JPH0232414A - 過電流制限回路 - Google Patents
過電流制限回路Info
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- JPH0232414A JPH0232414A JP63181590A JP18159088A JPH0232414A JP H0232414 A JPH0232414 A JP H0232414A JP 63181590 A JP63181590 A JP 63181590A JP 18159088 A JP18159088 A JP 18159088A JP H0232414 A JPH0232414 A JP H0232414A
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- Japan
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- Pending
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 30
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims description 8
- 230000006378 damage Effects 0.000 abstract description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Power Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体集積回路の電源供給に係わり、特にその
過電流を制限する過電流制限回路に関する。
過電流を制限する過電流制限回路に関する。
一般に、情報処理システムのディジタル回路は複数個の
半導体集積回路で構成され、これら複数個の半導体集積
回路には電源ユニットから電源が供給される。この電源
ユニットは複数個の電源モジュールから成り、各々の電
源モジュールはそれぞれ自己の分担する複数個の半導体
集積回路に対して電源を供給する。
半導体集積回路で構成され、これら複数個の半導体集積
回路には電源ユニットから電源が供給される。この電源
ユニットは複数個の電源モジュールから成り、各々の電
源モジュールはそれぞれ自己の分担する複数個の半導体
集積回路に対して電源を供給する。
このような情報処理システムの過電流検出は、電源ユニ
ットに設けられた過電流検出機構で各々の電源モジニー
ルの過電流を検出することによって行われている。
ットに設けられた過電流検出機構で各々の電源モジニー
ルの過電流を検出することによって行われている。
ところが、上述の過電流検出機構による過電流検出は主
として各々の電源モジュールの過電流検出であるので、
個々の半導体集積回路の過電流が検出できない。従って
、半導体集積回路１個に対する過電流が発生しても電源
モジュールから見れば微増であるから、そのような過電
流を検出できないことがある。
として各々の電源モジュールの過電流検出であるので、
個々の半導体集積回路の過電流が検出できない。従って
、半導体集積回路１個に対する過電流が発生しても電源
モジュールから見れば微増であるから、そのような過電
流を検出できないことがある。
また、過電流検出機構が故障し、過電流検出が不能とな
った場合には、大規模の電流が半導体集積回路内部に流
入し、半導体集積回路を破壊してしまうおそれがある。
った場合には、大規模の電流が半導体集積回路内部に流
入し、半導体集積回路を破壊してしまうおそれがある。
従って、本発明の目的は個々の半導体集積回路の過電流
を検出し、過電流による半導体集積回路の破壊を防止す
ることのできる過電流制限回路を得ることにある。
を検出し、過電流による半導体集積回路の破壊を防止す
ることのできる過電流制限回路を得ることにある。
本発明の過電流制限回路は、各々の半導体集積回路に実
装され、半導体集積回路に流入する流入電流値を検出す
る電流検出手段と、この電流検出手段で検出した流入電
流値と予め定めた過電流制限値とを比較する比較手段と
、この比較手段の比較により流入電流値が予め定めた過
電流制限値以上であると判定されたときは流入電流を過
電流制限値に制限する電流制限手段とからなることを特
徴とする。
装され、半導体集積回路に流入する流入電流値を検出す
る電流検出手段と、この電流検出手段で検出した流入電
流値と予め定めた過電流制限値とを比較する比較手段と
、この比較手段の比較により流入電流値が予め定めた過
電流制限値以上であると判定されたときは流入電流を過
電流制限値に制限する電流制限手段とからなることを特
徴とする。
個々の半導体集積回路で過電流を検出し、半導体集債回
路に流入する流入電流を過電流制限値に制限するので、
半導体集積回路の焼損等の破壊を防止し情報処理システ
ムの安全性を向上できる。
路に流入する流入電流を過電流制限値に制限するので、
半導体集積回路の焼損等の破壊を防止し情報処理システ
ムの安全性を向上できる。
第１図は本発明の過電流制限回路のブロック構成図であ
る。電源モジュールからの電流は電源供給線１１Ａを通
って電流制限手段１２に供給される。電流制限手段１２
は比較手段１３からの制限指令Ｓがない限りは電源供給
線１１Ａから供給される電流に制限を加えることなく電
源供給線１１Ｂを介して電流検出手段１４に供給する。
る。電源モジュールからの電流は電源供給線１１Ａを通
って電流制限手段１２に供給される。電流制限手段１２
は比較手段１３からの制限指令Ｓがない限りは電源供給
線１１Ａから供給される電流に制限を加えることなく電
源供給線１１Ｂを介して電流検出手段１４に供給する。
電流検出手段１４は電源供給線１１Ｂから供給される電
流を電源供給線１１Ｃに通過させるとともに、通過する
電流の値Ｉを検出する。ここで検出された電流値Ｉは比
較手段１３に入力され、予め定めた過電流制限値Ｉ。と
比較される。
流を電源供給線１１Ｃに通過させるとともに、通過する
電流の値Ｉを検出する。ここで検出された電流値Ｉは比
較手段１３に入力され、予め定めた過電流制限値Ｉ。と
比較される。
比較手段１３では検出された電流値■が予め定めた過電
流制限値Ｉ。以上であるときは電流制限手段１２に対し
、制限指令Ｓを出力する。一方、電流値Ｉが過電流制限
値１０未満であるときは制限指令Ｓは出力されない。
流制限値Ｉ。以上であるときは電流制限手段１２に対し
、制限指令Ｓを出力する。一方、電流値Ｉが過電流制限
値１０未満であるときは制限指令Ｓは出力されない。
制限指令Ｓが電流制限手段１２に人力されると、電流制
限手段１２は電源供給線１１Ａから供給される電流に制
限を加え、電源供給線１１Ｂに供給される電流を過電流
制限値Ｉ。に制限する。
限手段１２は電源供給線１１Ａから供給される電流に制
限を加え、電源供給線１１Ｂに供給される電流を過電流
制限値Ｉ。に制限する。
これによって、電源供給線１１Ｃに流れる電流は過電流
制限値Ｉ。に制限されることになり、半導体集積回路に
流入する流入電流が過大になることを防止できる。
制限値Ｉ。に制限されることになり、半導体集積回路に
流入する流入電流が過大になることを防止できる。
次ｉこ、第２図は本発明の過電流制限回路を半導体集積
回路１５に実装した場合の説明図であり、半導体集積回
路１５の情報処理回路１６への電源の供給は電源供給線
１１Ｃを通して行われる。すなわち、情報処理回路１６
の電源供給線１１Ｃの前段に本発明の過電流制限回路を
設ける。これによって、半導体集積回路１５の中核をな
す情報処理回路１６が保護できる。
回路１５に実装した場合の説明図であり、半導体集積回
路１５の情報処理回路１６への電源の供給は電源供給線
１１Ｃを通して行われる。すなわち、情報処理回路１６
の電源供給線１１Ｃの前段に本発明の過電流制限回路を
設ける。これによって、半導体集積回路１５の中核をな
す情報処理回路１６が保護できる。
以上述べたように、本発明によれば半導体集積回路上に
過電流制限回路を実装することにより、半導体集積回路
内部へ過大電流が流入することを防止することができる
。また外部に特別な保護回路を設けなくとも半導体集積
回路はもちろん、それに付随して設けられるパッケージ
等の構成部品の保護も図ることができる。
過電流制限回路を実装することにより、半導体集積回路
内部へ過大電流が流入することを防止することができる
。また外部に特別な保護回路を設けなくとも半導体集積
回路はもちろん、それに付随して設けられるパッケージ
等の構成部品の保護も図ることができる。
第１図は本発明の過電流制限回路の一実施例を示すブロ
ー）り構成図、第２図は本発明の過電流制限回路を半導
体集債回路に実装した場合の説明図である。 １１・・・・・・電源供給線、１２・・・・・・電流制
限手段、１３・・・・・・比較手段、１４・・・・・・
電流検出手段、１５・・・・・・半導体集積回路、 １６・・・・・・情報処理回路。 出 願 人 日本電気株式会社 代 理 人 弁理士 山内梅雄
ー）り構成図、第２図は本発明の過電流制限回路を半導
体集債回路に実装した場合の説明図である。 １１・・・・・・電源供給線、１２・・・・・・電流制
限手段、１３・・・・・・比較手段、１４・・・・・・
電流検出手段、１５・・・・・・半導体集積回路、 １６・・・・・・情報処理回路。 出 願 人 日本電気株式会社 代 理 人 弁理士 山内梅雄
Claims (1)
- 情報処理システムのディジタル回路を構成する各々の半
導体集積回路に実装され、前記半導体集積回路に流入す
る流入電流値を検出する電流検出手段と、この電流検出
手段で検出した流入電流値と予め定めた過電流制限値と
を比較する比較手段と、この比較手段の比較により前記
流入電流値が前記過電流制限値以上であると判定された
ときは前記流入電流を前記過電流制限値に制限する電流
制限手段とからなる過電流制限回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63181590A JPH0232414A (ja) | 1988-07-22 | 1988-07-22 | 過電流制限回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63181590A JPH0232414A (ja) | 1988-07-22 | 1988-07-22 | 過電流制限回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0232414A true JPH0232414A (ja) | 1990-02-02 |
Family
ID=16103470
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63181590A Pending JPH0232414A (ja) | 1988-07-22 | 1988-07-22 | 過電流制限回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0232414A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04160519A (ja) * | 1990-10-24 | 1992-06-03 | Nec Corp | 電源制御回路 |
| JP2007304986A (ja) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Fuji Electric Fa Components & Systems Co Ltd | 過電流制御回路 |
-
1988
- 1988-07-22 JP JP63181590A patent/JPH0232414A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04160519A (ja) * | 1990-10-24 | 1992-06-03 | Nec Corp | 電源制御回路 |
| JP2007304986A (ja) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Fuji Electric Fa Components & Systems Co Ltd | 過電流制御回路 |
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