JPS6270785A - X線ct用x線検出器 - Google Patents
X線ct用x線検出器Info
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- JPS6270785A JPS6270785A JP60211388A JP21138885A JPS6270785A JP S6270785 A JPS6270785 A JP S6270785A JP 60211388 A JP60211388 A JP 60211388A JP 21138885 A JP21138885 A JP 21138885A JP S6270785 A JPS6270785 A JP S6270785A
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Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、X線CT用X線検出器に関し、特に、被写体
からの散乱Xiによる悪影響を除去し良好なCT両画像
得る技術に関するものである。
からの散乱Xiによる悪影響を除去し良好なCT両画像
得る技術に関するものである。
X線CT装置では、散乱X線の影響が大きいと画像の鮮
明度が劣化するだけでなく、被写体の形状によっては得
られた画像のCT値が本来あるべき値からずれ、画像中
にアーチファクトを生じることが知られている。これは
X線CT装置が、散乱X線によって生じる信号も、直接
のX線によって生じた信号であるとして処理し、画像の
再構成を行うことに起因する。散乱X線の影響を受けや
すいかどうかというのは、X線検出器の検出素子の指向
特性によって決定さ九る。指向特性が鋭い場合は直接の
X線に対する感度が高く、散乱xgに対する感度が低い
ために散乱X線による影響が少ない。こJLに対し指向
特性が鈍い場合は散乱X線に対する感度も高くなってく
るために、前述したように散乱X線の悪影響を受けてし
まうという問題があった。
明度が劣化するだけでなく、被写体の形状によっては得
られた画像のCT値が本来あるべき値からずれ、画像中
にアーチファクトを生じることが知られている。これは
X線CT装置が、散乱X線によって生じる信号も、直接
のX線によって生じた信号であるとして処理し、画像の
再構成を行うことに起因する。散乱X線の影響を受けや
すいかどうかというのは、X線検出器の検出素子の指向
特性によって決定さ九る。指向特性が鋭い場合は直接の
X線に対する感度が高く、散乱xgに対する感度が低い
ために散乱X線による影響が少ない。こJLに対し指向
特性が鈍い場合は散乱X線に対する感度も高くなってく
るために、前述したように散乱X線の悪影響を受けてし
まうという問題があった。
本発明の目的は、散乱X線による画質の劣化を防ぐため
に、散乱X線に対する感度をもたないように指向特性が
鋭く、直接のX線に対する感度の低下を防止することが
できるXIIAcT用X線検出器を提供することにある
。
に、散乱X線に対する感度をもたないように指向特性が
鋭く、直接のX線に対する感度の低下を防止することが
できるXIIAcT用X線検出器を提供することにある
。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明I″Sの記述及び添付図面によって明らかになるであ
ろう。
明I″Sの記述及び添付図面によって明らかになるであ
ろう。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
要を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、X線遮蔽薄板を、X線検出器の1素子の開口
幅よりも狭いピッチで、X@透過方向がX線焦点方向に
一致するように円孤状に配置した状態で一体化した構造
の散乱X線除去グリッド又はXgを遮蔽するX線遮蔽薄
板とそれと異る材質のX線を通過させやすいスペーサー
とを交互に層状に精度よく並べ一体化した構造の散乱X
線除去グリッドをXをX線入射部の前面に置くことによ
り、散乱X線がxBX線検出器に入射することを防止す
るようにしたものである。
幅よりも狭いピッチで、X@透過方向がX線焦点方向に
一致するように円孤状に配置した状態で一体化した構造
の散乱X線除去グリッド又はXgを遮蔽するX線遮蔽薄
板とそれと異る材質のX線を通過させやすいスペーサー
とを交互に層状に精度よく並べ一体化した構造の散乱X
線除去グリッドをXをX線入射部の前面に置くことによ
り、散乱X線がxBX線検出器に入射することを防止す
るようにしたものである。
以下、本発明を実施例とともに図面を用いて説明する。
なお、実施例を説明するための全図において、同一機能
を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は
省略する。
を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は
省略する。
第1図は1本発明の実施例IOX線CT用X線検出器の
構成を示す斜視図、第2図は、X線CT装置のX線検出
部分の配置を示す図である。
構成を示す斜視図、第2図は、X線CT装置のX線検出
部分の配置を示す図である。
X1CT用X線検出器は、第2図に示すように、回転板
1には、X線管2とこれに対向するようにX線検出器3
が取り付けられている。X線検出器3のX線入射部に散
乱X線除去グリッド(以下。
1には、X線管2とこれに対向するようにX線検出器3
が取り付けられている。X線検出器3のX線入射部に散
乱X線除去グリッド(以下。
単にグリッドという)4が固定されている。X線管2か
ら放射されたX線は被検体5を透過し、X線検出器3に
入射されそのX線強度に対応した電気信号に変換される
。X線CT画像を得るために。
ら放射されたX線は被検体5を透過し、X線検出器3に
入射されそのX線強度に対応した電気信号に変換される
。X線CT画像を得るために。
回転板1は被検体5を中心に回転し、全方向からのX線
透過データが計測される。
透過データが計測される。
本実施例IのX線検出器は、第1図に示すように、X線
検出素子7がX線検出器容器6の内部に等間隔に並べら
れている。X線検出素子7は、例えば、シンチレータと
フォトダイオード等を組み合せることによって構成され
ている。X線検出器容器6のX線入射面にグリッド4が
動かないように固定されている。グリッド4の端部には
、U字形のグリッド保持金具8があり、これによってグ
リッド4全体が円孤状を保っている。内部には、例えば
、釦(これはX線吸収係数の大きな材料であればよく、
タングステンやモリブデンでもよい)の薄板9が等間隔
に並べられている。鉛薄板9の厚さは20μ階〜60μ
m程度、ピッチは0.2mm〜0゜4wsとし、X線入
射方向から見たときの鉛薄板9の空間占有率がlO%〜
15%程度となるのが適当である。鉛薄板9の両端には
アルミニウム等のスペーサー10が鉛薄板9と交互に並
べられている。
検出素子7がX線検出器容器6の内部に等間隔に並べら
れている。X線検出素子7は、例えば、シンチレータと
フォトダイオード等を組み合せることによって構成され
ている。X線検出器容器6のX線入射面にグリッド4が
動かないように固定されている。グリッド4の端部には
、U字形のグリッド保持金具8があり、これによってグ
リッド4全体が円孤状を保っている。内部には、例えば
、釦(これはX線吸収係数の大きな材料であればよく、
タングステンやモリブデンでもよい)の薄板9が等間隔
に並べられている。鉛薄板9の厚さは20μ階〜60μ
m程度、ピッチは0.2mm〜0゜4wsとし、X線入
射方向から見たときの鉛薄板9の空間占有率がlO%〜
15%程度となるのが適当である。鉛薄板9の両端には
アルミニウム等のスペーサー10が鉛薄板9と交互に並
べられている。
第3図にグリッド4の端部の詳細構成を示す。
X線検出素子7が並んでいるピッチは通常0.8m〜1
.Sun程度であり、鉛薄板9のピッチの2倍以上とな
る。
.Sun程度であり、鉛薄板9のピッチの2倍以上とな
る。
グリッド4の鉛薄板9は等間隔に精度よく並べられ、グ
リッド4の焦点は、第2図に示すX線管2の焦点位置に
こなければならない。これは以下に示す方法により作成
する。
リッド4の焦点は、第2図に示すX線管2の焦点位置に
こなければならない。これは以下に示す方法により作成
する。
第4図及び第5図は、グリッド4の作成法を説明するた
めの図である。
めの図である。
まず、第4図に示すように、鉛薄板9とスペーサー10
を交互に平行に並べて接着し一体化する。
を交互に平行に並べて接着し一体化する。
このとき鉛薄板9とスペーサー10に厚さ精度および平
面性のよいものを使用することにより、最終的に鉛薄板
9の間隔の高精度のものが得られる。
面性のよいものを使用することにより、最終的に鉛薄板
9の間隔の高精度のものが得られる。
鉛薄板9とスペーサー10を一体化したものの両端をU
字形の保持金具8ではさみこみ固定する。
字形の保持金具8ではさみこみ固定する。
このあと、第5図に示すように、円孤状に曲げる。
この円弧の曲率半径は、第2図におけるX線管2の焦点
からx4B検出器3のX線入射面までの距離と等しくす
る。グリッド4の厚さは1.5−〜3.0mm程度であ
り、X線管焦点からX線検出器3までの距離は1000
〜1100nsなので、グリッド4を円孤状に曲げるこ
とは容易である。このように円孤状に曲げたグリッドの
スペーサー10を化学エツチング等の方法によって除去
する。このとき、保持金具8ではさみこまれる両端部分
のスペーサー10が除去さJLないようにマスキングを
行ってからエツチングを行う。
からx4B検出器3のX線入射面までの距離と等しくす
る。グリッド4の厚さは1.5−〜3.0mm程度であ
り、X線管焦点からX線検出器3までの距離は1000
〜1100nsなので、グリッド4を円孤状に曲げるこ
とは容易である。このように円孤状に曲げたグリッドの
スペーサー10を化学エツチング等の方法によって除去
する。このとき、保持金具8ではさみこまれる両端部分
のスペーサー10が除去さJLないようにマスキングを
行ってからエツチングを行う。
第6図乃至第8図は、前述のグリッド4とは別のグリッ
ド4の作成法をを説明するための図である。
ド4の作成法をを説明するための図である。
まず、第6図に示すように、鉛薄板9とスペーサーlO
を交互に平行に並べて接続し一体化する。
を交互に平行に並べて接続し一体化する。
この場合、鉛薄板9の長さはスペーサー10よりも長く
し、鉛薄板9の両端がスペーサー10より出るように配
置する。これを円孤状に曲げる0曲げたあとで、第7図
に示すように、鉛薄板9の両端部にエポキシ樹脂等を流
し込んで固定する。このエポキシ樹脂等が最終的に鉛薄
板9を保持する保持材11となる。この後、化学エツチ
ング等の方法によって、第8図に示すように、スペーサ
ー10を除去する。
し、鉛薄板9の両端がスペーサー10より出るように配
置する。これを円孤状に曲げる0曲げたあとで、第7図
に示すように、鉛薄板9の両端部にエポキシ樹脂等を流
し込んで固定する。このエポキシ樹脂等が最終的に鉛薄
板9を保持する保持材11となる。この後、化学エツチ
ング等の方法によって、第8図に示すように、スペーサ
ー10を除去する。
以上のような方法によって簡単に精度のよいグリッド4
を作成することができる。
を作成することができる。
以上の説明かられかるように、本実施例によれば、鉛薄
板9をX線検出器3の1素子の関口幅よりも狭いピッチ
で、X線透過方向がX線焦点方向に一致するように円孤
状に配置した状態で一体化した構造のグリッド4を、X
をX線入射部の前面に設けたことにより、被写体5から
の散乱X線の大部分をX線検出素子に入射することを防
止し、直接のX線の強度の低下を防止することができる
ので、散乱X線によるアーチファクトがなく、ノイズの
少ない良好なCT両画像得られる。
板9をX線検出器3の1素子の関口幅よりも狭いピッチ
で、X線透過方向がX線焦点方向に一致するように円孤
状に配置した状態で一体化した構造のグリッド4を、X
をX線入射部の前面に設けたことにより、被写体5から
の散乱X線の大部分をX線検出素子に入射することを防
止し、直接のX線の強度の低下を防止することができる
ので、散乱X線によるアーチファクトがなく、ノイズの
少ない良好なCT両画像得られる。
る。
また、グリッドのスペーサーを除去することにより、直
接のX線の透過率があがるだけでなく。
接のX線の透過率があがるだけでなく。
スペーサーの厚さバラツキによるX線透過率のバラツキ
をなくすことができる。
をなくすことができる。
〔実施例■)
本実施例■のグリッド4は、第9図に示すように、グリ
ッド4の内部には、薄い釦(これはX線吸収係数の大き
な材料であればよく、タングステンやモリブデンでもよ
い)の薄板9とスペーサー10が交互に等間隔に並べら
れている。鉛薄板9の厚さは20μll〜60μ曙程度
、ピッチは0.2■〜0.4nnとし、X線入射方向か
ら見たときの鉛薄板9の空間占有率が10%〜15%程
度となるのが適当である。スペーサー10は、アルミニ
ウム。
ッド4の内部には、薄い釦(これはX線吸収係数の大き
な材料であればよく、タングステンやモリブデンでもよ
い)の薄板9とスペーサー10が交互に等間隔に並べら
れている。鉛薄板9の厚さは20μll〜60μ曙程度
、ピッチは0.2■〜0.4nnとし、X線入射方向か
ら見たときの鉛薄板9の空間占有率が10%〜15%程
度となるのが適当である。スペーサー10は、アルミニ
ウム。
木片、ポリイミド樹脂あるいは紙等のX線吸収係数の小
さいものを使用する。X線検出素子7が並んでいるピッ
チは通常0 、8 m = 1 、5■程度であり、鉛
薄板9のピッチの2倍以上となる。
さいものを使用する。X線検出素子7が並んでいるピッ
チは通常0 、8 m = 1 、5■程度であり、鉛
薄板9のピッチの2倍以上となる。
グリッド4の焦点は、第2図に示すX線管2の焦点位置
にこなければならない。これは以下に示す方法により作
成する。
にこなければならない。これは以下に示す方法により作
成する。
まず、第10図に示すように、鉛薄板9とスペーサー1
0を交互に平行に並べて接着し一体化し。
0を交互に平行に並べて接着し一体化し。
前記実施例Iと同様にして、第5図に示すように。
円孤状に曲げる。この円弧の曲率半径は、第2図におけ
るxg管2の焦点からX線検出器3のX線入射面までの
距離と等しくする。グリッド4の厚さは1.5m〜3.
0ms程度であり、X@管焦点からX線検出器3までの
距離は1000〜1100mなので、グリッド4を円孤
状に曲げることは容易である。
るxg管2の焦点からX線検出器3のX線入射面までの
距離と等しくする。グリッド4の厚さは1.5m〜3.
0ms程度であり、X@管焦点からX線検出器3までの
距離は1000〜1100mなので、グリッド4を円孤
状に曲げることは容易である。
ここで、実施例I及び■におけるグリッドの寸法と散乱
線除去効果の関係について第11図を用いて説明する。
線除去効果の関係について第11図を用いて説明する。
鉛薄板9の長さくグリッドの厚さに対応する)をQ、鉛
薄板9の間隔をdとすると、グリッド4を通過できるX
線の入射角度θは、次の式(1)で表わされる。
薄板9の間隔をdとすると、グリッド4を通過できるX
線の入射角度θは、次の式(1)で表わされる。
θ = 2 Xしan−1(d / 2 ) ・ ・
・ ・ (1)ここで、dとQの比がグリッド比で
あり、d:Q=1:8程度で散乱線を充分除去すること
ができる。このときの式(1)のθは、約14度となる
。
・ ・ (1)ここで、dとQの比がグリッド比で
あり、d:Q=1:8程度で散乱線を充分除去すること
ができる。このときの式(1)のθは、約14度となる
。
X線検出器及び被写体の配置と散乱線との関係を第12
図を用いて説明する。
図を用いて説明する。
第12図において、X線管2から放射されたX線は、被
写体5を透過しX線検出器3に入力される。X線が1.
写体5を透過すると同時に散乱するため、被写体5の全
体から散乱線が放射される。
写体5を透過しX線検出器3に入力される。X線が1.
写体5を透過すると同時に散乱するため、被写体5の全
体から散乱線が放射される。
しかし、xB検出器3のX線入射部の前面に前記グリッ
ド4を配置することにより、X線検出素子はXa管焦点
方向を中心に角度θの範囲にしか感度をもたなくなる。
ド4を配置することにより、X線検出素子はXa管焦点
方向を中心に角度θの範囲にしか感度をもたなくなる。
(第12図では、中心の素子についてのみ表示しである
が1周辺部素子についても同じである。) 実際のX線CT装置では、第12図中のX線検出器3と
被写体5との間の距1IILは、400m5〜450m
mであるためグリッド比1:8のものを使用すると、散
乱線に対して感度をもつ部分の被写体5の中心での幅W
は100m〜120on程度となる。
が1周辺部素子についても同じである。) 実際のX線CT装置では、第12図中のX線検出器3と
被写体5との間の距1IILは、400m5〜450m
mであるためグリッド比1:8のものを使用すると、散
乱線に対して感度をもつ部分の被写体5の中心での幅W
は100m〜120on程度となる。
以上、本発明を実施例に基づいて具体的に説明したが1
本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲におて種々変形し得ることはいう
まだもない。
本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲におて種々変形し得ることはいう
まだもない。
以上説明したように、本発明によれば、鉛薄板をX線検
出器の1素子の開口幅よりも狭いピンチで、X線透過方
向がX線焦点方向に一致するように円孤状に配置した状
態で一体化した構造の散乱X線除去グリッドをXli!
−検出素子のX線入射部の前面に設けたことにより、被
写体からの散乱xgの大部分をX線検出素子に入射する
ことを防止し。
出器の1素子の開口幅よりも狭いピンチで、X線透過方
向がX線焦点方向に一致するように円孤状に配置した状
態で一体化した構造の散乱X線除去グリッドをXli!
−検出素子のX線入射部の前面に設けたことにより、被
写体からの散乱xgの大部分をX線検出素子に入射する
ことを防止し。
直接のX線の強度の低下を防止することができるので、
散乱X線によるアーチファクトがなくノイズの少ない良
好なCT両画像得られる。
散乱X線によるアーチファクトがなくノイズの少ない良
好なCT両画像得られる。
また、グリッドのスペーサーを除去することにより、直
接のX線の透過率があがるだけでなく、スペーサーの厚
さバラツキによるX線透過率のバラツキをなくすことが
できる。
接のX線の透過率があがるだけでなく、スペーサーの厚
さバラツキによるX線透過率のバラツキをなくすことが
できる。
第1図は1本発明の実施例■のXlICT用X線検出器
の構成を示す斜視図、 第2図は、X線CT装置のX線検出部分の配置を示す図
、 第3図は、実施例Iのグリッドの端部の詳細構成を示す
斜視図、 第4図及び第5図は、実施例!のグリッドの作成法を説
明するための図である。 第6図乃至第8図は、実施例Iの別のグリッドの作成法
をを説明するための図、 第9図は、本実施例■のグリッド4の概略構成を示す断
面図。 第10図は、実施例■のグリッドの作成方法を説明する
ための図、 第11図は、実施例■及び■におけるグリッドの・」“
法と散乱線除去効果の関係を説明するための図、 第12図は、X線検出器及び被写体の配置と散乱線との
関係を説明するための図である。 図中、l・・・回転板、2・・・X線管、3・・・X線
検出器、4・・・グリッド、5・・・被写体、6・・・
X線検出器容器、7・・・X線検出素子、8・・・グリ
ッド保持金具、9・・・鉛薄板、lO・・・スペーサー
、11・・・保持材である。
の構成を示す斜視図、 第2図は、X線CT装置のX線検出部分の配置を示す図
、 第3図は、実施例Iのグリッドの端部の詳細構成を示す
斜視図、 第4図及び第5図は、実施例!のグリッドの作成法を説
明するための図である。 第6図乃至第8図は、実施例Iの別のグリッドの作成法
をを説明するための図、 第9図は、本実施例■のグリッド4の概略構成を示す断
面図。 第10図は、実施例■のグリッドの作成方法を説明する
ための図、 第11図は、実施例■及び■におけるグリッドの・」“
法と散乱線除去効果の関係を説明するための図、 第12図は、X線検出器及び被写体の配置と散乱線との
関係を説明するための図である。 図中、l・・・回転板、2・・・X線管、3・・・X線
検出器、4・・・グリッド、5・・・被写体、6・・・
X線検出器容器、7・・・X線検出素子、8・・・グリ
ッド保持金具、9・・・鉛薄板、lO・・・スペーサー
、11・・・保持材である。
Claims (3)
- (1)X線遮蔽薄板をX線検出器の1素子の開口幅より
も狭いピッチで、X線透過方向がX線焦点方向に一致す
るように円孤状に配置した状態で一体化した構造の散乱
X線除去グリッドをX線検出素子のX線入射部の前面に
設けたことを特徴とするX線CT用X線検出器。 - (2)前記散乱X線除去グリッドは、X線遮蔽薄板とそ
れと異る材質のX線を通過させやすいスペーサーとを交
互に層状に精度よく並ベ一体化したあとで、X線が通過
する部分のスペーサーをエッチング等の手段で除去して
作成されることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
のX線CT用X線検出器。 - (3)X線遮蔽薄板とX線を通過させやすい材質のスペ
ーサーとを交互に層状に精度よく並ベ一体化した構造の
散乱X線除去グリッドを、X線検出素子のX線入射面に
設けたX線CT用X線検出器であって、前記散乱X線除
去グリッドのX線遮蔽薄板をX線検出器の1素子の開口
幅よりも狭いピッチで、X線透過方向がX線焦点方向に
一致するように円孤状に配置したことを特徴とするX線
CT用X線検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60211388A JPS6270785A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | X線ct用x線検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60211388A JPS6270785A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | X線ct用x線検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6270785A true JPS6270785A (ja) | 1987-04-01 |
JPH0575078B2 JPH0575078B2 (ja) | 1993-10-19 |
Family
ID=16605131
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60211388A Granted JPS6270785A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | X線ct用x線検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6270785A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003116846A (ja) * | 2001-07-28 | 2003-04-22 | Koninkl Philips Electronics Nv | X線装置のための反散乱グリッド |
JP2007117677A (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Toshiba Corp | X線コリメータ装置 |
WO2007066616A1 (ja) * | 2005-12-08 | 2007-06-14 | Sumitomo Heavy Industries, Ltd. | 放射線検出ユニットおよび放射線検査装置 |
JP2017225522A (ja) * | 2016-06-21 | 2017-12-28 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | コリメータ装置、放射線検出器及び放射線撮影装置 |
-
1985
- 1985-09-24 JP JP60211388A patent/JPS6270785A/ja active Granted
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003116846A (ja) * | 2001-07-28 | 2003-04-22 | Koninkl Philips Electronics Nv | X線装置のための反散乱グリッド |
JP4643885B2 (ja) * | 2001-07-28 | 2011-03-02 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | X線装置のための反散乱グリッド |
JP2007117677A (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Toshiba Corp | X線コリメータ装置 |
JP4718970B2 (ja) * | 2005-10-31 | 2011-07-06 | 株式会社東芝 | X線コリメータ装置及びx線ct装置 |
WO2007066616A1 (ja) * | 2005-12-08 | 2007-06-14 | Sumitomo Heavy Industries, Ltd. | 放射線検出ユニットおよび放射線検査装置 |
JP2007155667A (ja) * | 2005-12-08 | 2007-06-21 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 放射線検出ユニットおよび放射線検査装置 |
US8044361B2 (en) | 2005-12-08 | 2011-10-25 | Sumitomo Heavy Industries, Ltd. | Radiation detection unit and radiographic inspection apparatus |
JP2017225522A (ja) * | 2016-06-21 | 2017-12-28 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | コリメータ装置、放射線検出器及び放射線撮影装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0575078B2 (ja) | 1993-10-19 |
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