JPH0933975A

JPH0933975A - 補正光学装置

Info

Publication number: JPH0933975A
Application number: JP20676995A
Authority: JP
Inventors: Koichi Washisu; 晃一鷲巣
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1995-07-21
Filing date: 1995-07-21
Publication date: 1997-02-07

Abstract

(57)【要約】【課題】防振時と非防振時の光学性能の変化を無く
す。【解決手段】光軸を偏心させる補正手段の重心の位置
関係で発生する偶力（図５の矢印６３方向の）を受ける
制限部７９Ａを設け、該制限部によって補正手段の重心
の位置関係で発生する偶力を受け止め、前記偶力により
前記補正手段７５の傾き（光軸と直交する方向に対す
る）が生じないようにしている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、カメラ等の光学機
器に搭載され、振動に起因する像振れを補正する為の補
正光学装置の改良に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】現在のカメラは露出決定やピント合せ等
の撮影にとって重要な作業は全て自動化されているた
め、カメラ操作に未熟な人でも撮影失敗を起す可能性は
非常に少なくなっている。

【０００３】また、最近では、カメラに加わる手振れを
防ぐシステムも研究されており、撮影者の撮影失敗を誘
発する要因は殆ど無くなってきている。

【０００４】ここで、手振れを防ぐシステムについて簡
単に説明する。

【０００５】撮影時のカメラの手振れは、周波数として
通常１Ｈｚ乃至１２Ｈｚの振動であるが、シャッタのレ
リーズ時点においてこのような手振れを起していても像
振れの無い写真を撮影可能とする為の基本的な考えとし
て、上記手振れによるカメラの振動を検出し、その検出
値に応じて補正レンズを変位させてやらなければならな
い。従って、カメラの振れが生じても像振れを生じない
写真を撮影できることを達成するためには、第１にカメ
ラの振動を正確に検出し、第２に手振れによる光軸変化
を補正することが必要となる。

【０００６】この振動（カメラ振れ）の検出は、原理的
にいえば、角加速度，角速度，角変位等を検出する振動
検出手段と、該センサの出力信号を電気的或は機械的に
積分して角変位を出力するカメラ振れ検出手段とをカメ
ラに搭載することによって行うことができる。そして、
この検出情報に基づいて撮影光軸を偏心させる補正光学
機構を駆動させることにより、像振れ抑制が可能とな
る。

【０００７】ここで、振動検出手段を用いた防振システ
ムについて、図７を用いてその概要を説明する。

【０００８】図７の例は、図示矢印８１方向のカメラ縦
振れ８１ｐ及び横振れ８１ｙに由来する像振れを抑制す
るシステムの図である。

【０００９】同図中、８２はレンズ鏡筒、８３ｐ，８３
ｙは各々カメラ縦振れ振動、カメラ横振れ振動を検出す
る振動検出手段で、それぞれの振動検出方向を８４ｐ，
８４ｙで示してある。８５は補正（光学）手段（８６
ｐ，８６ｙは各々補正手段８５に推力を与えるコイル、
８６ｐ，８６ｙは補正手段８５の位置を検出する位置検
出素子）であり、該補正手段８５には後述する位置制御
ループを設けており、振動検出手段８３ｐ，８３ｙの出
力を目標値として駆動され、像面８８での安定を確保す
る。

【００１０】図８はかかる目的に好的に用いられる補正
手段の構造を示す分解斜視図であり、以下図９〜図１６
を参照しつつ、この構造について説明する。

【００１１】地板７１（図１０に拡大図あり）の背面突
出耳７１ａ〔３ケ所（１ケ所は隠れて見えない）〕は不
図示の鏡筒に嵌合し、公知の鏡筒コロ等が孔７１ｂにネ
ジ止めされ、鏡筒に固定される。

【００１２】磁性体であり光択メッキが施された第２ヨ
ーク７２は、孔７２ａを貫通するネジで地板７１の孔７
１ｃにネジ止めされる。又、第２ヨーク７２にはネオジ
ウムマグネット等の永久磁石（シフト用マグネット）７
３が磁気的に吸着されている。尚、各永久磁石７３の磁
化方向は図８に図示した矢印７３ａの方向である。

【００１３】レンズ７４がＣリング等で固定された支持
枠７５（図１１に拡大図あり）にはコイル７６ｐ，７６
ｙ（シフト用コイル）がパッチン接着（強引に押し込ま
れて接合された状態を意味する）され（図１１は未接
着）、又、ＩＲＥＤ等の投光素子７７ｐ，７７ｙも支持
枠７５の背面に接着され、スリット７５ａｐ，７５ａｙ
を通してその射出光が後述するＰＳＤ等の位置検出素子
７８ｐ，７８ｙに入射する。

【００１４】図９は補正手段の組立後の横断面図であ
り、該図を用いて補正手段の組立について説明する。

【００１５】支持枠７５の孔７５ｂ´にボールベアリン
グ等の支持球７９ｂ（３ケ所）を例えばフッソ系のグリ
スを塗布して仮止めする。この状態で、図８に戻って、
支持枠７５の軸受部７５ｄにＬ字形の軸７１１（非磁性
のステンレス材）をグリスを塗布して挿入し、他端を地
板７１に形成された軸受部７１ｄ（同様にグリス塗布）
に挿入し、３ケ所の支持球７９ｂを共に第２ヨーク７２
に乗せて支持枠７５を地板７１内に収める。

【００１６】この後、支持枠７５の孔７５ｂにチャージ
バネ７１０，ボールベアリング等の支持球７９ａの順に
組み入れる。

【００１７】次に、支持枠７５の軸受部７５ｄには例え
ばフッソ系のグリスを塗布し、ここにＬ字形の軸７１１
（非磁性のステンレス材）を挿入し（図８参照）、Ｌ字
軸７１１の他端は地板７１に形成された軸受部７１ｄ
（同様にグリスを塗布し）に挿入する。

【００１８】次に、図８に示す第１ヨーク７１２の位置
決め孔７１２ａ（３ケ所）を地板７１の図１０に示すピ
ン７１ｆ（３ケ所）に嵌合させ、同じく図１０に示す受
け面７１ｅ（５ケ所）にて第１ヨーク７１２を受けて地
板７１に対し磁気的に結合する（永久磁石７３の磁力に
より）。

【００１９】これにより、第１ヨーク７１２の背面が支
持球７９ａと当接し、図９に示す様に支持枠７５は第１
ヨーク７１２と第２ヨーク７２にて挟持され、光軸方向
の位置決めが為される。

【００２０】支持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１
２，第２ヨーク７２の互いの当接面にもフッソ系グリス
が塗布してあり、支持枠７５は地板７１に対して光軸と
直交する平面内にて自由に摺動可能である。

【００２１】尚、チャージバネ７１０は第１ヨーク７２
に挟まれチャージされ、レンズ７４は第２ヨーク７２側
に片寄せされ、位置を安定化させられている。

【００２２】上記Ｌ字軸７１１は支持枠７５が地板７１
に対し矢印７１３ｐ，７１３ｙ方向にのみ摺動可能に支
持していることになり、これにより支持枠７５の地板７
１に対する光軸回りの相対的回転（ローリング）を規制
している。

【００２３】尚、前記Ｌ字軸７１１と軸受部７１ｄ，７
５ｄの嵌合ガタは光軸方向には大きく設定しており、支
持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１２，第２ヨーク７
２の挾持による光軸方向規制と重複嵌合してしまうこと
を防いでいる。

【００２４】前記第１ヨーク７１２の表面には絶縁用シ
ート７１４が被せられ、その上に複数のＩＣを有するハ
ード基板７１５（位置検出素子７８ｐ，７８ｙ、出力増
幅用ＩＣ，コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用ＩＣ等）が位置
決め孔７１５ａ（２ケ所）を地板７１の図１０に示すピ
ン７１ｈ（２ケ所）に嵌合され、孔７１５ｂ，第１ヨー
ク７１２の孔７１２ｂとともに地板７１の孔７１ｇにネ
ジ結合される。

【００２５】ここで、ハード基板７１５には位置検出素
子７８ｐ，７８ｙが工具にて位置決めされて半田付けさ
れ、又信号伝達用のフレキシブル基板７１６も面７１６
ａがハード基板７１５の背面に破線で囲む範囲７１５ｃ
（図８参照）に熱により圧着される。

【００２６】前記フレキシブル基板７１６から光軸と直
交する平面方向に一対の腕７１６ｂｐ，７１６ｂｙが延
出しており、各々支持枠７５の引っ掛け部７５ｅｐ，７
５ｅｙ（図１１参照）に引っ掛けられ、投光素子７７
ｐ，７７ｙの端子及びコイル７６ｐ，７６ｙの端子が半
田付けされる。

【００２７】これにより、ＩＲＥＤ等の投光素子７７
ｐ，７７ｙ、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動はハード基板
７１５よりフレキシブル基板７１６を介在して行われる
ことになる。

【００２８】前記フレキシブル基板７１６の腕部７１６
ｂｐ，７１６ｂｙ（図８参照）には各々屈折部７１６ｃ
ｐ，７１６ｃｙを有しており、この屈折部の弾性により
支持枠７５が光軸と直交する平面内に動き回る事に対す
る該腕部７１６ｂｐ，７１６ｂｙの負荷を低減してい
る。

【００２９】前記第１ヨーク７１２は型抜きによる突出
面７１２ｃを有し、該突出面７１２ｃは絶縁シート７１
４の孔７１４ａを通り、ハード基板７１５と直接接触し
ている。この接触面のハード基板７１５側にはアース
（ＧＮＤ：グランド）パターンが形成されており、ハー
ド基板７１５を地板にネジ結合する事で第１ヨーク７１
２はアースされ、アンテナになってハード基板７１５に
ノイズを与える事を無くしている。

【００３０】図８に示すマスク７１７は地板７１のピン
７１ｈに位置決めされ、前記ハード基板７１５上に両面
テープにて固定される。

【００３１】前記地板７１には永久磁石貫通孔７１ｉ
（図８，図１０参照）が開けられており、ここから第２
ヨーク７２の背面が露出している。そして、この貫通孔
７１ｉに永久磁石７１８（ロック用マグネット）が組み
込まれ、第２ヨーク７２と磁気結合している（図９参
照）。

【００３２】ロックリング７１９（図８，図９，図１２
参照）にはコイル７２０（ロック用コイル）が接着さ
れ、又ロックリング７１９の耳部７１９ａの背面には軸
受７１９ｂ（図１３参照）があり、アマーチャピン７２
１（図８参照）にアマーチュアゴム７２２を通し、該ア
マーチュアピン７２１を軸受７１９ｂに通した後、該ア
マーチュアピン７２１にアマーチュアバネ７２３を通
し、アマーチュア７２４に嵌入してカシメ固定する。

【００３３】従って、アマーチュア７２４はアマーチュ
アバネ７２３のチャージ力に逆らってロックリング７１
９に対し矢印７２５方向に摺動出来る。

【００３４】図１３は組立終了後の補正手段を、図８の
背面方向から見た平面図であり、この図において、ロッ
クリング７１９の外径切り欠き部７１９ｃ（３ケ所）を
地板７１の内径突起７１ｊ（３ケ所）に合せてロックリ
ング７１９を地板７１に押し込み、その後ロックリング
を時計方向に回して抜け止めを行う公知のバヨネット結
合により、ロックリング７１９は地板７１に取り付いて
いる。

【００３５】従って、ロックリング７１９は地板７１に
対し光軸回りに回転可能である。しかし、ロックリング
７１９が回転して再びその切り欠き７１９ｃが突起７１
ｊと同位相になり、バヨネット結合が外れてしまうのを
防ぐ為にロックゴム７２６（図８，図１３参照）を地板
７１に圧入して、該ロックリング７１９がロックゴム７
２６に規制される切り欠き部７１９ｄの角度θ（図１３
参照）しか回転出来ない様に回転規制している。

【００３６】磁性体のロック用ヨーク７２７（図８参
照）にも永久磁石７１８（ロック用マグネット）が取り
付けられ、その孔７２７ａ（２ケ所）を地板７１のピン
７１ｋ（図１３参照）に嵌合して嵌め込み、孔７２７ｂ
（２ケ所）と７１ｎ（２ケ所）によりねじ結合してい
る。

【００３７】地板７１側の永久磁石７１８とロック用ヨ
ーク７２７側の永久磁石７１８、及び、第２のヨーク７
２，ロック用ヨーク７２７により、公知の閉磁路を形成
している。

【００３８】又、前記ロックゴム７２６はロック用ヨー
ク７２７がネジ結合される事で抜け止めされる。尚、図
１３においては上記の説明の為にロックヨーク７２７は
省いて図示している。

【００３９】前記ロックリング７１９のフック７１９ｅ
と地板７１のフック７１ｍ間（図１３参照）にはロック
バネ７２８が掛けられており、ロックリング７１９を時
計まわりに付勢している。吸着ヨーク７２９（図８，図
１３参照）には吸着コイル７３０が差し込まれ、地板７
１の孔７２９ａによりネジ結合される。

【００４０】コイル７２０の端子及び吸着コイル７３０
の端子は、例えば４本縒り線のテトロン被覆線のツイス
トペア構成にしてフレキシブル基板７１６の幹部７１６
ｄに半田付けされる。

【００４１】前記ハード基板７１５上のＩＣ７３１ｐ，
７３１ｙは各々位置検出端子７８ｐ，７８ｙの出力増幅
用のＩＣであるが、その内部構成は図１９の様になって
いる（ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙは同構成の為、ここでは
７３１ｐのみ示す）。

【００４２】図１４において、電流−電圧変換アンプ７
３１ａｐ，７３１ｂｐは投光素子７７ｐにより位置検出
素子７８ｐ（抵抗Ｒ１，Ｒ２より成る）に生じる光電流
７８ｉ１ｐ，７８ｉ２ｐを電圧に変換し、差動アンプ７
３１ｃｐは各電流−電圧変換アンプ７３１ａｐ，７３１
ｂｐの差出力を求め増幅している。

【００４３】投光素子７７ｐ，７７ｙの射出光は、前述
した通り、スリット７５ａｐ，７５ａｙを経由して位置
検出素子７８ｐ，７８ｙ上に入射するが、支持枠７５が
光軸と垂直な平面内で移動すると位置検出素子７８ｐ，
７８ｙへの入射位置が変化する。

【００４４】前記位置検出素子７８ｐは矢印７８ａｐ方
向（図８参照）に感度を持っており、又スリット７５ａ
ｐは矢印７８ａｐとは直交する方向（７８ａｙ方向）に
光束が拡がり、矢印７８ａｐ方向には光束が絞られる形
状をしている為、支持枠７５が矢印７１３ｐ方向に動い
た時のみ該位置検出素子７８ｐの光電流７８ｉ₁ ｐ，７
８ｉ₂ ｐのバランスは変化し、差動アンプ７３１ｃｐは
支持枠７５の矢印７１３ｐ方向に応じた出力をする。

【００４５】又位置検出素子７８ｙは矢印７８ａｙ方向
（図８参照）に検出感度を持ち、スリット７５ａｙは矢
印７８ａｙとは直交する方向（７８ａｐ方向）に延出す
る形状の為に、支持枠７５が矢印７１３ｙ方向に動いた
時のみ該位置検出素子７８ｙは出力を変化させる。

【００４６】加算アンプ７３１ｄｐは電流−電圧変換ア
ンプ７３１ａｐ，７３１ｂｐの出力の和（位置検出素子
７８ｐの受光量総和）を求め、この信号を受ける駆動ア
ンプ７３１ｅｐはこれに従って投光素子７７ｐを駆動す
る。

【００４７】上記投光素子７７ｐは温度等に極めて不安
定にその投光量が変化する為、それに伴い位置検出素子
７８ｐの光電流７８ｉ₁ ｐ，７８ｉ₁ ｐの絶対量（７８
ｉ₁ｐ＋７８ｉ₂ ｐ）が変化する。その為、支持枠７５
の位置を示す（７８ｉ₁ ｐ−７８ｉ₂ ｐ）である差動ア
ンプ７３１ｃｐの出力も変化してしまう。

【００４８】しかし、上記の様に受光量の総和が一定と
なる様に前述の駆動回路によって投光素子７７ｐを制御
すれば、差動アンプ７３１ｃｐの出力変化が無くなる。

【００４９】図８に示すコイル７６ｐ，７６ｙは永久磁
石７３，第１のヨーク７１２，第２のヨーク７２で形成
される閉磁路内に位置し、コイル７６ｐに電流を流す事
で支持枠７５は矢印７１３ｐ方向に駆動され（公知のフ
レミングの左手の法則）、コイル７６ｙに電流を流す事
で支持枠７５は矢印７１３ｙ方向に駆動される。

【００５０】一般に位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力
をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙで増幅し、その出力でコイル
７６ｐ，７６ｙを駆動すると、支持枠７５が駆動されて
位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が変化する構成とな
る。

【００５１】ここで、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動方向
（極性）を位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が小さく
なる方向に設定すると（負帰還）、該コイル７６ｐ，７
６ｙの駆動力により位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力
がほぼ零になる位置で支持枠７５は安定する。

【００５２】この様に位置検出出力を負帰還して駆動を
行う手法を位置制御手法と云い、例えば外部から目標値
（例えば手振れ角度信号）をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙに
混合させると、支持枠７５は目標値に従って極めて忠実
に駆動される。

【００５３】実際には差動アンプ７３１ｃｐ，７３１ｃ
ｙの出力はフレキシブル基板７１６を経由して不図示の
メイン基板に送られ、そこでアナログ−ディジタル変換
（Ａ／Ｄ変換）が行われ、マイコンに取り込まれる。

【００５４】マイコン内では適宜目標値（手振れ角度信
号）と比較増幅され、公知のディジタルフィルタ手法に
よる位相進み補償（位置制御をより安定させる為）が行
われた後、再びフレキシブル基板７１６を通り、ＩＣ７
３２（コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用）に入力する。ＩＣ
７３２は入力される信号を基に前記コイル７６ｐ，７６
ｙを公知のＰＷＭ（パルス幅変調）駆動を行い、支持枠
７５を駆動する。

【００５５】支持枠７５は前述した様に矢印７１３ｐ，
７１３ｙ方向に摺動可能であり、上述した位置制御手法
により位置を安定させている訳であるが、カメラ等の民
生用光学機器においては電源消耗防止の観点からも常に
該支持枠７５を制御しておく事は出来ない。

【００５６】また、支持枠７５は非制御状態時には光軸
と直交する平面内にて自由に動き回る事が出来る様にな
る為、その時のストローク端での衝突の音発生や損傷に
対しても対策しておく必要がある。

【００５７】図１１及び図１３に示す様に支持枠７５の
背面には３ケ所の放射状に突出した突起７５ｆを設けて
あり、図１３に示す様に突起７５ｆの先端がロックリン
グ７１９の内周面７１９ｇに嵌合している。従って、支
持枠７５は地板７１に対して全ての方向に拘束されてい
る。

【００５８】図１５（ａ），（ｂ）はロックリング７１
９と支持枠７５の動作の関係を示す平面図であり、図１
３の平面図から要部のみ抜出した図である。尚、説明を
解り易くする為に実際の組立状態とは若干レイアウトを
変化させている。又、図１５（ａ）のカム７１９ｆ（３
ケ所）は、図９，図１２に示す通り、ロックリング７１
９の円筒の母線方向全域に渡って設けられている訳では
ないので図１５の方向からは実際には見えないが、説明
の為に図示している。

【００５９】図９に示した通り、コイル７２０（７２０
ａは図示しないフレキシブル基板等でロックリング７１
９の外周を通り、端子７１９ｈよりフレキシブル基板７
１６の幹部７１６ｄ上の端子７１６ｅに接続される４本
縒り線の引き出し線）は永久磁石７１８で挟まれた閉磁
路内に入っており、コイル７２０に電流を流す事でロッ
クリング７１９を光軸回りに回転させるトルクを発生す
る。

【００６０】このコイル７２０の駆動も不図示のマイコ
ンからフレキシブル基板７１６を介してハード基板７１
５上の駆動用ＩＣ７３３に入力する指令信号で制御さ
れ、ＩＣ７３３はコイル７２０をＰＷＭ駆動する。

【００６１】図１５（ａ）において、コイル７２０に通
電するとロックリング７１９に反時計回りのトルクが発
生する様にコイル７２０の巻き方向が設定されており、
これによりロックリング７１９はロックバネ７２８のバ
ネ力に逆らって反時計方向に回転する。

【００６２】尚、ロックリング７１９は、コイル７２０
に通電前はロックバネ７２８の力によりロックゴム７２
６に当接して安定している。

【００６３】ロックリング７１９が回転すると、アマー
チュア７２４が吸着ヨーク７２９に当接してアマーチュ
アバネ７２３を縮め、吸着ヨーク７２９とアマーチュア
７２４の位置関係をイコライズしてロックリング７１９
は図１５（ｂ）の様に回転を止める。

【００６４】図１６はロックリング駆動のタイミングチ
ャートである。

【００６５】図１６の矢印７１９ｉでコイル７２０に通
電（７２０ｂに示すＰＷＭ駆動）すると同時に吸着マグ
ネット７３０にも通電（７３０ａ）する。その為、吸着
ヨーク７２９にアマーチュア７２４が当接し、イコライ
ズされた時点でアマーチュア７２４は吸着ヨーク７２９
に吸着される。

【００６６】次に、図１６の７２０ｃに示す時点でコイ
ル７２０への通電を止めると、ロックリング７１９はロ
ックバネ７２８の力で時計回りに回転しようとするが、
上述した様にアマーチュア７２４が吸着ヨーク７２９に
吸着されている為、回転は規制される。この時、支持枠
７５の突起７５ｆはカム７１９ｆと対向する位置に在る
（カム７１９ｆが回転して来る）為、支持枠７５は突起
７５ｆとカム７１９ｆの間のクリアランス分だけ動ける
様になる。

【００６７】この為、重力Ｇ〔図１５（ｂ）参照〕の方
向に支持枠７５が落下する事になるが、図１６の矢印７
１９ｉの時点で支持枠７５も制御状態にする為、落下す
る事は無い。

【００６８】支持枠７５は非制御時はロックリング７１
９の内周で拘束されているが、実際には突起７５ｆと内
周壁７１９ｇの嵌合ガタ分だけガタを有する。即ち、こ
のガタ分だけ支持枠７５は重力Ｇ方向に落ちており、支
持枠７５の中心と地板７１の中心がズレている事にな
る。

【００６９】その為、矢印７１９ｉの時点から例えば１
秒費やしてゆっくり地板７１の中心（光軸の中心）に移
動させる制御をしている。

【００７０】これは急激に中心に移動させるとレンズ７
４を通して像の揺れを撮影者が感じて不快である為であ
り、この間に露光が行われても、支持枠７５の移動によ
る像劣化が生じない様にする為である。（例えば１／８
秒で支持枠を５μｍ移動させる）詳しくは、図１６の矢印７１９ｉ時点での位置検出素子
７８ｐ，７８ｙの出力を記憶し、その値を目標値として
支持枠７５の制御を始め、その後１秒間費やしてあらか
じめ設定した光軸中心の時の目標値に移動してゆく（図
１６の７５ｇ参照）。

【００７１】ロックリング７１９が回転され（アンロッ
ク状態）た後、振動検出手段からの目標値を基にして
（前述した支持枠７５の中心位置移動動作に重なって）
支持枠７５が駆動され、防振が始まる事になる。

【００７２】ここで、防振を終わる為に矢印７１９ｊの
時点で防振オフにすると、振動検出手段からの目標値が
補正手段に入力されなくなり、支持枠７５は中心位置に
制御されて止まる。この時に吸着コイル７３０への通電
を止める（７３０ｂ）。すると、吸着ヨーク７２９によ
るアマーチュア７２４の吸着力が無くなり、ロックリン
グ７１９はロックバネ７２８により時計回りに回転さ
れ、図１５（ａ）の状態に戻る。この時、ロックリング
７１９はロックゴム７２６に当接して回転規制される為
に回転終了時の該ロックリング７１９の衝突音は小さく
抑えられる。

【００７３】その後（例えば２０ｍｓｅｃ後）、補正手
段への制御を断ち、図１６のタイミングチャートは終了
する。

【００７４】図１７は防振システムの概要を示すブロッ
ク図である。

【００７５】図１７において、９１は図８の振動検出手
段８３ｐ，８３ｙであり、振動ジャイロ等の角速度を検
出する振れ検出センサと該振れ検出センサ出力のＤＣ成
分をカットした後に積分して角変位を得るセンサ出力演
算手段より構成される。

【００７６】この振動検出手段９１からの角変位信号は
目標値設定手段９２に入力される。この目標値設定手段
９２は可変差動増幅器９２ａとサンプルホールド回路９
２ｂより構成されており、サンプルホールド回路９２ｂ
は常にサンプル中の為に可変差動増幅器９２ａに入力さ
れる両信号は常に等しく、その出力はゼロである。しか
し、後述する遅延手段９３からの出力で前記サンプルホ
ールド回路９２ｂがホールド状態になると、可変差動増
幅器９２ａはその時点をゼロとして連続的に出力を始め
る。

【００７７】可変差動増幅器９２ａの増幅率は防振敏感
度設定手段９４の出力により可変になっている。何故な
らば、目標値設定手段９２の目標値信号は補正手段を追
従させる目標値（指令信号）であるが、補正手段の駆動
量に対する像面の補正量（防振敏感度）はズーム，フォ
ーカス等の焦点変化に基づく光学特性により変化する
為、その防振敏感度変化を補う為である。

【００７８】従って、防振敏感度設定手段９４は、ズー
ム情報出力手段９５からのズーム焦点距離情報と露光準
備手段９６の測距情報に基づくフォーカス焦点距離情報
が入力され、その情報を基に防振敏感度を演算あるいは
その情報を基にあらかじめ設定した防振敏感度情報を引
き出して、目標値設定手段９２の可変差動増幅器９２ａ
の増幅率を変更させる。

【００７９】補正駆動手段９７はハード基板７１５上に
実装されたＩＣ７３１ｐ，７３１ｙ，７３２であり、目
標値設定手段９２からの目標値が指令信号７３０ｐ，７
３０ｙとして入力される。

【００８０】補正起動手段９８はハード基板７１５上の
ＩＣ７３２とコイル７６ｐ，７６ｙの接続を制御するス
イッチであり、通常時はスイッチ９８ａを端子９８ｃに
接続させておく事でコイル７６ｐ，７６ｙの各々の両端
を短絡しておき、論理積手段９９の信号が入力されると
スイッチ９８ａを端子９８ｂに接続し、補正手段９１０
を制御状態（未だ振れ補正は行わないが、コイル７６
ｐ，７６ｙに電力を供給し、位置検出素子７８ｐ，７８
ｙの信号がほぼゼロになる位置に補正手段９１０を安定
させておく）にする。又この時同時に論理積手段９９の
出力信号は係止手段９１４にも入力し、これにより係止
手段は補正手段９１０を係止解除する。

【００８１】尚、補正手段９１０はその位置検出素子７
８ｐ，７８ｙの位置信号を補正駆動手段９７に入力し、
前述した様に位置制御を行っている。

【００８２】論理積手段９９はレリーズ手段９１１のレ
リーズ半押しＳＷ１信号と防振切換手段９１２の出力信
号の両信号が入力された時に、その構成要素であるアン
ドゲード９９ａが信号を出力する。つまり、防振切換手
段９１２の防振スイッチを撮影者が操作し、且つレリー
ズ手段９１１でレリーズ半押しを行った時に補正手段９
１０は係止解除され、制御状態になる。

【００８３】レリーズ手段９１１のＳＷ１信号は露光準
備手段９６に入力され、これにより測光，測距，レンズ
合焦駆動が行われる共に、前述した様に防振敏感度設定
手段９４にフォーカス焦点距離情報が入力される。

【００８４】遅延手段９３は論理積手段９９の出力信号
を受けて、例えば１秒後に出力して前述した様に目標値
設定手段９２より目標値信号を出力させる。

【００８５】図示していないが、レリーズ手段９１１の
ＳＷ１信号に同期して振動検出手段９１も起動を始め
る。そして、前述した様に積分器等、大時定回路を含む
センサ出力演算は起動から出力が安定する迄に、ある程
度の時間を要する。

【００８６】前記遅延手段９３は前記振動検出手段９１
の出力が安定する迄待機した後に、補正手段９１０へ目
標値信号を出力する役割を演じ、振動検出手段９１の出
力が安定してから防振を始める構成にしている。

【００８７】露光手段９１３はレリーズ手段９１１のレ
リーズ押切りＳＷ２信号入力によりミラーアップを行
い、露光準備手段９６の測光値を元に求められたシャッ
タスピードでシャッタを開閉して露光を行い、ミラーダ
ウンして撮影を終了する。

【００８８】撮影終了後、撮影者がレリーズ手段９１１
から手を離し、ＳＷ１信号をオフにすると、論値積手段
９９は出力を止め、目標値設定手段９２のサンプルホー
ルド回路９２ｂはサンプリング状態になり、可変差動増
幅器９２ａの出力はゼロになる。従って、補正手段９１
０は補正駆動を止めた制御状態に戻る。

【００８９】論理積手段９９の出力がオフになった事に
より、係止手段９１４は補正手段９１０を係止し、その
後に補正起動手段９８のスイッチ９８ａは端子９８ｃに
接続され、補正手段９１０は制御されなくなる。

【００９０】振動検出手段９１は、不図示のタイマによ
り、レリーズ手段９１１の操作が停止された後も一定時
間（例えば５秒）は動作を継続し、その後に停止する。
これは、撮影者がレリーズ操作を停止した後に引き続き
レリーズ操作を行う事は頻繁にあるわけで、その様な時
に毎回振動検出手段９１を起動するのを防ぎ、その出力
安定迄の待機時間を短くする為であり、振動検出手段９
１が既に起動している時には該振動検出手段９１は起動
既信号を遅延手段９３に送り、その遅延時間を短くして
いる。

【００９１】

【発明が解決しようとする課題】図９に示した様な支持
球７９ａ，７９ｂ、チャージバネ７１０の配置にしたの
は、組立時に図９の紙面左側を上方にして組んでゆく
為、グリスで仮止めできる支持球７９ｂを下方にして、
組込み時にチャージバネ７１０及び支持球７９ａが上方
になり、これらが落下してしまう事を防ぐ為であり、第
１のヨーク７１２を取り付ける事で、支持球７９ａ，７
９ｂ，チャージバネ７１０は支持枠７５から外れなくな
る。

【００９２】チャージバネ７１０のチャージ力は３ケ所
の合力で支持枠７５及びレンズ７４の重さ以上の力を出
しており、補正手段がどの姿勢になっても支持枠７５及
びレンズ７４を第２ヨーク７２側に付勢して、光学系の
安定を図っている。

【００９３】しかしながら、チャージバネ７１０のチャ
ージ力を１ケ所でレンズ７４の自重を支える位に強くす
ると、支持球７９ａ，７９ｂと当接する第１ヨーク７１
２，第２ヨーク７２間の摺動摩擦が大きくなり、スムー
ズな摺動が出来なくなる。

【００９４】従って、チャージバネ７１０のチャージ力
を３ケ所での合計の力でレンズ７４の自重に耐えるよう
にし、１ケ所ではレンズ７４の自重では撓む程度に設定
したい。

【００９５】図９はロックリング７１９の内周壁７１９
ｇと支持枠７５の突起７５ｆの係合が外れており、支持
枠７５は防振制御可能な状態にあり、支持枠７５は地板
７１に対して適正に挟持されている。

【００９６】ここで、支持枠７５がロックリング７１９
によりロックされている時の横断面を図１８に示す。

【００９７】このときの支持枠７５とレンズ７４の合計
の重心Ｇは、図示の位置にあり、この位置より図１８の
紙面下側に重力による力を受けている。又、ロックリン
グ７１９が支持枠７５を支える位置（係止部）は矢印６
２に示す様に重心より紙面右側に有る為、支持枠７５に
は矢印６１の支持球７９ｂの摺動面を中心にして矢印６
３方向に偶力が発生する。

【００９８】支持枠７５の突起７５ｆが３ケ所ともロッ
クリング７１９の内周壁７１９ｇにしっかり嵌合（噛み
込んでいる）していれば、上記の発生する偶力は支持枠
７５に何ら影響を与えない。

【００９９】しかしながら実際には支持枠７５の突起７
５ｆとロックリング７１９の内周壁７１９ｇ間に多少の
ガタを設けている。

【０１００】何故ならば、支持枠７５をロックリング７
１９にしっかり嵌合させると、次にロック解除する時に
ロックリング７１９の回転負荷が大きくなってしまうか
らである。

【０１０１】その為、図１８の状態では矢印６２の位置
の突起７５ｆと内周壁７１９ｇは当接しているが（重力
による）、他の２ケ所の突起７５ｆは内周壁７１９ｇに
接触していない。この様な時、図１０に示す矢印６３方
向に偶力が発生すると、この偶力によるレンズ７４の傾
きを止めることは出来ない。つまり、前述した様にチャ
ージバネ７１０の１本当たりのチャージ力は弱い為、偶
力により撓んでしまい、支持球７９ａが支持枠内に沈み
込んでしまう為である。

【０１０２】即ち、防振オンの状態で補正手段が係止解
除され制御されている状態の光学性能と、防振オフの補
正手段係止状態の光学性能は変化する事になってしまう
問題があった。

【０１０３】（発明の目的）本発明の第１の目的は、防
振時と非防振時の光学性能の変化を無くすことのできる
補正光学装置を提供することにある。

【０１０４】本発明の第２の目的は、該装置の携帯時や
衝撃が加わることにより弾性手段が撓んで補正手段が沈
み込み、該装置の使用時に弾性手段の付勢によっては補
正手段が元の位置に完全に復帰できず、その後の防振制
御に影響を与えることを防止する事と、前記弾性手段の
付勢力を、防振制御時の補正手段の摺動を滑らかに行え
る位の弱させ設定する事の、両方を満足することのでき
る補正光学装置を提供することにある。

【０１０５】

【課題を解決するための手段】上記第１の目的を達成す
るために、請求項１〜４記載の本発明は、光軸を偏心さ
せる補正手段の重心の位置関係で発生する偶力を受ける
制限部を設け、前記制限部によって補正手段の重心の位
置関係で発生する偶力を受け止め、前記偶力により前記
補正手段が傾き（光軸と直交な方向に対する）が生じな
いようにしている。

【０１０６】具体的には、補正手段を光軸と直交する方
向のみ摺動可能に固定部材に対して挟持する挟持手段を
具備し、この挟持手段を、前記固定部材の光軸と直交す
る互いに離間した第１と第２の平面の間にチャージされ
て納められており、前記補正手段に固定あるいは一体化
され前記第１の平面と摺動する、前記制限部を成す固定
摺動手段，前記第２の平面と摺動すると共に前記補正手
段に対して光軸方向に可動する可動摺動手段、及び、該
可動摺動手段を前記補正手段に対して付勢する弾性手段
により構成し、光軸が偏心しないように前記補正手段を
係止する為の係止手段の係止部が重心位置に対して光軸
像面側にあり、前記補正手段を倒立振り子状態に支持す
る場合は、前記固定部材の各平面が像面側から物体側の
光軸方向に向かって、第２の平面，第１の平面の順にな
るように配設し、前記係止部が重心位置に対して光軸物
体側にあり、前記補正手段を倒立振り子状態に支持する
場合は、前記固定部材の各平面が像面側から物体側の光
軸方向に向かって、第１の平面，第２の平面の順になる
ように配設し、又は、光軸が偏心しないように前記補正
手段を係止する為の係止手段の係止部が重心位置に対し
て光軸像面側にあり、前記補正手段を吊り下げ状態に支
持する場合は、前記固定部材の各平面が像面側から物体
側の光軸方向に向かって、第１の平面，第２の平面の順
になるように配設し、前記係止部が重心位置に対して光
軸物体側にあり、前記補正手段を吊り下げ状態に支持す
る場合は、前記固定部材の各平面が像面側から物体側の
光軸方向に向かって、第２の平面，第１の平面の順にな
るように配設して、つまり、補正手段を倒立振り子状態
に支持する場合は、前記制限部を成す固定摺動手段を係
止部とは重心位置を挟んで反対側に配設し、補正手段を
吊り下げ状態に支持する場合は、前記制限部を成す固定
摺動手段を係止部側に配設して、この制限部によって補
正手段の重心の位置関係で発生する偶力発生を防止し、
前記偶力により前記補正手段が傾きが生じないようにし
ている。

【０１０７】同じく上記第１の目的を達成するために、
請求項７，８記載の本発明は、補正手段を駆動する駆動
手段の駆動力の発生位置と補正手段の重心位置の関係、
或は、係止手段と補正手段の重心位置の関係で発生する
偶力を受ける制限部を設け、前記制限部によって補正手
段の重心の位置関係で発生する偶力を受け止め、前記偶
力により前記補正手段が傾き（光軸と直交な方向に対す
る）が生じないようにしている。

【０１０８】また、上記第２の目的を達成するために、
請求項５及び６記載の本発明は、補正手段を光軸と直交
する方向に摺動可能に挟持する挟持手段を備え、該挟持
手段により、前記補正手段を光軸物体側に付勢するよう
にしている。

【０１０９】具体的には、光軸と直交する互いに離間し
た第１と第２の平面の間にチャージされて納められた挟
持手段を、補正手段に固定あるいは一体化され前記第１
の平面と摺動する固定摺動手段，前記第２の平面と摺動
すると共に前記補正手段に対して光軸方向に可動する可
動摺動手段、及び、該可動摺動手段を前記補正手段に対
して付勢する弾性手段により構成し、前記第１の平面を
光軸物体側に、前記第２の平面を光軸像面側に、それぞ
れ配設、つまり光軸物体側に固定摺動手段が来るように
配設している。

【０１１０】

【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施の形態
に基づいて詳細に説明する。

【０１１１】図１は本発明の実施の第１の形態に係る補
正光学装置の分解斜視図であり、従来の図８と異なるの
は、支持球７９ａ，７９ｂの形状とこれらが挿入される
支持枠７５の孔７５ｂである、よって、本実施の態様に
おいては支持球７９Ａ，７９Ｂとし、孔７５ｂを７５Ｂ
として示すことにする。図２に前記支持球７９Ａ，７９
Ｂを拡大して示してある。

【０１１２】新たな支持球７９Ａ，７９Ｂは例えばＰＯ
Ｍ等で形成され、図２に示す様に、羽根部７９Ａａ，７
９Ｂａを互いに９０度だけ位相をずらして組み込まれ
る。

【０１１３】図３及び図４は補正手段の組立後の横断面
や支持球７９Ａ，７９Ｂ、孔７５Ｂの詳細を示す図であ
り、支持枠７５の支持球７５Ｂ（３ケ所）には上記支持
球７９Ａ，７９Ｂ及びチャージバネ７１０が挿入され、
図３及び図４に示す様に、支持球７９Ａが支持枠７５に
熱カシメされて固定される（支持球７９Ｂはチャージバ
ネ７１０のバネ力に逆らって孔７５Ｂの延出方向に摺動
可能である）。

【０１１４】更に詳述すると、支持枠７５の孔７５Ｂに
矢印７９ｃ方向に支持球７９Ｂ，チャージしたチャージ
バネ７１０，支持球７９Ａの順に挿入してゆき（支持球
７９Ａ，７９Ｂは同形状部品）、最後に孔７５Ｂの周端
部７５Ｃを熱カシメして支持球７９Ａの抜け止めを行
う。尚、図４（ｂ）のＡ〜Ｄは、孔７５Ｂ内に形成され
る各当接部の深さを示している。

【０１１５】以上の様に、支持枠７５に支持球７９Ａ，
７９Ｂ及びチャージバネ７１０が予めチャージされた状
態でセットされる為、その後の組立時に部品の落下問題
を起こす事は無い。

【０１１６】そして、図３及び図４から解かる様に、支
持球７９Ａは支持枠７５に固定されている為、支持枠７
５がロックリング７１９に係止され、図１８に示した様
な矢印６３方向に偶力が働いても、その方向に支持枠７
５が、つまりレンズ７４が傾れる事は無い。

【０１１７】以上の様に、補正手段の重心と係止部の位
置関係で生じる偶力を受ける制限部（図３における支持
枠７５に固定された支持球７９Ａ）を設けた事で、チャ
ージバネ７１０のチャージ力を強くしなくても支持枠７
５の傾きを防ぐことが出来、補正手段の摺動性と光学安
定性を両立させる事が出来た。

【０１１８】尚、図３において、紙面左側にマスク７１
７が取付けられており、この方向が撮影光軸の物体側と
なる。

【０１１９】その為、支持枠７５は地板７１に対し撮影
光軸物体側にチャージバネ７１０で付勢されている事に
なる。そして、この事は次に述べるメリットを生じる。

【０１２０】チャージバネ７１０のチャージ力の合力
は、上述した様に、支持枠７５とレンズ７４の自重を支
えるだけの力は有しているが、さほど余裕がある訳では
無い。その為、チャ−ジバネ７１０を撓ませる方向に撮
影レンズを向け、その状態でその方向に衝撃を与えると
チャージバネ７１０はその瞬間撓む。

【０１２１】支持枠７５は防振を行わない時にはロック
リング７１９の内周壁７１９ｇと突起７５ｆで接触して
おり、この部分に摩擦が生じている。

【０１２２】故にチャージバネ７１０が撓んで、その
後、元に復元する時に支持枠７５が十分に元の位置に戻
らない可能性もある。

【０１２３】レンズを持ち歩く時の状態を考えると、カ
メラボディに装着しカメラボディのストラップを撮影者
の肩に掛けて持ち歩く事が一般的であり、この時レンズ
の撮影光軸は下側（地面側）を向いている。逆に云う
と、レンズを上向（空方向）にして持ち歩く事、及び、
使用する事は希である。

【０１２４】図９の様な従来例においては、カメラを持
ち歩くとき、支持枠７５には物体側に押し付ける力（自
重及び衝撃力）が加わり、それによりチャージバネ７１
０が撓む事がある。

【０１２５】この後、撮影者がレンズを水平にして被写
体を狙っても支持枠７５が十分元の位置に戻っていない
（光学性能が安定していない）事もあり得る。

【０１２６】ところが、図３の様に支持枠７５を撮影光
軸物体側（即ち、持ち歩く時には地面側）に付勢するレ
イアウトにすると、持ち歩く時にチャージバネ７１０が
撓む事が無い為に上述の様な問題は生じない。

【０１２７】（実施の第２の形態）図５は本発明の実施
の第２の形態に係る要部構成を示す図であり、今迄述べ
て来た例と事なるのは、補正手段の係止方法であり、支
持枠７５の内径にロックリング７１９が入り込んでお
り、ロックリング７１９の外周壁７１９ｇと支持枠７５
の突起７５ｆが当接して係止している。

【０１２８】その為、図５の重力状態においては、矢印
４２の部分でロックリング７１９が支持枠７５を吊り下
げ状態に支持している（図１８では矢印６２の部分で当
接し、支持枠７５は倒立振り子状態で支持されてい
る）。

【０１２９】この時、矢印６３方向に偶力により力を大
きく受けるのは矢印４１の支持球７９Ａ（第１の平面４
４と接触して摺動する部材）であり、この支持球７９Ａ
（固定摺動手段）を支持枠７５に対し固定し、反対側の
支持球７９Ｂ（可動摺動手段；第２の平面４３と接触し
て摺動する部材）をチャージバネ７１０でチャージする
事で、支持枠７５の係止時の倒れを防ぐ事が出来る。

【０１３０】以上の様に、補正手段が倒立振り子状態で
係止されるか、或は、吊り下げ状態で係止されるか、
又、その時の重心の位置と係止部の位置関係により、支
持枠７５の地板７１に対する付勢方向を決定して光学性
能を安定させることが出来、逆に云えばレンズを持ち歩
く時を考慮して支持枠７５の付勢方向を決定し、その方
向を基にして重心と係止部の位置関係、及び、係止状態
（倒立振り子、若しくは吊り下げ）を決定し、光学性能
を安定させる事が出来る。

【０１３１】（実施の第３の形態）今迄の実施の形態に
おいては、コイル７６ｐ，７６ｙの推力（駆動力）の発
生位置と補正手段の重心位置はほぼ同一位置に在る事を
前提に述べて来た。

【０１３２】しかし設計上の制約から、必ずしもコイル
７６ｐ，７６ｙ（駆動手段）の駆動力発生位置と重心位
置を一致させることが出来るとは限らない。この様な
時、駆動力の発生位置と重心の駆動力の位置関係から
も、補正手段に偶力が加わる。

【０１３３】この時の駆動手段の位置と支持枠７５の付
勢方向の関係を考える。

【０１３４】図６は重心に対しコイル７６ｐ（駆動手
段）は紙面左側に在り、補正手段は制御時にはコイル７
６ｐにより吊り下げ支持状態になる。その為、重心との
位置関係で生じる偶力５１の力を最も大きく受けるの
は、矢印４６の支持球７９Ａであり、この支持球７９Ａ
を支持枠７５に固定（支持枠７５を紙面左方向に付勢）
する事で、光学性能の安定を図る事が出来る。

【０１３５】次に、コイル７６ｐが図６の光軸を挟んで
下側に付いている時には補正手段は制御中、倒立振り子
支持状態となる為、矢印４７の支持球７９Ｂに大きな偶
力が加わる為、この支持球７９Ｂを支持枠７５に固定
し、同様にコイル７６ｐが重心より右側、光軸より上に
ある時には矢印４８に大きな偶力が加わり、コイル７６
ｐが重心より右側、光軸より下にある時には矢印４９の
支持球７９Ａに大きな偶力が加わる為、この支持球７９
Ａを支持枠７５に固定する事で光学性能を安定化でき
る。

【０１３６】以上、駆動手段の位置（重心より右，左、
光軸より上，下）と、係止部の位置（重心より右，左、
倒立振り子係止、吊り下げ係止）により、支持枠７５の
付勢方向を変化させて光学性能の安定化を図ることが出
来るが、ここで前述した持ち歩く時の安定性を考えて、
支持枠７５を地板７１に対し撮影光軸物体側に付勢して
いる時の駆動手段の位置と係止手段の係止部の位置の望
ましい組合わせを求めてみる。

【０１３７】ａ）駆動手段の位置は重心より撮影光軸物
体側か、重心と一致した補正手段の吊り下げ支持、又
は、重心より撮影光軸像面側か、重心と一致した補正手
段の倒立振り子支持の何れかの位置。

【０１３８】ｂ）係止手段の係止部位置も重心より撮影
光軸物体側か、重心と一致した補正手段の吊り下げ係
止、又は、重心より撮影光軸像面側か、重心と一致した
補正手段の倒立振り子支持の何れかの位置。

【０１３９】以上のレイアウトにする事で、光学性能の
安定化を補正手段の防振性能（摺動性）を損なう事なく
実現可能となる。

【０１４０】以上の実施の各形態によれば、以下の様な
効果を有するものである。

【０１４１】１）補正手段の重心と係止手段の係止部の
位置関係で生じる偶力を受ける制限部を設けることで、
光学性能の安定化が図れ、詳しくは係止部が重心より撮
影光軸像面側にあり補正手段を倒立振り子係止する時
（実施の第１の形態の場合）、あるいは、係止部が重心
より撮影光軸物体側にあり吊下げ係止する時（実施の第
２の形態とは逆の場合）は、補正手段を撮影光軸物体側
に付勢し、係止部が重心より撮影光軸像面側にあり補正
手段を吊下げ係止する時（実施の第２の形態の場合）、
あるいは、係止部が重心より撮影光軸物体側にあり倒立
振り子係止する時（実施の第１の形態とは逆の場合）
は、補正手段を撮影光軸像面側に付勢することで、補正
手段係止時のレンズ倒れによる光学性能の劣化を防ぐこ
とが出来た。

【０１４２】２）補正手段の重心と駆動手段の駆動位置
の関係で生じる偶力を受ける制限部を設けることで、光
学性能の安定化が図れ、詳しくは駆動手段が重心より撮
影光軸物体側にあり補正手段を吊下げ支持する時、ある
いは、駆動手段が重心より撮影光軸像面側にあり倒立振
り子支持する時は、補正手段を撮影光軸物体側に付勢
し、駆動手段が重心より撮影光軸像面側にあり吊下げ支
持、あるいは、駆動手段が重心より撮影光軸物体側にあ
り倒立振り子支持の時は、補正手段を撮影像面側に付勢
することで、補正手段制御時のレンズ倒れによる光学性
能の劣化を防ぐことが出来た。

【０１４３】３）更にレンズを持ち歩くことを考慮し
て、補正手段を撮影手段物体側に付勢して挟持すること
で、光学性能を常に安定化させることが出来る。

【０１４４】（発明と実施の形態との対応）上記の各実
施の形態において、支持球７９Ａ（又は７９Ｂ）が本発
明の制限部に相当し、支持球７９Ａ，チャージバネ７１
０，支持球７９Ｂが本発明の挟持手段に相当し、地板７
１，第１ヨーク７１２，第２ヨーク７２が本発明の固定
部材に相当し、支持枠７５及びレンズ７４が本発明の補
正手段に相当し、コイル７６ｐ，７６ｙが本発明の駆動
手段に相当する。

【０１４５】また、支持球７９Ａ（又は７９Ｂ）が本発
明の固定摺動手段に、支持球７９Ｂ（又は７９Ａ）が可
動摺動手段に、チャージバネが弾性手段に、それぞれ相
当する。

【０１４６】以上が実施の形態における各構成と本発明
の各構成の対応関係であるが、本発明は、これら実施の
形態の構成に限定されるものではなく、請求項で示した
機能、又は実施の形態がもつ機能が達成できる構成であ
ればどのようなものであってもよいことは言うまでもな
い。

【０１４７】（変形例）本発明は、振動検出手段として
は、角加速度計，加速度計，角速度計，速度計，角変位
計，変位計、更には画像振れ自体を検出する方法等、振
れが検出できるものであればどのようなものであっても
良い。

【０１４８】本発明は、振動検出手段と補正手段は、互
いに装着可能な複数の装置、例えばカメラとそれに装着
可能な交換レンズにそれぞれわけて設けることも可能で
ある。

【０１４９】本発明は、請求項または実施の形態の各構
成または一部の構成が別個の装置に設けられていてもよ
い。例えば、振動検出手段がカメラ本体に、補正手段が
前記カメラに装着されるレンズ鏡筒に、それらを制御す
る制御手段が中間アダプタに設けられていてもよい。

【０１５０】また、本発明は、一眼レフカメラ，レンズ
シャッタカメラ，ビデオカメラ等のカメラに適用した場
合を述べているが、その他の光学機器や他の装置、更に
は構成ユニットとしても適用することができるものであ
る。

【０１５１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
制限部によって補正手段の重心の位置関係で発生する偶
力を受け止め、前記偶力により前記補正手段が傾き（光
軸と直交な方向に対する）が生じないようにしている。

【０１５２】よって、防振時と非防振時の光学性能の変
化を無くすことができる。

【０１５３】また、本発明によれば、補正手段を光軸と
直交する方向に摺動可能に挟持する挟持手段を備え、該
挟持手段により、前記補正手段を光軸物体側に付勢する
ようにしている。

【０１５４】よって、該装置の携帯時や衝撃が加わるこ
とにより弾性手段が撓んで補正手段が沈み込み、該装置
の使用時に弾性手段の付勢によっては補正手段が元の位
置に完全に復帰できず、その後の防振制御に影響を与え
ることを防止する事と、前記弾性手段の付勢力を、防振
制御時の補正手段の摺動を滑らかに行える位の弱させ設
定する事の、両方を満足することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の第１の形態に係る補正光学装置
の構成を示す分解斜視図である。

【図２】図１の支持球の構造を示す斜視図である。

【図３】図１の地板に支持枠を組み込んだ時の様子を示
す断面図である。

【図４】図３の挟持手段が挿入される支持枠の孔の形状
を説明する為の図である。

【図５】本発明の実施の第２の形態に係る補正光学装置
の要部構成を示す断面図である。

【図６】本発明の実施の第２の形態に係る補正光学装置
の要部構成を示す断面図である。

【図７】従来の防振システムの概略構成を示す斜視図で
ある。

【図８】図７の補正光学装置の構造を示す分解斜視図で
ある。

【図９】図８の地板に支持枠を組み込んだ時の様子を示
す断面図である。

【図１０】図８に示す地板を示す斜視図である。

【図１１】図８に示す支持枠を示す斜視図である。

【図１２】図８に示すロックリングを示す斜視図であ
る。

【図１３】図８の支持枠等を示す正面図である。

【図１４】図８の位置検出素子の出力を増幅するＩＣの
構成を示す回路図である。

【図１５】図８のロックリングが駆動される地の様子を
示す図である。

【図１６】図１５のロックリング駆動時における信号波
形を示す図である。

【図１７】防振システムが搭載されたカメラの防振系の
回路構成を示すブロック図である。

【図１８】従来の補正光学装置の問題点を説明する為の
図断面図である。

【符号の説明】

７１地板７２第２ヨーク７４レンズ７５支持枠７６ｐ，７６ｙコイル７９Ａ，７９Ｂ支持球７１０チャージバネ７１２第１ヨーク

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光軸を偏心させる補正手段の重心の位置
関係で発生する偶力を受ける制限部を備えた補正光学装
置。
【請求項２】前記制限部は、前記補正手段を光軸と直
交する方向のみ摺動可能に固定部材に対して挟持する挟
持手段に具備されていることを特徴とする請求項１記載
の補正光学装置。
【請求項３】前記挟持手段は、前記固定部材の光軸と
直交する互いに離間した第１と第２の平面の間にチャー
ジされて納められており、前記補正手段に固定あるいは
一体化され前記第１の平面と摺動する、前記制限部を成
す固定摺動手段，前記第２の平面と摺動すると共に前記
補正手段に対して光軸方向に可動する可動摺動手段、及
び、該可動摺動手段を前記補正手段に対して付勢する弾
性手段にて構成され、光軸が偏心しないように前記補正手段を係止する為の係
止手段の係止部が重心位置に対して光軸像面側にあり、
前記補正手段を倒立振り子状態に支持する場合は、前記
固定部材の各平面が像面側から物体側の光軸方向に向か
って、第２の平面，第１の平面の順になるように配設
し、前記係止部が重心位置に対して光軸物体側にあり、
前記補正手段を倒立振り子状態に支持する場合は、前記
固定部材の各平面が像面側から物体側の光軸方向に向か
って、第１の平面，第２の平面の順になるように配設し
たことを特徴とする請求項２記載の補正光学装置。
【請求項４】前記挟持手段は、前記固定部材の光軸と
直交する互いに離間した第１と第２の平面の間にチャー
ジされて納められており、前記補正手段に固定あるいは
一体化され前記第１の平面と摺動する、前記制限部を成
す第１の固定摺動手段，前記第２の平面と摺動すると共
に前記補正手段に対して光軸方向に可動する第２の可動
摺動手段、及び、該可動摺動手段を前記補正手段に対し
て付勢する弾性手段にて構成され、光軸が偏心しないように前記補正手段を係止する為の係
止手段の係止部が重心位置に対して光軸像面側にあり、
前記補正手段を吊り下げ状態に支持する場合は、前記固
定部材の各平面が像面側から物体側の光軸方向に向かっ
て、第１の平面，第２の平面の順になるように配設し、
前記係止部が重心位置に対して光軸物体側にあり、前記
補正手段を吊り下げ状態に支持する場合は、前記固定部
材の各平面が像面側から物体側の光軸方向に向かって、
第２の平面，第１の平面の順になるように配設したこと
を特徴とする請求項２記載の補正光学装置。
【請求項５】光軸を偏心させる補正手段を、光軸と直
交する方向に摺動可能に挟持する挟持手段を有し、該挟
持手段は、前記補正手段を光軸物体側に付勢しているこ
とを特徴とする補正光学装置。
【請求項６】前記挟持手段は、光軸と直交する互いに
離間した第１と第２の平面の間にチャージされて納めら
れており、前記補正手段に固定あるいは一体化され前記
第１の平面と摺動する固定摺動手段，前記第２の平面と
摺動すると共に前記補正手段に対して光軸方向に可動す
る可動摺動手段、及び、該可動摺動手段を前記補正手段
に対して付勢する弾性手段にて構成され、前記第１の平面を光軸物体側に、前記第２の平面を光軸
像面側に、それぞれ配設したことを特徴とする請求項５
記載の補正光学装置。
【請求項７】光軸を偏心させる補正手段と、該補正手
段を駆動する駆動手段と、該駆動手段の駆動力の発生位
置と前記補正手段の重心位置の関係で発生する偶力を受
ける制限部とを備えた補正光学装置。
【請求項８】光軸を偏心させる補正手段と、該補正手
段を係止する係止手段と、該係止手段と前記補正手段の
重心位置の関係で発生する偶力を受ける制限部とを備え
た補正光学装置。