JP3190238B2 - アクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法 - Google Patents
アクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法Info
- Publication number
- JP3190238B2 JP3190238B2 JP28415795A JP28415795A JP3190238B2 JP 3190238 B2 JP3190238 B2 JP 3190238B2 JP 28415795 A JP28415795 A JP 28415795A JP 28415795 A JP28415795 A JP 28415795A JP 3190238 B2 JP3190238 B2 JP 3190238B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal line
- liquid crystal
- active matrix
- crystal panel
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/12—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
- H01L2224/14—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of a plurality of bump connectors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、たとえばコンピュ
ータやワードプロセッサなどに付設される表示装置など
に用いられるアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検
出方法に関する。
ータやワードプロセッサなどに付設される表示装置など
に用いられるアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検
出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】上述した表示装置としては、近年、液晶
等を表示媒体とするフラット型の表示パネルが普及して
いる。特に、ＶＧＡ、Ｓ−ＶＧＡ、ＸＧＡ等の高解像度
が要求され、表示絵素数が膨大な数となる表示パネルに
は、アクティブマトリクス液晶パネルが用いられてい
る。
等を表示媒体とするフラット型の表示パネルが普及して
いる。特に、ＶＧＡ、Ｓ−ＶＧＡ、ＸＧＡ等の高解像度
が要求され、表示絵素数が膨大な数となる表示パネルに
は、アクティブマトリクス液晶パネルが用いられてい
る。
【０００３】このアクティブマトリクス液晶パネルは、
例えば、対向電極を有する対向基板に対し、間に液晶層
を挟んでアクティブマトリクス基板が対向配設されてい
る。このアクティブマトリクス基板は、絶縁基板上に複
数の絵素電極と該絵素電極を駆動するためのスイッチン
グ素子とがマトリクス状に配置され、該スイッチング素
子と各々接続し、かつ相互に交差して走査線及び信号線
が形成されている。
例えば、対向電極を有する対向基板に対し、間に液晶層
を挟んでアクティブマトリクス基板が対向配設されてい
る。このアクティブマトリクス基板は、絶縁基板上に複
数の絵素電極と該絵素電極を駆動するためのスイッチン
グ素子とがマトリクス状に配置され、該スイッチング素
子と各々接続し、かつ相互に交差して走査線及び信号線
が形成されている。
【０００４】図４は、従来のアクティブマトリクス液晶
パネルを示す等価回路図である。このアクティブマトリ
クス基板は、たとえばガラスなどからなる基板の表面
に、走査線１、走査線端子１ａ、信号線２、信号線端子
２ａ、共通線３、共通線端子３ａ、薄膜トランジスタ４
及び絵素電極５が形成されている。上記走査線１と信号
線２とは、絶縁膜（図示せず）を間に介し、かつ、交差
するように配線され、その交差部にスイッチング素子と
して薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）４が配されている。該
ＴＦＴ４のゲート電極６に走査線１が、ソース電極７に
信号線２が、ドレイン電極８に絵素電極５が各々接続さ
れている。共通線３は、各走査線１に平行に、かつ、デ
ータを送る信号線２とは間に絶縁膜を介して形成されて
おり、該共通線３はすべて共通線端子３ａを介して短絡
されている。また、走査線１と平行に、この図示例では
２本の冗長配線９が設けられ、各冗長配線９の両端には
冗長配線端子９ａが設けられている。この冗長配線９
は、高精細アクティブマトリクス液晶パネルの場合、信
号線２や走査線３が極めて細く形成する必要があること
から発生する断線を救済すべく設けられており、各信号
線２に対して前記絶縁膜を介して交差するよう配線され
る。なお、図４中の１１は、液晶を間に挟んで対向する
上記絵素電極５と対向基板（図示せず）との間の絵素容
量であり、その対向基板に設けられた対向電極１７は所
定の電位が与えられるようになっている。同じく図中の
１２は上記絵素電極５と補助容量配線（共通線３）との
間の補助容量である。
パネルを示す等価回路図である。このアクティブマトリ
クス基板は、たとえばガラスなどからなる基板の表面
に、走査線１、走査線端子１ａ、信号線２、信号線端子
２ａ、共通線３、共通線端子３ａ、薄膜トランジスタ４
及び絵素電極５が形成されている。上記走査線１と信号
線２とは、絶縁膜（図示せず）を間に介し、かつ、交差
するように配線され、その交差部にスイッチング素子と
して薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）４が配されている。該
ＴＦＴ４のゲート電極６に走査線１が、ソース電極７に
信号線２が、ドレイン電極８に絵素電極５が各々接続さ
れている。共通線３は、各走査線１に平行に、かつ、デ
ータを送る信号線２とは間に絶縁膜を介して形成されて
おり、該共通線３はすべて共通線端子３ａを介して短絡
されている。また、走査線１と平行に、この図示例では
２本の冗長配線９が設けられ、各冗長配線９の両端には
冗長配線端子９ａが設けられている。この冗長配線９
は、高精細アクティブマトリクス液晶パネルの場合、信
号線２や走査線３が極めて細く形成する必要があること
から発生する断線を救済すべく設けられており、各信号
線２に対して前記絶縁膜を介して交差するよう配線され
る。なお、図４中の１１は、液晶を間に挟んで対向する
上記絵素電極５と対向基板（図示せず）との間の絵素容
量であり、その対向基板に設けられた対向電極１７は所
定の電位が与えられるようになっている。同じく図中の
１２は上記絵素電極５と補助容量配線（共通線３）との
間の補助容量である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】このような構成をとる
アクティブマトリクス液晶パネルにおいて、上述したよ
うに、ＶＧＡ、Ｓ−ＶＧＡ、ＸＧＡ等の高解像度が要求
される場合は、信号線や走査線はもちろんのこと、それ
らに接続された各端子のピッチが極めて小さい状態にな
る。このため、液晶パネルに発生した欠陥検出を行うべ
く、ピンプロ一ビングを用いて端子とのコンタクトをと
る場合、ピッチの小さい、つまり隣接する端子の所定の
ものに対してのみコンタクトをとることが困難であっ
た。
アクティブマトリクス液晶パネルにおいて、上述したよ
うに、ＶＧＡ、Ｓ−ＶＧＡ、ＸＧＡ等の高解像度が要求
される場合は、信号線や走査線はもちろんのこと、それ
らに接続された各端子のピッチが極めて小さい状態にな
る。このため、液晶パネルに発生した欠陥検出を行うべ
く、ピンプロ一ビングを用いて端子とのコンタクトをと
る場合、ピッチの小さい、つまり隣接する端子の所定の
ものに対してのみコンタクトをとることが困難であっ
た。
【０００６】ところで、アクティブマトリクス液晶パネ
ルにおいては、一般に、図５に、その液晶パネルを構成
するアクティブマトリクス基板に設けられた信号線端子
を拡大して示すように、信号線側の信号線端子２ａの総
てに短絡させた状態で１本のショートリング２４を設け
ておき、欠陥検出を行うことが既知である。その欠陥検
出は、表示モードが電圧をかけないときに白くなるノー
マリホワイトモードの場合には、総ての信号線２に同一
データ信号を与えることにより表示画面の全体を黒ベタ
表示させ、欠陥部分では白や赤や緑や青になることを利
用している。
ルにおいては、一般に、図５に、その液晶パネルを構成
するアクティブマトリクス基板に設けられた信号線端子
を拡大して示すように、信号線側の信号線端子２ａの総
てに短絡させた状態で１本のショートリング２４を設け
ておき、欠陥検出を行うことが既知である。その欠陥検
出は、表示モードが電圧をかけないときに白くなるノー
マリホワイトモードの場合には、総ての信号線２に同一
データ信号を与えることにより表示画面の全体を黒ベタ
表示させ、欠陥部分では白や赤や緑や青になることを利
用している。
【０００７】また、カラー表示を行うアクティブマトリ
クス液晶パネルを対象とした他の欠陥検出としては、信
号線のショートリング２４を３本にし、そのうちの２本
に、図６に示す１データ信号を入力し、残りの１本に０
Ｖ（またはグランド（ＧＮＤ）レベル）の信号を入力す
る方式が提案されている（特願平５−１４７２６５）。
より詳細に説明すると、赤表示を行う信号線にＧＮＤレ
ベルの信号を与え、残りの総ての信号線に所定電圧の交
流信号を与えて、全体の１／３の絵素を赤表示させる。
次に、同様にして緑表示を行い、続いて同様にして青表
示を行う。
クス液晶パネルを対象とした他の欠陥検出としては、信
号線のショートリング２４を３本にし、そのうちの２本
に、図６に示す１データ信号を入力し、残りの１本に０
Ｖ（またはグランド（ＧＮＤ）レベル）の信号を入力す
る方式が提案されている（特願平５−１４７２６５）。
より詳細に説明すると、赤表示を行う信号線にＧＮＤレ
ベルの信号を与え、残りの総ての信号線に所定電圧の交
流信号を与えて、全体の１／３の絵素を赤表示させる。
次に、同様にして緑表示を行い、続いて同様にして青表
示を行う。
【０００８】そして、このようにして表示を行っている
ときに、本来の表示部分とは異なる余分な箇所に表示が
なされたり、または本来の表示部分のうちで他の絵素と
は異なる色具合いになったりすると、その部分に欠陥が
存在することが目視による観察にて検出される。
ときに、本来の表示部分とは異なる余分な箇所に表示が
なされたり、または本来の表示部分のうちで他の絵素と
は異なる色具合いになったりすると、その部分に欠陥が
存在することが目視による観察にて検出される。
【０００９】この検出方式では、絵素電極を挟んで両側
に設けられた２つの信号線のうち、ＴＦＴを介して絵素
電極と接続された信号線（これを以下において自己の信
号線という）とは別の信号線とその絵素電極との間で短
絡した点欠陥が存在する場合は、上述したような余分な
位置での表示や色具合いの相違により欠陥検出が可能で
ある。しかしながら、絵素電極が上記自己の信号線との
間で短絡した欠陥、つまり図７に示すようにＴＦＴ４の
Ｓ（ソース電極）−Ｄ（ドレイン電極）間のリーク欠陥
１０については、ノーマリホワイトモードの場合には、
同じ信号を与えられる絵素のうち、短絡欠陥の起こって
いる絵素も他の絵素と同一の表示（黒または色着き）と
なるので、正確な欠陥検出が行えないという問題があっ
た。
に設けられた２つの信号線のうち、ＴＦＴを介して絵素
電極と接続された信号線（これを以下において自己の信
号線という）とは別の信号線とその絵素電極との間で短
絡した点欠陥が存在する場合は、上述したような余分な
位置での表示や色具合いの相違により欠陥検出が可能で
ある。しかしながら、絵素電極が上記自己の信号線との
間で短絡した欠陥、つまり図７に示すようにＴＦＴ４の
Ｓ（ソース電極）−Ｄ（ドレイン電極）間のリーク欠陥
１０については、ノーマリホワイトモードの場合には、
同じ信号を与えられる絵素のうち、短絡欠陥の起こって
いる絵素も他の絵素と同一の表示（黒または色着き）と
なるので、正確な欠陥検出が行えないという問題があっ
た。
【００１０】本発明は、このような従来技術の課題を解
決すべくなされたものであり、自己の信号線との間で短
絡した点欠陥についても欠陥検出が可能なアクティブマ
トリクス液晶パネルの欠陥検出方法を提供することを目
的とする。
決すべくなされたものであり、自己の信号線との間で短
絡した点欠陥についても欠陥検出が可能なアクティブマ
トリクス液晶パネルの欠陥検出方法を提供することを目
的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明のアクティブマト
リクス液晶パネルの欠陥検出方法は、アクティブマトリ
クス液晶パネルの欠陥を検出する方法において、１つの
信号線に最高輝度よりも低い輝度となる表示用のデータ
信号を入力し、該１つの信号線の両隣りの信号線に黒表
示用のデータ信号を入力して、該１つの信号線から該当
するデータ信号が与えられる絵素を単色表示させ、その
ことにより上記目的が達成される。
リクス液晶パネルの欠陥検出方法は、アクティブマトリ
クス液晶パネルの欠陥を検出する方法において、１つの
信号線に最高輝度よりも低い輝度となる表示用のデータ
信号を入力し、該１つの信号線の両隣りの信号線に黒表
示用のデータ信号を入力して、該１つの信号線から該当
するデータ信号が与えられる絵素を単色表示させ、その
ことにより上記目的が達成される。
【００１２】本発明のアクティブマトリクス液晶パネル
の欠陥検出方法において、総ての前記信号線に対し信号
線延長部を設けると共に各信号線延長部に交差して３本
または３の倍数本の検査用配線を設け、１つの信号線に
関連する絵素を表示させ、かつ、該１つの信号線の両隣
りの信号線に関連する絵素を非表示とする状態で、該検
査用配線を介して各信号線に該当する前記データ信号を
入力して、該当する絵素を単色表示させるようにしても
よい。
の欠陥検出方法において、総ての前記信号線に対し信号
線延長部を設けると共に各信号線延長部に交差して３本
または３の倍数本の検査用配線を設け、１つの信号線に
関連する絵素を表示させ、かつ、該１つの信号線の両隣
りの信号線に関連する絵素を非表示とする状態で、該検
査用配線を介して各信号線に該当する前記データ信号を
入力して、該当する絵素を単色表示させるようにしても
よい。
【００１３】本発明のアクティブマトリクス液晶パネル
の欠陥検出方法において、前記検査用配線と前記信号線
延長部との電気的な接続・非接続状態を、各信号線延長
部が３本または３の倍数本を１組とする検査用配線の一
つずつに接続して行うようにしてもよい。
の欠陥検出方法において、前記検査用配線と前記信号線
延長部との電気的な接続・非接続状態を、各信号線延長
部が３本または３の倍数本を１組とする検査用配線の一
つずつに接続して行うようにしてもよい。
【００１４】以下に、本発明の作用について説明する。
【００１５】本発明にあっては、アクティブマトリクス
液晶パネルの１つの信号線に最高輝度よりも低い輝度と
なる表示用のデータ信号を入力し、該１つの信号線の両
隣りの信号線に黒表示用のデータ信号を入力して、該１
つの信号線から該当するデータ信号が与えられる絵素を
単色表示させる。これを、相互に隣合う３つの信号線の
各々について行う。つまり、総ての絵素について単色表
示させる。このとき、単色表示される絵素は、最高輝度
よりも低い輝度で表示されるため、最高輝度よりも低い
輝度においては欠陥の存在により透過率が正常の絵素よ
りも低くなって暗い表示となる。この状態を目視により
観察すると、欠陥の存在を検出することができる。ま
た、その欠陥の存在する箇所の近傍にマークを付けてお
くと、その後に顕微鏡などにて精密な検査を行うことに
より欠陥位置を把握することが可能である。
液晶パネルの１つの信号線に最高輝度よりも低い輝度と
なる表示用のデータ信号を入力し、該１つの信号線の両
隣りの信号線に黒表示用のデータ信号を入力して、該１
つの信号線から該当するデータ信号が与えられる絵素を
単色表示させる。これを、相互に隣合う３つの信号線の
各々について行う。つまり、総ての絵素について単色表
示させる。このとき、単色表示される絵素は、最高輝度
よりも低い輝度で表示されるため、最高輝度よりも低い
輝度においては欠陥の存在により透過率が正常の絵素よ
りも低くなって暗い表示となる。この状態を目視により
観察すると、欠陥の存在を検出することができる。ま
た、その欠陥の存在する箇所の近傍にマークを付けてお
くと、その後に顕微鏡などにて精密な検査を行うことに
より欠陥位置を把握することが可能である。
【００１６】また、総ての前記信号線に対し信号線延長
部を設けると共に各信号線延長部に交差して３本または
３の倍数本の検査用配線を設け、１つの信号線に関連す
る絵素を表示させ、かつ、該１つの信号線の両隣りの信
号線に関連する絵素を非表示とする状態で、該検査用配
線を介して各信号線に該当する前記データ信号を入力す
るようにした場合や、前記検査用配線と前記信号線延長
部との電気的な接続・非接続状態を、各信号線延長部が
３本または３の倍数本を１組とする検査用配線の一つず
つに接続して行うようにした場合には、所定の信号線に
所望のデータ信号を、効率よく与えるようにできる。
部を設けると共に各信号線延長部に交差して３本または
３の倍数本の検査用配線を設け、１つの信号線に関連す
る絵素を表示させ、かつ、該１つの信号線の両隣りの信
号線に関連する絵素を非表示とする状態で、該検査用配
線を介して各信号線に該当する前記データ信号を入力す
るようにした場合や、前記検査用配線と前記信号線延長
部との電気的な接続・非接続状態を、各信号線延長部が
３本または３の倍数本を１組とする検査用配線の一つず
つに接続して行うようにした場合には、所定の信号線に
所望のデータ信号を、効率よく与えるようにできる。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面を
参照しつつ説明する。
参照しつつ説明する。
【００１８】図１は、本発明を適用するカラー表示用の
アクティブマトリクス液晶パネルの要部を示す正面図で
ある。なお、アクティブマトリクス液晶パネルは、その
要部以外は図４１と同様に構成されている。
アクティブマトリクス液晶パネルの要部を示す正面図で
ある。なお、アクティブマトリクス液晶パネルは、その
要部以外は図４１と同様に構成されている。
【００１９】このアクティブマトリクス液晶パルは、図
１に示すように、信号線２について、信号線端子２ａの
外側に信号線延長部２ｂを導出させている。その信号線
延長部２ｂの上には、絶縁膜１３が形成され、更に絶縁
膜１３の上には信号線２に対して交差、たとえば直交す
る状態に３本の検査用配線２５が配線されている。各検
査用配線２５の信号線延長部２ｂと交差する部分の一部
には、スルーホール（貫通孔）２６が設けられている。
１に示すように、信号線２について、信号線端子２ａの
外側に信号線延長部２ｂを導出させている。その信号線
延長部２ｂの上には、絶縁膜１３が形成され、更に絶縁
膜１３の上には信号線２に対して交差、たとえば直交す
る状態に３本の検査用配線２５が配線されている。各検
査用配線２５の信号線延長部２ｂと交差する部分の一部
には、スルーホール（貫通孔）２６が設けられている。
【００２０】スルーホール２６を設けている箇所は、ス
ルーホール２６は、３本を１組とする各信号線２に１ピ
ッチずつずらし、かつ、２本の信号線２おきに１本の信
号線２に対して設けられている。つまり、３本１組の信
号線２は、カラー表示用のＲ（赤）、Ｇ（緑）およびＢ
（青）の３色表示を可能とすべく設けられたものであ
る。
ルーホール２６は、３本を１組とする各信号線２に１ピ
ッチずつずらし、かつ、２本の信号線２おきに１本の信
号線２に対して設けられている。つまり、３本１組の信
号線２は、カラー表示用のＲ（赤）、Ｇ（緑）およびＢ
（青）の３色表示を可能とすべく設けられたものであ
る。
【００２１】次に、このように構成されたアクティブマ
トリクス液晶パネルに対し、本発明の方法を以下のよう
に適用する。
トリクス液晶パネルに対し、本発明の方法を以下のよう
に適用する。
【００２２】各検査用配線２５に、図２に示す２種類の
波形のデータ信号を入力し、カラー表示用のアクティブ
マトリクス液晶パネルを単色表示させる。このことを、
以下に具体的に説明する。ここで、上記検査用配線２５
について、図１に示すように、一番上の検査用配線を２
５Ａとし、その下側の検査用配線を２５Ｂとし、一番下
の検査用配線を２５Ｃとする。
波形のデータ信号を入力し、カラー表示用のアクティブ
マトリクス液晶パネルを単色表示させる。このことを、
以下に具体的に説明する。ここで、上記検査用配線２５
について、図１に示すように、一番上の検査用配線を２
５Ａとし、その下側の検査用配線を２５Ｂとし、一番下
の検査用配線を２５Ｃとする。
【００２３】この場合において、検査用配線２５Ａに、
図２に示す±１．３Ｖの赤表示用のＲｅｄデータ信号波
形を入力し、検査用配線２５Ｂに±４．４ＶのＧｒｅ
ｅｎデータ信号波形を入力し、検査用配線２５Ｃに±
４．４ＶのＢｌｕｅデータ信号波形を入力する。この
とき、ソース電圧と透過率との関係であるＶ−Ｔ特性
は、図３に示すようになっており、ソース電圧として±
４．４Ｖを印加すると、透過率が０に近づいて黒表示と
なり、一方、ソース電圧として±１．３Ｖを印加する
と、印加された絵素においては赤色の表示を行い、全体
としては赤色のベタ表示となる。
図２に示す±１．３Ｖの赤表示用のＲｅｄデータ信号波
形を入力し、検査用配線２５Ｂに±４．４ＶのＧｒｅ
ｅｎデータ信号波形を入力し、検査用配線２５Ｃに±
４．４ＶのＢｌｕｅデータ信号波形を入力する。この
とき、ソース電圧と透過率との関係であるＶ−Ｔ特性
は、図３に示すようになっており、ソース電圧として±
４．４Ｖを印加すると、透過率が０に近づいて黒表示と
なり、一方、ソース電圧として±１．３Ｖを印加する
と、印加された絵素においては赤色の表示を行い、全体
としては赤色のベタ表示となる。
【００２４】また、緑色の単色表示により欠陥検出を行
う場合は、検査用配線２５Ｂに、図２に示す±１．３Ｖ
のＧｒｅｅｎデータ信号波形を入力し、検査用配線２
５Ａに±４．４ＶのＲｅｄデータ信号波形を入力し、
検査用配線２５Ｃに±４．４ＶのＢｌｕｅデータ信号波
形を入力する。これにより、±１．３Ｖの電圧が印加
された絵素においては緑色の表示を行い、全体としては
緑色のベタ表示となる。
う場合は、検査用配線２５Ｂに、図２に示す±１．３Ｖ
のＧｒｅｅｎデータ信号波形を入力し、検査用配線２
５Ａに±４．４ＶのＲｅｄデータ信号波形を入力し、
検査用配線２５Ｃに±４．４ＶのＢｌｕｅデータ信号波
形を入力する。これにより、±１．３Ｖの電圧が印加
された絵素においては緑色の表示を行い、全体としては
緑色のベタ表示となる。
【００２５】また、青色の単色表示により欠陥検出を行
う場合は、検査用配線２５Ｃに、図２に示す±１．３Ｖ
のＢｌｕｅデータ信号波形を入力し、検査用配線２５
Ａに±４．４ＶのＲｅｄデータ信号波形を入力し、検
査用配線２５Ｂに±４．４ＶのＧｒｅｅｎデータ信号波
形を入力する。これにより、±１．３Ｖの電圧が印加
された絵素においては青色の表示を行い、全体としては
青色のベタ表示となる。なお、このときの電圧印加状態
を表１に示す。
う場合は、検査用配線２５Ｃに、図２に示す±１．３Ｖ
のＢｌｕｅデータ信号波形を入力し、検査用配線２５
Ａに±４．４ＶのＲｅｄデータ信号波形を入力し、検
査用配線２５Ｂに±４．４ＶのＧｒｅｅｎデータ信号波
形を入力する。これにより、±１．３Ｖの電圧が印加
された絵素においては青色の表示を行い、全体としては
青色のベタ表示となる。なお、このときの電圧印加状態
を表１に示す。
【００２６】
【表１】
【００２７】以上のようにすることにより、全絵素に対
する欠陥検出が可能となる。このとき、図３の正常特性
と自己の信号線と絵素との間のリーク欠陥のある特性と
について見れば、同一電圧を印加しても両者の間に透過
率に差があるので、絵素電極と自己の信号線とが短絡し
た、Ｓ−Ｄリーク欠陥の発生している絵素を、目視によ
り検出することが可能である。また、自己の信号線とは
別の信号線と絵素電極との間で短絡した点欠陥が存在す
る場合は、従来技術の箇所で説明したように余分な位置
での表示や色具合いの相違により欠陥検出が可能であ
る。
する欠陥検出が可能となる。このとき、図３の正常特性
と自己の信号線と絵素との間のリーク欠陥のある特性と
について見れば、同一電圧を印加しても両者の間に透過
率に差があるので、絵素電極と自己の信号線とが短絡し
た、Ｓ−Ｄリーク欠陥の発生している絵素を、目視によ
り検出することが可能である。また、自己の信号線とは
別の信号線と絵素電極との間で短絡した点欠陥が存在す
る場合は、従来技術の箇所で説明したように余分な位置
での表示や色具合いの相違により欠陥検出が可能であ
る。
【００２８】以上の欠陥検出が終了した時点で、検査用
配線２５よりも絵素側、つまり表示領域側の位置におい
て、上記信号線延長部２ｂが切断等により除去される。
配線２５よりも絵素側、つまり表示領域側の位置におい
て、上記信号線延長部２ｂが切断等により除去される。
【００２９】上記実施形態では各色のベタ表示を行う信
号線には±１．３Ｖのデータ信号波形を入力し、そのと
きに黒表示させる信号線には±４．４Ｖのデータ信号波
形を入力しているが、各色のベタ表示を行う信号線に入
力するデータ信号波形の電位については±１．３Ｖに限
定されない。すなわち、図３において、透過率につき正
常のものと、前記Ｓ−Ｄリーク欠陥のある特性のものと
の間に透過率の差が生じる電圧であればよく、この図示
例では、最高輝度となる０Ｖよりも大きく、±３．５Ｖ
よりも小さければよい。より好ましくは、目視を容易に
すべく透過率の差が、たとえば５％以上となるように、
電圧を±０．８Ｖ〜±１．３Ｖとするのがよく、更に目
視を容易にする場合には透過率の差が、たとえば１０％
以上となるように、電圧を±１．３Ｖ〜±２．０Ｖとす
るのがよい。
号線には±１．３Ｖのデータ信号波形を入力し、そのと
きに黒表示させる信号線には±４．４Ｖのデータ信号波
形を入力しているが、各色のベタ表示を行う信号線に入
力するデータ信号波形の電位については±１．３Ｖに限
定されない。すなわち、図３において、透過率につき正
常のものと、前記Ｓ−Ｄリーク欠陥のある特性のものと
の間に透過率の差が生じる電圧であればよく、この図示
例では、最高輝度となる０Ｖよりも大きく、±３．５Ｖ
よりも小さければよい。より好ましくは、目視を容易に
すべく透過率の差が、たとえば５％以上となるように、
電圧を±０．８Ｖ〜±１．３Ｖとするのがよく、更に目
視を容易にする場合には透過率の差が、たとえば１０％
以上となるように、電圧を±１．３Ｖ〜±２．０Ｖとす
るのがよい。
【００３０】上記実施形態では本発明の欠陥検出方法が
自己の信号線とは別の信号線と絵素電極との間で短絡し
た点欠陥および、Ｓ−Ｄリーク欠陥による点欠陥の検出
が可能なことを説明しているが、本発明にて検出できる
欠陥はこれに限らない。たとえば、リークにより輝度の
変化する、他の原因による点欠陥、たとえば液晶パネル
内に存在する異物等にて発生した点欠陥などについても
同様にして欠陥検出が可能である。加えて、カラー表示
用のアクティブマトリクス液晶パネルに当然設けられる
カラーフィルタの膜厚の不均一性に伴う表示ムラに対し
ても、輝度が他のものと変化することにより検出が可能
である。また、信号線などの断線についても、断線して
いる部分では表示が行われないことにより欠陥検出が可
能である。
自己の信号線とは別の信号線と絵素電極との間で短絡し
た点欠陥および、Ｓ−Ｄリーク欠陥による点欠陥の検出
が可能なことを説明しているが、本発明にて検出できる
欠陥はこれに限らない。たとえば、リークにより輝度の
変化する、他の原因による点欠陥、たとえば液晶パネル
内に存在する異物等にて発生した点欠陥などについても
同様にして欠陥検出が可能である。加えて、カラー表示
用のアクティブマトリクス液晶パネルに当然設けられる
カラーフィルタの膜厚の不均一性に伴う表示ムラに対し
ても、輝度が他のものと変化することにより検出が可能
である。また、信号線などの断線についても、断線して
いる部分では表示が行われないことにより欠陥検出が可
能である。
【００３１】また、上記実施形態では３本の検査用配線
２５を設けたが、検査用配線２５としては３の倍数本を
設けた構成となし、３種類の色を表示させるための信号
線に上述した実施形態と同様なデータ信号波形を印加す
るようにしても、同様な欠陥検出が可能である。
２５を設けたが、検査用配線２５としては３の倍数本を
設けた構成となし、３種類の色を表示させるための信号
線に上述した実施形態と同様なデータ信号波形を印加す
るようにしても、同様な欠陥検出が可能である。
【００３２】また、本発明は、ノーマリホワイトモード
のアクティブマトリクス液晶パネルに限らず、ノーマリ
ブラックモードのアクティブマトリクス液晶パネルにも
適用できる。
のアクティブマトリクス液晶パネルに限らず、ノーマリ
ブラックモードのアクティブマトリクス液晶パネルにも
適用できる。
【００３３】また、本発明は、上述したカラー表示用の
アクティブマトリクス液晶パネルに限らず、白黒用のア
クティブマトリクス液晶パネルに対しても、同様にして
適用して上記点欠陥を検出することができる。
アクティブマトリクス液晶パネルに限らず、白黒用のア
クティブマトリクス液晶パネルに対しても、同様にして
適用して上記点欠陥を検出することができる。
【００３４】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明による場合
には、１つの信号線に最高輝度よりも低い輝度となる表
示用のデータ信号を入力し、該１つの信号線の両隣りの
信号線に黒表示用のデータ信号を入力して、該１つの信
号線から該当するデータ信号が与えられる絵素を単色表
示させるので、欠陥のある絵素では透過率の低下により
暗い表示となり、Ｓ−Ｄリーク欠陥による点欠陥の検出
が可能となる。また、本発明にあっては、自己の信号線
とは別の信号線と絵素電極との間で短絡した点欠陥、液
晶パネル内に存在する異物等にて発生した点欠陥、およ
びカラーフィルタの膜厚の不均一性に伴う表示ムラにつ
いても検出が可能である。これにより、アクティブマト
リクス液晶パネルの生産において、良品率を向上でき、
且つ、欠陥品の市場への不良流出防止ができ、即ち、ア
クティブマトリクス液晶パネルの品質及び信頼性を向上
できる。
には、１つの信号線に最高輝度よりも低い輝度となる表
示用のデータ信号を入力し、該１つの信号線の両隣りの
信号線に黒表示用のデータ信号を入力して、該１つの信
号線から該当するデータ信号が与えられる絵素を単色表
示させるので、欠陥のある絵素では透過率の低下により
暗い表示となり、Ｓ−Ｄリーク欠陥による点欠陥の検出
が可能となる。また、本発明にあっては、自己の信号線
とは別の信号線と絵素電極との間で短絡した点欠陥、液
晶パネル内に存在する異物等にて発生した点欠陥、およ
びカラーフィルタの膜厚の不均一性に伴う表示ムラにつ
いても検出が可能である。これにより、アクティブマト
リクス液晶パネルの生産において、良品率を向上でき、
且つ、欠陥品の市場への不良流出防止ができ、即ち、ア
クティブマトリクス液晶パネルの品質及び信頼性を向上
できる。
【図１】本発明を適用するカラー表示用のアクティブマ
トリクス液晶パネルの要部を示す正面図である。
トリクス液晶パネルの要部を示す正面図である。
【図２】本発明の欠陥検出方法において使用する、アク
ティブマトリクス液晶パネルへ印加するデータ信号波形
の例を示す図である。
ティブマトリクス液晶パネルへ印加するデータ信号波形
の例を示す図である。
【図３】本発明の欠陥検出方法において用いる検出原理
を説明するための図であり、Ｓ−Ｄリークが発生した場
合と正常の場合との透過率の差についての図である。
を説明するための図であり、Ｓ−Ｄリークが発生した場
合と正常の場合との透過率の差についての図である。
【図４】アクティブマトリクス基板の等価回路図であ
る。
る。
【図５】従来技術の欠陥検出に使用している、アクティ
ブマトリクス基板の信号線端子部分を示す拡大構成図で
ある。
ブマトリクス基板の信号線端子部分を示す拡大構成図で
ある。
【図６】従来技術の欠陥検出方法において使用する、ア
クティブマトリクス液晶パネルへ印加するデータ信号波
形例を示す図である。
クティブマトリクス液晶パネルへ印加するデータ信号波
形例を示す図である。
【図７】本発明の欠陥検出方法の対象の一つであるＳ−
Ｄリークを示す等価回路図である。
Ｄリークを示す等価回路図である。
１ 走査線 １ａ 走査線端子 ２ 信号線 ２ａ 信号線端子 ２ｂ 信号線延長部 ３ 共通線 ３ａ 共通線端子 ４ 薄膜トランジスタ（ＴＦＴ） ５ 絵素電極 ６ ゲート電極 ７ ソース電極 ８ ドレイン電極 ９ 冗長配線 ９ａ 冗長配線端子 １０ リーク欠陥 １１ 絵素容量 １２ 補助容量 １３ 絶縁膜 １７ 対向電極 ２４ ショートリング ２５、２５Ａ、２５Ｂ、２５Ｃ 検査用配線 ２６ スルーホール（貫通孔）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 笠原 塔子 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (56)参考文献 特開 平５−323357（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−5481（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−142553（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G02F 1/1368 G02F 1/13 101 G09G 3/36
Claims (3)
- 【請求項１】 アクティブマトリクス液晶パネルの欠陥
を検出する方法において、 １つの信号線に最高輝度よりも低い輝度となる表示用の
データ信号を入力し、該１つの信号線の両隣りの信号線
に黒表示用のデータ信号を入力して、該１つの信号線か
ら該当するデータ信号が与えられる絵素を単色表示させ
るアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法。 - 【請求項２】 総ての前記信号線に対し信号線延長部を
設けると共に各信号線延長部に交差して３本または３の
倍数本の検査用配線を設け、１つの信号線に関連する絵
素を表示させ、かつ、該１つの信号線の両隣りの信号線
に関連する絵素を非表示とする状態で、該検査用配線を
介して各信号線に該当する前記データ信号を入力して、
該当する絵素を単色表示させる請求項１に記載のアクテ
ィブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法。 - 【請求項３】 前記検査用配線と前記信号線延長部との
電気的な接続・非接続状態を、各信号線延長部が３本ま
たは３の倍数本を１組とする検査用配線の一つずつに接
続して行う請求項２に記載のアクティブマトリクス液晶
パネルの欠陥検出方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28415795A JP3190238B2 (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | アクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法 |
| US08/739,760 US5825196A (en) | 1995-10-31 | 1996-10-29 | Method for detecting defects in an active matrix liquid crystal display panel |
| KR1019960050588A KR100225569B1 (ko) | 1995-10-31 | 1996-10-31 | 액티브 매트릭스 액정 패널의 결함을 검출하는 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28415795A JP3190238B2 (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | アクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09127552A JPH09127552A (ja) | 1997-05-16 |
| JP3190238B2 true JP3190238B2 (ja) | 2001-07-23 |
Family
ID=17674924
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28415795A Expired - Lifetime JP3190238B2 (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | アクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5825196A (ja) |
| JP (1) | JP3190238B2 (ja) |
| KR (1) | KR100225569B1 (ja) |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3333686B2 (ja) * | 1996-06-28 | 2002-10-15 | 松下電器産業株式会社 | 表示画面検査方法 |
| USRE41873E1 (en) | 1997-05-12 | 2010-10-26 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof |
| KR100490040B1 (ko) * | 1997-12-05 | 2005-09-06 | 삼성전자주식회사 | 두개이상의쇼팅바를갖는액정표시장치및그제조방법 |
| US6734925B1 (en) | 1998-12-07 | 2004-05-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof |
| US8310262B2 (en) | 1997-12-05 | 2012-11-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof |
| KR100474002B1 (ko) * | 1998-04-28 | 2005-07-18 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치의불량패드수리방법및그구조 |
| US6219443B1 (en) * | 1998-08-11 | 2001-04-17 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for inspecting a display using a relatively low-resolution camera |
| US6281701B1 (en) * | 1999-06-04 | 2001-08-28 | Chi Mei Optoelectronics Corporation | Apparatus for testing flat panel display |
| US6710765B1 (en) * | 1999-10-05 | 2004-03-23 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Input device of 3-D translation and rotation and its method and recording medium |
| JP3437152B2 (ja) * | 2000-07-28 | 2003-08-18 | ウインテスト株式会社 | 有機ｅｌディスプレイの評価装置および評価方法 |
| KR100831280B1 (ko) * | 2001-12-26 | 2008-05-22 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치 |
| TWI333094B (en) * | 2005-02-25 | 2010-11-11 | Au Optronics Corp | System and method for display testing |
| JP4652301B2 (ja) * | 2006-09-08 | 2011-03-16 | 株式会社日本マイクロニクス | カラー表示板の画質検査方法および画質検査装置 |
| US20110298484A1 (en) * | 2009-03-11 | 2011-12-08 | Sharp Kabushiki Kaisha | Electronic circuit and electronic device |
| CN102881241B (zh) * | 2012-09-29 | 2015-03-25 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 漏电辉点拦检方法及装置 |
| CN108169935A (zh) * | 2017-12-19 | 2018-06-15 | 武汉华星光电技术有限公司 | 拦截显示面板的漏电像素的方法及显示面板 |
| CN110706629B (zh) * | 2019-09-27 | 2023-08-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板的检测方法和检测装置 |
| KR20210130333A (ko) * | 2020-04-21 | 2021-11-01 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시장치 및 그 검사방법 |
| CN115667867A (zh) * | 2021-03-15 | 2023-01-31 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板的漏光程度的确定方法、装置、***及测试治具 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5113134A (en) * | 1991-02-28 | 1992-05-12 | Thomson, S.A. | Integrated test circuit for display devices such as LCD's |
| US5546013A (en) * | 1993-03-05 | 1996-08-13 | International Business Machines Corporation | Array tester for determining contact quality and line integrity in a TFT/LCD |
| JPH075481A (ja) * | 1993-06-18 | 1995-01-10 | Fujitsu Ltd | 液晶表示パネルおよびその検査方法 |
| US5444390A (en) * | 1994-02-02 | 1995-08-22 | Texas Digital Systems, Inc. | Means and method for sequentially testing electrical components |
| JP3213472B2 (ja) * | 1994-04-26 | 2001-10-02 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出検査方法、欠陥検出検査装置 |
-
1995
- 1995-10-31 JP JP28415795A patent/JP3190238B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-10-29 US US08/739,760 patent/US5825196A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-10-31 KR KR1019960050588A patent/KR100225569B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09127552A (ja) | 1997-05-16 |
| US5825196A (en) | 1998-10-20 |
| KR100225569B1 (ko) | 1999-10-15 |
| KR970022900A (ko) | 1997-05-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3190238B2 (ja) | アクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法 | |
| US7626414B2 (en) | Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof | |
| JP4869807B2 (ja) | 表示装置 | |
| US20010045997A1 (en) | Liquid crystal display device | |
| KR20080066308A (ko) | 표시패널, 이의 검사방법 및 이의 제조방법 | |
| CN105759521A (zh) | 用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路 | |
| US5473261A (en) | Inspection apparatus and method for display device | |
| JP2002098999A (ja) | 液晶表示装置 | |
| WO2010146745A1 (ja) | 表示パネルの検査方法、及び表示装置の製造方法 | |
| JP3377920B2 (ja) | 液晶表示パネルの製造方法 | |
| JP3591713B2 (ja) | 液晶表示装置及びその検査方法 | |
| KR100471782B1 (ko) | 액정표시장치의불량검출방법 | |
| JP3290602B2 (ja) | 液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置 | |
| JPH09138422A (ja) | 液晶表示装置及びその検査方法 | |
| JP3492203B2 (ja) | 液晶表示装置 | |
| JP3177702B2 (ja) | 液晶表示装置の検査方法 | |
| JP2002277896A (ja) | 液晶表示装置及び画面表示応用装置 | |
| JP3302623B2 (ja) | アクティブマトリックス型液晶パネルの検査方法 | |
| JPH11149092A (ja) | 液晶表示装置及びその検査方法 | |
| KR20050053407A (ko) | 액정표시장치용 어레이기판 | |
| KR20070071702A (ko) | 액정표시장치 | |
| JP3179319B2 (ja) | マトリクス型表示装置の欠陥検出方法 | |
| US20240087492A1 (en) | Display substrate, test method for the same and display device | |
| JP2004226931A (ja) | 液晶表示装置 | |
| JP3898037B2 (ja) | 液晶表示パネルの点灯表示検査方法及び点灯表示検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20010418 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080518 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090518 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100518 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110518 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110518 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120518 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120518 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130518 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140518 Year of fee payment: 13 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |