JP5946086B2 - 渦電流検査装置、渦電流検査プローブ、及び渦電流検査方法 - Google Patents
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Description
本発明の第1の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。
すなわち、励磁コイルの個数を任意の数のNとした同様は、励磁コイルに印加される励磁電流の周期はTで、かつ、想定円周線64上で隣り合う励磁コイルの励磁電流よりもN分の1周期(T/N)だけ遅れて印加される。
上記(式1)において、πは円周率(3.14159・・・)、σは被検査体の導電率(S/m)、μは被検査体の透磁率(H/m)、fは検査信号の周波数(Hz)である。
本発明の第2の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。
本実施の形態は、第1の実施の形態における励磁信号生成手段を多段形式としたものである。
本発明の第3の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。
本実施の形態は、第1の実施の形態における励磁電流生成手段を渦電流検査プローブ6と一体的に設けた構成としたものである。
2 発振器
3 励磁信号生成手段
3A,3B,3C 励磁信号生成部
31a,31b,31c 振幅調整部
32a,32b,32c 位相調整部
33a,33b,33c 振幅・位相調整部
4 磁場生成手段
4A,4B,4C 磁場生成部
41a,41b,41c 電力増幅器
42a,42b,42c 励磁電流検出部
43a,43b,43c 励磁電流測定部
5 検出手段
51 磁場分布評価部
52 表示部
53 記憶部
6 渦電流検査プローブ
61a〜61e 励磁コイル
62 磁場検出素子
Claims (10)
- 被検査体の検査に用いる励磁電流を生成する基になる基本信号を生成し出力する機能を有する本体部と、
想定円周線上に周方向に等間隔に配置され、励磁電流の印加により励磁される3個以上かつ奇数個の励磁コイルと、前記想定円周線を含む想定面上であって前記想定円周線よりも内側に配置され、前記励磁電流の前記励磁コイルへの印加により生じる磁場によって前記被検査体に生じる渦電流に基づいた磁場を検出する検出器とを有し、前記本体部に対して別体に前記被検査体の表面を移動走査可能に設けられた渦電流検査プローブと、
前記基本信号に基づいて、前記渦電流検査プローブにおける前記想定円周線の周方向両側に隣り合う励磁コイルに印加される励磁電流の位相が、各励磁コイルについて励磁コイルの個数分の1周期だけずれるように励磁電流を生成する励磁電流生成手段と、
前記励磁コイルの一端に入力される励磁電流に対して位相を反転させた励磁電流を前記励磁コイルの他端に入力する位相反転器と
を備えたことを特徴とする渦電流検査装置。 - 請求項1記載の渦電流検査装置において、
前記励磁電流生成手段は、前記本体部と一体的に設けられたことを特徴とする渦電流検査装置。 - 請求項1記載の渦電流検査装置において、
前記励磁電流生成手段は、前記渦電流検査プローブと一体的に設けられたことを特徴とする渦電流検査装置。 - 請求項1記載の渦電流検査装置において、
前記励磁電流生成手段は、前記本体部あるいは前記渦電流検査プローブと分離して設けることを特徴とする渦電流検査装置。 - 請求項1記載の渦電流検査装置において、
前記渦電流検査プローブの前記検出器は、前記想定円周線の中心に配置されたことを特徴とする渦電流検査装置。 - 請求項1記載の渦電流検査装置において、
前記渦電流検査プローブの前記検出器は、前記想定円周線の中心からずれた位置に配置されたことを特徴とする渦電流検査装置。 - 想定円周線上に周方向に等間隔に配置され、励磁電流の印加により励磁される3個以上かつ奇数個の励磁コイルと、前記想定円周線を含む想定面上であって前記想定円周線よりも内側に配置され、前記励磁電流の前記励磁コイルへの印加により生じる磁場によって被検査体に生じる渦電流に基づいた磁場を検出する検出器とを有する検出機能部と、
前記被検査体の検査に用いる励磁電流を生成する基になる基本信号の出力機能を有する本体部からの前記基本信号に基づいて、前記検出機能部における前記想定円周線の周方向両側に隣り合う励磁コイルに印加される励磁電流の位相が、各励磁コイルについて励磁コイルの個数分の1周期だけずれるように励磁電流を生成する励磁電流生成手段と、
前記励磁コイルの一端に入力される励磁電流に対して位相を反転させた励磁電流を前記励磁コイルの他端に入力する位相反転器と
を備えたことを特徴とする渦電流検査プローブ。 - 請求項7記載の渦電流検査プローブにおいて、
前記検出器は、前記想定円周線の中心に配置されたことを特徴とする渦電流検査プローブ。 - 請求項7記載の渦電流検査プローブにおいて、
前記検出器は、前記想定円周線の中心からずれた位置に配置されたことを特徴とする渦電流検査プローブ。 - 想定円周線上に周方向に等間隔に配置され、励磁電流の印加により励磁される3個以上かつ奇数個の励磁コイルに、前記想定円周線の周方向両側に隣り合う励磁コイルに印加される励磁電流の位相が、各励磁コイルについて励磁コイルの個数分の1周期だけずれるように生成された励磁電流であって、前記励磁コイルの一端に入力される励磁電流に対する他端に入力される励磁励磁電流の位相が反転するような励磁電流を印加し、前記想定円周線を含む想定面上であって前記想定円周線よりも内側に配置された検出器により、前記励磁電流の前記励磁コイルへの印加により生じる磁場によって被検査体に生じる渦電流に基づいた磁場を検出することを特徴とする渦電流検査方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012061918A JP5946086B2 (ja) | 2012-03-19 | 2012-03-19 | 渦電流検査装置、渦電流検査プローブ、及び渦電流検査方法 |
CA2807917A CA2807917C (en) | 2012-03-19 | 2013-03-04 | Eddy current inspection device, eddy current inspection probe, and eddy current inspection method |
EP13157958.3A EP2642282B1 (en) | 2012-03-19 | 2013-03-06 | Device and method for eddy current inspection |
US13/787,953 US9274085B2 (en) | 2012-03-19 | 2013-03-07 | Eddy current inspection device, eddy current inspection probe, and eddy current inspection method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012061918A JP5946086B2 (ja) | 2012-03-19 | 2012-03-19 | 渦電流検査装置、渦電流検査プローブ、及び渦電流検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013195202A JP2013195202A (ja) | 2013-09-30 |
JP5946086B2 true JP5946086B2 (ja) | 2016-07-05 |
Family
ID=47827025
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012061918A Active JP5946086B2 (ja) | 2012-03-19 | 2012-03-19 | 渦電流検査装置、渦電流検査プローブ、及び渦電流検査方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9274085B2 (ja) |
EP (1) | EP2642282B1 (ja) |
JP (1) | JP5946086B2 (ja) |
CA (1) | CA2807917C (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7186373B2 (ja) | 2019-09-13 | 2022-12-09 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 音響レンズ及びスピーカシステム |
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- 2012-03-19 JP JP2012061918A patent/JP5946086B2/ja active Active
-
2013
- 2013-03-04 CA CA2807917A patent/CA2807917C/en not_active Expired - Fee Related
- 2013-03-06 EP EP13157958.3A patent/EP2642282B1/en active Active
- 2013-03-07 US US13/787,953 patent/US9274085B2/en not_active Expired - Fee Related
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JP7186373B2 (ja) | 2019-09-13 | 2022-12-09 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 音響レンズ及びスピーカシステム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013195202A (ja) | 2013-09-30 |
CA2807917A1 (en) | 2013-09-19 |
EP2642282B1 (en) | 2015-01-14 |
CA2807917C (en) | 2016-10-11 |
US20130241541A1 (en) | 2013-09-19 |
US9274085B2 (en) | 2016-03-01 |
EP2642282A1 (en) | 2013-09-25 |
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Legal Events
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A621 | Written request for application examination |
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RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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