JPH0210567Y2 - - Google Patents

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JPH0210567Y2
JPH0210567Y2 JP923980U JP923980U JPH0210567Y2 JP H0210567 Y2 JPH0210567 Y2 JP H0210567Y2 JP 923980 U JP923980 U JP 923980U JP 923980 U JP923980 U JP 923980U JP H0210567 Y2 JPH0210567 Y2 JP H0210567Y2
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Description

【考案の詳細な説明】
本考案は磁気記録媒体と摺動するコアの一部に
切欠きを設けた消去ヘツドに関するものである。
フイリツプス型カセツトテープのカセツトには、
主として磁気ヘツド又はピンチローラを挿入する
ための3つの大窓とセンサ等を挿入するための2
つの小窓を設けてある。しかし、テープレコーダ
の高級化、多機能化に伴つてデユアルキヤプスタ
ンやオートリバース機能を設けると、消去ヘツド
は前述した小窓に挿入して用いなければならなく
なる。このため磁気テープとの摺動部分が突出し
た形状の消去ヘツドを用いている。第1図aは前
述の小窓を利用する消去ヘツドの内部を示した斜
視図である。第1図aに示した従来の小窓用消去
ヘツドは、センタコア1、コイル2、サイドコア
3,4、(磁気ギヤツプ5a,5b)、ブロツク6
から成るヘツド素体7を端子9a,9bを有する
ホルダ10に取付け、コイル2の導線8a,8b
を端子9a,9bにそれぞれ接続して構成してい
た。 第1図bは第1図aの消去ヘツドからホルダ1
0を除去してヘツド素体7を矢印A方向に向いて
見た側面図であり、第1図cは第1図bのヘツド
素体を矢印Bの方向に向いて見た平面図である。
ヘツド素体7はカセツトの小窓に挿入して用いる
ので極めて小型となり、このため第1図aに示す
如く突出したコアの幅寸法Wを狭くしなければな
らず、センタコア1、サイドコア3,4の断面積
が小さくなる。コアの断面積が小さいとコイル2
に大きな電流を流した時に前記センタコア1、サ
イドコア3,4から成る磁気回路が磁気的に飽和
する。 そこで従来の消去ヘツドでは、コアの高さをト
ラツク寸法T1よりも大きな寸法T2に定めて磁気
回路の断面積を大きくしている。そして、センタ
コア1、サイドコア3,4に形成された磁気テー
プとの摺動部分を一部分切欠いてその切欠き部6
aに板状の非磁性体ブロツク6を設けていた。し
かし、第1図a〜cに示した構成では本来の目的
を十分に達成する事が出来ず、ギヤツプ近傍に多
くの磁束を通そうとすると磁気回路の飽和とコア
間の漏れ磁束を生じ、後述の歪率が高くなつてい
た。 本考案の磁気ヘツドは前述の欠点を除去して磁
気回路の飽和とコア間の漏れ磁束を押さえ歪率を
低下させることを目的とする。その目的を達成す
るために、本考案では高透磁率物質から成る第1
のコアと、前記第1のコアに捲回したコイルと、
前記第1のコアを挟んで突合せることにより複数
の磁気ギヤツプを形成する高透磁率物質から成る
第2のコアと、前記第1のコアと第2のコアの摺
動面側で部分的に切り欠かれた切り欠き部に設け
た非磁性物質から成るブロツク部材とを有するヘ
ツドにおいて、前記第2のコアの切り欠きの底部
を前記コイル前端から該コイルの全長の1/2以下
までの深さ位置に設定して摺動面側に略コの字状
の切り欠き部を形成し、この切り欠き部に前記ブ
ロツク部材を設けた構成を採用したものである。 以下、図に示した実施例を用いて本考案の説明
を行なう。第2図aは本考案第1実施例の消去ヘ
ツドを示した斜視図、第2図bは第2図aの消去
ヘツドからホルダ20とブロツク16aを除去し
てヘツド素体17を矢印Aの方向に向いて見た場
合の側面図である。また、第3図aは本考案第2
実施例の消去ヘツドを示した斜視図、第3図bは
第3図aの消去ヘツドからホルダ20とブロツク
16bを除去してヘツド素体18を矢印Aの方向
に向いて見た場合の側面図である。そして第4図
は第2図b,第3図bに示したヘツド素体17,
18を矢印Bの方向に向いて見た場合(両者は同
じになる)の平面図である。 第2図a,第3図aにおいて、高透磁率物質
(例えばセンダスト,フエライト等)から成るセ
ンタコア(第1のコア)11にコイル12を捲回
し、高透磁率物質から成るサイドコア(第2のコ
ア)13(第2図)又は14(第3図)をセンタ
コア11と突合わせてテープ摺動面に磁気ギヤツ
プ15a,15bを形成する。磁気ギヤツプ15
a,15bの部分は不図示の磁気テープ(磁気記
録媒体)と摺動して磁気テープ上に記録されてい
る情報の消去を行なう。そして、サイドコア13
又は14には図示の切欠き部13a又は14aを
設け、その切欠き部にブロツク16a又は16b
(非磁性物質)を取付ける。そして、センタコア
11、コイル12、サイドコア13又は14、ブ
ロツク16a又は16bはヘツド素体17又は1
8を形成する。前記ヘツド素体は端子19a,1
9bを設けたホルダ20の凹部20aに取付ける
が、図示した如くヘツド素体の一部分を保持する
ことによつて磁気テープ(不図示)側に突出した
部分を形成させる。そして、コイル12の導線部
分12a,12bは端子19a,19bにハンダ
付け等によつてそれぞれ接続する。このように構
成した消去ヘツドは、前述の磁気テープ側に突出
した部分をカセツトの小窓に挿入て磁気テープと
摺動させる事が出来る。 第4図aは第2図bと第3図bにおいてヘツド
素体を矢印Bの方向に向いて見た場合の平面図で
あり、第2図a,第3図bに示したブロツク16
a,16bの部分が略コの字状(交叉した斜線部
分16)を成している。第4図bは第2図aにお
いて、ヘツド素体を矢印Bとは逆の方向に向いて
見たヘツド素体の上面の平面図である。第4図c
は第4図bに対応する等価回路である。 第4図cにおいて、○〜はコイル12に対応し、
Φ11はセンタコア11を通る磁束、Φ13はサ
イドコア13を通る磁束を示している。Rgはギ
ヤツプ部の磁気抵抗であり、Rbgは後部ギヤツプ
部の磁気抵抗である。また、R1はギヤツプ近
傍の漏洩磁気抵抗でありR2は後部ギヤツプ近
傍の漏洩磁気抵抗である。更に、RAとRB
後述する切り欠き部の切り欠き量に対応して変化
する漏洩磁気抵抗である。 第5図a〜cはヘツド素体の側面図であり、第
5図aは第1図bに示した如き従来の消去ヘツド
のヘツド素体であつて、図の左端近傍で磁束が乱
れる事により漏れ磁束が発生して歪率が高くな
る。第5図bで切欠き部を13a(実線)とした
ものは第2図bに示した本考案第1実施例であ
り、第5図bで切欠き部を14a(破線)とした
ものは第3図bに示した本考案第2実施例であ
る。第2図b,第3図bに示すようにコイル12
の長さをL、切込みの長さを(コイル12の前
端12cからテープ摺動部分と反対方向に測つた
長さ)とするとき、第5図(b)は≦L/2を満足
したものである。 このような本考案の構成では、第5図aのよう
な図の左端近傍における磁束の乱れがなく、ま
た、後述するような磁気回路の飽和も少ないので
漏れ磁束が少なくて歪率が改善される。第5図c
は>L/2としたものであつて、図の左半分に
おいて磁気回路が飽和し易く、漏れ磁束が発生し
て歪率が高くなる。 ここで第5図a〜cにおける漏れ磁束と飽和に
ついて、第4図cに示した等価回路を用いて説明
する。まず、第5図aに示すヘツド素体21の構
造は、サイドコア4が不図示のセンタコア(第1
図の符号1)に対して広い面積で対向している。
そのために第4図cに示す漏洩磁気抵抗RA
Bは共に低くて漏れ磁束が多い構造である。
次に、第5図bに示すヘツド素体22の構造は、
サイドコアが浅く切り欠かれている為に前述した
センタコアとの対向する面積が減少し、第4図c
では漏洩磁気抵抗RAを高くした事になる。そ
のために漏れ磁束が減少する。 更に、第5図cに示すヘツド素体23の構造
は、サイドコアが深く切り欠かれている為に前述
したセンタコアとの対向する面積がより一層減少
し、第4図cに示す漏洩磁気抵抗RAとRB
共に高くなつて漏れ磁束が少ない構造である。こ
のように、切り欠き量が増加するに従つて漏れ磁
束は次第に少なくなるが、それに伴つてサイドコ
アの中を通る磁束が飽和し易くなる。この飽和は
ひずみの発生の原因となる(昭和47年9月1日、
ラジオ技術社発行「ハイフアイテープレコーダ」
の第346頁を参照)一方、漏れ磁束が多いコアの
構造ではギヤツプの近傍で所定の消去磁界を得る
ために、コイルに多くの電流を流す事になつてヘ
ツドの発熱が増加する。次に、歪率特性の測定デ
ータを説明する。 第6図は第5図a〜cに示したヘツド素体21
〜23の歪率特性を示したグラフ図である。第6
図において第5図bに示す如く奥行き長さ≦
L/2としたヘツド素体22では曲線22aの如
く歪率が最も低い。第5図aに示した従来のヘツ
ド素体21は曲線21a、第5図cに示したヘツ
ド素体23は曲線23aで表わされ、歪率の高い
事が分かる。 以上の説明(漏れ磁束及び飽和について)、及
び測定データ(歪率特性)をまとめると次の第1
表が得られる。
【表】 第1表において、第5図aでは所定の消去磁界
を得る為にコイルに多くの電流を流さなければな
らないのでヘツドの発熱に対して冷却対策を講ず
る必要が生じる。また、第5図cではサイドコア
の中を通る磁束が飽和し、かつ、歪率が高いので
問題がある。 このように、第5図aと第5図cではそれぞれ
問題点を有している。一方、第5図b、つまり奥
行き長さ≦L/2の条件では漏れ磁束と歪率の
何れに関しても大きな問題点が存在せず、漏れ磁
束と飽和と歪率の三者を総合して考察すると、消
去ヘツドに適した構造である。 このように、本考案の消去ヘツドはサイドコア
の形状を変える事によつて製造コストを上げる事
なく、消去ヘツドにおける磁気回路の飽和とコア
間の漏れ磁束を低減させ、歪率を低くする事が出
来る。
【図面の簡単な説明】
第1図aは従来の小窓用消去ヘツドの斜視図、
第1図bは第1図aに示したヘツド素体の側面
図、第1図cは第1図bに示したヘツド素体の平
面図、第2図aは本考案第1実施例の消去ヘツド
の斜視図、第2図bは第2図(a)に示したヘツド素
体の側面図、第3図aは本考案第2実施例の消去
ヘツドの斜視図、第3図bは第3図aに示したヘ
ツド素体の側面図、第4図aは第2図b及び第3
図bに示したヘツド素体の底面の平面図、第4図
bは第2図bに示したヘツド素体の上面の平面
図、第4図cは第4図bに対応する等価回路図、
第5図a〜cはヘツド素体の側面図、第6図は消
去ヘツドの歪率特性を比較したグラフ図 尚、図において、11……センタコア、12…
…コイル、12a,12b……導線、13,14
……サイドコア、13a,14a……切欠き部、
15a,15b……磁気ギヤツプ、16a.16b
……非磁性ブロツク、17,18,22……ヘツ
ド素体、19a,19b……端子、20……ホル
ダ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 高透磁率物質から成る第1のコアと、 前記第1のコアに捲回したコイルと、 前記第1のコアを挟んで突合わせることによ
    り複数の磁気ギヤツプを形成する高透磁率物質
    から成る第2のコアと、前記第1のコアと第2
    のコアの摺動面側で部分的に切り欠かれた切り
    欠き部に設けた非磁性物質から成るブロツク部
    材とを有するヘツドにおいて、前記第2のコア
    の切り欠きの奥行きを前記コイルの全長の1/2
    以下に設定し、該切り欠き部に設けた前記ブロ
    ツク部材の形状を略コの字状とした事を特徴と
    する消去ヘツド。 (2) 前記第2のコアの切り欠きの奥行き面を摺動
    面に対して傾斜して形成したことを特徴とする
    実用新案登録請求の範囲第1項記載の消去ヘツ
    ド。
JP923980U 1980-01-29 1980-01-29 Expired JPH0210567Y2 (ja)

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JPS56111428U JPS56111428U (ja) 1981-08-28
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