JPH0483185A - プリント板ユニットの試験方法 - Google Patents
プリント板ユニットの試験方法Info
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- JPH0483185A JPH0483185A JP2198346A JP19834690A JPH0483185A JP H0483185 A JPH0483185 A JP H0483185A JP 2198346 A JP2198346 A JP 2198346A JP 19834690 A JP19834690 A JP 19834690A JP H0483185 A JPH0483185 A JP H0483185A
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- board unit
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 8
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 7
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
プリント板ユニットの試験方法に関し、バックドライブ
による部品破損のおそれがなく、しかも欠陥箇所の検出
が容易なプリント板ユニットの試験方法を提供すること
を目的とし、プリント板ユニットが正常に機能している
か否かをチェックするプリント板ユニットの試験方法に
おいて、プリント板ユニットの各入力端子に所定パター
ンのテスト信号を印加し、各部品からの出力信号が所期
の状態になっているか否かをチェックする構成とした。
による部品破損のおそれがなく、しかも欠陥箇所の検出
が容易なプリント板ユニットの試験方法を提供すること
を目的とし、プリント板ユニットが正常に機能している
か否かをチェックするプリント板ユニットの試験方法に
おいて、プリント板ユニットの各入力端子に所定パター
ンのテスト信号を印加し、各部品からの出力信号が所期
の状態になっているか否かをチェックする構成とした。
この発明はプリント板ユニットの試験方法に関するもの
である。
である。
プリント配線板は部品実装前のパターン検査や導通試験
等で、その合否が判定されているが、該プリント配線板
に部品実装されたプリント板ユニットでは、はんだ付け
の際に生ずる問題、例えば断線あるいはショートが生じ
たり、IC等の部品がはんだ付けの熱で部分的に破損し
、所期の動作をしなくなったりする問題を含んでいる。
等で、その合否が判定されているが、該プリント配線板
に部品実装されたプリント板ユニットでは、はんだ付け
の際に生ずる問題、例えば断線あるいはショートが生じ
たり、IC等の部品がはんだ付けの熱で部分的に破損し
、所期の動作をしなくなったりする問題を含んでいる。
そこで、部品実装後には、該プリント板ユニットが正常
に機能しているか否かの診断テストが行われる。
に機能しているか否かの診断テストが行われる。
従来、プリント板の機能診断テストでは、例えばインサ
ーキットテスト(以下ICTとする)と称せられる方法
が用いられている。この方法は、第3図に示すような回
路において、プリント板ユニット1を構成する各部品の
入力端子(部品10a、10bに対して端子If r
It r ”’、部品10cに対して端子J+、Jz
、・・・)に所定パターンのテスト信号を強制的に入力
し、その出力端子(部品10a、10bに対して端子J
、、J、。
ーキットテスト(以下ICTとする)と称せられる方法
が用いられている。この方法は、第3図に示すような回
路において、プリント板ユニット1を構成する各部品の
入力端子(部品10a、10bに対して端子If r
It r ”’、部品10cに対して端子J+、Jz
、・・・)に所定パターンのテスト信号を強制的に入力
し、その出力端子(部品10a、10bに対して端子J
、、J、。
・・・、部品10cに対して端子Kl)からの出力信号
が所期の値になっているか否かをチェックするものであ
る。
が所期の値になっているか否かをチェックするものであ
る。
更に、ファンクションテストと称せられる方法も用いら
れている。この方法は、上記ICTのようにユニットを
構成する各部品10a、10b。
れている。この方法は、上記ICTのようにユニットを
構成する各部品10a、10b。
・・・単位にテスト信号を印加するのではな(、プリン
ト板ユニット1の全入力端子11+ Ig、13・・
・に所定のパターンのテスト信号を印加したときのプリ
ント板ユニット1の出力端子に1の信号を検出するもの
である。
ト板ユニット1の全入力端子11+ Ig、13・・
・に所定のパターンのテスト信号を印加したときのプリ
ント板ユニット1の出力端子に1の信号を検出するもの
である。
上記ICTによると、プリント板ユニット1を構成する
各部品10a、10b、・・・の入力端子に強制的に“
H”、“L”のテスト信号を印加する。
各部品10a、10b、・・・の入力端子に強制的に“
H”、“L”のテスト信号を印加する。
従って、被試験部品10a、10b、・・・の後段にあ
る部品(例えば被試験部品が10cであるときには部品
10a、10b)に対しても、そのテスト信号が加わる
ため(バックドライブという)、該後段の部品10a、
10b、・・・を破損するおそれがある。
る部品(例えば被試験部品が10cであるときには部品
10a、10b)に対しても、そのテスト信号が加わる
ため(バックドライブという)、該後段の部品10a、
10b、・・・を破損するおそれがある。
一方、ファンクションテスト方式は、プリント板ユニッ
トが本来備える接続用のコネクタにテスト治具を接続す
れば足りるので、試験方法が簡単であり、バックドライ
ブによって部品が破損される心配はないが、個々の部品
10a、10b、・・・の出力状態を検出するのではな
いので誤った結果が出ても、どの部品10a、10b、
・・・に欠陥があるのかの判定ができない欠点がある。
トが本来備える接続用のコネクタにテスト治具を接続す
れば足りるので、試験方法が簡単であり、バックドライ
ブによって部品が破損される心配はないが、個々の部品
10a、10b、・・・の出力状態を検出するのではな
いので誤った結果が出ても、どの部品10a、10b、
・・・に欠陥があるのかの判定ができない欠点がある。
この発明は上記従来の事情に鑑みて提案されたものであ
って、バックドライブによる部品破損のおそれがなく、
しかも欠陥箇所の検出が容易なプリント板ユニットの試
験方法を提供することを目的とするものである。
って、バックドライブによる部品破損のおそれがなく、
しかも欠陥箇所の検出が容易なプリント板ユニットの試
験方法を提供することを目的とするものである。
この発明は上記目的を達成するために以下の手段を採用
している。すなわち、プリント板ユニットが正常に機能
しているか否かをチェックするプリント板ユニットの試
験方法において、プリント板ユニット1の各入力端子(
1+、Ig、・・・)に所定パターンのテスト信号を印
加し、各部品(10a、10b、・・・)からの出力信
号が所期の状態になっているか否かをチェックするもの
である。
している。すなわち、プリント板ユニットが正常に機能
しているか否かをチェックするプリント板ユニットの試
験方法において、プリント板ユニット1の各入力端子(
1+、Ig、・・・)に所定パターンのテスト信号を印
加し、各部品(10a、10b、・・・)からの出力信
号が所期の状態になっているか否かをチェックするもの
である。
各入力端子1.,1..・・・にテスト信号を印加する
ことによって、各部品ioa、10b、・・・の出力端
子、y、 l J! I ・l Klには、テスト信
号のパターンに応じたパターンの信号を出力することに
なる。この出力信号が所期の値であるか否かを検出する
ことによって各部品が正常に機能しているか否かが判別
できる。
ことによって、各部品ioa、10b、・・・の出力端
子、y、 l J! I ・l Klには、テスト信
号のパターンに応じたパターンの信号を出力することに
なる。この出力信号が所期の値であるか否かを検出する
ことによって各部品が正常に機能しているか否かが判別
できる。
第1図はこの発明の一実施例を示すものであり、第2図
は本願試験に用いられる装置の概要図である。
は本願試験に用いられる装置の概要図である。
第2図におけるテストパターンメモリ2には、試験対象
のプリント板ユニットlが実際に使用されたときに印加
される幾種類かの信号パターンがテスト信号として記憶
されており、該テストパターンメモリ2よりの出力は入
カブローブP+、P2、・・・を介して入力端子1+、
Iz、・・・に印加される。尚、この入力端子としては
ファンクションテストと同様、プリント板ユニットlに
設けられたコネクタの入力ピン(カードビン)を利用す
ることができる。
のプリント板ユニットlが実際に使用されたときに印加
される幾種類かの信号パターンがテスト信号として記憶
されており、該テストパターンメモリ2よりの出力は入
カブローブP+、P2、・・・を介して入力端子1+、
Iz、・・・に印加される。尚、この入力端子としては
ファンクションテストと同様、プリント板ユニットlに
設けられたコネクタの入力ピン(カードビン)を利用す
ることができる。
この状態において、テストパターンメモリ2より出力さ
れたテスト信号は、上記入カブローブP1+P!+ ・
・・を介して、プリント板ユニット1の入力側の各部品
10a、10b、・・・に入力される。
れたテスト信号は、上記入カブローブP1+P!+ ・
・・を介して、プリント板ユニット1の入力側の各部品
10a、10b、・・・に入力される。
これによって、上記入力側の各部品10a、10bの出
力端子J、、J、、・・・から、該部品10a。
力端子J、、J、、・・・から、該部品10a。
10bの状態に応じた所定の信号が出力されるとともに
、該信号は次の部品10cにも入力され、次の部品10
cも上記出力端子J、、J、、・・・の信号の状態に応
じた信号を出力する。
、該信号は次の部品10cにも入力され、次の部品10
cも上記出力端子J、、J、、・・・の信号の状態に応
じた信号を出力する。
一方、各部品10a、10b、・・・の出力側には検出
プローブQl l ctz I ・・・が立てられて
おり、上記のように各部品ioa、10b、・・・の各
出力端子JI+J!+ ・・・、に1に表れる検出信号
は、上記検出プローブQ、、 Qtを介して比較器4
に入力される。そして、この比較器4では正常に動作す
るプリント板ユニット1の出力を記憶した期待値メモリ
3よりの期待値信号と、上記各部品10a、10b、・
・・の出力が比較されてその良否が判定される。
プローブQl l ctz I ・・・が立てられて
おり、上記のように各部品ioa、10b、・・・の各
出力端子JI+J!+ ・・・、に1に表れる検出信号
は、上記検出プローブQ、、 Qtを介して比較器4
に入力される。そして、この比較器4では正常に動作す
るプリント板ユニット1の出力を記憶した期待値メモリ
3よりの期待値信号と、上記各部品10a、10b、・
・・の出力が比較されてその良否が判定される。
以上のことにより、上記各部品10a、10b。
・・・のうちに不良部品があるとその出力が期待値パタ
ーンと不一致状態となり、欠陥箇所の発見が簡単となり
、しかもバンクドライブによる破損のおそれもなくなる
。
ーンと不一致状態となり、欠陥箇所の発見が簡単となり
、しかもバンクドライブによる破損のおそれもなくなる
。
以上説明したようにこの発明は、プリント板ユニットの
入力端子にテスト信号を印加し、各部品の出力を期待値
パターンとを比較するようにしているので、バックドラ
イブによって部品を破損するおそれがなく、しかも欠陥
箇所の発見が容易となる。
入力端子にテスト信号を印加し、各部品の出力を期待値
パターンとを比較するようにしているので、バックドラ
イブによって部品を破損するおそれがなく、しかも欠陥
箇所の発見が容易となる。
第1図はこの発明の一実施例概念図1.第2図はこの発
明による試験装置概念図、第3図は従来例概念図である
。 図中、 1−プリント板ユニット、 10 a、 10 b、 −、一部品、I++Iz+
・・・、−入力端子。 プリント板ユニットの試験装置の概念図第 2 図 十
明による試験装置概念図、第3図は従来例概念図である
。 図中、 1−プリント板ユニット、 10 a、 10 b、 −、一部品、I++Iz+
・・・、−入力端子。 プリント板ユニットの試験装置の概念図第 2 図 十
Claims (1)
- (1)プリント板ユニツトが正常に機能しているか否か
をチェツクするプリント板ユニットの試験方法において
、 プリント板ユニツト(1)の各入力端子(I_1,I_
2,・・・)に所定パターンのテスト信号を印加し、各
部品(10a,10b,・・・)からの出力信号が所期
の状態になっているか否かをチェックすることを特徴と
するプリント板ユニットの試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2198346A JPH0483185A (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | プリント板ユニットの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2198346A JPH0483185A (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | プリント板ユニットの試験方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0483185A true JPH0483185A (ja) | 1992-03-17 |
Family
ID=16389595
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2198346A Pending JPH0483185A (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | プリント板ユニットの試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0483185A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100457580B1 (ko) * | 2002-11-28 | 2004-11-18 | 엘지전자 주식회사 | 도어 잠금 장치 |
-
1990
- 1990-07-25 JP JP2198346A patent/JPH0483185A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100457580B1 (ko) * | 2002-11-28 | 2004-11-18 | 엘지전자 주식회사 | 도어 잠금 장치 |
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