JPH03248551A - 合成樹脂封止型電子部品 - Google Patents

合成樹脂封止型電子部品

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JPH03248551A
JPH03248551A JP4883890A JP4883890A JPH03248551A JP H03248551 A JPH03248551 A JP H03248551A JP 4883890 A JP4883890 A JP 4883890A JP 4883890 A JP4883890 A JP 4883890A JP H03248551 A JPH03248551 A JP H03248551A
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臺 久司
Teruyasu Sakurai
輝泰 櫻井
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    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体チップ等の部分を熱硬化性合成樹脂製
のモールド部にて封止して成るいわゆる合成樹脂封止型
電子部品のうち、面実装に適するように構成した合成樹
脂封止型電子部品に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、面実装に適するように構成した合成樹脂封止型電
子部品では、その各リード端子を、合成樹脂製のモール
ド部における側面から突出し、該各リード端子のうち前
記モールド部から突出する部分を、前記モールド部の底
面と時開−平面状に沿うように屈曲する構成にしている
から、前記モールド部から各リード端子の占有面積が大
きくて、プリント基板に対する実装密度(プリント基板
における単位面積当たりに装着できる電子部品の個数)
の向上を妨げると共に、各リード端子の強度が低下する
等の不具合があった。
そこで、先行技術としての特開昭57−176751号
公報は、第25図〜第28図に示すように、一つの電子
部品における複数本の各リード端子2,3.4を、合成
樹脂製のモールド部1内において半導体チップ5に接続
した内部リード端子部2a、3a、4aと、前記モール
ド部l外への外部リード端子部2b、3b、4bとで構
成し、該番外部リード端子部2b、3b、4bを、前記
モールド部l内に、当該外部リード端子部2b。
3b、4bにおける下面2b’、3b’、4b’及び先
端端面2b’、3b’、4b’のみが、前記モールド部
1における底面1a及び側面1b。
lcに対して各々露出するように埋設することによって
、前記の不具合を解消することを提案している。
〔発明が解決しようとする課題〕
そして、この先行技術における電子部品において、その
モールド部1の成形は、第29図に示すように、各リー
ド端子2,3.4を上下一対の成形金型A、Bにて、当
該各リード端子2. 3. 4における内部リード端子
部2a、3a、4a及び外部リード端子部2b、3b、
4bが画成形金型A、Hにおけるモールド部成形用キャ
ビティーC内に突出するように挟み付けたのち、前記成
形用キャビティーC内に、溶融状態の熱硬化性合成樹脂
を高い圧力で注入することによって行うものである。
しかし、このモールド部1の成形に際して、前記各リー
ド端子2,3.4における外部リード端子部2b、3b
、4bの各々は、前記成形用キャビティーCにおける内
底面CIに対して密接していなければならないところ、
各リード端子2,3゜4は、前記成形用キャビティーC
より外側の部分で押圧されているだけであるから、この
各リード端子2,3.4における外部リード端子部2b
3b、4bの下面2b’、3b’、4b’と、キャビテ
ィー〇における内底面CIとの間には、前記キャビティ
ーC内に高い圧力で注入した溶融合成樹脂が侵入するこ
とになる。
すなわち、前記各外部リード端子部2b、3b。
4bのうち、前記モールド部lの底面1aから露出する
下面2b’、3b’、4b’には、モールド部1を成形
するときにおいて、合成樹脂の薄い被膜が成形され、換
言すると、各外部リード端子部2b、3b、4bにおけ
る下面2b’、3b’4b’は、合成樹脂の薄い被膜で
覆われた状態になるから、この各外部リード端子部2b
、3b。
4bのうち前記モールド部1の底面1aに対して露出す
る下面2b’、3b’、4b’を、プリント基板に対し
て半田付けする場合において、半田付けの不良が多発す
ると云う事態を招来し、半田接合性能が低下すると云う
問題があった。
しかも、前記先行技術の電子部品は、前記各外部リード
端子2b、3b、4bにおける先端端面2b’  3b
’  4b’を、前記モールド部lにおける左右側面1
b、lcと時開−平面になるように構成すべきあるが、
前記モールド部lの成形後において、前記各リード端子
2,3.4の各々を、その外部リード端子2b、3b、
4bにおける先端端面2b’、3b’、4b’がモール
ド部lにおける左右側面1b、lcと時開−平面になる
ように切断することがきわめて困難であることにより、
その切断に際して、各外部リード端子2b、3b、4b
における先端端面2b’、3b’4b’が、どうしても
、前記モールド部1における側面1b、lbよりも若干
の寸法だけ突出した形態になるから、商品価値が低下す
ることになる。
その上、前記各外部リード端子2b、3b、4bにおけ
る先端端面2b’、3b’、4b’を、前記先行技術の
ように、前記モールド部1における左右側面1b、lc
と時開−平面になるように構成することは、プリント基
板に対した半田付けしたあとにおいて、各外部リード端
子部2b、3b、4bの半田付けが確−実にできている
か否かを確認することか困難であると云う問題もあった
本発明は、これらの問題を解消することができる合成樹
脂封止型の電子部品を提供することを目的とするもので
ある。
〔課題を解決するための手段〕
この目的を達成するため本発明は、複数本の各リード端
子を、合成樹脂製のモールド部内における内部リード端
子部と、前記モールド部外への外部リード端子部とで構
成し、該外部リード端子部を、前記モールド部内に、当
該外部リード端子部における下面及び先端端面が前記モ
ールド部における底面及び側面に対して各々露出するよ
うに埋設して成る電子部品において、前記モールド部に
おける側面のうち前記外部リード端子部の箇所に、当該
外部リード端子部の上面における一部を露出するように
した凹み手段を設ける構成にした。
〔発明の作用・効果〕
このように、モールド部における側面のうち前記外部リ
ード端子部の箇所に、当該外部リード端子部の上面にお
ける一部を露出するようにした凹み手段を設けると、前
記モールド部を一対の成形金型にて成形するに際して、
その成形金型におけるモールド部成形用キャビティー内
に、前記凹み手段を成形するための突起を、当該成形用
キャビティー内に向って突出するように造形することが
でき、各リード端子を前記一対の金型によって挟み付け
たとき、前記各リード端子における外部リード端子部を
、前記突起により、成形用キャビティー内において当該
成形用キャビティーの内底面に対して強く密接するよう
に押圧することができるから、前記モールド部の成形に
際して、前記外部リード端子部の下面と成形用キャビテ
ィーの内底面との間に、前記成形用キャビティー内に高
い圧力で注入した溶融合成樹脂が侵入することを確実に
低減できるのである。
すわなち、前記モールド部の成形に際して、外部リード
端子部の下面に、合成樹脂の薄い被膜が形成されること
を低減できるから、プリント基板に対して半田付は不良
が発生することを確実に低減でき、プリント基板に対す
る半田接合性能を大幅に向上できるのである。
また、前記のように、モールド部における側面に、外部
リード端子部の上面における一部を露出するようにした
凹み手段を設けたことにより、前記モールド部の成形後
において、各リード端子を、その外部リード端子におけ
る先端端面がモールド部における左右側面と時開−平面
になるように切断する場合においては、その切断用の刃
物を、前記凹み手段内に挿入することができるから、各
リード端子を、その外部リード端子における先端端面が
モールド部における側面と同一平面になるように切断し
たり、或いは、先端端面がモールドにおける側面から若
干の寸法だけ凹んだ状態になるように切断したりするこ
とが至極簡単にできて、換言すると、前記外部リード端
子部の先端端面が、モールド部の側面より突出しないよ
うに構成することが、至極簡単にできて、電子部品の商
品価値を、コストのアップを招来することなく大幅に向
上できるのである。
更にまた、前記のように、モールド部における側面に、
外部リード端子部の上面における一部を露出するように
した凹み手段を設けたことにより、プリント基板に半田
付けするに際して、半田の一部が、前記凹み手段に露出
する外部リード端子部の上面にも付着することになるか
ら、各外部リード端子部の各々における半田付けが確実
にできているか否かを確認することが、至極容易に、且
つ確実にできるようになるのである。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を、各種電子部品のうち三つのリ
ード端子を有するトランジスターに適用した場合の図面
(第1図〜第5図)について説明する。
図において符号10は、面実装に適するように構成した
合成樹脂封止型のトランジスターを示し、該トランジス
ター10は、半導体チップ15を封止した熱硬化性合成
樹脂製のモールド部11と、前記半導体チップ15に対
する三本のリード端子12.13.14とからなり、前
記各リード端子12.13.14は、前記モールド部1
1内において前記半導体チップ15に対して電気的に接
続した内部リード端子部12a、13a、14aと、前
記モールド部ll外への外部リード端子部12b、13
b、14bとによって構成されている。
また、前記各外部リード端子部12b、13b。
14bは、前記モールド部11の内部に、当該各外部リ
ード端子部12b、13b、14bにおける下面12b
’   13b’、14b’及び先端端面12b’  
 13b’、14b’が、前記モールド部11における
底面11a及び左右両側面11b、Ilcの各々に対し
て時開−平面状に露出するように埋設されている。
そして、前記モールド部11における左右両側面11b
、llcには、本発明における「凹み手段」の第1の実
施例であるところの凹み部16゜17.18を、前記各
外部リード端子部12b。
13b、14bの箇所のみに部分的に設けて、この前記
凹み部16,17.18内に、前記各外部リード端子部
12b、13b、14bの上面における一部が露出する
ように構成する。
このように構成したトランジスター10におけるモール
ド部11は、以下に述べるようにして成形される。
すなわち、第6図に示すように、一つのトランジスター
10を構成するリード端子12,13゜14の複数対を
一定間隔Pで造形するように構成したリードフレーム1
9を使用し、このリードフレーム19を、第7図及び第
8図に示すように、上下一対の成形金型A、Bによって
、前記各リード端子12,13.14における内部リー
ド端子部12a、13a、14a及び外部リード端子部
12b、13b、14bが、両成形金型A、Bに合わせ
面に形成したモールド部11の成形用キャビティーC内
に突出するように挟み付けたのち、前記成形用キャビテ
ィーC内に、溶融状態の合成樹脂を高い圧力で注入する
のである。
この場合において、前記成形用キャビティーCにおける
左右両側の内側面C2,C3には、前記凹み部16,1
7.18を形成するための突起C4、C5,C6を、成
形用キャビティーC内に突出するように一体的に造形す
る。
すると、前記リードフレーム19を、両成形金型A、B
にて挟み付けたとき、前記各リード端子12.13.1
4における外部リード端子部12b、13b、14bの
各々を、前記各突起C4゜C5,C6により、成形用キ
ャビティーC内において当該成形用キャビティーCの内
底面c1に対して強く密接するように押圧することがで
きるから、前記モールド部11の成形に際して、前記各
外部リード端子部12b、13b、14bの下面12b
’、13b’、14b’ と成形用キャビティーCの内
底面C1との間に、成形用キャビティーC内に高い圧力
で注入した溶融合成樹脂が侵入することを確実に防止で
きるのである。
また、前記モールド部11の左右両側面11b。
11cのうち前記各外部リード端子部12b、13b、
14bの箇所に、それぞれ凹み部16,17.18を設
けたことにより、前記の成形後において各リード端子1
2,13.14を切断する場合において、その切断用の
刃物を、前記各凹み部16.17.18内に入れること
ができるから、前記各リード端子12,13.14を、
その外部リード端子部12b、13b、14bの先端端
面12b’、13b’、14b’がモールド部11にお
ける左右両側面11b、llcと同一平面状になるよう
に切断したり、或いは、前記各外部リード端子部12b
、13b、14bの先端端面12b’  13b’  
14b’がモールド部11における左右両側面11b、
llcより、第9図及び第10図に示すように、若干の
寸法(δ)だけ凹んだ状態にして切断したりすることが
、確実に、且つ、容易にできるのである。
更にまた、前記各外部リード端子部12b、13b、1
4bの上面における一部が、前記各凹み部16,17.
18内において露出していることにより、プリント基板
に対する半田付けに際して、溶融半田の一部が、前記各
外部リード端子部12b、13b、14bの上面にも付
着することになるから、前記各外部リード端子部12b
、13b。
14bの各々における半田付けが確実にできているか否
かの確認が容易にできるようになるのである。
なお、前記各リード端子12,13.14のうち平面視
においてモールド部11の隅角部に隣接するリード端子
13.14に対する凹み部は、第11図〜第13図に示
すように、平面視においてモールド部11における隅角
部を切り欠いた形状の凹み部17a、18aに形成して
も良いのである。
そして、第14図〜第18図は、本発明における「凹み
手段」の第2の実施例を示すものである。
すなわち、この実施例は、モールド部11における左右
両側面11b、llcに、その上部を下部よりも凹ませ
るように当該両側面11b、11Cに沿って延びる段付
き面20.21を形成することにより、前記各外部リー
ド端子12b、13b、14bの上面における一部を露
出するように構成したものである。
この場合においても、モールド11の成形に際して、一
対の成形金型A、Bにおけるモールド部成形用キャビテ
ィーC内に、第19図に示すように、前記両段付き面2
0.21を形成するための突出面C7,CBを、成形用
キャビティーC内に突出するように造形し、この突出面
C7,C8によって、各外部リード端子部12b、13
b、14bの各々を成形用キャビティーCにおいて当該
成形用キャビティーCの内底面CIに対して強く密接す
るように押圧することができるから、前記モールド部1
1の成形に際して、前記各外部リード端子部12b、1
3b、14bの下面12b′13b’   14b’と
成形用キャビティーCの内底面C1との間に、成形用キ
ャビティーC内に高い圧力で注入した溶融合成樹脂が侵
入することを確実に防止できるのである。
また、本発明における「凹み手段」は、前記凹み部16
,17.18及び17a、18a、並びに前記段付き面
20.21に限らず、第20図〜第24図に示すように
、これら凹み部16.1?。
18又は17a、18aと段付き面20.21との両方
を組み合せたものに構成しても良いのである。
なお、前記した各実施例は、三本のリード端子12.1
3.14を有するトランジスター10に適用した場合を
示したが、本発明は、このトランジスター10に限らず
、二本のり−ドフ端子を有するダイオードや、四本以上
のリード端子を有するICやコンデンサー等の他の電子
部品に対しても適用できることは云うまでもない。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第24図は本発明の実施例を示し、第1図は第
1実施例によるトランジスターの平面図、第2図は第1
図の■−■視断面断面図3図は第1図の■−■視断面断
面図4図は第1図のIV−IV視側面図、第5図は第1
図のv−v視測面図、第6図はリードフレームの平面図
、第7図は第1実施例のトランジスターにおけるモール
ド部を成形している状態を示す縦断正面図、第8図は第
7図の■−■視横断面図、第9図は第2実施例によるト
ランジスターの平面図、第1O図は第9図のX−X視測
面図、第11図は第3実施例によるトランジスターの平
面図、第12図は第11図のX■−xm視側面図、第1
3図は第11図のxm−xm視側面図、第14図は第4
実施例によるトランジスターの平面図、第15図は第1
4図のXV−XV視折断面図第16図は第14図のXV
I−XVI視断面図、第17図は第14図のX■−X■
視側面図、第18図は第14図のX■−X■視側面図、
第19図は第4実施例のトランジスターにおけるモール
ド部を成形している状態を示す縦断正面図、第20図は
第5実施例によるトランジスターの平面図、第21図は
第20図のXX I −XX I視断面図、第22図は
第20図のxxn−xxn視断面断面図23図は第20
図のxxm−xxm視側面図、第24図は第20図のX
XIV−XXIV視側面図、第25図〜第29図は従来
例を示し、第25図はトランジスターの平面図、第26
図は第25図のXXVI−XXVI視断面図、第27図
は第25図のXx■−XX■視断面断面図28図は第2
5図の底面図、第29図はモールド部を成形している状
態を示す縦断正面図である。 lO・・・・トランジスター 11・・・・モールド部
、11a・・・・モールド部の底面、11b、11c・
・・・モールド部の側面、12.13.14・・・・リ
ード端子、12a、13a、L4a−−−−内部リード
端子部、12b、13b、14b・・・・外部リード端
子、12b’、13b’、14b’・・・・外部リード
端子の下面、12b’、13b’、14b’・・・・外
部リード端子の先端端面、15・・・・半導体チップ、
16,17,18.17a、  18a−−−・凹み部
、20.21・・・・段付き面。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、複数本の各リード端子を、合成樹脂製のモール
    ド部内における内部リード端子部と、前記モールド部外
    への外部リード端子部とで構成し、該外部リード端子部
    を、前記モールド部内に、当該外部リード端子部におけ
    る下面及び先端端面が前記モールド部における底面及び
    側面に対して各々露出するように埋設して成る電子部品
    において、前記モールド部における側面のうち少なくと
    も前記外部リード端子部の箇所に、当該外部リード端子
    部の上面における一部を露出するようにした凹み手段を
    設けたことを特徴とする合成樹脂封止型電子部品。
  2. (2)、外部リード端子部の上面における一部を露出す
    るための凹み手段を、前記モールド部の側面を部分的に
    凹ませた凹み部に構成したことを特徴とする特許請求の
    範囲の第1項に記載した合成樹脂封止型電子部品。
  3. (3)、外部リード端子部の上面における一部を露出す
    るための凹み手段を、前記モールド部の側面に沿って延
    びる段付き面に構成したことを特徴とする特許請求の範
    囲の第1項に記載した合成樹脂封止型電子部品。
  4. (4)、外部リード端子部の上面における一部を露出す
    るための凹み手段を、前記モールド部の側面に沿って延
    びる段付き面と、前記モールド部の側面を部分的に凹ま
    せた凹み部とで構成したことを特徴とする特許請求の範
    囲の第1〜3項に記載した合成樹脂封止型電子部品。
JP4883890A 1990-02-27 1990-02-27 合成樹脂封止型電子部品 Expired - Lifetime JPH0821670B2 (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6022757A (en) * 1997-03-28 2000-02-08 Sanyo Electric Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method
US6075279A (en) * 1996-06-26 2000-06-13 Sanyo Electric Co., Ltd. Semiconductor device
US6410363B1 (en) 1997-03-10 2002-06-25 Sanyo Electric Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing same
US7364947B2 (en) 2002-10-17 2008-04-29 Rohm Co., Ltd. Method for cutting lead terminal of package type electronic component
US7456494B2 (en) 2004-06-23 2008-11-25 Rohm Co., Ltd. Surface mount electronic component and process for manufacturing same

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6075279A (en) * 1996-06-26 2000-06-13 Sanyo Electric Co., Ltd. Semiconductor device
US6410363B1 (en) 1997-03-10 2002-06-25 Sanyo Electric Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing same
US6911353B2 (en) 1997-03-10 2005-06-28 Sanyo Electric Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing same
US6022757A (en) * 1997-03-28 2000-02-08 Sanyo Electric Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method
US6346434B1 (en) 1997-03-28 2002-02-12 Sanyo Electric Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method
US6355542B1 (en) 1997-03-28 2002-03-12 Sanyo Electric Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method
US7364947B2 (en) 2002-10-17 2008-04-29 Rohm Co., Ltd. Method for cutting lead terminal of package type electronic component
US7456494B2 (en) 2004-06-23 2008-11-25 Rohm Co., Ltd. Surface mount electronic component and process for manufacturing same

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