JP5212359B2 - 多層配線基板及びその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、多層配線基板及びその製造方法に関し、更に詳しくは、電子部品の集積度が上がり、配線構造が高密度化しても放熱特性を向上させることができる多層配線基板及びその製造方法に関するものである。
近年、半導体素子等の電子部品の高機能化及び小型化に伴って、これらの電子部品を搭載する多層配線基板も高機能化及び小型化が進んでいる。電子部品高機能化するほど発熱しやすく、放熱対策が極めて重要になってくる。放熱対策が講じられた多層配線基板として、例えば特許文献1、2、3に記載された技術が知られている。
特許文献1にはセラミック基板に関する発明が記載されている。このセラミック基板では、セラミック基板のキャビティの底面にメタライズ層が形成されており、このメタライズ層からセラミック基板の主面に達する伝熱体がキャビティの壁面の一部をなすように複数箇所に設けられている。この伝熱体は、AgやCuを主成分とし、セラミック基板と同時焼成可能な材料によって形成されている。このような伝熱体を設けることによって、キャビティに搭載された電子部品から発生する熱をメタライズ層及び伝熱体を介して外部へ放熱している。また、このセラミック基板には図7に部分的に示すようにキャビティの底面のメタライズ層1とキャビティの底面との対向面に形成されたメタライズ層2を接続する複数のサーマルビア3が設けられ、伝熱体以外にこれらのサーマルビア3からも放熱するようにしてある。尚、図7において、Dは電子部品である。
特許文献2にはセラミック配線基板に関する発明が記載されている。このセラミック配線基板では、図8に示すように、電子部品Dの実装位置に、複数の放熱用スルーホール4が形成され、これらの放熱用スルーホール4は放熱用導体パターン5や接地用導体パターン6に接続されている。電子部品Dの熱は、放熱用スルーホール4、放熱用導体パターン5及び接地用導体パターン6を介して外部へ放熱される。
更に、特許文献3には回路部品内蔵モジュールが記載されている。この回路部品内蔵モジュールは、電気絶縁性基板が無機フィラーと熱硬化性樹脂とを含む第1の混合物を主体として形成され、第1の混合物の無機フィラーの含有量が高く、無機フィラーによって樹脂製の電気絶縁性基板の放熱性を高めている。更に、回路部品内蔵モジュールでも電子部品の直下にサーマルビアが設けられ、このサーマルビアが電子部品の搭載面と対向する面に形成された放熱用配線パターンに接続され、更に放熱性を高めている。
特開2002−289747 特開平03−286590 特開2001−244638
しかしながら、特許文献1、3の技術の場合には、サーマルビアホールが基板を貫通している。そのため、多層基板を製造する時には貫通ビアホール導体が形成された各基材層を積層する必要があり、製造工程で貫通ビアホール導体が基材層から脱落することがある。また、キャビティ構造を持つモジュールにおいてモジュール規模が大きくなり部品の集積度が高くなると、キャビティの面積が大きくなり、その周囲の基板部分(桟部)の幅が狭くなるため、上面に配置した電子部品の放熱用ビアホール導体を基板表裏に貫通させて設けることが難しくなる。
また、特許文献2の技術の場合には、放熱用スルーホール4が基板の表裏を貫通することなく、放熱用スルーホール4を基板内で放熱用導体パターン5や接地用導体パターン6に接続し、放熱用導体パターン5や接地用導体パターン6を介して外部へ放熱している。しかし、この構成によると、放熱用導体パターン5や接地用導体パターン6の断面積が極めて小さいため、放熱効率が悪い。
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、電子部品の集積度が高くなっても、実装面積を犠牲にすることなく配線の自由度を高めることができると共に、放熱特性を格段に高めることができ、もって信頼性を向上させることができる多層配線基板及びその製造方法を提供することを目的としている。
本発明の多層配線基板は、複数の基材層を積層してなる積層体と、この積層体の側面に形成された端子電極と、を備えた多層配線基板であって、上記積層体の一方及び/または他方の主面から、その内部の上記複数の基材層のうち、上記主面を含む基材層より内側にある少なくとも一層の基材層を貫通するまで延びる、上記積層体に搭載される電子部品に接続するためのビアホール導体と、このビアホール導体と上記端子電極とに接続され且つ上記主面を含む基材層より内側にある上記少なくとも一層の基材層内で面方向に導体が連設されてなり、上記積層体に搭載される電子部品に上記ビアホール導体を介して接続される連続ビアホール導体と、を備えたことを特徴とするものである。
本発明の多層配線基板において、上記連続ビアホール導体が同一の上記基材層に複数形成されていることが好ましい。
また、本発明の多層配線基板において、上記基材層の上記連続ビアホール導体が形成されている領域が導体膜によって被覆されていることが好ましい。
また、本発明の多層配線基板において、上記導体膜は、複数の上記連続ビアホール導体に跨るように形成されていることが好ましい。
また、本発明の多層配線基板において、上記導体膜は、上記連続ビアホール導体と電気的に導通していることを特徴とすることが好ましい。
また、本発明の多層配線基板において、上記連続ビアホール導体は、少なくとも一つの上記基材層を介して上下に配置されていることが好ましい。
また、本発明の多層配線基板において、上記連続ビアホール導体は、他の基材層よりも薄い基材層に形成されていることが好ましい。
また、本発明の多層配線基板において、上記連続ビアホール導体が上記基材層を貫通することが好ましい。
また、本発明の多層配線基板において、上記連続ビアホール導体が上記基材層を貫通しないことが好ましい。
また、本発明の多層配線基板において、上記ビアホール導体の上記基材層での軸芯方向の断面積は、上記連続ビアホール導体の上記基材層での軸芯方向の断面積より大きく形成されていることが好ましい。
また、本発明の多層配線基板において、上記電子部品の外部端子電極が上記積層体の主面に露出した上記ビアホール導体に接続されていることが好ましい。
また、本発明の多層配線基板において、上記積層体は、一方の主面にキャビティを有していることが好ましい。
また、本発明の多層配線基板において、上記基材層は、低温焼結セラミック材料からなることが好ましい。
また、本発明の多層配線基板の製造方法は、複数の基材層を積層してなる積層体と、この積層体の側面に形成された端子電極と、を備えた多層配線基板を製造するに際し、上記複数の基材層のうち、上記積層体の一方及び/または他方の主面を含む基材層以外の少なくとも一層の基材層に、その基材層を上下に貫通する貫通孔と、この貫通孔から複数連続する第2貫通孔または半貫通孔とを上記基材層の面方向へ延びるように形成する第1の工程と、上記貫通孔及び上記第2貫通孔または上記半貫通孔に導電性材料を充填することにより、ビアホール導体及びこのビアホール導体を介して上記積層体に搭載される電子部品に接続するための連続ビアホール導体を形成する第2の工程と、上記貫通孔に連なるように少なくとも上記主面を含む基材層に上下方向に形成された第3の貫通孔に上記導電性材料を充填することにより、上記ビアホール導体と上記積層体に搭載される電子部品とを接続するためのビアホール導体を上記少なくとも一層の基材層から上記主面まで形成する第2Aの工程と、を備えたことを特徴とするものである。
また、本発明の多層配線基板の製造方法において、上記導電性材料によって上記貫通孔、及び上記第2貫通孔または上記半貫通孔を被覆する導体膜を上記基材層上に形成する第3の工程を備えていることが好ましい。
また、本発明の多層配線基板の製造方法において、上記第1の工程では、上記基材層にレーザを照射することにより、上記貫通孔、及び上記第2貫通孔または上記半貫通孔を形成することが好ましい。
また、本発明の多層配線基板の製造方法において、上記基材層がキャリアフィルムによって支持されており、キャリアフィルム側からレーザを照射することにより、上記貫通孔を形成することが好ましい。
また、本発明の多層配線基板の製造方法において、上記基材層がキャリアフィルムによって支持されており、上記基材層側からレーザを照射することにより、上記貫通孔及び半貫通孔を形成することが好ましい。
また、本発明の多層配線基板の製造方法において、上記第1、第2の工程における基材層は、未焼成のセラミックシートであり、この基材層を含む未焼成の積層体を作製した後、上記未焼成の積層体を焼成する第4の工程を備えていることが好ましい。
本発明によれば、電子部品の集積度が高くなっても、実装面積を犠牲にすることなく配線の自由度を高めることができると共に、放熱特性を格段に高めることができ、もって信頼性を向上させることができる多層配線基板及びその製造方法を提供することができる。
(a)〜(c)はそれぞれ本発明の多層配線基板の一実施形態を示す図で、(a)はその断面図、(b)はその要部を示す平面図、(c)は放熱用ビアホール導体と放熱用連続ビアホール導体を拡大して示す平面図である。 (a)〜(f)はそれぞれ図1に示す多層配線基板のビアホール導体及びこれに接続された連続ビアホール導体の形成過程を示す工程図である。 図1に示す多層配線基板の基材層を積層する状態を示す断面図である。 本発明の多層配線基板の他の実施形態の要部を示す断面図である。 図4に示す多層配線基板のビアホール導体及びこれに接続された連続ビアホール導体の形成過程を示す工程図である。 本発明の多層配線基板の更に他の実施形態の要部を示す断面図である。 従来の多層配線基板の要部を示す断面図である。 従来の他の多層配線基板の要部を示す断面図である。
10、10A 多層配線基板
11 セラミック層(基材層)
13 端子電極
14 ビアホール導体
17 放熱用ビアビアホール導体
18 放熱用連続ビアホール導体
100 キャリアフィルム
111A セラミックグリーンシート(未焼成の基材層)
117 放熱用ビアホール導体部
118、118A 放熱用連続ビアホール導体部
119 導体面部
以下、図1〜図6に示す実施形態に基づいて本発明を説明する。尚、各図中、図1の(a)〜(c)はそれぞれ本発明の多層配線基板の一実施形態を示す図で、(a)はその断面図、(b)はその要部を示す平面図、(c)はビアホール導体と連続ビアホール導体を拡大して示す平面図、図2の(a)〜(f)はそれぞれ図1に示す多層配線基板のビアホール導体及び連続ビアホール導体を形成する工程を示す工程図、図3は図1に示す多層配線基板の基材層を積層する状態を示す断面図、図4は本発明の多層配線基板の他の実施形態の要部を示す断面図、図5の(a)〜(f)はそれぞれ図4に示す多層配線基板のビアホール導体及び連続ビアホール導体を形成する工程を示す工程図、図6は本発明の多層配線基板の更に他の実施形態の要部を示す断面図である。
第1の実施形態
本実施形態の多層配線基板10は、例えば図1に示すように、複数の基材層(例えばセラミック層)11Aが積層されてなる積層体11と、この積層体11内に設けられた配線パターン12と、積層体11の側面に形成された端子電極13と、を備えている。積層体11の一方の主面(上面)は全面が複数の第1、第2の電子部品51、52を搭載する平坦面として形成されている。積層体11の他方の主面(下面)の中央にはキャビティ10Aが形成され、このキャビティ10Aの底面に第3の電子部品53が搭載されている。第1、第2、第3の電子部品51、52、53は、いずれも配線パターン12を介して多層配線基板10を搭載するマザーボード等の実装用基板の表面電極(図示せず)に接続される。第1、第3の電子部品51、53は、それぞれ例えばシリコン半導体素子やガリウム砒素半導体素子等の能動素子からなり、第2の電子部品52は、例えばコンデンサ、インダクタ等の受動素子からなっている。
而して、配線パターン12は、図1に示すように、上下のセラミック層11Aの界面に所定のパターンで形成された面内導体(以下、「ライン導体」と称す。)14と、上下のライン導体14、14等を電気的に接続するようにセラミック層11Aを貫通して設けられたビアホール導体15と、キャビティ10Aを囲む積層体11内に設けられたビアホール導体15に接続され且つ積層体11の下面周縁部に所定のパターンで配置して形成された表面電極16と、を含んでいる。第1、第3の電子部品51、53は、例えばボールグリッドアレイ構造の接続用端子が半田ボールBを介してビアホール導体(図示せず)の端面に電気的に接続され、また、第2の電子部品52は、外部電極が半田フィレットFを介してビアホール導体15の端面に電気的に接続されている。以下、ビアホール導体を含む配線パターン12について詳述する。尚、電子部品は、ビアホール導体に直接接続されないものを含んでいても良い。
第1、第2、第3の電子部品51、52、53は、高機能化及び小型化されるにつれて発熱量が多くなり、従来にも増して効率よく放熱されなくてはならない。そのため、本実施形態の多層配線基板10では放熱用の配線構造に特殊な工夫が施されている。
即ち、多層配線基板10は、図1の(a)、(b)に示すように、積層体11の上面の複数箇所から内部へ垂直に延びる複数の放熱用のビアホール導体(以下、「放熱用ビアホール導体」と称する。)17と、この放熱用ビアホール導体17に接続された上下二段の放熱用の連続ビアホール導体(以下、「放熱用連続ビアホール導体」と称する。)18と、を備えている。また、積層体11にはキャビティ10Aの底面の複数箇所から内部へ垂直に延びる複数の放熱用ビアホール導体17が形成され、この放熱用ビアホール導体17には上下二段の放熱用連続ビアホール導体18が接続されている。
複数の放熱用ビアホール導体17は、同図の(b)に示すように縦横に配列して形成され、それぞれの上端面に半田ボールBを介して第1の電子部品51が接続されている。放熱用連続ビアホール導体18は、同図の(a)に示すように少なくとも一層のセラミック層11Aを介して上下二段の配置されている。各放熱用連続ビアホール導体18は、同図の(a)、(c)に示すように一つのセラミック層11Aを貫通するビアホール導体が互いに部分的に繋がるように複数連設してセラミック層11Aの面方向に延びるように形成されている。放熱用連続ビアホール導体18の左端は放熱用ビアホール導体17に接続され、その右端が積層体11の右側面の端子電極13に接続されている。放熱用連続ビアホール導体18をグランド電極に接続すれば、グランドを強化することができる。本実施形態では放熱用連続ビアホール導体18が上下二段に渡って設けられているが、放熱量が少なければ必要に応じて一段だけ設けても良く、また、三段以上設けても良い。
このような放熱用の配線構造では、第3の電子部品53で発生する熱は、放熱用ビアホール導体17及び放熱用連続ビアホール導体18を介して端子電極13から外部へ放熱される。放熱用連続ビアホール導体18は、セラミック層11Aと同じ厚さを有するため、従来の印刷による放熱用導体パターンと比較して伝熱断面積が格段に大きく、放熱効率を格段に高めることができる。また、本実施形態では同一セラミック層11A内に複数の放熱用ビアホール導体17及びそれに連設された複数の放熱用連続ビアホール導体18が設けられている。これにより、放熱経路が複数確保され、放熱効率を更に高めることができる。また、放熱用ビアホール導体17と放熱用連続ビアホール導体18は、後述するように同一プロセスで一体的に形成することができるため、位置ズレすることがなく確実に接続されて接続信頼性を確保することができる。
放熱用ビアホール導体17は、例えば図1の(a)に示すように各セラミック層11Aに形成された略円錐台形状のビアホール導体を上下に接続して形成されている。また、放熱用連続ビアホール導体18は、同図の(b)、(c)に示すように放熱用ビアホール導体17よりセラミック層11Aにおける断面積の小さな円錐台状のビアホール導体が水平方向で部分的に重なるように連続してライン状に形成されている。本実施形態では、レーザ光を用いてビアホール導体用の孔を形成するため、放熱用連続ビアホール導体の側面に凹凸ができる。ビアホール導体は、いずれも円錐台形状を呈し、広い下面が接続ランドとして機能し、各セラミック層11Aの導体ビアホールの位置合わせが容易になる。但し、ビアホール導体は、円錐台形状に制限されるものではなく、円柱状であっても良い。尚、上下のライン導体14を接続するビアホール導体15も放熱用ビアホール導体17と同様に形成されている。
放熱用連続ビアホール導体18は、図1の(a)に示すようにセラミック層11Aを貫通しているため、製造段階でセラミックグリーンシートを貫通させて連続ビアホール導体部を形成すると、セラミックグリーンシートから連続ビアホール導体部が脱落しやすくなる。況して、図1に示すように同一のセラミック層11Aに複数行に渡って放熱用連続ビアホール導体18が形成されている場合には、製造段階で連続ビアホール導体部が更に脱落しやすくなる。
そこで、本実施形態では、図1の(b)に示すように複数の放熱用連続ビアホール導体18が配列して形成されたセラミック層11Aの上面には導体膜19が形成され、この導体膜19と放熱用連続ビアホール導体18が接続されて一体化している。即ち、導体膜19は同一セラミック層11Aに形成された複数の放熱用連続ビアホール導体18に跨って形成されている。この導体膜19は、放熱用連続ビアホール導体18と同一セラミック層11Aに形成された放熱用ビアホール導体17をも被覆して一体化している。このように放熱用ビアホール導体17と放熱用連続ビアホール導体18が導体膜19と一体化しているため、多層配線基板10の製造工程でセラミック層11Aとなるセラミックグリーンシートから放熱用ビアホール導体17及び放熱用連続ビアホール導体18となる導電性ペーストがセラミックグリーンシートから脱落することがなく、確実にこれらのビアホール導体17、18を形成することができる。
本実施形態では基材層としてセラミック層を例に挙げて説明したが、基材層はセラミック層に制限されない。基材層としては、例えば熱硬化性の樹脂からなる樹脂層であっても良い。セラミック層である場合には、セラミック材料としては、例えば低温焼結セラミック(LTCC:Low Temperature Co-fired Ceramic)材料を使用することができる。低温焼結セラミック材料とは、1050℃以下の温度で焼結可能であって、比抵抗の小さな銀や銅等と同時焼成が可能なセラミック材料である。低温焼結セラミック材料としては、具体的には、アルミナやジルコニア、マグネシア、フォルステライト等のセラミック粉末にホウ珪酸系ガラスを混合してなるガラス複合系LTCC材料、ZnO−MgO−Al−SiO系の結晶化ガラスを用いた結晶化ガラス系LTCC材料、BaO−Al−SiO系セラミック粉末やAl−CaO−SiO−MgO−B系セラミック粉末等を用いた非ガラス系LTCC材料等が挙げられる。セラミック層11Aの材料として低温焼結セラミック材料を用いることによって、配線パターン12、放熱用ビアホール導体17、放熱用連続ビアホール導体18及び導体膜19としては、例えば銀または銅等の低抵抗で低融点をもつ金属を用いることができ、積層体11と配線パターン12等とを1050℃以下の低温で同時焼成することができる。
また、セラミック材料として、高温焼結セラミック(HTCC:High Temperature Co-fired Ceramic)材料を使用することもできる。高温焼結セラミック材料としては、例えば、アルミナ、窒化アルミニウム、ムライト、その他の材料にガラスなどの焼結助剤を加え、1100℃以上で焼結されたものが用いられる。このとき、配線パターン12、放熱用ビアホール導体17、放熱用連続ビアホール導体18及び導体膜19としては、例えばモリブデン、白金、パラジウム、タングステン、ニッケル及びこれらを含む合金から選択される金属を使用する。
次に、図2、図3を参照しながら本発明の多層配線基板の製造方法の一実施形態について説明する。
まず、低温焼結セラミック材料(例えば、Alをフィラーとし、ホウ珪酸ガラスを焼結助材として含むセラミック材料)をビニルアルコール等のバインダ中に分散させてスラリーを調製した後、このスラリーをドクターブレード法等によって、図2の(a)に示すようにキャリアフィルム100上に塗布して低温焼結用のセラミックグリーンシート111Aを所定の大きさで作製する。セラミックグリーンシート111Aは複数の多層配線基板10が同時に作製される大きさである。尚、図2ではキャリアフィルム100とセラミックグリーンシート111Aを上下逆にして示してある。
次いで、ビアホール導体15を設けるために、例えばCOレーザ光等のレーザ光をセラミックグリーンシート111Aに照射してビアホール導体用の孔を所定のパターンで形成する。ビアホール導体15は、セラミックグリーンシート111Aを上下に貫通するビアホール導体であるため、ビアホール導体用孔を所定のパターンで形成した後、図3に示すように、このビアホール導体用孔に導電性ペーストを充填してビアホール導体部115を形成する。ビアホール導体部115を形成した後、導電性ペーストを印刷して所定のパターンでライン導体部114を形成し、ビアホール導体部115とライン導体部114を図3に示すように接続する。ここでは、放熱用ビアホール導体17及び放熱用連続ビアホール導体18を形成する場合について説明する。
セラミックグリーンシート111Aにビアホール導体用孔を形成する場合には、例えばキャリアフィルム100側からレーザ光を照射してビアホール導体用孔を形成する方法と、グリーンシート111A側からレーザ光を照射してビアホール導体用孔を形成する方法がある。
本実施形態では、キャリアフィルム100側からレーザ光を照射する方法を用いる。そこで、この方法について図2の(a)〜(f)に基づいて説明する。この方法では、図2の(a)に示すようにキャリアフィルム100をレーザ光Lの光源側に向けて配置する。
次いで、図2の(b)に示すようにレーザ光Lをキャリアフィルム100に照射し、レーザ光Lをキャリアフィルム100及びセラミックグリーンシート111Aを貫通させて略逆円錐台状のビアホール導体用孔Hを形成する。引き続き、レーザ光Lを図2の(b)に示す位置から右方へ移動させて放熱用連続ビアホール導体18となる部分を形成する。レーザ光Lの移動距離は、加工後のビアホール導体用孔にレーザ光Lが部分的に掛かる程度の距離に予め設定しておく。レーザ光Lが移動する度にキャリアフィルム100を貫通すると共にセラミックグリーンシート111Aに逆円錐台状の孔Hを形成する。レーザ光Lを移動させる度に、同図に(c)に示すようにキャリアフィルム100及びセラミックグリーンシート111Aを貫通する逆円錐台状の孔Hが連続する孔H’ができ、最終的には同図の(d)に示すように筋状の孔H”ができる。
この時、筋状の孔H”の加工上、セラミックグリーンシート111Aの厚みが5〜250μm、キャリアフィルムの厚みが25〜100μmであることが好ましい。これらの厚みが上記厚みより厚いと筋状のH”が形成し難くなる。筋状の孔H”の幅は、30〜500μmの範囲が好ましい。30μm未満では放熱効果が低下し、500μmを超えると筋状の孔H”内への導電性ペーストの充填が難しくなる。
然る後、キャリアフィルム111A側からセラミックグリーンシート111Aに形成された筋状の孔H”内に、AgまたはCuを主成分とする導電性ペーストを充填し、余分な導電性ペーストをキャリアフィルム100から除去して、図2の(e)に示すように放熱用ビアホール導体部117及び放熱用連続ビアホール導体部118を連続して形成する。
そして、セラミックグリーンシート111Aを上向きにし、導電性ペーストをスクリーン印刷法等により所定のパターンで印刷して放熱用ビアホール導体部117及び放熱用連続ビアホール導体部118を導体膜部119で被覆する。これによって放熱用ビアホール導体部117及び放熱用連続ビアホール導体部118が導体膜部119と一体化する。導体膜部119は、図1の(b)に示すようにこれらのビアホール導体部117、118の周縁領域を含む広さに形成する。導体膜部119がビアホール導体部117、118と一体化することで、これらのビアホール導体部117、118が形成されたシートを取り扱う時にビアホール導体部117、118がセラミックグリーンシート111Aから脱落することがなく、シートの取り扱いが容易になると共に不良品率の発生を防止することができる。キャビティ10Aを形成する部分のセラミックグリーンシートにはビアホール導体部やライン導体部を形成した後、キャビティ10Aの大きさに見合った孔を開けて、図3に示すようにキャビティ部分のセラミックグリーンシートを作製する。
放熱用ビアホール導体部117、放熱用連続ビアホール導体部118、導体膜部119及び他のビアホール導体部やライン導体部が形成されたシートを所定枚数作製した後、これらのセラミックグリーンシート111Aを図3に示すように下側から上方に向けて所定の順序で積層し、所定の圧力で圧着して生の積層体を作製する。
その後、個々の多層配線基板に分割するためのブレイク溝を生の積層体の表面に形成した後、生の積層体を1050℃以下の所定の温度で焼成して焼結体を得る。この焼結体にメッキ処理を施した後、第1、第2、第3の電子部品51、52、53を搭載する。更に、焼結体をブレイク溝に従って分割することによって、第1、第2、第3の電子部品51、52、53を搭載した本実施形態の多層配線基板10を複数個同時に得ることができる。
以上説明したように本実施形態によれば、複数のセラミック層11Aを積層してなる積層体11と、この積層体11の側面に形成された端子電極13と、を備え、更に、積層体11に搭載される第1、第2、第3の電子部品51、52、53に接続するために積層体11の上面からその内部の複数のセラミック層11Aを貫通する放熱用ビアホール導体17と、この放熱用ビアホール導体17に接続され且つ積層体11内で放熱用ビアホール導体17と端子電極13とを接続するように一つのセラミック層11A内で面方向にビア導体が連設されてなる連続ビアホール導体18と、を備えているため、放熱用連続ビアホール18の伝熱断面積が大きく、第1、第2、第3の電子部品51、52、53からの熱を効率よく端子電極13まで導き、端子電極13から外部へ効率よく放熱することができる。例えば、放熱用ビアホール導体17の直径が100μm、放熱用連続ビアホール導体18の幅が75μm、セラミック層11Aの厚さが25μmの時、電子部品の温度が約68℃まで低下した。これに対して、従来の印刷による導体パターンの場合には同一の電子部品でその温度が約80℃であった。従って、本実施形態の場合には従来の場合よりも約12℃温度が低下し、放熱特性が向上した。
また、本実施形態によれば、セラミック層11Aの放熱用連続ビアホール導体18が形成されている領域が導体膜19によって被覆されているため、導体膜19からも放熱することができ、更に放熱特性を向上させることができる。また、導電性ペーストによって放熱用ビアホール導体用孔及び放熱用連続ビアホール用孔からなる筋状の孔H”を被覆する導体膜部119をセラミックグリーンシート111Aに形成するため、シートを取り扱う時に、ビアホール導体部117、118がセラミックグリーンシート111Aから脱落することがなく、シートの取り扱いが容易になると共に不良品率の発生を防止することができる。
また、本実施形態によれば、放熱用連続ビアホール導体18は、セラミック層11Aを介して上下に配置されているため、必要に応じて連続ビアホール導体18を増やして放熱効率を高めることができる。また、放熱用ビアホール導体17のセラミック層11Aでの軸芯方向の断面積が放熱用連続ビアホール導体18のセラミック層11Aでの軸芯方向の断面積より大きく形成されているため、放熱用ビアホール導体17に対して放熱用連続ビアホール導体18を容易且つ確実に接続することができる。また、第1、第2、第3の電子部品51、52、53の外部端子電極が上下面に露出した放熱用ビアホール導体17に接続されているため、各電子部品の狭ピッチ化に対応することができる。また、積層体11がキャビティ10Aを有するため、キャビティ10A内に第3の電子部品53を搭載することができ、電子部品の集積度を高めることができる。また、多層配線基板10が小型化してキャビティ10Aの周囲の桟部の幅が狭くなっても、放熱用連続ビアホール18をキャビティ10A以外の部分で外部へ引き出すことができ、放熱効率を低下させることがない。
第2の実施形態
本実施形態の多層配線基板10Aは、図4に示すように放熱用連続ビアホール導体18Aが第1の実施形態と異なること以外は第1の実施形態に準じて構成されている。従って、ここでは放熱用連続ビアホール導体18Aを中心に説明し、その他の部分には第1の実施形態と同一または相当部分には同一符号を付してその説明を省略する。
本実施形態における放熱用連続ビアホール導体18Aは、図4に示すようにセラミック層11Aを貫通せず、セラミック層11Aの半分位の厚みに形成されている。この放熱用連続ビアホール導体18Aは、第1の実施形態と比較して使用金属量が少ないため、放熱量が少なくなる。従って、この放熱用連続ビアホール導体18Aは、第1の実施形態で使用される電子部品より放熱量が少ない場合に適用される。本実施形態でも放熱用連続ビアホール導体18Aが上下二段に渡って設けられているが、一段であっても良く、また、必要に応じて三段以上設けても良い。
本実施形態の放熱用ビアホール導体18Aを形成する場合には、例えば図5の(a)〜(f)に示すように形成する。セラミックグリーンシート111Aは第1の実施形態と同一要領で作製する。そして、図5の(a)に示すようにセラミックグリーンシート111をレーザ光Lの光源側に向けて配置する。更に、図5の(b)に示すようにレーザ光Lをセラミックグリーンシート111Aに向けて照射し、レーザ光Lをセラミックグリーンシート111A及びキャリアフィルム100を貫通させて略逆円錐台状のビアホール導体用孔Hを形成する。引き続き、レーザ光Lの照射エネルギーを、セラミックグリーンシート111を貫通しない程度の照射エネルギーに小さくして、レーザ光Lを図5の(b)に示す位置から右方へ移動させて、同図の(c)に示すように断面が逆円錐台状の溝Pを形成する。最終的には同図の(d)に示すように細長い溝P’が形成される。最後に照射エネルギーを元に戻してキャリアフィルム100をも貫通する孔Hを形成する。
次いで、同図の(e)に示すように、これらのビアホール導体用孔H、溝P’内に導電性ペーストを充填し、放熱用ビアホール導体部117及び放熱用連続ビアホール導体部118Aを形成し、更に同図に(f)に示すようにセラミックグリーンシート111A上に導電性ペーストをスクリーン印刷法等により所定のパターンで印刷して導体面部119を形成する。
後は第1の実施形態と同一の要領でビアホール導体部、ライン導体部を有する複数のセラミックグリーンシートを必要に応じて作製した後、これらのセラミックグリーンシートを積層し、所定の圧力で圧着して生の積層体を作製する。その後、個々の多層配線基板に分割するためのブレイク溝を生の積層体の表面に形成した後、生の積層体を1050℃以下の所定の温度で焼成して焼結体を得る。この焼結体にメッキ処理を施した後、焼結体を分割して本実施形態の多層配線基板10Aを複数個同時に得ることができる。
従って、本実施形態によれば、放熱用連続ビアホール導体18Aがセラミック層11Aを貫通していないため、放熱効率は低下するが、従来と比較すれば放熱効率は格段に向上する。
第3の実施形態
本実施形態の多層配線基板は、図6に示すようにセラミック層11B及び放熱用連続ビアホール導体18Bが第1の実施形態と異なること以外は第1の実施形態に準じて構成されている。従って、ここでは放熱用連続ビアホール導体18Bを中心に説明し、その他の部分には第1の実施形態と同一または相当部分には同一符号を付してその説明を省略する。
本実施形態では図6に示すように放熱用連続ビアホール導体18Bが形成されたセラミック層11Bが他のセラミック層11Aよりも薄く形成されている。この放熱用連続ビアホール導体18Bはセラミック層11Bを貫通して形成されている。このような構成により、第2の実施形態と同様の作用効果を期することができる。
尚、本発明は上記各実施形態に何等制限されるものではない。例えば、上記各実施形態では端子電極13がビアホール導体を半分した形態になっているが、平板状の電極であっても良い。また、放熱用ビアホール導体17は第1、第2、第3電子部品51、52、53に直接接続されているが、スペース的に余裕があれば放熱用ビアホール導体17の上端面に接続ランドとなる表面電極を設けても良い。図示してないがビアホール導体15についても放熱用ビアホール導体17と同様のことが云える。また、放熱用ビアホール導体や放熱用連続ビアホール導体は回路パターンとしても使用することができ、この場合には回路パターンの抵抗損失を低減することができる。また、上記実施形態では、連続ビアホール導体と端子電極が接続しているが、連続ビアホール導体を複数のシートを積層方向に貫通するビアホール導体を介して表面電極と接続しても良い。
本発明は、種々の電子部品を搭載するための多層配線基板として好適に利用することができる。

Claims (19)

  1. 複数の基材層を積層してなる積層体と、この積層体の側面に形成された端子電極と、を備えた多層配線基板であって、上記積層体の一方及び/または他方の主面から、その内部の上記複数の基材層のうち、上記主面を含む基材層より内側にある少なくとも一層の基材層を貫通するまで延びる、上記積層体に搭載される電子部品に接続するためのビアホール導体と、このビアホール導体と上記端子電極とに接続され且つ上記主面を含む基材層より内側にある上記少なくとも一層の基材層内で面方向に導体が連設されてなり、上記積層体に搭載される電子部品に上記ビアホール導体を介して接続される連続ビアホール導体と、を備えたことを特徴とする多層配線基板。
  2. 上記連続ビアホール導体が同一の上記基材層に複数形成されていることを特徴とする請求項1に記載の多層配線基板。
  3. 上記基材層の上記連続ビアホール導体が形成されている領域が導体膜によって被覆されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の多層配線基板。
  4. 上記導体膜は、複数の上記連続ビアホール導体に跨るように形成されていることを特徴とする請求項3に記載の多層配線基板。
  5. 上記導体膜は、上記連続ビアホール導体と電気的に導通していることを特徴とする請求項3または請求項4に記載の多層配線基板。
  6. 上記連続ビアホール導体は、少なくとも一つの上記基材層を介して上下に配置されていることを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載の多層配線基板。
  7. 上記連続ビアホール導体は、他の基材層よりも薄い基材層に形成されていることを特徴とする請求項1〜請求項6のいずれか1項に記載の多層配線基板。
  8. 上記連続ビアホール導体は、基材層を貫通することを特徴とする請求項1〜請求項6のいずれか1項に記載の多層配線基板。
  9. 上記連続ビアホール導体は、基材層を貫通しないことを特徴とする請求項1〜請求項6のいずれか1項に記載の多層配線基板。
  10. 上記ビアホール導体の上記基材層での軸芯方向の断面積は、上記連続ビアホール導体の上記基材層での軸芯方向の断面積より大きく形成されていることを特徴とする請求項1〜請求項9のいずれか1項に記載の多層配線基板。
  11. 記電子部品の外部端子電極が上記積層体の主面に露出した上記ビアホール導体に接続されていることを特徴とする請求項1〜請求項10のいずれか1項に記載の多層配線基板。
  12. 上記積層体は、一方の主面にキャビティを有することを特徴とする請求項1〜請求項11のいずれか1項に記載の多層配線基板。
  13. 上記基材層は、低温焼結セラミック材料からなることを特徴とする請求項1〜請求項12のいずれか1項に記載の多層配線基板。
  14. 複数の基材層を積層してなる積層体と、この積層体の側面に形成された端子電極と、を備えた多層配線基板を製造するに際し、
    上記複数の基材層のうち、上記積層体の一方及び/または他方の主面を含む基材層以外の少なくとも一層の基材層に、その基材層を上下に貫通する貫通孔と、この貫通孔から複数連続する第2貫通孔または半貫通孔とを上記基材層の面方向へ延びるように形成する第1の工程と、
    上記貫通孔及び上記第2貫通孔または上記半貫通孔に導電性材料を充填することにより、ビアホール導体及びこのビアホール導体を介して上記積層体に搭載される電子部品に接続するための連続ビアホール導体を形成する第2の工程と、
    上記貫通孔に連なるように少なくとも上記主面を含む基材層に上下方向に形成された第3の貫通孔に上記導電性材料を充填することにより、上記ビアホール導体と上記積層体に搭載される電子部品とを接続するためのビアホール導体を上記少なくとも一層の基材層から上記主面まで形成する第2Aの工程と、を備えた
    ことを特徴とする多層配線基板の製造方法。
  15. 上記導電性材料によって上記貫通孔、及び上記第2貫通孔または上記半貫通孔を被覆する導体膜を上記基材層上に形成する第3の工程を備えたことを特徴とする請求項14に記載の多層配線基板の製造方法。
  16. 上記第1の工程では、上記基材層にレーザを照射することにより、上記貫通孔、及び上記第2貫通孔または上記半貫通孔を形成することを特徴とする請求項14または請求項15に記載の多層配線基板の製造方法。
  17. 上記基材層は、キャリアフィルムによって支持されており、キャリアフィルム側からレーザを照射することにより、上記貫通孔を形成することを特徴とする請求項14〜請求項16のいずれか1項に記載の多層配線基板の製造方法。
  18. 上記基材層は、キャリアフィルムによって支持されており、上記基材層側からレーザを照射することにより、上記貫通孔及び半貫通孔を形成することを特徴とする請求項14〜請求項16のいずれか1項に記載の多層配線基板の製造方法。
  19. 上記第1、第2の工程における基材層は、未焼成のセラミックシートであり、この基材層を含む未焼成の積層体を作製した後、上記未焼成の積層体を焼成する第4の工程を備えたことを特徴とする請求項14〜請求項18のいずれか1項に記載の多層配線基板の製造方法。
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