JPH0483185A

JPH0483185A - プリント板ユニットの試験方法

Info

Publication number: JPH0483185A
Application number: JP2198346A
Authority: JP
Inventors: Isao Shibusawa; 渋沢　功
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1990-07-25
Filing date: 1990-07-25
Publication date: 1992-03-17

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔概要〕プリント板ユニットの試験方法に関し、バックドライブ
による部品破損のおそれがなく、しかも欠陥箇所の検出
が容易なプリント板ユニットの試験方法を提供すること
を目的とし、プリント板ユニットが正常に機能している
か否かをチェックするプリント板ユニットの試験方法に
おいて、プリント板ユニットの各入力端子に所定パター
ンのテスト信号を印加し、各部品からの出力信号が所期
の状態になっているか否かをチェックする構成とした。

〔産業上の利用分野〕

この発明はプリント板ユニットの試験方法に関するもの
である。

〔従来の技術〕

プリント配線板は部品実装前のパターン検査や導通試験
等で、その合否が判定されているが、該プリント配線板
に部品実装されたプリント板ユニットでは、はんだ付け
の際に生ずる問題、例えば断線あるいはショートが生じ
たり、ＩＣ等の部品がはんだ付けの熱で部分的に破損し
、所期の動作をしなくなったりする問題を含んでいる。

そこで、部品実装後には、該プリント板ユニットが正常
に機能しているか否かの診断テストが行われる。

従来、プリント板の機能診断テストでは、例えばインサ
ーキットテスト（以下ＩＣＴとする）と称せられる方法
が用いられている。この方法は、第３図に示すような回
路において、プリント板ユニット１を構成する各部品の
入力端子（部品１０ａ、１０ｂに対して端子Ｉｆ　ｒ　
　Ｉｔ　ｒ　”’、部品１０ｃに対して端子Ｊ＋、Ｊｚ
、・・・）に所定パターンのテスト信号を強制的に入力
し、その出力端子（部品１０ａ、１０ｂに対して端子Ｊ
、、Ｊ、。

・・・、部品１０ｃに対して端子Ｋｌ）からの出力信号
が所期の値になっているか否かをチェックするものであ
る。

更に、ファンクションテストと称せられる方法も用いら
れている。この方法は、上記ＩＣＴのようにユニットを
構成する各部品１０ａ、１０ｂ。

・・・単位にテスト信号を印加するのではな（、プリン
ト板ユニット１の全入力端子１１＋　　Ｉｇ、１３・・
・に所定のパターンのテスト信号を印加したときのプリ
ント板ユニット１の出力端子に１の信号を検出するもの
である。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記ＩＣＴによると、プリント板ユニット１を構成する
各部品１０ａ、１０ｂ、・・・の入力端子に強制的に“
Ｈ”、“Ｌ”のテスト信号を印加する。

従って、被試験部品１０ａ、１０ｂ、・・・の後段にあ
る部品（例えば被試験部品が１０ｃであるときには部品
１０ａ、１０ｂ）に対しても、そのテスト信号が加わる
ため（バックドライブという）、該後段の部品１０ａ、
１０ｂ、・・・を破損するおそれがある。

一方、ファンクションテスト方式は、プリント板ユニッ
トが本来備える接続用のコネクタにテスト治具を接続す
れば足りるので、試験方法が簡単であり、バックドライ
ブによって部品が破損される心配はないが、個々の部品
１０ａ、１０ｂ、・・・の出力状態を検出するのではな
いので誤った結果が出ても、どの部品１０ａ、１０ｂ、
・・・に欠陥があるのかの判定ができない欠点がある。

この発明は上記従来の事情に鑑みて提案されたものであ
って、バックドライブによる部品破損のおそれがなく、
しかも欠陥箇所の検出が容易なプリント板ユニットの試
験方法を提供することを目的とするものである。

〔課題を解決するための手段〕

この発明は上記目的を達成するために以下の手段を採用
している。すなわち、プリント板ユニットが正常に機能
しているか否かをチェックするプリント板ユニットの試
験方法において、プリント板ユニット１の各入力端子（
１＋、Ｉｇ、・・・）に所定パターンのテスト信号を印
加し、各部品（１０ａ、１０ｂ、・・・）からの出力信
号が所期の状態になっているか否かをチェックするもの
である。

〔作　用〕

各入力端子１．，１．．・・・にテスト信号を印加する
ことによって、各部品ｉｏａ、１０ｂ、・・・の出力端
子、ｙ、　ｌ　　Ｊ！　Ｉ　・ｌ　Ｋｌには、テスト信
号のパターンに応じたパターンの信号を出力することに
なる。この出力信号が所期の値であるか否かを検出する
ことによって各部品が正常に機能しているか否かが判別
できる。

〔実施例〕

第１図はこの発明の一実施例を示すものであり、第２図
は本願試験に用いられる装置の概要図である。

第２図におけるテストパターンメモリ２には、試験対象
のプリント板ユニットｌが実際に使用されたときに印加
される幾種類かの信号パターンがテスト信号として記憶
されており、該テストパターンメモリ２よりの出力は入
カブローブＰ＋、Ｐ２、・・・を介して入力端子１＋、
Ｉｚ、・・・に印加される。尚、この入力端子としては
ファンクションテストと同様、プリント板ユニットｌに
設けられたコネクタの入力ピン（カードビン）を利用す
ることができる。

この状態において、テストパターンメモリ２より出力さ
れたテスト信号は、上記入カブローブＰ１＋Ｐ！＋　・
・・を介して、プリント板ユニット１の入力側の各部品
１０ａ、１０ｂ、・・・に入力される。

これによって、上記入力側の各部品１０ａ、１０ｂの出
力端子Ｊ、、Ｊ、、・・・から、該部品１０ａ。

１０ｂの状態に応じた所定の信号が出力されるとともに
、該信号は次の部品１０ｃにも入力され、次の部品１０
ｃも上記出力端子Ｊ、、Ｊ、、・・・の信号の状態に応
じた信号を出力する。

一方、各部品１０ａ、１０ｂ、・・・の出力側には検出
プローブＱｌ　ｌ　　ｃｔｚ　Ｉ　・・・が立てられて
おり、上記のように各部品ｉｏａ、１０ｂ、・・・の各
出力端子ＪＩ＋Ｊ！＋　・・・、に１に表れる検出信号
は、上記検出プローブＱ、、　　Ｑｔを介して比較器４
に入力される。そして、この比較器４では正常に動作す
るプリント板ユニット１の出力を記憶した期待値メモリ
３よりの期待値信号と、上記各部品１０ａ、１０ｂ、・
・・の出力が比較されてその良否が判定される。

以上のことにより、上記各部品１０ａ、１０ｂ。

・・・のうちに不良部品があるとその出力が期待値パタ
ーンと不一致状態となり、欠陥箇所の発見が簡単となり
、しかもバンクドライブによる破損のおそれもなくなる
。

〔発明の効果〕

以上説明したようにこの発明は、プリント板ユニットの
入力端子にテスト信号を印加し、各部品の出力を期待値
パターンとを比較するようにしているので、バックドラ
イブによって部品を破損するおそれがなく、しかも欠陥
箇所の発見が容易となる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例概念図１．第２図はこの発
明による試験装置概念図、第３図は従来例概念図である
。図中、　　１−プリント板ユニット、１０　ａ、　　１０　ｂ、　−、一部品、Ｉ＋＋Ｉｚ＋
　・・・、−入力端子。プリント板ユニットの試験装置の概念図第　　２　　図十

Claims

【特許請求の範囲】

（１）プリント板ユニツトが正常に機能しているか否か
をチェツクするプリント板ユニットの試験方法において
、プリント板ユニツト（１）の各入力端子（Ｉ＿１，Ｉ＿
２，・・・）に所定パターンのテスト信号を印加し、各
部品（１０ａ，１０ｂ，・・・）からの出力信号が所期
の状態になっているか否かをチェックすることを特徴と
するプリント板ユニットの試験方法。