JPH08262091A - 検査装置 - Google Patents

検査装置

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JPH08262091A
JPH08262091A JP7086177A JP8617795A JPH08262091A JP H08262091 A JPH08262091 A JP H08262091A JP 7086177 A JP7086177 A JP 7086177A JP 8617795 A JP8617795 A JP 8617795A JP H08262091 A JPH08262091 A JP H08262091A
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JP
Japan
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cassette
inspected
inspection
substrate
static electricity
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JP7086177A
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English (en)
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Yoichi Nakagome
陽一 中込
Hideto Yokomori
秀人 横森
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TERU ENG KK
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
TERU ENG KK
Tokyo Electron Ltd
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Publication date
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Priority to US08/737,338 priority patent/US5742173A/en
Priority to KR1019960706529A priority patent/KR100261325B1/ko
Priority to PCT/JP1996/000699 priority patent/WO1996029607A1/ja
Priority to TW085103546A priority patent/TW290645B/zh
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  • Elimination Of Static Electricity (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 LCD用基板のアライメントを円滑且つ確実
に行なうことができるLCD用基板Sの検査装置を提供
する。 【構成】 本LCD用基板Sの検査装置10は、複数の
LCD用基板Sが収納されたカセットCを載置するカセ
ット載置部13と、その上に載置されたカセットCから
LCD用基板Sを1枚ずつ出し入れする搬送装置14
と、この搬送装置14との間でLCD用基板Sを授受す
る基板載置台44と、その上に載置されたLCD用基板
Sの電極パッドPに接触して電気的検査を行なうプロー
ブ針54Aとを備え、カセットCに帯電した静電気を除
去する第1イオナイザ22Aを設けると共に、搬送装置
14による搬送時にLCD用基板Sに帯電した静電気を
除去する第2イオナイザ22Dを設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示体用基板(L
CD用基板)や半導体ウエハ等の被検査体の電気的検査
を行なう検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】被検査体、例えばLCD用基板は、TF
T型LCDの部品として用いられるものである。このL
CD用基板は例えばガラス基板表面に複数の電気回路が
成膜装置等の処理装置を用いてマトリックス状に形成さ
れたもので、表面の各電気回路はLCDの画素データを
ON、OFF制御に用いられる。これらの電気回路は後
にそれぞれを個々に分割し、使用するようにしている。
マトリックス状に配列された個々の電気回路には、その
周辺に図7で示すように電気的接点となる電極パッドP
が多数形成されている。そして、個々の電気回路の良否
を判定するための電気的検査はLCD用基板の状態のま
ま検査装置において各電極パッドPにプローブ針を接触
させることによって行なわれている。尚、電気的検査を
行なう場合には、LCD用基板を正確に位置決めした後
行なう必要があるため、LCD用基板上のコーナー部に
は図7に示すように例えばクロスマークM1、M2などか
らなるアライメントマークが形成されている。
【0003】上記LCD用基板の検査装置は、一般に、
LCD用基板を基板載置台に対してロード、アンロード
するハンドリング部と、このハンドリング部から受け取
ったLCD用基板の電気的検査を行なう検査部とを備え
ている。ハンドリング部はカセット内に例えば25枚収
納されたLCD用基板を1枚ずつ取り出してハンドリン
グするように構成されている。このハンドリング部は、
例えばカセットを載置するカセット載置部と、このカセ
ット載置部に載置されたカセット内のLCD用基板を1
枚ずつ取り出して検査部へ搬送する搬送装置とを備えて
いる。また、検査部は、ハンドリング部の搬送装置から
受け取ったLCD用基板を保持する基板載置台と、この
基板載置台上に載置されたLCD用基板を照明しながら
アライメントマークを検出するアライメント機構と、こ
のアライメント機構の検出結果に基づいて駆動する基板
載置台によるアライメント後にLCD用基板の各電極パ
ッドと接触して電気的検査を行なうプローブ針とを備え
ている。
【0004】従って、上記検査装置を用いてLCD用基
板等の被検査体の電気的検査を行なう場合には、被検査
体をカセット内に収納した状態でハンドリング部のカセ
ット載置部へ供給する。供給の仕方はオペレータがカセ
ット載置部へ直接載置する方法と、自動搬送車を用いて
カセット載置部へ自動的に載置する方法とがある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、カセッ
ト及び被検査体は、その基板がガラス板や半導体ウエハ
等の絶縁性材料によって形成されているため、検査装置
へ供給するまでにカセット及び被検査体は静電気を帯る
ことがある。ところが、従来の検査装置の場合には、こ
のように静電気を帯電した状態で検査装置へ供給し、そ
のまま被検査体の電気的検査を上述のように行なうと、
プローブ針と被検査体の電極パッドが接触する直前にガ
ラス基板等の基板に帯電した静電気が電極パッドとプロ
ーブ針との間で放電し、この放電により基板表面の電気
回路を損傷するなどの虞があり、延いては歩留りの低下
を招くという課題があった。
【0006】一方、最近はLCD用基板や半導体ウエハ
等の被検査体及び電気回路の作製技術が著しく向上して
来ているため、被検査体が大型化すると共に電気回路が
微細化して来ている。そのため、このような被検査体は
帯電しやすく、しかも微細配線構造は放電により損傷し
やすくなって来ている。
【0007】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたもので、被検査体のが帯電した状態で供給されて
も、その静電気を除去して被検査体を損傷することなく
安定した電気的検査を行ない、歩留りを高めることがで
きる検査装置を提供することを目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に記載
の検査装置は、複数の被検査体が収納されたカセットを
載置するカセット載置部と、このカセット載置部上に載
置されたカセットから被検査体を1枚ずつ出し入れする
搬送装置と、この搬送装置との間で被検査体を授受する
載置台と、載置台上に載置された被検査体の電極に接触
して電気的検査を行なうプローブ針とを備えた検査装置
において、上記搬送装置による搬送時に被検査体に帯電
した静電気を除去する静電除去装置を設けたことを特徴
とするものである。
【0009】本発明の請求項2に記載の検査装置は、複
数の被検査体が収納されたカセットを載置するカセット
載置部と、このカセット載置部上に載置されたカセット
から被検査体を1枚ずつ出し入れする搬送装置と、この
搬送装置との間で被検査体を授受する載置台と、載置台
上に載置された被検査体の電極に接触して電気的検査を
行なうプローブ針とを備えた検査装置において、上記カ
セットに帯電した静電気を除去する第1静電除去装置を
設けると共に、上記搬送装置による搬送時に被検査体に
帯電した静電気を除去する第2静電除去装置を設けたこ
とを特徴とするものである。
【0010】また、本発明の請求項3に記載の検査装置
は、請求項2に記載の発明において、上記第1静電気除
去装置を、上記カセット載置部に載置されたカセットの
両側に設けたことを特徴とするものである。
【0011】また、本発明の請求項4に記載の検査装置
は、請求項1〜請求項3のいずれか一つに記載の発明に
おいて、上記搬送装置で搬送される被検査体に帯電した
静電気を除去する静電除去装置を、上記搬送装置が上記
載置台を待機する位置に設けたことを特徴とするもので
ある。
【0012】また、本発明の請求項4に記載の検査装置
は、請求項1〜請求項4のいずれか一つに記載の発明に
おいて、上記各静電除去装置をそれぞれ首振り可能に設
けたことを特徴とするものである。
【0013】
【作用】本発明の請求項1に記載の発明によれば、被検
査体が収納されたカセットをカセット載置部へ載置した
後、搬送装置がカセット内の被検査体を1枚ずつ取り出
して載置台へ搬送する。搬送装置で被検査体を搬送する
間にその被検査体に静電気除去装置が作用して被検査体
に帯電した静電気を除去する。被検査体の静電気を除去
した後、搬送装置から載置台へ被検査体を引き渡した
後、被検査体の電極にプローブ針を接触させて被検査体
の電気的検査を行なう。
【0014】本発明の請求項2に記載の発明によれば、
被検査体が収納されたカセットをカセット載置部へ載置
すると、第1静電除去装置がカセットに作用して主とし
てカセットに帯電した静電気を除去する。その後、搬送
装置がカセット内の被検査体を1枚ずつ取り出して載置
台へ搬送するが、この間にその被検査体に第2静電気除
去装置が作用して被検査体に帯電した静電気を除去す
る。被検査体の静電気を除去した後、搬送装置から載置
台へ被検査体を引き渡した後、被検査体の電極にプロー
ブ針を接触させて被検査体の電気的検査を行なう。
【0015】また、本発明の請求項3に記載の発明によ
れば、請求項2に記載の発明において、上記第1静電気
除去装置を、上記カセット載置部に載置されたカセット
の両側に設けたため、カセットの両側から第1静電気除
去装置が作用し、カセットの静電気をより確実に除去す
ることができる。
【0016】また、本発明の請求項4に記載の発明によ
れば、請求項1〜請求項3のいずれか一つに記載の発明
において、上記搬送装置で搬送される被検査体に帯電し
た静電気を除去する静電除去装置を、上記搬送装置が上
記載置台を待機する位置に設けたため、載置台へ被検査
体を引き渡す直前に静電気除去装置が作用し、検査直前
の被検査体から静電気を除去することができる。
【0017】また、本発明の請求項5に記載の発明によ
れば、請求項1〜請求項4のいずれか一つに記載の発明
において、上記第1、第2静電除去装置をそれぞれ首振
り可能に設けたため、カセット全体及び被検査体全体に
静電気除去作用を及ぼし、カセット及び被検査体の静電
気をより確実に除去することができる。
【0018】
【実施例】以下、図1〜図7に示す実施例に基づいて本
発明を説明する。本実施例のLCD用基板の検査装置1
0は、例えば図1に示すように、LCD用基板Sをロー
ド、アンロードするハンドリング部11と、このハンド
リング部11から受け取ったLCD用基板Sの電気的検
査を行なう検査部12とを備えて構成されている。そし
て、これらのハンドリング部11と検査部12は互いに
隣合って並設されている。更に、ハンドリング部11
は、LCD用基板Sを例えば25枚単位で収納するカセ
ットCを載置する、カセット載置部13と、このカセッ
ト載置部13上に載置されたカセットC内のLCD用基
板Sを1枚ずつ取り出して検査部12へ搬送する搬送装
置14とを備えている。上記カセットCの正面にはLC
D用基板Sを出し入れする開口部が全面に形成されてい
る。また、カセットCの内側面には図示しない支持溝が
上下方向で所定間隔をあけて形成され、これらの支持溝
によりLCD用基板Sを水平に支持するようにしてあ
る。
【0019】また、本実施例のLCD用基板の検査装置
10は、自動搬送車(図示せず)との間でカセットCを
自動的に授受するように構成されている。即ち、ハンド
リング部11の正面(図1の左側)を基準にした右側方
(図1では手前側)にはカセットCを載置する上述のカ
セット載置部13が2箇所に設けられており、これらの
カセット載置部13は正面側から奥行方向(図1の右
側)に向けて所定間隔をあけて縦列に2箇所配置されて
いる。このカセット載置部13は必要に応じて更に増設
することができる。そして、各カセット載置部13には
自動搬送車のアーム(図示せず)が侵入する溝空間15
が装置正面に対して平行に形成され、この溝空間15内
でカセットCを保持したアームが昇降し、カセットCが
溝空間15を跨いだ状態でカセット載置部13上へカセ
ットCを載置するようにしてある。従って、溝空間15
の幅はカセットCの幅よりも広く形成されている。尚、
上記自動搬送車は図示しないホストコンピュータとの交
信に基づいて前工程のLCD用基板Sをカセット単位で
検査装置10まで搬送し、検査後には後工程へ搬送する
ようにしてある。また、図示してないがカセット載置部
13にはカセットCのコーナー部に係合する位置決め部
材が設けられている。
【0020】また、ハンドリング部11の側面にはカセ
ットCを検出するカセット検出装置16が溝空間15の
両側に位置させて配設されている。このカセット検出装
置16は、発光ダイオードなどからなる発光素子を有す
る発光部16Aと、この発光部16Aからの光線を受光
する受光素子を有する受光部16Bとを備えたラインセ
ンサとして構成されている。これら発光部16A及び受
光部16Bは溝空間15の両側にカセットCを挟むよう
に配設され、これら両者16A、16B間での光線の遮
断によりカセットCを検出し、それを認識するようにし
てある。また、ハンドリング部11の側面には自動搬送
車との間で例えば光通信を行なう通信手段17が各溝空
間15の下方に位置させて配設され、この通信手段17
が自動搬送車との間で光通信を行なうことによりカセッ
トCの搬入、搬出動作を行なうようにしてある。
【0021】また、カセット載置部13の載置面には物
体検出装置18が外側に偏倚させて配設されている。こ
の物体検出装置18は、例えば正面側(図1では端左
側)に配設された発光部18Aと、最奥側(図1では右
端側)に配設された受光部18Bとを備え、両者18
A、18B間の光線によりカセットC及びそれ以外の物
体を検出するラインセンサとして構成されている。即
ち、自動搬送車との間でカセットCの授受を行なうと、
発光部18Aからの光線が遮断され、カセットCを授受
した旨の信号を図4に示す後述のコンピュータへ送信
し、搬送装置14等の駆動部を作動させるようにしてあ
る。更に、カセットCの通過範囲から外れた位置で光線
が遮断されれば、カセット検出装置16によりカセット
Cを検出してもカセットC以外の物体が障害物としてハ
ンドリング部11内に侵入した旨の信号をコンピュータ
へ送信し、各駆動部の作動を阻止すると共にパイロット
ライト等の警告灯19を点燈したり、警告ブザーを鳴ら
して異常を知らせるようにしてある。
【0022】上記カセット載置部13にはカセットC内
に収納されたLCD用基板Sの収納枚数を計数する計数
装置20が配設されている。この計数装置20は発光部
20A及び受光部20Bからなり、これら両者20A、
20Bは溝空間15の両側に形成された開口部21に配
設されている。そして、発光部20Aと受光部20Bは
溝空間15の下方で連結され、ボールネジなどの駆動機
構(図示せず)により開口部21において昇降するよう
に構成されている。従って、計数装置20が開口部21
において昇降する間に光線が遮断された回数などを計数
することによりLCD用基板Sの収納枚数を計数するよ
うにしてある。
【0023】また、図1、図3に示すようにカセット載
置部13の内方で溝空間15の両側にはカセットCの高
さをカバーする第1イオナイザ22Aがそれぞれ対をな
いして配設され、各イオナイザ22A、22Aによりカ
セットCの両側からカセットCに帯電した静電気を除去
するようにしてある。イオナイザ22Aは、上下に細長
形状に形成され、例えば図3に示すように、上下に縦列
に配列された複数の放電室rを有し、その内部に取り付
けられた一対の針n、n間で放電して発生するイオンを
カセットCへ供給するようにしてある。各イオナイザ2
2A、22Aは軸を介してモータmに接続されている。
これにより、各イオナイザ22A、22Aはモータmに
より同時に左右に所定角度だけ正逆回転するようにして
ある。図3では、モータmが一方のイオナイザ22Aに
取り付けられたものを示しているが、一つのモータmで
一対のイオナイザ22Aが駆動するようにした方が好ま
しい。
【0024】更に、各イオナイザ22Aは放電用の電源
及びモータmの駆動用電源はいずれもローダコントロー
ラ22Bに接続されている。そして、このローダコント
ローラ22Bは、図4に示すように、コンピュータ22
Cからの信号に基づいてイオナイザ22Aを制御するよ
うにしてある。このコンピュータ22Cには上記物体検
出装置18が接続され、この物体検出装置18からの信
号に基づいてローダコントローラ22Bを介してイオナ
イザ22Aが作動するようにしてある。各イオナイザ2
2Aは、ローダコントローラ22Bの制御下で間欠的に
作動し、カセットCでの帯電を常に防止するようにして
ある。
【0025】また、上記搬送装置14を用いてカセット
Cから検査部12へLCD用基板Sを搬送する経路に
は、図5に示すように個々のLCD用基板Sに帯電した
静電気を除去する第2イオナイザ22Dが配設されてい
る。この搬送経路は、カセット載置部13と検査部12
の間に形成されている。このイオナイザ22Dは、搬送
経路の中でも検査部12へLCD用基板Sを引き渡すた
めに待機する位置に配設されている。このイオナイザ2
2Dは第1イオナイザ22Aと同様に構成されている。
このイオナイザ22Dのイオン供給部は、図5に示すよ
うに、搬送装置14のロードアーム26で支持されたL
CD用基板Sの上方にこれと対向するように配置され、
LCD用基板Sの上方において所定の角度だけ正逆回転
することにより、イオンをLCD用基板S全面に供給す
るようにしてある。また、このイオナイザ22Dの制御
系統は、例えば図4に示すように構成され、例えばロー
ドアーム26に配設された基板センサ22Eの検出信号
に基づいて所定時間を経過した後作動するようにしてあ
る。
【0026】また、カセットCの上方にはバーコードリ
ーダなどからなるカセット識別装置23が配設され、こ
のカセット識別装置23によりカセットC上面に形成さ
れたバーコードなどの識別符号24を読取り、LCD用
基板Sをロッド単位で識別すると共に、その読取り内容
に応じて検査部12のコンピュータ及び検査部12のコ
ントローラを介して検査部12が動作するようにしてあ
る。この識別符号24は検査内容を示す検査情報を表示
している。そして、ハンドリング部11の状況はハンド
リング部11内に設けられたCCDカメラなどを介して
ハンドリング部11正面の表示装置25に表示するよう
にしてある。この表示装置25は操作パネルとしても機
能するようにしてある。
【0027】上記搬送装置14は、図1に示すように、
カセット載置部13と検査部12の間に形成された空間
に配設され、この空間でX方向、Y方向、Z方向及びθ
方向で移動できるようにしてある。この搬送装置14
は、上下に互いに平行に配置された2枚のアーム26、
27と、各アーム26、27を支持する支持板28とを
有し、停止時には図1、図2に示すように奥行方向(X
方向)と直交するY方向を向いて配設されている。そし
て、上記各アーム26、27は支持板28上で移動でき
るようにしてある。また、支持板28は昇降駆動機構を
構成するボールネジ29を介して下方の回転体30に連
結されている。これにより、各アーム26、27は、ボ
ールネジ29を介して上下方向(Z方向)で移動し、回
転体30を介してθ方向で正逆回転するようにしてあ
る。上記ボールネジ29は、例えば図示しないナット
(またはウォームギヤー)及びモータにより回転するよ
うに構成されている。
【0028】上記回転体30は、図2に示すように、X
テーブル31上に配設されている。このXテーブル31
の下方には正面側から最奥部に至る基台32が配設さ
れ、この基台32上面には正面側から最奥部に至るX方
向のボールネジ33及びこのボールネジ33を挟む一対
のレール34がそれぞれ配設されている。そして、ボー
ルネジ33にはXテーブル31の裏面に取り付けられた
ナット35が螺合し、一対のレール34にはXテーブル
31の裏面に取り付けられた係合部材36が係合し、ボ
ールネジ33に連結されたモータ37により、Xテーブ
ル31がカセット載置部13に沿って往復移動するよう
にしてある。
【0029】上記アーム26、27は例えばいずれも図
2に示すように同一形状に形成され、各アーム26、2
7は互いに独立して駆動するようにしてある。そして、
例えば上方のアーム26はカセットC内からLCD用基
板Sを取り出し、後述する検査部12の基板載置台上へ
LCD用基板Sをロードするアームとして用いられ、ま
た、下方のアーム27は基板載置台から検査済みのLC
D用基板Sをアンロードするアームとして用いられる。
従って、以下の説明では上方のアーム26をロードアー
ム26と称し、下方のアーム27をアンロードアーム2
7と称する。また、各アーム26、27の上面には孔が
形成され、それぞれの裏面側に取り付けられた図示しな
い吸引配管及び真空排気装置(図示せず)を介してアー
ム上のLCD用基板Sを真空吸着するようにしてある。
【0030】各アーム26、27はいずれも同様に構成
されているため、ロードアーム26について説明する
と、ロードアーム26は、図2に示すように、連結部材
39を介してY方向駆動機構40に連結されている。こ
れによりロードアーム26は支持板28上でY方向で往
復移動できるようになっている。このY方向駆動機構4
0は、支持板28の長手方向側縁の先端部に配設された
モータ40Aと、支持板28の長手方向側縁の後端部に
配設された回転ローラ40Bと、これら両者40A、4
0B間に掛け回された無端状のタイミングベルト40C
とを備え、このタイミングベルト40Cに連結部材39
を介してロードアーム26が連結されている。また、ア
ンロードアーム27は支持板28上で上記Y方向駆動機
構40と同様に構成されたY方向駆動機構(図示せず)
に連結されている。従って、各アーム26、27は、そ
れぞれ支持板28上をY方向で互いに独立して往復移動
するようになっている。これらの各部材はいずれも合成
樹脂などの絶縁性部材により形成されている。尚、Y方
向駆動機構40はボールネジなどによって構成されたも
のであっても良い。
【0031】また、上記回転体30上にはこの上でθ方
向に正逆回転するプリアライメント機構42が配設さ
れ、このプリアライメント機構42によりカセットCか
ら受け取ったLCD用基板Sを検査部12の基板載置台
に引き渡す前にプリアライメントするようにしてある。
このプリアライメント機構42の載置面42Aには真空
吸着用の孔42Bが形成され、この孔42BによりLC
D用基板Sを真空吸着するようにしてある。そして、支
持板28には上記プリアライメント機構42の上方で開
口する開口部29Aが形成され、ボールネジ29により
ロードアーム26及びアンロードアーム27が下降した
時に、開口部29Aから支持板28の上方へ突出し、各
アーム26、27からLCD用基板Sを受け取ってLC
D用基板Sをプリアライメントするようにしてある。
【0032】また、上記カセット載置部13から検査部
12へLCD用基板Sを搬送する経路にはロードアーム
26上で支持されたLCD用基板Sの周縁の一部に形成
されたバーコード等の識別符号(図示せず)を読取る基
板識別装置43が配設され、ロードアーム26により検
査部12へ引き渡すLCD用基板Sを1枚ずつ識別し、
その識別内容に従って電気的検査を行なうようにしてあ
る。尚、上記識別符号はLCD用基板Sの特徴を表わす
情報を表示してあり、この情報に従って検査部12にお
いて検査するようにしてある。
【0033】更に、上記検査部12には基板載置台44
が検査部12に形成された空間内でX方向、Y方向、Z
方向及びθ方向で移動可能に配設されている。即ち、基
板載置台44は、図1に示すように、Yテーブル45上
に配設されている。このYテーブル45はXテーブル4
6上面にそれぞれ配設されたボールネジ47及びこの両
側のレール48を介してY方向で移動するようにしてあ
る。また、Xテーブル46は基台49上面にそれぞれ配
設されたボールネジ50及びこの両側のレール51を介
してX方向で移動するようにしてある。
【0034】上記基板載置台44は、図1、図6に示す
ように、円形状の中央載置部44Aを上端に有するロッ
ド44Bと、このロッド44Bの中央載置部44Aを囲
む矩形状の周縁載置部44Cと、この周縁載置部44C
の下方に配設された筐体44Dと、この筐体44D内に
配設された駆動源例えばエアシリンダ44Eとを備えて
いる。そして、周縁載置部44Cの裏面にはエアシリン
ダ44Eのシリンダロッドが連結され、エアシリンダ4
4Eにより周縁載置部44Cがロッド44Bの中央載置
部44Aから下降するようにしてある。これにより、本
実施例では、基板載置台44の載置面44cが、LCD
用基板Sの中央部を面支持する中央載置部44Aと、こ
の中央載置部44Aの周縁でLCD用基板Sを支持する
周縁載置部44Cとに分割されている。しかも、周縁載
置部44Cがエアシリンダ44Eを介して中央載置部4
4Aから下降可能に構成されていることになる。
【0035】また、上記検査部12内のアライメント位
置には、図1に示すように、細長形状のアライメント機
構52がX方向に向けてヘッドプレート上に固定されて
いる。このアライメント機構52は、LCD用基板Sを
保持した基板載置台44がアライメント位置に達した時
に、図7で示すLCD用基板Sの一側縁に所定間隔をあ
けて形成された2つのアライメントマーク(例えば、ク
ロスマーク)M1、M2を検出し、これらのクロスマーク
1、M2を基準にしてLCD用基板Sのアライメントを
行なうように構成されている。このアライメント機構5
2は基板載置台44に配設されたCCDカメラ(図示せ
ず)と協働してアライメントするようにしてある。
【0036】また、上記CCDカメラは、図6に示すよ
うに、ヘッドプレート53に固定されたプローブボード
54のプローブ針54Aを撮像し、検査時の基準となる
例えば2本のプローブ針54Aに基づいて基板載置台4
4の位置決めを行なうようにしてある。この様子は検査
部12の正面に配設された表示装置55によって視認で
きるようにしてある。この基板載置台44は、同図に示
すように、LCD用基板Sを検査部12のプローブ針5
4Aの真下まで移動した後、基板載置台44を上昇させ
てプローブ針54AにLCD用基板Sの電極パッドP
(図7参照)をプローブ針54Aに接触させて電気的検
査を行なうようにしてある。尚、基板載置台44とプロ
ーブ針間の距離は例えば静電容量センサなどからなるハ
イトセンサ(図示せず)により検出するようにしてあ
る。
【0037】次に動作について説明する。LCD用基板
を検査する場合には、まず、ホストコンピュータから自
動搬送車に対してLCD用基板の供給指令が送信され
る。自動搬送車は、この指令により前工程からカセット
単位でLCD用基板Sを受け取って検査装置10まで走
行し、図1で示す検査装置10の通信手段17と対峙し
た位置で停止する。然る後、自動搬送車が通信手段17
を介して検査装置10との間で通信すると、検査装置1
0ではカセットCの受け入れ態勢ができる。これにより
カセットCを保持した自動搬送車のアームが駆動し、こ
のアームによるカセットCの搬入動作が開始すると、ま
ずカセット検出装置16がそのカセットCを検出し、カ
セットCの搬入を検出し、搬送装置14などの駆動部が
始動する。次いでカセット載置部13において物体検出
装置18がそのカセットCを検出すると駆動部はそのま
ま駆動すると共にカセットCをカセット載置部13上へ
載置する。ところがこの時、物体検出装置18がカセッ
トCと共に、カセットCの通過範囲外でカセットC以外
の物体を検出すると、この物体が検査に不要な障害物の
侵入と判断し、各駆動部を緊急停止させる。
【0038】障害物を検出することなくカセットCを載
置すると、カセット識別装置23がカセットCのバーコ
ード24を検出して検査すべきLCD用基板Sをロッド
単位で識別し、その識別結果を検査部12の制御装置に
送信し、その識別結果に基づいた検査を行なう態勢を採
る。
【0039】物体検出装置18が上述のようにカセット
載置部13上のカセットCを検出すると、その検出信号
をコンピュータ22Cへ送信する。コンピュータ22C
は検出信号に基づいて第1イオナイザ22Aを作動させ
るための指令信号をローダコントローラ22Bへ送信す
る。ローダコントローラ22Bはこの指令信号に基づい
て第1イオナイザ22Aへ制御信号を送信する。第1イ
オナイザ22Aは、この制御信号に基づいて放電用電源
及び駆動用電源がONになり、放電用針n、n間で放電
してイオンをカセットCへ供給すると共に、モータmに
よりイオン供給部を左右に振ってカセットCの全側面に
イオンを供給し、カセットCで帯電した静電気を除去し
て電気的に中和する。この時には主としてカセットCの
静電気を除去する。
【0040】一方、例えば搬送装置14は先端をカセッ
ト載置部13側に向け、ロードアーム26及びアンロー
ドアーム27が図2に示すように互いに上下の位置にあ
る。その態勢から昇降駆動機構のボールネジ29が上述
のように駆動し、ロードアーム26が支持板28と共に
昇降して取り出すべきLCD用基板Sのやや下方に達す
ると、ボールネジ29が停止する。引き続いてY方向駆
動機構40のモータ40Aの正回転によりタイミングベ
ルト40Cが回転すると、ロードアーム26が支持板2
8上で前方に進出しカセットC内に侵入する。そして、
再びボールネジ29が駆動し、ロードアーム26でLC
D用基板Sを持ち上げる。この時、ロードアーム26の
基板センサ22E(図4参照)がLCD用基板Sを検出
する。
【0041】その後、Y方向駆動機構40のモータ40
Aが逆回転すると、タイミングベルト40Cを介してロ
ードアーム26がアンロードアーム28の位置まで後退
する。ロードアーム27が後退する途中で、プリアライ
メント機構42によりLCD用基板Sのプリアライメン
トを行なう。ロードアーム27が後退した後、搬送装置
14はX方向へ移動し、検査部12のアライメント位置
へ到達するが、この間に回転体30がθ方向で180°
回転し、先端を検査部12に向ける。
【0042】引き続きY方向駆動機構40が駆動し、ロ
ードアーム26が検査部12のアライメント位置へ進出
する前に一旦停止する。この時、ロードアーム26の基
板センサ22Eの検出信号をコンピュータ22C及びロ
ーダコントローラ22Bを介して第2イオナイザ22D
の放電用電源及び駆動用電源がONになり、イオンをL
CD用基板Sへイオンを供給すると共に、イオン供給部
を連続的に正逆回転してLCD用基板Sの全面にイオン
を供給し、LCD用基板Sで帯電した静電気を除去して
電気的に中和する。その後、再びY方向駆動機構40が
駆動し、ロードアーム26のLCD用基板Sを基板載置
台44上へ引き渡す。この時、基板載置台44では、エ
アシリンダ44Eにより周縁載置部44Cが下降し、中
央載置部44A上でLCD用基板Sを保持し、周縁載置
部44Cの上昇によりLCD用基板S全面を保持する。
【0043】上述のようにして基板載置台44によりL
CD用基板Sを保持すると、アライメント機構52を介
してLCD用基板Sをアライメントする。アライメント
後、基板載置台44がプローブボード54のプローブ針
54Aの下方へ移動する。その後、基板載置台44が上
昇し、LCD用基板Sの電極パッドPがプローブ針54
Aに接触する。この時、LCD用基板Sは第1、第2イ
オナイザ22A、22Dにより電気的に中和されている
ため、プローブ針54Aと電極パッドP間で放電するこ
とがなく、LCD用基板Sの電極パッドPなどの電気回
路を損傷することがない。従って、その後の検査を何等
支障なく行なうことができる。
【0044】電気的検査の間に、搬送装置14がカセッ
トCまで移動して次のLCD用基板Sを取り出し、更
に、アライメント位置まで移動して検査の終了を待機す
る。待機している間に第2イオナイザ22Dが作動して
そのLCD用基板Sの静電気を除去する。そして、検査
が終了すると、基板載置台44がアライメント位置側に
来て既に待機している搬送装置14と対峙する。その
後、搬送装置14のアンロードアーム27が基板載置台
44に向けて進出し、検査済みのLCD用基板Sをアン
ロードする一方、ロードアーム26が進出し、静電気が
除去されたLCD用基板Sを基板載置台44上へロード
する。以後は同様の動作を繰り返す。
【0045】そして、カセットC内の全てのLCD用基
板Sの検査が終了すると、検査部12の制御装置からホ
ストコンピュータにその旨の信号を送信し、更に、ホス
トコンピュータは自動搬送車に搬出指令を送信し、自動
搬送車により検査済みのLCD用基板Sを検査装置10
から搬出し、後工程へ搬送する。
【0046】以上説明したように本実施例によれば、カ
セットCに帯電した静電気を第1イオナイザ22Aによ
り除去すると共に、搬送装置14で搬送されるLCD用
基板Sに帯電した静電気を第2イオナイザ22Dにより
除去するようにしたため、検査部12へ静電気を帯てい
ないLCD用基板Sを供給するとができる。従って、電
気的検査を行なう時に、プローブ針54AにLCD用基
板Sの電極パッドPが接触する直前にこれら両者54
A、P間で放電して電極パッドPなどの電気回路を損傷
する虞がなく、延いては検査の歩留りを高めることがで
きる。特に、大型化し、電気回路が微細化したLCD用
基板Sにおいて本実施例の検査装置10はその効果を発
揮する。
【0047】また、本実施例によれば、カセット載置部
13に載置されたカセットCの両側に第1イオナイザ2
2Aを設けたため、カセットCの静電気をより確実に除
去することができる。また、第2イオナイザ22Dを搬
送装置14が基板載置台44を待機する位置に設けたた
め、検査部12へLCD用基板Sを供給する直前にその
静電気を第2イオナイザ22Dにより除去することがで
き、検査までにLCD用基板Sが再び帯電する可能性を
最大限に防止することができ、より安定した検査を行な
うことができる。また、第2イオナイザ22DによりL
CD用基板Sの静電気を確実に除去するようにしておけ
ば、第1イオナイザ22Aは省略することもできる。
【0048】尚、本発明は、上記実施例に何等制限され
るものではなく、各構成要素は必要に応じて適宜設計変
更することができる。例えば、第1イオナイザ22Aは
カセットCの上方に取り付けることができ、また、第2
イオナイザ22Dは個々のLCD用基板Sの静電気を除
去できる位置であればその搬送経路のいずれの場所に設
けても良い。また、本実施例では全自動対応の検査装置
について説明したが、カセットの搬入、搬出をオペレー
タが行なう装置についても適用できることは言うまでも
ない。また、本発明の検査装置は半導体ウエハなどのの
検査装置についても適用することができる。
【0049】
【発明の効果】本発明の請求項1〜請求項5に記載の発
明によれば、被検査体が帯電した状態で供給されても、
その静電気を除去して被検査体を損傷することなく安定
した電気的検査を行ない、歩留りを高めることができる
検査装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の検査装置の一実施例を示す全体斜視図
である。
【図2】図1に示す検査装置に用いられる搬送装置を示
す側面図である。
【図3】図1に示す検査装置のカセット載置部に設けら
れた第1イオナイザを示す一部を破断した斜視図であ
る。
【図4】図3に示す第1イオナイザを制御する制御系統
を示すブロック図である。
【図5】図1に示す搬送装置の搬送経路に設けられた第
2イオナイザを示す斜視図である。
【図6】図1に示す検査装置の基板載置台によりLCD
用基板をプローブ針に接触させる直前の状態を示す断面
図である。
【図7】LCD用基板を示す平面図である。
【符号の説明】
10 検査装置 13 カセット載置部 14 搬送装置 22A 第1イオナイザ 22D 第2イオナイザ 54A プローブ針 M1 クロスマーク M2 クロスマーク S LCD用基板 P 電極パッド
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05F 3/04 G01R 31/28 K

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の被検査体が収納されたカセットを
    載置するカセット載置部と、このカセット載置部上に載
    置されたカセットから被検査体を1枚ずつ出し入れする
    搬送装置と、この搬送装置との間で被検査体を授受する
    載置台と、載置台上に載置された被検査体の電極に接触
    して電気的検査を行なうプローブ針とを備えた検査装置
    において、上記搬送装置による搬送時に被検査体に帯電
    した静電気を除去する静電除去装置を設けたことを特徴
    とする検査装置。
  2. 【請求項2】 複数の被検査体が収納されたカセットを
    載置するカセット載置部と、このカセット載置部上に載
    置されたカセットから被検査体を1枚ずつ出し入れする
    搬送装置と、この搬送装置との間で被検査体を授受する
    載置台と、載置台上に載置された被検査体の電極に接触
    して電気的検査を行なうプローブ針とを備えた検査装置
    において、上記カセットに帯電した静電気を除去する第
    1静電除去装置を設けると共に、上記搬送装置による搬
    送時に被検査体に帯電した静電気を除去する第2静電除
    去装置を設けたことを特徴とする検査装置。
  3. 【請求項3】 上記第1静電気除去装置を、上記カセッ
    ト載置部に載置されたカセットの両側に設けたことを特
    徴とする請求項2に記載の検査装置。
  4. 【請求項4】 上記搬送装置で搬送される被検査体に帯
    電した静電気を除去する静電除去装置を、上記搬送装置
    が上記載置台を待機する位置に設けたことを特徴とする
    請求項1〜請求項3のいずれか一つに記載の検査装置。
  5. 【請求項5】 上記各静電除去装置をそれぞれ首振り可
    能に設けたことを特徴とする請求項1〜請求項4のいず
    れか一つに記載の検査装置。
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US08/737,338 US5742173A (en) 1995-03-18 1996-03-18 Method and apparatus for probe testing substrate
KR1019960706529A KR100261325B1 (ko) 1994-05-31 1996-03-18 기판검사방법 및 기판검사장치
PCT/JP1996/000699 WO1996029607A1 (fr) 1995-03-18 1996-03-18 Procede et appareil de controle d'un substrat
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