JPH0281324A - 再生信号補正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光デイスク装置における再生信号の閾値の設定
および再生パルス幅あるいは間隔の補正方式に係り、特
に記録時に生じるピット長あるいはピット間隔の変動に
対しても安定な復調を可能とする再生信号補正方法に関
する。

〔従来の技術〕

従来は、特開昭５６−１１１５０２４号に記載のように
、再生信号の閾値を生成する場合、該信号波形の正の包
絡線と負の包絡線を検出し、両者包絡線レベルの平均値
を基準に決定している。このような閾値の設定回路によ
れば、信号振幅の比較的緩慢な変動な、信号の直流成分
が変動する場合にも正しく２値化することができる。し
かし光デイスク装置などにおいては、記録媒体や記録条
件のばらつき等によって信号振幅と最適スライスレベル
との間に比例関係が成立しない場合があり、十分な効果
が期待できない。このような場合に再生信号の０レベル
とルベルとが均等な確率で発生する場合、すなわち変調
方式として直流フリー性の高い場合は、２値化のための
比較器の出力を積分した信号を閾値の誤差信号として負
帰還する方法が有効である。しかしながら、直流フリー
性に乏しい変調方式の場合、データ列の疎密により再生
信号の平均レベルが急変することがあるため、上記の方
法では十分に正確な復調ができないことが考えられる。

特開昭６２−２５４５１４号ではこの点を解決する方法
を提案している。すなわち、スライスレベル設定回路に
エツジ検出回路と、同期クロック発生回路等を付加し、
あるスライスレベルで２値化された再生パルスの前エツ
ジに同期した再生クロックを該クロック発生回路により
生成し、この再生クロックにより再度再生パルスを同期
化する。ここで元々の再生パルスと再同期再生パルスと
の差信号をとると、再生クロックに対する再生パルスの
後エツジ位置のずれ分が検出できる。この差信号を低域
通過フィルタを通すことにより誤差信号を生成し、該誤
差信号を零にするようにスライスレベルを増減させるこ
とにより、常に最適な値にスライスレベルを制御するこ
とができる。しかしながら上記方式では、再生信号の前
エツジ位置に対する後エツジ位置の変動が再生クロック
１周期の時間に対応する距離以内に納まっていることが
正確なデータ復調のための最低条件となる。再生クロッ
クの１周期分はデータ検出窓幅に対応することから、換
言すればデータ記録時に許されるエツジ変動は必らず検
出窓幅に入っていなければならないことになる。ところ
が実際の記録状態においては、記録パルス幅な記録パワ
ーの変動、記録媒体の感度変動、記録・再生光スポット
の強度分布の偏りなどにより、検出窓幅を越えるような
変動が生じることも考えられる。第３図は光デイスク上
に記録されたピットと再生信号波形、および再生信号の
平均値を閾値として２値化した再生パルスの例を示した
ものである。ピットはトラック３１０上に記録される。

第３図（ｂ）は目標のピット長が形成された場合を示し
ている。第３図の例ではピットの前エツジと後エツジそ
れぞれに符号化ピットを対応させる場合を示した。第３
図（ｂ）は各々のエツジ位置間隔がすべて検出窓＠３１
２のほぼ中央に対応している場合である。ピット３０１
部は一般に反射率が低下するための再生信号３２１はピ
ット部で低下し。

ピット間で上昇する。この再生信号３２１を平均値であ
るスライスレベル３１１で２値化することで再生パルス
３３１が得られる。例として、再生信号はピットの反射
率変化として検出される場合を示したが、光磁気記録に
見られるように磁化ドメイン部の磁化方向に対応する偏
光面回転を検出した光磁気信号の場合や、光デイスク以
外の記録媒体から得られるものでも同様である。実際に
は。

記録媒体や記録条件の変動により極端な場合として、ピ
ットの前エツジ位置を基準に表現したとき。

ピット長が短かくなった状態を第３図（ａ）に、ピット
長が長くなった状態を第３図（Ｑ）に示した。第３図（
ａ）では前エツジを基準にした場合の後エツジの位置が
本来入るべき検出窓幅３１３よりも前になっている場合
で、第３図（ｃ）は、検出窓幅３１４よりも後エツジの
位置が後になっている場合である。いずれの場合も何ら
かの補正を行なわない限り異なるデータとして認識され
てしまう。予めデータパターンが分っている場合、デー
タパターンのデユーティ比を頼りにスライスレベルを第
３図（ａ）の場合には増加、第３図（０）の場合には減
少させることにより第３図（ｂ）で示されるような再生
パルス３３１を得るようにする方法が考えられる。しか
しながら再生信号３２０〜３２２の前エツジ、後エツジ
の傾斜が十分にゆるくないとスライスレベルの増減だけ
では補正できない。また逆に再生信号３２０〜３２２の
エツジの傾斜がゆるいと信号に含まれる雑音の影響によ
りスライス後の再生パルスのエツジ位置の変動が増加す
る恐れがある。従来のスライス回路ではこのような理由
により検出窓幅を越えるような記録ピット長の変動に対
しては補正できない場合が存在する。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来技術は、記録時に記録条件の変動等によって生
じるピット長の変動が大きい場合、スライスレベルの増
減だけでは該変動時間を検出窓幅内に補正することがで
きないという問題があった。

本発明は、予めデータフォーマット上でデータパターン
が既知の領域に記録されたピット列から得られる再生信
号を標準のスライスレベル、例えばエツジ位置を符号化
ビットに対応させる記録方式であれば再生信号の微分波
形の平均値レベルにより２値化された再生パルスのデユ
ーティ比がほぼ正規の値に近くなるようにデユーティ比
がほぼ正規の値に近くなるようにディジタル信号の状態
で補正する。さらに補正残り分は、スライスレベルを微
調することにより吸収させる。これにより、ユーザデー
タ記録領域に対しても同値の補正量をかけることにより
、安定なデータ復調を実現することができる。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために、データフォーマットパター
ンとしては大きな記録ピット長の変動をスライスレベル
の微調だけで吸収できる範囲に抑圧する目的で、デユー
ティ比が一定（例えば５０％等）な領域を設ける。この
領域は再生クロック同期化パターン列を兼用しても良い
。再生時には、該パターン領域から得られる再生信号を
まず標準のスライスレベルで２値化してディジタル信号
状態の再生パルスを得る。該再生パルスのデユーティ比
を計数クロックによりカウントすることで検出し、デユ
ーティ比のずれた分のクロック数に相当する時間だけ再
生パルスを遅延させ、この遅延パルスと元の再生パルス
との論理和（ＯＲ）、あるいは論理積（ＡＮＤ）をとる
ことにより、はぼ所定のデユーティ比に近づくように補
正する。ここでは、この大幅な補正をマクロ補正と呼ぶ
ことにする。

計数クロックの周期をデータ検出窓幅の時間よりも十分
短くしておけば、マクロ補正によりエツジ位置を検出窓
幅内に納めることができる。マクロ補正領域の後に続く
ユーザデータパターンは、ランダムなデユーティ比にな
っているが、一般にセクター単位でデータの処理を行な
う型式の光デイスクファイル等では、記録条件は同一セ
クター内で変動することはほとんど無いため、該マクロ
補正量と同一の補正量をユーザデータパータンに対して
も適用することにより、はぼ正確なデータ復調が可能と
なる。さらなピットエツジ記録では前エツジ同士、ある
いは後エツジ同士だけを見ていくと、その間隔は記録条
件に影響されにくい。

マクロ補正で抑圧できなかった微少なエツジ変動を吸収
する方法としては、補正データパターン領域の後半で、
マクロ補正的の再生パターンの０レベルの持続時間の合
計とルベルの持続時間の合計とを、積分回路により積分
値として検出し、この積分値の差を誤差信号としてスラ
イスレベルを若干増減することによりさらに正確な補正
が可能である。このような微細な補正をミクロ補正と呼
ぶことにする。ミクロ補正の別の手段としては、マクロ
補正前の再生パルスの前エツジに同期した再生クロック
をＰＬＬ　（フェーズロック・ループ）回路により生成
し、再生パルスを再度この再生クロックで同期化したパ
ルスを生成する０元の再生パルスと、この同期化再生パ
ルスとの差信号は。

再生クロックと元の再生パルスの後エツジとの位相差を
表わしている。したがってこの差信号を誤差信号として
スライスレベルに負帰還すればミクロ補正が可能である
。また差信号をとるかわりに、マクロ補正後の後エツジ
パルスをトリガとして再生クロックの０．ルベルをラッ
チすることにより、後エツジ検出パルスの立上りと再生
クロックの立上りとの位相差を進相パルス、遅相パルス
の発生頻度差として検出することもできる。さらに後エ
ツジ検出パルス発生用に、標準のスライスレベルとは別
に第２のスライスレベルを設け、上記のミクロ補正方式
で示した誤差信号により第２のスライスレベルのみを増
減させる方法もある。

〔作用〕

マクロ補正回路は、セクターフォーマットの先頭に設け
たマーカから補正領域を指示するためのゲート信号を入
力することにより、マクロ補正処理を開始する。始めに
、標準のスライスレベルで２値化された再生パルスのデ
ユーティ比を計数クロックで検出する。計数クロックの
周期が短いほど、つまり周波数が高いほどクロック補正
後の補正誤差は少なくなる。少なくともデータ検出窓幅
の時間よりもクロック周期を短かくする必要がある。ま
たミクロ補正でのスライスレベルの増減量をあまり大き
くしないこともクロック周波数設定の基準となる。計数
クロックは、アップダウンカウンタに入力され、再生パ
ルスが１のときアップ。

Ｏのときダウンさせるようにし、マクロ補正頭領終了時
にカウンタの値を参照し、再生パルスの１と０の区間の
比率または差を検出する０次にこのカウント値の差を零
とするように、再生パルスの遅延量を選択し、元の再生
パルスと、この遅延パルスとから、補正パルスを得る。

例えば再生パルスの１のレベル（パＨ”レベル）区間の
計数値が０のレベル（″′Ｌ″レベル）区間の計数値よ
りも２クロック分だけ多かった場合には、１クロック分
に相当する時間だけ再生パルスを遅延させ、元の再生パ
ルスとの論理積（ＡＮＤ）をとれば１のレベルを１クロ
ック分だけ短く、０のレベルを１クロック分だけ長くす
ることができるため、補正パルスとしてほぼデユーティ
比が５０％のものが得られる。逆に２クロック分だけ、
０のレベル区間のほうが長かった場合は、１クロック分
に相当する分だけ遅延させたパルスと元の再生パルスと
の論理和（ＯＲ）をとれば同様の補正パルスが得られる
。

ミクロ補正回路としては、マクロ補正後の再生パルスの
デユーティを積分回路を用いることにより検出する方法
、再生パルスの前エツジに同期させた再生クロックによ
り再び該再生パルスを同期化したパルスを生成し、両者
の再生パルス・幅の差を差動増幅器で検出する方法と、
位相比較器により進相パルスおよび遅相パルスの発生頻
度の差として検出する方法がある。

またミクロ補正の制御対象となるスライスレベルを標準
のスライスレベルとは別に設ける方法がある。すなわち
前エツジの位置を基準として後エツジ位置のみを前後さ
せるべく別のステイスレベルを用いるわけである０水力
式では、前エツジ位置はミクロ補正によっても変動しな
いため、前エツジのみから再生クロックを生成する場合
に、再生クロック生成回路の応答帯域を、ミクロ補正回
路の帯域と独立に設定することができる。

〔実施例〕

以下、本発明の詳細な説明する。第１図は第３図で示し
たような記録ピットのエツジ位置に符号ビットを対応さ
せるような記録方式により記録された情報を再生するた
めの回路例であり、再生補正回路を含んでいる。第２図
は再生補正を特に意識せずに、エツジ位置検出パルスを
発生する回路部分についての動作を説明するためのタイ
ムチャートである。第１図では光ディスクの場合であれ
ば光ピツクアップに相当する部分は省略しているが、特
に検出部の構成は限定されない。光デイスク以外の記憶
手段や伝送手段から得られた信号であっても本発明の目
的とするところの再生補正対象となるものでれば適用す
ることができる。

第１図と第２図を用いて説明する。再生信号１００．１
０１は差動信号としてバッファ２００に入力される。第
２図では再生信号１０１を記していないが、これは再生
信号１００の反転信号である。バッファ２００の出力は
微分器２０１に入力され１階微分信号を得る。この後、
適当なレベルまで増幅器２０２で増幅し、低域フィルタ
２０３を通過した後、再びバッファ２０４へ入力され、
結果出力として１階微分信号１０２゜１０３を得る。こ
こでバッファ２００，２０４、増幅器２０２は一般に用
いられている構成で良い。

また微分器２０１、低域フィルタ２０３は受動素子、能
動素子いずれを用いたものでも支障はない。

エツジ記録の場合は１階微分信号の正負のピーク位置が
それぞれ再生信号の前エツジ、後エツジ位置に対応する
。第２図のタイムチャートでは微分作操および回路の遅
延による影響は無視して示しである。１階微分信号１０
２，１０３はさらに微分器２０５で微分された後、上記
と同様に増幅器２０６、低域フィルタ２０７、バッファ
２０８を通り、２階微分信号１０４，１０５を得る。２
階微分信号１０４，１０５の零クロス点は１丁度１隋微
分信号１０２，１０３のピーク位置に対応しており、エ
ツジ位置そのものになっている。比較器２０８，２１０
にそれぞれ１階微分信号１０２゜１０３を入力ることで
ゲートパルス１０８゜１０９を得る。ここでスライスレ
ベル１０６は、ゲートパルス生成の際の閾値である。こ
のゲートパルス１０８．１０９は、２階微分信号１０４
゜１０５の零りロス点以外から発生する誤パルスをデー
タとして認識させないためのものである。該ゲートパル
ス１０８，１０９はフリップフロップ２１１のそれぞれ
セット（Ｓ）端子、リセット（Ｒ）端子に入力され、出
力してパルス１１０゜１１１が得られる。一方、２階微
分信号１０４゜１０５はスライス設定Ｗ！２１２に入力
される。スライス設定器２１２の入力としては、これ以
外にスライスレベル１０７がある。スライスレベルは、
マクロ補正領域である一定値のレベル１１２が該補正領
域を指示する信号１１３により選択されている。一般に
は２階微分信号１０４，１０５の平均レベルに選ぶ、こ
こでは、ミクロ補正動作以前の回路動作の説明を行なう
。比較器２１３は差動比較器であり、２階微分信号１０
４．１０５に対し、パルス１１４，１１５を出力する。

さらに先はど１階微分信号１０２，１０３から生成され
たパルス１１０，１１１とともに、フリップフロップ２
１４，２１５のトリガ（Ｔ）端子へ、それぞれパルス１
１４とパルス１１５を入力する。これによりパルス１１
４の立ち上がりをトリガとしてパルス１１０を取り込み
、パルス１１１の１１　ＨＩｔレベル状態でリセットさ
れることによりパルス１１６が得られる。パルス１１７
についても同様である。最後にオア（ＯＲ）ゲート２１
６により。

再生パルス１１８，１１９が得られる０本実施例では再
生パルス１１８では立ち上がりが、再生パルス１１９で
は立ち下がりがエツジ位置に対応する。第５図に、スラ
イス設定器２１２と比較器２１３の構成例を示した。ス
ライスレベル１０７は、微分信号１０４に対してのバイ
アス電圧として、コンデンサ５００で直流分をカットし
た後、抵抗５０２を介して印加される。また微分信号１
０５に対してのバイアス電圧としてコンデンサ５０１で
直流分をカットした後、抵抗５０３を介して印加される
１反転槽幅＠５０４は、スライスレベル１０７の極性を
反転させるためのものであり、図の形式の場合、入力抵
抗５０５と、帰還抵抗５０６は同値である。比較器２１
３は差動入出力型のものでり、一般にラインレシーバと
して用いられているもので良い。

次に再生補正、特にマクロ補正を行なう場合のセクター
フォマットについて説明する。第４図（ａ）はディスク
上のあるセクターのフォーマット構成例を示した図であ
る。光ディスクでは一般にディスク作成時に予め作りつ
けたプリフォーマット領域４００とそれ以外のデータ領
域４０．．１とに分れられる。プリフォーマット領域４
００はさらにセクターの先頭を指示するためのセクター
マーク４１０、再生クロック生成のためのＶＦＯ（バリ
アプル・フレクエンシー・オシレータ）同期パターン４
１１およびトラック番地、セクター番地の記録されたア
ドレス４１２等に分類される。

ユーザがデータを記録する場合にはデータ領域４０１に
記録することになるが、このデータ領域４０１のフォー
マット構成としては、第４図（ｂ）に示す様なものが一
般的である。すなわちＶＦＯ同期パターン４２０、ユー
ザデータの復調開始を指示するための復調同期パターン
４２１．およびユーザデータ領域４２２から成っている
０以上で述べたパターンの内容については既知であるだ
めここでは詳細説明は省＜、ＶＦＯ同期パターン４１１
．４２０は一般にある一定のデユーティ比を持つ繰り返
しパターンが用いられる０例えば２−７変調の場合、デ
ータビット長をＴ　（ｓｅｅ）とした場合、最密パター
ンである１、５Ｔの繰り返しパターンが用いられること
が多いが、これはＰＬＬの引込み特性を向上させるため
で、あり、記録条件としてはピット間隔が最も接近した
パターンであるため必らずしも最適なパターンではない
。

ＰＬＬ特性に問題がなければむしろ記録の面からは２．
ＯＴの繰り返し、ないしはそれ以上のパターン長の繰り
返しが望ましいと考えられる。マクロ補正は、標準のス
ライスレベル、例えば前述のスライスレベル１１２によ
り２値化された再生パルス１１８，１１９のデユーティ
比を検出し、デイレイ補正により、再生パルス幅を目標
のデユーティ比に近づけるようにさせるものである６例
えば、ＶＦＯ同期パターン等は、デユーティ比が５０％
で記録されるべきパターンであるから、この部分の再生
パルスのデユーティ比が５０％近傍になるように補正す
れば、マクロ補正の目的が達せられる。また−度マクロ
補正量が決定されれば、同一セクター内の他のデータパ
ターンに対しても同一量だけ補正すれば良い、これは同
一セクター内では記録条件はほぼ一定と考えられるから
である０例えば、あるセクターに本来デユーティ比が５
０％になるべきデータパターンを記録したところ第３図
（、）のようにピット長が短くなってしまったとすれば
、少なくとも同一セクター内のデータパターンに対する
ピット長も同じ量だけ短くなっている事実に基づく補正
方法である。もちろん、ユーザデータ領域４２２の中に
も再同期化パターンのようなユーザデータに依存しない
特定パターンあるいはデユーティ比が一定となるような
パターンを入れれば、この領域でもマクロ補正を行なわ
せることもできる。第４図（ｃ）は、ＶＦ○同期パター
ン４２０の前にマクロ補正のためのパターン領域４３０
を設けたフォーマット例である。この場合、オーバヘッ
ドは若干増加するが、ＶＦＯ同期パターン４２０には最
密パターンの繰り返しを用いて引込み特性を向上させ、
マクロ補正領域４３０には、若干周期の長い繰り返しパ
ターンを用いて記録の安定化を図ることも可能である。

では、以下マクロ補正について第６図、第７図を用いて
説明する。第６図はマクロ再生補正回路２１７の構成例
、第７図は該回路の動作を示すタイムチャートである。

補正領域ゲート６００はマクロ補正領域を指示する信号
であり、第４図で示したフォーマットではセクターマー
ク４１０から生成することができる。該補正領域ゲート
６００は、完全にデータ信号と同期化させるのは一般に
困難なので、カウンタ７００のイネーブル（Ｅ）に補正
領域ゲート６０ｏを入力し、該ゲート信号６００が“Ｈ
″の区間だけデータパルス６０１の立ち上がりをカウン
ト用クロックとして用いることで同期化を図ることがで
きる。データパルス６０１およびその反転信号６０２は
前述した再生パルス１１８，１１９から生成することが
できる。

第７図では２階微分信号１０４から前エツジパルス５５
０．後エツジパルス５５１を生成し、フリップフロップ
等を用いてデータパルス６０１゜６０２を生成している
が、第２図で示した再生パルス１１８又は１１９によっ
て生成しても同様である。カウンタ７００の出力Ｑ。６
０３゜Ｑ、６０４、Ｑａ６０５はそれぞれ２°　２１，
２！のビット出力に対応している。まずＱ。６０３が“
Ｈ”レベルになると、フリッププロップ７０１の出力Ｑ
６０６が“Ｈ”になる。その後、第６図の例では、カウ
ンタ７００の出力が１１５１１、すなわちＱ、６０３が
“Ｈ”、Ｑよ６０４が“Ｌ　ＩＩＱ２６０５がＩＩ　Ｈ
ＩＩになった瞬間にフリップフロップ７０１がリセット
され、出力Ｑ６０６が“Ｌ”になる。またデータパルス
６０２はフリップフロップ７０２のトリガ（Ｔ）端子に
入力されており、出力Ｑ６０６が′Ｈ″になった後、最
初のデータパルス６０２の立ち上がりでフリップフ口ッ
プ７０２がセットされ、出力Ｑ６ｏ７がＨ′′になる。

それ後、出力６０６がＬ”になった時点で、出力６０７
は“Ｌ”に戻る。また、ＡＮＤゲート７０３．７０４は
それぞれ、カウンタ７０５のカウントアツプ、カウント
ダウン状態を選択する信号６０８，６０９を生成する。

すなわち、再生信号１００が未記録レベル側にあるとき
（図中では高レベル）、カウンタ７０５はカウントアツ
プ状態になり、逆に再生信号１００がビットレベル側に
あるとき（図中では低レベル）カウンタ７０５はカウン
トダウン状態になる。データパルス６０１　（６０２）
のデユーティ比を計測するための計数クロック６１０は
、カウンタ７０５のクロック（ＣＫ）端子に入力される
。但し、カウントアツプ、カウントダウンのいずれの状
態も選択されないとき、クロック６１０は入力されない
ようにしである。該クロック６１０によって、第６図の
例ではデータパルス６０１　（６０２）の４周期分だけ
計数する。カウンタ７０５の出力値の様子をカウンタ出
力値６１１として示した。該出力値６１１の値は最終的
には１６進数で“１０’″となった場合を示しである。

第７図では、上位桁は省略しである。マクロ補正処理で
は該出力値６１１をデータパルス６０１　（６０２）の
周期の２倍の８で割った値、すなわち計数クロック６１
０の２周期分だけ、データパルス６０１　（６０２）の
幅を増減すれば、はぼデユーティ比５０％の補正パルス
を得ることができる。第７図ではデータパルス６０１の
１１　ＨＩＩレベル区間が１１　Ｌ″ルベル区間り長い
場合であり、このときは、データパルス６０１を遅延素
子７０６で遅延させたパルスの中からカウンタ７０５の
出力Ｑ２〜ＱＮ−１（それぞれ２２〜２Ｎ−１に対応）
によりセレクタ７０７で計数クロック６１０の２周期分
に相当する時間だけ遅れたものを選択し、この遅延パル
ス６１２と元のデータパルス６０１とをＡＮＤゲート７
０８で論理積（ＡＮＤ）をとったものを得て、これをマ
クロ補正データ６１３．６１４として出力する。仮りに
、データパルス６０１のＩＬＨ”レベル区間が１１　Ｌ
”レベル区間よりも短い場合は、逆にデータパルス６０
１と遅延パルス６１２との論理和（ＯＲ）をオアゲート
７０９でとってやれば、同様にマクロ補正データを得る
ことができる。なお、後者の場合はカウンタ７０５の出
力値６１１が最終的に負になるため、出力値６１１の最
上位ビットＱＮを符号ビットとして用い、セレクタ７１
０で。

ＡＮＤゲート７０８の出力か、○Ｒゲート７ｏ９の出力
のいずれかを選択することができる。以上述べたように
、予めデユーティ比の分っている部分の信号を用い、そ
こから得られたデータパルスのデユーティ比を、概ね所
定値に近づけることができる９第７図では、デユーティ
比が５０％近傍になるように補正する場合を示したが、
他のデユーティ比に対しても、カウンタ出力値６１１に
予め一定値を加算あるいは減算するようにしておけば、
同様の回路構成によりマクロ補正が可能である。

次にマロク補正後の補正パルス６１３．６１４に対し、
さらに詳細なデユーティ比補正を行なうミクロ補正につ
いて説明する。第８図、第１０図、第１１図は、ミクロ
補正回路２１８の実施例で。

対応するタイムチャートをそれぞれ第９図、第１２図、
第１３図、に示した。第８図の例は、補正パルス６１３
，６１４のデユーティ比を積分器８００，８０１で該パ
ルスのＩＩ　ＨＩＩレベル区間をそれぞれ積分し、その
差を誤差信号として、スライスレベル１０７を制御する
ことにより補正パルス６１３，６１４のデユーティ比を
より詳細に５０％へ近づける方式の一構成例である。第
９図において、補正パルス６１３，６１４の生成に関す
るマクロ補正は第６図、第７図で説明したのと同様であ
る。ミクロ補正ゲート９００は、マクロ補正終了後に出
力されるものであり、マクロ補正ゲート６００と同様に
生成できる。コントロール信号９０１は、該ゲート９０
０が１１　ＨＩＴになってから直後の補正パルス６１３
の立ち上がりが１１　ＨＩＩになり、所定数だけ補正パ
ルス６１３又は６１４の周期を数えた後、′Ｌ″に戻す
。該コントロール信号９０１がＩｔ　Ｈ１３の区間だけ
、スイッチ８０３．８０４を信号側に切換えることでそ
れぞれ補正パルス６１３．６１４の“Ｈ”の区間の値を
積分する。積分器８０１　（８０２）の積分出力９０２
　（９０３）は差動アンプ８０５に入力され、差信号９
０４が出力される。コントロール信号９０１がＨ″の区
間、サンプルホールドはサンプル動作となり、差信号９
０４が取り込まれ、コントロール信号９０１が“Ｌ”の
区間、その値がホールドされる。なお、コントロール信
号９０１が（ｉ　Ｌ　１１の区間ないしは、データ記録
領域開始以外に８０１，８０２の静電容量に蓄えられた
電荷を放電させている。これにより直前のセクターでの
補正量が影響しないようにしている。ミクロ補正の別の
実施例として第１０図の回路構成について、第１２図の
タイムチャートとともに説明する。

補正データ６１３は前エツジ検出器７５０に入力され立
ち上がりエツジパルス６５０が生成される。

該エツジパルス６５０の生成方法としては補正データ６
１３をわずかに遅延させたパルスの反転パルスと元のパ
ルス６１３との論理積（ＡＮＤ）をとれば良い。該パル
ス６５０は位相比較器７５１に入力され、再生クロック
６５２との位相誤差が検出され、この誤差信号６５１は
低域通過フィルタ７５２を介してＶＣＯ（ボルテージ・
コントロール・オシレータ）７５３への制御信号として
入力される。ＶＣＯ７５３は、入力電圧の値で発振周波
数が可変できる素子である。一般に位相比較器７５１か
らＶＣＯ７５３により構成される回路はＰＬＬ　（フェ
ーズロックループ）回路７５４と呼ばれている。ＰＬＬ
回路７５４により補正パルス６１３の前エツジに同期し
た再生クロック６５２を得ることができる。第１０図の
回路では、ミクロ補正処理を行なうに当り、スライスレ
ベル１０７制御のための誤差信号を以下の様にして生成
する。マクロ補正後のパルス６１３をフリップフロップ
７５４のデイレイ（Ｄ）端子に入力し、再生クロック６
５２の反転パルスの立ち上がり。

すなわち再生クロック６５２の立ち下がりエツジで再同
期化し、同期化パルス６５３を得る。

第１Ｏ図の回路例では、補正パルス６１３の立ち上がり
エツジと再生クロック６５２の立ち上がりエツジの位相
を合せる形式のＰＬＬ回路の場合が示されており、この
ときは該再生クロック６５２の立ち下がりで再同期化す
る。こうすることにより、同期化パルス６５３のパルス
幅は再生クロック６５２の周期の整数倍となる。本来、
再生信号１００の立ち上がりエツジと立ち下がりエツジ
の間隔は再生クロック周期の整数倍になっていなければ
ならないため、該同期化パルス６５３と補正パルス６１
３との幅の差がマクロ補正における補正残り分に相当す
る。したがって、同期化パルス６５３と補正パルス６１
３との差信号６５４を差動増幅器７５５により得た後、
低域通過フィルタ７５６で波形を平滑化すれば、誤差信
号６５５が得られる。該誤差信号６５５を用いてスライ
スレベル１０７を制御すればミクロ補正が実施できる。

次に第１１図の回路例によるミクロ補正処理を第１３図
のタイムチャートとともに説明する。マクロ補正処理後
の補正パルス６１３の前エツジパルス６５０の立ち上が
りの同期した再生クロック６６０．６６１をＰＬＬ回路
７５４により生成する６一方、後エツジ検出器７６０に
より補正パルス６１３の後エツジパルス６６２を生成す
る。ここで後エツジパルス６６２の立ち上がりエツジで
再生クロック６６０のレベルをフリップフロップ７６１
によりラッチすることで遅相パルス６６３が得られる。

該遅相パルス６６３のパルス幅は後エツジパルス６６２
の立ち上がりと再生クロックの立ち上がりとの位相差を
表わしている。同様に後エツジパルス６６２の立ち上が
りで再生クロック６６１をラッチすることで進相パルス
６６４が生成できる。進相、遅相パルスの差信号を差動
増幅器７６３で生成し、これを低域通過フィルタ７６４
で平滑化することで誤差信号６５５が得られる。

誤差信号６５５によるスライスレベル１０７の制御方法
について付記しておく。２階微分信号１０４の立ち上が
りおよび立ち下がりの傾きをθとするとスライスレベル
がＶｅだけずれたことに対応する２値化パルス６０１，
６０２のパルス幅変化Ｔｅは、次式で与えられる。

ｔｅ＝Ｖｅ／ｌａｎθ ここでは、２階微分信号１０４の零クロス点近傍の傾き
は直線近似できるものとする。したがって差動増幅器７
５５，７６３の利得を傾きθに応じて適当に設定してや
ればミクロ補正が実行される。

第１４図で示した方式は、遅相パルス６６３、および進
相パルス６６４の生成までは第１１図、第１３図の方式
と同様である。第１４図の方法では、該差信号６５５に
より第１のスライスレベル１０７ではなく、第２のスラ
イスレベル８５０を制御する。第２のスライスレベル８
５０は２階微分信号１０４から得られ２値化パルス６０
１の後エツジ位置のみを前後に制御するために使用され
る。具体的には、補正パルス６１３の生成即ちマクロ補
正は第１のスライスレベル１０７で行ない。

該補正パルス６１３の後エツジ位置をマクロ補正領域通
過後にミクロ補正処理として前後させる。

第１５図は第２のスライスレベル８５０により補正パル
ス６１３から後エツジ位置のみ補正されたパルス６１３
′を得るための回路例である。比較器８７０により第２
のスライスレベル８５０で２階微分信号１０４を２値化
する。この後該２値化パルスの後エツジパルス８５１を
インバータ８７２、遅延素子６７１、ＡＮＤゲート８７
３で構成される回路で生成する。一方、フリップフロッ
プ８７４により補正パルス６１３の立ち上がりで出力Ｑ
は“Ｈ″になり、その後、後エツジパルス８５１により
リセットすることで“Ｌ”に戻せば、後エツジ位置のみ
補正することができる。マクロ補正終了後は、補正パル
ス６１３′を用いてミクロ補正を行なっていけばよい。

再生補正の実施例として、ここではエツジ記録方式を例
に挙げ、２階微分検出方式における閾値制御を説明した
が、再生信号１００の正、負の包絡線を検出し、その平
均値を閾値とする検出方式に対しても同様に実現するこ
とができる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、記録条投の変動や媒体の記録特性の変
動等によって生じる記録ピットあるいは記録ドメイン長
の変動を、再生時において、抑圧することができる。ま
た、スライスレベルの増減のみでは補正が困難な大きな
記録時の変動に対しても効果的に抑圧できるため、安定
なデータ復調が実現できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す回路図、第２図は２階
微分検出方式のタイムチャート、第３図は記録時のピッ
ト長変動を説明する図、第４図はフォーマット構成例を
示す図、第５図はスライス設定回路の一例を示す図、第
６図はマクロ補正回路の一例を示す図、第７図は第６図
のタイムチャート、第８図、第１０図、第１１図はミク
ロ補正回路の一例を示す図、第９図、第１２図、第１３
図はそれぞれ第８図、第１０図、第１１図の回路の動作
を示すタイムチャート、第１４図はミクロ補正の別の実
施例を示すタイムチャート、第１５図は回路構成例を示
す図である。 符号の説明 １００．１０１・・・再生信号、２１７・・・マクロ補
正器、２１８・・・ミクロ補正器、４３０・・・マクロ
補正領域。 メレ支へつα− ７７デ 第 ？ 目 第 ７国 デθｌ 第８日 第ブ２ 第７υ図 ％７／図 第７２目 第　７３　目

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、媒体上に未記録部とは物理的に異なる状態の記録領
   域を形成することにより情報の記録を行ない、該記録領
   域を再生する装置において、情報の記録時に特定パター
   ン部を形成しておき、再生時に該特定パターン部から得
   られる再生信号を標準の閾値で２値化された再生パルス
   のデューティを補正し、さらに該補正誤差を閾値の増減
   により補正を加えることで記録条件の変動によって生じ
   る該記録領域の長さ、あるいは間隔の変動を吸収するこ
   とを特徴とする再生信号補正方法。 ２、上記特定パターンとして再生クロック同期化のため
   のパターンを兼用し、該パターンの再生信号を標準の閾
   値で２値化することで得られた再生パルスのデューティ
   を計数のためのクロックにより検出し、再生パルス幅を
   補正することを特徴とする請求項１記載の再生信号補正
   方法。 ３、閾値の増減を制御する誤差信号を、再生パルスのデ
   ューティを該再生パルスの１のレベルと、該再生パルス
   の反転パルスの１のレベルをそれぞれ或る区間積分した
   値の差から生成することを特徴とする請求項１記載の再
   生信号補正方法。 ４、閾値の増減を制御する誤差信号を、再生パルスの前
   エッジに同期化した再生クロックの位相と、該再生パル
   スの後エッジの位相との位相差から生成することを特徴
   とする請求項１記載の再生信号補正方法。 ５、標準の閾値とは別に再生パルスの後エッジ位置のみ
   を制御するための第２の閾値を設け、該第２の閾値の増
   減を制御する誤差信号を生成することを特徴とする請求
   項１乃至４のいずれかに記載の再生信号補正方法。