JPH11134051A - 基準電圧回路 - Google Patents
基準電圧回路Info
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- JPH11134051A JPH11134051A JP30073397A JP30073397A JPH11134051A JP H11134051 A JPH11134051 A JP H11134051A JP 30073397 A JP30073397 A JP 30073397A JP 30073397 A JP30073397 A JP 30073397A JP H11134051 A JPH11134051 A JP H11134051A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 基準電圧の温度依存性が大きく、高温度での
基準電圧が中、低温度での基準電圧と比較して低下して
しまうことのない基準電圧を得ること。 【解決手段】 温度補正回路を設け、基準電圧に温度補
正をかける構成とした。
基準電圧が中、低温度での基準電圧と比較して低下して
しまうことのない基準電圧を得ること。 【解決手段】 温度補正回路を設け、基準電圧に温度補
正をかける構成とした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体集積回路
の基準電圧回路に関するものである。
の基準電圧回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の基準電圧回路としては、図５の回
路ブロック図に示されるような回路が知られている。す
なわちソースとゲートが接地されたｎチャネル・デプレ
ション型ＭＯＳトランジスタ２０１による定電流回路
と、トランジスタ２０１より出力される電流をカレント
ミラーするためのｐチャネル・エンハンスメント型ＭＯ
Ｓトランジスタ２０２、２０３で構成されるカレントミ
ラー回路２０５と、前記カレントミラー回路２０５の出
力電流から基準電圧Ｖｏｕｔを発生させるためのダイオ
ード接続されたｎチャネル・エンハンスメント型ＭＯＳ
トランジスタ２０４より構成されている。
路ブロック図に示されるような回路が知られている。す
なわちソースとゲートが接地されたｎチャネル・デプレ
ション型ＭＯＳトランジスタ２０１による定電流回路
と、トランジスタ２０１より出力される電流をカレント
ミラーするためのｐチャネル・エンハンスメント型ＭＯ
Ｓトランジスタ２０２、２０３で構成されるカレントミ
ラー回路２０５と、前記カレントミラー回路２０５の出
力電流から基準電圧Ｖｏｕｔを発生させるためのダイオ
ード接続されたｎチャネル・エンハンスメント型ＭＯＳ
トランジスタ２０４より構成されている。
【０００３】トランジスタ２０１と２０４のゲート幅と
ゲート長を調節することにより基準電圧Ｖｏｕｔを得る
ことができる。図５の回路より得られる基準電圧の温度
特性は図６のように弓形になることが知られている。
ゲート長を調節することにより基準電圧Ｖｏｕｔを得る
ことができる。図５の回路より得られる基準電圧の温度
特性は図６のように弓形になることが知られている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の基準電
圧回路では図６のように基準電圧の温度依存性が大き
く、高温度での基準電圧Ｖｏｕｔは中、低温度の基準電
圧Ｖｏｕｔと比較して大きく低下してしまい、良好な基
準電圧の温度特性が得られないという問題点があった。
圧回路では図６のように基準電圧の温度依存性が大き
く、高温度での基準電圧Ｖｏｕｔは中、低温度の基準電
圧Ｖｏｕｔと比較して大きく低下してしまい、良好な基
準電圧の温度特性が得られないという問題点があった。
【０００５】そこで、この発明の目的は従来のこのよう
な問題点を解決するために、温度補正回路を設けること
で基準電圧の温度特性を改善することを目的としてい
る。
な問題点を解決するために、温度補正回路を設けること
で基準電圧の温度特性を改善することを目的としてい
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、本発明においては温度補正回路を設け、基準電圧
に温度補正をかけるような構成とした。このような構成
にすることにより、基準電圧の温度特性を改善し、半導
体集積回路内に高精度な基準電圧発生器を構築すること
ができる。
めに、本発明においては温度補正回路を設け、基準電圧
に温度補正をかけるような構成とした。このような構成
にすることにより、基準電圧の温度特性を改善し、半導
体集積回路内に高精度な基準電圧発生器を構築すること
ができる。
【０００７】
【発明の実施の形態】新たに追加した温度補正回路が半
導体集積回路の温度を検知し、半導体集積回路が高温度
になると前記温度補正回路から従来の基準電圧回路に電
流を注入するようにすることで、基準電圧の温度特性に
補正をかけ、温度特性の優れた基準電圧が得られるよう
にする。
導体集積回路の温度を検知し、半導体集積回路が高温度
になると前記温度補正回路から従来の基準電圧回路に電
流を注入するようにすることで、基準電圧の温度特性に
補正をかけ、温度特性の優れた基準電圧が得られるよう
にする。
【０００８】
【実施例】以下に、本発明の実施例を図面に基づいて説
明する。図１は本発明の第一実施例の基準電圧回路であ
る。従来と同様な基準電圧回路１０１と基準電圧回路の
出力電圧Ｖｏｕｔの温度依存性を補正するための温度補
正回路１０２より構成されている。基準電圧回路１０１
は、従来の基準電圧回路とまったく同様であり、ソース
とゲートが接地されたｎチャネル・デプレション型ＭＯ
Ｓトランジスタ１０３による定電流回路と、トランジス
タ１０３より出力される電流をカレントミラーするため
のｐチャネル・エンハンスメント型ＭＯＳトランジスタ
１０４、１０５で構成されるカレントミラー回路１１３
と、前記カレントミラー回路１１３の出力電流から基準
電圧Ｖｏｕｔを発生させるためのダイオード接続された
ｎチャネル・エンハンスメント型ＭＯＳトランジスタ１
０９より構成されている。
明する。図１は本発明の第一実施例の基準電圧回路であ
る。従来と同様な基準電圧回路１０１と基準電圧回路の
出力電圧Ｖｏｕｔの温度依存性を補正するための温度補
正回路１０２より構成されている。基準電圧回路１０１
は、従来の基準電圧回路とまったく同様であり、ソース
とゲートが接地されたｎチャネル・デプレション型ＭＯ
Ｓトランジスタ１０３による定電流回路と、トランジス
タ１０３より出力される電流をカレントミラーするため
のｐチャネル・エンハンスメント型ＭＯＳトランジスタ
１０４、１０５で構成されるカレントミラー回路１１３
と、前記カレントミラー回路１１３の出力電流から基準
電圧Ｖｏｕｔを発生させるためのダイオード接続された
ｎチャネル・エンハンスメント型ＭＯＳトランジスタ１
０９より構成されている。
【０００９】一方、温度補正回路１０２は、基準電圧回
路１０１内のカレントミラー１１３とおなじ出力電流を
出力するｐチャネル・エンハンスメント型ＭＯＳトラン
ジスタ１０６と、ゲートとドレインがトランジスタ１０
６のドレインに接続されソースが接地されたｎチャネル
・エンハンスメント型ＭＯＳトランジスタ１１０と、ト
ランジスタ１１０のゲートおよびドレインにゲートが接
続されソースが抵抗１１２に接続されたｎチャネル・エ
ンハンスメント型ＭＯＳトランジスタ１１１と、トラン
ジスタ１１１のソースと接地間に接続された抵抗１１２
と、トランジスタ１１１のドレイン電流をカレントミラ
ーするためのｐチャネル・エンハンスメント型ＭＯＳト
ランジスタ１０７、１０８よりなるカレントミラー回路
１１４より構成されている。ただしｎチャネル・エンハ
ンスメント型ＭＯＳトランジスタ１１１のバックゲート
は接地、またはトランジスタ１１１のソースに接続され
るものとする。
路１０１内のカレントミラー１１３とおなじ出力電流を
出力するｐチャネル・エンハンスメント型ＭＯＳトラン
ジスタ１０６と、ゲートとドレインがトランジスタ１０
６のドレインに接続されソースが接地されたｎチャネル
・エンハンスメント型ＭＯＳトランジスタ１１０と、ト
ランジスタ１１０のゲートおよびドレインにゲートが接
続されソースが抵抗１１２に接続されたｎチャネル・エ
ンハンスメント型ＭＯＳトランジスタ１１１と、トラン
ジスタ１１１のソースと接地間に接続された抵抗１１２
と、トランジスタ１１１のドレイン電流をカレントミラ
ーするためのｐチャネル・エンハンスメント型ＭＯＳト
ランジスタ１０７、１０８よりなるカレントミラー回路
１１４より構成されている。ただしｎチャネル・エンハ
ンスメント型ＭＯＳトランジスタ１１１のバックゲート
は接地、またはトランジスタ１１１のソースに接続され
るものとする。
【００１０】トランジスタ１０５と１０６が同じサイズ
で、トランジスタ１０９と１１０も同じサイズの場合、
トランジスタ１０６と１１０の接続点Ａの電圧Vaは従来
の基準電圧Ｖｏｕｔと等しくなるので、Ｖａは温度に対
してほぼ一定である。トランジスタ１１１のしきい値電
圧Ｖｔの温度係数ＴＣは通常（１）式のようになり ＴＣ＝−１ｍＶ／℃ ・・・・・・・・・・・・・・（１） と負の温度特性を示すので、Ｖｔは温度の上昇とともに
減少する。トランジスタ１１１はゲート・ソース間電圧
ＶｇｓがＶｔになると導通しはじめるので、トランジス
タ１１１を導通させるために必要なゲート・ソース間電
圧Ｖｇｓは温度が上昇するとともに減少する。トランジ
スタ１１１のゲート電圧、すなわちＶａは温度に対して
ほぼ一定であり、トランジスタ１１１のゲート・ソース
間電圧Ｖｇｓは温度とともに減少するので、接続点Ｂの
電圧Ｖｂは温度とともに上昇する。これよりＶｂは正の
温度特性を示すことがわかる。
で、トランジスタ１０９と１１０も同じサイズの場合、
トランジスタ１０６と１１０の接続点Ａの電圧Vaは従来
の基準電圧Ｖｏｕｔと等しくなるので、Ｖａは温度に対
してほぼ一定である。トランジスタ１１１のしきい値電
圧Ｖｔの温度係数ＴＣは通常（１）式のようになり ＴＣ＝−１ｍＶ／℃ ・・・・・・・・・・・・・・（１） と負の温度特性を示すので、Ｖｔは温度の上昇とともに
減少する。トランジスタ１１１はゲート・ソース間電圧
ＶｇｓがＶｔになると導通しはじめるので、トランジス
タ１１１を導通させるために必要なゲート・ソース間電
圧Ｖｇｓは温度が上昇するとともに減少する。トランジ
スタ１１１のゲート電圧、すなわちＶａは温度に対して
ほぼ一定であり、トランジスタ１１１のゲート・ソース
間電圧Ｖｇｓは温度とともに減少するので、接続点Ｂの
電圧Ｖｂは温度とともに上昇する。これよりＶｂは正の
温度特性を示すことがわかる。
【００１１】抵抗１１２に高抵抗ポリ抵抗のような負の
温度特性を持っている抵抗を使用すると、抵抗１１２の
抵抗値Ｒ１１２は温度の上昇とともに減少する。抵抗１
１２を流れる電流Ｉは（２）式で示される。 Ｉ＝Ｖｂ／Ｒ１１２ ・・・・・・・・・・・・・・（２） したがって接続点Ｂの電圧Ｖｂが温度とともに上昇し、
逆に抵抗値Ｒ１１２が温度とともに減少するので、
（２）式より抵抗１１２を流れる電流Ｉは温度とともに
増加することがわかる。
温度特性を持っている抵抗を使用すると、抵抗１１２の
抵抗値Ｒ１１２は温度の上昇とともに減少する。抵抗１
１２を流れる電流Ｉは（２）式で示される。 Ｉ＝Ｖｂ／Ｒ１１２ ・・・・・・・・・・・・・・（２） したがって接続点Ｂの電圧Ｖｂが温度とともに上昇し、
逆に抵抗値Ｒ１１２が温度とともに減少するので、
（２）式より抵抗１１２を流れる電流Ｉは温度とともに
増加することがわかる。
【００１２】一方、抵抗１１２に拡散抵抗のような温度
とともに抵抗値が増大する正の温度特性を示す抵抗を使
用した場合でも、Ｖｂの正の温度特性が前記抵抗１１２
の正の温度特性を上回るようにすれば、（２）式より抵
抗１１２を流れる電流Ｉは温度とともに増加することが
わかる。抵抗１１２を流れる電流がトランジスタ１１１
のドレイン電流となりカレントミラー１１４に流入する
ので、カレントミラー１１４の出力であるトランジスタ
１０８のドレインからは、抵抗１１２に流れる電流と同
じ量の電流が出力されるので、トランジスタ１０８の出
力電流は温度とともに増大する。
とともに抵抗値が増大する正の温度特性を示す抵抗を使
用した場合でも、Ｖｂの正の温度特性が前記抵抗１１２
の正の温度特性を上回るようにすれば、（２）式より抵
抗１１２を流れる電流Ｉは温度とともに増加することが
わかる。抵抗１１２を流れる電流がトランジスタ１１１
のドレイン電流となりカレントミラー１１４に流入する
ので、カレントミラー１１４の出力であるトランジスタ
１０８のドレインからは、抵抗１１２に流れる電流と同
じ量の電流が出力されるので、トランジスタ１０８の出
力電流は温度とともに増大する。
【００１３】トランジスタ１０８より出力される温度と
ともに増大する電流が、基準電圧を発生させているトラ
ンジスタ１０９に注入されるので、温度補正回路１０２
のない場合に比べて高温度でのトランジスタ１０９のド
レイン電流は増大する。従って、トランジスタ１０９の
ドレイン電流が高温度で増大するので、トランジスタ１
０９のゲート電圧、すなわち基準電圧Ｖｏｕｔも高温度
で増大する。
ともに増大する電流が、基準電圧を発生させているトラ
ンジスタ１０９に注入されるので、温度補正回路１０２
のない場合に比べて高温度でのトランジスタ１０９のド
レイン電流は増大する。従って、トランジスタ１０９の
ドレイン電流が高温度で増大するので、トランジスタ１
０９のゲート電圧、すなわち基準電圧Ｖｏｕｔも高温度
で増大する。
【００１４】高温度での基準電圧Ｖｏｕｔを上昇させる
ことにより、中温度での基準電圧と高温度での基準電圧
の差が小さくなるので、基準電圧の温度特性が改善され
る。図２が本発明の回路での基準電圧の温度依存性を示
した図である。以上説明したように、本発明の回路によ
ると半導体集積回路内に温度特性の改善された高精度な
基準電圧を得ることができる。
ことにより、中温度での基準電圧と高温度での基準電圧
の差が小さくなるので、基準電圧の温度特性が改善され
る。図２が本発明の回路での基準電圧の温度依存性を示
した図である。以上説明したように、本発明の回路によ
ると半導体集積回路内に温度特性の改善された高精度な
基準電圧を得ることができる。
【００１５】図３は本発明の第二実施例の基準電圧回路
である。図１では基準電圧Ｖｏｕｔがｎチャネル・デプ
レション型トランジスタ１０３とｎチャネル・エンハン
スメンと型トランジスタ１０９より構成されているが、
図２に示すようにｐチャネル・デプレション型トランジ
スタ１１７とｐチャネル・エンハンスメント型トランジ
スタ１２３およびカレントミラー回路１２７で基準電圧
回路１１５を構成した場合には、温度補正回路１１６を
図２のような構成とすれば同様な効果が得られることは
明白である。ただしｐチャネル・エンハンスメント型ト
ランジスタ１２５のバックゲートは電源Ｖｄｄ、または
トランジスタ１２５のソースに接続されるものとする。
である。図１では基準電圧Ｖｏｕｔがｎチャネル・デプ
レション型トランジスタ１０３とｎチャネル・エンハン
スメンと型トランジスタ１０９より構成されているが、
図２に示すようにｐチャネル・デプレション型トランジ
スタ１１７とｐチャネル・エンハンスメント型トランジ
スタ１２３およびカレントミラー回路１２７で基準電圧
回路１１５を構成した場合には、温度補正回路１１６を
図２のような構成とすれば同様な効果が得られることは
明白である。ただしｐチャネル・エンハンスメント型ト
ランジスタ１２５のバックゲートは電源Ｖｄｄ、または
トランジスタ１２５のソースに接続されるものとする。
【００１６】図４は本発明の第三実施例の基準電圧回路
である。図１に示した従来の基準電圧回路１０１より出
力される基準電圧の温度特性が広い温度範囲で一定とな
るよう温度補正回路１０２によって補正した。しかし基
準電圧回路１０１のｎチャネル・デプレション型ＭＯＳ
トランジスタ１０３とｎチャネル・エンハンスメント型
ＭＯＳトランジスタ１０９のサイズ比および、温度補正
回路１０２内の抵抗１１２、あるいはカレントミラー１
１４を構成しているｐチャネル・エンハンスメント型Ｍ
ＯＳトランジスタ１０７、１０８のサイズ比を調節する
ことにより、図４のように任意でかつ広い温度範囲で一
定の温度係数を示す基準電圧Ｖｏｕｔを得ることができ
るのは明白である。
である。図１に示した従来の基準電圧回路１０１より出
力される基準電圧の温度特性が広い温度範囲で一定とな
るよう温度補正回路１０２によって補正した。しかし基
準電圧回路１０１のｎチャネル・デプレション型ＭＯＳ
トランジスタ１０３とｎチャネル・エンハンスメント型
ＭＯＳトランジスタ１０９のサイズ比および、温度補正
回路１０２内の抵抗１１２、あるいはカレントミラー１
１４を構成しているｐチャネル・エンハンスメント型Ｍ
ＯＳトランジスタ１０７、１０８のサイズ比を調節する
ことにより、図４のように任意でかつ広い温度範囲で一
定の温度係数を示す基準電圧Ｖｏｕｔを得ることができ
るのは明白である。
【００１７】第二実施例についても同様にｐチャネル・
デプレション型ＭＯＳトランジスタ１１７とｐチャネル
・エンハンスメント型ＭＯＳトランジスタ１２３のサイ
ズ比および、抵抗１２６あるいはｎチャネル・エンハン
スメント型ＭＯＳトランジスタ１２１、１２２のサイズ
比を調節することにより、任意でかつ広い温度範囲で一
定の温度係数を示す基準電圧Ｖｏｕｔを得ることができ
るのは明白である。
デプレション型ＭＯＳトランジスタ１１７とｐチャネル
・エンハンスメント型ＭＯＳトランジスタ１２３のサイ
ズ比および、抵抗１２６あるいはｎチャネル・エンハン
スメント型ＭＯＳトランジスタ１２１、１２２のサイズ
比を調節することにより、任意でかつ広い温度範囲で一
定の温度係数を示す基準電圧Ｖｏｕｔを得ることができ
るのは明白である。
【００１８】
【発明の効果】本発明の基準電圧回路は、半導体集積回
路内に温度特性の改善された高精度な基準電圧を発生さ
せることができる。
路内に温度特性の改善された高精度な基準電圧を発生さ
せることができる。
【図１】本発明の第一実施例の基準電圧回路の回路図で
ある。
ある。
【図２】本発明の基準電圧回路の出力電圧Ｖｏｕｔの温
度特性図である。
度特性図である。
【図３】本発明の第二実施例の基準電圧回路の回路図で
ある。
ある。
【図４】本発明の第三実施例の出力電圧Ｖｏｕｔの温度
特性図である。
特性図である。
【図５】従来の基準電圧回路の回路図である。
【図６】従来の基準電圧回路の出力電圧Ｖｏｕｔの温度
特性を示す図である。
特性を示す図である。
１０１、１１５ 基準電圧回路 １０２、１１６ 温度補正回路 １０３ ｎチャネル・デプレ
ション型ＭＯＳトランジスタ １０４〜１０８、１２３〜１２５ ｐチャネル・エンハ
ンスメント型ＭＯＳトランジスタ １０９〜１１１、１１８〜１２２ ｎチャネル・エンハ
ンスメント型ＭＯＳトランジスタ １１２、１２６ 抵抗素子 １１３、１１４、１２７、１２８ カレントミラー回路 １１７ ｐチャネル・デプレ
ション型ＭＯＳトランジスタ ２０１ ｎチャネル・デプレ
ション型ＭＯＳトランジスタ ２０２、２０３ ｐチャネル・エンハ
ンスメント型ＭＯＳトランジスタ ２０４ ｎチャネル・エンハ
ンスメント型ＭＯＳトランジスタ ２０５ カレントミラー回路
ション型ＭＯＳトランジスタ １０４〜１０８、１２３〜１２５ ｐチャネル・エンハ
ンスメント型ＭＯＳトランジスタ １０９〜１１１、１１８〜１２２ ｎチャネル・エンハ
ンスメント型ＭＯＳトランジスタ １１２、１２６ 抵抗素子 １１３、１１４、１２７、１２８ カレントミラー回路 １１７ ｐチャネル・デプレ
ション型ＭＯＳトランジスタ ２０１ ｎチャネル・デプレ
ション型ＭＯＳトランジスタ ２０２、２０３ ｐチャネル・エンハ
ンスメント型ＭＯＳトランジスタ ２０４ ｎチャネル・エンハ
ンスメント型ＭＯＳトランジスタ ２０５ カレントミラー回路
Claims (2)
- 【請求項１】 同一導電型のデプレション型ＭＯＳトラ
ンジスタとエンハンスメント型ＭＯＳトランジスタより
構成される基準電圧回路と、温度を感知して補正を行う
温度補正回路から成り、前記基準電圧回路の出力電圧の
温度特性を前記温度補正回路で補正することにより基準
電圧の温度特性を改善することを特徴とする基準電圧回
路。 - 【請求項２】 基準電圧回路の出力電圧の温度特性を温
度補正回路で補正することにより、任意でかつ広い温度
範囲で一定の温度係数を示す基準電圧を得る請求項１記
載の基準電圧回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30073397A JP3454693B2 (ja) | 1997-10-31 | 1997-10-31 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30073397A JP3454693B2 (ja) | 1997-10-31 | 1997-10-31 | 半導体集積回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11134051A true JPH11134051A (ja) | 1999-05-21 |
| JP3454693B2 JP3454693B2 (ja) | 2003-10-06 |
Family
ID=17888455
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30073397A Expired - Lifetime JP3454693B2 (ja) | 1997-10-31 | 1997-10-31 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3454693B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100776160B1 (ko) | 2006-12-27 | 2007-11-12 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 밴드갭 기준전압 생성장치 |
| KR100825956B1 (ko) | 2006-11-07 | 2008-04-28 | 한양대학교 산학협력단 | 기준전압 발생기 |
| JP2008129717A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | New Japan Radio Co Ltd | 基準電圧回路 |
| KR100848740B1 (ko) * | 2001-02-15 | 2008-07-25 | 세이코 인스트루 가부시키가이샤 | 기준 전압 회로 |
| KR20110033795A (ko) | 2009-09-25 | 2011-03-31 | 세이코 인스트루 가부시키가이샤 | 기준 전압 회로 |
| US9436195B2 (en) | 2012-06-07 | 2016-09-06 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device having voltage generation circuit |
| JP2017173878A (ja) * | 2016-03-18 | 2017-09-28 | エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 | 基準電圧発生回路 |
-
1997
- 1997-10-31 JP JP30073397A patent/JP3454693B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| KR100848740B1 (ko) * | 2001-02-15 | 2008-07-25 | 세이코 인스트루 가부시키가이샤 | 기준 전압 회로 |
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| KR100776160B1 (ko) | 2006-12-27 | 2007-11-12 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 밴드갭 기준전압 생성장치 |
| KR20110033795A (ko) | 2009-09-25 | 2011-03-31 | 세이코 인스트루 가부시키가이샤 | 기준 전압 회로 |
| US8174309B2 (en) | 2009-09-25 | 2012-05-08 | Seiko Instruments Inc. | Reference voltage circuit |
| US9436195B2 (en) | 2012-06-07 | 2016-09-06 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device having voltage generation circuit |
| CN106951020A (zh) * | 2012-06-07 | 2017-07-14 | 瑞萨电子株式会社 | 具有电压生成电路的半导体器件 |
| US10152078B2 (en) | 2012-06-07 | 2018-12-11 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device having voltage generation circuit |
| JP2017173878A (ja) * | 2016-03-18 | 2017-09-28 | エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 | 基準電圧発生回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3454693B2 (ja) | 2003-10-06 |
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