情報を出力するため
の処理手段である。具体的には、例えは成る中心画素か
ら一定距離rVcある画素群よ勺構成される円形パター
ンを作成しておき、この円形パターンの中心画素を先に
求めたPoK一致させた場合の同形パターンとウェハ周
縁との交点としてP、、P、を求める◎直線判断部17
は上述の如く求めた3つの周縁画素POmP□aP2の
位置情報よりこれらが@線上にあるが否かの判断を行う
手段であシ、直線上にあれば「真」の情報!出力し、そ
うでなけれI/′i「偽」の情報を出力する。「真」の
情報が出力された*@d、 a。0.。、9え2,3.
。□   \画素Po、P、、P、の位置情報に基づい
て切欠3の方向及び位置の情報を鼻出し、これを第2の
処理部14へ出力する。もし「偽」の情報が出力された
場合は、注目画素移動処理部19贅動作させる・これに
より、第2の検出部16で求めた2つの周縁画素P1ま
たはP2のいずれかに注目周縁画素P・をS動させ、以
下、検出ff1ll 6.直線P・が−周するうちに直
線部分である切欠3を検出することができる。
一方、読み取りに関する第2の処理部14の具体例を説
明する。この例の第2の処理部14は、識別用記号また
は文字の切り出し処理部2゜と、読み取り処理部21と
からなっている。切り出し処理部20は、切欠方向算出
部19から出力された切欠3の方向及び位置の情報に基
づき、記憶部8に記憶されているデジタル画像情報から
識別用記号または文字lの部分の画像情報のみを取り出
す。この画像情報は、例えば「A」なる文字だとすると
第4図(a)の如く一般に傾−たイメージとなるが、切
9出し処理部2oにより第4図(b)の如く一定領域内
に傾きのない記号や文字としてのイメージを得る。した
がって、読み取り処理部21は通常の記号または文字の
読み取9手段で良く、これを動作させることKより、ウ
ェハ2の識別が完了する。
以上説明した如く、本発明は移送装置により送られてき
たウェハ等の円板形状体を撮像し、その画像信号から識
別用記号または文字の基準となる切欠(オリエンテーシ
ョンフラット〕の方向及び位置の情報を求め、この情報
に基づいて識別用記号または文字を読み取る装置である
から、円板形状体の機械的な位置決め操作をすることが
なく、よって、円板形状体を破損したシ汚染したりする
ことがないうえ、高速に読み取りが行えるから円板形状
体が移動中であってもその識別を行うことができる・
【図面の簡単な説明】
第1図11識別用記号または文字を記入した円板形状体
の例として示す半導体基板(ウェハ)の平面図、第2図
は従来の読み取り装置の構成図、第3図は本発明の一実
施例装置の構成図、第4図(a)、Φ)は識別用記号ま
たは文字の切り出し処理を説明する説明図である。 図  面  中、 lFi識別用記号または文字、 2#i円板形状体(ウエノS)、 3#i切欠(オリエンテーションフラット)、7#′i
撮像装置、 8はデジタル画像情報の部憶部、 lOは移送装置、 11は円板形状体有無の検出手段(フォトセンサ)、 l2は光源、 13は切欠検出の処理部、 14#′i識別用記号または文字の読み取り処理部であ
る@ 特許出願人 日本電信電話公社 代    理    人 弁理士 光 石 士 部(他1名) 特開昭59−191679(5)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. [N状の切欠を外為の−sK有する円板形状体上にこの
    切欠を基準として記入された識別用記号ま7Cは文事を
    読み取る装置に2いて、上記円板形状体の有無を検出す
    る検出手段と、この検出々力により上記円板形状体を撮
    像する倣像手段と、この撮像手段の光軸のまわりに内環
    状に設置された照明手段と、撮像信号をデジタル画像情
    報として記憶する配慮手段と、記憶されたデジタル画像
    情報から上記切欠の方向及び位置全検出する切欠検出処
    理手段と、検出された切欠の方向及び位置の情報並びに
    上記の記憶されているデジタル画像情報に基づき上記識
    別用記号箇たは文字t−読み取る読み取り処理手段と、
    を備えたことを特徴とする同板形状体の識別用記号また
    は文字の読み取)装置。
JP58065674A 1983-04-15 1983-04-15 円板形状体の識別用記号または文字の読み取り装置 Pending JPS59191679A (ja)

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JP58065674A JPS59191679A (ja) 1983-04-15 1983-04-15 円板形状体の識別用記号または文字の読み取り装置

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JP58065674A JPS59191679A (ja) 1983-04-15 1983-04-15 円板形状体の識別用記号または文字の読み取り装置

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JPS59191679A true JPS59191679A (ja) 1984-10-30

Family

ID=13293777

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JP58065674A Pending JPS59191679A (ja) 1983-04-15 1983-04-15 円板形状体の識別用記号または文字の読み取り装置

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JP (1) JPS59191679A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS647274A (en) * 1987-06-30 1989-01-11 Toshiba Corp Character reader
JPS6434999U (ja) * 1987-08-26 1989-03-03
JPH02222084A (ja) * 1989-02-23 1990-09-04 Nec Eng Ltd 光学式文字読取装置
US7480404B2 (en) 2003-09-24 2009-01-20 Novo Measuring Instruments Ltd. Method and system for positioning articles with respect to a processing tool

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS647274A (en) * 1987-06-30 1989-01-11 Toshiba Corp Character reader
JPS6434999U (ja) * 1987-08-26 1989-03-03
JPH02222084A (ja) * 1989-02-23 1990-09-04 Nec Eng Ltd 光学式文字読取装置
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