JPH0599901A - 渦電流探傷装置 - Google Patents
渦電流探傷装置Info
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- JPH0599901A JPH0599901A JP3256337A JP25633791A JPH0599901A JP H0599901 A JPH0599901 A JP H0599901A JP 3256337 A JP3256337 A JP 3256337A JP 25633791 A JP25633791 A JP 25633791A JP H0599901 A JPH0599901 A JP H0599901A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】金属の平板等における欠陥の有無及び方向を検
出する。 【構成】探傷器70から接続ケーブル60を介して3相
交流により振幅変調された高周波電流が励磁コイル52
a,52b,52cにそれぞれ供給される。これにより
発生した磁界は、時間と共に回転し、このため被検体金
属40中に発生する渦電流も時間と共に回転する。欠陥
の方向によって上記渦電流の妨げられる程度が時間によ
って変化する。従って、上記探傷器70の画面71に表
示される検出コイル53a,53b,53cに誘起する
電圧の波形73と励磁コイル52a,52b,52cに
供給される交流電流の波形72との時間的な関係を観察
することにより、欠陥の方向を検出する。
出する。 【構成】探傷器70から接続ケーブル60を介して3相
交流により振幅変調された高周波電流が励磁コイル52
a,52b,52cにそれぞれ供給される。これにより
発生した磁界は、時間と共に回転し、このため被検体金
属40中に発生する渦電流も時間と共に回転する。欠陥
の方向によって上記渦電流の妨げられる程度が時間によ
って変化する。従って、上記探傷器70の画面71に表
示される検出コイル53a,53b,53cに誘起する
電圧の波形73と励磁コイル52a,52b,52cに
供給される交流電流の波形72との時間的な関係を観察
することにより、欠陥の方向を検出する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、金属の平板等の欠陥
検出に適用される渦電流探傷装置に関する。
検出に適用される渦電流探傷装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、金属の平板等における欠陥を検出
する渦電流探傷装置は、図6のように構成される。
する渦電流探傷装置は、図6のように構成される。
【0003】渦電流探傷装置は、探傷子10と、これよ
り接続ケーブル20を介して接続された探傷器30によ
って構成される。上記探傷子10は、磁心11を有し、
この磁心11の周囲に励磁コイル12及び検出コイル1
3が隣接して設けられている。探傷器30は、発振器を
内蔵し、上記励磁コイル12に交流電流を供給すること
が可能である。また、探傷器30の側面に設けられた画
面31には、上記接続ケーブル20を介して送受される
励磁コイルの電流波形32及び検出コイルの誘起電圧波
形33が表示される。さらに、探傷器30は、探傷子1
0が被検体金属40の欠陥の無い部分を探傷する際に誘
起電圧を小さくする補正の機能を有する。
り接続ケーブル20を介して接続された探傷器30によ
って構成される。上記探傷子10は、磁心11を有し、
この磁心11の周囲に励磁コイル12及び検出コイル1
3が隣接して設けられている。探傷器30は、発振器を
内蔵し、上記励磁コイル12に交流電流を供給すること
が可能である。また、探傷器30の側面に設けられた画
面31には、上記接続ケーブル20を介して送受される
励磁コイルの電流波形32及び検出コイルの誘起電圧波
形33が表示される。さらに、探傷器30は、探傷子1
0が被検体金属40の欠陥の無い部分を探傷する際に誘
起電圧を小さくする補正の機能を有する。
【0004】被検体金属40を探傷する場合、探傷子1
0は、検出コイル13が被検体金属40側に位置するよ
うに、被検体金属40に近接して設置される。そして被
検体金属40上に沿って探傷子10を移動させながら、
探傷器30の画面31に表示される波形を観察する。探
傷する際の上記探傷子10に関する電気的接続及び状態
を図7に示す。
0は、検出コイル13が被検体金属40側に位置するよ
うに、被検体金属40に近接して設置される。そして被
検体金属40上に沿って探傷子10を移動させながら、
探傷器30の画面31に表示される波形を観察する。探
傷する際の上記探傷子10に関する電気的接続及び状態
を図7に示す。
【0005】上記探傷器30に内蔵された発振器32よ
り、接続ケーブル20を介して一定の振幅及び周波数を
有する交流電流を励磁コイル12に供給する。このた
め、励磁コイル12に交流電流が流れ、交流の磁界14
が発生する。交流の磁界14は、被検体金属40と鎖交
し、被検体金属40に起電力が誘導されて交流の渦電流
15が発生する。この渦電流15は、上記磁界14と被
検体金属40とが鎖交する近傍に傷等の欠陥が無い場
合、励磁コイル12と同心円状に流れる。さらに、被検
体金属40中を流れる渦電流15によって交流の磁界1
6が発生する。以上によって発生した交流の磁界14及
び16は、検出コイル13に鎖交し、これにより検出コ
イル13に交流の電圧が誘起する。探傷の際、被検体金
属40中に欠陥が存在する場合の磁界及び渦電流の状態
を先に引用した図6に示す。
り、接続ケーブル20を介して一定の振幅及び周波数を
有する交流電流を励磁コイル12に供給する。このた
め、励磁コイル12に交流電流が流れ、交流の磁界14
が発生する。交流の磁界14は、被検体金属40と鎖交
し、被検体金属40に起電力が誘導されて交流の渦電流
15が発生する。この渦電流15は、上記磁界14と被
検体金属40とが鎖交する近傍に傷等の欠陥が無い場
合、励磁コイル12と同心円状に流れる。さらに、被検
体金属40中を流れる渦電流15によって交流の磁界1
6が発生する。以上によって発生した交流の磁界14及
び16は、検出コイル13に鎖交し、これにより検出コ
イル13に交流の電圧が誘起する。探傷の際、被検体金
属40中に欠陥が存在する場合の磁界及び渦電流の状態
を先に引用した図6に示す。
【0006】励磁コイル12から発生した磁界14は、
起電力を誘導し、過電流17を発生する。過電流17
は、被検体金属40中の欠陥41により、欠陥41の無
い場合に比べて流れ方が異なる。このため、渦電流17
により発生する磁界18も、欠陥41の無い場合に比べ
て変化し、さらに検出コイル13に誘起する電圧も変化
する。
起電力を誘導し、過電流17を発生する。過電流17
は、被検体金属40中の欠陥41により、欠陥41の無
い場合に比べて流れ方が異なる。このため、渦電流17
により発生する磁界18も、欠陥41の無い場合に比べ
て変化し、さらに検出コイル13に誘起する電圧も変化
する。
【0007】被検体金属40に欠陥が存在する場合とし
ない場合における、画面31に表示される励磁コイル1
2の電流波形及び検出コイル13の誘起電圧波形を図8
に示す。図8の(a)は、被検体金属40に欠陥が存在
しない場合の各波形を示し、検出コイル13の誘起電圧
波形33は、上述した補正により小さい振幅で表示され
る。(b)は、被検体金属40に欠陥が存在する場合の
各波形を示す。ここで、励磁コイル12に供給される電
流は一定であるため励磁コイル12の電流波形32は、
(a)と全く等しい。しかし、検出コイル13の誘起電
圧波形34は、上述したように被検体金属40に欠陥の
ない場合に振幅を小さくする補正により、欠陥のある場
合には、大きい振幅で画面31に表示される。
ない場合における、画面31に表示される励磁コイル1
2の電流波形及び検出コイル13の誘起電圧波形を図8
に示す。図8の(a)は、被検体金属40に欠陥が存在
しない場合の各波形を示し、検出コイル13の誘起電圧
波形33は、上述した補正により小さい振幅で表示され
る。(b)は、被検体金属40に欠陥が存在する場合の
各波形を示す。ここで、励磁コイル12に供給される電
流は一定であるため励磁コイル12の電流波形32は、
(a)と全く等しい。しかし、検出コイル13の誘起電
圧波形34は、上述したように被検体金属40に欠陥の
ない場合に振幅を小さくする補正により、欠陥のある場
合には、大きい振幅で画面31に表示される。
【0008】従って、探傷子10を被検体金属40上を
移動させながら、探傷器30の画面31に表示される検
出コイル13の誘起電圧の波形を監視することにより被
検体金属40中の欠陥を検出することが可能である。
移動させながら、探傷器30の画面31に表示される検
出コイル13の誘起電圧の波形を監視することにより被
検体金属40中の欠陥を検出することが可能である。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の方
法では、被検体金属中の渦電流が探傷子の励磁コイルと
同心円状に流れるため、被検体金属の欠陥の大きさが同
じであれば、欠陥が渦電流上のいずれの位置に存在して
も、探傷器の画面に表示される誘起電圧波形が等くな
る。そのため、欠陥の存在の有無は確認できるが、欠陥
の方向が判定できないという問題が生じた。この発明
は、上記実情に鑑みてなされたもので、被検体金属に存
在する欠陥の方向を検出することが可能な渦電流探傷装
置を提供することを目的とする。
法では、被検体金属中の渦電流が探傷子の励磁コイルと
同心円状に流れるため、被検体金属の欠陥の大きさが同
じであれば、欠陥が渦電流上のいずれの位置に存在して
も、探傷器の画面に表示される誘起電圧波形が等くな
る。そのため、欠陥の存在の有無は確認できるが、欠陥
の方向が判定できないという問題が生じた。この発明
は、上記実情に鑑みてなされたもので、被検体金属に存
在する欠陥の方向を検出することが可能な渦電流探傷装
置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】この発明に係る渦電流探
傷装置は、磁心に装着されて一定角度毎に配置される複
数個の励磁コイルと、これらの励磁コイルを交流電圧に
て振幅変調した信号により励磁し、被検体に対して回転
磁界を発生させる手段と、上記各励磁コイルに対応して
上記磁心に設けられ、上記被検体から発生する渦電流に
基づく磁界を検出する複数個の検出コイルと、これらの
検出コイルの出力信号に基づいて被検体の欠陥を検出す
る探傷手段とを具備したことを特徴とする。
傷装置は、磁心に装着されて一定角度毎に配置される複
数個の励磁コイルと、これらの励磁コイルを交流電圧に
て振幅変調した信号により励磁し、被検体に対して回転
磁界を発生させる手段と、上記各励磁コイルに対応して
上記磁心に設けられ、上記被検体から発生する渦電流に
基づく磁界を検出する複数個の検出コイルと、これらの
検出コイルの出力信号に基づいて被検体の欠陥を検出す
る探傷手段とを具備したことを特徴とする。
【0011】
【作用】探傷子の各励磁コイルに、探傷器より3相交流
により振幅変調された高周波電流が供給されるため、励
磁コイルによって発生して被検体金属と鎖交する磁界
が、3個の磁心に囲まれた範囲で時間とともに回転す
る。これにより金属中の渦電流の発生のし方も時間とと
もに回転する。検出コイルに誘起する電圧の大きさは、
金属中の渦電流が、欠陥によって妨げられる程度によっ
て左右される。渦電流が時間とともに回転するため、欠
陥の方向によって、渦電流の妨げられる程度が時間によ
って変化する。従って、検出コイルに誘起する電圧と励
磁コイルに供給される交流電流との時間的な関係を観察
することによって、欠陥の方向を検出できる。
により振幅変調された高周波電流が供給されるため、励
磁コイルによって発生して被検体金属と鎖交する磁界
が、3個の磁心に囲まれた範囲で時間とともに回転す
る。これにより金属中の渦電流の発生のし方も時間とと
もに回転する。検出コイルに誘起する電圧の大きさは、
金属中の渦電流が、欠陥によって妨げられる程度によっ
て左右される。渦電流が時間とともに回転するため、欠
陥の方向によって、渦電流の妨げられる程度が時間によ
って変化する。従って、検出コイルに誘起する電圧と励
磁コイルに供給される交流電流との時間的な関係を観察
することによって、欠陥の方向を検出できる。
【0012】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明の一実施例を
説明する。この発明に係る渦電流探傷装置を図1に示
す。
説明する。この発明に係る渦電流探傷装置を図1に示
す。
【0013】所定の複数方向に突出した磁心50(この
実施例では3方向に突出)と、この磁心の各検出部51
(51a,51b,51c)に、それぞれ励磁コイル5
2(52a,52b,52c)と検出コイル53(53
a,53b,53c)とが設けられ、さらに被検体金属
40方向に磁心の足54(54a,54b,54c)が
形成され、これにより探傷子55が構成される。ここ
で、検出コイル53は、電気的に全て直列に接続されて
いる。
実施例では3方向に突出)と、この磁心の各検出部51
(51a,51b,51c)に、それぞれ励磁コイル5
2(52a,52b,52c)と検出コイル53(53
a,53b,53c)とが設けられ、さらに被検体金属
40方向に磁心の足54(54a,54b,54c)が
形成され、これにより探傷子55が構成される。ここ
で、検出コイル53は、電気的に全て直列に接続されて
いる。
【0014】上記磁心50は、接続ケーブル60を介し
て探傷器70に接続される。探傷器70は、発振器を内
蔵し(図示せず)、これより接続ケーブル60を介して
励磁コイル52に交流電流を供給することを可能とす
る。また、探傷器70は、画面71を有し、この画面7
1に励磁コイル52に供給する交流電流の波形72と、
さらに励磁コイル52によって検出コイル53に誘起さ
れた誘起電圧の波形73とを表示する。
て探傷器70に接続される。探傷器70は、発振器を内
蔵し(図示せず)、これより接続ケーブル60を介して
励磁コイル52に交流電流を供給することを可能とす
る。また、探傷器70は、画面71を有し、この画面7
1に励磁コイル52に供給する交流電流の波形72と、
さらに励磁コイル52によって検出コイル53に誘起さ
れた誘起電圧の波形73とを表示する。
【0015】上述した探傷子55の詳細な形状を図2に
示す。同図は、探傷子55を、探傷する際の被検体金属
の反対側から見たもので、磁心50は、120°毎に3
方向に突出し、突出した3方向にそれぞれ励磁コイル5
2及び検出コイル53が設けられている。次に上記実施
例の動作を図3乃至図5を参照して説明する。
示す。同図は、探傷子55を、探傷する際の被検体金属
の反対側から見たもので、磁心50は、120°毎に3
方向に突出し、突出した3方向にそれぞれ励磁コイル5
2及び検出コイル53が設けられている。次に上記実施
例の動作を図3乃至図5を参照して説明する。
【0016】励磁コイル52(52a,52b,52
c)は、探傷器70に内蔵された発振器により、図3に
示すような3相交流によって振幅変調された高周波の交
流電流72(72a,72b,72c)が接続ケーブル
60を介して供給される。上記3相交流は同図3に示す
ように、1周期をTとすると、位相がそれぞれT/3毎
ずれている。そして、高周波の交流電流72a,72
b,72cは、それぞれ励磁コイル52a,52b,5
2cに対応して供給される。
c)は、探傷器70に内蔵された発振器により、図3に
示すような3相交流によって振幅変調された高周波の交
流電流72(72a,72b,72c)が接続ケーブル
60を介して供給される。上記3相交流は同図3に示す
ように、1周期をTとすると、位相がそれぞれT/3毎
ずれている。そして、高周波の交流電流72a,72
b,72cは、それぞれ励磁コイル52a,52b,5
2cに対応して供給される。
【0017】励磁コイル52には、上記交流電流72が
供給されるため磁界が発生し、被検体金属40に作用す
る。ある時刻における被検体金属40中の磁界の方向を
図4に示す。励磁コイル52による磁界が被検体金属4
0に作用する場合、被検体金属中の磁界は、ある時刻に
おいて、磁心の足54a,54b,54cに囲まれた範
囲で矢印56の方向に発生する。そして、上記3相交流
の周期T毎に矢印57の方向に磁界が2回転する。
供給されるため磁界が発生し、被検体金属40に作用す
る。ある時刻における被検体金属40中の磁界の方向を
図4に示す。励磁コイル52による磁界が被検体金属4
0に作用する場合、被検体金属中の磁界は、ある時刻に
おいて、磁心の足54a,54b,54cに囲まれた範
囲で矢印56の方向に発生する。そして、上記3相交流
の周期T毎に矢印57の方向に磁界が2回転する。
【0018】被検体金属40中には、ある時刻におい
て、同図4の矢印56で方向を示された磁界によって渦
電流が発生する。磁界は上述したように矢印57の方向
に時間と共に回転するため、渦電流の発生状態(角度)
も時間と共に変化する。また、この渦電流によっても磁
界が発生し、この磁界は、励磁コイル52により発生し
た磁界と干渉する。
て、同図4の矢印56で方向を示された磁界によって渦
電流が発生する。磁界は上述したように矢印57の方向
に時間と共に回転するため、渦電流の発生状態(角度)
も時間と共に変化する。また、この渦電流によっても磁
界が発生し、この磁界は、励磁コイル52により発生し
た磁界と干渉する。
【0019】渦電流によって発生した磁界は、渦電流の
大きさ等の要因により変動する。渦電流の大きさは、被
検体金属40における欠陥の有無により変化するだけで
はなく、渦電流の状態(角度)が時間と共に変化する場
合、欠陥の方向によっても影響を受ける。即ち、励磁コ
イル52の発生する磁界の方向が、欠陥の方向と一致し
たとき、上記渦電流は欠陥により流れなくなり、渦電流
によって発生する磁界に最も大きい影響を及ぼす。
大きさ等の要因により変動する。渦電流の大きさは、被
検体金属40における欠陥の有無により変化するだけで
はなく、渦電流の状態(角度)が時間と共に変化する場
合、欠陥の方向によっても影響を受ける。即ち、励磁コ
イル52の発生する磁界の方向が、欠陥の方向と一致し
たとき、上記渦電流は欠陥により流れなくなり、渦電流
によって発生する磁界に最も大きい影響を及ぼす。
【0020】上述したように渦電流により発生する磁界
は、励磁コイル52によって発生する磁界と干渉するた
め、検出コイル53と鎖交する磁界の強度は、被検体金
属40中の磁界の方向が欠陥の方向と一致したときに最
も大きく影響されることになる。検出コイル53に誘起
される誘起電圧の波形を図5(a),(b)に示す。
は、励磁コイル52によって発生する磁界と干渉するた
め、検出コイル53と鎖交する磁界の強度は、被検体金
属40中の磁界の方向が欠陥の方向と一致したときに最
も大きく影響されることになる。検出コイル53に誘起
される誘起電圧の波形を図5(a),(b)に示す。
【0021】励磁コイル52には3相交流により振幅変
調された高周波の交流電流72が供給される。上記3相
の交流は振幅が全て等しいので、各励磁コイル52に発
生する磁界の最大値も全て等しくなる。また、検出コイ
ル53(53a,53b,53c)は、全て直列に接続
されているため、この3個の検出コイル53の直列接続
端には、被検体金属40中に欠陥が無い場合、交流の電
圧が全く発生しない。欠陥の無い場合の検出コイル53
の誘起電圧波形74を図5(a)に示す。しかし、被検
体金属40中に欠陥がある場合、検出コイル53の直列
接続端に電圧が発生し、被検体金属40中の磁界の方向
が、欠陥の方向と一致したときに、この電圧が最も大き
くなる。被検体金属40中において、磁心の足54に囲
まれた範囲の中で、ある方向に欠陥があるときの、検出
コイル53の直列接続端の誘起電圧波形75を図5
(b)に示す。尚、同図5(a),(b)では、励磁コ
イル52に供給する交流電流の波形として、励磁コイル
52aに供給される交流電流を表示している。
調された高周波の交流電流72が供給される。上記3相
の交流は振幅が全て等しいので、各励磁コイル52に発
生する磁界の最大値も全て等しくなる。また、検出コイ
ル53(53a,53b,53c)は、全て直列に接続
されているため、この3個の検出コイル53の直列接続
端には、被検体金属40中に欠陥が無い場合、交流の電
圧が全く発生しない。欠陥の無い場合の検出コイル53
の誘起電圧波形74を図5(a)に示す。しかし、被検
体金属40中に欠陥がある場合、検出コイル53の直列
接続端に電圧が発生し、被検体金属40中の磁界の方向
が、欠陥の方向と一致したときに、この電圧が最も大き
くなる。被検体金属40中において、磁心の足54に囲
まれた範囲の中で、ある方向に欠陥があるときの、検出
コイル53の直列接続端の誘起電圧波形75を図5
(b)に示す。尚、同図5(a),(b)では、励磁コ
イル52に供給する交流電流の波形として、励磁コイル
52aに供給される交流電流を表示している。
【0022】上述したように、探傷の際、検出コイル5
3の誘起電圧の波形を監視することにより被検体金属4
0中の欠陥を検出することが可能であり、さらに欠陥が
検出された場合、励磁コイルに供給される交流電流の波
形と、検出コイル53の誘起電圧の波形との時間的な関
係を観察することによって、欠陥の方向を判断すること
ができる。
3の誘起電圧の波形を監視することにより被検体金属4
0中の欠陥を検出することが可能であり、さらに欠陥が
検出された場合、励磁コイルに供給される交流電流の波
形と、検出コイル53の誘起電圧の波形との時間的な関
係を観察することによって、欠陥の方向を判断すること
ができる。
【0023】
【発明の効果】以上詳記したように、この発明によれ
ば、励磁コイル及び検出コイルで構成された複数の検出
部によって、被検体金属中の磁界を回転させながら探傷
を行なうことにより、被検体金属中の欠陥の有無だけで
はなく、欠陥の方向をも検出することを可能とする。こ
れにより、欠陥が存在する際、次のステップで必要な修
理に対する情報が多くなり、修理の正確性を向上し、修
理時間の短縮が可能となる。
ば、励磁コイル及び検出コイルで構成された複数の検出
部によって、被検体金属中の磁界を回転させながら探傷
を行なうことにより、被検体金属中の欠陥の有無だけで
はなく、欠陥の方向をも検出することを可能とする。こ
れにより、欠陥が存在する際、次のステップで必要な修
理に対する情報が多くなり、修理の正確性を向上し、修
理時間の短縮が可能となる。
【図1】この発明の一実施例に係る渦電流探傷装置の構
成図。
成図。
【図2】同実施例における探傷子の上面図。
【図3】同実施例において励磁コイルに供給される交流
電流の波形図。
電流の波形図。
【図4】同実施例における探傷の際、被検体金属中に発
生する磁界の方向を示す図。
生する磁界の方向を示す図。
【図5】同実施例において、(a)は被検体金属中に欠
陥が無い場合に探傷器の画面に表示される波形図、
(b)は被検体金属中に欠陥が存在する場合に探傷器の
画面に表示される波形図。
陥が無い場合に探傷器の画面に表示される波形図、
(b)は被検体金属中に欠陥が存在する場合に探傷器の
画面に表示される波形図。
【図6】従来の渦電流探傷装置の構成図。
【図7】従来の渦電流探傷装置における探傷子及び探傷
器の電気的な接続状態図。
器の電気的な接続状態図。
【図8】従来の渦電流探傷装置において、(a)は被検
体金属中に欠陥が無い場合に探傷器の画面に表示される
波形図、(b)は被検体金属中に欠陥が存在する場合に
探傷器の画面に表示される波形図。
体金属中に欠陥が無い場合に探傷器の画面に表示される
波形図、(b)は被検体金属中に欠陥が存在する場合に
探傷器の画面に表示される波形図。
50…磁心、51a〜51c…検出部、52a〜52c
…励磁コイル、53a〜53c…検出コイル、54a〜
54c…磁心の足、55…探傷子、60…接続ケーブ
ル、70…探傷器、71…画面、72a〜72c…交流
電流波形、73…誘起電圧波形。
…励磁コイル、53a〜53c…検出コイル、54a〜
54c…磁心の足、55…探傷子、60…接続ケーブ
ル、70…探傷器、71…画面、72a〜72c…交流
電流波形、73…誘起電圧波形。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 井上 慎也 兵庫県高砂市荒井町新浜二丁目1番1号 三菱重工業株式会社高砂製作所内
Claims (1)
- 【請求項1】 磁心に装着されて一定角度毎に配置され
る複数個の励磁コイルと、これらの励磁コイルを交流電
圧にて振幅変調した信号により励磁し、被検体に対して
回転磁界を発生させる手段と、上記各励磁コイルに対応
して上記磁心に設けられ、上記被検体から発生する渦電
流に基づく磁界を検出する複数個の検出コイルと、これ
らの検出コイルの出力信号に基づいて被検体の欠陥を検
出する探傷手段とを具備したことを特徴とする渦電流探
傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3256337A JPH0599901A (ja) | 1991-10-03 | 1991-10-03 | 渦電流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3256337A JPH0599901A (ja) | 1991-10-03 | 1991-10-03 | 渦電流探傷装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0599901A true JPH0599901A (ja) | 1993-04-23 |
Family
ID=17291273
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3256337A Pending JPH0599901A (ja) | 1991-10-03 | 1991-10-03 | 渦電流探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0599901A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008128733A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 磁気探傷方法及び磁気探傷装置 |
JP2011145176A (ja) * | 2010-01-14 | 2011-07-28 | Toyota Motor Corp | 渦流計測用センサ、及び、渦流計測用センサによる検査方法 |
WO2011135872A1 (ja) * | 2010-04-27 | 2011-11-03 | トヨタ自動車株式会社 | 渦流計測用センサ |
EP2642282A1 (en) | 2012-03-19 | 2013-09-25 | Hitachi Ltd. | Device and method for eddy current inspection |
-
1991
- 1991-10-03 JP JP3256337A patent/JPH0599901A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US9274085B2 (en) | 2012-03-19 | 2016-03-01 | Hitachi, Ltd. | Eddy current inspection device, eddy current inspection probe, and eddy current inspection method |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000215 |