JPH1154663A - 樹脂封止型半導体装置とそれに用いられる回路部材、および回路部材の製造方法 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置とそれに用いられる回路部材、および回路部材の製造方法

Info

Publication number
JPH1154663A
JPH1154663A JP22120897A JP22120897A JPH1154663A JP H1154663 A JPH1154663 A JP H1154663A JP 22120897 A JP22120897 A JP 22120897A JP 22120897 A JP22120897 A JP 22120897A JP H1154663 A JPH1154663 A JP H1154663A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
external
circuit
semiconductor device
resin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP22120897A
Other languages
English (en)
Inventor
Shuichi Yamada
修一 山田
Makoto Nakamura
誠 中村
Takeshi Takeshita
毅志 竹下
Yutaka Yagi
裕 八木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP22120897A priority Critical patent/JPH1154663A/ja
Priority to KR1019980029271A priority patent/KR100300666B1/ko
Priority to US09/123,558 priority patent/US6359221B1/en
Publication of JPH1154663A publication Critical patent/JPH1154663A/ja
Priority to US09/804,149 priority patent/US6465734B2/en
Priority to US09/987,855 priority patent/US6658734B2/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/4826Connecting between the body and an opposite side of the item with respect to the body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73215Layer and wire connectors

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 TSOP等の小型パッケージにおけるチップ
の占有率を上げる。 【解決手段】 半導体素子の内部端子部と、外部回路へ
の外部端子部とを一体的に連結するリード部とを略平面
内に複数個、それぞれ互いに独立して配置する回路部を
設け、該回路部の半導体素子の内部端子面および外部端
子面とを、回路部の第1の面側に設け、且つ、内部端子
部、リード部とを薄肉に、外部端子部を厚肉に形成して
おり、半導体素子はその端子部側を、回路部の端子側で
ない面に絶縁層を介して、回路部に搭載され、半導体素
子の端子部と回路部の内部端子部とを、端子面側にてワ
イヤにて接続しており、薄肉にエッチング加工された、
内部端子形成領域が、更にコイニングにより薄く、且つ
平坦状に形成されており、外部端子の一部を外部に露出
させ、樹脂封止している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は,半導体素子を搭載
する樹脂封止型の半導体装置(プラスチックパッケー
ジ)に関し、特に、パッケージサイズの小型化に対応
し、その実装性を向上させることができる半導体装置と
その製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体装置は、高集積化、小型化
技術の進歩と電子機器の高性能化と軽薄短小化の傾向
(時流)から、LSIのASICに代表されるように、
ますます高集積化、高機能化になってきている。これに
伴い、リードフレームを用いた封止型の半導体装置にお
いても、その開発のトレンドが、SOJ(Small
Outline J−Leaded Package)
やQFP(Quad Flat Package)のよ
うな表面実装型のパッケージを経て、TSOP(Thi
n Small OutlinePackage)の開
発による薄型化を主軸としたパッケージの小型化へ、さ
らにはパッケージ内部の3次元化によるチップ収納効率
向上を目的としたLOC(Lead On Chip)
の構造へと進展してきた。しかし、樹脂封止型半導体装
置には、高集積化、高機能化とともに、更に一層の多ピ
ン化、薄型化、小型化が求めらており、上記従来のパッ
ケージにおいてもチップ外周部分のリードの引き回しが
あるため、パッケージの小型化に限界が見えてきた。ま
た、TSOP等の小型パッケージにおいては、リードの
引き回し、ピンピッチから多ピン化に対しても限界が見
えてきた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、更なる
樹脂封止型半導体装置の高集積化、高機能化が求められ
ており、樹脂封止型半導体装置の一層の多ピン化、薄型
化、小型化が求められている。本発明は、このような状
況のもと、半導体装置のパッケージサイズにおけるチッ
プの占有率を上げ、半導体装置の小型化に対応させ、回
路基板への実装面積を低減できる、即ち、回路基板への
実装密度を向上させることができる樹脂封止型半導体装
置を提供しようとするものである。また、同時に従来の
TSOP等の小型パッケージに困難であった更なる多ピ
ン化を実現しようとするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の樹脂封止型半導
体装置は、半導体素子の端子と電気的に結線するための
内部端子部と、外部回路への接続のための外部端子部
と、前記内部端子部と外部端子部とを一体的に連結する
リード部とを略平面内に複数個、それぞれ互いに独立し
て配置する回路部を設け、該回路部の内部端子部の端子
面および外部端子の端子面とを、回路部の第1の面側に
設けており、前記回路部は、第1の面側でない第2の面
側を一平面に沿い設け、内部端子部、リード部は、薄肉
に形成され、外部端子部は厚肉に形成され、外部端子部
の端子面は、前記第2の面側でない、内部端子の端子面
ないしリード部の面より突出されており、半導体素子
は、半導体素子の端子部側の面を、回路部の端子側でな
い面に絶縁層を介して接着固定されて、回路部に搭載さ
れ、半導体素子の端子部と回路部の内部端子部の端子面
側とをワイヤにて電気的に接続しており、外部端子の一
部を外部に露出させ、樹脂封止した樹脂封止型半導体装
置、または前記樹脂封止型半導体装置の外部に露出した
外部端子部の面に、回路基板等への実装のための半田か
らなる外部電極を設けた樹脂封止型半導体装置であるこ
とを特徴とするものである。そして、上記において、少
なくとも内部端子部の端子面領域がコイニングにより、
平坦状に形成されているものであることを特徴とするも
のである。そしてまた、上記において、半導体素子の端
子は半導体素子の端子面の一対の辺の中間の中心部線上
にそって配置されており、内部端子部は前記中心線を挾
むように対向し、前記中心線に沿い、それぞれ設けられ
ていることを特徴とするものである。そしてまた、上記
において、樹脂封止領域をほぼ半導体素子の外形寸法に
あわせたことを特徴とするものである。
【0005】本発明の回路部材は、半導体素子の端子と
電気的に結線するための内部端子部と、外部回路への接
続のための外部端子部と、前記内部端子部と外部端子部
とを一体的に連結するリード部とを有し、これらを略平
面内に複数個、それぞれ互いに独立して配置し、外部端
子部とこれらの外側で、全体を保持する外枠部とを前記
リード部とは異なる接続リードを介して一体連結し、且
つ内部端子部の端子面および外部端子の端子面とを、そ
の第1の面側に設けた樹脂封止型半導体装置用回路部材
であり、回路部材の第2の面側は素材面で一平面に沿
い、内部端子部、リード部および接続リード部は、回路
部材の素材の板厚よりも薄肉に形成され、外部端子部
は、回路部材の素材の板厚に形成されており、外部端子
部の外部回路と接続する側の端子面は、第2の面側でな
いリード部の面や接続リード部の面より突出されている
ことを特徴とするものであり、少なくとも内部端子部の
端子面形成領域にコイニングを施したものであることを
特徴とするものである。そして、ハーフエッチング加工
により、内部端子部とリード部の形成領域、および接続
リード部を回路部材の素材の板厚よりも薄肉に、外部端
子部を回路部材の素材の板厚にして、外形加工したもの
であることを特徴とするものである。
【0006】本発明の回路部材の製造方法は、半導体素
子の端子と電気的に結線するための内部端子部と、外部
回路への接続のための外部端子部と、前記内部端子部と
外部端子部とを一体的に連結するリード部とを有し、こ
れらを略一平面内に複数個、それぞれ互いに独立して配
置し、且つ、外部端子部とこれらの外側で、全体を保持
する外枠部とを接続リードを介して一体的に連結した樹
脂封止型半導体装置用回路部材の製造方法であって、ハ
ーフエッチング加工により、一面側を素材面とし、内部
端子部とリード部の形成領域、および接続リード部を回
路部材の素材の板厚よりも薄肉に、外部端子部を回路部
材の素材の板厚にして、外形加工する工程と、内部端子
部形成領域の、素材面側でない、端子面領域を含む領域
を凹まし、凹ました部分の面を平坦状にするコイニング
工程とを有することを特徴とするものである。
【0007】
【作用】本発明の樹脂封止型半導体装置は、上記のよう
な構成にすることにより、半導体装置パッケージサイズ
におけるチップの占有率を上げ、半導体装置の小型化に
対応できるものとしている。即ち、半導体装置の回路基
板への実装面積を低減し、回路基板への実装密度の向上
を可能としている。また、端子部を二次元的に複数行、
複数列設けることにより、従来のTSOP等の小型パッ
ケージに困難であった更なる多ピン化の実現を可能とし
ている。外部端子部に一体的に連結した外部電極部を半
田ボールにて形成することにより、BGA(Ball
Grid Array)タイプのようにすることもでき
る。具体的には、半導体素子の端子と電気的に結線する
ための内部端子部と、外部回路への接続のための外部端
子部と、前記内部端子部と外部端子部とを一体的に連結
するリード部とを略平面内に複数個、それぞれ互いに独
立して配置する回路部を設け、該回路部の半導体素子と
接続するための内部端子部の端子面および外部回路と接
続するための外部端子の端子面とを、回路部の第1の面
側に設けており、半導体素子は、半導体素子の端子部側
の面を、回路部の端子側でない面に絶縁層を介して接着
固定されて、回路部に搭載され、半導体素子の端子部と
回路部の内部端子部の端子面側とをワイヤにて電気的に
接続しており、前記回路部は、その第2の面側を一平面
に沿い設け、内部端子部、リード部は、薄肉に形成さ
れ、外部端子部は厚肉に形成され、外部端子部の端子面
は、前記一平面側でない、内部端子の端子面ないしリー
ド部の面より突出されており、且つ、少なくとも内部端
子部の端子面領域がコイニングにより、平坦状に形成さ
れているものであり、外部端子の一部を外部に露出さ
せ、樹脂封止した樹脂封止型半導体装置であることによ
り、または前記樹脂封止型半導体装置の、外部に露出し
た外部端子部の面に、回路基板等への実装のための半田
からなる外部電極を設けた樹脂封止型半導体装置である
ことにより、これを達成している。そして、半導体素子
の端子は半導体素子の端子面の一対の辺の中間の中心部
線上にそって配置されており、内部端子部は前記中心線
を挾むように対向し、前記中心線に沿い、それぞれ設け
られていることにより、全体を簡単な構造とし、量産性
に適しものとできる。特に、樹脂封止領域をほぼ半導体
素子の外形寸法にあわせたCSP(ChipSize
Package)とすることにより、半導体装置の小型
化に対応できる。
【0008】本発明の回路部材は、上記のような構成に
することにより、上記本発明の樹脂封止型半導体装置の
製造に用いられるものであるが、ハーフエッチング加工
を併う通常のエッチング工程とコイニング工程を経て作
製することができる。特に、内部端子部の半導体素子と
接続するための端子部は、微細化に伴い、ハーフエッチ
ング加工にては平坦に加工が難しい部分であるが、これ
を、コイニングにより平坦化することにより、半導体装
置作製に際しては、ワイヤボンディング性の良いものと
できる。コイニングにより、内部端子部の厚さをエッチ
ング工程により得られた厚さよりも更に薄くして、必要
な厚さとしており、回路部材のリード部、接続リード部
等のハーフエッチングにて薄肉にされた部分の厚さを、
内部端子部の厚さよりも厚くすることができ、結果、回
路部材全体を比較的強固に保つことが可能となる。
【0009】本発明の回路部材製造方法は、上記のよう
な構成にすることにより、ハーフエッチング加工を伴っ
たエッチング工程と、コイニングの組合せにより、比較
的簡単に、本発明の回路部材の製造を可能とし、結果、
本発明の樹脂封止型半導体装置の作製を可能とするもの
である。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明の樹脂封止型半導体装置を
図に基づいて説明する。図1は本発明の樹脂封止型半導
体装置の実施の形態の1例を示したもので、図1(a)
はその概略断面図であり、図1(b)は外部電極側(図
1(a)のA0側)からみた図であり、図2は図1に示
す半導体装置の外部電極側および側面部を分かり易く示
した斜視図である。図3は図1に示す半導体装置の変形
例の断面図であり、図4(a)は本発明の回路部材の概
略平面図であり、図4(b)は図4(a)中点線で囲ま
れたB0部の拡大斜視図である。図1、図2、図3、図
4中、100、101は樹脂封止型半導体装置、110
は半導体素子、111は端子(パッド)、120は絶縁
層、123は絶縁性フィルム、125は接着剤層、13
0は回路部材、130Aは回路部、130Sは素材面、
131は内部端子部、131Sは端子面、132は外部
端子部、132Sは端子面、133はリード、133S
はリード面、134は接続リード、134Sは接続リー
ド面、135は枠部、140はワイヤ、150は封止用
樹脂、160は銀めっき、170は半田からなる外部電
極である。図1に示す樹脂封止型半導体装置100は、
図4に示す回路部材130の点線内領域部B1のみを樹
脂封止し、且つそれ以外の部分を分離して使用している
もので、半導体素子110を、端子(パッド)111側
の面側にて、回路部130の素材面130Sに、絶縁層
120を介して搭載し、半導体素子110の端子(パッ
ド)111と内部端子部131の端子面131Sとをワ
イヤ140にて電気的に接続し、且つ、外部端子132
の一部を外部に露出させ、全体を封止用樹脂150で樹
脂封止している。図1(a)に示すように、半導体素子
110の端子111と電気的に結線するための内部端子
部131と、外部回路への接続のための外部端子部13
2と、内部端子部131と外部端子部132とを一体的
に連結するリード部133とを略一平面内に複数個、そ
れぞれ互いに独立して配置する回路部130Aを設けて
いる。そして、回路部130Aの、半導体素子110と
接続するための内部端子部131の端子面131Sおよ
び外部回路と接続するための外部端子部132の端子面
132Sを、回路部130Aの素材面130S側(第2
の面側)とは反対の面側(第1の面側)に設けている。
尚、図1に示す例は、図4に示す回路部材130を用い
ているため、接続リード134をその内部に残す。
【0011】ここで用いられる図4(a)に示す回路部
材130の一点鎖線内領域B1内部である、半導体装置
100に用いられる回路部130Aは、その一方の面側
(第2の面側)を、全て素材面130Sとして、略同一
平面上に形成されており、この素材面130Sと、半導
体素子110の端子部111側の面とが絶縁層120を
介して接着固定される。そして、内部端子部131、リ
ード部133、接続リード部134は、薄肉(即ち、回
路部材130Aの素材の厚さより薄肉)に形成され、外
部端子部132は厚肉(即ち、回路部材130Aの素材
の厚さと同じ厚さ)に形成され、外部端子部132の外
部回路と接続する側の端子面132Sは、回路部130
Aの素材面130Sでない、内部端子部131の端子面
131Sないしリード部133の面133Sより突出さ
れている。そしてまた、少なくとも内部端子部131の
半導体素子110と接続する側と反対側の端子面131
S領域がコイニングにより、平坦状に形成されている。
更に、外部端子部132の一部を外部に露出させ、樹脂
封止し、外部に露出した外部端子部の面に、回路基板等
への実装のための半田からなる外部電極170を設けて
いる。
【0012】図1に示す樹脂封止型半導体装置100に
おいては、半導体素子110の端子部111は半導体素
子110の端子面の一対の辺の中間の中心線上にそって
配置されており、内部端子部131は前記中心線を挾む
ように対向し、前記中心部線に沿い、それぞれ設けられ
ている。そして、半導体素子110の端子部側の面に絶
縁層120を介して回路部130Aの内部端子部131
とそれに連結したリード部133とが載った構造で、L
OC(Lead On Chip)と言われる。また、
図1に示す樹脂封止型半導体装置100においては、樹
脂封止領域を、半導体素子のサイズにほぼあわせた構造
で、CSP(Chip Size Package)と
言われるものである。
【0013】尚、本発明の樹脂封止型半導体装置の実施
の形態としては、上記図1に示す、LOCタイプ、CS
Pタイプに特に限定されることはない。また、図3に示
すように、図1に示す半導体装置において半田からなる
外部電極を設けない形態のままのものを、変形例の半導
体装置101として挙げておく。図3に示す変形例の半
導体装置101の外部に露出した外部端子部の面132
Sに半田からなる外部電極170を設けたものである。
【0014】回路部130Aの材質としては42合金
(Ni42%のFe合金)、銅合金等が用いられ、絶縁
層120としては、図1に示すように絶縁性フィルム1
23の両側に接着剤層125を設けたものや、市販のダ
イアタッチ剤が用いられる。
【0015】次に、本発明の回路部材を図に基づいて説
明する。図4は本発明の回路部材の1例を示したもの
で、図4(a)は平面図、図4(b)は、図4(a)の
B0部を拡大して示した拡大斜視図である。尚、図4中
の一点鎖線領域B1は、回路部材の半導体装置作製の際
に、樹脂封止して用いられる領域で、点線外側の領域は
最終的には分離除去される。本発明の回路部材は、本発
明の半導体装置の作製に用いられるものであり、図4
(a)に示すように、半導体素子の端子と電気的に結線
するための内部端子部131と、外部回路への接続のた
めの外部端子部132と、内部端子部131と外部端子
部132とを一体的に連結するリード部133とを有
し、これらを略平面内に複数個、それぞれ互いに独立し
て配置し、且つ、前記リード部133とは異なる接続リ
ード134と外部端子部132とを一体的に連結し、こ
れらの外側で、全体を保持する外枠部135と接続され
ている。そして、図4(b)は内部端子部131の端子
面131Sおよび外部端子部132の端子面132Sと
を、その第1の面側に設けた樹脂封止型半導体装置用回
路部材であり、回路部材の第2の面側は素材面130S
で一平面に沿い、内部端子部131、リード部133お
よび接続リード部134は、回路部材の素材の板厚より
も薄肉に形成され、外部端子部132は、回路部材の素
材の板厚に形成されており、外部端子部132の外部回
路と接続する側の端子面132Sは、素材面側でないリ
ード部の面133Sや接続リード部の面134Sより突
出されているもので、少なくとも内部端子部131の端
子面領域131Sがコイニングにより、平坦状に形成さ
れている。回路部材130の材質としては42合金(N
i42%のFe合金)、銅合金等が用いられ、通常のリ
ードフレームと同様、エッチングにより外形加工でき
る。
【0016】次いで、図4に示す回路部材130の製造
方法の1例を図5に基づいて説明する。尚、図5は、説
明を分かり易くするため、図4(a)に示す一点鎖線B
3−B4における断面のみを示している。先ず、42合
金(Ni42%のFe合金)等からなる、回路部材の素
材である厚さ0.2mm程度の板材510を準備し、板
材510の両面を脱脂等を行い良く洗浄処理した(図5
(a))後、板材510の両面に感光性のレジスト52
0を塗布し、乾燥する。(図5(b)) 次いで、板材510の両面から所定のパターン版を用い
てレジストの所定の部分のみに露光を行った後、現像処
理し、レジストパターン521、522を形成する。
(図5(c)) 内部端子部、リード部、接続リード部の形成領域におい
ては、板材の一面側にレジストが覆われていない。尚、
レジストとてしは、特に限定はされないが、重クロム酸
カリウムを感光材としたガゼイン系のレジストや、東京
応化株式会社製のネガ型液状レジスト(PMERレジス
ト)等が使用できる。次いで、レジストパターンを耐腐
蝕性膜として、板材510の両面から腐蝕液にてエッチ
ングを行う。内部端子部、リード部、接続リード部の形
成領域においては、板材の一面側のレジストが覆われて
いない為、片側からのみエッチングが進行する。(これ
を、ここではハーフエッチングと言っている。) 板材510の表裏のエッチング量を加減することによ
り、薄肉部530の厚さを調整することができる。エッ
チングは、通常、腐蝕液として塩化第二鉄水溶液を用
い、板材の両面からスプレイエッチングにて行う。エッ
チングにより、途中図5(d)のようになり、更にエッ
チングが進行して、内部端子部131間が分離された状
態で、一面を板材510の素材面510Sとした状態
で、内部端子部131、リード部133、接続リード部
134を板材510の素材の厚さより薄肉に、且つ外部
端子部132、外枠部134を板材510の素材の厚さ
と同じ厚さに形成される。(図5(e)) 次いで、レジストを剥離してた(図5(f))後、内部
端子部の端子面形成側131Aをコイニングして平坦状
に形成し(図5(g))、図4に示す回路部材130が
得られる。尚、生産性の面から、エッチング加工、コイ
ニング加工する際、複数個面付けした状態で上記の工程
を行う。
【0017】次に、図1に示す半導体装置100の製造
方法を、図6に基づいて簡単に説明する。先ず、図5の
ようにして外形加工して作製された、図4に示す回路部
材130を用意する。(6(a)) 次いで、洗浄処理等を施した後、内部端子部131の端
子面131S側に銀めっき処理を行い、銀めっき部16
0を設ける。(図6(b)) 尚、銀めっきに代え、金めっきやパラジウムめっきでも
良い。次いで、半導体素子110の端子面111と回路
部材130の素材面を絶縁層120を介して接着固定
(搭載)する。絶縁層120は、図1(a)に示すよう
に絶縁性フィルム123の両面に接着材層125をもう
けた構造のもの等が挙げられるが、これに代え、市販の
ダイアタッチ剤を用いても良い。そして、半導体素子1
10の端子111と、内部端子131の端子面131S
(銀めっき部160)とをワイヤ140にて電気的に接
続する。(図6(d))この後、外部端子部132の一
部を外部に露出させ、全体を封止用樹脂150で樹脂封
止する。(図6(e)) 更に、露出した外部端子部132の端子面132Sに、
半田めっき等の表面処理剤を施した後、半田ボールから
なる外部電極170を形成する。(図6(f)) 次いで、回路部材130の各接続リード134をプレス
により切断し、外枠部135を除去する。(図6
(g)) 尚、半田ボールからなる外部電極170の作製は、スク
リーン印刷による半田ペースト塗布や、リフロー等で
も、回路基板と半導体装置との接続に必要な量の半田が
得られば良い。
【0018】
【実施例】更に、本発明の回路部材の実施例を挙げて、
図4に基づいて説明する。42合金(Ni42%のFe
合金)からなり、外部端子部の厚さ0.2mm、内部端
子部の厚さを0.05mmとする、図4に示す回路部材
130を、図5に示す加工方法にて作製して得た後、図
6に示す半導体装置の作製方法により、図1に示す半導
体装置を作製したが、品質的には特に問題はなかった。
【0019】
【発明の効果】本発明は、上記のように、更なる樹脂封
止型半導体装置の高集積化、高機能化が求められる状況
のもと、半導体装置のパッケージサイズにおけるチップ
の占有率を上げ、半導体装置の小型化に対応させ、回路
基板への実装面積を低減できる、即ち、回路基板への実
装密度を向上させることができる導体装置の提供を可能
としたものである。また、本発明は、同時に従来のTS
OP等の小型パッケージに困難であった更なる多ピン化
を実現した樹脂封止型半導体装置の提供を可能としたも
のである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の樹脂封止型半導体装置の1例を示した
【図2】本発明の樹脂封止型半導体装置の1例の斜視図
【図3】本発明の樹脂封止型半導体装置の1例の変形例
の断面図
【図4】本発明の回路部材を示した図
【図5】本発明の回路部材の製造工程図
【図6】本発明の樹脂封止型半導体装置の製造工程図
【符号の説明】
100、101 樹脂封止型半導体装置 110 半導体素子 111 端子(パッド) 120 絶縁層(絶縁性フィル
ム) 130 回路部材 130A 回路部 130S 素材面 131 内部端子部 131S 端子面 132 外部端子部 132S 端子面 133 リード 133S リード面 134 接続リード 134S 接続リード面 135 枠部 140 ワイヤ 150 封止用樹脂 160 銀めっき 170 半田からなる外部電極 510 板材 510S 板材の)素材面 520 レジスト 521、522 レジストパターン 530 薄肉部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 八木 裕 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体素子の端子と電気的に結線するた
    めの内部端子部と、外部回路への接続のための外部端子
    部と、前記内部端子部と外部端子部とを一体的に連結す
    るリード部とを略平面内に複数個、それぞれ互いに独立
    して配置する回路部を設け、該回路部の内部端子部の端
    子面および外部端子の端子面とを、回路部の第1の面側
    に設けており、前記回路部は、第1の面側でない第2の
    面側を一平面に沿い設け、内部端子部、リード部は、薄
    肉に形成され、外部端子部は厚肉に形成され、外部端子
    部の端子面は、前記第2の面側でない、内部端子の端子
    面ないしリード部の面より突出されており、半導体素子
    は、半導体素子の端子部側の面を、回路部の端子側でな
    い面に絶縁層を介して接着固定されて、回路部に搭載さ
    れ、半導体素子の端子部と回路部の内部端子部の端子面
    側とをワイヤにて電気的に接続しており、外部端子の一
    部を外部に露出させ、樹脂封止した樹脂封止型半導体装
    置、または前記樹脂封止型半導体装置の外部に露出した
    外部端子部の面に、回路基板等への実装のための半田か
    らなる外部電極を設けた樹脂封止型半導体装置であるこ
    とを特徴とする樹脂封止型半導体装置。
  2. 【請求項2】 請求項1において、少なくとも内部端子
    部の端子面領域がコイニングにより、平坦状に形成され
    ているものであることを特徴とする樹脂封止型半導体装
    置。
  3. 【請求項3】 請求項1ないし2において、半導体素子
    の端子は半導体素子の端子面の一対の辺の中間の中心部
    線上にそって配置されており、回路部材の内部端子部は
    前記中心線を挾むように対向し、前記中心部線に沿い、
    それぞれ設けられていることを特徴とする樹脂封止型半
    導体装置。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし3において、樹脂封止領
    域をほぼ半導体素子の外形寸法にあわせたことを特徴と
    する樹脂封止型半導体装置。
  5. 【請求項5】 半導体素子の端子と電気的に結線するた
    めの内部端子部と、外部回路への接続のための外部端子
    部と、前記内部端子部と外部端子部とを一体的に連結す
    るリード部とを有し、これらを略平面内に複数個、それ
    ぞれ互いに独立して配置し、外部端子部とこれらの外側
    で、全体を保持する外枠部とを前記リード部とは異なる
    接続リードを介して一体連結し、且つ内部端子部の端子
    面および外部端子の端子面とを、その第1の面側に設け
    た樹脂封止型半導体装置用回路部材であり、回路部材の
    第2の面側は素材面で一平面に沿い、内部端子部、リー
    ド部および接続リード部は、回路部材の素材の板厚より
    も薄肉に形成され、外部端子部は、回路部材の素材の板
    厚に形成されており、外部端子部の外部回路と接続する
    側の端子面は、第2の面側でないリード部の面や接続リ
    ード部の面より突出されていることを特徴とする回路部
    材。
  6. 【請求項6】 少なくとも内部端子部の端子面形成領域
    にコイニングを施したものであることを特徴とする請求
    項5記載の回路部材。
  7. 【請求項7】 ハーフエッチング加工により、内部端子
    部とリード部の形成領域、および接続リード部を回路部
    材の素材の板厚よりも薄肉に、外部端子部を回路部材の
    素材の板厚にして、外形加工したものであることを特徴
    とする請求項5ないし6記載の回路部材。
  8. 【請求項8】 半導体素子の端子と電気的に結線するた
    めの内部端子部と、外部回路への接続のための外部端子
    部と、前記内部端子部と外部端子部とを一体的に連結す
    るリード部とを有し、これらを略一平面内に複数個、そ
    れぞれ互いに独立して配置し、且つ、外部端子部とこれ
    らの外側で、全体を保持する外枠部とを接続リードを介
    して一体的に連結した樹脂封止型半導体装置用回路部材
    の製造方法であって、ハーフエッチング加工により、一
    面側を素材面とし、内部端子部とリード部の形成領域、
    および接続リード部を回路部材の素材の板厚よりも薄肉
    に、外部端子部を回路部材の素材の板厚にして、外形加
    工する工程と、内部端子部形成領域の、素材面側でな
    い、端子面領域を含む領域を凹まし、凹ました部分の面
    を平坦状にするコイニング工程とを有することを特徴と
    する回路部材の製造方法。
JP22120897A 1997-08-04 1997-08-04 樹脂封止型半導体装置とそれに用いられる回路部材、および回路部材の製造方法 Pending JPH1154663A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22120897A JPH1154663A (ja) 1997-08-04 1997-08-04 樹脂封止型半導体装置とそれに用いられる回路部材、および回路部材の製造方法
KR1019980029271A KR100300666B1 (ko) 1997-08-04 1998-07-21 수지밀봉형반도체장치와거기에사용되는회로부재및회로부재의제조방법
US09/123,558 US6359221B1 (en) 1997-08-04 1998-07-29 Resin sealed semiconductor device, circuit member for use therein
US09/804,149 US6465734B2 (en) 1997-08-04 2001-03-13 Resin sealed semiconductor device, circuit member for use therein and method of manufacturing circuit member
US09/987,855 US6658734B2 (en) 1997-08-04 2001-11-16 Method of manufacturing a circuit member for a resin-sealed semiconductor device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22120897A JPH1154663A (ja) 1997-08-04 1997-08-04 樹脂封止型半導体装置とそれに用いられる回路部材、および回路部材の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1154663A true JPH1154663A (ja) 1999-02-26

Family

ID=16763165

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22120897A Pending JPH1154663A (ja) 1997-08-04 1997-08-04 樹脂封止型半導体装置とそれに用いられる回路部材、および回路部材の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1154663A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001069678A1 (fr) 2000-03-13 2001-09-20 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Dispositif semi-conducteur sous enveloppe de resine, element de circuit destine a ce dispositif et procede de fabrication de cet element de circuit
JP2004319824A (ja) * 2003-04-17 2004-11-11 Dainippon Printing Co Ltd 樹脂封止型半導体装置とその製造方法
JP2010004080A (ja) * 2009-10-05 2010-01-07 Dainippon Printing Co Ltd 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法
JP2013065879A (ja) * 2012-11-26 2013-04-11 Dainippon Printing Co Ltd 樹脂封止型半導体装置用フレーム
CN104685615A (zh) * 2014-03-27 2015-06-03 瑞萨电子株式会社 半导体器件的制造方法及半导体器件
JP2020537341A (ja) * 2017-10-05 2020-12-17 日本テキサス・インスツルメンツ合同会社 半導体デバイスにおけるプレモールドリードフレーム

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001069678A1 (fr) 2000-03-13 2001-09-20 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Dispositif semi-conducteur sous enveloppe de resine, element de circuit destine a ce dispositif et procede de fabrication de cet element de circuit
EP1189279A1 (en) * 2000-03-13 2002-03-20 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Resin-sealed semiconductor device, circuit member used for the device, and method of manufacturing the circuit member
EP1189279A4 (en) * 2000-03-13 2006-04-12 Dainippon Printing Co Ltd SEMICONDUCTOR SEMICONDUCTOR DEVICE WITH RESIN ENVELOPE, CIRCUIT MEMBER FOR THIS DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE CIRCUIT MEMBER
US7307347B2 (en) 2000-03-13 2007-12-11 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Resin-encapsulated package, lead member for the same and method of fabricating the lead member
KR100811338B1 (ko) * 2000-03-13 2008-03-07 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 수지밀봉형 반도체장치, 이 장치에 이용되는 회로부재 및회로부재의 제조방법
JP2004319824A (ja) * 2003-04-17 2004-11-11 Dainippon Printing Co Ltd 樹脂封止型半導体装置とその製造方法
JP2010004080A (ja) * 2009-10-05 2010-01-07 Dainippon Printing Co Ltd 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法
JP2013065879A (ja) * 2012-11-26 2013-04-11 Dainippon Printing Co Ltd 樹脂封止型半導体装置用フレーム
CN104685615A (zh) * 2014-03-27 2015-06-03 瑞萨电子株式会社 半导体器件的制造方法及半导体器件
JP2020537341A (ja) * 2017-10-05 2020-12-17 日本テキサス・インスツルメンツ合同会社 半導体デバイスにおけるプレモールドリードフレーム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4549491B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
US6359221B1 (en) Resin sealed semiconductor device, circuit member for use therein
JP3475306B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP3521758B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JPH098207A (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPH098206A (ja) リードフレームおよびbgaタイプの樹脂封止型半導体装置
JP2001024135A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2000307045A (ja) リードフレームおよびそれを用いた樹脂封止型半導体装置の製造方法
JPH10335566A (ja) 樹脂封止型半導体装置とそれに用いられる回路部材、および樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2000091488A (ja) 樹脂封止型半導体装置とそれに用いられる回路部材
JP5850347B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPH1154663A (ja) 樹脂封止型半導体装置とそれに用いられる回路部材、および回路部材の製造方法
JP2000114426A (ja) 片面樹脂封止型半導体装置
JP2000332162A (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPH11163024A (ja) 半導体装置とこれを組み立てるためのリードフレーム、及び半導体装置の製造方法
JPH1140720A (ja) 回路部材および該回路部材を用いた樹脂封止型半導体装置
JP4357728B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPH1174411A (ja) 樹脂封止型半導体装置とそれに用いられる回路部材
JP4176092B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP3908695B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP2005260271A (ja) 樹脂封止型半導体装置用の回路部材
JP3802500B2 (ja) リードフレーム
JPH11111749A (ja) 半導体装置とそれに用いられる回路部材およびそれらの製造方法
JP2000058698A (ja) 半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040615

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041201

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060404

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060725