JP6016415B2 - 検査用データ作成装置および回路基板検査装置 - Google Patents
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Description
14 測定部
17 記憶部
18 操作部
19 処理部
100 回路基板
101 基板
102 導体パターン
103 電子部品
De 検査用データ
Dd 回路設計データ
Rm 測定値
Ru 上下限値
P 検査ポイント
Claims (3)
- 導体パターンを有する基板に電子部品が搭載された回路基板における当該導体パターン上に設けられている検査ポイントにおいて測定した電気的パラメータの測定値が当該電気的パラメータの上下限値の範囲内のときに当該電子部品が良好と判定する検査処理を実行して当該回路基板の検査を行う際の当該測定の対象とする当該検査ポイントを指定する情報および当該上下限値を示す情報を含む検査用データを作成する検査用データ作成装置であって、
前記導体パターンに関する情報および前記電子部品に関する情報を含んで前記回路基板の回路構成を示す回路設計データを記憶する記憶部と、前記回路設計データに基づいて前記回路基板の動作をシミュレートするシミュレーション処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記回路設計データに基づいて前記検査用データを作成する検査用データ作成処理において、
前記回路設計データに基づいて前記回路基板に設けられている前記検査ポイントを特定するステップと、
特定した各検査ポイントのうちの1つの検査ポイントを、検査用信号を供給して前記電気的パラメータを測定する際に低電位側に接続させる起点として選択するステップと、
1または複数の前記電子部品を介して前記起点の検査ポイントに接続されている当該起点の検査ポイント以外の全ての前記検査ポイントをショートグループとして抽出し、当該ショートグループの検査ポイントを同電位とした状態で高電位側に接続して前記低電位側に接続させた前記起点の検査ポイントとの間に前記検査用信号を供給している状態の前記電気的パラメータの理論値を前記回路設計データに基づいて特定し、当該理論値に予め決められた値を加算および減算して前記上下限値を求め、前記起点の検査ポイントを示す情報と前記ショートグループの検査ポイントを示す情報と前記上下限値を示す情報とを含むコンポーネントデータを作成する抽出処理を、前記起点として選択する検査ポイントを変更しつつ繰り返して実行するステップと、
前記低電位側と前記高電位側とが反転することを除いて同じ条件で前記電気的パラメータを測定する際に用いる2つのコンポーネントデータの一方を削除する集約を行うステップと、
集約後の前記コンポーネントデータを連結して前記検査用データを作成するステップとを実行する検査用データ作成装置。 - 前記回路設計データの内容を修正する修正操作が可能な操作部を備え、
前記処理部は、前記シミュレーション処理において、前記回路設計データに基づいて前記回路基板の回路図を表示部に表示させ、当該表示させている回路図の前記回路構成が前記修正操作によって修正されたときに当該修正操作に応じて前記回路設計データを修正して前記記憶部に記憶させると共に、当該修正した回路設計データに基づいて前記検査用データを作成する請求項1記載の検査用データ作成装置。 - 請求項1または2記載の検査用データ作成装置と、当該検査用データ作成装置によって作成された前記検査用データを用いて前記回路基板の検査を行う検査部とを備えている回路基板検査装置。
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