JPS585007U - 位相コントラスト観測およびレリ−フ観測を選択的に可能にする顕微鏡装置 - Google Patents
位相コントラスト観測およびレリ−フ観測を選択的に可能にする顕微鏡装置Info
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- JPS585007U JPS585007U JP1982095915U JP9591582U JPS585007U JP S585007 U JPS585007 U JP S585007U JP 1982095915 U JP1982095915 U JP 1982095915U JP 9591582 U JP9591582 U JP 9591582U JP S585007 U JPS585007 U JP S585007U
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- JP
- Japan
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- observation
- optical path
- diaphragm
- aperture
- relief
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/14—Condensers affording illumination for phase-contrast observation
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Medicines Containing Antibodies Or Antigens For Use As Internal Diagnostic Agents (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
一′第1図は透過光顕微鏡の対物レンズおよびコンデン
サ部分の断面図、第2図は第1図の対物レンズに配置さ
れる位相リングの平面図、第3図は第1図のコンデンサ
に配置される絞りの平面図、第4図は反射光顕微鏡の光
路を示す断面図、第4a図は第4図の照明光路内に配置
される絞りの分解平面図である。 1・・・・・・対物レンズユニット、2・・・・・・コ
ンデンサユニット、7.27・・曲位相板、8. 9.
10・・・・・・絞り、12・・・・・・スライダ、
3o・・開祖合せ絞り。
サ部分の断面図、第2図は第1図の対物レンズに配置さ
れる位相リングの平面図、第3図は第1図のコンデンサ
に配置される絞りの平面図、第4図は反射光顕微鏡の光
路を示す断面図、第4a図は第4図の照明光路内に配置
される絞りの分解平面図である。 1・・・・・・対物レンズユニット、2・・・・・・コ
ンデンサユニット、7.27・・曲位相板、8. 9.
10・・・・・・絞り、12・・・・・・スライダ、
3o・・開祖合せ絞り。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 観測光路内のひとみ面に配置した位相および振幅変
化層ならびに照明光路内に配置した絞りにより、選択的
に位相コントラスト観測およびレリーフ観測するための
顕微鏡装置において、観測光路内に配置した層が少なく
とも1つの同心円環7bの形を有し、その外径が相当す
るひとみの直径に相当し、照明光路内に交互に動作位置
にもたらしうる少なくとも2うの絞り8゜10;30が
備えられ、その2つの絞りの1つが円環88.34の形
を有し、他の1つが光透過性円環セグメント10a;3
3として形成されていることを特徴とする位相コントラ
スト観測およびレリーフ観測を選択的に可能にする顕微
鏡装置。 2 観測光路に配置された層が2つの同心円環7a、
7bの形を有する実用新案登録請求の範囲第1項記載
の装置。 、 3 円環セグメント10bとして形成される絞りが光軸
10を中心に回転可能に支持さ゛れる実用新案登録請求
の範囲第1項記載の装置。 4 照明光路に備える絞り8.10がコンデンサ2の後
側焦点面に配置したスライダ12に支持される実用新案
登録請求の範囲第1項記載の装置。 5 スライダ12が純明視野照明のための付加的開放孔
9を有する実用新案登録請求の範囲第4項記載の装置。 6 スライダが回転するタレットである実用新案登録請
求の範囲第4項記載の装置。 7 層7a、7bおよび絞り28. 30;8. 1G
がそれぞれ対物レンズ21の後側焦点面と共役の2つの
平面P’ 、 P″内に配置される実用新案登録請求の
範囲第1項記載の装置。 8 層7a、7bを支持する板27が対物レンズ21の
焦点面Pと共役の平面P“内に層を選択的に挿入しうる
ように配置されている実用新案登録請求の範囲第7項記
載の装置。 9 円環絞り34および円環セグメント絞り33が照明
光路へ挿入しうる同じ支持体32に配置され、回転可能
の灰色クサビ35が円環セグメント絞り33の後方に配
置されている実用新案登録請求の範囲第1項記載の装置
。 10 カラーフィルタ31が1つの絞りの後方に配!
されている実用新案登録請求の範囲第5項゛、記載の装
置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/281,072 US4407569A (en) | 1981-07-07 | 1981-07-07 | Device for selectively available phase-contrast and relief observation in microscopes |
US281072 | 1981-07-07 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
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JPH0241604Y2 JPH0241604Y2 (ja) | 1990-11-06 |
Family
ID=23075831
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1982095915U Granted JPS585007U (ja) | 1981-07-07 | 1982-06-28 | 位相コントラスト観測およびレリ−フ観測を選択的に可能にする顕微鏡装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4407569A (ja) |
EP (1) | EP0069263B1 (ja) |
JP (1) | JPS585007U (ja) |
AT (1) | ATE10881T1 (ja) |
DE (2) | DE3261609D1 (ja) |
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