JPH09138422A - 液晶表示装置及びその検査方法 - Google Patents

液晶表示装置及びその検査方法

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JPH09138422A
JPH09138422A JP31725995A JP31725995A JPH09138422A JP H09138422 A JPH09138422 A JP H09138422A JP 31725995 A JP31725995 A JP 31725995A JP 31725995 A JP31725995 A JP 31725995A JP H09138422 A JPH09138422 A JP H09138422A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】液晶表示パネルをドライバICなどを実装する
前に、安価で信頼性の高い表示検査を実現し、欠陥の次
工程への流出防止や欠陥の早期フィードバックをかける
ことを可能とする装置及び検査方法の提供。 【解決手段】コンタクトを行う端子の一部を交互に絶縁
膜であるチャネル保護膜で覆い、導電性ゴム6によって
各端子にコンタクトを行う。導電性ゴム6には、駆動用
電源7、8と、データ用電源9、10が接続され、これ
ら電源より印加する電圧を組み合わせることにより、隣
接する画素に保持される電圧を自由に変えることが可能
とされ、これにより簡易的な治具のみで、安価で信頼性
の高い液晶パネルの表示検査を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は液晶表示装置及びそ
の検査方法に関し、特にスイッチング素子形成と同時に
形成される端子部の構造に関する液晶表示装置とその検
査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】TFT(Thin Film Transistor;薄膜ト
ランジスタ)液晶表示装置は、TFTアレイ基板と、カ
ラーフィルタ基板とを重ね合わせた後、切断、液晶注入
等を行い、最後にドライバICやバックライト等を実装
して作製される。そして、このドライバICを実装する
前に、不良であるパネルを次工程へ流さないこと、及び
不良内容の早期フィードバックをかけることなどを目的
として、表示検査を行う必要がある。
【0003】図5に、従来の液晶表示パネルとその検査
方法を模式的に説明するための図を示す。ドライバIC
を実装するための駆動側端子部2及びデータ側端子部3
の全てに検査装置によりプローブ針18をコンタクトさ
せる。
【0004】このプローブ針18は、駆動用電源19ま
たはデータ用電源20に接続され、液晶表示パネルの表
示検査を行うためのものである。
【0005】図6に、図5の駆動側端子部2であるB−
B′線の断面図を示す。
【0006】図5の駆動線側端子部2は、図6に示すよ
うに、駆動線配線材料11とデータ線側配線材料14と
が絶縁層12に設けられたスルーホール13を介して接
続され、さらにその上層に画素電極を構成するITO
(インジウム・錫酸化物)15が最表面となる。
【0007】一般に画素内のトランジスタ部が直接液晶
に触れることを防ぐため、絶縁層であるチャネル保護膜
16が設けられるが、駆動線側端子部2は開口するよう
パターン形成されている。また、表示検査時にコンタク
トを行う端子をドライバICを圧接する端子とは別に設
ける場合がある(ドライバICを電極基板上に接続する
とコンタクト部はIC本体に覆われてしまうので外部か
ら表面に露出しなくなる)。
【0008】このような場合の端子部の断面図とその平
面図を、図7と図8にそれぞれ示す。図7及び図8にお
いて、11は駆動線配線材料、12は絶縁層、13はス
ルーホール、14はデータ線側配線材料をそれぞれ示し
ている。図7に示す構成においては、検査用端子部21
をドライバIC22より内側に設け、且つ検査用端子部
21をより大きくするため、千鳥状に配列されている
(特開平5−173164号公報参照)。すなわち、図
8の平面図に示すように、奇数番目の信号配線に設けた
検査用コンタクト領域は表示部1に近い位置にあり、偶
数番目の信号配線に設けた検査用コンタクト領域はドラ
イバIC22に近い位置に交互に配設されている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】図5に示すような従来
の液晶表示装置においては、端子全てにプローブ針18
によりコンタクトを行う必要があり、その数は2000
本〜5000本程度となり、近時の端子の狭ピッチ化が
進んでいるため、プローブ針自体が大変高価なものにな
ってしまうという問題がある。
【0010】また、これらのプローブ針18は、端子のピ
ッチ及び本数が変わってしまうと、その品種ごとに準備
することが必要とされる。
【0011】さらに、所定の検査治具により駆動側端子
群とデータ側端子群をそれぞれ導電性ゴムで印加し、こ
れらの導電性ゴムに検査装置から電圧を与え測定すると
いう従来の検査方法においては、隣接する画素間の差異
を検出することは困難であった(例えば同一レベルの電
圧が隣接画素に印加される)。この場合、断線不良は検
出できるものの、短絡不良を検出することは困難であ
る。
【0012】一方、図7及び図8に示す従来の液晶表示
装置のように、検査用端子部21をドライバIC22の
圧接用端子の内側に設けた場合、液晶パネルそのものの
外形が大きくなってしまうという問題がある。
【0013】従って、本発明は、上記従来技術の問題点
を解消し、液晶表示パネルをドライバIC等を実装する
前に、安価で信頼性の高い表示検査を実現し、欠陥の次
工程への流出防止、及び欠陥の早期フィードバック情報
を与えることを可能とする液晶表示装置及びその検査方
法を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明は、駆動回路を接続するためのガラス基板端
部の端子部を絶縁層であるチャネル保護膜にて隣接する
端子同士が端子列方向に隣接して露出することがないよ
うに一部が覆われてなることを特徴とする液晶表示装置
を提供する。
【0015】また、本発明は、導電性ゴムにより前記露
出部とのコンタクトを行い、表示検査を行うことを特徴
とする液晶表示装置の検査方法を提供する。
【0016】本発明によれば、表示部周辺に配設される
信号配線上に検査用コンタクト領域を備え、前記検査用
コンタクト領域上において露出部と絶縁被覆部とが配線
毎にその位置を換えて設けられ、検査時において好まし
くは導電性ゴムを露出部とコンタクトさせて所定の電源
から導電性ゴムを介して画素に電圧波形を印加すること
により、隣接する画素に対しても異なる極性の電圧を印
加保持させることが可能とされ、ラインのショート及び
断線、画素不良(点欠陥)はもちろん、ムラなどの表示
不良の検出も可能としている。そして、本発明によれ
ば、液晶パネルをドライバICなどを実装する前に表示
検査を安価で行うことができる。
【0017】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面を参照
して以下に説明する。
【0018】図1は、本発明の第1の実施形態に係る液
晶表示パネルの構造と表示検査方法を説明するための図
である。図1において、1は液晶表示パネルの表示部、
2は駆動側端子部、3はデータ側端子部であり、駆動側
端子部2及びデータ側端子部3は、それぞれ電極露出部
4、4′と電極被覆部5、5′とが千鳥状に交互に形成
されている。
【0019】また、表示検査を行うため導電性ゴム6〜
6″′により駆動側端子部2及びデータ側端子部3にコ
ンタクトを行う(導電性ゴム6〜6″′は不図示の検査
治具に設けられ、検査時に端子部2、3とコンタクトさ
れる)。導電性ゴム6には、検査用電源が接続され、導
電性ゴム6は第1の駆動用電源(VG1)7、導電性ゴ
ム6′は第2の駆動用電源(VG2)8、導電性ゴム
6″は第1のデータ用電源(VD1)9、導電性ゴム
6″′は第2のデータ用電源(VD2)10に接続され
ている。
【0020】図1に示すように、駆動側端子部2に、電
極露出部4と電極被覆部5とを千鳥状に交互に形成する
ことにより、2本の導電性ゴム6、6′のうちの1本
は、奇数ラインである駆動側端子部2の電極露出部4と
接触し、偶数ラインである駆動側端子部2には電極被覆
部5により電極露出部4とは接触されず、2本の導電性
ゴム6、6′のうち他の一本は、偶数ラインである駆動
側端子部2の電極露出部4と接触し、奇数ラインである
駆動側端子部2には電極被覆部5により電極露出部4と
は接触されない。そして、図示の如く、データ側端子部
3についても同様に構成される。
【0021】図2は、図1の駆動側端子部2のA−A′
線の断面図を示す。
【0022】端子部は通常、駆動線配線材料11とデー
タ線配線材料14とが絶縁膜12にスルーホール13を
介して接続され、その上層に画素部を構成するITO1
5で構成される。図中、17はガラス基板を示す。
【0023】さらに、本実施形態では、画素内のトラン
ジスタ部を直接液晶に触れることを防ぐためのチャネル
保護膜(絶縁膜)16により、駆動側端子部2の片側の
一部を覆うような構造とする。
【0024】また、図2に断面を示す端子に隣り合う端
子については、チャネル保護膜16により図2とは逆側
の一部を覆うような構造とし、このチャネル保護膜16
により電極被覆部5が隣合うライン毎に表示部1側とそ
の反対側とに交互に配設されようにする。
【0025】このような構造とすることにより、第1の
駆動用電源(VG1)7の電圧は駆動線の奇数ラインに
印加され、第2の駆動用電源(VG2)8の電圧は駆動
線の偶数ラインにのみ印加される。これは、データ線側
である第1のデータ用電源(VD1)9、第2のデータ
用電源(VD2)10についても同様とされ、第1のデ
ータ用電源(VD1)9の電圧はデータ線の奇数ライン
に印加され、第2のデータ用電源(VD2)10の電圧
はデータ線の偶数ラインにのみ印加される。
【0026】次に、図3、図4を参照して、本実施形態
に係る検査方法について説明する。図3は、各画素の印
加電圧の保持状態の例を示し、図4は、そのタイミング
チャートの例を示している。
【0027】まず、第1の駆動用電源(VG1)7に
て、TFTがONとなる電圧を一定期間印加する。これ
と同期して、第1のデータ用電源(VD1)9、第2の
データ用電源(VD2)10に、+A及び−Bという電
圧をそれぞれ印加し、ON状態のTFTを介して画素部
にその電圧が保持される。
【0028】次に、第2の駆動用電源(VG2)8にて
ON電圧を一定時間印加するのと同期して、第1のデー
タ用電源(VD1)9、第2のデータ用電源(VD2)
10にそれぞれ−C及び+Dという電圧を印加するとO
N状態のTFTを介して画素に保持される。
【0029】第1の駆動用電源(VG1)7に再びON
電圧を印加した際には、1回目と極性(正負)が逆の電
圧−A、+Bの電圧を第1のデータ用電源(VD1)9
より、また+C、−Dの電圧を第2のデータ用電源(V
D2)10より印加し、以後これらを繰り返す。
【0030】もちろん、各電圧振幅を|A|=|B|=
|C|=|D|としても良いが、隣接する画素に保持さ
れる電圧の極性(正負)を自由に組み合わせることが容
易にできる。
【0031】一般にTFT液晶表示装置は、液晶に電圧
を印加し、液晶分子を動作させることによって、後方か
らの光に偏光を与え、種々の画面を表示させる装置であ
る。階調表示は、液晶に与える電圧を変化させることに
より、光の偏光の度合いが変化することを利用して行わ
れる。これにより、使用する偏光板との組合せにより、
液晶に電圧を与えていないときに表示が白表示となるも
のと、逆に黒表示となるものとを作ることができる。
【0032】以下、前者の場合を用いて説明を行う。
【0033】図4において、液晶に印加する電圧A、
B、C、Dを液晶が動作するのに充分な電圧とすると、
表示は黒表示となる。
【0034】そして、印加電圧A、B、C、Dを変化さ
せることによって黒表示から白表示へと各階調表示を行
うことができる。
【0035】これにより、本実施形態に係る液晶表示装
置により、液晶パネルをドライバIC等を実装する前に
表示検査を行うことが可能となる。
【0036】本発明の第2の実施形態について以下に説
明する。
【0037】前記第1の実施形態では、チャネル保護膜
16により駆動側端子部2及びデータ側端子部3の一部
を交互に覆うような構造としたが、本実施形態では、図
2のデータ側端子部3をチャネル保護膜16により、さ
らに3種類の電極露出部を千鳥状に設けるような構造と
する。
【0038】本実施形態においては、検査時にデータ側
端子部3に対していずれも不図示の3本の導電性ゴム6
を用いて3つの電源より3種類の電源を各画素に印加す
ることができる(データ端子部3について電極露出部を
例えば一番目のラインは表示部1側、3番目のラインは
表示部1と反対側、2番目のラインは中間等の3本の導
電性ゴム6に対応する位置に設け、これが所定ライン繰
り返される)。
【0039】このため、ストライプ状に、赤(R)、緑
(G)、青(B)が配列されているような液晶表示パネ
ルでは、各色別に印加する電圧を変えることができ、ま
た前記第1の実施形態で説明したように、極性(正負)
も自由に組み合わせることができるため、全面赤色、全
面緑色、全面青色の表示も可能となる。
【0040】以上の実施形態では、駆動線及びデータ線
ともに、一側にのみ端子が引き出されている液晶パネル
を例に説明したが、それぞれが両側に端子が引き出され
ているような液晶パネルについても同様にして適用可能
である。
【0041】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、駆動側
端子及びデータ側端子の一部を絶縁層であるチャネル保
護膜にて覆うような構造とすることによって、導電性ゴ
ム等の簡易的な治具のみでドライバIC実装前の液晶パ
ネルの表示検査を行うことが可能である。
【0042】また、本発明によれば、表示検査方法とし
て、隣接する画素に異なる極性の電圧を印加、保持させ
ることが自由にできるため、ラインのショート及び断
線、画素不良(点欠陥)はもちろん、ムラなどの表示不
良の検出も可能となり、信頼性の高い検査を行うことが
できる。
【0043】本発明の検査方法では、液晶パネルの品種
切換時にも、簡易的な治具の変更のみで対応が可能であ
るため、非常に安価にできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る液晶パネルの構造と
表示検査方法を示す図である。
【図2】図1のA−A′線の断面図である。
【図3】図1に示した本発明の一実施形態の電圧保持状
態を模式的に示す図である。
【図4】図3における印加電圧のタイミング波形を示す
図である。
【図5】従来の液晶表示パネルの構造と表示検査方法を
説明するための図である。
【図6】図5に示した端子部のB−B′線の断面図であ
る。
【図7】従来の千鳥状に配列された端子部の断面図であ
る。
【図8】従来の千鳥状に配列された端子部の平面図であ
る。
【符号の説明】
1 表示部 2 駆動側端子部 3 データ側端子部 4 電極露出部 5 電極被覆部 6 導電性ゴム 7 第1の駆動用電源(VG1) 8 第2の駆動用電源(VG2) 9 第1のデータ用電源(VD1) 10 第2のデータ用電源(VD2) 11 駆動線配線材料 12 絶縁膜 13 スルーホール 14 データ線配線材料 15 ITO 16 チャネル保護膜 17 ガラス基板 18 プローブ針 19 駆動用電源 20 データ用電源 21 検査用端子部 22 ドライバIC
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G09G 3/36 G09G 3/36

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の画素部と薄膜トランジスタ(TF
    T)と容量素子より構成されるTFT液晶表示装置にお
    いて、 表示部周辺に配設される信号配線上に検査用コンタクト
    領域を備え、前記検査用コンタクト領域上において露出
    部と絶縁被覆部とが配線毎にその位置を換えて設けられ
    たことを特徴とする液晶表示装置。
  2. 【請求項2】複数の画素部と薄膜トランジスタ(TF
    T)と容量素子より構成されるTFT液晶表示装置にお
    いて、 駆動回路を接続するためのガラス基板端部の端子部を絶
    縁層であるチャネル保護膜にて隣接する端子同士が端子
    列方向に隣接して露出することがないように一部が覆わ
    れてなることを特徴とする液晶表示装置。
  3. 【請求項3】前記端子部が、前記チャネル保護膜により
    端部が交互に千鳥状に覆われてなることを特徴とする請
    求項2記載の液晶表示装置。
  4. 【請求項4】前記端子部が、前記チャネル保護膜により
    3種類の電極露出部を千鳥状に設けるように覆うことを
    特徴とする請求項2記載の液晶表示装置。
  5. 【請求項5】複数の画素部と薄膜トランジスタと容量素
    子より構成されるTFT液晶表示装置において、 表示部周辺に配設される信号配線上に検査用コンタクト
    領域を備え、前記検査用コンタクト領域上において露出
    部と絶縁被覆部とが配線毎にその位置を換えて設けられ
    てなる液晶表示装置の検査方法であって、 導電性ゴムにより前記露出部とのコンタクトを行い、表
    示検査を行うことを特徴とする液晶表示装置の検査方
    法。
  6. 【請求項6】前記液晶表示装置が、駆動回路を接続する
    ためのガラス基板端部の端子部を絶縁層であるチャネル
    保護膜にて隣接する端子同士が端子列方向に隣接して露
    出することがないように一部が覆われていることを特徴
    とする請求項5記載の液晶表示装置の検査方法。
  7. 【請求項7】前記導電性ゴムの組合せにより、隣接する
    画素に異なる電圧を印加し、表示検査を行うことを特徴
    とする請求項5又は6記載の液晶表示装置の検査方法。
  8. 【請求項8】2つの駆動用電源と2つのデータ用電源を
    それぞれの導電性ゴムに接続し、一方の駆動用電源にT
    FTがONとなる電圧を印加されたとき、2つのデータ
    用電源よりそれぞれ任意の電圧を印加し、さらに他方の
    駆動用電源よりON電圧が印加されたときも同様にデー
    タ用電源より任意の電圧を印加し、隣接する画素に印加
    する電圧及び極性を変化させ表示検査を行うことを特徴
    とする請求項5又は6記載の液晶表示装置の検査方法。
  9. 【請求項9】3つの駆動用電源と3つのデータ用電源を
    それぞれ導電性ゴムに接続することにより、ストライプ
    状に赤、緑、青が配列されているような液晶表示装置の
    検査方法において、各色別に印加する電圧及び極性を変
    化させ表示検査を行うことを特徴とする請求項5又は6
    記載の液晶表示装置の検査方法。
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