JP2776349B2 - 液晶表示装置の検査方法 - Google Patents
液晶表示装置の検査方法Info
- Publication number
- JP2776349B2 JP2776349B2 JP31725995A JP31725995A JP2776349B2 JP 2776349 B2 JP2776349 B2 JP 2776349B2 JP 31725995 A JP31725995 A JP 31725995A JP 31725995 A JP31725995 A JP 31725995A JP 2776349 B2 JP2776349 B2 JP 2776349B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- crystal display
- display device
- voltage
- power supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は液晶表示装置の検査
方法に関し、特にスイッチング素子形成と同時に形成さ
れる端子部構造を備えた液晶表示装置の検査方法に関す
る。
方法に関し、特にスイッチング素子形成と同時に形成さ
れる端子部構造を備えた液晶表示装置の検査方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】ＴＦＴ（Thin Film Transistor；薄膜ト
ランジスタ）液晶表示装置は、ＴＦＴアレイ基板と、カ
ラーフィルタ基板とを重ね合わせた後、切断、液晶注入
等を行い、最後にドライバＩＣやバックライト等を実装
して作製される。そして、このドライバＩＣを実装する
前に、不良であるパネルを次工程へ流さないこと、及び
不良内容の早期フィードバックをかけることなどを目的
として、表示検査を行う必要がある。
ランジスタ）液晶表示装置は、ＴＦＴアレイ基板と、カ
ラーフィルタ基板とを重ね合わせた後、切断、液晶注入
等を行い、最後にドライバＩＣやバックライト等を実装
して作製される。そして、このドライバＩＣを実装する
前に、不良であるパネルを次工程へ流さないこと、及び
不良内容の早期フィードバックをかけることなどを目的
として、表示検査を行う必要がある。
【０００３】図５に、従来の液晶表示パネルとその検査
方法を模式的に説明するための図を示す。ドライバＩＣ
を実装するための駆動側端子部２及びデータ側端子部３
の全てに検査装置によりプローブ針１８をコンタクトさ
せる。
方法を模式的に説明するための図を示す。ドライバＩＣ
を実装するための駆動側端子部２及びデータ側端子部３
の全てに検査装置によりプローブ針１８をコンタクトさ
せる。
【０００４】このプローブ針１８は、駆動用電源１９ま
たはデータ用電源２０に接続され、液晶表示パネルの表
示検査を行うためのものである。
たはデータ用電源２０に接続され、液晶表示パネルの表
示検査を行うためのものである。
【０００５】図６に、図５の駆動側端子部２であるＢ−
Ｂ′線の断面図を示す。
Ｂ′線の断面図を示す。
【０００６】図５の駆動線側端子部２は、図６に示すよ
うに、駆動線配線材料１１とデータ線側配線材料１４と
が絶縁層１２に設けられたスルーホール１３を介して接
続され、さらにその上層に画素電極を構成するＩＴＯ
（インジウム・錫酸化物）１５が最表面となる。
うに、駆動線配線材料１１とデータ線側配線材料１４と
が絶縁層１２に設けられたスルーホール１３を介して接
続され、さらにその上層に画素電極を構成するＩＴＯ
（インジウム・錫酸化物）１５が最表面となる。
【０００７】一般に画素内のトランジスタ部が直接液晶
に触れることを防ぐため、絶縁層であるチャネル保護膜
１６が設けられるが、駆動線側端子部２は開口するよう
パターン形成されている。また、表示検査時にコンタク
トを行う端子をドライバＩＣを圧接する端子とは別に設
ける場合がある（ドライバＩＣを電極基板上に接続する
とコンタクト部はＩＣ本体に覆われてしまうので外部か
ら表面に露出しなくなる）。
に触れることを防ぐため、絶縁層であるチャネル保護膜
１６が設けられるが、駆動線側端子部２は開口するよう
パターン形成されている。また、表示検査時にコンタク
トを行う端子をドライバＩＣを圧接する端子とは別に設
ける場合がある（ドライバＩＣを電極基板上に接続する
とコンタクト部はＩＣ本体に覆われてしまうので外部か
ら表面に露出しなくなる）。
【０００８】このような場合の端子部の断面図とその平
面図を、図７と図８にそれぞれ示す。図７及び図８にお
いて、１１は駆動線配線材料、１２は絶縁層、１３はス
ルーホール、１４はデータ線側配線材料をそれぞれ示し
ている。図７に示す構成においては、検査用端子部２１
をドライバＩＣ２２より内側に設け、且つ検査用端子部
２１をより大きくするため、千鳥状に配列されている
（特開平５−１７３１６４号公報参照）。すなわち、図
８の平面図に示すように、奇数番目の信号配線に設けた
検査用コンタクト領域は表示部１に近い位置にあり、偶
数番目の信号配線に設けた検査用コンタクト領域はドラ
イバＩＣ２２に近い位置に交互に配設されている。
面図を、図７と図８にそれぞれ示す。図７及び図８にお
いて、１１は駆動線配線材料、１２は絶縁層、１３はス
ルーホール、１４はデータ線側配線材料をそれぞれ示し
ている。図７に示す構成においては、検査用端子部２１
をドライバＩＣ２２より内側に設け、且つ検査用端子部
２１をより大きくするため、千鳥状に配列されている
（特開平５−１７３１６４号公報参照）。すなわち、図
８の平面図に示すように、奇数番目の信号配線に設けた
検査用コンタクト領域は表示部１に近い位置にあり、偶
数番目の信号配線に設けた検査用コンタクト領域はドラ
イバＩＣ２２に近い位置に交互に配設されている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】図５に示すような従来
の液晶表示装置においては、端子全てにプローブ針１８
によりコンタクトを行う必要があり、その数は２０００
本〜５０００本程度となり、近時の端子の狭ピッチ化が
進んでいるため、プローブ針自体が大変高価なものにな
ってしまうという問題がある。
の液晶表示装置においては、端子全てにプローブ針１８
によりコンタクトを行う必要があり、その数は２０００
本〜５０００本程度となり、近時の端子の狭ピッチ化が
進んでいるため、プローブ針自体が大変高価なものにな
ってしまうという問題がある。
【００１０】また、これらのプローブ針18は、端子のピ
ッチ及び本数が変わってしまうと、その品種ごとに準備
することが必要とされる。
ッチ及び本数が変わってしまうと、その品種ごとに準備
することが必要とされる。
【００１１】さらに、所定の検査治具により駆動側端子
群とデータ側端子群をそれぞれ導電性ゴムで印加し、こ
れらの導電性ゴムに検査装置から電圧を与え測定すると
いう従来の検査方法においては、隣接する画素間の差異
を検出することは困難であった（例えば同一レベルの電
圧が隣接画素に印加される）。この場合、断線不良は検
出できるものの、短絡不良を検出することは困難であ
る。
群とデータ側端子群をそれぞれ導電性ゴムで印加し、こ
れらの導電性ゴムに検査装置から電圧を与え測定すると
いう従来の検査方法においては、隣接する画素間の差異
を検出することは困難であった（例えば同一レベルの電
圧が隣接画素に印加される）。この場合、断線不良は検
出できるものの、短絡不良を検出することは困難であ
る。
【００１２】一方、図７及び図８に示す従来の液晶表示
装置のように、検査用端子部２１をドライバＩＣ２２の
圧接用端子の内側に設けた場合、液晶パネルそのものの
外形が大きくなってしまうという問題がある。
装置のように、検査用端子部２１をドライバＩＣ２２の
圧接用端子の内側に設けた場合、液晶パネルそのものの
外形が大きくなってしまうという問題がある。
【００１３】従って、本発明は、上記従来技術の問題点
を解消し、液晶表示パネルをドライバＩＣ等を実装する
前に、安価で信頼性の高い表示検査を実現し、欠陥の次
工程への流出防止、及び欠陥の早期フィードバック情報
を与えることを可能とする液晶表示装置の検査方法を提
供することを目的とする。
を解消し、液晶表示パネルをドライバＩＣ等を実装する
前に、安価で信頼性の高い表示検査を実現し、欠陥の次
工程への流出防止、及び欠陥の早期フィードバック情報
を与えることを可能とする液晶表示装置の検査方法を提
供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明は、複数の画素部と薄膜トランジスタと容量
素子より構成されるＴＦＴ液晶表示装置において、表示
部周辺に配設される信号配線上に検査用コンタクト領域
を備え、前記検査用コンタクト領域上において露出部と
絶縁被覆部とが配線毎にその位置を換えて設けられてな
る液晶表示装置の検査方法であって、導電性ゴムにより
前記露出部とのコンタクトを行い、表示検査を行うこと
を特徴とする液晶表示装置の検査方法を提供する。
め、本発明は、複数の画素部と薄膜トランジスタと容量
素子より構成されるＴＦＴ液晶表示装置において、表示
部周辺に配設される信号配線上に検査用コンタクト領域
を備え、前記検査用コンタクト領域上において露出部と
絶縁被覆部とが配線毎にその位置を換えて設けられてな
る液晶表示装置の検査方法であって、導電性ゴムにより
前記露出部とのコンタクトを行い、表示検査を行うこと
を特徴とする液晶表示装置の検査方法を提供する。
【００１５】また、本発明において、液晶表示装置は、
駆動回路を接続するためのガラス基板端部の端子部を絶
縁層であるチャネル保護膜にて隣接する端子同士が端子
列方向に隣接して露出することがないように一部が覆わ
れている。
駆動回路を接続するためのガラス基板端部の端子部を絶
縁層であるチャネル保護膜にて隣接する端子同士が端子
列方向に隣接して露出することがないように一部が覆わ
れている。
【００１６】本発明によれば、表示部周辺に配設される
信号配線上に検査用コンタクト領域を備え、前記検査用
コンタクト領域上において露出部と絶縁被覆部とが配線
毎にその位置を換えて設けられ、検査時において好まし
くは導電性ゴムを露出部とコンタクトさせて所定の電源
から導電性ゴムを介して画素に電圧波形を印加すること
により、隣接する画素に対しても異なる極性の電圧を印
加保持させることが可能とされ、ラインのショート及び
断線、画素不良（点欠陥）はもちろん、ムラなどの表示
不良の検出も可能としている。そして、本発明によれ
ば、液晶パネルをドライバＩＣなどを実装する前に表示
検査を安価で行うことができる。
信号配線上に検査用コンタクト領域を備え、前記検査用
コンタクト領域上において露出部と絶縁被覆部とが配線
毎にその位置を換えて設けられ、検査時において好まし
くは導電性ゴムを露出部とコンタクトさせて所定の電源
から導電性ゴムを介して画素に電圧波形を印加すること
により、隣接する画素に対しても異なる極性の電圧を印
加保持させることが可能とされ、ラインのショート及び
断線、画素不良（点欠陥）はもちろん、ムラなどの表示
不良の検出も可能としている。そして、本発明によれ
ば、液晶パネルをドライバＩＣなどを実装する前に表示
検査を安価で行うことができる。
【００１７】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面を参照
して以下に説明する。
して以下に説明する。
【００１８】図１は、本発明の第１の実施形態に係る液
晶表示パネルの構造と表示検査方法を説明するための図
である。図１において、１は液晶表示パネルの表示部、
２は駆動側端子部、３はデータ側端子部であり、駆動側
端子部２及びデータ側端子部３は、それぞれ電極露出部
４、４′と電極被覆部５、５′とが千鳥状に交互に形成
されている。
晶表示パネルの構造と表示検査方法を説明するための図
である。図１において、１は液晶表示パネルの表示部、
２は駆動側端子部、３はデータ側端子部であり、駆動側
端子部２及びデータ側端子部３は、それぞれ電極露出部
４、４′と電極被覆部５、５′とが千鳥状に交互に形成
されている。
【００１９】また、表示検査を行うため導電性ゴム６〜
６″′により駆動側端子部２及びデータ側端子部３にコ
ンタクトを行う（導電性ゴム６〜６″′は不図示の検査
治具に設けられ、検査時に端子部２、３とコンタクトさ
れる）。導電性ゴム６には、検査用電源が接続され、導
電性ゴム６は第１の駆動用電源（ＶＧ１）７、導電性ゴ
ム６′は第２の駆動用電源（ＶＧ２）８、導電性ゴム
６″は第１のデータ用電源（ＶＤ１）９、導電性ゴム
６″′は第２のデータ用電源（ＶＤ２）１０に接続され
ている。
６″′により駆動側端子部２及びデータ側端子部３にコ
ンタクトを行う（導電性ゴム６〜６″′は不図示の検査
治具に設けられ、検査時に端子部２、３とコンタクトさ
れる）。導電性ゴム６には、検査用電源が接続され、導
電性ゴム６は第１の駆動用電源（ＶＧ１）７、導電性ゴ
ム６′は第２の駆動用電源（ＶＧ２）８、導電性ゴム
６″は第１のデータ用電源（ＶＤ１）９、導電性ゴム
６″′は第２のデータ用電源（ＶＤ２）１０に接続され
ている。
【００２０】図１に示すように、駆動側端子部２に、電
極露出部４と電極被覆部５とを千鳥状に交互に形成する
ことにより、２本の導電性ゴム６、６′のうちの１本
は、奇数ラインである駆動側端子部２の電極露出部４と
接触し、偶数ラインである駆動側端子部２には電極被覆
部５により電極露出部４とは接触されず、２本の導電性
ゴム６、６′のうち他の一本は、偶数ラインである駆動
側端子部２の電極露出部４と接触し、奇数ラインである
駆動側端子部２には電極被覆部５により電極露出部４と
は接触されない。そして、図示の如く、データ側端子部
３についても同様に構成される。
極露出部４と電極被覆部５とを千鳥状に交互に形成する
ことにより、２本の導電性ゴム６、６′のうちの１本
は、奇数ラインである駆動側端子部２の電極露出部４と
接触し、偶数ラインである駆動側端子部２には電極被覆
部５により電極露出部４とは接触されず、２本の導電性
ゴム６、６′のうち他の一本は、偶数ラインである駆動
側端子部２の電極露出部４と接触し、奇数ラインである
駆動側端子部２には電極被覆部５により電極露出部４と
は接触されない。そして、図示の如く、データ側端子部
３についても同様に構成される。
【００２１】図２は、図１の駆動側端子部２のＡ−Ａ′
線の断面図を示す。
線の断面図を示す。
【００２２】端子部は通常、駆動線配線材料１１とデー
タ線配線材料１４とが絶縁膜１２にスルーホール１３を
介して接続され、その上層に画素部を構成するＩＴＯ１
５で構成される。図中、１７はガラス基板を示す。
タ線配線材料１４とが絶縁膜１２にスルーホール１３を
介して接続され、その上層に画素部を構成するＩＴＯ１
５で構成される。図中、１７はガラス基板を示す。
【００２３】さらに、本実施形態では、画素内のトラン
ジスタ部を直接液晶に触れることを防ぐためのチャネル
保護膜（絶縁膜）１６により、駆動側端子部２の片側の
一部を覆うような構造とする。
ジスタ部を直接液晶に触れることを防ぐためのチャネル
保護膜（絶縁膜）１６により、駆動側端子部２の片側の
一部を覆うような構造とする。
【００２４】また、図２に断面を示す端子に隣り合う端
子については、チャネル保護膜１６により図２とは逆側
の一部を覆うような構造とし、このチャネル保護膜１６
により電極被覆部５が隣合うライン毎に表示部１側とそ
の反対側とに交互に配設されようにする。
子については、チャネル保護膜１６により図２とは逆側
の一部を覆うような構造とし、このチャネル保護膜１６
により電極被覆部５が隣合うライン毎に表示部１側とそ
の反対側とに交互に配設されようにする。
【００２５】このような構造とすることにより、第１の
駆動用電源（ＶＧ１）７の電圧は駆動線の奇数ラインに
印加され、第２の駆動用電源（ＶＧ２）８の電圧は駆動
線の偶数ラインにのみ印加される。これは、データ線側
である第１のデータ用電源（ＶＤ１）９、第２のデータ
用電源（ＶＤ２）１０についても同様とされ、第１のデ
ータ用電源（ＶＤ１）９の電圧はデータ線の奇数ライン
に印加され、第２のデータ用電源（ＶＤ２）１０の電圧
はデータ線の偶数ラインにのみ印加される。
駆動用電源（ＶＧ１）７の電圧は駆動線の奇数ラインに
印加され、第２の駆動用電源（ＶＧ２）８の電圧は駆動
線の偶数ラインにのみ印加される。これは、データ線側
である第１のデータ用電源（ＶＤ１）９、第２のデータ
用電源（ＶＤ２）１０についても同様とされ、第１のデ
ータ用電源（ＶＤ１）９の電圧はデータ線の奇数ライン
に印加され、第２のデータ用電源（ＶＤ２）１０の電圧
はデータ線の偶数ラインにのみ印加される。
【００２６】次に、図３、図４を参照して、本実施形態
に係る検査方法について説明する。図３は、各画素の印
加電圧の保持状態の例を示し、図４は、そのタイミング
チャートの例を示している。
に係る検査方法について説明する。図３は、各画素の印
加電圧の保持状態の例を示し、図４は、そのタイミング
チャートの例を示している。
【００２７】まず、第１の駆動用電源（ＶＧ１）７に
て、ＴＦＴがＯＮとなる電圧を一定期間印加する。これ
と同期して、第１のデータ用電源（ＶＤ１）９、第２の
データ用電源（ＶＤ２）１０に、＋Ａ及び−Ｂという電
圧をそれぞれ印加し、ＯＮ状態のＴＦＴを介して画素部
にその電圧が保持される。
て、ＴＦＴがＯＮとなる電圧を一定期間印加する。これ
と同期して、第１のデータ用電源（ＶＤ１）９、第２の
データ用電源（ＶＤ２）１０に、＋Ａ及び−Ｂという電
圧をそれぞれ印加し、ＯＮ状態のＴＦＴを介して画素部
にその電圧が保持される。
【００２８】次に、第２の駆動用電源（ＶＧ２）８にて
ＯＮ電圧を一定時間印加するのと同期して、第１のデー
タ用電源（ＶＤ１）９、第２のデータ用電源（ＶＤ２）
１０にそれぞれ−Ｃ及び＋Ｄという電圧を印加するとＯ
Ｎ状態のＴＦＴを介して画素に保持される。
ＯＮ電圧を一定時間印加するのと同期して、第１のデー
タ用電源（ＶＤ１）９、第２のデータ用電源（ＶＤ２）
１０にそれぞれ−Ｃ及び＋Ｄという電圧を印加するとＯ
Ｎ状態のＴＦＴを介して画素に保持される。
【００２９】第１の駆動用電源（ＶＧ１）７に再びＯＮ
電圧を印加した際には、１回目と極性（正負）が逆の電
圧−Ａ、＋Ｂの電圧を第１のデータ用電源（ＶＤ１）９
より、また＋Ｃ、−Ｄの電圧を第２のデータ用電源（Ｖ
Ｄ２）１０より印加し、以後これらを繰り返す。
電圧を印加した際には、１回目と極性（正負）が逆の電
圧−Ａ、＋Ｂの電圧を第１のデータ用電源（ＶＤ１）９
より、また＋Ｃ、−Ｄの電圧を第２のデータ用電源（Ｖ
Ｄ２）１０より印加し、以後これらを繰り返す。
【００３０】もちろん、各電圧振幅を｜Ａ｜＝｜Ｂ｜＝
｜Ｃ｜＝｜Ｄ｜としても良いが、隣接する画素に保持さ
れる電圧の極性（正負）を自由に組み合わせることが容
易にできる。
｜Ｃ｜＝｜Ｄ｜としても良いが、隣接する画素に保持さ
れる電圧の極性（正負）を自由に組み合わせることが容
易にできる。
【００３１】一般にＴＦＴ液晶表示装置は、液晶に電圧
を印加し、液晶分子を動作させることによって、後方か
らの光に偏光を与え、種々の画面を表示させる装置であ
る。階調表示は、液晶に与える電圧を変化させることに
より、光の偏光の度合いが変化することを利用して行わ
れる。これにより、使用する偏光板との組合せにより、
液晶に電圧を与えていないときに表示が白表示となるも
のと、逆に黒表示となるものとを作ることができる。
を印加し、液晶分子を動作させることによって、後方か
らの光に偏光を与え、種々の画面を表示させる装置であ
る。階調表示は、液晶に与える電圧を変化させることに
より、光の偏光の度合いが変化することを利用して行わ
れる。これにより、使用する偏光板との組合せにより、
液晶に電圧を与えていないときに表示が白表示となるも
のと、逆に黒表示となるものとを作ることができる。
【００３２】以下、前者の場合を用いて説明を行う。
【００３３】図４において、液晶に印加する電圧Ａ、
Ｂ、Ｃ、Ｄを液晶が動作するのに充分な電圧とすると、
表示は黒表示となる。
Ｂ、Ｃ、Ｄを液晶が動作するのに充分な電圧とすると、
表示は黒表示となる。
【００３４】そして、印加電圧Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄを変化さ
せることによって黒表示から白表示へと各階調表示を行
うことができる。
せることによって黒表示から白表示へと各階調表示を行
うことができる。
【００３５】これにより、本実施形態に係る液晶表示装
置により、液晶パネルをドライバＩＣ等を実装する前に
表示検査を行うことが可能となる。
置により、液晶パネルをドライバＩＣ等を実装する前に
表示検査を行うことが可能となる。
【００３６】本発明の第２の実施形態について以下に説
明する。
明する。
【００３７】前記第１の実施形態では、チャネル保護膜
１６により駆動側端子部２及びデータ側端子部３の一部
を交互に覆うような構造としたが、本実施形態では、図
２のデータ側端子部３をチャネル保護膜１６により、さ
らに３種類（列）の電極露出部を千鳥状に設けるような
構造とする。
１６により駆動側端子部２及びデータ側端子部３の一部
を交互に覆うような構造としたが、本実施形態では、図
２のデータ側端子部３をチャネル保護膜１６により、さ
らに３種類（列）の電極露出部を千鳥状に設けるような
構造とする。
【００３８】本実施形態においては、検査時にデータ側
端子部３に対していずれも不図示の３本の導電性ゴム６
を用いて３つの電源より３種類の電源を各画素に印加す
ることができる（データ端子部３について電極露出部を
例えば一番目のラインは表示部１側、３番目のラインは
表示部１と反対側、２番目のラインは中間等の３本の導
電性ゴム６に対応する位置に設け、これが所定ライン繰
り返される）。
端子部３に対していずれも不図示の３本の導電性ゴム６
を用いて３つの電源より３種類の電源を各画素に印加す
ることができる（データ端子部３について電極露出部を
例えば一番目のラインは表示部１側、３番目のラインは
表示部１と反対側、２番目のラインは中間等の３本の導
電性ゴム６に対応する位置に設け、これが所定ライン繰
り返される）。
【００３９】このため、ストライプ状に、赤（Ｒ）、緑
（Ｇ）、青（Ｂ）が配列されているような液晶表示パネ
ルでは、各色別に印加する電圧を変えることができ、ま
た前記第１の実施形態で説明したように、極性（正負）
も自由に組み合わせることができるため、全面赤色、全
面緑色、全面青色の表示も可能となる。
（Ｇ）、青（Ｂ）が配列されているような液晶表示パネ
ルでは、各色別に印加する電圧を変えることができ、ま
た前記第１の実施形態で説明したように、極性（正負）
も自由に組み合わせることができるため、全面赤色、全
面緑色、全面青色の表示も可能となる。
【００４０】以上の実施形態では、駆動線及びデータ線
ともに、一側にのみ端子が引き出されている液晶パネル
を例に説明したが、それぞれが両側に端子が引き出され
ているような液晶パネルについても同様にして適用可能
である。
ともに、一側にのみ端子が引き出されている液晶パネル
を例に説明したが、それぞれが両側に端子が引き出され
ているような液晶パネルについても同様にして適用可能
である。
【００４１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、駆動側
端子及びデータ側端子の一部を絶縁層であるチャネル保
護膜にて覆うような構造とすることによって、導電性ゴ
ム等の簡易的な治具のみでドライバＩＣ実装前の液晶パ
ネルの表示検査を行うことが可能である。
端子及びデータ側端子の一部を絶縁層であるチャネル保
護膜にて覆うような構造とすることによって、導電性ゴ
ム等の簡易的な治具のみでドライバＩＣ実装前の液晶パ
ネルの表示検査を行うことが可能である。
【００４２】また、本発明によれば、表示検査方法とし
て、隣接する画素に異なる極性の電圧を印加、保持させ
ることが自由にできるため、ラインのショート及び断
線、画素不良（点欠陥）はもちろん、ムラなどの表示不
良の検出も可能となり、信頼性の高い検査を行うことが
できる。
て、隣接する画素に異なる極性の電圧を印加、保持させ
ることが自由にできるため、ラインのショート及び断
線、画素不良（点欠陥）はもちろん、ムラなどの表示不
良の検出も可能となり、信頼性の高い検査を行うことが
できる。
【００４３】本発明の検査方法では、液晶パネルの品種
切換時にも、簡易的な治具の変更のみで対応が可能であ
るため、非常に安価にできる。
切換時にも、簡易的な治具の変更のみで対応が可能であ
るため、非常に安価にできる。
【図１】本発明の一実施形態に係る液晶パネルの構造と
表示検査方法を示す図である。
表示検査方法を示す図である。
【図２】図１のＡ−Ａ′線の断面図である。
【図３】図１に示した本発明の一実施形態の電圧保持状
態を模式的に示す図である。
態を模式的に示す図である。
【図４】図３における印加電圧のタイミング波形を示す
図である。
図である。
【図５】従来の液晶表示パネルの構造と表示検査方法を
説明するための図である。
説明するための図である。
【図６】図５に示した端子部のＢ−Ｂ′線の断面図であ
る。
る。
【図７】従来の千鳥状に配列された端子部の断面図であ
る。
る。
【図８】従来の千鳥状に配列された端子部の平面図であ
る。
る。
１ 表示部 ２ 駆動側端子部 ３ データ側端子部 ４ 電極露出部 ５ 電極被覆部 ６ 導電性ゴム ７ 第１の駆動用電源（ＶＧ１） ８ 第２の駆動用電源（ＶＧ２） ９ 第１のデータ用電源（ＶＤ１） １０ 第２のデータ用電源（ＶＤ２） １１ 駆動線配線材料 １２ 絶縁膜 １３ スルーホール １４ データ線配線材料 １５ ＩＴＯ １６ チャネル保護膜 １７ ガラス基板 １８ プローブ針 １９ 駆動用電源 ２０ データ用電源 ２１ 検査用端子部 ２２ ドライバＩＣ
Claims (8)
- 【請求項１】複数の画素部と薄膜トランジスタ（ＴＦ
Ｔ）と容量素子より構成されるＴＦＴ液晶表示装置にお
いて、表示部周辺に配設される信号配線上に検査用コン
タクト領域を備え、前記検査用コンタクト領域上におい
て露出部と絶縁被覆部とが配線毎にその位置を換えて設
けられてなる液晶表示装置の検査方法であって、 導電性ゴムにより前記露出部とのコンタクトを行い、表
示検査を行う ことを特徴とする液晶表示装置の検査方
法。 - 【請求項２】前記液晶表示装置が、駆動回路を接続する
ためのガラス基板端部の端子部を絶縁層であるチャネル
保護膜にて隣接する端子同士が端子列方向に隣接して露
出することがないように一部が覆われていることを特徴
とする請求項１記載の液晶表示装置の検査方法。 - 【請求項３】前記導電性ゴムの組合せにより、隣接する
画素に異なる電圧を印加し、表示検査を行うことを特徴
とする請求項１又は２記載の液晶表示装置の検査方法。 - 【請求項４】２つの駆動用電源と２つのデータ用電源を
それぞれの導電性ゴムに接続し、一方の前記駆動用電源
にＴＦＴがＯＮとなる電圧を印加されたとき、前記２つ
のデータ用電源よりそれぞれ任意の電圧を印加し、さら
に他方の前記駆動用電源よりＯＮ電圧が印加されたとき
も同様に前記データ用電源より任意の電圧を印加し、隣
接する画素に印加する電圧及び極性を変化させ表示検査
を行うことを特徴とする請求項１又は２記載の液晶表示
装置の検査方法。 - 【請求項５】３つの駆動用電源と３つのデータ用電源を
それぞれ導電性ゴムに接続することにより、ストライプ
状に赤、緑、青が配列されているような液晶表示装置の
検査方法において、各色別に印加する電圧及び極性を変
化させ表示検査を行うことを特徴とする請求項１又は２
記載の液晶表示装置の検査方法。 - 【請求項６】複数の画素部と薄膜トランジスタ（ＴＦ
Ｔ）と容量素子より構成される液晶表示装置の検査方法
において、 表示部周辺に配設される信号配線上に検査用コンタクト
領域を備え、前記検査用コンタクト領域上において露出
部と絶縁被覆部とが配線毎にその位置を換えて設けら
れ、隣接する端子同士が端子列方向に隣接して露出して
いない液晶表示装置を、導電性ゴムの組合わせにより、
前記検査用コンタクト領域上の同一露出位置の前記露出
部との一括コンタクトをそれぞれ行い、隣接する画素に
異なる電圧を印可して表示検査を行う ことを特徴とする
液晶表示装置の検査方法。 - 【請求項７】前記隣接する端子同士が千鳥状に交互に露
出部を有し、２つの駆動用電源と２つのデータ用電源を
それぞれの導電性ゴムに接続し、一方の前記駆動用電源
にＴＦＴがＯＮとなる電圧を印加されたとき、前記２つ
のデータ用電源よりそれぞれ任意の電圧を印加し、さら
に他方の前記駆動用電源よりＯＮ電圧が印加されたとき
も同様に前記データ用電源より任意の電圧を印加し、隣
接する画素に印加する電圧及び極性を変化させて表示検
査を行うことを特徴とする請求項６記載の液晶表示装置
の検査方法。 - 【請求項８】データ側端子部が３列の露出部の千鳥状に
なっており、３つのデータ用電源をそれぞれ導電性ゴム
に接続することにより、ストライプ状に赤、緑、青が配
列されているような液晶表示装置の検査方法において、
各色別に印加する電圧及び極性を変化させ表示検査を行
うことを特徴とする請求項１記載の液晶表示装置の検査
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31725995A JP2776349B2 (ja) | 1995-11-10 | 1995-11-10 | 液晶表示装置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31725995A JP2776349B2 (ja) | 1995-11-10 | 1995-11-10 | 液晶表示装置の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09138422A JPH09138422A (ja) | 1997-05-27 |
| JP2776349B2 true JP2776349B2 (ja) | 1998-07-16 |
Family
ID=18086255
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31725995A Expired - Fee Related JP2776349B2 (ja) | 1995-11-10 | 1995-11-10 | 液晶表示装置の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2776349B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5053479B2 (ja) * | 2000-09-14 | 2012-10-17 | 株式会社ジャパンディスプレイセントラル | マトリクスアレイ基板及びその製造方法 |
| JP2006105795A (ja) * | 2004-10-06 | 2006-04-20 | Hioki Ee Corp | 絶縁検査方法および絶縁検査装置 |
| JP4725358B2 (ja) * | 2006-02-24 | 2011-07-13 | ソニー株式会社 | カラー液晶表示パネル |
| JP2008096379A (ja) * | 2006-10-16 | 2008-04-24 | Micronics Japan Co Ltd | 画素アレイ基板の検査装置及び方法 |
| JP2007078695A (ja) * | 2006-10-18 | 2007-03-29 | Casio Comput Co Ltd | 動作チェック装置 |
| JP5432460B2 (ja) * | 2008-02-25 | 2014-03-05 | 株式会社日本マイクロニクス | 検査装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60107829U (ja) * | 1983-12-20 | 1985-07-22 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶パネルの実装構造 |
| JPS6129324U (ja) * | 1984-07-25 | 1986-02-21 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶表示装置 |
-
1995
- 1995-11-10 JP JP31725995A patent/JP2776349B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09138422A (ja) | 1997-05-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI385453B (zh) | 液晶顯示裝置 | |
| JP2715936B2 (ja) | 薄膜トランジスタ型液晶表示装置とその製造方法 | |
| KR101238337B1 (ko) | 어레이 기판 및 이를 갖는 액정표시장치 | |
| KR100394026B1 (ko) | 액정표시장치 및 그 구동방법 | |
| US20050162601A1 (en) | Display device and driving method thereof | |
| US7948459B2 (en) | Display device and inspection method for display device | |
| KR101187200B1 (ko) | 스위칭 소자와 연결되는 테스트 라인을 구비하는액정표시장치 | |
| US6717648B2 (en) | Defect correcting method for liquid crystal panel | |
| US5473261A (en) | Inspection apparatus and method for display device | |
| JP2776349B2 (ja) | 液晶表示装置の検査方法 | |
| JP3093739B2 (ja) | 液晶表示装置及びその製造方法並びに不良検査方法 | |
| US5490002A (en) | Active matrix display devices having bidirectional non-linear devices connected between adjacent pixels and respective address conductor | |
| JP2002098999A (ja) | 液晶表示装置 | |
| JP4795548B2 (ja) | 液晶表示基板検査方法 | |
| US6757047B2 (en) | Liquid crystal display device and testing method therefor | |
| JP2710582B2 (ja) | カラー液晶表示装置 | |
| JPH07294952A (ja) | 液晶表示パネル | |
| JP3290602B2 (ja) | 液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置 | |
| KR101129440B1 (ko) | 표시 기판 및 이를 구비한 표시 패널의 검사 방법 | |
| JP3669900B2 (ja) | アクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法 | |
| JP2002277896A (ja) | 液晶表示装置及び画面表示応用装置 | |
| JP3179319B2 (ja) | マトリクス型表示装置の欠陥検出方法 | |
| KR101374972B1 (ko) | 액정 표시 장치용 어레이 기판 및 그 제조 방법 | |
| JP2004226931A (ja) | 液晶表示装置 | |
| US11482144B2 (en) | Display device including coupling arrangement of switches and driver terminals |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980331 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080501 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090501 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100501 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110501 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110501 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120501 Year of fee payment: 14 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |