JPH0281324A - 再生信号補正方法 - Google Patents
再生信号補正方法Info
- Publication number
- JPH0281324A JPH0281324A JP23240088A JP23240088A JPH0281324A JP H0281324 A JPH0281324 A JP H0281324A JP 23240088 A JP23240088 A JP 23240088A JP 23240088 A JP23240088 A JP 23240088A JP H0281324 A JPH0281324 A JP H0281324A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- reproduced
- correction
- reproduction
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 38
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims abstract description 7
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 abstract description 11
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 15
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光デイスク装置における再生信号の閾値の設定
および再生パルス幅あるいは間隔の補正方式に係り、特
に記録時に生じるピット長あるいはピット間隔の変動に
対しても安定な復調を可能とする再生信号補正方法に関
する。
および再生パルス幅あるいは間隔の補正方式に係り、特
に記録時に生じるピット長あるいはピット間隔の変動に
対しても安定な復調を可能とする再生信号補正方法に関
する。
従来は、特開昭56−1115024号に記載のように
、再生信号の閾値を生成する場合、該信号波形の正の包
絡線と負の包絡線を検出し、両者包絡線レベルの平均値
を基準に決定している。このような閾値の設定回路によ
れば、信号振幅の比較的緩慢な変動な、信号の直流成分
が変動する場合にも正しく2値化することができる。し
かし光デイスク装置などにおいては、記録媒体や記録条
件のばらつき等によって信号振幅と最適スライスレベル
との間に比例関係が成立しない場合があり、十分な効果
が期待できない。このような場合に再生信号の0レベル
とルベルとが均等な確率で発生する場合、すなわち変調
方式として直流フリー性の高い場合は、2値化のための
比較器の出力を積分した信号を閾値の誤差信号として負
帰還する方法が有効である。しかしながら、直流フリー
性に乏しい変調方式の場合、データ列の疎密により再生
信号の平均レベルが急変することがあるため、上記の方
法では十分に正確な復調ができないことが考えられる。
、再生信号の閾値を生成する場合、該信号波形の正の包
絡線と負の包絡線を検出し、両者包絡線レベルの平均値
を基準に決定している。このような閾値の設定回路によ
れば、信号振幅の比較的緩慢な変動な、信号の直流成分
が変動する場合にも正しく2値化することができる。し
かし光デイスク装置などにおいては、記録媒体や記録条
件のばらつき等によって信号振幅と最適スライスレベル
との間に比例関係が成立しない場合があり、十分な効果
が期待できない。このような場合に再生信号の0レベル
とルベルとが均等な確率で発生する場合、すなわち変調
方式として直流フリー性の高い場合は、2値化のための
比較器の出力を積分した信号を閾値の誤差信号として負
帰還する方法が有効である。しかしながら、直流フリー
性に乏しい変調方式の場合、データ列の疎密により再生
信号の平均レベルが急変することがあるため、上記の方
法では十分に正確な復調ができないことが考えられる。
特開昭62−254514号ではこの点を解決する方法
を提案している。すなわち、スライスレベル設定回路に
エツジ検出回路と、同期クロック発生回路等を付加し、
あるスライスレベルで2値化された再生パルスの前エツ
ジに同期した再生クロックを該クロック発生回路により
生成し、この再生クロックにより再度再生パルスを同期
化する。ここで元々の再生パルスと再同期再生パルスと
の差信号をとると、再生クロックに対する再生パルスの
後エツジ位置のずれ分が検出できる。この差信号を低域
通過フィルタを通すことにより誤差信号を生成し、該誤
差信号を零にするようにスライスレベルを増減させるこ
とにより、常に最適な値にスライスレベルを制御するこ
とができる。しかしながら上記方式では、再生信号の前
エツジ位置に対する後エツジ位置の変動が再生クロック
1周期の時間に対応する距離以内に納まっていることが
正確なデータ復調のための最低条件となる。再生クロッ
クの1周期分はデータ検出窓幅に対応することから、換
言すればデータ記録時に許されるエツジ変動は必らず検
出窓幅に入っていなければならないことになる。ところ
が実際の記録状態においては、記録パルス幅な記録パワ
ーの変動、記録媒体の感度変動、記録・再生光スポット
の強度分布の偏りなどにより、検出窓幅を越えるような
変動が生じることも考えられる。第3図は光デイスク上
に記録されたピットと再生信号波形、および再生信号の
平均値を閾値として2値化した再生パルスの例を示した
ものである。ピットはトラック310上に記録される。
を提案している。すなわち、スライスレベル設定回路に
エツジ検出回路と、同期クロック発生回路等を付加し、
あるスライスレベルで2値化された再生パルスの前エツ
ジに同期した再生クロックを該クロック発生回路により
生成し、この再生クロックにより再度再生パルスを同期
化する。ここで元々の再生パルスと再同期再生パルスと
の差信号をとると、再生クロックに対する再生パルスの
後エツジ位置のずれ分が検出できる。この差信号を低域
通過フィルタを通すことにより誤差信号を生成し、該誤
差信号を零にするようにスライスレベルを増減させるこ
とにより、常に最適な値にスライスレベルを制御するこ
とができる。しかしながら上記方式では、再生信号の前
エツジ位置に対する後エツジ位置の変動が再生クロック
1周期の時間に対応する距離以内に納まっていることが
正確なデータ復調のための最低条件となる。再生クロッ
クの1周期分はデータ検出窓幅に対応することから、換
言すればデータ記録時に許されるエツジ変動は必らず検
出窓幅に入っていなければならないことになる。ところ
が実際の記録状態においては、記録パルス幅な記録パワ
ーの変動、記録媒体の感度変動、記録・再生光スポット
の強度分布の偏りなどにより、検出窓幅を越えるような
変動が生じることも考えられる。第3図は光デイスク上
に記録されたピットと再生信号波形、および再生信号の
平均値を閾値として2値化した再生パルスの例を示した
ものである。ピットはトラック310上に記録される。
第3図(b)は目標のピット長が形成された場合を示し
ている。第3図の例ではピットの前エツジと後エツジそ
れぞれに符号化ピットを対応させる場合を示した。第3
図(b)は各々のエツジ位置間隔がすべて検出窓@31
2のほぼ中央に対応している場合である。ピット301
部は一般に反射率が低下するための再生信号321はピ
ット部で低下し。
ている。第3図の例ではピットの前エツジと後エツジそ
れぞれに符号化ピットを対応させる場合を示した。第3
図(b)は各々のエツジ位置間隔がすべて検出窓@31
2のほぼ中央に対応している場合である。ピット301
部は一般に反射率が低下するための再生信号321はピ
ット部で低下し。
ピット間で上昇する。この再生信号321を平均値であ
るスライスレベル311で2値化することで再生パルス
331が得られる。例として、再生信号はピットの反射
率変化として検出される場合を示したが、光磁気記録に
見られるように磁化ドメイン部の磁化方向に対応する偏
光面回転を検出した光磁気信号の場合や、光デイスク以
外の記録媒体から得られるものでも同様である。実際に
は。
るスライスレベル311で2値化することで再生パルス
331が得られる。例として、再生信号はピットの反射
率変化として検出される場合を示したが、光磁気記録に
見られるように磁化ドメイン部の磁化方向に対応する偏
光面回転を検出した光磁気信号の場合や、光デイスク以
外の記録媒体から得られるものでも同様である。実際に
は。
記録媒体や記録条件の変動により極端な場合として、ピ
ットの前エツジ位置を基準に表現したとき。
ットの前エツジ位置を基準に表現したとき。
ピット長が短かくなった状態を第3図(a)に、ピット
長が長くなった状態を第3図(Q)に示した。第3図(
a)では前エツジを基準にした場合の後エツジの位置が
本来入るべき検出窓幅313よりも前になっている場合
で、第3図(c)は、検出窓幅314よりも後エツジの
位置が後になっている場合である。いずれの場合も何ら
かの補正を行なわない限り異なるデータとして認識され
てしまう。予めデータパターンが分っている場合、デー
タパターンのデユーティ比を頼りにスライスレベルを第
3図(a)の場合には増加、第3図(0)の場合には減
少させることにより第3図(b)で示されるような再生
パルス331を得るようにする方法が考えられる。しか
しながら再生信号320〜322の前エツジ、後エツジ
の傾斜が十分にゆるくないとスライスレベルの増減だけ
では補正できない。また逆に再生信号320〜322の
エツジの傾斜がゆるいと信号に含まれる雑音の影響によ
りスライス後の再生パルスのエツジ位置の変動が増加す
る恐れがある。従来のスライス回路ではこのような理由
により検出窓幅を越えるような記録ピット長の変動に対
しては補正できない場合が存在する。
長が長くなった状態を第3図(Q)に示した。第3図(
a)では前エツジを基準にした場合の後エツジの位置が
本来入るべき検出窓幅313よりも前になっている場合
で、第3図(c)は、検出窓幅314よりも後エツジの
位置が後になっている場合である。いずれの場合も何ら
かの補正を行なわない限り異なるデータとして認識され
てしまう。予めデータパターンが分っている場合、デー
タパターンのデユーティ比を頼りにスライスレベルを第
3図(a)の場合には増加、第3図(0)の場合には減
少させることにより第3図(b)で示されるような再生
パルス331を得るようにする方法が考えられる。しか
しながら再生信号320〜322の前エツジ、後エツジ
の傾斜が十分にゆるくないとスライスレベルの増減だけ
では補正できない。また逆に再生信号320〜322の
エツジの傾斜がゆるいと信号に含まれる雑音の影響によ
りスライス後の再生パルスのエツジ位置の変動が増加す
る恐れがある。従来のスライス回路ではこのような理由
により検出窓幅を越えるような記録ピット長の変動に対
しては補正できない場合が存在する。
上記従来技術は、記録時に記録条件の変動等によって生
じるピット長の変動が大きい場合、スライスレベルの増
減だけでは該変動時間を検出窓幅内に補正することがで
きないという問題があった。
じるピット長の変動が大きい場合、スライスレベルの増
減だけでは該変動時間を検出窓幅内に補正することがで
きないという問題があった。
本発明は、予めデータフォーマット上でデータパターン
が既知の領域に記録されたピット列から得られる再生信
号を標準のスライスレベル、例えばエツジ位置を符号化
ビットに対応させる記録方式であれば再生信号の微分波
形の平均値レベルにより2値化された再生パルスのデユ
ーティ比がほぼ正規の値に近くなるようにデユーティ比
がほぼ正規の値に近くなるようにディジタル信号の状態
で補正する。さらに補正残り分は、スライスレベルを微
調することにより吸収させる。これにより、ユーザデー
タ記録領域に対しても同値の補正量をかけることにより
、安定なデータ復調を実現することができる。
が既知の領域に記録されたピット列から得られる再生信
号を標準のスライスレベル、例えばエツジ位置を符号化
ビットに対応させる記録方式であれば再生信号の微分波
形の平均値レベルにより2値化された再生パルスのデユ
ーティ比がほぼ正規の値に近くなるようにデユーティ比
がほぼ正規の値に近くなるようにディジタル信号の状態
で補正する。さらに補正残り分は、スライスレベルを微
調することにより吸収させる。これにより、ユーザデー
タ記録領域に対しても同値の補正量をかけることにより
、安定なデータ復調を実現することができる。
上記目的を達成するために、データフォーマットパター
ンとしては大きな記録ピット長の変動をスライスレベル
の微調だけで吸収できる範囲に抑圧する目的で、デユー
ティ比が一定(例えば50%等)な領域を設ける。この
領域は再生クロック同期化パターン列を兼用しても良い
。再生時には、該パターン領域から得られる再生信号を
まず標準のスライスレベルで2値化してディジタル信号
状態の再生パルスを得る。該再生パルスのデユーティ比
を計数クロックによりカウントすることで検出し、デユ
ーティ比のずれた分のクロック数に相当する時間だけ再
生パルスを遅延させ、この遅延パルスと元の再生パルス
との論理和(OR)、あるいは論理積(AND)をとる
ことにより、はぼ所定のデユーティ比に近づくように補
正する。ここでは、この大幅な補正をマクロ補正と呼ぶ
ことにする。
ンとしては大きな記録ピット長の変動をスライスレベル
の微調だけで吸収できる範囲に抑圧する目的で、デユー
ティ比が一定(例えば50%等)な領域を設ける。この
領域は再生クロック同期化パターン列を兼用しても良い
。再生時には、該パターン領域から得られる再生信号を
まず標準のスライスレベルで2値化してディジタル信号
状態の再生パルスを得る。該再生パルスのデユーティ比
を計数クロックによりカウントすることで検出し、デユ
ーティ比のずれた分のクロック数に相当する時間だけ再
生パルスを遅延させ、この遅延パルスと元の再生パルス
との論理和(OR)、あるいは論理積(AND)をとる
ことにより、はぼ所定のデユーティ比に近づくように補
正する。ここでは、この大幅な補正をマクロ補正と呼ぶ
ことにする。
計数クロックの周期をデータ検出窓幅の時間よりも十分
短くしておけば、マクロ補正によりエツジ位置を検出窓
幅内に納めることができる。マクロ補正領域の後に続く
ユーザデータパターンは、ランダムなデユーティ比にな
っているが、一般にセクター単位でデータの処理を行な
う型式の光デイスクファイル等では、記録条件は同一セ
クター内で変動することはほとんど無いため、該マクロ
補正量と同一の補正量をユーザデータパータンに対して
も適用することにより、はぼ正確なデータ復調が可能と
なる。さらなピットエツジ記録では前エツジ同士、ある
いは後エツジ同士だけを見ていくと、その間隔は記録条
件に影響されにくい。
短くしておけば、マクロ補正によりエツジ位置を検出窓
幅内に納めることができる。マクロ補正領域の後に続く
ユーザデータパターンは、ランダムなデユーティ比にな
っているが、一般にセクター単位でデータの処理を行な
う型式の光デイスクファイル等では、記録条件は同一セ
クター内で変動することはほとんど無いため、該マクロ
補正量と同一の補正量をユーザデータパータンに対して
も適用することにより、はぼ正確なデータ復調が可能と
なる。さらなピットエツジ記録では前エツジ同士、ある
いは後エツジ同士だけを見ていくと、その間隔は記録条
件に影響されにくい。
マクロ補正で抑圧できなかった微少なエツジ変動を吸収
する方法としては、補正データパターン領域の後半で、
マクロ補正的の再生パターンの0レベルの持続時間の合
計とルベルの持続時間の合計とを、積分回路により積分
値として検出し、この積分値の差を誤差信号としてスラ
イスレベルを若干増減することによりさらに正確な補正
が可能である。このような微細な補正をミクロ補正と呼
ぶことにする。ミクロ補正の別の手段としては、マクロ
補正前の再生パルスの前エツジに同期した再生クロック
をPLL (フェーズロック・ループ)回路により生成
し、再生パルスを再度この再生クロックで同期化したパ
ルスを生成する0元の再生パルスと、この同期化再生パ
ルスとの差信号は。
する方法としては、補正データパターン領域の後半で、
マクロ補正的の再生パターンの0レベルの持続時間の合
計とルベルの持続時間の合計とを、積分回路により積分
値として検出し、この積分値の差を誤差信号としてスラ
イスレベルを若干増減することによりさらに正確な補正
が可能である。このような微細な補正をミクロ補正と呼
ぶことにする。ミクロ補正の別の手段としては、マクロ
補正前の再生パルスの前エツジに同期した再生クロック
をPLL (フェーズロック・ループ)回路により生成
し、再生パルスを再度この再生クロックで同期化したパ
ルスを生成する0元の再生パルスと、この同期化再生パ
ルスとの差信号は。
再生クロックと元の再生パルスの後エツジとの位相差を
表わしている。したがってこの差信号を誤差信号として
スライスレベルに負帰還すればミクロ補正が可能である
。また差信号をとるかわりに、マクロ補正後の後エツジ
パルスをトリガとして再生クロックの0.ルベルをラッ
チすることにより、後エツジ検出パルスの立上りと再生
クロックの立上りとの位相差を進相パルス、遅相パルス
の発生頻度差として検出することもできる。さらに後エ
ツジ検出パルス発生用に、標準のスライスレベルとは別
に第2のスライスレベルを設け、上記のミクロ補正方式
で示した誤差信号により第2のスライスレベルのみを増
減させる方法もある。
表わしている。したがってこの差信号を誤差信号として
スライスレベルに負帰還すればミクロ補正が可能である
。また差信号をとるかわりに、マクロ補正後の後エツジ
パルスをトリガとして再生クロックの0.ルベルをラッ
チすることにより、後エツジ検出パルスの立上りと再生
クロックの立上りとの位相差を進相パルス、遅相パルス
の発生頻度差として検出することもできる。さらに後エ
ツジ検出パルス発生用に、標準のスライスレベルとは別
に第2のスライスレベルを設け、上記のミクロ補正方式
で示した誤差信号により第2のスライスレベルのみを増
減させる方法もある。
マクロ補正回路は、セクターフォーマットの先頭に設け
たマーカから補正領域を指示するためのゲート信号を入
力することにより、マクロ補正処理を開始する。始めに
、標準のスライスレベルで2値化された再生パルスのデ
ユーティ比を計数クロックで検出する。計数クロックの
周期が短いほど、つまり周波数が高いほどクロック補正
後の補正誤差は少なくなる。少なくともデータ検出窓幅
の時間よりもクロック周期を短かくする必要がある。ま
たミクロ補正でのスライスレベルの増減量をあまり大き
くしないこともクロック周波数設定の基準となる。計数
クロックは、アップダウンカウンタに入力され、再生パ
ルスが1のときアップ。
たマーカから補正領域を指示するためのゲート信号を入
力することにより、マクロ補正処理を開始する。始めに
、標準のスライスレベルで2値化された再生パルスのデ
ユーティ比を計数クロックで検出する。計数クロックの
周期が短いほど、つまり周波数が高いほどクロック補正
後の補正誤差は少なくなる。少なくともデータ検出窓幅
の時間よりもクロック周期を短かくする必要がある。ま
たミクロ補正でのスライスレベルの増減量をあまり大き
くしないこともクロック周波数設定の基準となる。計数
クロックは、アップダウンカウンタに入力され、再生パ
ルスが1のときアップ。
Oのときダウンさせるようにし、マクロ補正頭領終了時
にカウンタの値を参照し、再生パルスの1と0の区間の
比率または差を検出する0次にこのカウント値の差を零
とするように、再生パルスの遅延量を選択し、元の再生
パルスと、この遅延パルスとから、補正パルスを得る。
にカウンタの値を参照し、再生パルスの1と0の区間の
比率または差を検出する0次にこのカウント値の差を零
とするように、再生パルスの遅延量を選択し、元の再生
パルスと、この遅延パルスとから、補正パルスを得る。
例えば再生パルスの1のレベル(パH”レベル)区間の
計数値が0のレベル(″′L″レベル)区間の計数値よ
りも2クロック分だけ多かった場合には、1クロック分
に相当する時間だけ再生パルスを遅延させ、元の再生パ
ルスとの論理積(AND)をとれば1のレベルを1クロ
ック分だけ短く、0のレベルを1クロック分だけ長くす
ることができるため、補正パルスとしてほぼデユーティ
比が50%のものが得られる。逆に2クロック分だけ、
0のレベル区間のほうが長かった場合は、1クロック分
に相当する分だけ遅延させたパルスと元の再生パルスと
の論理和(OR)をとれば同様の補正パルスが得られる
。
計数値が0のレベル(″′L″レベル)区間の計数値よ
りも2クロック分だけ多かった場合には、1クロック分
に相当する時間だけ再生パルスを遅延させ、元の再生パ
ルスとの論理積(AND)をとれば1のレベルを1クロ
ック分だけ短く、0のレベルを1クロック分だけ長くす
ることができるため、補正パルスとしてほぼデユーティ
比が50%のものが得られる。逆に2クロック分だけ、
0のレベル区間のほうが長かった場合は、1クロック分
に相当する分だけ遅延させたパルスと元の再生パルスと
の論理和(OR)をとれば同様の補正パルスが得られる
。
ミクロ補正回路としては、マクロ補正後の再生パルスの
デユーティを積分回路を用いることにより検出する方法
、再生パルスの前エツジに同期させた再生クロックによ
り再び該再生パルスを同期化したパルスを生成し、両者
の再生パルス・幅の差を差動増幅器で検出する方法と、
位相比較器により進相パルスおよび遅相パルスの発生頻
度の差として検出する方法がある。
デユーティを積分回路を用いることにより検出する方法
、再生パルスの前エツジに同期させた再生クロックによ
り再び該再生パルスを同期化したパルスを生成し、両者
の再生パルス・幅の差を差動増幅器で検出する方法と、
位相比較器により進相パルスおよび遅相パルスの発生頻
度の差として検出する方法がある。
またミクロ補正の制御対象となるスライスレベルを標準
のスライスレベルとは別に設ける方法がある。すなわち
前エツジの位置を基準として後エツジ位置のみを前後さ
せるべく別のステイスレベルを用いるわけである0水力
式では、前エツジ位置はミクロ補正によっても変動しな
いため、前エツジのみから再生クロックを生成する場合
に、再生クロック生成回路の応答帯域を、ミクロ補正回
路の帯域と独立に設定することができる。
のスライスレベルとは別に設ける方法がある。すなわち
前エツジの位置を基準として後エツジ位置のみを前後さ
せるべく別のステイスレベルを用いるわけである0水力
式では、前エツジ位置はミクロ補正によっても変動しな
いため、前エツジのみから再生クロックを生成する場合
に、再生クロック生成回路の応答帯域を、ミクロ補正回
路の帯域と独立に設定することができる。
以下、本発明の詳細な説明する。第1図は第3図で示し
たような記録ピットのエツジ位置に符号ビットを対応さ
せるような記録方式により記録された情報を再生するた
めの回路例であり、再生補正回路を含んでいる。第2図
は再生補正を特に意識せずに、エツジ位置検出パルスを
発生する回路部分についての動作を説明するためのタイ
ムチャートである。第1図では光ディスクの場合であれ
ば光ピツクアップに相当する部分は省略しているが、特
に検出部の構成は限定されない。光デイスク以外の記憶
手段や伝送手段から得られた信号であっても本発明の目
的とするところの再生補正対象となるものでれば適用す
ることができる。
たような記録ピットのエツジ位置に符号ビットを対応さ
せるような記録方式により記録された情報を再生するた
めの回路例であり、再生補正回路を含んでいる。第2図
は再生補正を特に意識せずに、エツジ位置検出パルスを
発生する回路部分についての動作を説明するためのタイ
ムチャートである。第1図では光ディスクの場合であれ
ば光ピツクアップに相当する部分は省略しているが、特
に検出部の構成は限定されない。光デイスク以外の記憶
手段や伝送手段から得られた信号であっても本発明の目
的とするところの再生補正対象となるものでれば適用す
ることができる。
第1図と第2図を用いて説明する。再生信号100.1
01は差動信号としてバッファ200に入力される。第
2図では再生信号101を記していないが、これは再生
信号100の反転信号である。バッファ200の出力は
微分器201に入力され1階微分信号を得る。この後、
適当なレベルまで増幅器202で増幅し、低域フィルタ
203を通過した後、再びバッファ204へ入力され、
結果出力として1階微分信号102゜103を得る。こ
こでバッファ200,204、増幅器202は一般に用
いられている構成で良い。
01は差動信号としてバッファ200に入力される。第
2図では再生信号101を記していないが、これは再生
信号100の反転信号である。バッファ200の出力は
微分器201に入力され1階微分信号を得る。この後、
適当なレベルまで増幅器202で増幅し、低域フィルタ
203を通過した後、再びバッファ204へ入力され、
結果出力として1階微分信号102゜103を得る。こ
こでバッファ200,204、増幅器202は一般に用
いられている構成で良い。
また微分器201、低域フィルタ203は受動素子、能
動素子いずれを用いたものでも支障はない。
動素子いずれを用いたものでも支障はない。
エツジ記録の場合は1階微分信号の正負のピーク位置が
それぞれ再生信号の前エツジ、後エツジ位置に対応する
。第2図のタイムチャートでは微分作操および回路の遅
延による影響は無視して示しである。1階微分信号10
2,103はさらに微分器205で微分された後、上記
と同様に増幅器206、低域フィルタ207、バッファ
208を通り、2階微分信号104,105を得る。2
階微分信号104,105の零クロス点は1丁度1隋微
分信号102,103のピーク位置に対応しており、エ
ツジ位置そのものになっている。比較器208,210
にそれぞれ1階微分信号102゜103を入力ることで
ゲートパルス108゜109を得る。ここでスライスレ
ベル106は、ゲートパルス生成の際の閾値である。こ
のゲートパルス108.109は、2階微分信号104
゜105の零りロス点以外から発生する誤パルスをデー
タとして認識させないためのものである。該ゲートパル
ス108,109はフリップフロップ211のそれぞれ
セット(S)端子、リセット(R)端子に入力され、出
力してパルス110゜111が得られる。一方、2階微
分信号104゜105はスライス設定W!212に入力
される。スライス設定器212の入力としては、これ以
外にスライスレベル107がある。スライスレベルは、
マクロ補正領域である一定値のレベル112が該補正領
域を指示する信号113により選択されている。一般に
は2階微分信号104,105の平均レベルに選ぶ、こ
こでは、ミクロ補正動作以前の回路動作の説明を行なう
。比較器213は差動比較器であり、2階微分信号10
4.105に対し、パルス114,115を出力する。
それぞれ再生信号の前エツジ、後エツジ位置に対応する
。第2図のタイムチャートでは微分作操および回路の遅
延による影響は無視して示しである。1階微分信号10
2,103はさらに微分器205で微分された後、上記
と同様に増幅器206、低域フィルタ207、バッファ
208を通り、2階微分信号104,105を得る。2
階微分信号104,105の零クロス点は1丁度1隋微
分信号102,103のピーク位置に対応しており、エ
ツジ位置そのものになっている。比較器208,210
にそれぞれ1階微分信号102゜103を入力ることで
ゲートパルス108゜109を得る。ここでスライスレ
ベル106は、ゲートパルス生成の際の閾値である。こ
のゲートパルス108.109は、2階微分信号104
゜105の零りロス点以外から発生する誤パルスをデー
タとして認識させないためのものである。該ゲートパル
ス108,109はフリップフロップ211のそれぞれ
セット(S)端子、リセット(R)端子に入力され、出
力してパルス110゜111が得られる。一方、2階微
分信号104゜105はスライス設定W!212に入力
される。スライス設定器212の入力としては、これ以
外にスライスレベル107がある。スライスレベルは、
マクロ補正領域である一定値のレベル112が該補正領
域を指示する信号113により選択されている。一般に
は2階微分信号104,105の平均レベルに選ぶ、こ
こでは、ミクロ補正動作以前の回路動作の説明を行なう
。比較器213は差動比較器であり、2階微分信号10
4.105に対し、パルス114,115を出力する。
さらに先はど1階微分信号102,103から生成され
たパルス110,111とともに、フリップフロップ2
14,215のトリガ(T)端子へ、それぞれパルス1
14とパルス115を入力する。これによりパルス11
4の立ち上がりをトリガとしてパルス110を取り込み
、パルス111の11 HItレベル状態でリセットさ
れることによりパルス116が得られる。パルス117
についても同様である。最後にオア(OR)ゲート21
6により。
たパルス110,111とともに、フリップフロップ2
14,215のトリガ(T)端子へ、それぞれパルス1
14とパルス115を入力する。これによりパルス11
4の立ち上がりをトリガとしてパルス110を取り込み
、パルス111の11 HItレベル状態でリセットさ
れることによりパルス116が得られる。パルス117
についても同様である。最後にオア(OR)ゲート21
6により。
再生パルス118,119が得られる0本実施例では再
生パルス118では立ち上がりが、再生パルス119で
は立ち下がりがエツジ位置に対応する。第5図に、スラ
イス設定器212と比較器213の構成例を示した。ス
ライスレベル107は、微分信号104に対してのバイ
アス電圧として、コンデンサ500で直流分をカットし
た後、抵抗502を介して印加される。また微分信号1
05に対してのバイアス電圧としてコンデンサ501で
直流分をカットした後、抵抗503を介して印加される
1反転槽幅@504は、スライスレベル107の極性を
反転させるためのものであり、図の形式の場合、入力抵
抗505と、帰還抵抗506は同値である。比較器21
3は差動入出力型のものでり、一般にラインレシーバと
して用いられているもので良い。
生パルス118では立ち上がりが、再生パルス119で
は立ち下がりがエツジ位置に対応する。第5図に、スラ
イス設定器212と比較器213の構成例を示した。ス
ライスレベル107は、微分信号104に対してのバイ
アス電圧として、コンデンサ500で直流分をカットし
た後、抵抗502を介して印加される。また微分信号1
05に対してのバイアス電圧としてコンデンサ501で
直流分をカットした後、抵抗503を介して印加される
1反転槽幅@504は、スライスレベル107の極性を
反転させるためのものであり、図の形式の場合、入力抵
抗505と、帰還抵抗506は同値である。比較器21
3は差動入出力型のものでり、一般にラインレシーバと
して用いられているもので良い。
次に再生補正、特にマクロ補正を行なう場合のセクター
フォマットについて説明する。第4図(a)はディスク
上のあるセクターのフォーマット構成例を示した図であ
る。光ディスクでは一般にディスク作成時に予め作りつ
けたプリフォーマット領域400とそれ以外のデータ領
域40..1とに分れられる。プリフォーマット領域4
00はさらにセクターの先頭を指示するためのセクター
マーク410、再生クロック生成のためのVFO(バリ
アプル・フレクエンシー・オシレータ)同期パターン4
11およびトラック番地、セクター番地の記録されたア
ドレス412等に分類される。
フォマットについて説明する。第4図(a)はディスク
上のあるセクターのフォーマット構成例を示した図であ
る。光ディスクでは一般にディスク作成時に予め作りつ
けたプリフォーマット領域400とそれ以外のデータ領
域40..1とに分れられる。プリフォーマット領域4
00はさらにセクターの先頭を指示するためのセクター
マーク410、再生クロック生成のためのVFO(バリ
アプル・フレクエンシー・オシレータ)同期パターン4
11およびトラック番地、セクター番地の記録されたア
ドレス412等に分類される。
ユーザがデータを記録する場合にはデータ領域401に
記録することになるが、このデータ領域401のフォー
マット構成としては、第4図(b)に示す様なものが一
般的である。すなわちVFO同期パターン420、ユー
ザデータの復調開始を指示するための復調同期パターン
421.およびユーザデータ領域422から成っている
0以上で述べたパターンの内容については既知であるだ
めここでは詳細説明は省<、VFO同期パターン411
.420は一般にある一定のデユーティ比を持つ繰り返
しパターンが用いられる0例えば2−7変調の場合、デ
ータビット長をT (see)とした場合、最密パター
ンである1、5Tの繰り返しパターンが用いられること
が多いが、これはPLLの引込み特性を向上させるため
で、あり、記録条件としてはピット間隔が最も接近した
パターンであるため必らずしも最適なパターンではない
。
記録することになるが、このデータ領域401のフォー
マット構成としては、第4図(b)に示す様なものが一
般的である。すなわちVFO同期パターン420、ユー
ザデータの復調開始を指示するための復調同期パターン
421.およびユーザデータ領域422から成っている
0以上で述べたパターンの内容については既知であるだ
めここでは詳細説明は省<、VFO同期パターン411
.420は一般にある一定のデユーティ比を持つ繰り返
しパターンが用いられる0例えば2−7変調の場合、デ
ータビット長をT (see)とした場合、最密パター
ンである1、5Tの繰り返しパターンが用いられること
が多いが、これはPLLの引込み特性を向上させるため
で、あり、記録条件としてはピット間隔が最も接近した
パターンであるため必らずしも最適なパターンではない
。
PLL特性に問題がなければむしろ記録の面からは2.
OTの繰り返し、ないしはそれ以上のパターン長の繰り
返しが望ましいと考えられる。マクロ補正は、標準のス
ライスレベル、例えば前述のスライスレベル112によ
り2値化された再生パルス118,119のデユーティ
比を検出し、デイレイ補正により、再生パルス幅を目標
のデユーティ比に近づけるようにさせるものである6例
えば、VFO同期パターン等は、デユーティ比が50%
で記録されるべきパターンであるから、この部分の再生
パルスのデユーティ比が50%近傍になるように補正す
れば、マクロ補正の目的が達せられる。また−度マクロ
補正量が決定されれば、同一セクター内の他のデータパ
ターンに対しても同一量だけ補正すれば良い、これは同
一セクター内では記録条件はほぼ一定と考えられるから
である0例えば、あるセクターに本来デユーティ比が5
0%になるべきデータパターンを記録したところ第3図
(、)のようにピット長が短くなってしまったとすれば
、少なくとも同一セクター内のデータパターンに対する
ピット長も同じ量だけ短くなっている事実に基づく補正
方法である。もちろん、ユーザデータ領域422の中に
も再同期化パターンのようなユーザデータに依存しない
特定パターンあるいはデユーティ比が一定となるような
パターンを入れれば、この領域でもマクロ補正を行なわ
せることもできる。第4図(c)は、VF○同期パター
ン420の前にマクロ補正のためのパターン領域430
を設けたフォーマット例である。この場合、オーバヘッ
ドは若干増加するが、VFO同期パターン420には最
密パターンの繰り返しを用いて引込み特性を向上させ、
マクロ補正領域430には、若干周期の長い繰り返しパ
ターンを用いて記録の安定化を図ることも可能である。
OTの繰り返し、ないしはそれ以上のパターン長の繰り
返しが望ましいと考えられる。マクロ補正は、標準のス
ライスレベル、例えば前述のスライスレベル112によ
り2値化された再生パルス118,119のデユーティ
比を検出し、デイレイ補正により、再生パルス幅を目標
のデユーティ比に近づけるようにさせるものである6例
えば、VFO同期パターン等は、デユーティ比が50%
で記録されるべきパターンであるから、この部分の再生
パルスのデユーティ比が50%近傍になるように補正す
れば、マクロ補正の目的が達せられる。また−度マクロ
補正量が決定されれば、同一セクター内の他のデータパ
ターンに対しても同一量だけ補正すれば良い、これは同
一セクター内では記録条件はほぼ一定と考えられるから
である0例えば、あるセクターに本来デユーティ比が5
0%になるべきデータパターンを記録したところ第3図
(、)のようにピット長が短くなってしまったとすれば
、少なくとも同一セクター内のデータパターンに対する
ピット長も同じ量だけ短くなっている事実に基づく補正
方法である。もちろん、ユーザデータ領域422の中に
も再同期化パターンのようなユーザデータに依存しない
特定パターンあるいはデユーティ比が一定となるような
パターンを入れれば、この領域でもマクロ補正を行なわ
せることもできる。第4図(c)は、VF○同期パター
ン420の前にマクロ補正のためのパターン領域430
を設けたフォーマット例である。この場合、オーバヘッ
ドは若干増加するが、VFO同期パターン420には最
密パターンの繰り返しを用いて引込み特性を向上させ、
マクロ補正領域430には、若干周期の長い繰り返しパ
ターンを用いて記録の安定化を図ることも可能である。
では、以下マクロ補正について第6図、第7図を用いて
説明する。第6図はマクロ再生補正回路217の構成例
、第7図は該回路の動作を示すタイムチャートである。
説明する。第6図はマクロ再生補正回路217の構成例
、第7図は該回路の動作を示すタイムチャートである。
補正領域ゲート600はマクロ補正領域を指示する信号
であり、第4図で示したフォーマットではセクターマー
ク410から生成することができる。該補正領域ゲート
600は、完全にデータ信号と同期化させるのは一般に
困難なので、カウンタ700のイネーブル(E)に補正
領域ゲート60oを入力し、該ゲート信号600が“H
″の区間だけデータパルス601の立ち上がりをカウン
ト用クロックとして用いることで同期化を図ることがで
きる。データパルス601およびその反転信号602は
前述した再生パルス118,119から生成することが
できる。
であり、第4図で示したフォーマットではセクターマー
ク410から生成することができる。該補正領域ゲート
600は、完全にデータ信号と同期化させるのは一般に
困難なので、カウンタ700のイネーブル(E)に補正
領域ゲート60oを入力し、該ゲート信号600が“H
″の区間だけデータパルス601の立ち上がりをカウン
ト用クロックとして用いることで同期化を図ることがで
きる。データパルス601およびその反転信号602は
前述した再生パルス118,119から生成することが
できる。
第7図では2階微分信号104から前エツジパルス55
0.後エツジパルス551を生成し、フリップフロップ
等を用いてデータパルス601゜602を生成している
が、第2図で示した再生パルス118又は119によっ
て生成しても同様である。カウンタ700の出力Q。6
03゜Q、604、Qa605はそれぞれ2° 21,
2!のビット出力に対応している。まずQ。603が“
H”レベルになると、フリッププロップ701の出力Q
606が“H”になる。その後、第6図の例では、カウ
ンタ700の出力が11511、すなわちQ、603が
“H”、Qよ604が“L IIQ2605がII H
IIになった瞬間にフリップフロップ701がリセット
され、出力Q606が“L”になる。またデータパルス
602はフリップフロップ702のトリガ(T)端子に
入力されており、出力Q606が′H″になった後、最
初のデータパルス602の立ち上がりでフリップフ口ッ
プ702がセットされ、出力Q6o7がH′′になる。
0.後エツジパルス551を生成し、フリップフロップ
等を用いてデータパルス601゜602を生成している
が、第2図で示した再生パルス118又は119によっ
て生成しても同様である。カウンタ700の出力Q。6
03゜Q、604、Qa605はそれぞれ2° 21,
2!のビット出力に対応している。まずQ。603が“
H”レベルになると、フリッププロップ701の出力Q
606が“H”になる。その後、第6図の例では、カウ
ンタ700の出力が11511、すなわちQ、603が
“H”、Qよ604が“L IIQ2605がII H
IIになった瞬間にフリップフロップ701がリセット
され、出力Q606が“L”になる。またデータパルス
602はフリップフロップ702のトリガ(T)端子に
入力されており、出力Q606が′H″になった後、最
初のデータパルス602の立ち上がりでフリップフ口ッ
プ702がセットされ、出力Q6o7がH′′になる。
それ後、出力606がL”になった時点で、出力607
は“L”に戻る。また、ANDゲート703.704は
それぞれ、カウンタ705のカウントアツプ、カウント
ダウン状態を選択する信号608,609を生成する。
は“L”に戻る。また、ANDゲート703.704は
それぞれ、カウンタ705のカウントアツプ、カウント
ダウン状態を選択する信号608,609を生成する。
すなわち、再生信号100が未記録レベル側にあるとき
(図中では高レベル)、カウンタ705はカウントアツ
プ状態になり、逆に再生信号100がビットレベル側に
あるとき(図中では低レベル)カウンタ705はカウン
トダウン状態になる。データパルス601 (602)
のデユーティ比を計測するための計数クロック610は
、カウンタ705のクロック(CK)端子に入力される
。但し、カウントアツプ、カウントダウンのいずれの状
態も選択されないとき、クロック610は入力されない
ようにしである。該クロック610によって、第6図の
例ではデータパルス601 (602)の4周期分だけ
計数する。カウンタ705の出力値の様子をカウンタ出
力値611として示した。該出力値611の値は最終的
には16進数で“10’″となった場合を示しである。
(図中では高レベル)、カウンタ705はカウントアツ
プ状態になり、逆に再生信号100がビットレベル側に
あるとき(図中では低レベル)カウンタ705はカウン
トダウン状態になる。データパルス601 (602)
のデユーティ比を計測するための計数クロック610は
、カウンタ705のクロック(CK)端子に入力される
。但し、カウントアツプ、カウントダウンのいずれの状
態も選択されないとき、クロック610は入力されない
ようにしである。該クロック610によって、第6図の
例ではデータパルス601 (602)の4周期分だけ
計数する。カウンタ705の出力値の様子をカウンタ出
力値611として示した。該出力値611の値は最終的
には16進数で“10’″となった場合を示しである。
第7図では、上位桁は省略しである。マクロ補正処理で
は該出力値611をデータパルス601 (602)の
周期の2倍の8で割った値、すなわち計数クロック61
0の2周期分だけ、データパルス601 (602)の
幅を増減すれば、はぼデユーティ比50%の補正パルス
を得ることができる。第7図ではデータパルス601の
11 HIIレベル区間が11 L″ルベル区間り長い
場合であり、このときは、データパルス601を遅延素
子706で遅延させたパルスの中からカウンタ705の
出力Q2〜QN−1(それぞれ22〜2N−1に対応)
によりセレクタ707で計数クロック610の2周期分
に相当する時間だけ遅れたものを選択し、この遅延パル
ス612と元のデータパルス601とをANDゲート7
08で論理積(AND)をとったものを得て、これをマ
クロ補正データ613.614として出力する。仮りに
、データパルス601のILH”レベル区間が11 L
”レベル区間よりも短い場合は、逆にデータパルス60
1と遅延パルス612との論理和(OR)をオアゲート
709でとってやれば、同様にマクロ補正データを得る
ことができる。なお、後者の場合はカウンタ705の出
力値611が最終的に負になるため、出力値611の最
上位ビットQNを符号ビットとして用い、セレクタ71
0で。
は該出力値611をデータパルス601 (602)の
周期の2倍の8で割った値、すなわち計数クロック61
0の2周期分だけ、データパルス601 (602)の
幅を増減すれば、はぼデユーティ比50%の補正パルス
を得ることができる。第7図ではデータパルス601の
11 HIIレベル区間が11 L″ルベル区間り長い
場合であり、このときは、データパルス601を遅延素
子706で遅延させたパルスの中からカウンタ705の
出力Q2〜QN−1(それぞれ22〜2N−1に対応)
によりセレクタ707で計数クロック610の2周期分
に相当する時間だけ遅れたものを選択し、この遅延パル
ス612と元のデータパルス601とをANDゲート7
08で論理積(AND)をとったものを得て、これをマ
クロ補正データ613.614として出力する。仮りに
、データパルス601のILH”レベル区間が11 L
”レベル区間よりも短い場合は、逆にデータパルス60
1と遅延パルス612との論理和(OR)をオアゲート
709でとってやれば、同様にマクロ補正データを得る
ことができる。なお、後者の場合はカウンタ705の出
力値611が最終的に負になるため、出力値611の最
上位ビットQNを符号ビットとして用い、セレクタ71
0で。
ANDゲート708の出力か、○Rゲート7o9の出力
のいずれかを選択することができる。以上述べたように
、予めデユーティ比の分っている部分の信号を用い、そ
こから得られたデータパルスのデユーティ比を、概ね所
定値に近づけることができる9第7図では、デユーティ
比が50%近傍になるように補正する場合を示したが、
他のデユーティ比に対しても、カウンタ出力値611に
予め一定値を加算あるいは減算するようにしておけば、
同様の回路構成によりマクロ補正が可能である。
のいずれかを選択することができる。以上述べたように
、予めデユーティ比の分っている部分の信号を用い、そ
こから得られたデータパルスのデユーティ比を、概ね所
定値に近づけることができる9第7図では、デユーティ
比が50%近傍になるように補正する場合を示したが、
他のデユーティ比に対しても、カウンタ出力値611に
予め一定値を加算あるいは減算するようにしておけば、
同様の回路構成によりマクロ補正が可能である。
次にマロク補正後の補正パルス613.614に対し、
さらに詳細なデユーティ比補正を行なうミクロ補正につ
いて説明する。第8図、第10図、第11図は、ミクロ
補正回路218の実施例で。
さらに詳細なデユーティ比補正を行なうミクロ補正につ
いて説明する。第8図、第10図、第11図は、ミクロ
補正回路218の実施例で。
対応するタイムチャートをそれぞれ第9図、第12図、
第13図、に示した。第8図の例は、補正パルス613
,614のデユーティ比を積分器800,801で該パ
ルスのII HIIレベル区間をそれぞれ積分し、その
差を誤差信号として、スライスレベル107を制御する
ことにより補正パルス613,614のデユーティ比を
より詳細に50%へ近づける方式の一構成例である。第
9図において、補正パルス613,614の生成に関す
るマクロ補正は第6図、第7図で説明したのと同様であ
る。ミクロ補正ゲート900は、マクロ補正終了後に出
力されるものであり、マクロ補正ゲート600と同様に
生成できる。コントロール信号901は、該ゲート90
0が11 HITになってから直後の補正パルス613
の立ち上がりが11 HIIになり、所定数だけ補正パ
ルス613又は614の周期を数えた後、′L″に戻す
。該コントロール信号901がIt H13の区間だけ
、スイッチ803.804を信号側に切換えることでそ
れぞれ補正パルス613.614の“H”の区間の値を
積分する。積分器801 (802)の積分出力902
(903)は差動アンプ805に入力され、差信号9
04が出力される。コントロール信号901がH″の区
間、サンプルホールドはサンプル動作となり、差信号9
04が取り込まれ、コントロール信号901が“L”の
区間、その値がホールドされる。なお、コントロール信
号901が(i L 11の区間ないしは、データ記録
領域開始以外に801,802の静電容量に蓄えられた
電荷を放電させている。これにより直前のセクターでの
補正量が影響しないようにしている。ミクロ補正の別の
実施例として第10図の回路構成について、第12図の
タイムチャートとともに説明する。
第13図、に示した。第8図の例は、補正パルス613
,614のデユーティ比を積分器800,801で該パ
ルスのII HIIレベル区間をそれぞれ積分し、その
差を誤差信号として、スライスレベル107を制御する
ことにより補正パルス613,614のデユーティ比を
より詳細に50%へ近づける方式の一構成例である。第
9図において、補正パルス613,614の生成に関す
るマクロ補正は第6図、第7図で説明したのと同様であ
る。ミクロ補正ゲート900は、マクロ補正終了後に出
力されるものであり、マクロ補正ゲート600と同様に
生成できる。コントロール信号901は、該ゲート90
0が11 HITになってから直後の補正パルス613
の立ち上がりが11 HIIになり、所定数だけ補正パ
ルス613又は614の周期を数えた後、′L″に戻す
。該コントロール信号901がIt H13の区間だけ
、スイッチ803.804を信号側に切換えることでそ
れぞれ補正パルス613.614の“H”の区間の値を
積分する。積分器801 (802)の積分出力902
(903)は差動アンプ805に入力され、差信号9
04が出力される。コントロール信号901がH″の区
間、サンプルホールドはサンプル動作となり、差信号9
04が取り込まれ、コントロール信号901が“L”の
区間、その値がホールドされる。なお、コントロール信
号901が(i L 11の区間ないしは、データ記録
領域開始以外に801,802の静電容量に蓄えられた
電荷を放電させている。これにより直前のセクターでの
補正量が影響しないようにしている。ミクロ補正の別の
実施例として第10図の回路構成について、第12図の
タイムチャートとともに説明する。
補正データ613は前エツジ検出器750に入力され立
ち上がりエツジパルス650が生成される。
ち上がりエツジパルス650が生成される。
該エツジパルス650の生成方法としては補正データ6
13をわずかに遅延させたパルスの反転パルスと元のパ
ルス613との論理積(AND)をとれば良い。該パル
ス650は位相比較器751に入力され、再生クロック
652との位相誤差が検出され、この誤差信号651は
低域通過フィルタ752を介してVCO(ボルテージ・
コントロール・オシレータ)753への制御信号として
入力される。VCO753は、入力電圧の値で発振周波
数が可変できる素子である。一般に位相比較器751か
らVCO753により構成される回路はPLL (フェ
ーズロックループ)回路754と呼ばれている。PLL
回路754により補正パルス613の前エツジに同期し
た再生クロック652を得ることができる。第10図の
回路では、ミクロ補正処理を行なうに当り、スライスレ
ベル107制御のための誤差信号を以下の様にして生成
する。マクロ補正後のパルス613をフリップフロップ
754のデイレイ(D)端子に入力し、再生クロック6
52の反転パルスの立ち上がり。
13をわずかに遅延させたパルスの反転パルスと元のパ
ルス613との論理積(AND)をとれば良い。該パル
ス650は位相比較器751に入力され、再生クロック
652との位相誤差が検出され、この誤差信号651は
低域通過フィルタ752を介してVCO(ボルテージ・
コントロール・オシレータ)753への制御信号として
入力される。VCO753は、入力電圧の値で発振周波
数が可変できる素子である。一般に位相比較器751か
らVCO753により構成される回路はPLL (フェ
ーズロックループ)回路754と呼ばれている。PLL
回路754により補正パルス613の前エツジに同期し
た再生クロック652を得ることができる。第10図の
回路では、ミクロ補正処理を行なうに当り、スライスレ
ベル107制御のための誤差信号を以下の様にして生成
する。マクロ補正後のパルス613をフリップフロップ
754のデイレイ(D)端子に入力し、再生クロック6
52の反転パルスの立ち上がり。
すなわち再生クロック652の立ち下がりエツジで再同
期化し、同期化パルス653を得る。
期化し、同期化パルス653を得る。
第1O図の回路例では、補正パルス613の立ち上がり
エツジと再生クロック652の立ち上がりエツジの位相
を合せる形式のPLL回路の場合が示されており、この
ときは該再生クロック652の立ち下がりで再同期化す
る。こうすることにより、同期化パルス653のパルス
幅は再生クロック652の周期の整数倍となる。本来、
再生信号100の立ち上がりエツジと立ち下がりエツジ
の間隔は再生クロック周期の整数倍になっていなければ
ならないため、該同期化パルス653と補正パルス61
3との幅の差がマクロ補正における補正残り分に相当す
る。したがって、同期化パルス653と補正パルス61
3との差信号654を差動増幅器755により得た後、
低域通過フィルタ756で波形を平滑化すれば、誤差信
号655が得られる。該誤差信号655を用いてスライ
スレベル107を制御すればミクロ補正が実施できる。
エツジと再生クロック652の立ち上がりエツジの位相
を合せる形式のPLL回路の場合が示されており、この
ときは該再生クロック652の立ち下がりで再同期化す
る。こうすることにより、同期化パルス653のパルス
幅は再生クロック652の周期の整数倍となる。本来、
再生信号100の立ち上がりエツジと立ち下がりエツジ
の間隔は再生クロック周期の整数倍になっていなければ
ならないため、該同期化パルス653と補正パルス61
3との幅の差がマクロ補正における補正残り分に相当す
る。したがって、同期化パルス653と補正パルス61
3との差信号654を差動増幅器755により得た後、
低域通過フィルタ756で波形を平滑化すれば、誤差信
号655が得られる。該誤差信号655を用いてスライ
スレベル107を制御すればミクロ補正が実施できる。
次に第11図の回路例によるミクロ補正処理を第13図
のタイムチャートとともに説明する。マクロ補正処理後
の補正パルス613の前エツジパルス650の立ち上が
りの同期した再生クロック660.661をPLL回路
754により生成する6一方、後エツジ検出器760に
より補正パルス613の後エツジパルス662を生成す
る。ここで後エツジパルス662の立ち上がりエツジで
再生クロック660のレベルをフリップフロップ761
によりラッチすることで遅相パルス663が得られる。
のタイムチャートとともに説明する。マクロ補正処理後
の補正パルス613の前エツジパルス650の立ち上が
りの同期した再生クロック660.661をPLL回路
754により生成する6一方、後エツジ検出器760に
より補正パルス613の後エツジパルス662を生成す
る。ここで後エツジパルス662の立ち上がりエツジで
再生クロック660のレベルをフリップフロップ761
によりラッチすることで遅相パルス663が得られる。
該遅相パルス663のパルス幅は後エツジパルス662
の立ち上がりと再生クロックの立ち上がりとの位相差を
表わしている。同様に後エツジパルス662の立ち上が
りで再生クロック661をラッチすることで進相パルス
664が生成できる。進相、遅相パルスの差信号を差動
増幅器763で生成し、これを低域通過フィルタ764
で平滑化することで誤差信号655が得られる。
の立ち上がりと再生クロックの立ち上がりとの位相差を
表わしている。同様に後エツジパルス662の立ち上が
りで再生クロック661をラッチすることで進相パルス
664が生成できる。進相、遅相パルスの差信号を差動
増幅器763で生成し、これを低域通過フィルタ764
で平滑化することで誤差信号655が得られる。
誤差信号655によるスライスレベル107の制御方法
について付記しておく。2階微分信号104の立ち上が
りおよび立ち下がりの傾きをθとするとスライスレベル
がVeだけずれたことに対応する2値化パルス601,
602のパルス幅変化Teは、次式で与えられる。
について付記しておく。2階微分信号104の立ち上が
りおよび立ち下がりの傾きをθとするとスライスレベル
がVeだけずれたことに対応する2値化パルス601,
602のパルス幅変化Teは、次式で与えられる。
te=Ve/lanθ
ここでは、2階微分信号104の零クロス点近傍の傾き
は直線近似できるものとする。したがって差動増幅器7
55,763の利得を傾きθに応じて適当に設定してや
ればミクロ補正が実行される。
は直線近似できるものとする。したがって差動増幅器7
55,763の利得を傾きθに応じて適当に設定してや
ればミクロ補正が実行される。
第14図で示した方式は、遅相パルス663、および進
相パルス664の生成までは第11図、第13図の方式
と同様である。第14図の方法では、該差信号655に
より第1のスライスレベル107ではなく、第2のスラ
イスレベル850を制御する。第2のスライスレベル8
50は2階微分信号104から得られ2値化パルス60
1の後エツジ位置のみを前後に制御するために使用され
る。具体的には、補正パルス613の生成即ちマクロ補
正は第1のスライスレベル107で行ない。
相パルス664の生成までは第11図、第13図の方式
と同様である。第14図の方法では、該差信号655に
より第1のスライスレベル107ではなく、第2のスラ
イスレベル850を制御する。第2のスライスレベル8
50は2階微分信号104から得られ2値化パルス60
1の後エツジ位置のみを前後に制御するために使用され
る。具体的には、補正パルス613の生成即ちマクロ補
正は第1のスライスレベル107で行ない。
該補正パルス613の後エツジ位置をマクロ補正領域通
過後にミクロ補正処理として前後させる。
過後にミクロ補正処理として前後させる。
第15図は第2のスライスレベル850により補正パル
ス613から後エツジ位置のみ補正されたパルス613
′を得るための回路例である。比較器870により第2
のスライスレベル850で2階微分信号104を2値化
する。この後該2値化パルスの後エツジパルス851を
インバータ872、遅延素子671、ANDゲート87
3で構成される回路で生成する。一方、フリップフロッ
プ874により補正パルス613の立ち上がりで出力Q
は“H″になり、その後、後エツジパルス851により
リセットすることで“L”に戻せば、後エツジ位置のみ
補正することができる。マクロ補正終了後は、補正パル
ス613′を用いてミクロ補正を行なっていけばよい。
ス613から後エツジ位置のみ補正されたパルス613
′を得るための回路例である。比較器870により第2
のスライスレベル850で2階微分信号104を2値化
する。この後該2値化パルスの後エツジパルス851を
インバータ872、遅延素子671、ANDゲート87
3で構成される回路で生成する。一方、フリップフロッ
プ874により補正パルス613の立ち上がりで出力Q
は“H″になり、その後、後エツジパルス851により
リセットすることで“L”に戻せば、後エツジ位置のみ
補正することができる。マクロ補正終了後は、補正パル
ス613′を用いてミクロ補正を行なっていけばよい。
再生補正の実施例として、ここではエツジ記録方式を例
に挙げ、2階微分検出方式における閾値制御を説明した
が、再生信号100の正、負の包絡線を検出し、その平
均値を閾値とする検出方式に対しても同様に実現するこ
とができる。
に挙げ、2階微分検出方式における閾値制御を説明した
が、再生信号100の正、負の包絡線を検出し、その平
均値を閾値とする検出方式に対しても同様に実現するこ
とができる。
本発明によれば、記録条投の変動や媒体の記録特性の変
動等によって生じる記録ピットあるいは記録ドメイン長
の変動を、再生時において、抑圧することができる。ま
た、スライスレベルの増減のみでは補正が困難な大きな
記録時の変動に対しても効果的に抑圧できるため、安定
なデータ復調が実現できる。
動等によって生じる記録ピットあるいは記録ドメイン長
の変動を、再生時において、抑圧することができる。ま
た、スライスレベルの増減のみでは補正が困難な大きな
記録時の変動に対しても効果的に抑圧できるため、安定
なデータ復調が実現できる。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は2階
微分検出方式のタイムチャート、第3図は記録時のピッ
ト長変動を説明する図、第4図はフォーマット構成例を
示す図、第5図はスライス設定回路の一例を示す図、第
6図はマクロ補正回路の一例を示す図、第7図は第6図
のタイムチャート、第8図、第10図、第11図はミク
ロ補正回路の一例を示す図、第9図、第12図、第13
図はそれぞれ第8図、第10図、第11図の回路の動作
を示すタイムチャート、第14図はミクロ補正の別の実
施例を示すタイムチャート、第15図は回路構成例を示
す図である。 符号の説明 100.101・・・再生信号、217・・・マクロ補
正器、218・・・ミクロ補正器、430・・・マクロ
補正領域。 メレ支へつα− 77デ 第 ? 目 第 7国 デθl 第8日 第ブ2 第7υ図 %7/図 第72目 第 73 目
微分検出方式のタイムチャート、第3図は記録時のピッ
ト長変動を説明する図、第4図はフォーマット構成例を
示す図、第5図はスライス設定回路の一例を示す図、第
6図はマクロ補正回路の一例を示す図、第7図は第6図
のタイムチャート、第8図、第10図、第11図はミク
ロ補正回路の一例を示す図、第9図、第12図、第13
図はそれぞれ第8図、第10図、第11図の回路の動作
を示すタイムチャート、第14図はミクロ補正の別の実
施例を示すタイムチャート、第15図は回路構成例を示
す図である。 符号の説明 100.101・・・再生信号、217・・・マクロ補
正器、218・・・ミクロ補正器、430・・・マクロ
補正領域。 メレ支へつα− 77デ 第 ? 目 第 7国 デθl 第8日 第ブ2 第7υ図 %7/図 第72目 第 73 目
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、媒体上に未記録部とは物理的に異なる状態の記録領
域を形成することにより情報の記録を行ない、該記録領
域を再生する装置において、情報の記録時に特定パター
ン部を形成しておき、再生時に該特定パターン部から得
られる再生信号を標準の閾値で2値化された再生パルス
のデューティを補正し、さらに該補正誤差を閾値の増減
により補正を加えることで記録条件の変動によって生じ
る該記録領域の長さ、あるいは間隔の変動を吸収するこ
とを特徴とする再生信号補正方法。 2、上記特定パターンとして再生クロック同期化のため
のパターンを兼用し、該パターンの再生信号を標準の閾
値で2値化することで得られた再生パルスのデューティ
を計数のためのクロックにより検出し、再生パルス幅を
補正することを特徴とする請求項1記載の再生信号補正
方法。 3、閾値の増減を制御する誤差信号を、再生パルスのデ
ューティを該再生パルスの1のレベルと、該再生パルス
の反転パルスの1のレベルをそれぞれ或る区間積分した
値の差から生成することを特徴とする請求項1記載の再
生信号補正方法。 4、閾値の増減を制御する誤差信号を、再生パルスの前
エッジに同期化した再生クロックの位相と、該再生パル
スの後エッジの位相との位相差から生成することを特徴
とする請求項1記載の再生信号補正方法。 5、標準の閾値とは別に再生パルスの後エッジ位置のみ
を制御するための第2の閾値を設け、該第2の閾値の増
減を制御する誤差信号を生成することを特徴とする請求
項1乃至4のいずれかに記載の再生信号補正方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23240088A JP2675096B2 (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | 再生信号補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23240088A JP2675096B2 (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | 再生信号補正方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0281324A true JPH0281324A (ja) | 1990-03-22 |
JP2675096B2 JP2675096B2 (ja) | 1997-11-12 |
Family
ID=16938650
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23240088A Expired - Lifetime JP2675096B2 (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | 再生信号補正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2675096B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5448544A (en) * | 1992-03-19 | 1995-09-05 | Hitachi, Ltd. | Data recording/playback apparatus and signal processing method |
US6215751B1 (en) | 1997-09-05 | 2001-04-10 | Hitachi, Ltd. | Data demodulating method and optical disk device using the method |
-
1988
- 1988-09-19 JP JP23240088A patent/JP2675096B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5448544A (en) * | 1992-03-19 | 1995-09-05 | Hitachi, Ltd. | Data recording/playback apparatus and signal processing method |
US6215751B1 (en) | 1997-09-05 | 2001-04-10 | Hitachi, Ltd. | Data demodulating method and optical disk device using the method |
US6320834B1 (en) | 1997-09-05 | 2001-11-20 | Hitachi, Ltd. | Data demodulating method and optical disk device using the method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2675096B2 (ja) | 1997-11-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5233589A (en) | Method for recording/reproducing information having a function of correcting variations in the interval in reproduced data and apparatus for realizing same | |
EP0763825B1 (en) | Data detection apparatus | |
JPH0223945B2 (ja) | ||
JPH0828061B2 (ja) | パルス幅変調デ−タのクロッキング方法 | |
KR900001593B1 (ko) | 디지탈신호 재생회로 | |
US6483793B1 (en) | Restoration of data and asymmetry compensation in an optical disk reproducing system | |
JP2002056534A (ja) | パルス列の時間軸誤差パラメータ測定回路および光ディスク記録装置 | |
US6580775B1 (en) | Method of detecting frequency of digital phase locked loop | |
JP3485088B2 (ja) | 信号処理回路及び信号処理方法 | |
JPH0281324A (ja) | 再生信号補正方法 | |
US4580100A (en) | Phase locked loop clock recovery circuit for data reproducing apparatus | |
JP3458494B2 (ja) | クロック信号再生回路およびデータ再生回路 | |
JPS59167813A (ja) | 位相同期回路 | |
JPH0490168A (ja) | 光磁気ディスク装置のデータ再生回路 | |
JP3434421B2 (ja) | 離散的な記録長で変調記録されたデジタル情報を再生する装置 | |
JPH087468A (ja) | 光ディスク再生装置 | |
JPH118656A (ja) | スライスレベル評価方法、2値化方法、それを用いた回路及びそれを用いた装置 | |
JP2800772B2 (ja) | クロック抽出回路 | |
JP2529325B2 (ja) | スライス回路 | |
JP2004253056A (ja) | デコード装置 | |
JPH0612790A (ja) | データ検出装置 | |
JP3528272B2 (ja) | デジタル信号再生装置 | |
JP2942696B2 (ja) | 光ディスクからのデータ再生システム | |
JP3684589B2 (ja) | ディジタル信号再生装置 | |
JPH07169059A (ja) | 光ディスク再生装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070718 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080718 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080718 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090718 Year of fee payment: 12 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090718 Year of fee payment: 12 |