JPH0818096A - 光結合装置 - Google Patents
光結合装置Info
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- JPH0818096A JPH0818096A JP14742194A JP14742194A JPH0818096A JP H0818096 A JPH0818096 A JP H0818096A JP 14742194 A JP14742194 A JP 14742194A JP 14742194 A JP14742194 A JP 14742194A JP H0818096 A JPH0818096 A JP H0818096A
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- Wire Bonding (AREA)
- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
Abstract
ップ転倒を防止するとともに、薄型化を図る。 【構成】 一方の面に発光側導体パターン4および受光
側導体パターン5を有する絶縁フィルム1と、該絶縁フ
ィルム1のそれぞれの導体パターン4、5に搭載され、
互いが光学的に結合するよう対向配置される発光チップ
2および受光チップ3と、該両チップ2、3を封止する
遮光性樹脂6とを備えてなる光結合装置であって、前記
絶縁フィルム1は、他方の面より各導体パターン4、5
の表面まで貫通する孔12、12′を有し、該孔12、
12′内にそれぞれのチップ2、3が配置されてなるこ
とを特徴とする。
Description
光結合装置に関し、特にフィルムキャリア型光結合装置
に関する。
する市場の要望は著しく、特にリードフレームを使用
し、透光性樹脂および遮光性樹脂により二重モールドす
るデュアルインラインパッケージ(DIP)型光結合装
置の普及率は上昇の一途であるが、電子部品の小型化、
薄型化が進むにつれて、面実装(SMD)タイプの需要
も加わり、小型の面実装タイプが開発され普及しつつあ
る。
パッケージの要望は現行品のレベルにとどまらずさらに
進行している。しかし、従来のリードフレームを利用し
たトランスファーモールドタイプの光結合装置では、リ
ードフレームを有しているため、その強度および絶縁耐
圧等を考慮すると寸法をある程度確保しなければなら
ず、光結合装置の小型化、薄型化も限界に達している。
発途上にあるが、薄型化をさらに進めたフィルムキャリ
ア方式によるパッケージが望まれている。
合装置の一つに、フィルムの同一平面上に、赤外発光ダ
イオード等からなる発光チップとフォトトランジスタ等
からなる受光チップとをそれぞれ搭載する方式がある。
ィルム1内に光路をとって発光チップ2と受光チップ3
とを光学的に結合させるものであって、絶縁フィルム1
の上面に発光側導体パターン4および受光側導体パター
ン5が形成され、前記発光チップ2は、その発光面が前
記絶縁フィルム1の上面に対面するよう発光側導体パタ
ーン4に搭載され、前記受光チップ3は、その受光面が
前記絶縁フィルム1の上面に対面するよう受光側導体パ
ターン5に搭載されており、前記発光チップ2および受
光チップ3は遮光性樹脂6にて封止されて構成されてい
る。なお、7は反射膜であり、該反射膜7は発光チップ
2にて発する光を受光チップ3側へ反射させるものであ
る。
ノードまたはカソード)と裏面電極(カソードまたはア
ノード)であるため、面実装において各電極を絶縁フィ
ルム1とは垂直方向にレイアウトし、両電極共Agペー
スト等で上記発光側導体パターン4に電気的機械的接続
を行う。受光チップ3は、二つの電極が受光面である一
面にのみ形成されており、該電極にはバンプ処理(図示
せず)が施されており、該バンプ形成面を上記受光側導
体パターン5に面ボンディングして電気的機械的接続が
行われる。前記バンプには、Auや半田を用いる。
ド、ポリエステル、ガラスエポキシ等の樹脂材料を用い
る。この絶縁フィルム1上に形成される導体パターン
4,5の材料には銅箔または圧延銅が用いられ、該導体
パターン4,5は、絶縁フィルム1の穴抜き後、これに
ラミネートしエッチング処理にてパターンニングを行っ
てなるものである。
アッセンブリー工程で使用されるエポキシ樹脂製の樹脂
塊(Eペレット)等であり、熱で溶かしてモールディン
グする。もしくは、薄型における寸法精度を向上させる
ために、トランスファーモールド技術を用いてモールド
する方法もある。
光結合装置では、受光チップ3を絶縁フィルム1の受光
側導体パターン5に搭載する方式として、面ボンディン
グを採用しているため、受光チップ3に前処理としてバ
ンプ処理を施さなければならず、また、二つの電極を受
光面の一面より取り出す構造であるため、チップ面積が
大きくなりコストアップの要因となっていた。
ルム1を通り反射膜7によって反射し、受光チップ3に
受光されるので、光が減衰し光効率が低下するという欠
点があった。
5−309983号(1993年12月10日出願)に
て提案したフィルムキャリア型光結合装置(以下、単に
「光結合装置」と称す。)がある。
ルム1の上面に発光側導体パターン4および受光側導体
パターン5が形成され、前記発光側導体パターン4およ
び受光側導体パターン5にそれぞれ発光チップ2および
バンプ処理を施さない受光チップ3を搭載してなるもの
であって、その搭載方式として、発光チップ2にて発す
る光を受光チップ5が直接受光できるよう絶縁フィルム
1に対して垂直に両チップ2,3をAgペースト8にて
搭載し、前記受発光チップ2,3間の絶縁フィルム1上
に光パス路となる光路用フィルム9を設け、該光路用フ
ィルム9、発光チップ2および受光チップ3を遮光性樹
脂6にて封止してなるものである。
ように、直方体形状からなり、上面には電極10と受光
面11とを備え、底面には他の電極10′を備えてい
る。該受光チップ3は、図12(b)に示すように、チ
ップの厚み方向を絶縁フィルム1に接触させて搭載さ
れ、各電極10,10′が受光側導体パターン5に電気
的機械的に接続される。
プ2とバンプ処理を施さない受光チップ3とを直接対向
するような方式とし、その両チップ2,3間を光透過性
物質9にて光パス路を形成した構成なので、従来の反射
方式に比べて優れた光効率が得られる、また、受光チッ
プ3を面ボンディング方式(水平搭載方式)より絶縁フ
ィルム1に対して垂直搭載方式としたため、受光チップ
3へのバンプ処理が不要となりコストダウンが図れると
いった効果を有する。
題が生じている。
図12の如く、受光チップ3の厚みに対してその幅が2
倍程度あり、該受光チップ3を図12(b)の如く、絶
縁フィルム1に対して垂直搭載すると、受光チップ3の
絶縁フィルム1に搭載する面に対して高さが大きくな
り、チップ搭載時の安定性が非常に悪く、チップ転倒等
を生じるといった問題が生じていた。該チップ転倒が生
じると、ボンディング後に手直し工程を追加しなければ
ならず、製造工程および信頼性に問題を生じていた。
を立てて搭載しているため、従来例で示した光結合装置
よりも、0.2〜0.3mm程度厚いパッケージとなら
ざるを得なかった。
チップ搭載時にチップ転倒を防止するための構成を備え
た光結合装置の提供を目的とするものである。
置は、一方の面に発光側導体パターンおよび受光側導体
パターンを有する絶縁フィルムと、該絶縁フィルムのそ
れぞれの導体パターンに搭載され、互いが光学的に結合
するよう対向配置される発光チップおよび受光チップ
と、該両チップを封止する遮光性樹脂とを備えてなる光
結合装置であって、前記絶縁フィルムは、他方の面より
各導体パターンの表面まで貫通する孔を有し、該孔内に
それぞれのチップが配置されてなることを特徴とするも
のである。
2〜0.3mmの許容度を設けた大きさからなり、且つ
前記絶縁フィルムの厚みは、搭載時の受光チップの高さ
の1/2〜1倍の厚みからなることを特徴とするもので
ある。
縁フィルムに他方の面より各導体パターンの表面まで貫
通する孔を有し、該孔内にそれぞれのチップが配置され
てなる構成なので、各チップのダイボンドの際のチップ
倒れを前記孔によって保持でき、チップ転倒を低減する
ことができる。また、孔内に各チップを配置した分パッ
ケージの薄型化が可能であり、さらに、該孔はチップの
位置決めを容易とすることができる。
2〜0.3mmの許容度を設けた大きさからなり、且つ
前記絶縁フィルムの厚みは、搭載時の受光チップの高さ
の1/2〜1倍の厚みからなる構成なので、チップが完
全に倒れることなく保持できるとともに、チップ倒れに
よる傾きを低減することができる。
例を示す図であり、(a)は上面側からの透視図であ
り、(b)は側面断面図である。図2は、打ち抜き加工
後の絶縁フィルムを示す平面図である。図3は、絶縁フ
ィルムに導体パターンが形成された状態を絶縁フィルム
裏面側から見た平面図である。図4は、絶縁フィルムに
受発光チップが搭載された状態を示す図であり、(a)
は平面図であり、(b)はその断面図である。図5は、
絶縁フィルムの樹脂封止領域および最終形状領域を示す
図であり、(a)は平面図であり、(b)はその断面図
である。図6は、発光チップの構成図であり、(a)は
平面図であり、(b)はその縦断面図である。図7は、
受光チップの構成図であり、(a)は平面図であり、
(b)はその縦断面図である。図8は、製造フローを説
明するための図である。
方の面に発光側導体パターン4および受光側導体パター
ン5を有し、且つ他方の面より各導体パターン3、4の
表面まで貫通する孔12、12′が設けられた絶縁フィ
ルム1と、該絶縁フィルム1に設けられた孔12、1
2′よりそれぞれの導体パターン4、5に搭載され、互
いが光学的に結合するよう対向配置される発光チップ2
および受光チップ3と、該両チップ2、3を封止する遮
光性樹脂6とを備えてなるものである。
性でかつ耐熱性に優れたポリイミド、ポリエステル、ガ
ラスエポキシ等の樹脂材料が使用され、複数のデバイス
用のものが帯状に連なった状態で製造工程に給せられ
る。また、絶縁フィルム1の外周部には、外乱光が絶縁
フィルム1の厚み方向を伝って受発光間の光路に進入す
るのを防止するためのスリット13が穿設されている。
該スリット13は、絶縁フィルム1の光路形成領域La
の周囲がパンチング抜きされたものである。ただし、ス
リット13を穿設した後で、絶縁フィルム1の光路形成
領域Laが絶縁フィルム1のその他の領域Lbからばら
ばらになって離脱しないよう、両領域La、Lbが連結
部14により連結されている。なお、該連結部14を設
けることにより、該連結部14から光路形成領域La内
に外乱光が進入する恐れがある。そこで、連結部14の
外側にも切欠15を形成し、外部からの直進光が連結部
14を伝って光路形成領域Laに進入するのを防止して
いる。さらに、絶縁フィルム1の光路形成領域の所定部
分には、受発光チップ2、3をそれぞれ配置する孔1
2、12′が形成されている。該孔12、12′は、パ
ンチング抜きされてなるものである。
たは受光チップ3を配置して各導体パターン4、5に接
続する載置孔であり、該孔12、12′の大きさは、各
チップの厚み方向を寝かせて配置するため、少なくとも
各チップ2、3の厚みの大きさに0.2〜0.3mm程
度の許容度をもたせた大きさとする。この範囲よりも小
さな数値であると、機械的な位置決め制度に問題が生
じ、また範囲よりも大きな数値であると、チップ2、3
が転倒するまたはチップ倒れの際の傾斜角度が大きくな
るといった不都合を生じる。
が受光チップ3の載置時の高さの1/2〜1倍程度の厚
みとする。この範囲よりも小さな厚みであれば、チップ
倒れの際の傾斜角度が大きくなり、また、その範囲より
も大きな厚みであれば、チップ搭載に問題が生じる。
を各チップ2、3の厚みに0.2〜0.3mm程度の許
容度をもたせた大きさとし、且つ絶縁フィルム1の厚み
を受光チップ3の載置時の高さの1/2〜1倍程度の厚
みとすることが望ましい。
を述べると、前記孔12、12′の大きさはそれぞれ各
チップ2、3の厚みに0.2mmすなわち片側当たり
0.1mmの許容度をもたせた大きさとしている。また
前記絶縁フィルム1の厚みは、従来例(図10、図1
2)では0.1mmであったのを、本実施例では、0.
2mmとしている。これは、前記受光チップ3の縦幅
(載置した際の高さ)が0.4mmあり、該チップ3を
立てた際の中間位置に対応するようにしており、従来の
0.1mmであれば絶縁フィルム1上で倒れる可能性が
あるが、0.2mmとすることで、それを防止すること
が可能である。これは、チップの重心によるものであ
る。
等が使用され、図6の如く、チップの上底面に電極(ア
ノードまたはカソード)16、16′を有する構成であ
る。本実施例では、発光チップ2の上面を受光チップ3
と対向配置させるため、上面より光を発するようその中
心部分には形成されておらず、その周囲のみ電極が形成
されている。
等が使用され、図7の如く、チップの上面に二つの電極
17、17′有し、その他の部分を受光部としてなる構
成である。
した絶縁フィルム1の孔12、12′内を通ってそれぞ
れの導体パターン4、5に電気的機械的に接続される。
そして、両チップ2、3は、絶縁フィルム1と各チップ
2、3との隙間を埋めるため、透光性シリコーン樹脂1
8にて被覆(プリコート)される。図1中、19はAg
ペーストを示している。
体パターン5は、図3の如く、それぞれ銅箔等の導電性
材料を用いて、前記絶縁フィルム1の裏面にのみ所望の
回路設計に基づき形成されている。該両導体パターン
4、5の先端部は各チップ2、3の各電極16,1
6′、17,17′に接続するよう形成されており、前
記発光側導体パターン4は、その先端部が略L字形に形
成されている。
般的な黒色エポキシ樹脂等が用いられ、図1の如く、ト
ランスファーモールド方式にて、発光チップ2、受光チ
ップ3および光路形成領域Laを被覆してなるものであ
る。
5に従って説明する。また、製造フローを図8に示す。
絶縁フィルム1について、パンチング金型にてスリット
13、切欠15および孔12,12′の抜きを行い、図
2の形状にする。
側に一様にラミネートした後、図3の如く、エッチング
により必要な銅箔を残し、発光側導体パターン4および
受光側導体パターン5を形成する。
に、図4の如く、発光チップ2である発光ダイオードチ
ップを、発光側導体パターン4に対して垂直方向に載置
し、Agペースト19で発光チップ2の表面および裏面
電極16、16′と発光側導体パターン4の電気的機械
的接続を行う。
スタチップをその受光面が発光チップ2側に向くよう、
且つ受光側導体パターン5に対して垂直方向に載置し、
Agペースト19で受光面側に設けられた二つの電極1
7、17′と受光側導体パターン5との電気的機械的接
続を行う。
高温放置を行う。この状態で、発光チップ2と受光チッ
プ3の受光面とは対向型となっている。
の隙間を埋めるため、透光性樹脂17にて被覆される。
その後、遮光性樹脂6を使用し、薄型化を目的として寸
法精度の良いトランスファーモールドにて樹脂モールド
を行う。
り出しパターンにハンダメッキを施した後、金型により
単品抜きをして図1に示すような形状の光結合装置が完
成する。
ば、絶縁フィルム1に他方の面より各導体パターン4、
5の表面まで貫通する孔12、12′を有し、該孔1
2、12′内にそれぞれのチップ2、3が配置されてな
る構成なので、各チップ2、3のダイボンドの際のチッ
プ倒れを前記孔12、12′によって保持でき、チップ
転倒を低減することができる。また、孔12、12′内
に各チップ2、3を配置した分パッケージの薄型化が可
能であり、さらに、該孔12、12′はチップ2、3の
位置決めを容易とするも可能である。
2、3の厚みに0.2〜0.3mmの許容度を設けた大
きさからなり、且つ前記絶縁フィルム1の厚みは、搭載
時の受光チップ3の高さの1/2〜1倍の厚みよりなる
構成なので、チップ2、3が完全に倒れることなく保持
できるとともに、チップ倒れによる傾きを低減すること
ができる。
より、各チップ2、3を接着する接着剤19の硬化によ
る収縮性によって幾分修正することができる。特にチッ
プの傾きが少ないほど修正によって正確なダイボンドが
可能となる。
に示す一方の面に二つの電極17、17′および受光部
を形成してなつ受光チップを用いたが、図12に示す一
方の面に電極10および受光部11を、他方の面に他の
電極を形成してなる受光チップを用いたても良い。この
場合の受光側導体パターン5の先端形状としては、発光
側導体パターン4の先端形状と同様、略L字形とする。
受光チップ3を該構造とすることにより、チップ自身を
小さくすることが可能となり、小型化、薄型化が図れ
る。
導体パターン側のみ遮光性樹脂(モールド)に変わっ
て、遮光膜または反射膜とすることにより、さらに、小
型化、薄型化が図れる。
面図である。本実施例について、上記実施例と相違する
点のみ説明する。
は、透光性のオレンジ色ポリイミド1′aと遮光性の黒
色ポリイミド1′bを張り合わせてなるものであって、
前記オレンジ色ポリイミド1′aは上記実施例の絶縁フ
ィルム1と同等の構成からなり、該オレンジ色ポリイミ
ド1′aの導体パターン形成面に黒色ポリイミド1′b
が張り合わされている。前記黒色ポリイミド1′bの外
表面には入出力パターン20、20′が形成されてお
り、該入出力パターン20、20′と各導体パターン
4、5とは黒色ポリイミド1′aに形成されたスルーホ
ール21にて接続されている。
リア型光結合装置として容易に対応できる。
れば、絶縁フィルムに他方の面より各導体パターンの表
面まで貫通する孔を有し、該孔内にそれぞれのチップが
配置されてなる構成なので、各チップのダイボンドの際
のチップ倒れを前記孔によって保持でき、チップ転倒を
低減する。また、孔内に各チップを配置した分パッケー
ジの薄型化となり、さらに、該孔はチップの位置決めを
容易とする。
2〜0.3mmの許容度を設けた大きさからなり、且つ
前記絶縁フィルムの厚みは、搭載時の受光チップの高さ
の1/2〜1倍の厚みよりなる構成なので、チップが完
全に倒れることなく保持され、チップ倒れによる傾きが
低減される。したがって、各チップを接着する接着剤の
硬化による収縮性によって完全に修正することが可能と
なる。
であり、(a)は側面断面図であり、(b)は上面側か
らの透視図である。
を絶縁フィルム裏面側から見た平面図である。
を示す図であり、(a)は平面図であり、(b)はその
断面図である。
域を示す図であり、(a)は平面図であり、(b)はそ
の断面図である。
あり、(b)はその縦断面図である。
あり、(b)はその縦断面図である。
平面図であり、(b)は側面断面図である。
る受光チップの構成図であり、(b)は該受光チップの
搭載図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 一方の面に発光側導体パターンおよび受
光側導体パターンを有する絶縁フィルムと、該絶縁フィ
ルムのそれぞれの導体パターンに搭載され、互いが光学
的に結合するよう対向配置される発光チップおよび受光
チップと、該両チップを封止する遮光性樹脂とを備えて
なる光結合装置であって、 前記絶縁フィルムは、他方の面より各導体パターンの表
面まで貫通する孔を有し、該孔内にそれぞれのチップが
配置されてなることを特徴とする光結合装置。 - 【請求項2】 前記孔は、それぞれのチップの厚みに
0.2〜0.3mmの許容度を設けた大きさからなり、
且つ前記絶縁フィルムの厚みは、搭載時の受光チップの
高さの1/2〜1倍の厚みからなることを特徴とする請
求項1記載の光結合装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14742194A JP3585952B2 (ja) | 1994-06-29 | 1994-06-29 | 光結合装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14742194A JP3585952B2 (ja) | 1994-06-29 | 1994-06-29 | 光結合装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0818096A true JPH0818096A (ja) | 1996-01-19 |
JP3585952B2 JP3585952B2 (ja) | 2004-11-10 |
Family
ID=15429939
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14742194A Expired - Fee Related JP3585952B2 (ja) | 1994-06-29 | 1994-06-29 | 光結合装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3585952B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009164210A (ja) * | 2007-12-28 | 2009-07-23 | Hitachi Ltd | 実装基板、及びこの実装基板を備えるled光源装置 |
JP2016039267A (ja) * | 2014-08-07 | 2016-03-22 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 光結合装置の製造方法、光結合装置、および電力変換システム |
-
1994
- 1994-06-29 JP JP14742194A patent/JP3585952B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2009164210A (ja) * | 2007-12-28 | 2009-07-23 | Hitachi Ltd | 実装基板、及びこの実装基板を備えるled光源装置 |
JP2016039267A (ja) * | 2014-08-07 | 2016-03-22 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 光結合装置の製造方法、光結合装置、および電力変換システム |
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---|---|
JP3585952B2 (ja) | 2004-11-10 |
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