JPH0575078B2 - - Google Patents
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- JPH0575078B2 JPH0575078B2 JP60211388A JP21138885A JPH0575078B2 JP H0575078 B2 JPH0575078 B2 JP H0575078B2 JP 60211388 A JP60211388 A JP 60211388A JP 21138885 A JP21138885 A JP 21138885A JP H0575078 B2 JPH0575078 B2 JP H0575078B2
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- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 16
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 5
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000009931 harmful effect Effects 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000000123 paper Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、X線CT用X線検出器に関し、特に、
被写体からの散乱X線による悪影響を除去し良好
なCT画像を得る技術に関するものである。
被写体からの散乱X線による悪影響を除去し良好
なCT画像を得る技術に関するものである。
X線CT装置では、散乱X線の影響が大きいと
画像の鮮明度が劣化するだけでなく、被写体の形
状によつては得られた画像のCT値が本来あるべ
き値からずれ、画像中にアーチフアクトを生じる
ことが知られている。これはX線CT装置が、散
乱X線によつて生じる信号も、直接のX線によつ
て生じた信号であるとして処理し、画像の再構成
を行うことに起因する。散乱X線の影響を受けや
すいかどうかというのは、X線検出器の検出素子
の指向特性によつて決定される。指向特性が鋭い
場合は直接のX線に対する感度が高く、散乱X線
に対する感度が低いために散乱X線による影響が
少ない。これに対し指向特性が鈍い場合は散乱X
線に対する感度も高くなつてくるために、前述し
たように散乱X線の悪影響を受けてしまうという
問題があつた。
画像の鮮明度が劣化するだけでなく、被写体の形
状によつては得られた画像のCT値が本来あるべ
き値からずれ、画像中にアーチフアクトを生じる
ことが知られている。これはX線CT装置が、散
乱X線によつて生じる信号も、直接のX線によつ
て生じた信号であるとして処理し、画像の再構成
を行うことに起因する。散乱X線の影響を受けや
すいかどうかというのは、X線検出器の検出素子
の指向特性によつて決定される。指向特性が鋭い
場合は直接のX線に対する感度が高く、散乱X線
に対する感度が低いために散乱X線による影響が
少ない。これに対し指向特性が鈍い場合は散乱X
線に対する感度も高くなつてくるために、前述し
たように散乱X線の悪影響を受けてしまうという
問題があつた。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、散乱X線による画質の劣化を
防ぐために、散乱X線に対する感度をもたないよ
うに指向特性が鋭く、直接のX線に対する感度の
低下を防止することができるX線CT用X線検出
器を提供することにある。
防ぐために、散乱X線に対する感度をもたないよ
うに指向特性が鋭く、直接のX線に対する感度の
低下を防止することができるX線CT用X線検出
器を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特
徴は、本明細書の記述及び添付図面によつて明ら
かになるであろう。
徴は、本明細書の記述及び添付図面によつて明ら
かになるであろう。
本願において開示される発明のうち、代表的な
ものの概要を簡単に説明すれば、下記のとおりで
ある。
ものの概要を簡単に説明すれば、下記のとおりで
ある。
すなわち、X線遮蔽薄板を、X線検出器の1素
子の開口幅よりも狭いピツチで、X線透過方向が
X線焦点方向に一致するように円孤状に配置した
状態で一体化した構造の散乱X線除去グリツド又
はX線を遮蔽するX線遮蔽薄板とそれを異る材質
のX線を通過させやすいスペーサーとを交互に層
状に精度よく並べ一体化した構造の散乱X線除去
グリツドをX線検出素子のX線入射部の前面に置
くことにより、散乱X線がX線検出器に入射する
ことを防止するようにしたものである。
子の開口幅よりも狭いピツチで、X線透過方向が
X線焦点方向に一致するように円孤状に配置した
状態で一体化した構造の散乱X線除去グリツド又
はX線を遮蔽するX線遮蔽薄板とそれを異る材質
のX線を通過させやすいスペーサーとを交互に層
状に精度よく並べ一体化した構造の散乱X線除去
グリツドをX線検出素子のX線入射部の前面に置
くことにより、散乱X線がX線検出器に入射する
ことを防止するようにしたものである。
以下、本発明を実施例とともに図面を用いて説
明する。
明する。
なお、実施例を説明するための全図において、
同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰
り返しの説明は省略する 〔実施例 〕 第1図は、本発明の実施例のX線CT用X線
検出器の構成を示す斜視図、第2図は、X線CT
装置のX線検出部分の配置を示す図である。
同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰
り返しの説明は省略する 〔実施例 〕 第1図は、本発明の実施例のX線CT用X線
検出器の構成を示す斜視図、第2図は、X線CT
装置のX線検出部分の配置を示す図である。
X線CT用X線検出器は、第2図に示すように、
回転板1には、X線管2とこれに対向するように
X線検出器3が取り付けられている。X線検出器
3のX線入射部に散乱X線除去グリツド(以下、
単にグリツドという)4が固定されている。X線
管2から放射されたX線は被検体5を透過し、X
線検出器3に入射されそのX線強度に対応した電
気信号に変換される。X線CT画像を得るために、
回転板1は被検体5を中心に回転し、全方向から
のX線透過データが計測される。
回転板1には、X線管2とこれに対向するように
X線検出器3が取り付けられている。X線検出器
3のX線入射部に散乱X線除去グリツド(以下、
単にグリツドという)4が固定されている。X線
管2から放射されたX線は被検体5を透過し、X
線検出器3に入射されそのX線強度に対応した電
気信号に変換される。X線CT画像を得るために、
回転板1は被検体5を中心に回転し、全方向から
のX線透過データが計測される。
本実施例のX線検出器は、第1図に示すよう
に、X線検出素子7がX線検出器容器6の内部に
等間隔に並べられている。X線検出素子7は、例
えば、シンチレータとフオトダイオード等を組み
合せることによつて構成されている。X線検出器
容器6のX線入射面にグリツド4が動かないよう
に固定されている。グリツド4の端部には、U字
形のグリツド保持金具8があり、これによつてグ
リツド4全体が円孤状を保つている。内部には、
例えば、鉛(これはX線吸収係数の大きな材料で
あればよく、タングステンやモリブデンでもよ
い)の薄板9が等間隔に並べられている。鉛薄板
9の厚さは20μm〜60μm程度、ピツチは0.2mm〜
0.4mmとし、X線入射方向から見たときの鉛薄板
9の空間占有率が10%〜15%程度となるのが適当
である。鉛薄板9の両端にはアルミニウム等のス
ペーサー10が鉛薄板9と交互に並べられてい
る。
に、X線検出素子7がX線検出器容器6の内部に
等間隔に並べられている。X線検出素子7は、例
えば、シンチレータとフオトダイオード等を組み
合せることによつて構成されている。X線検出器
容器6のX線入射面にグリツド4が動かないよう
に固定されている。グリツド4の端部には、U字
形のグリツド保持金具8があり、これによつてグ
リツド4全体が円孤状を保つている。内部には、
例えば、鉛(これはX線吸収係数の大きな材料で
あればよく、タングステンやモリブデンでもよ
い)の薄板9が等間隔に並べられている。鉛薄板
9の厚さは20μm〜60μm程度、ピツチは0.2mm〜
0.4mmとし、X線入射方向から見たときの鉛薄板
9の空間占有率が10%〜15%程度となるのが適当
である。鉛薄板9の両端にはアルミニウム等のス
ペーサー10が鉛薄板9と交互に並べられてい
る。
第3図にグリツド4の端部の詳細構成を示す。
X線検出素子7が並んでいるピツチは通常0.8mm
〜1.5mm程度であり、鉛薄板9のピツチの2倍以
上となる。
X線検出素子7が並んでいるピツチは通常0.8mm
〜1.5mm程度であり、鉛薄板9のピツチの2倍以
上となる。
グリツド4の鉛薄板9は等間隔に精度よく並べ
られ、グリツド4の焦点は、第2図に示すX線管
2の焦点位置にこなければならない。これは以下
に示す方法により作成する。
られ、グリツド4の焦点は、第2図に示すX線管
2の焦点位置にこなければならない。これは以下
に示す方法により作成する。
第4図及び第5図は、グリツド4の作成法を説
明するための図である。
明するための図である。
まず、第4図に示すように、鉛薄板9とスペー
サー10を交互に平行に並べて接着し一体化す
る。このとき鉛薄板9とスペーサー10に厚さ精
度および平面性のよいものを使用することによ
り、最終的に鉛薄板9の間隔の高精度のものが得
られる。鉛薄板9とスペーサー10を一体化した
ものの両端をU字形の保持金具8ではさみこみ固
定する。このあと、第5図に示すように、円孤状
に曲げる。この円孤の曲率半径は、第2図におけ
るX線管2の焦点からX線検出器3のX線入射面
までの距離と等しくする。グリツド4の厚さは
1.5mm〜3.0mm程度であり、X線管焦点からX線検
出器3までの距離は1000〜1100mmなので、グリツ
ド4を円孤状に曲げることは容易である。このよ
うに円孤状に曲げたグリツドのスペーサー10を
化学エツチング等の方法によつて除去する。この
とき、保持金具8ではさみこまれる両端部分のス
ペーサー10が除去されないようにマスキングを
行つてからエツチングを行う。
サー10を交互に平行に並べて接着し一体化す
る。このとき鉛薄板9とスペーサー10に厚さ精
度および平面性のよいものを使用することによ
り、最終的に鉛薄板9の間隔の高精度のものが得
られる。鉛薄板9とスペーサー10を一体化した
ものの両端をU字形の保持金具8ではさみこみ固
定する。このあと、第5図に示すように、円孤状
に曲げる。この円孤の曲率半径は、第2図におけ
るX線管2の焦点からX線検出器3のX線入射面
までの距離と等しくする。グリツド4の厚さは
1.5mm〜3.0mm程度であり、X線管焦点からX線検
出器3までの距離は1000〜1100mmなので、グリツ
ド4を円孤状に曲げることは容易である。このよ
うに円孤状に曲げたグリツドのスペーサー10を
化学エツチング等の方法によつて除去する。この
とき、保持金具8ではさみこまれる両端部分のス
ペーサー10が除去されないようにマスキングを
行つてからエツチングを行う。
第6図乃至第8図は、前述のグリツド4とは別
のグリツド4の作成法を説明するための図であ
る。
のグリツド4の作成法を説明するための図であ
る。
まず、第6図に示すように、鉛薄板9とスペー
サー10を交互に平行に並べて接続し一体化す
る。この場合、鉛薄板9の長さはスペーサー10
よりも長く、鉛薄板9の両端がスペーサー10よ
り出るように配置する。これを円孤状に曲げる。
曲げたあとで、第7図に示すように、鉛薄板9の
両端部にエポキシ樹脂等を流し込んで固定する。
このエポキシ樹脂等が最終的に鉛薄板9を保持す
る保持材11となる。この後、化学エツチング等
の方法によつて、第8図に示すように、スペーサ
ー10を除去する。
サー10を交互に平行に並べて接続し一体化す
る。この場合、鉛薄板9の長さはスペーサー10
よりも長く、鉛薄板9の両端がスペーサー10よ
り出るように配置する。これを円孤状に曲げる。
曲げたあとで、第7図に示すように、鉛薄板9の
両端部にエポキシ樹脂等を流し込んで固定する。
このエポキシ樹脂等が最終的に鉛薄板9を保持す
る保持材11となる。この後、化学エツチング等
の方法によつて、第8図に示すように、スペーサ
ー10を除去する。
以上のような方法によつて簡単に精度のよいグ
リツド4を作成することができる。
リツド4を作成することができる。
以上の説明からわかるように、本実施例によれ
ば、鉛薄板9をX線検出器3の1素子の開口幅よ
りも狭いピツチで、X線透過方向がX線焦点方向
に一致するように円孤状に配置した状態で一体化
した構造のグリツド4を、X線検出素子のX線入
射部の前面に設けたことにより、被写体5からの
散乱X線の大部分をX線検出素子に入射すること
を防止し、直接のX線の強度の低下を防止するこ
とができるので、散乱X線によるアーチフアクト
がなく、ノイズの少ない良好なCT画像が得られ
る。
ば、鉛薄板9をX線検出器3の1素子の開口幅よ
りも狭いピツチで、X線透過方向がX線焦点方向
に一致するように円孤状に配置した状態で一体化
した構造のグリツド4を、X線検出素子のX線入
射部の前面に設けたことにより、被写体5からの
散乱X線の大部分をX線検出素子に入射すること
を防止し、直接のX線の強度の低下を防止するこ
とができるので、散乱X線によるアーチフアクト
がなく、ノイズの少ない良好なCT画像が得られ
る。
また、グリツドのスペーサーを除去することに
より、直接のX線の透過率があがるだけでなく、
スペーサーの厚さバラツキによるX線透過率のバ
ラツキをなくすことができる。
より、直接のX線の透過率があがるだけでなく、
スペーサーの厚さバラツキによるX線透過率のバ
ラツキをなくすことができる。
〔実施例 〕
本実施例のグリツド4は、第9図に示すよう
に、グリツド4の内部には、薄い鉛(これはX線
吸収係数の大きな材料であればよく、タングステ
ンやモリブデンでもよい)の薄板9とスペーサー
10が交互に等間隔に並べられている。鉛薄板9
の厚さは20μm〜60μm程度、ピツチは0.2mm〜0.4
mmとし、X線入射方向から見たときの鉛薄板9の
空間占有率が10%〜15%程度となるのが適当であ
る。スペーサー10は、アルミニウム、木片、ポ
リイミド樹脂あるいは紙等のX線吸収係数の小さ
いものを使用する。X線検出素子7が並んでいる
ピツチは通常0.8mm〜1.5mm程度であり、鉛薄板9
のピツチの2倍以上となる。
に、グリツド4の内部には、薄い鉛(これはX線
吸収係数の大きな材料であればよく、タングステ
ンやモリブデンでもよい)の薄板9とスペーサー
10が交互に等間隔に並べられている。鉛薄板9
の厚さは20μm〜60μm程度、ピツチは0.2mm〜0.4
mmとし、X線入射方向から見たときの鉛薄板9の
空間占有率が10%〜15%程度となるのが適当であ
る。スペーサー10は、アルミニウム、木片、ポ
リイミド樹脂あるいは紙等のX線吸収係数の小さ
いものを使用する。X線検出素子7が並んでいる
ピツチは通常0.8mm〜1.5mm程度であり、鉛薄板9
のピツチの2倍以上となる。
グリツド4の焦点は、第2図に示すX線管2の
焦点位置にこなければならない。これは以下に示
す方法により作成する。
焦点位置にこなければならない。これは以下に示
す方法により作成する。
まず、第10図に示すように、鉛薄板9とスペ
ーサー10を交互に平行に並べて接着し一体化
し、前記実施例と同様にして、第5図に示すよ
うに、円孤状に曲げる。この円孤の曲率半径は、
第2図におけるX線管2の焦点からX線検出器3
のX線入射面までの距離と等しくする。グリツド
4の厚さは1.5mm〜3.0mm程度であり、X線管焦点
からX線検出器3までの距離は1000〜1100mmなの
で、グリツド4を円孤状に曲げることは容易であ
る。
ーサー10を交互に平行に並べて接着し一体化
し、前記実施例と同様にして、第5図に示すよ
うに、円孤状に曲げる。この円孤の曲率半径は、
第2図におけるX線管2の焦点からX線検出器3
のX線入射面までの距離と等しくする。グリツド
4の厚さは1.5mm〜3.0mm程度であり、X線管焦点
からX線検出器3までの距離は1000〜1100mmなの
で、グリツド4を円孤状に曲げることは容易であ
る。
ここで、実施例及びにおけるグリツドの寸
法と散乱線除去効果の関係について第11図を用
いて説明する。
法と散乱線除去効果の関係について第11図を用
いて説明する。
鉛薄板9の長さ(グリツドの厚さに対応する)
を、鉛薄板9の間隔をdとすると、グリツド4
を通過できるX線の入射角度θは、次の式(1)
で表わされる。
を、鉛薄板9の間隔をdとすると、グリツド4
を通過できるX線の入射角度θは、次の式(1)
で表わされる。
θ=2×tan-1(d/) ……(1)
ここで、dとの比がグリツド比であり、d:
=1:8程度で散乱線を充分除去することがで
きる。このときの式(1)のθは、約14度とな
る。
=1:8程度で散乱線を充分除去することがで
きる。このときの式(1)のθは、約14度とな
る。
X線検出器及び被写体の配置と散乱線との関係
を第12図を用いて説明する。
を第12図を用いて説明する。
第12図において、X線管2から放射されたX
線は、被写体5を透過しX線検出器3に入力され
る。X線が、,写体5を透過すると同時に散乱す
るため、被写体5の全体から散乱線が放射され
る。しかし、X線検出器3のX線入射部の前面に
前記グリツド4を配置することにより、X線検出
素子はX線管焦点方向を中心に角度θの範囲にし
か感度をもたなくなる。(第12図では、中心の
素子についてのみ表示してあるが、周辺部素子に
ついても同じである。) 実際のX線CT装置では、第12図中のX線検
出器3と被写体5との間の距離Lは、400mm〜450
mmであるためグリツド比1:8のものを使用する
と、散乱線に対して感度をもつ部分の被写体5の
中心での幅Wは100mm〜120mm程度となる。
線は、被写体5を透過しX線検出器3に入力され
る。X線が、,写体5を透過すると同時に散乱す
るため、被写体5の全体から散乱線が放射され
る。しかし、X線検出器3のX線入射部の前面に
前記グリツド4を配置することにより、X線検出
素子はX線管焦点方向を中心に角度θの範囲にし
か感度をもたなくなる。(第12図では、中心の
素子についてのみ表示してあるが、周辺部素子に
ついても同じである。) 実際のX線CT装置では、第12図中のX線検
出器3と被写体5との間の距離Lは、400mm〜450
mmであるためグリツド比1:8のものを使用する
と、散乱線に対して感度をもつ部分の被写体5の
中心での幅Wは100mm〜120mm程度となる。
以上、本発明を実施例に基づいて具体的に説明
したが、本発明は、前記実施例に限定されるもの
ではなく、その要旨を逸脱しない範囲におて種々
変形し得ることはいうまでもない。
したが、本発明は、前記実施例に限定されるもの
ではなく、その要旨を逸脱しない範囲におて種々
変形し得ることはいうまでもない。
以上説明したように、本発明によれば、鉛薄板
をX線検出器の1素子の開口幅よりも狭いピツチ
で、X線透過方向がX線焦点方向に一致するよう
に円孤状に配置した状態で一体化した構造の散乱
X線除去グリツドをX線検出素子のX線入射部の
前面に設けたことにより、被写体からの散乱X線
の大部分をX線検出素子に入射することを防止
し、直接のX線の強度の低下を防止することがで
きるので、散乱X線によるアーチフアクトがなく
ノイズの少ない良好なCT画像が得られる。
をX線検出器の1素子の開口幅よりも狭いピツチ
で、X線透過方向がX線焦点方向に一致するよう
に円孤状に配置した状態で一体化した構造の散乱
X線除去グリツドをX線検出素子のX線入射部の
前面に設けたことにより、被写体からの散乱X線
の大部分をX線検出素子に入射することを防止
し、直接のX線の強度の低下を防止することがで
きるので、散乱X線によるアーチフアクトがなく
ノイズの少ない良好なCT画像が得られる。
また、グリツドのスペーサーを除去することに
より、直接のX線の透過率があがるだけでなく、
スペーサーの厚さバラツキによるX線透過率のバ
ラツキをなくすことができる。
より、直接のX線の透過率があがるだけでなく、
スペーサーの厚さバラツキによるX線透過率のバ
ラツキをなくすことができる。
第1図は、本発明の実施例のX線CT用X線
検出器の構成を示す斜視図、第2図は、X線CT
装置のX線検出部分の配置を示す図、第3図は、
実施例のグリツドの端部の詳細構成を示す斜視
図、第4図及び第5図は、実施例のグリツドの
作成法を説明するための図である。第6図乃至第
8図は、実施例の別のグリツドの作成法を説明
するための図、第9図は、本実施例のグリツド
4の概略構成を示す断面図、第10図は、実施例
のグリツドの作成方法を説明するための図、第
11図は、実施例及びにおけるグリツドの寸
法と散乱線除去効果の関係を説明するための図、
第12図は、X線検出器及び被写体の配置と散乱
線との関係を説明するための図である。 図中、1……回転板、2……X線管、3……X
線検出器、4……グリツド、5……被写体、6…
…X線検出器容器、7……X線検出素子、8……
グリツド保持金具、9……鉛薄板、10……スペ
ーサー、11……保持材である。
検出器の構成を示す斜視図、第2図は、X線CT
装置のX線検出部分の配置を示す図、第3図は、
実施例のグリツドの端部の詳細構成を示す斜視
図、第4図及び第5図は、実施例のグリツドの
作成法を説明するための図である。第6図乃至第
8図は、実施例の別のグリツドの作成法を説明
するための図、第9図は、本実施例のグリツド
4の概略構成を示す断面図、第10図は、実施例
のグリツドの作成方法を説明するための図、第
11図は、実施例及びにおけるグリツドの寸
法と散乱線除去効果の関係を説明するための図、
第12図は、X線検出器及び被写体の配置と散乱
線との関係を説明するための図である。 図中、1……回転板、2……X線管、3……X
線検出器、4……グリツド、5……被写体、6…
…X線検出器容器、7……X線検出素子、8……
グリツド保持金具、9……鉛薄板、10……スペ
ーサー、11……保持材である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 X線遮蔽薄板をX線検出器の1素子の開口幅
よりも狭いピツチで、X線透過方向がX線焦点方
向に一致するように円孤状に配置した状態で一体
化した構造の散乱X線除去グリツドをX線検出素
子のX線入射部の前面に設けたことを特徴とする
X線CT用X線検出器。 2 前記散乱X線除去グリツドは、X線遮蔽薄板
とそれと異る材質のX線を通過させやすいスペー
サーとを交互に層状に精度よく並べ一体化したあ
とで、X線が通過する部分のスペーサーをエツチ
ング等の手段で除去した作成されることを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載のX線CT用X線
検出器。 3 X線遮蔽薄板とX線を通過させやすい材質の
スペーサーとを交互に層状に精度よく並べ一体化
した構造の散乱X線除去グリツドを、X線検出素
子のX線入射面に設けたX線CT用X線検出器で
あつて、前記散乱X線除去グリツドのX線遮蔽薄
板をX線検出器の1素子の開口幅よりも狭いピツ
チで、X線透過方向がX線焦点方向に一致するよ
うに円孤状に配置したことを特徴とするX線CT
用X線検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60211388A JPS6270785A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | X線ct用x線検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60211388A JPS6270785A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | X線ct用x線検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6270785A JPS6270785A (ja) | 1987-04-01 |
JPH0575078B2 true JPH0575078B2 (ja) | 1993-10-19 |
Family
ID=16605131
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60211388A Granted JPS6270785A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | X線ct用x線検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6270785A (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10136946A1 (de) * | 2001-07-28 | 2003-02-06 | Philips Corp Intellectual Pty | Streustrahlenraster für eine Röntgeneinrichtung |
JP4718970B2 (ja) * | 2005-10-31 | 2011-07-06 | 株式会社東芝 | X線コリメータ装置及びx線ct装置 |
JP4885529B2 (ja) * | 2005-12-08 | 2012-02-29 | 住友重機械工業株式会社 | 放射線検出ユニットおよび放射線検査装置 |
JP2017225522A (ja) * | 2016-06-21 | 2017-12-28 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | コリメータ装置、放射線検出器及び放射線撮影装置 |
-
1985
- 1985-09-24 JP JP60211388A patent/JPS6270785A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6270785A (ja) | 1987-04-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |