JPH09184918A - 放射偏光光学構造及びそれを有するマイクロリソグラフィ投影露光装置 - Google Patents

放射偏光光学構造及びそれを有するマイクロリソグラフィ投影露光装置

Info

Publication number
JPH09184918A
JPH09184918A JP8271288A JP27128896A JPH09184918A JP H09184918 A JPH09184918 A JP H09184918A JP 8271288 A JP8271288 A JP 8271288A JP 27128896 A JP27128896 A JP 27128896A JP H09184918 A JPH09184918 A JP H09184918A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical structure
optical
polarization
light beam
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8271288A
Other languages
English (en)
Inventor
Karl-Heinz Schuster
カール−ハインツ・シュスター
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss AG
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss SMT GmbH, Carl Zeiss AG filed Critical Carl Zeiss SMT GmbH
Publication of JPH09184918A publication Critical patent/JPH09184918A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70483Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
    • G03F7/7055Exposure light control in all parts of the microlithographic apparatus, e.g. pulse length control or light interruption
    • G03F7/70566Polarisation control
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/28Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising
    • G02B27/283Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising used for beam splitting or combining
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/30Polarising elements
    • G02B5/3083Birefringent or phase retarding elements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光学境界面への均質な入射を損失や散乱光を
少なく抑え、大きな開口をもって可能にし、射出光束の
効率と均質性が最適にされるような光学構造を提供する
こと。 【解決手段】 入射光束を選択ではなく、回転によっ
て、横断面全体でほぼ半径方向に直線偏光された光をも
つ射出光束に変換する光学構造。二分の一波長板(4
1,42,4i)から成るラスタと、半径方向圧縮応力
を受けている応力複屈折四分の一波長板(420)及び
円複屈折45°回転板(430)から成る組合わせを円
錐形偏光子(21′)とも組合わせる。マイクロリソグ
ラフィ投影露光装置においては、この構造を照明部分に
配置するのが好ましい。構造は全ての非対称素子又は偏
光素子(103a)の背後にあることが重要である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、入射光束を横断面
全体でほぼ半径方向に直線偏光された光の射出光束に変
換する光学構造に関する。
【0002】
【従来の技術】マイクロリソグラフィ法において最高の
分解能を達成するためには、開口数が非常に大きい投影
露光装置を設けることが不可欠である。光が非常に大き
い角度を成してレジスト層に入射するとき、外側のレジ
スト境界層での反射によって光の損失が起こるばかりで
なく、レジストとウェハとの境界層と、レジストと空気
との境界層の双方で反射があるために光が側方へ移動す
るので、分解能は劣化する(定常波の形成)。
【0003】この場合、フレネル反射角は、偏光方向と
反射平面とが成す角度によって決まる。入射平面と平行
に揺動する電界を伴ってブルースター角を成して入射す
る光については反射は消滅する。すなわち、そのような
ときには、レジストへの入射が最適になると同時に、定
常波は最大限に抑制される。
【0004】ところが、総じて一方向に直線偏光された
光に関しては、欧州特許第0602923A1号及び第
0608572A2号の中に記載されているように、障
害が発生する。これら2つの特許によれば、レジストへ
の入射前に、非偏光と等価のものとして円偏光を発生さ
せる。これにより、像全体にわたって均質性が得られる
のであるが、局所的に垂直偏光される光の部分が強く反
射されるので、効率の損失が起こるのはやむをえない。
【0005】これに代わる措置として、欧州特許第06
02923号では、ドイツ特許公開公報第157219
5号からも既に知られているように、総じて一方向に直
線偏光された光を結像すべきパターンの向きに対して向
きを規定することを提案している。多重反射による浸透
は臨界分解能の方向ではなく、構造の長手方向に起こ
る。しかしながら、入射の効率、すなわち、レジスト表
面における反射は均質ではない。
【0006】偏光がレジスト層での反射に及ぼす作用及
びフレネル係数のもつ意味は、米国特許第4,899,
055号の中に、薄膜の厚さを測定する方法に関して説
明されている。
【0007】米国特許第5,365,371号からは、
レジスト中の定常波によるレジスト中の像形成時の障害
を阻止するために、光を半径方向に直線偏光する方法を
導入することが知られている。ここで提示される偏光素
子は2つある。第1に、正円錐と、負円錐とから組立て
られた放射偏光フィルタを透過時に利用し、反射に関わ
るフレネルの式に基づいて、フィルタは放射偏光を発生
させる。透過光の完全な偏光をどのよにして実現できる
かということについては、提示されていない。さらに、
明細書及び特許請求の範囲第3項の中には、2つの素子
が異なる屈折率を有することが要求されている。ところ
が、透過した部分を屈折させなければならないので、そ
の光はまっすぐには通過できない。特許請求の範囲まで
は同一である付属する一部継続米国特許第5,436,
761号の特許請求の範囲の中には、屈折率に関する条
件は提示されていない。さらに、たとえば、特許請求の
範囲第4項には、既に米国特許第4,286,843号
(図19及び明細書の第9コラム、60〜68行目)か
らも知られているように、半径方向に向きを定められた
偏光フィルタ箔から成る複数のセグメントを有するプレ
ートも提示されている。
【0008】双方の偏光子は偏光フィルタである。すな
わち、光の損失が大きくなり、それらの偏光フィルタで
は、射出光束の横断面の全体にわたって強さがきわめて
不均一である光の射出を招いてしまうおそれがあるの
で、非偏光又は円偏光の入射光ビームにしか適していな
い。図1の実施例においては、方向転換ミラー17は必
然的に部分的な偏光を発生することになり、従って、偏
光子21から射出される光束は不均質である。また、米
国特許第5,365,371号には、放射偏光子が投影
対物レンズのひとみ平面に位置していることのみが提示
され、特許が請求されている。放射偏光子を対物レンズ
に位置させると、最適の画質を得るための最も狭い範囲
の許容差を厳守しなければならないので、問題を生じ
る。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、光学
境界面への均質な入射を損失や散乱光を少なく抑え、大
きな開口をもって可能にし、射出光束の効率と均質性が
最適にされるような光学構造を提供することである。結
像時の障害又は構造の複雑さを最小限に抑えて、放射直
線偏光子の利点を最大限に利用できる投影露光装置を提
供すべきである。
【0010】
【課題を解決するための手段】この課題は、入射光束の
偏光方向を回転させ、それを選択しないことを特徴とす
る特許請求の範囲第1項に記載の放射偏光回転光学構造
によって解決される。所望の偏光分布の様々に異なる態
様による発生を提示する有利な実施態様は、特許請求の
範囲第2項から第5項の対象である。すなわち、その光
学構造は、光軸と偏光方向を有する直線偏光入射光束を
使用し、且つ5つ以上の二分の一波長板から成るラスタ
構造、セグメント構造又はファセット構造を有し、光学
構造の優先方向は、各々の二分の一波長板が透過した直
線偏光の偏光方向を、二分の一波長板と交わり、光軸に
向かう半径の方向へ偏向させるようにそれぞれアライメ
ントされている。さらに、光学構造は、円錐外面の又は
円錐台外面の形状をとる偏光面(21′)を有する反射
偏光子が設けられ、且つ二分の一波長板(5i)は反射
偏光子で反射される光の光路の中に配置されるのが望ま
しい。、
【0011】特許請求の範囲第6項は、環状開口照明に
おいては反射率は偏光によってごくわずかしか左右され
ないので、小さな角度での光の入射が抑制されるため、
特に好ましい。放射偏光光学構造のマイクロリソグラフ
ィ投影露光装置への組込みに関する特許請求の範囲第7
項はきわめて重要である。
【0012】光学系の能力を完全に利用するこの装置に
おいては、レジストでの反射のみならず、偏光素子の後
に配置されている全てのレンズでの反射も一様に減少す
るので、レジスト層への光の入射の均質性と効率を改善
することができる。大きな角度(ブルースター角まで)
で入射する光に対しては、光の強さが最も小さいところ
(エッジでの降下)では、その効果は最も強力になる。
レジストとウェハとの境界層でも起こる散乱光による分
解能の障害は均質化され且つ減少されている。
【0013】配置が光路のできる限り始めの部分にある
と、後続する全てのレンズにおける複屈折による障害は
最小限に抑えられ、対称にされるので、有利である。従
って、好ましい偏光回転素子の他にも、偏光フィルタを
照明光学系の中に既に配置すると、特に有利である。
【0014】特許請求の範囲第8項は、特許請求の範囲
第1項から第6項に記載の偏光回転素子を投影露光シス
テム内の任意の場所に配置することを提示しており、こ
れは周知の技術と比較して、均質性の改善とはるかに高
い効率を顕著な特徴としている。特許請求の範囲第9項
及び第10項に記載の好ましい構成は、本発明による放
射偏光方向によって、光学系の各レンズで、射出角度が
ごく小さい場合であっても、散乱光の減少と均質化が起
こり、その作用を利用できるということを考慮に入れて
いる。
【0015】他方、構造の長さを短縮するために又はカ
タジオプトリック投影対物レンズの中に設けられている
ような非対称光学素子、特に方向転換ミラーは偏光状態
を変化させるので、位相修正を伴う反射層を利用する場
合にのみ、そのような素子を後に配置できる。方向転換
素子として全反射プリズムを使用すると、厳密に適合す
る位相遅延板をプリズムの後に配置しなければならない
か、あるいは、全反射境界面を位相修正層で被覆しなけ
ればならない。偏光光学素子、たとえば、偏光ビームス
プリッタ及び四分の一波長板も言うまでもなく障害とな
る。その他の有利な実施形態は特許請求の範囲第11項
及び第12項に記載されている。図面に基づいて本発明
をさらに詳細に説明する。
【0016】
【発明の実施の形態】図1aに平面図で示す本発明によ
る偏光回転構造はハニカムコンデンサと組合わされると
特に有利であり、直線偏光された光の変換に適し、従っ
て、光源としてのレーザーに特に適している。光束横断
面は、複屈折材料から成る二分の一波長板からそれぞれ
構成される多数のファセット11,12,1iに分割さ
れている。各ファセット1iはハニカムコンデンサの1
つのハニカム素子に対応する。ファセット1iはハニカ
ム素子の上に接着されるか、吹き付けられるか、又はビ
ームの負荷が極端に大きい場合には別個に取り付けら
れ、反射防止処理をされていると好都合である。マイク
ロリソグラフィ投影露光装置において通常用いられるハ
ニカムコンデンサは約102 個のハニカム素子を有して
おり、ファセットの数も同じである。
【0017】ファセット11,1iの主軸21,22,
2iは、入射して来る総じて同様に直線偏光された光の
偏光方向と、光束及びハニカムコンデンサの光軸(A)
にそれぞれ向いている各ファセット1iの中心を通る半
径とが成す角度の二等分線の方向にそれぞれアライメン
トされている。このため、それぞれの二分の一波長板・
ファセット1iは、偏光方向を前記の半径の方向へ回転
させる。図1bはこの効果を示しており、この場合、ハ
ニカムコンデンサの入射面41,42,4iは、全てが
放射状にアライメントされている各々の部分光束の偏光
方向31,32,3iと共に示されている。
【0018】六角形のファセット1iを伴うラスタ構造
は、ハニカムコンデンサとの組合わせに特に適合してい
る一実施形態であるにすぎない。その他のラスタ構造、
特に二分の一波長板の扇形セクター分割構造(図3bを
参照)も十分に可能である。個々の素子の数は101
範囲であっても良い。
【0019】光束横断面の全面にわたって入射面に対し
垂直に偏光される光の割合が平行に偏光される光の割合
より小さいのであれば、非偏光に対する光学境界面にお
ける総反射角度の減少が実現される。二分の一波長板の
90°セクタが4つしかない場合には、この極端なケー
スが起こるので、光束横断面により多くの二分の一波長
板を配置すると、特に数として10から102 個のファ
セット、すなわち、セクタを配置するのが好ましい。
【0020】セクタを有する周知の放射偏光(米国特許
第5,365,371号及び第4,286,843号)
とは異なり、偏光は著しく大きな損失を伴わずにフィル
タリングされ、光の偏光方向は複屈折素子によって最小
限の損失で変化する。
【0021】線偏光を常に放射状にアライメントするた
めに入射して来る非偏光又は円偏光の光40に対して作
用するのは、図2に示す光学構造である。これは偏光フ
ィルタであり、その原理は米国特許第5,365,37
1号から知られているが、詳細は新規なものである。
【0022】ここで使用されているのは、FK5ガラ
ス、石英ガラス又はCaF2 などの透明材料から成る孔
あき円錐台20であり、その円錐角αはブルースター角
に相当し、円錐外面21には誘電体反射被覆膜が設けら
れている。従って、光ビーム40の入射平面に対し垂直
に偏光された部分4sは完全に反射され、透過ビーム4
pは入射平面と全く平行に偏光されるので、全て光軸
(A)に対し放射状に直線偏光される。孔あき円錐台2
0は環状開口照明に適しており、構造の長さを最短にす
るのに有利であり、言うまでもなく完全な円錐として機
能する。円錐台20は、それに嵌合し、円錐面21に当
接する中空円錐台22と共に円筒形リングを形成し、そ
れにより、反射円錐面21が保護されている。また、非
常に持ちやすい構造となっている。円錐台20と中空円
錐22は同じ屈折率を有しているので、米国特許第5,
365,371号とは異なり、光は円錐面21で屈折す
ることなく通過する。
【0023】図3aは、図2による構成をさらに発展さ
せた構成を横断面図で示す。この場合も反射部分4sを
利用する。従って、偏光は有効に回転され、フィルタリ
ングはされないので、50%よりはるかに少ない光損失
しかない構造が得られる。
【0024】図2に相応する円錐外面21′を有する円
錐台20′(円筒形の延長部分が続いている)の周囲に
は、円錐外面21′と平行な反射円錐面31を有する透
明部分30が配置されており、この部分の射出面33に
は、二分の一波長板のセクタ5i,5kから成るリング
が配置されている。セクタの主軸6i,6kは、図3b
に示すように、それぞれ、セグメント中心で半径に対し
45°の角度を成している。これにより、図1に関して
説明したように、軸平行光束4rの、円錐外面21′で
反射された光4sについても、放射直線偏光が行われ
る。このようにして得られる光導値の向上は、少なくと
もレーザー光源の場合に望まれることが多い。この構造
が入射して来る非偏光に適していることは重要である。
必要に応じて光学ガラスを除去又は追加することによ
り、円錐台20′及び透明部分30の光路を適合させる
ことができる。
【0025】図4aから図4dによる実施形態も、同様
に常に放射直線偏光を発生する構造を示すが、これは入
射時の直線偏光又は円偏光に対応し、光軸の方向の全長
は短縮されている。これは特に環状開口光学系に適して
いる。
【0026】一体を成した直線偏光41の環状光束は、
図4aに断面図で示すように、3枚の平坦な板410,
420,430の積み重ね構造に入射する。410は、
図4bに示すように透過光を円偏光する四分の一波長板
である。入射光束が既に円偏光されていれば、板410
を省略することができる。その後には、たとえば、ガラ
ス又は石英ガラスから製造された板420が続き、この
板は中心対称の圧縮応力を受けているため、応力複屈折
を生じさせる。厚さ、材料及び応力は、板420が環状
光束41を受け入れる外側領域が局所的に四分の一波長
板ではあるが、半径方向に対称であるように選択されて
いるので、円偏光された入射光は直線偏光され、総じて
横断面においては偏光方向は半径に対し45°の角度を
成す。図4cを参照。
【0027】冷却時又は補正熱処理の際に熱膨張及び温
度勾配に伴って、円形のガラス(又は石英ガラス、フッ
化ベリリウム、CaF2 など)の円板を使用した場合に
は必ずそのような圧縮応力が発生し、通常は冷却をでき
る限りゆっくりと行うことにより圧縮応力を最小限に抑
えられる。しかしながら、目的にかなった冷却を行え
ば、広範囲にわたって所望の圧縮応力が得られ、それに
より、外側領域で所望の応力複屈折が発生する。
【0028】板420の後には、円複屈折を有し、偏光
方向を45°回転させる第3の板430がさらに続いて
いる。これにより、図4dに示す通り、横断面全体にわ
たり射出光の放射偏光が実現される。
【0029】この構成は、図1の実施形態と同様に、特
に薄いという利点を有すると共に、図2の実施形態と同
様に、多数のファセット又はセグメントを取り付けると
いう負担なく厳密な放射偏光を発生させるという利点を
有する。主な利点としては、偏光が選択されるのではな
く、回転されることによる高い効率もある。環状光束4
1の代わりに完全な光束を構造を通して送り出すと、中
心部領域は容易には影響を受けない。
【0030】図5は、放射偏光光学構造55、ここでは
図2に示す円錐台形偏光子を有するマイクロリソグラフ
ィ投影露光装置を概略的に示す。この素子とその構造を
除けば、全ての部品と構造は当該分野で良く知られてい
る通りである。光源51、たとえば、ミラー52を有す
るiライン水銀放電ランプはダイアフラム53を照明す
る。次に続く対物レンズ54、たとえば、ドイツ特許第
4421053号に記載されているズームアクシコン対
物レンズは、様々な調整、特に環状開口の設定を可能に
する。
【0031】入射する非偏光に適する円錐台形偏光子5
5の後には、ハニカムコンデンサ56と、中継・画界光
学系57とが続いている。これらの素子は、一体となっ
て、投影対物レンズ59を通して縮小されて最高の分解
能(1μm未満)をもってウェハ61のレジスト膜60
に結像されるレチクル58(マスク)を最適の状態で照
明するのに有用である。光学系の開口数は0.5から
0.9を上回る値であり、環状開口は0.7から0.9
であるのが好ましい。円錐台偏光子55から射出した後
の光の放射偏光の結果、後続する全ての光学素子56,
57,58,59において、応力複屈折の作用は光軸に
関して回転対称になる。最も大きいのはレジスト膜60
に入射するときの効果であり、そのときの入射角は最大
になるので、透過は最適となり且つ反射は最小限に抑え
られる。投影対物レンズ59の感光光路は妨害を受けな
い。
【0032】言うまでもなく、偏光光学構造55は図2
に示す実施形態には限定されず、場合によっては適応の
ために偏光子又は複屈折板を前方に配置した本発明によ
るあらゆる偏光回転構造が特に選択自在である。また、
偏光回転光学構造55を全体構成の中の別の場所へ移動
させることも可能である。
【0033】特に、位相修正又は偏光素子を伴わない方
向転換ミラー、たとえば、偏光ビーム分割器を設けたと
きにこれが認められる。その場合、本発明による偏光回
転光学構造を(光の流れる方向に見て)その背後に配置
すべきである。図6は、その一実施形態をカタジオプト
リック投影対物レンズによって示す。
【0034】図6は、欧州特許第0602923A1号
と完全に一致しており、偏光ビームスプリッタ103
と、凹面鏡106と、レンズ群102,105,108
と、四分の一波長板104とを有する。ところが、この
場合、既に冒頭部で説明したように、偏光回転光学素子
107は欧州特許第0602923A1号の場合のよう
な円偏光に対する四分の一波長板ではなく、従って、レ
ジスト109への光の入射を一様に劣化させることはな
く、また、一様な直線偏光をレチクル101上のパター
ンの優先方向にアライメントする手段でもない。むし
ろ、ここでは放射偏光回転光学構造107が設けられて
いる。
【0035】利用可能なスペースが狭いため、図1及び
図4に示す構成が最も良く適している。その利点は明確
である。すなわち、個々のケースのパターンとは無関係
に、散乱光を最適の状態で抑制でき且つレジスト109
への光の入射の効率を一様にすることができる。
【0036】放射偏光光学構造107はほぼコリメート
された光路の中の、方向転換ミラー103aの背後にで
きる限りミラーに近接させて、すなわち、光線の中程度
の角度と発散の領域に配置されている。複屈折素子を申
し分なく機能させるためには、角度が小さいことが重要
である。最良の効果は、本発明による偏光回転素子の射
出平面が像平面に対しフーリエ変換された照明光学系又
は投影光学系の平面、又はそれと等価の平面に位置して
いるときに実現される。
【0037】光束の横断面全体で放射状に向きを定めら
れた直線偏光を発生させる本発明による偏光回転光学構
造の適用用途はマイクロリソグラフィ法には限定されて
いない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 直線偏光された入射光に対する、二分の一波
長板のラスタから成る放射偏光回転光学構造の平面図
(a)と、図1aから射出する光束の偏光方向を示す図
(b)。
【図2】 円偏光された光又は非偏光の入射光に対す
る、ブルースター角をもつ円錐台反射鏡を有する放射偏
光光学構造を示す横断面図(従来の技術)。
【図3】 円偏光された光又は非偏光を完全に利用する
ために円錐台形反射鏡及びセグメント状二分の一波長板
を有する構造を示す横断面図(a)と、同じ構造を光射
出側から見た図(b)。
【図4】 中心対称応力複屈折を伴う板を有する放射偏
光回転光学構造を示す側面図(a)と、付随する四分の
一波長板を示す平面図(b)と、付随する圧縮応力板を
示す平面図(c)と、付随する円複屈折45°板を示す
平面図(d)。
【図5】 照明部分に放射偏光光学構造を有するマイク
ロリソグラフィ投影照明装置を示す図。
【図6】 本発明による射出偏光光学構造が一体に組込
まれているカタジオプトリック投影対物レンズを示す
図。
【符号の説明】
11,12,1i…ファセット、21,22,2i…フ
ァセットの主軸、31,32,3i…半径、41,4
2,4i…入射面、5i…セクタ、51…光源、55…
円錐台形偏光子、56…ハニカムコンデンサ、58…レ
チクル、103a…方向転換ミラー、107…放射偏光
回転光学構造、410,420,430…平坦な板、A
…光軸、P…偏光方向。

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入射光束を横断面全体でほぼ半径方向に
    直線偏光された光をもつ射出光束に変換する光学構造に
    おいて、入射光束の偏光方向が選択されるのでなく、回
    転されることを特徴とする光学構造。
  2. 【請求項2】 入射光束を横断面全体でほぼ半径方向に
    直線偏光された光をもつ射出光束に変換する光学構造に
    おいて、その光学構造は、光軸(A)及び偏光方向
    (P)を有する直線偏光入射光束を使用し、且つ5つ以
    上の二分の一波長板(41,42;4i)から成るラス
    タ構造、セグメント構造又はファセット構造を有し、光
    学構造の優先方向(21,22;2i)は、各々の二分
    の一波長板(41,42;4i)が透過した直線偏光の
    偏光方向を、二分の一波長板と交わり、光軸(A)に向
    かう半径(31,32;3i)の方向へ偏向させるよう
    にそれぞれアライメントされ、入射光束の偏光方向が選
    択されるのでなく、回転されることを特徴とする光学構
    造。
  3. 【請求項3】 入射光束を横断面全体でほぼ半径方向に
    直線偏光された光をもつ射出光束に変換する光学構造に
    おいて、その光学構造は、光軸(A)及び偏光方向
    (P)を有する直線偏光入射光束を使用し、且つ5つ以
    上の二分の一波長板(41,42;4i)から成るラス
    タ構造、セグメント構造又はファセット構造を有し、そ
    の構造の優先方向(21,22;2i)は、各々の二分
    の一波長板(41,42;4i)が透過した直線偏光の
    偏光方向を、二分の一波長板と交わり、光軸(A)に向
    かう半径(31,32;3i)の方向へ偏向させるよう
    にそれぞれアライメントされており、円錐外面の又は円
    錐台外面の形状をとる偏光面(21′)を有する反射偏
    光子が設けられ、且つ二分の一波長板(5i)は反射偏
    光子で反射される光の光路の中に配置され、入射光束の
    偏光方向は選択されるのでなく、回転されることを特徴
    とする光学構造を有することを特徴とする光学構造。
  4. 【請求項4】 入射光束を横断面全体でほぼ半径方向に
    直線偏光された光をもつ射出光束に変換する光学構造に
    おいて、入射光束の偏光方向は選択されるのでなく、回
    転され、光学構造は半径方向圧縮応力を受けている応力
    複屈折四分の一波長板(420)と、円複屈折45°回
    転板(430)とから構成されていることを特徴とする
    光学構造。
  5. 【請求項5】 通常の四分の一波長板(410)が前方
    に配置され、直線偏光された光を利用できることを特徴
    とする請求項4記載の光学構造。
  6. 【請求項6】 環状開口照明を特徴とする請求項1記載
    の光学構造。
  7. 【請求項7】 照明光学系の平面において光軸に対し回
    転対称形の光束横断面に放射偏光を含むマイクロリソグ
    ラフィ投影露光装置。
  8. 【請求項8】 入射光束を横断面全体でほぼ半径方向に
    直線偏光された光をもつ射出光束に変換する放射偏光回
    転光学構造を含むマイクロリソグラフィ投影露光装置に
    おいて、入射光束は選択されるのでなく、回転されるこ
    とを特徴とするマイクロリソグラフィ投影露光装置。
  9. 【請求項9】 照明光学形の平面において光軸に対し回
    転対称形の光束横断面に放射偏光を含み、入射光束を横
    断面全体でほぼ半径方向に直線偏光された光をもつ射出
    光束に変換する放射偏光回転光学構造をさらに含むマイ
    クロリソグラフィ投影露光装置において、入射光束の偏
    光方向は選択されるのでなく、回転され、放射偏光回転
    光学構造(55)は光源(51)とレチクル(58)と
    の間に配置されていることを特徴とするマイクロリソグ
    ラフィ投影露光装置。
  10. 【請求項10】 照明光学系の平面において光軸に対し
    回転対称形の光束横断面に放射偏光を含み、入射光束を
    横断面全体でほぼ半径方向に直線偏光された光をもつ射
    出光束に変換する放射偏光回転光学構造をさらに含むマ
    イクロリソグラフィ投影露光装置において、入射光束の
    偏光方向は選択されるのでなく、回転され、放射偏光回
    転光学構造(107)は光の流れの方向に見て、光軸に
    対し対称でない最後の偏光素子の背後に、特に最後の方
    向転換ミラー(103a)の背後に配置されていること
    を特徴とするマイクロリソグラフィ投影露光装置。
  11. 【請求項11】 照明部分にハニカムコンデンサ(5
    6)が設けられており、ハニカムコンデンサは、ハニカ
    ムコンデンサ(56)の各々のハニカム要素が光学構造
    の1つのファセットに対応するように、請求項2記載の
    放射偏光回転光学構造と組合わされていることを特徴と
    する請求項9記載のマイクロリソグラフィ投影露光装
    置。
  12. 【請求項12】 放射偏光回転光学構造はコリメート光
    路の中に配置されていることを特徴とする請求項8記載
    のマイクロリソグラフィ投影露光装置。
JP8271288A 1995-09-23 1996-09-24 放射偏光光学構造及びそれを有するマイクロリソグラフィ投影露光装置 Pending JPH09184918A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19535392A DE19535392A1 (de) 1995-09-23 1995-09-23 Radial polarisationsdrehende optische Anordnung und Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage damit
DE19535392.7 1995-09-23

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09184918A true JPH09184918A (ja) 1997-07-15

Family

ID=7772970

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8271288A Pending JPH09184918A (ja) 1995-09-23 1996-09-24 放射偏光光学構造及びそれを有するマイクロリソグラフィ投影露光装置

Country Status (5)

Country Link
US (3) US6191880B1 (ja)
EP (2) EP0764858B1 (ja)
JP (1) JPH09184918A (ja)
KR (1) KR100436175B1 (ja)
DE (3) DE19535392A1 (ja)

Cited By (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000173918A (ja) * 1998-11-30 2000-06-23 Carl Zeiss:Fa Euvマイクロリソグラフィ用照明装置
WO2005041277A1 (ja) * 2003-10-28 2005-05-06 Nikon Corporation 照明光学装置及び投影露光装置
JP2005166871A (ja) * 2003-12-02 2005-06-23 Nikon Corp 照明光学装置、投影露光装置、露光方法及びデバイス製造方法
WO2005071718A1 (ja) * 2004-01-27 2005-08-04 Nikon Corporation 光学系、露光装置、および露光方法
WO2005076045A1 (ja) * 2004-02-06 2005-08-18 Nikon Corporation 偏光変換素子、照明光学装置、露光装置、および露光方法
JP2005268489A (ja) * 2004-03-18 2005-09-29 Canon Inc 照明装置、露光装置及びデバイス製造方法
JP2006113550A (ja) * 2004-08-20 2006-04-27 Carl Zeiss Ag 偏光選択的ブレーズド回折光学素子
WO2006059549A1 (ja) * 2004-12-03 2006-06-08 Nikon Corporation 照明光学装置、その製造方法、露光装置、および露光方法
JP2006191119A (ja) * 2005-01-06 2006-07-20 Asml Holding Nv マルチslmマスクレスリソグラフィにおける散乱光を最小化する方法および装置
JP2006269853A (ja) * 2005-03-25 2006-10-05 Sony Corp 露光装置および露光方法
JP2006345006A (ja) * 2003-11-20 2006-12-21 Nikon Corp 照明光学装置、露光装置、露光方法、およびマイクロデバイスの製造方法
JP2006345005A (ja) * 2004-02-06 2006-12-21 Nikon Corp 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
WO2007013648A1 (ja) * 2005-07-26 2007-02-01 National University Corporation Hokkaido University 光渦発生装置、微小物体操作装置、天体探査装置および偏光渦変換素子
JP2007053390A (ja) * 2004-02-06 2007-03-01 Nikon Corp 照明光学装置、露光装置、露光方法、およびマイクロデバイスの製造方法
JP2007057443A (ja) * 2005-08-25 2007-03-08 Nagaoka Univ Of Technology 配向膜の評価方法並びに配向膜の評価装置
JP2007506262A (ja) * 2003-09-15 2007-03-15 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー フライアイコンデンサ及びそれを用いた照明系
JP2007524247A (ja) * 2004-02-26 2007-08-23 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー マイクロリソグラフィ投影露光設備用の照明系
JP2007316634A (ja) * 2006-05-05 2007-12-06 Carl Zeiss Smt Ag 偏光変調光学素子および偏光変調光学素子の製造方法
JPWO2005050718A1 (ja) * 2003-11-20 2007-12-06 株式会社ニコン 光束変換素子、照明光学装置、露光装置、および露光方法
CN100409045C (zh) * 2004-02-06 2008-08-06 株式会社尼康 偏光变换元件、光学照明装置、曝光装置以及曝光方法
JP2009151287A (ja) * 2007-11-14 2009-07-09 Jds Uniphase Corp 光の偏光の空間分布の色収差補正コンバータ
JP2009200466A (ja) * 2007-11-13 2009-09-03 Asml Netherlands Bv 検査方法及び装置、リソグラフィ装置、リソグラフィ処理セル、並びに、デバイス製造方法
JP2009541742A (ja) * 2006-06-21 2009-11-26 ユニバーシティ・オブ・デイトン 偏光設計の方法およびそれらの適用例
US7697117B2 (en) 2004-05-25 2010-04-13 Asml Holding N.V. Providing a pattern of polarization
JP2010153878A (ja) * 2010-01-14 2010-07-08 Nikon Corp 偏光変換部材、照明光学装置、投影露光装置、露光方法及びデバイス製造方法
JP2010157743A (ja) * 2010-01-14 2010-07-15 Nikon Corp 照明光学装置、投影露光装置、露光方法及びデバイス製造方法
JP2011504296A (ja) * 2007-11-16 2011-02-03 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー マイクロリソグラフィ投影露光装置の照明系
JP2011138164A (ja) * 2004-01-16 2011-07-14 Carl Zeiss Smt Gmbh 偏光変調光学素子
JP2011175213A (ja) * 2010-02-25 2011-09-08 V Technology Co Ltd レーザ照射装置
WO2013118810A1 (ja) * 2012-02-08 2013-08-15 学校法人埼玉医科大学 軸対称偏光変換素子
JP2013539061A (ja) * 2010-07-19 2013-10-17 オリバ ジョビン イボン エス. アー. エス. 双方向円柱対称の偏光変換器およびデカルト−円柱偏光変換方法
US9341954B2 (en) 2007-10-24 2016-05-17 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9581911B2 (en) 2004-01-16 2017-02-28 Carl Zeiss Smt Gmbh Polarization-modulating optical element
US9678437B2 (en) 2003-04-09 2017-06-13 Nikon Corporation Illumination optical apparatus having distribution changing member to change light amount and polarization member to set polarization in circumference direction
US9678332B2 (en) 2007-11-06 2017-06-13 Nikon Corporation Illumination apparatus, illumination method, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9891539B2 (en) 2005-05-12 2018-02-13 Nikon Corporation Projection optical system, exposure apparatus, and exposure method
US10101666B2 (en) 2007-10-12 2018-10-16 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Families Citing this family (153)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19535392A1 (de) * 1995-09-23 1997-03-27 Zeiss Carl Fa Radial polarisationsdrehende optische Anordnung und Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage damit
DE19807120A1 (de) 1998-02-20 1999-08-26 Zeiss Carl Fa Optisches System mit Polarisationskompensator
JP3985346B2 (ja) 1998-06-12 2007-10-03 株式会社ニコン 投影露光装置、投影露光装置の調整方法、及び投影露光方法
DE19829612A1 (de) 1998-07-02 2000-01-05 Zeiss Carl Fa Beleuchtungssystem der Mikrolithographie mit Depolarisator
DE19851749A1 (de) * 1998-11-10 2000-05-11 Zeiss Carl Fa Polarisationsoptisch kompensiertes Objektiv
ATA136499A (de) * 1999-08-09 2001-10-15 Leuchs Gerhard Dr Einrichtung zum beleuchten eines objektes mit fokussiertem licht
US6995930B2 (en) 1999-12-29 2006-02-07 Carl Zeiss Smt Ag Catadioptric projection objective with geometric beam splitting
US6437904B1 (en) 2000-01-13 2002-08-20 Raytheon Company Waveplate polarization rotator
DE10010131A1 (de) 2000-03-03 2001-09-06 Zeiss Carl Mikrolithographie - Projektionsbelichtung mit tangentialer Polarisartion
AU2001257191A1 (en) * 2000-04-25 2001-11-07 Silicon Valley Group Inc Optical reduction system with elimination of reticle diffraction induced bias
JP2002090696A (ja) * 2000-09-20 2002-03-27 Sony Corp 光学装置及び投射型表示装置
US6738105B1 (en) * 2000-11-02 2004-05-18 Intel Corporation Coherent light despeckling
JP2004526331A (ja) * 2001-05-15 2004-08-26 カール・ツアイス・エスエムテイ・アーゲー フッ化物結晶レンズを含む対物レンズ
US7239447B2 (en) 2001-05-15 2007-07-03 Carl Zeiss Smt Ag Objective with crystal lenses
DE10123725A1 (de) * 2001-05-15 2002-11-21 Zeiss Carl Projektionsbelichtungsanlage der Mikrolithographie, Optisches System und Herstellverfahren
DE10124566A1 (de) * 2001-05-15 2002-11-21 Zeiss Carl Optisches Abbildungssystem mit Polarisationsmitteln und Quarzkristallplatte hierfür
US7053988B2 (en) 2001-05-22 2006-05-30 Carl Zeiss Smt Ag. Optically polarizing retardation arrangement, and microlithography projection exposure machine
DE10124803A1 (de) 2001-05-22 2002-11-28 Zeiss Carl Polarisator und Mikrolithographie-Projektionsanlage mit Polarisator
US20040218271A1 (en) * 2001-07-18 2004-11-04 Carl Zeiss Smt Ag Retardation element made from cubic crystal and an optical system therewith
DE10162796B4 (de) * 2001-12-20 2007-10-31 Carl Zeiss Smt Ag Verfahren zur Optimierung der Abbildungseigenschaften von mindestens zwei optischen Elementen sowie photolithographisches Fertigungsverfahren
US6788462B2 (en) * 2002-01-03 2004-09-07 Jon R. Lesniak Achromatic circular polarizer
US20050134825A1 (en) * 2002-02-08 2005-06-23 Carl Zeiss Smt Ag Polarization-optimized illumination system
DE10206061A1 (de) * 2002-02-08 2003-09-04 Carl Zeiss Semiconductor Mfg S Polarisationsoptimiertes Beleuchtungssystem
US20050190446A1 (en) * 2002-06-25 2005-09-01 Carl Zeiss Amt Ag Catadioptric reduction objective
US6816326B2 (en) * 2002-07-12 2004-11-09 Schott Glas Optical system with compensated spatial dispersion
US7133119B1 (en) 2002-12-17 2006-11-07 Kla-Tencor Technologies Corp. Systems for simulating high NA and polarization effects in aerial images
US7206059B2 (en) * 2003-02-27 2007-04-17 Asml Netherlands B.V. Stationary and dynamic radial transverse electric polarizer for high numerical aperture systems
TWI319124B (en) * 2003-02-27 2010-01-01 Asml Netherlands Bv Stationary and dynamic radial transverse electric polarizer for high numerical aperture systems
US6943941B2 (en) * 2003-02-27 2005-09-13 Asml Netherlands B.V. Stationary and dynamic radial transverse electric polarizer for high numerical aperture systems
US7511886B2 (en) 2003-05-13 2009-03-31 Carl Zeiss Smt Ag Optical beam transformation system and illumination system comprising an optical beam transformation system
DE10321598A1 (de) * 2003-05-13 2004-12-02 Carl Zeiss Smt Ag Beleuchtungssystem mit Axikon-Modul
JP4350446B2 (ja) * 2003-07-11 2009-10-21 キヤノン株式会社 電場の発生方法、電場の発生装置
WO2005024516A2 (de) 2003-08-14 2005-03-17 Carl Zeiss Smt Ag Beleuchtungseinrichtung für eine mikrolithographische projektionsbelichtungsanlage
US7408616B2 (en) 2003-09-26 2008-08-05 Carl Zeiss Smt Ag Microlithographic exposure method as well as a projection exposure system for carrying out the method
US6970233B2 (en) * 2003-12-03 2005-11-29 Texas Instruments Incorporated System and method for custom-polarized photolithography illumination
US7292315B2 (en) * 2003-12-19 2007-11-06 Asml Masktools B.V. Optimized polarization illumination
JP2007518211A (ja) * 2004-01-16 2007-07-05 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 光学系
US8270077B2 (en) 2004-01-16 2012-09-18 Carl Zeiss Smt Gmbh Polarization-modulating optical element
DE102004011733A1 (de) * 2004-03-04 2005-09-22 Carl Zeiss Smt Ag Transmissionsfiltervorrichtung
EP1574904B1 (en) * 2004-03-08 2008-06-11 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus with a radial polarizer
DE102004014181A1 (de) 2004-03-23 2005-10-06 Carl Zeiss Meditec Ag Material-Bearbeitungsvorrichtung und -verfahren
US7304719B2 (en) * 2004-03-31 2007-12-04 Asml Holding N.V. Patterned grid element polarizer
EP1586946A3 (en) * 2004-04-14 2007-01-17 Carl Zeiss SMT AG Optical system of a microlithographic projection exposure apparatus
US7548370B2 (en) * 2004-06-29 2009-06-16 Asml Holding N.V. Layered structure for a tile wave plate assembly
DE102005030543A1 (de) * 2004-07-08 2006-02-02 Carl Zeiss Smt Ag Polarisatoreinrichtung zur Erzeugung einer definierten Ortsverteilung von Polarisationszuständen
EP1621930A3 (en) * 2004-07-29 2011-07-06 Carl Zeiss SMT GmbH Illumination system for a microlithographic projection exposure apparatus
US20060072207A1 (en) * 2004-09-30 2006-04-06 Williams David L Method and apparatus for polarizing electromagnetic radiation
US20060204204A1 (en) * 2004-12-20 2006-09-14 Markus Zenzinger Method for improving the optical polarization properties of a microlithographic projection exposure apparatus
US7345740B2 (en) * 2004-12-28 2008-03-18 Asml Netherlands B.V. Polarized radiation in lithographic apparatus and device manufacturing method
US7312852B2 (en) * 2004-12-28 2007-12-25 Asml Netherlands B.V. Polarized radiation in lithographic apparatus and device manufacturing method
TW200923418A (en) * 2005-01-21 2009-06-01 Nikon Corp Exposure device, exposure method, fabricating method of device, exposure system, information collecting device, and measuring device
US7423727B2 (en) * 2005-01-25 2008-09-09 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7324185B2 (en) 2005-03-04 2008-01-29 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US20070115551A1 (en) * 2005-04-01 2007-05-24 Alexis Spilman Space-variant waveplate for polarization conversion, methods and applications
US8014069B2 (en) * 2005-04-01 2011-09-06 University Of Rochester Polarization converter, optical system, method and applications
WO2006111319A2 (en) * 2005-04-20 2006-10-26 Carl Zeiss Smt Ag Projection exposure system, method for manufacturing a micro-structured structural member by the aid of such a projection exposure system and polarization-optical element adapted for use in such a system
US8248577B2 (en) 2005-05-03 2012-08-21 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7760431B2 (en) * 2005-05-05 2010-07-20 Intel Corporation Method of and apparatus for modifying polarity of light
WO2007006983A1 (fr) * 2005-07-07 2007-01-18 Thomson Licensing Polariseur et projecteur correspondant
US7317512B2 (en) * 2005-07-11 2008-01-08 Asml Netherlands B.V. Different polarization in cross-section of a radiation beam in a lithographic apparatus and device manufacturing method
DE102006031807A1 (de) * 2005-07-12 2007-01-18 Carl Zeiss Smt Ag Beleuchtungseinrichtung einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage, sowie Depolarisator
EP1744187A1 (en) * 2005-07-15 2007-01-17 Vrije Universiteit Brussel Folded radial brewster polariser
DE102006030757A1 (de) * 2005-07-18 2007-02-01 Carl Zeiss Smt Ag Polarisationsoptimiertes Beleuchtungssystem
JP2009503610A (ja) * 2005-08-03 2009-01-29 コーニング インコーポレイテッド 軸対称複屈折素子及び極性直交偏極をもつ深uvテレセントリック結像光学系
DE102005036911A1 (de) * 2005-08-05 2007-02-08 Carl Zeiss Jena Gmbh Wabenkondensor zur homogenen Ausleuchtung einer Zielfläche
EP1924890A1 (en) 2005-09-14 2008-05-28 Carl Zeiss SMT AG Optical system of a microlithographic exposure system
KR101459157B1 (ko) * 2005-10-04 2014-11-07 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 광학 시스템 내의, 특히 마이크로리소그래피용 투영 노광 장치 내의 편광 분포에 영향을 주기 위한 장치 및 방법
WO2007119514A1 (ja) * 2006-04-17 2007-10-25 Nikon Corporation 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
KR100835495B1 (ko) * 2006-05-12 2008-06-04 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자의 노광 장비 및 노광 방법
DE102006034452B4 (de) * 2006-07-21 2012-05-10 Jenoptik Optical Systems Gmbh Monolithisches optisches Element zur Umwandlung einer linear polarisierten Strahlungsintensitätsverteilung mit beliebigem Intensitätsprofil in eine vorgegebene, raumwinkelabhängig polarisierte, homogene Intensitätsverteilung
CN101131445A (zh) * 2006-08-25 2008-02-27 Jds尤尼弗思公司 无源消偏器
DE102006054783A1 (de) * 2006-11-21 2008-06-05 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Optisches Bauteil sowie Verfahren zur Herstellung desselben
US7715099B2 (en) * 2006-12-12 2010-05-11 Northrop Grumman Space & Mission Systems Corporation Optical birefringence coronagraph
US20080137189A1 (en) * 2006-12-12 2008-06-12 Northrop Grumman Space & Mission Systems Corporation Conversion of the polarization of light via a composite half-wave plate
ES2302461B1 (es) * 2006-12-15 2009-05-21 Universidad De Zaragoza Conversor de polarizacion y dispositivo de focalizacion basado en dicho conversor.
ES2302460B1 (es) * 2006-12-15 2009-05-21 Universidad De Zaragoza Conversor de polarizacion acromatico y dispositivo de focalizacion basado en dicho conversor.
WO2008119794A1 (en) 2007-04-03 2008-10-09 Carl Zeiss Smt Ag Optical system, in particular illumination device or projection objective of a microlithographic projection exposure apparatus
DE102007031691A1 (de) 2007-07-06 2009-01-08 Carl Zeiss Smt Ag Verfahren zum Betreiben einer Mikrolithographischen Projektionsbelichtunganlagen
US8451427B2 (en) 2007-09-14 2013-05-28 Nikon Corporation Illumination optical system, exposure apparatus, optical element and manufacturing method thereof, and device manufacturing method
EP2179329A1 (en) 2007-10-16 2010-04-28 Nikon Corporation Illumination optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method
EP2179330A1 (en) 2007-10-16 2010-04-28 Nikon Corporation Illumination optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method
KR101695034B1 (ko) 2008-05-28 2017-01-10 가부시키가이샤 니콘 공간 광 변조기의 검사 장치, 조명 광학계, 노광 장치, 검사 방법, 조명 광학계의 조정 방법, 조명 방법, 노광 방법, 및 디바이스 제조 방법
US8325417B1 (en) 2008-09-23 2012-12-04 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Apparatus and method for producing an annular far-field patterned beam(s)
JP2010134328A (ja) * 2008-12-08 2010-06-17 Disco Abrasive Syst Ltd 偏光素子およびレーザーユニット
JP2010197352A (ja) * 2009-02-27 2010-09-09 Hitachi High-Technologies Corp 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
US20110037962A1 (en) * 2009-08-17 2011-02-17 Nikon Corporation Polarization converting unit, illumination optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method
US11366254B2 (en) 2010-01-29 2022-06-21 Beam Engineering For Advanced Measurements Co. High-efficiency wide-angle beam steering system
US9557456B2 (en) 2010-01-29 2017-01-31 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Broadband optics for manipulating light beams and images
DE102011003035A1 (de) 2010-02-08 2011-08-11 Carl Zeiss SMT GmbH, 73447 Polarisationsbeeinflussende optische Anordnung, sowie optisches System einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
US20110205519A1 (en) * 2010-02-25 2011-08-25 Nikon Corporation Polarization converting unit, illumination optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method
EP2539750B1 (en) * 2010-02-25 2018-10-24 The U.S.A. As Represented By The Secretary, Department Of Health And Human Services Axicon beam polarization devices
US10197715B1 (en) 2013-03-15 2019-02-05 Beam Engineering For Advanced Measurements Co. Methods of diffractive lens and mirror fabrication
US10114239B2 (en) 2010-04-21 2018-10-30 Beam Engineering For Advanced Measurements Co. Waveplate lenses and methods for their fabrication
US20110262844A1 (en) 2010-04-21 2011-10-27 Beam Engineering For Advanced Measurement Co. Fabrication of high efficiency, high quality, large area diffractive waveplates and arrays
US9983479B2 (en) * 2010-04-21 2018-05-29 Beam Engineering For Advanced Measurements Co. Fabrication of high efficiency, high quality, large area diffractive waveplates and arrays
DE102010029339A1 (de) 2010-05-27 2011-12-01 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage sowie mikrolithographisches Belichtungsverfahren
DE102010029791A1 (de) * 2010-06-08 2011-12-08 Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg Verfahren zur Lasermaterialbearbeitung eines Werkstücks
DE102010029905A1 (de) 2010-06-10 2011-12-15 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
GB2490502A (en) 2011-05-03 2012-11-07 Univ Southampton Space variant polarization converter
DE102011076434A1 (de) 2011-05-25 2012-11-29 Carl Zeiss Smt Gmbh Beleuchtungseinrichtung für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage sowie mikrolithographisches Belichtungsverfahren
FR2978255B1 (fr) * 2011-07-22 2014-02-21 Horiba Jobin Yvon Sas Dispositif optique d'eclairage conoscopique a cone creux pour microscope optique et procede de microscopie optique en conoscopie
DE102011079777A1 (de) 2011-07-26 2013-01-31 Carl Zeiss Smt Gmbh Mikrolithographisches Belichtungsverfahren
DE102011085334A1 (de) 2011-10-27 2013-05-02 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System in einer Beleuchtungseinrichtung einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
DE102012200371A1 (de) 2012-01-12 2013-07-18 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage sowie mikrolithographisches Belichtungsverfahren
DE102012200370A1 (de) 2012-01-12 2013-08-01 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren zum Herstellen eines polarisationsbeeinflussenden optischen Elements, sowie polarisationsbeeinflussendes optisches Element
DE102012200368A1 (de) 2012-01-12 2013-07-18 Carl Zeiss Smt Gmbh Polarisationsbeeinflussende optische Anordnung, insbesondere in einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
JP6315343B2 (ja) 2012-02-21 2018-04-25 カール ツァイス エスエムエス リミテッド 光学系の少なくとも1つの欠陥を補償する方法
DE102012203944A1 (de) 2012-03-14 2013-10-02 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren zur Justage eines optischen Systems einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
DE102012205045A1 (de) 2012-03-29 2013-10-02 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
WO2013143594A1 (en) 2012-03-29 2013-10-03 Carl Zeiss Smt Gmbh Apparatus and method for compensating a defect of a channel of a microlithographic projection exposure system
DE102012206148A1 (de) 2012-04-16 2013-10-17 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage, sowie Verfahren zur Justage eines optischen Systems
DE102012206154A1 (de) 2012-04-16 2013-06-06 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage sowie mikrolithographisches Belichtungsverfahren
DE102012206159A1 (de) 2012-04-16 2013-06-20 Carl Zeiss Smt Gmbh Polarisationsbeeinflussende optische Anordnung
DE102012214052A1 (de) 2012-08-08 2014-02-13 Carl Zeiss Smt Gmbh Mikrolithographisches Belichtungsverfahren, sowie mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage
DE102012214198A1 (de) 2012-08-09 2013-05-29 Carl Zeiss Smt Gmbh Beleuchtungseinrichtung einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
DE102012217769A1 (de) 2012-09-28 2014-04-03 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage sowie mikrolithographisches Belichtungsverfahren
DE102012223230A1 (de) 2012-12-14 2014-02-13 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System, insbesondere einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
DE102012223217B9 (de) * 2012-12-14 2014-07-10 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
DE102013200137A1 (de) 2013-01-08 2013-11-14 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren zum Betreiben einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
EP2754524B1 (de) 2013-01-15 2015-11-25 Corning Laser Technologies GmbH Verfahren und Vorrichtung zum laserbasierten Bearbeiten von flächigen Substraten, d.h. Wafer oder Glaselement, unter Verwendung einer Laserstrahlbrennlinie
US10107945B2 (en) 2013-03-01 2018-10-23 Beam Engineering For Advanced Measurements Co. Vector vortex waveplates
US10185182B2 (en) * 2013-03-03 2019-01-22 Beam Engineering For Advanced Measurements Co. Mechanical rubbing method for fabricating cycloidal diffractive waveplates
US8922753B2 (en) 2013-03-14 2014-12-30 Carl Zeiss Smt Gmbh Optical system for a microlithographic projection exposure apparatus
DE102013204453B4 (de) 2013-03-14 2019-11-21 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage, mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren zur mikrolithographischen Herstellung mikrostrukturierter Bauelemente
EP2781296B1 (de) 2013-03-21 2020-10-21 Corning Laser Technologies GmbH Vorrichtung und verfahren zum ausschneiden von konturen aus flächigen substraten mittels laser
CN104102015A (zh) * 2013-04-09 2014-10-15 深圳市大族激光科技股份有限公司 一种径向偏振光产生装置及激光加工***
US9995850B2 (en) 2013-06-06 2018-06-12 Kla-Tencor Corporation System, method and apparatus for polarization control
JP2015049381A (ja) * 2013-09-02 2015-03-16 ソニー株式会社 表示装置、表示方法及び補償部材の製造方法
US10293436B2 (en) 2013-12-17 2019-05-21 Corning Incorporated Method for rapid laser drilling of holes in glass and products made therefrom
US11556039B2 (en) 2013-12-17 2023-01-17 Corning Incorporated Electrochromic coated glass articles and methods for laser processing the same
JP2017529128A (ja) 2014-04-16 2017-10-05 ビーム エンジニアリング フォー アドバンスド メジャーメンツ カンパニー 回折波長板レンズを用いてヒトの視力を矯正する方法及び装置
TWI730945B (zh) 2014-07-08 2021-06-21 美商康寧公司 用於雷射處理材料的方法與設備
LT6250B (lt) 2014-07-10 2016-02-25 Uab "Altechna R&D" Lazerinio pluošto skersinio profilio formuotuvas, išsaugantis bangos fronto kreivumą, ir jo panaudojimo būdas
EP3169477B1 (en) * 2014-07-14 2020-01-29 Corning Incorporated System for and method of processing transparent materials using laser beam focal lines adjustable in length and diameter
US11773004B2 (en) 2015-03-24 2023-10-03 Corning Incorporated Laser cutting and processing of display glass compositions
US9976911B1 (en) 2015-06-30 2018-05-22 Beam Engineering For Advanced Measurements Co. Full characterization wavefront sensor
US10191296B1 (en) 2015-06-30 2019-01-29 Beam Engineering For Advanced Measurements Co. Laser pointer with reduced risk of eye injury
US10436957B2 (en) 2015-10-27 2019-10-08 Beam Engineering For Advanced Measurements Co. Broadband imaging with diffractive waveplate coated mirrors and diffractive waveplate objective lens
US10012834B2 (en) * 2016-03-08 2018-07-03 Microsoft Technology Licensing, Llc Exit pupil-forming display with reconvergent sheet
CN105974510B (zh) * 2016-05-12 2019-01-04 上海理工大学 一种基于石墨烯的无源消偏器及其制备方法
CN105739250B (zh) * 2016-05-13 2017-10-27 上海华力微电子有限公司 一种光刻机之照明光瞳均一性补偿装置及其补偿方法
TWI596331B (zh) * 2016-09-20 2017-08-21 Jing- Chen Quasi-radial polarized surface plasmon excitation device and imaging method thereof
CN113399816B (zh) 2016-09-30 2023-05-16 康宁股份有限公司 使用非轴对称束斑对透明工件进行激光加工的设备和方法
WO2018081031A1 (en) 2016-10-24 2018-05-03 Corning Incorporated Substrate processing station for laser-based machining of sheet-like glass substrates
US10423045B2 (en) 2016-11-14 2019-09-24 Beam Engineering For Advanced Measurements Co. Electro-optical diffractive waveplate beam shaping system
RU2654828C2 (ru) * 2017-03-15 2018-05-22 Общество с ограниченной ответственностью "МОЭМС-МОДУЛЬ" Оптический модулятор (варианты)
US10274805B2 (en) 2017-06-13 2019-04-30 Beam Engineering For Advanced Measurements Co. Polarization-independent switchable lens system
US11175441B1 (en) 2018-03-05 2021-11-16 Beam Engineering For Advanced Measurements Co. Polarization-independent diffractive optical structures
US11982906B1 (en) 2018-03-05 2024-05-14 Beam Engineering For Advanced Measurements Co. Polarization-independent diffractive optical structures
US10942135B2 (en) 2018-11-14 2021-03-09 Kla Corporation Radial polarizer for particle detection
US10948423B2 (en) 2019-02-17 2021-03-16 Kla Corporation Sensitive particle detection with spatially-varying polarization rotator and polarizer
US11294240B2 (en) 2019-08-10 2022-04-05 Beam Engineering For Advanced Measurements Co. Diffractive waveplate devices that operate over a wide temperature range
CN112731749B (zh) * 2019-10-28 2022-02-15 青岛海信激光显示股份有限公司 激光投影设备

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3213753A (en) 1962-01-24 1965-10-26 Polaroid Corp Multilayer lenticular light polarizing device
DE1572195A1 (de) 1965-06-05 1970-03-26 Telefunken Patent Verfahren zur Herstellung von Mikrostrukturen kleiner Linienbreite
US3719415A (en) * 1971-09-22 1973-03-06 Bell Telephone Labor Inc Radial and tangential polarizers
DE2345633A1 (de) 1973-09-10 1975-03-20 Bosch Gmbh Robert Polarisationsscheinwerfer
US4286843A (en) * 1979-05-14 1981-09-01 Reytblatt Zinovy V Polariscope and filter therefor
DE3523641C1 (de) * 1985-07-02 1986-12-18 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V., 3400 Göttingen Einrichtung zum Selektieren von rotationssymmetrischen Polarisationskomponenten einesLichtbuendels und Verwendung einer solchen Einrichtung
JPH01143216A (ja) * 1987-11-27 1989-06-05 Nec Corp 半導体装置の露光装置
US4899055A (en) 1988-05-12 1990-02-06 Tencor Instruments Thin film thickness measuring method
KR930010473B1 (ko) * 1989-09-22 1993-10-25 마쯔시다덴기산교 가부시기가이샤 편광소자 및 그것을 사용한 광학헤드장치
JP2796005B2 (ja) * 1992-02-10 1998-09-10 三菱電機株式会社 投影露光装置及び偏光子
JPH06160628A (ja) 1992-05-15 1994-06-07 Fujitsu Ltd 位相差板及び投写型表示装置
US6404482B1 (en) * 1992-10-01 2002-06-11 Nikon Corporation Projection exposure method and apparatus
JP2698521B2 (ja) * 1992-12-14 1998-01-19 キヤノン株式会社 反射屈折型光学系及び該光学系を備える投影露光装置
US5537260A (en) 1993-01-26 1996-07-16 Svg Lithography Systems, Inc. Catadioptric optical reduction system with high numerical aperture
US5375130A (en) * 1993-05-13 1994-12-20 Trw Inc. Azimuthal and radial polarization free-electron laser system
JPH0757993A (ja) * 1993-08-13 1995-03-03 Nikon Corp 投影露光装置
JP3505810B2 (ja) * 1993-10-29 2004-03-15 株式会社日立製作所 パターン露光方法及びその装置
KR0166612B1 (ko) * 1993-10-29 1999-02-01 가나이 쓰토무 패턴노광방법 및 그 장치와 그것에 이용되는 마스크와 그것을 이용하여 만들어진 반도체 집적회로
GB2286058A (en) 1994-01-21 1995-08-02 Sharp Kk Switchable holographic apparatus
JP2836483B2 (ja) * 1994-05-13 1998-12-14 日本電気株式会社 照明光学装置
KR0173168B1 (ko) * 1994-02-24 1999-03-20 가네꼬 히사시 웨이퍼상의 레지스트막을 노광하기 위한 노광계와 그에 사용되는 조명계 및 방법
DE19535392A1 (de) * 1995-09-23 1997-03-27 Zeiss Carl Fa Radial polarisationsdrehende optische Anordnung und Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage damit

Cited By (87)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000173918A (ja) * 1998-11-30 2000-06-23 Carl Zeiss:Fa Euvマイクロリソグラフィ用照明装置
US9885959B2 (en) 2003-04-09 2018-02-06 Nikon Corporation Illumination optical apparatus having deflecting member, lens, polarization member to set polarization in circumference direction, and optical integrator
US9678437B2 (en) 2003-04-09 2017-06-13 Nikon Corporation Illumination optical apparatus having distribution changing member to change light amount and polarization member to set polarization in circumference direction
JP2007506262A (ja) * 2003-09-15 2007-03-15 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー フライアイコンデンサ及びそれを用いた照明系
JP2015046604A (ja) * 2003-10-28 2015-03-12 株式会社ニコン 照明光学装置及び投影露光装置
JP2015065441A (ja) * 2003-10-28 2015-04-09 株式会社ニコン 照明光学装置及び投影露光装置
WO2005041277A1 (ja) * 2003-10-28 2005-05-06 Nikon Corporation 照明光学装置及び投影露光装置
US9760014B2 (en) 2003-10-28 2017-09-12 Nikon Corporation Illumination optical apparatus and projection exposure apparatus
US9423698B2 (en) 2003-10-28 2016-08-23 Nikon Corporation Illumination optical apparatus and projection exposure apparatus
JP2016053718A (ja) * 2003-10-28 2016-04-14 株式会社ニコン 照明光学装置及び投影露光装置
KR101531739B1 (ko) * 2003-10-28 2015-06-25 가부시키가이샤 니콘 투영 노광 장치
KR20150031454A (ko) * 2003-10-28 2015-03-24 가부시키가이샤 니콘 투영 노광 장치
JP2015046619A (ja) * 2003-10-28 2015-03-12 株式会社ニコン 照明光学装置及び投影露光装置
TWI457712B (zh) * 2003-10-28 2014-10-21 尼康股份有限公司 照明光學裝置、投影曝光裝置、曝光方法以及元件製造方法
JP2014195086A (ja) * 2003-10-28 2014-10-09 Nikon Corp 照明光学装置、露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法
JP2014179631A (ja) * 2003-10-28 2014-09-25 Nikon Corp 照明光学装置及び投影露光装置
JPWO2005041277A1 (ja) * 2003-10-28 2007-08-23 株式会社ニコン 照明光学装置及び投影露光装置
JP2013211558A (ja) * 2003-10-28 2013-10-10 Nikon Corp 照明光学装置及び投影露光装置
JP2013191858A (ja) * 2003-10-28 2013-09-26 Nikon Corp 照明光学装置及び投影露光装置
JP2010192914A (ja) * 2003-10-28 2010-09-02 Nikon Corp 照明光学装置及び投影露光装置
KR101020378B1 (ko) * 2003-10-28 2011-03-08 가부시키가이샤 니콘 조명 광학 장치, 투영 노광 장치, 노광 방법, 디바이스 제조 방법 및 복굴절 부재
KR101020455B1 (ko) * 2003-10-28 2011-03-08 가부시키가이샤 니콘 조명 광학계, 투영 노광 장치, 노광 방법 및 디바이스 제조 방법
KR100839686B1 (ko) * 2003-10-28 2008-06-19 가부시키가이샤 니콘 조명 광학 장치, 투영 노광 장치, 노광 방법 및 전자디바이스 제조 방법
JP4543331B2 (ja) * 2003-10-28 2010-09-15 株式会社ニコン 照明光学装置及び投影露光装置
JP2008182266A (ja) * 2003-10-28 2008-08-07 Nikon Corp 照明光学装置、投影露光装置、露光方法、及び電子デバイス製造方法
KR100869390B1 (ko) * 2003-10-28 2008-11-21 가부시키가이샤 니콘 조명 광학 장치, 투영 노광 장치, 노광 방법 및 디바이스 제조 방법
JP4543341B2 (ja) * 2003-10-28 2010-09-15 株式会社ニコン 照明光学装置、投影露光装置、露光方法、及び電子デバイス製造方法
JP4976015B2 (ja) * 2003-11-20 2012-07-18 株式会社ニコン 光束変換素子、照明光学装置、露光装置、および露光方法
US10281632B2 (en) 2003-11-20 2019-05-07 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method with optical member with optical rotatory power to rotate linear polarization direction
JPWO2005050718A1 (ja) * 2003-11-20 2007-12-06 株式会社ニコン 光束変換素子、照明光学装置、露光装置、および露光方法
JP2014195094A (ja) * 2003-11-20 2014-10-09 Nikon Corp 光束変換素子、照明光学装置、露光装置、および露光方法
JP2014003305A (ja) * 2003-11-20 2014-01-09 Nikon Corp 照明光学装置、露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法
US9885872B2 (en) 2003-11-20 2018-02-06 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method with optical integrator and polarization member that changes polarization state of light
JP2006345006A (ja) * 2003-11-20 2006-12-21 Nikon Corp 照明光学装置、露光装置、露光方法、およびマイクロデバイスの製造方法
JP2005166871A (ja) * 2003-12-02 2005-06-23 Nikon Corp 照明光学装置、投影露光装置、露光方法及びデバイス製造方法
JP2011175272A (ja) * 2004-01-16 2011-09-08 Carl Zeiss Smt Gmbh 偏光変調光学素子
US9581911B2 (en) 2004-01-16 2017-02-28 Carl Zeiss Smt Gmbh Polarization-modulating optical element
US9316772B2 (en) 2004-01-16 2016-04-19 Carl Zeiss Smt Gmbh Producing polarization-modulating optical element for microlithography system
JP2014139677A (ja) * 2004-01-16 2014-07-31 Carl Zeiss Smt Gmbh 偏光変調光学素子
US8861084B2 (en) 2004-01-16 2014-10-14 Carl Zeiss Smt Ag Polarization-modulating optical element
JP2011138164A (ja) * 2004-01-16 2011-07-14 Carl Zeiss Smt Gmbh 偏光変調光学素子
WO2005071718A1 (ja) * 2004-01-27 2005-08-04 Nikon Corporation 光学系、露光装置、および露光方法
JPWO2005071718A1 (ja) * 2004-01-27 2007-12-27 株式会社ニコン 光学系、露光装置、および露光方法
US10007194B2 (en) 2004-02-06 2018-06-26 Nikon Corporation Polarization-modulating element, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method
WO2005076045A1 (ja) * 2004-02-06 2005-08-18 Nikon Corporation 偏光変換素子、照明光学装置、露光装置、および露光方法
JPWO2005076045A1 (ja) * 2004-02-06 2008-04-24 株式会社ニコン 偏光変換素子、照明光学装置、露光装置、および露光方法
JP2017142517A (ja) * 2004-02-06 2017-08-17 株式会社ニコン 偏光変換素子、照明光学装置、露光装置、および露光方法
US10241417B2 (en) 2004-02-06 2019-03-26 Nikon Corporation Polarization-modulating element, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method
US10234770B2 (en) 2004-02-06 2019-03-19 Nikon Corporation Polarization-modulating element, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method
CN100409045C (zh) * 2004-02-06 2008-08-06 株式会社尼康 偏光变换元件、光学照明装置、曝光装置以及曝光方法
JP2007053390A (ja) * 2004-02-06 2007-03-01 Nikon Corp 照明光学装置、露光装置、露光方法、およびマイクロデバイスの製造方法
JP4747844B2 (ja) * 2004-02-06 2011-08-17 株式会社ニコン 偏光変換素子、照明光学装置、露光装置、および露光方法
JP2011100150A (ja) * 2004-02-06 2011-05-19 Nikon Corp 偏光変換素子、照明光学装置、露光装置、および露光方法
JP2006345005A (ja) * 2004-02-06 2006-12-21 Nikon Corp 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
US20130271945A1 (en) 2004-02-06 2013-10-17 Nikon Corporation Polarization-modulating element, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method
JP2007524247A (ja) * 2004-02-26 2007-08-23 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー マイクロリソグラフィ投影露光設備用の照明系
JP2005268489A (ja) * 2004-03-18 2005-09-29 Canon Inc 照明装置、露光装置及びデバイス製造方法
JP4497968B2 (ja) * 2004-03-18 2010-07-07 キヤノン株式会社 照明装置、露光装置及びデバイス製造方法
US7697117B2 (en) 2004-05-25 2010-04-13 Asml Holding N.V. Providing a pattern of polarization
JP2006113550A (ja) * 2004-08-20 2006-04-27 Carl Zeiss Ag 偏光選択的ブレーズド回折光学素子
WO2006059549A1 (ja) * 2004-12-03 2006-06-08 Nikon Corporation 照明光学装置、その製造方法、露光装置、および露光方法
JP2006191119A (ja) * 2005-01-06 2006-07-20 Asml Holding Nv マルチslmマスクレスリソグラフィにおける散乱光を最小化する方法および装置
US7567368B2 (en) 2005-01-06 2009-07-28 Asml Holding N.V. Systems and methods for minimizing scattered light in multi-SLM maskless lithography
US7859735B2 (en) 2005-01-06 2010-12-28 Asml Holding N.V. Systems and methods for minimizing scattered light in multi-SLM maskless lithography
JP2006269853A (ja) * 2005-03-25 2006-10-05 Sony Corp 露光装置および露光方法
US9891539B2 (en) 2005-05-12 2018-02-13 Nikon Corporation Projection optical system, exposure apparatus, and exposure method
WO2007013648A1 (ja) * 2005-07-26 2007-02-01 National University Corporation Hokkaido University 光渦発生装置、微小物体操作装置、天体探査装置および偏光渦変換素子
JP2007057443A (ja) * 2005-08-25 2007-03-08 Nagaoka Univ Of Technology 配向膜の評価方法並びに配向膜の評価装置
JP4617492B2 (ja) * 2006-05-05 2011-01-26 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー 偏光変調光学素子および偏光変調光学素子の製造方法
JP2007316634A (ja) * 2006-05-05 2007-12-06 Carl Zeiss Smt Ag 偏光変調光学素子および偏光変調光学素子の製造方法
JP2009541742A (ja) * 2006-06-21 2009-11-26 ユニバーシティ・オブ・デイトン 偏光設計の方法およびそれらの適用例
US10101666B2 (en) 2007-10-12 2018-10-16 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9341954B2 (en) 2007-10-24 2016-05-17 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9857599B2 (en) 2007-10-24 2018-01-02 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9678332B2 (en) 2007-11-06 2017-06-13 Nikon Corporation Illumination apparatus, illumination method, exposure apparatus, and device manufacturing method
US8553227B2 (en) 2007-11-13 2013-10-08 Asml Netherlands B.V. Inspection method and apparatus, lithographic apparatus, lithographic processing cell and device manufacturing method
JP2009200466A (ja) * 2007-11-13 2009-09-03 Asml Netherlands Bv 検査方法及び装置、リソグラフィ装置、リソグラフィ処理セル、並びに、デバイス製造方法
JP2009151287A (ja) * 2007-11-14 2009-07-09 Jds Uniphase Corp 光の偏光の空間分布の色収差補正コンバータ
JP2011504296A (ja) * 2007-11-16 2011-02-03 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー マイクロリソグラフィ投影露光装置の照明系
JP4553066B2 (ja) * 2010-01-14 2010-09-29 株式会社ニコン 偏光変換部材、照明光学装置、投影露光装置、露光方法及びデバイス製造方法
JP2010153878A (ja) * 2010-01-14 2010-07-08 Nikon Corp 偏光変換部材、照明光学装置、投影露光装置、露光方法及びデバイス製造方法
JP2010157743A (ja) * 2010-01-14 2010-07-15 Nikon Corp 照明光学装置、投影露光装置、露光方法及びデバイス製造方法
JP2011175213A (ja) * 2010-02-25 2011-09-08 V Technology Co Ltd レーザ照射装置
JP2013539061A (ja) * 2010-07-19 2013-10-17 オリバ ジョビン イボン エス. アー. エス. 双方向円柱対称の偏光変換器およびデカルト−円柱偏光変換方法
US9612449B2 (en) 2012-02-08 2017-04-04 Saitama Medical University Axially symmetric polarization conversion element
WO2013118810A1 (ja) * 2012-02-08 2013-08-15 学校法人埼玉医科大学 軸対称偏光変換素子
JPWO2013118810A1 (ja) * 2012-02-08 2015-05-11 学校法人 埼玉医科大学 軸対称偏光変換素子

Also Published As

Publication number Publication date
US6392800B2 (en) 2002-05-21
DE59611251D1 (de) 2005-08-25
KR100436175B1 (ko) 2004-09-04
US6885502B2 (en) 2005-04-26
US6191880B1 (en) 2001-02-20
EP1343051B1 (de) 2005-07-20
DE59610745D1 (de) 2003-11-06
US20020126380A1 (en) 2002-09-12
US20010012154A1 (en) 2001-08-09
EP0764858A2 (de) 1997-03-26
DE19535392A1 (de) 1997-03-27
EP1343051A1 (de) 2003-09-10
EP0764858B1 (de) 2003-10-01
EP0764858A3 (de) 1998-07-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH09184918A (ja) 放射偏光光学構造及びそれを有するマイクロリソグラフィ投影露光装置
US7961298B2 (en) Polarization rotator and a crystalline-quartz plate for use in an optical imaging system
US6856379B2 (en) Polarizer and microlithography projection system with a polarizer
US7847920B2 (en) Illumination system and polarizer for a microlithographic projection exposure apparatus
JP2847883B2 (ja) 反射屈折縮小投影光学系
JP5480232B2 (ja) 投影露光系、このような投影露光系の補助により微細構造の構成部材を製造する方法、このような系において使用するために適応させた偏光光学素子
US20160195820A1 (en) Microlithography illumination system and microlithography illumination optical unit
US20060028706A1 (en) Polarizer device for generating a defined spatial distribution of polarization states
JPH1048526A (ja) 高分解能高光度対物レンズ
JPH0588087A (ja) 反射屈折縮小投影光学系
US6424471B1 (en) Catadioptric objective with physical beam splitter
US20040218271A1 (en) Retardation element made from cubic crystal and an optical system therewith
US20180314165A1 (en) Illumination system of a microlithographic projection exposure apparatus
US9817317B2 (en) Optical system of a microlithographic projection exposure apparatus
JP2005509184A (ja) 立方晶により製作されるリターデーション素子と該素子を有する光学系
KR101417687B1 (ko) 마이크로리소그래피 투영 노광 장치의 광학 시스템
JP2005531021A (ja) 反射屈折縮小対物レンズ
JP2002328303A (ja) 反射屈折投影光学系
USRE36740E (en) Cata-dioptric reduction projection optical system
JP3027953B2 (ja) 半導体素子の製造方法、投影露光装置及び投影露光方法

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20040819

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070524

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070529

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20070829

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20070903

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20071127