JP4756819B2 - 走査型顕微鏡システム - Google Patents

走査型顕微鏡システム Download PDF

Info

Publication number
JP4756819B2
JP4756819B2 JP2003360760A JP2003360760A JP4756819B2 JP 4756819 B2 JP4756819 B2 JP 4756819B2 JP 2003360760 A JP2003360760 A JP 2003360760A JP 2003360760 A JP2003360760 A JP 2003360760A JP 4756819 B2 JP4756819 B2 JP 4756819B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scanning
image
optical
sample
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2003360760A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005128086A (ja
JP2005128086A5 (ja
Inventor
伸二 本村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP2003360760A priority Critical patent/JP4756819B2/ja
Priority to US10/968,698 priority patent/US7253420B2/en
Publication of JP2005128086A publication Critical patent/JP2005128086A/ja
Publication of JP2005128086A5 publication Critical patent/JP2005128086A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4756819B2 publication Critical patent/JP4756819B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/16Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Description

本発明は、走査型顕微鏡に光学顕微鏡を備えた走査型顕微鏡システムに関し、特に、予め、光学顕微鏡によって、走査型顕微鏡を用いて観察する領域を自動的に選定してから走査型顕微鏡による観察を行う走査型顕微鏡システムに関する。
従来、神経細胞を解析する場合、試料中に広範囲に分散する神経細胞を時系列で観察する観察手法が用いられてきた。具体的には、試料上に分散した数百系統の神経細胞の中から観察対象となる神経細胞を抽出して時間の経過に沿って観察や実験を行い、その結果をまとめて統計データを基に解析を行うものである。また、試料上に分散する神経細胞の存在する領域を電動ステージによって移動させながら時系列で観察する多点タイムラプスシステムも行われている。
また、異なる蛍光色素により多重染色された試料を複数の励起波長で励起し、発生した複数の蛍光を複数の光検出器で検出する走査型光学顕微鏡が、特許文献1に開示されている。通常の顕微鏡の光路中にスリットパターン等の透過部分を設けたディスクを挿入し、これを回転させて共焦点効果を生じさせるディスク回転型共焦点顕微鏡が、特許文献2に開示されている。
特許第2824462号公報 特開2003−5078号公報
しかしながら、従来のように走査型顕微鏡を用いて神経細胞を観察する場合は、神経細胞が試料の中に分散して存在するため、神経細胞の位置を特定して観察目的に合ったレーザ光源を選定し、神経細胞の画像を取得するまでに数日から1週間ほどの時間が必要であった。また、走査型顕微鏡ではレーザ光を用いて神経細胞が存在する領域をスクリーニングするため、神経細胞を観察するまでに蛍光が退色するという問題が存在する。さらに、長時間繰り返し観察を行うため、顕微鏡の光源等の熱により顕微鏡本体がたわみ、電動ステージを繰り返して移動させると、移動による誤差が蓄積され、観察位置がずれてしまうということも問題であった。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、観察対象が存在する領域の正確な位置を速やかに特定し、観察対象の鮮明な走査画像を得ることができる走査型顕微鏡システムを提供することにある。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る走査型顕微鏡システムは、試料をレーザ光で点走査して得られる光を受光器で受光して走査画像を形成する点走査型観察部と、試料からの光を2次元撮像素子で撮像する光学顕微鏡観察部とを備えた走査型顕微鏡システムであって、前記光学顕微鏡観察部の光源から試料に励起光を照射し、前記試料が発する蛍光を受光して光学画像を取得する光学画像取得手段と、前記光学画像取得手段が前記試料中の複数箇所で取得した各光学画像にもとづいて前記試料を複数のブロックに分け、該複数のブロックの各々が前記走査画像の取得対象とすべき走査領域であるか否かを前記光学画像での画素群の輝度値をもとに前記ブロック毎に判断して、前記試料での前記走査領域の分布を示す走査マップを作成する走査マップ作成手段と、前記走査マップ作成手段が作成した走査マップで定められる前記走査領域に対して前記点走査型観察部のレーザ光源から励起光を照射し、前記試料が発する蛍光を受光して走査画像を取得する走査画像取得手段と、を備えることを特徴とする。
本発明に係る走査型顕微鏡システムは、上記の発明において、前記ブロックは、前記光学顕微鏡観察部および前記点走査型観察部が取得できる画像のサイズに対応した領域であることを特徴とする。また、本発明に係る走査型顕微鏡システムは、上記の発明において、前記走査マップ作成手段は、前記輝度値が所定の閾値以上となる画素を所定数以上含むブロックを前記走査領域として選定することを特徴とする。
また、本発明に係る走査型顕微鏡システムは、上記の発明において、前記光学画像取得手段は、前記光学顕微鏡観察部の光源としてハロゲンランプまたはキセノンランプを含む白色光源を用いて前記光学画像を取得することを特徴とする。また、本発明に係る走査型顕微鏡システムは、上記の発明において、前記光学画像取得手段は、前記光学顕微鏡観察部の光路の共焦点位置に複数のピンホールまたは複数のスリットが形成された回転ディスクを挿入し、共焦点方式を用いて前記光学画像を取得することを特徴とする。
また、本発明に係る走査型顕微鏡システムは、上記の発明において、前記光学画像は、焦点位置を前記試料の深さ方向に移動させて撮像した複数枚の共焦点画像を積層して形成した立体画像であることを特徴とする。また、本発明に係る走査型顕微鏡システムは、上記の発明において、前記走査マップ作成手段は、前記立体画像を構成する画素群の輝度値をもとに前記走査領域を選定することを特徴とする。
また、本発明に係る走査型顕微鏡システムは、上記の発明において、前記光学画像は、前記立体画像を構成する前記試料の深さ方向に積層された複数枚の共焦点画像における深さ方向の各画素群から最も高い輝度値を有する画素によって形成された2次元輝度画像であることを特徴とする。
また、本発明に係る走査型顕微鏡システムは、上記の発明において、前記光学画像取得手段は、前記試料に複数の励起光を照射し、前記試料が発する蛍光を受光して前記励起光に対応した前記光学画像を取得し、前記走査マップ作成手段は、前記励起光に対応した前記光学画像から前記走査領域と前記走査領域群に照射する1以上の前記励起光とを関連付けることを特徴とする。
また、本発明に係る走査型顕微鏡システムは、上記の発明において、前記光学画像取得手段が取得する画像サイズは、前記走査領域の大きさとほぼ等しいかまたは複数の走査領域を含む大きさであることを特徴とする。また、本発明に係る走査型顕微鏡システムは、上記の発明において、前記走査マップ作成手段は、走査領域として選定されたブロックの縁部まで前記輝度値が確認された場合、その走査領域の隣のブロックも走査領域として選定することを特徴とする。
また、本発明に係る走査型顕微鏡システムは、上記の発明において、前記走査マップ作成手段は、前記光学画像取得手段により取得された前記深さ方向の異なる複数毎の共焦点画像のそれぞれに対して、画像を構成する画素群の輝度値をもとに前記走査領域を選定することにより、走査領域選定を3次元的におこなうことを特徴とする。また、本発明に係る走査型顕微鏡システムは、上記の発明において、前記光学画像の画像情報またはその取得条件にもとづいて、前記点走査型観察部による走査画像の取得条件を設定することを特徴とする。
また、本発明に係る走査型顕微鏡システムは、上記の発明において、前記光学画像の画像情報またはその取得条件は当該光学画像の輝度値または撮像露光時間であり、前記走査画像の取得条件は前記走査画像取得手段において前記蛍光を受光する光電変換器の感度であることを特徴とする。
本発明にかかる走査型顕微鏡システムは、予め光学顕微鏡観察部の白色光源から出力された励起光を用いて試料をスクリーニングし、観察対象の存在する領域を選定した後に、その選定領域のみを点走査型観察部のレーザ光源からの励起光を用いて蛍光観察するため、速やかに鮮明な走査型顕微鏡による走査画像を取得できるという効果を奏する。
以下に図面を参照して、本発明にかかる走査型顕微鏡システムの実施の形態について説明する。なお、この実施の形態によってこの発明が実施の形態、あるいは生物または医学分野における細胞等の生物標本の観察に限定されるものではなく、工業製品の検査などの他の用途にも使用できるものである。
(実施の形態1)
この実施の形態1は、光学顕微鏡を用いて画像を取得し、取得した画像を構成する画素群の輝度が高い領域を、観察対象が存在する領域として登録し、この登録した領域を走査型顕微鏡で観察するものである。
図1は、本発明にかかる走査型顕微鏡システムの実施の形態1の構成を示すブロック図である。走査型顕微鏡システム1は、顕微鏡本体2の光路が光路切り替え装置3によって光学顕微鏡観察部4と点走査型観察部5とに接続され、顕微鏡本体2、光学顕微鏡観察部4、および点走査型観察部5が、モニタ8を有したコンピュータ6に接続されて制御される。
コンピュータ6は、制御部61、顕微鏡本体制御部62、光路切り替え制御部63、光学顕微鏡観察部制御部64、走査マップ作成部66、走査マップ検索部67、点走査型観察部制御部68、光学顕微鏡観察部4に接続されたA/D入力CH71、点走査型観察部5に接続されたA/D入力CH72、メモリ73、画像処理部74、および画像形成部83を備える。制御部61は、顕微鏡本体制御部62、光路切り替え制御部63、光学顕微鏡観察部制御部64、走査マップ作成部66、走査マップ検索部67、点走査型観察部制御部68、画像処理部74、および画像形成部83等を制御する。
顕微鏡本体2は、反射ミラー21、レボルバ22、対物レンズ23、およびXY電動ステージ24等を備え、コンピュータ6の顕微鏡本体制御部62によって制御される。XY電動ステージ24上には、試料25が載置される。
図2−1は、試料25をXY電動ステージ24の上から見た図である。図2−2は、試料25を横から見た図である。試料25は、Z方向にLの厚みがあり、試料25のなかには、観察対象となる数百の神経細胞26が点在し、神経細胞26は、観察目的に従って蛍光色素によって予め染色されている。
光学顕微鏡観察部4を用いて試料25の画像を取得する場合、対物レンズ23の倍率(開口数)に応じた焦点深度があるため、焦点位置の画像だけを鮮明な状態で取得することは難しく、光学顕微鏡観察部4を用いて取得した画像は、焦点以外の部分のぼけた成分が含まれた像となる。
光学顕微鏡観察部4または点走査型観察部5から入射される光は、反射ミラー21を経由してレボルバ22に取り付けられた対物レンズ23を介し、XY電動ステージ24上に載置された試料25に照射される。試料25に励起光が照射されると、試料25中の観察対象となる神経細胞26は蛍光を発する。
試料25から発せられる蛍光は、入射光路を逆に辿り、対物レンズ23、および反射ミラー21を介して光路切り替え装置3によって光学顕微鏡観察部4または、点走査型観察部5へと導かれる。光路切り替え装置3は、光路に挿入可能なミラー31を備え、コンピュータ6の光路切り替え制御部63によってミラー31の出し入れを制御する。光路切り替え装置3の中の光路にミラー31を挿入すると、顕微鏡本体2の光路は点走査型観察部5に接続され、ミラー31を抜くと顕微鏡本体2の光路は光学顕微鏡観察部4に接続される。
顕微鏡本体制御部62は、顕微鏡本体2のレボルバ22、XY電動ステージ24などの準焦部を電動で制御して焦点を合わせる。例えば、レボルバ22に取り付けられた対物レンズ23をZ方向に移動させてZ方向の焦準を合わせ、XY電動ステージ24をXY方向に移動させて観察者が指定した範囲の画像を取得する。光学顕微鏡観察部4のCCDカメラ44を用いて画像を取得するとき、および点走査型観察部5を用いて画像を取得するときは、同じ倍率の対物レンズ23を用い、略同じサイズの画像を取得する。
光学顕微鏡観察部4は、ハロゲンランプ光源41、励起フィルタ42、ダイクロイックミラー43、およびCCDカメラ44等を備え、コンピュータ6の光学顕微鏡観察部制御部64によって制御される。ハロゲンランプ光源41は、白色光源である。なお、光学顕微鏡観察部制御部64の光源は、ハロゲンランプに限らず、キセノンランプ等の白色光源を用いてもよい。励起フィルタ42は、ハロゲンランプ光源41から発された白色光の中から試料25を染色した蛍光を励起する波長の光を抽出する。ダイクロイックミラー43は、励起フィルタ42によって抽出された光を光路切り替え装置3に入射させる。
試料25から発せられた蛍光および反射光は、ダイクロイックミラー43を透過してCCDカメラ44に受光される。CCDカメラ44は、試料25から発せられる光量を電荷として蓄積する光電変換器である。
CCDカメラ44が蓄積した電荷は、A/D入力CH71によってデジタルの電気信号に変換され、メモリ73の光学画像情報76の各ブロックに順に格納される。図3は、光学画像情報76および光学画像情報76を構成する1つのブロックを拡大して模式的に示した図である。CCDカメラ44を用いて撮像された画像は、光学画像情報76の1つのブロックに格納される。XY電動ステージ24を制御しながら試料25を端から順に撮像すると、図3に示すような広域の光学画像情報76が取得できる。
光学画像情報76の各ブロックのサイズは、光学顕微鏡観察部4または点走査型観察部5によって取得される画像サイズX11である。図3に示したブロックの拡大図では、輝度の高い画素を○で表し、輝度の低い画素を●で表している。神経細胞26の存在する部分は輝度が高いので○で表され、神経細胞26のない部分は、輝度が低くので●で模式的に表している。
メモリ73には、光学画像情報76、光学画像情報76から作成した走査マップ77、走査画像情報79、輝度値/電圧変換テーブル81、および露光時間/電圧変換テーブル82等が格納される。
画像処理部74は、制御部61を介してメモリ73の光学画像情報76または走査画像情報79から画像を構築してモニタ8に表示する。光学画像情報76は、光学顕微鏡観察部4からA/D入力CH71を介して取得したブロック単位の画像データおよびブロック単位の画像データを合わせたものであり、走査画像情報79は、点走査型観察部5のフォトマルチプライヤ56からA/D入力CH72を介して出力される出力信号と走査ユニット53からの走査位置情報とをもとに画像形成部83が形成した画像データである。
輝度値/電圧変換テーブル81は、光学顕微鏡観察部4によって取得した光学画像情報76から、点走査型観察部5のフォトマルチプライヤ56の電圧を設定するために設けた変換テーブルである。露光時間/電圧変換テーブル82は、CCDカメラ42の自動露光設定機能を使用して画像を取得したとき、CCDカメラ42の露光時間から点走査型観察部5のフォトマルチプライヤ56の電圧を設定するために設けた変換テーブルである。
走査マップ作成部66は、制御部61を介し、メモリ73にある光学画像情報76のブロック内の画素の中のうち、閾値以上の輝度値を有する画素数、たとえば○で示される画素数をカウントし、閾値以上の輝度値を有する画素がブロック内に所定数以上あれば、そのブロックを、神経細胞26が存在するブロックとして設定する。すなわち、走査マップ作成部66は、神経細胞26の存在するブロックをスクリーニングし、ブロックの位置情報が記憶された走査マップ77を作成する。
図4−1は、走査マップ作成部66によるスクリーニングを示す図である。図4−2は、観察対象となる神経細胞26の存在するブロックを斜線で示した図である。図4−3は、走査マップ77の一例を示す図である。
走査マップ作成部66は、図4−1に示すように、光学顕微鏡観察部4のCCDカメラ44を用いてブロック単位で光学画像情報76のX方向に右から左へと順に光学画像情報76を取得し、取得した光学画像情報76のブロックが閾値以上の輝度値を有する画素を所定数以上含むかどうかをスクリーニングし、Y方向の1列が終了するとX方向に1つ下がって同様のスクリーニングを繰り返す。図4−2に示すように、例えば、斜線を施したブロックは、閾値以上の輝度値を有する画素を所定数以上含み、観察対象となる神経細胞26が存在すると考えられるので、走査マップ作成部66は、そのブロックの位置に「1」を書き込み、閾値以上の輝度値を有する画素を所定数未満しか含まないブロックの位置に「0」を書き込んで図4−3に示すような走査マップ77を作成する。
このようにして、走査マップ77で「1」が書き込まれたブロックは、点走査型観察部5を用いてさらに詳細な画像を取得するように登録される。また、神経細胞26の軸策は点走査型観察部5で取得できる1ブロック内に神経細胞が納まらない場合があるため、ブロックの縁まで輝度が確認された場合、画素の連結情報によって隣のブロックも点走査型観察部5によって画像を取得するように走査マップ77のブロックの位置に「1」を代入して登録する。
走査マップ検索部67は、光路切り替え制御部63によって光路切り替え装置3の光路にミラー31を挿入し、顕微鏡本体2の光路を点走査型観察部5に接続させ、走査マップ77において「1」が書き込まれたブロックを自動的に探し出し、点走査型観察部5によって「1」が書き込まれたブロックの詳細画像を取得する。
点走査型観察部5は、レーザ光源51、励起波長切り替え用ダイクロイックミラー52、走査ユニット53、複数の測定用ダイクロイックミラー54、およびダイクロイックミラー54に個々に接続される複数のバリアフィルタ55およびフォトマルチプライヤ56等を備え、コンピュータ6の点走査型観察部制御部68によって制御される。
レーザ光源51は、光学顕微鏡観察部4の励起フィルタ42によって抽出された励起光と同じ波長のレーザ光を発するように点走査型観察部制御部68によって制御される。
ダイクロイックミラー52は、レーザ光源51からのレーザ光を反射させて走査ユニット53に入射させる。走査ユニット53は、図示しないX方向走査用のガルバノメータミラーとY方向のガルバノメータミラーを備え、レーザ光源51からの光をコンピュータ6からの走査制御信号によってX方向およびY方向に走査し、X方向の1ラインを走査するたびに走査終了信号をコンピュータ6に出力する。
走査ユニット53によってX方向およびY方向に走査された光は、光路切り替え装置3を介して、スポット光として顕微鏡本体2の試料25に照射される。スポット光の照射によって試料25から発せられる蛍光または反射光は、光路切り替え装置3を介して点走査型観察部5に戻される。
点走査型観察部5に戻された光は、ダイクロイックミラー52を通過し、測定用ダイクロイックミラー54、およびバリアフィルタ55等の測定波長切り替え装置によって観察者が所望する波長の光だけがフォトマルチプライヤ56などの光電変換器に受光される。
フォトマルチプライヤ56等の光電変換器が光量に応じて蓄積した電荷は、A/D入力CH72によってデジタルの電気信号に変換され、画像形成部83によって、フォトマルチプライヤ56の出力信号と走査ユニット53からの走査位置情報とをもとに2次元画像を形成し、メモリ73に走査画像情報79として格納される。画像処理部74は、必要に応じて制御部61を介して走査画像情報79から画像を構築してモニタ8に表示する。
次に、走査マップ77を作成する処理について説明する。図5は、走査マップ77を作成する処理のフローチャートである。走査マップ77を作成する処理は、例えば、神経細胞26の観察を始めるとき、観察者が入力したコマンド等によって制御部61から起動される。走査マップ77を作成する処理が起動されると、始めに、光路切り替え制御部63によって光路切り替え装置3のミラー31を抜き、顕微鏡本体2の光路を光学顕微鏡観察部4に接続する(ステップS501)。
光学顕微鏡観察部制御部64によって、光学顕微鏡観察部4のハロゲンランプ光源44から発された白色光の中から励起フィルタ42によって励起光を抽出し、ダイクロイックミラー41を介して光路切り替え装置3から顕微鏡本体2に入射させる。顕微鏡本体制御部62は、顕微鏡本体2に入射した励起光を制御して、顕微鏡本体2の反射ミラー21を経由させてレボルバ22に取り付けられた対物レンズ23を介してXY電動ステージ24上に載置された試料25に照射する(ステップS502)。
試料25に励起光が照射されると、試料25の中の観察対象となる神経細胞26は蛍光を発する。試料25から発せられた光は、ダイクロイックミラー43を透過してCCDカメラ44に受光される(ステップS503)。CCDカメラ44が光量に応じて蓄積した電荷は、A/D入力CH71によってデジタルの電気信号に変換され、光学画像情報76の1つのブロックに格納される(ステップS504)。全ブロックの処理が終了していない場合(ステップS505,NO)、ステップS502に戻って光学画像情報76の次のブロックの画像を取得する。
全ブロックの画像取得処理が終了すると(ステップS505,YES)、走査マップ作成部66は、ブロック内の画像の画素群のうち閾値以上の輝度値を有する画素数をカウントし(ステップS506)、カウントの結果、そのブロックに閾値以上の輝度を有する画素数が所定数以上含まれている場合(ステップS507,YES)、走査マップ77の該当するブロックの位置に「1」を代入して、点走査型観察部5による観察を行うように登録する(ステップS508)。閾値以上の輝度を有する画素数が所定数未満である場合(ステップS507,NO)、走査マップ77の該当するブロックの位置に「0」を代入する(ステップS509)。
ここで、観察対象が神経細胞26であり、ブロックの縁まで輝度が確認された場合、画素の連結情報によって隣のブロックも点走査型観察部5による観察対象として走査マップ77の該当するブロックの位置に「1」を代入して、点走査型観察部5による観察を行うように登録してもよい。
全ブロックの処理が終了している場合(ステップS510,NO)、次のブロックについて(ステップS511)、ステップS506に戻って同様の処理を繰り返す。全ブロックの処理が終了すると(ステップS510,YES)、走査マップ77を作成する処理は終了する。
図6は、走査マップ77の作成処理の変形例を示すフローチャートである。ステップS601からステップS604までの処理は、光学画像情報76の1つのブロックの画像を取得するステップS501からステップS504と同じ処理であり、ステップS605からステップS610までの処理は、画像を取得した光学画像情報76の1つのブロックを走査マップ77へ登録するか否かを決定するステップS506からステップS511と同じ処理である。走査マップ77を作成する第2の処理では、光学画像情報76の1つのブロックの画像を取得した後、連続して画像を取得したブロックを走査マップ77へ登録するか否かの決定を行うものである。走査マップ77は、図5または図6のいずれの処理を用いて作成してもよい。
点走査型観察部5によって時系列で神経細胞26を観察する場合、走査マップ77の作成が終了すると、タイマ等によって設定された時間が経過する度に走査マップ77を検索する処理が起動される。
続いて、走査マップ77を検索する処理について説明する。図7は、走査マップ77を検索する処理のフローチャートである。走査マップ77を検索する処理は、例えば、時系列で神経細胞26を観察する場合、タイマ等によって設定された時間が経過する度に制御部61によって起動される。始めに、光路切り替え制御部63によって光路切り替え装置3のミラー31を挿入し、顕微鏡本体2の光路を点走査型観察部5に接続する(ステップS701)。
次に、走査マップ77検索部67によって、走査マップ77を順に検索する。走査マップ77の該当するブロックの位置が「1」であれば(ステップS702,YES)、走査光学顕微鏡観察部制御部64によって点走査型観察部5のレーザ光源51から発射された光学顕微鏡観察部4の励起フィルタ42によって抽出された励起波長と同じ波長のレーザ光を走査ユニット53によってX方向およびY方向に走査し、光路切り替え装置3を介してスポット光として顕微鏡本体2の試料25に照射する(ステップS703)。
スポット光の照射によって試料25から発せられる蛍光または反射光は、光路切り替え装置3を介して点走査型観察部5へ戻される。点走査型観察部5へ戻った光は、ダイクロイックミラー52を通過し、測定用ダイクロイックミラー54、およびバリアフィルタ55等の測定波長切り替え装置によって観察者が所望する波長の光に限定されてフォトマルチプライヤ56などの光電変換器に受光される(ステップS704)。
フォトマルチプライヤ56が光量に応じて蓄積した電荷は、A/D入力CH72によってデジタルの電気信号に変換され、画像形成部83によって、フォトマルチプライヤ56の出力信号と走査ユニット53からの走査位置情報とをもとに2次元画像を形成してメモリ73に走査画像情報79として格納される(ステップS705)。
画像処理部74は、制御部61を介して走査画像情報79から画像を構築し、モニタ8に表示する(ステップS706)。全ブロックの処理が終了していなければ(ステップS707,NO)、走査マップ77の次のブロックを取り出し(ステップS708)、ステップS702に戻って同様の処理を繰り返す。全ブロックの処理が終了すれば(ステップS707,YES)、走査マップ77を検索する処理は終了し、タイマ等によって設定された時間が経過すると再び起動される。
なお、実施の形態1では、ステップS504およびステップS604にあるようにCCDカメラ44が光量に応じて蓄積した電荷を、光学画像情報76の1つのブロックに格納するようにしているが、CCDカメラ44によって撮像される画像サイズは、光学画像情報76の1つのブロックに限定されない。複数のブロック、例えば3または4個くらいのブロックをまとめて撮像し、光学画像情報76にまとめて格納して各ブロックをスクーリングしてもよい。
以上詳細に説明したように、実施の形態1によれば、光学顕微鏡観察部4を用いて取得した光学画像情報76のブロックのうち、閾値以上の輝度を有する画素が所定数以上あるブロックを走査マップ77に登録し、走査マップ77に登録されたブロックの走査画像情報79をタイマ等によって自動的に取得しているので、観察試料上に点在する数百もの神経細胞26の中から観察目的に合致する神経細胞26を自動的に点走査型観察部5によって詳細に観察することができる。そのため、観察者の負担は軽減され、観察時間を短縮することができる。また、光学顕微鏡観察部4によるスクリーニング時にハロゲン光等の白色光を使用しているので、スクーリングによる蛍光の退色が少なく鮮明な走査画像情報79を得ることができる。
なお、実施の形態1では、予め光学顕微鏡観察部4のCCDカメラ44を用いて光学画像情報76を取得しているので、その後、点走査型観察部5を用いて走査画像情報79を取得するときの条件設定に、光学顕微鏡観察部4によって取得した光学画像情報76を利用することができる。
つまり、予め光学顕微鏡観察部4により取得した光学画像情報76またはその撮像条件に基づいて、点走査型観察部5のフォトマルチプライヤ56などの光電変換器の電圧を設定すれば、フォトマルチプライヤ56を最適な電圧に設定することができる。図8−1は、輝度値/電圧変換テーブル81の例である。輝度値/電圧変換テーブル81によって横軸の光学顕微鏡観察部4により取得した光学画像情報76の輝度値から縦軸のフォトマルチプライヤ56の電圧を求めれば、点走査型観察部5で画像を取得する際、フォトマルチプライヤ56を駆動するのに最適な電圧を自動的に設定することができる。このとき、光学画像情報76の画像取得条件を揃えるため、CCDカメラ44の電荷蓄積時間を一定にして光学画像情報76を取得する。
同様に、CCDカメラ44の有する自動露光時間設定機能によって設定された各ブロックの露光時間より点走査型観察部5のフォトマルチプライヤ56の電圧を設定する。図8−2は、露光時間/電圧変換テーブル82の例である。露光時間/電圧変換テーブル82によって、横軸のCCDカメラ44の自動露光時間から縦軸のフォトマルチプライヤ56の電圧を求めれば、点走査型観察部5で画像を取得する際、フォトマルチプライヤ56を駆動するのに最適な電圧を自動的に設定することができる。このようにして求めたフォトマルチプライヤ56の電圧を各ブロックの位置情報と共にメモリに記憶する。
また、光学顕微鏡観察部4で取得した光学画像情報76のブロック内の閾値以上の輝度値を有する画素数が、所定の小さい数以下の場合、これをノイズとして除去するようにA/D入力CH72等のゲインおよびオフセット値等を自動的に調整すれば、ノイズの少ない鮮明な走査画像情報79を取得することができる。所定の小さい数とは、ステップS507で観察対象となる神経細胞26が存在すると判断する所定数未満の値である。
(実施の形態2)
実施の形態2は、光学顕微鏡観察部4の光路の共焦点位置に複数のピンホールまたは複数のスリットが形成されたディスクを挿入し、これを回転させてZ方向の焦点を移動させながら共焦点画像を複数枚取得し、取得した複数枚の共焦点画像をZ方向に積層させて立体画像を作成し、立体画像に基づいて観察対象が存在する領域をスクリーニングして点走査型観察部5で観察する領域を特定するものである。
図9は、本発明にかかる走査型顕微鏡システム100の実施の形態2の構成を示すブロック図である。図9に示した走査型顕微鏡システム100において、図1に示した実施の形態1の走査型顕微鏡システム1と同一構成部分には同一符号を付している。
図9において、光学顕微鏡観察部40は、実施の形態1の光学顕微鏡観察部4の光路の共焦点位置にスピニングディスク装置45を配置したものである。スピニングディスク装置45は、スリット状の透光部と遮光部とが交互に形成されたスピニングディスク46と、スピニングディスク46を略一定の速度で回転させるモータ47とを備え、光学顕微鏡観察部制御部64によって制御される。スピニングディスク46の代わりに、複数のピンホールが形成されたニポウディスクを用いても同じように共焦点効果が得られる。
光学顕微鏡観察部40のハロゲンランプ光源41から出た光は、励起フィルタ42を通ってスピニングディスク46上に投影される。スピニングディスク46のスリットを通過した光は反射ミラー21によって反射されて対物レンズ23を通過し、試料25上に収束する。
試料25に励起光が照射されると、試料25の中の観察対象となる神経細胞26は蛍光を発する。試料25から発せられる蛍光は、入射光路を逆に辿り、再び、スピニングディスク46のスリットを通過した光のみが、ダイクロイックミラー43を通って、CCDカメラ44上に共焦点画像を形成する。スピニングディスク装置45を使用すると、厚さのある試料25においても共焦点画像情報92を取得することができる。
CCDカメラ44が蓄積した電荷は、A/D入力CH71によってデジタルの電気信号に変換され、メモリ73の共焦点画像情報92の各ブロックに順に格納される。メモリ73には、光学顕微鏡観察部40を用いてZ方向に焦点を少しずつ移動させて取得した複数枚の共焦点画像情報92、この複数枚の共焦点画像情報92から作成した輝度画像情報93、およびこの輝度画像情報93から作成した走査マップ77等が格納される。
画像処理部74は、制御部61を介してメモリ73に格納された共焦点画像情報92から2次元の画像を構築してモニタ8に表示する。また、共焦点画像情報92をZ方向に複数枚積層させて立体画像95を構築してモニタ8に表示する。
図10は、メモリ73に格納された複数枚の共焦点画像情報92をZ方向に積層して作成した立体画像95である。1枚の共焦点画像92では点として認識される神経細胞26が、立体画像95では神経細胞26としてのつながりを認識できる。図10の斜線部分は、観察対象となる神経細胞26が存在するブロックである。
コンピュータ60は、実施の形態1のコンピュータ6にさらに輝度画像情報作成部65を備える。輝度画像情報作成部65は、立体画像95のZ方向の画素の中で最も高い輝度値を有する画素情報をXY方向の全ての画素について集めた輝度画像情報93を作成し、走査マップ作成部66は、作成した輝度画像情報93をもとに走査マップ77を作成する。
図11は、走査マップ77を作成する処理手順を示すフローチャートであり、図5のステップS501〜S506間に挿入される処理を示している。まず、実施の形態1のステップS501によって顕微鏡本体2の光路を光学顕微鏡観察部40に切り替える。次に、光学顕微鏡観察部制御部64は、光学顕微鏡観察部40のハロゲンランプ光源44から発された白色光の中から励起フィルタ42によって励起光を抽出し、この励起光を、ダイクロイックミラー41を介してスピニングディスク46のスリットを通して光路切り替え装置3から顕微鏡本体2に入射させる。
顕微鏡本体制御部62は、顕微鏡本体2に入射した励起光を制御して、顕微鏡本体2の反射ミラー21を経由させてレボルバ22に取り付けられた対物レンズ23を介してXY電動ステージ24上に載置した試料25に照射する(ステップS111)。
試料25に励起光が照射されると、試料25の中の観察対象となる神経細胞26は蛍光を発する。試料25から発せられた蛍光は、入射光路を逆に辿り、再び、スピニングディスク46のスリットを通過した光のみが、ダイクロイックミラー43を透過してCCDカメラ44に受光される(ステップS112)。
CCDカメラ44が光量に応じて蓄積した電荷は、A/D入力CH71によってデジタルの電気信号に変換され、共焦点画像情報92の1つのブロックに格納される(ステップS113)。全ブロックの処理が終了していなければ(ステップS114,NO)、ステップS112に戻って次のブロックの画像を取得する。
全ブロックの画像取得処理が終了すれば(ステップS114,YES)、顕微鏡本体2の焦点をZ方向に少し移動させ(ステップS115)、共焦点画像情報92をn枚取得していなければ(ステップS116,NO)、ステップS112に戻って次の共焦点画像情報92を取得する。一方、共焦点画像情報92をn枚取得していれば(ステップS116,YES)、取得した共焦点画像情報92をZ方向にn枚重ねて積層させ、立体画像95を形成させる(ステップS117)。
輝度画像情報作成部65は、立体画像95の各画素の輝度をZ方向に探索して(ステップS118)、最も高い輝度値をその画素の輝度値とする処理を共焦点画像情報92の各画素について行い、輝度画像情報93を作成し(ステップS119)、実施の形態1のステップS506に戻って走査マップ77の作成を続ける。
図12は、走査マップ77を作成する他の処理手順を示すフローチャートであり、図6のステップS601〜S605間に挿入される処理を示している。ここで、ステップS121からステップS123までの処理は、共焦点画像情報92の1ブロックの画像を取得するステップS111からステップS113と同じ処理であり、ステップS124からステップS128までの処理は、取得した共焦点画像情報92の1つのブロックをZ方向に積層させて立体画像95および輝度画像情報93を得るステップS506からステップS511と同じ処理である。ここで、図12に示す処理では、共焦点画像情報92の1ブロックの画像を取得した後、画像を取得したブロックをZ方向に積層させ、連続して1ブロックの立体画像95および1ブロックの輝度画像情報93を得る処理を行うものである。なお、走査マップ77は、図11または図12のいずれの処理を用いて作成してもよい。
走査マップ77の作成が終了すると、実施の形態1と同様に走査マップ77を検索する図7に示す処理が起動され、点走査型観察部5によって走査マップ77に登録されたブロックの走査画像情報79を取得することができる。
なお、実施の形態2では共焦点画像情報92を得るためにスピニングディスク装置45を用いたが、スピニングディスク装置45を用いる代わりに、実施の形態1で取得した光学画像情報76にデコンボリューションなどの画像処理を行い、光学画像情報76に含まれる焦点以外の部分のぼけた成分を除去してもよい。この場合、デコンボリューションなどの画像処理を行うことによって神経細胞26のスクリーニング精度を上げることができる。
以上詳細に説明したように、実施の形態2によれば、実施の形態1の効果に加えて、CCDカメラ44にスピニングディスク装置45を配置したので、デコンボリューションなどの画像処理を行うことなく試料25の光学的な断層像を取得し、焦点位置にあたる平面の鮮明な共焦点画像情報92を得ることができる。共焦点画像情報92をZ方向に積層させて試料25の立体画像95を得ることができる。また、立体画像95のZ方向の画素群の中で最も高い輝度値を有する画素情報をXY方向の全ての画素について集めた輝度画像情報93を作成し、輝度画像情報93を基に走査マップ77を作成するため、試料25のZ方向の厚さのために埋もれた神経細胞26を見逃すことなく精度の高いスクリーニングを行うことができる。
(実施の形態3)
実施の形態3は、実施の形態1と実施の形態2を組みあわせたものであり、実施の形態2の光学顕微鏡観察部40を用いて、Z方向の焦点を少しずつ移動させて取得した複数枚の共焦点画像情報92を各々スクリーニングして3次元走査マップを作成して点走査型観察部5で観察する領域を3次元の領域として特定するものである。
図13は、本発明にかかる走査型顕微鏡システム200の実施の形態3の構成を示すブロック図である。図13に示した走査型顕微鏡システム200において、図1および図9に示す実施の形態1の走査型顕微鏡システム1および実施の形態2の走査型顕微鏡システム100と同一構成部分については同一符号を付している。
光学顕微鏡観察部40は、光路の共焦点位置にスピニングディスク装置45を配置して共焦点画像を取得できるようにしたものである。光学顕微鏡観察部制御部64は、光学顕微鏡観察部40のZ方向の焦点を少しずつ移動した共焦点画像情報92を複数枚取得する。走査マップ作成部66は、取得した共焦点画像情報92ごとに図5または図6のフローチャートに従って走査マップ97を作成し、さらに走査マップ97をZ方向に積層させ、3次元走査マップ97を作成する。
図14−1は、3次元走査マップ97の例であり、領域Aは、走査マップ作成部66のステップS508またはステップS607の処理によって点走査型観察部5による画像取得を登録されたブロック位置を表す。このようにして、3次元走査マップ97によって、点走査型観察部5で観察する領域を3次元領域として特定することができる。
次に、実施の形態3で試料25が多重染色されているとき、それぞれの蛍光によって励起される走査画像情報79の取得処理について説明する。試料25が多重染色されているときは、光学顕微鏡観察部40の励起フィルタ43を、試料25を染色した蛍光に合わせて変更し、試料25に照射する励起光の波長を切り替え、それぞれの共焦点画像92を取得する。取得した共焦点画像情報92ごとに走査マップ77を作成してZ方向に積層させ、図14−1のような3次元走査マップ97を、それぞれ試料25を染色した蛍光ごとに作成する。
例えば、試料25が351nm、488nm、543nmの3つの波長で励起される3重の蛍光で染色されている場合、初めに、光学顕微鏡観察部40の励起フィルタ43を351nmに切り替えて励起光を照射し、例えば、図14−1の3次元走査マップ97を作成する。領域Aは、351nmの波長で励起される領域であり、領域Aには351nmの波長で励起されたとき蛍光を発する細胞が存在する。
同様に、光学顕微鏡観察部40の励起フィルタ43を変えて488nmの励起光を照射し、図14−2の3次元走査マップ98を作成し、励起フィルタ43を変えて543nmの励起光を照射し、図14−3の3次元走査マップ99を作成すると、領域Bには488nmの波長で励起されたとき蛍光を発する細胞が存在し、領域Cには543nmの波長で励起されたとき蛍光を発する細胞が存在することがわかる。
次に、3次元走査マップ97、3次元走査マップ98、および3次元走査マップ99を合成して図14−4の3次元走査マップ100を作成する。3次元走査マップ100によれば、領域Aと領域Bの重なった領域Dには351nmの励起光に反応する細胞と、488nmの励起光に反応する2種類の細胞が存在し、領域Aと領域Cの重なった領域Eには351nmの励起光に反応する細胞と、543nmの励起光に反応する2種類の細胞が存在し、重ならない領域には1種類の細胞だけが存在することがわかる。
ここで、画像処理部74によって、3次元走査マップ97の領域Aを青色に、3次元走査マップ98の領域Bを緑色に、3次元走査マップ99の領域Cを赤色に表示するよう画像処理し、画像処理した3次元走査マップ97、3次元走査マップ98、3次元走査マップ99とそれを合成した次元走査マップ100をモニタ8に表示する。観察者は、モニタ8に表示された3次元走査マップ100によって、領域Aの青色と領域Bの緑色の重なった領域Dには351nmの励起光に反応する細胞と、488nmの励起光に反応する2種類の細胞が存在し、領域Aと領域Cの重なった領域Eには351nmの励起光に反応する細胞と、543nmの励起光に反応する2種類の細胞が存在し、重ならない領域には1種類の細胞だけが存在することが3次元走査マップ100等をモニタ8に表示すれば目で見て理解できる。
また、3次元走査マップ100によれば、レーザ波長を照射するべきブロックのXYZ位置情報に加えて、ブロックごとのレーザ光源51の種類、およびレーザ波長を知ることができる。3次元走査マップ100から得られる走査画像情報79取得のための画像取得条件を、画像取得条件テーブル110としてコンピュータ600のメモリ73に記憶する。
図15は、画像取得条件テーブル110の例を示す図である。画像取得条件テーブル110には、レーザ光源の種類111、レーザ波長112、およびブロックのXYZ位置113等の画像取得条件が記憶される。点走査型観察部制御部68は、画像取得条件テーブル110に記憶された画像取得条件に従って、レーザ光源の種類111、およびレーザ波長112を自動的に選択し、記憶されたブロックのXYZ位置113の走査画像情報79を自動的に取得する。
このように実施例3では、登録されたブロックのXYZ位置を正確に捉えることができる。しかし、試料25の登録されたブロックを電動XYステージ24等の電動焦点準部を制御しながら長時間繰り返し観察すると、ハロゲンランプ光源41やレーザ光源51などの熱によって顕微鏡周辺の温度が上昇して顕微鏡本体2がたわむことがある。また、XY電動ステージ24を繰り返し移動させることでずれが生じ、観察領域として登録したブロックのXYZ位置がずれることがある。
このような場合、定期的に、または点走査型観察部5による観察を行う前に、顕微鏡本体2を光学顕微鏡観察部40と接続してCCDカメラ44の画像データを用いてオートフォーカス処理を行い、Z方向の位置ずれを補正する。また、前回オートフォーカスにより取得した画像と今回オートフォーカスにより取得した画像とを比較して画素ずれが生じている場合、自動的にずれ量を計算し、XY位置の位置ずれを補正する。XYZ位置の補正が終了した後、点走査型観察部5を顕微鏡本体2に接続すれば、常に同じ位置で画像情報を取得することができる。また、光学顕微鏡観察部4内に、公知のパッシブAFユニットやアクティブAFユニットを設けて、Z方向の位置ずれ補正をしてもよい。
以上詳細に説明したように、実施の形態3によれば、実施の形態1および実施の形態2の効果に加えて、各ブロックで観察目的に合った細胞をZ方向に探すような無駄な画像取得時間を短縮することができる。また、多重染色の場合も、登録されたブロックに必要外のレーザを照射することがないので、蛍光の退色を防止できるし、登録されたブロックに必要なレーザ光だけを照射するので、レーザのクロストークによるノイズが走査画像情報79に取得されることが少ない。さらに、観察者がブロックごとに画像取得条件にあるレーザ光源51の設定をする必要がなく、観察者の負担を軽減することができる。
本発明の実施の形態1である走査型顕微鏡システムの構成を示すブロック図である。 試料25をXY電動ステージ24の上から見た図である。 試料25を横から見た図である。 光学画像情報76および光学画像情報76を構成する1つのブロックを拡大して模式的に示した図である。 光学画像情報76のブロックの画像を順に取得して神経細胞26の存在するブロックをスクリーニングする様子を示す図である。 観察対象となる神経細胞26の存在するブロックを斜線で示した図である。 走査マップ77の一例を示す図である。 走査マップ77の作成処理手順を示すフローチャートである。 走査マップ77の他の作成処理手順を示すフローチャートである。 走査マップ77を検索する処理手順を示すフローチャートである。 輝度値/電圧変換テーブル81の一例を示す図である。 露光時間/電圧変換テーブル82の一例を示す図である。 本発明の実施の形態2である走査型顕微鏡システムの構成を示すブロック図である。 共焦点画像情報92をZ方向に積層して作成した立体画像95を示す図である。 走査マップ77の作成処理手順を示すフローチャートである。 走査マップ77の他の作成処理手順を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態3である走査型顕微鏡システムの構成を示すブロック図である。 3次元走査マップ97の一例を示す図である。 3次元走査マップ98の一例を示す図である。 3次元走査マップ99の一例を示す図である。 3次元走査マップ100の一例を示す図である。 画像取得条件テーブル110の一例を示す図である。
符号の説明
1,100,200 走査型顕微鏡システム
2 顕微鏡本体
3 光路切り替え装置
4 光学顕微鏡観察部
5 点走査型観察部
6,60,600 コンピュータ
8 モニタ
21 反射ミラー
22 レボルバ
23 対物レンズ
24 電動XYステージ
25 試料
26 神経細胞
31 ミラー
41 ハロゲンランプ光源
42 励起フィルタ
43,52,54 ダイクロイックミラー
44 CCDカメラ
51 レーザ光源
53 走査ユニット
55 バリアフィルタ
56 フォトマルチプライヤ
61 制御部
62 顕微鏡本体制御部
63 光路切り替え制御部
64 光学顕微鏡観察部制御部
65 輝度画像情報作成部
66 走査マップ作成部
67 走査マップ検索部
68 点走査型観察部制御部
71,72 A/D入力CH
73 メモリ
74 画像処理部
76 光学画像情報
77 走査マップ
81 輝度値/電圧変換テーブル
82 露光時間/電圧変換テーブル
83 画像形成部
92 共焦点画像情報
93 輝度画像情報
95 立体画像
97,98,99,100 3次元走査マップ
110 画像取得条件テーブル
111 レーザ光源の種類
112 レーザ波長
113 ブロックのXYZ位置

Claims (14)

  1. 試料をレーザ光で点走査して得られる光を受光器で受光して走査画像を形成する点走査型観察部と、試料からの光を2次元撮像素子で撮像する光学顕微鏡観察部とを備えた走査型顕微鏡システムであって、
    前記光学顕微鏡観察部の光源から試料に励起光を照射し、前記試料が発する蛍光を受光して光学画像を取得する光学画像取得手段と、
    前記光学画像取得手段が前記試料中の複数箇所で取得した各光学画像にもとづいて前記試料を複数のブロックに分け、該複数のブロックの各々が前記走査画像の取得対象とすべき走査領域であるか否かを前記光学画像での画素群の輝度値をもとに前記ブロック毎に判断して、前記試料での前記走査領域の分布を示す走査マップを作成する走査マップ作成手段と、
    前記走査マップ作成手段が作成した走査マップで定められる前記走査領域に対して前記点走査型観察部のレーザ光源から励起光を照射し、前記試料が発する蛍光を受光して走査画像を取得する走査画像取得手段と、
    を備えることを特徴とする走査型顕微鏡システム。
  2. 前記ブロックは、前記光学顕微鏡観察部および前記点走査型観察部が取得できる画像のサイズに対応した領域であることを特徴とする請求項1に記載の走査型顕微鏡システム。
  3. 前記走査マップ作成手段は、前記輝度値が所定の閾値以上となる画素を所定数以上含むブロックを前記走査領域として選定することを特徴とする請求項1または2に記載の走査型顕微鏡システム。
  4. 前記光学画像取得手段は、前記光学顕微鏡観察部の光源としてハロゲンランプまたはキセノンランプを含む白色光源を用いて前記光学画像を取得することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の走査型顕微鏡システム。
  5. 前記光学画像取得手段は、前記光学顕微鏡観察部の光路の共焦点位置に複数のピンホールまたは複数のスリットが形成された回転ディスクを挿入し、共焦点方式を用いて前記光学画像を取得することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載の走査型顕微鏡システム。
  6. 前記光学画像は、焦点位置を前記試料の深さ方向に移動させて撮像した複数枚の共焦点画像を積層して形成した立体画像であることを特徴とする請求項5に記載の走査型顕微鏡システム。
  7. 前記走査マップ作成手段は、前記立体画像を構成する画素群の輝度値をもとに前記走査領域を選定することを特徴とする請求項6に記載の走査型顕微鏡システム。
  8. 前記光学画像は、前記立体画像を構成する前記試料の深さ方向に積層された複数枚の共焦点画像における深さ方向の各画素群から最も高い輝度値を有する画素によって形成された2次元輝度画像であることを特徴とする請求項7に記載の走査型顕微鏡システム。
  9. 前記光学画像取得手段は、前記試料に複数の励起光を照射し、前記試料が発する蛍光を受光して前記励起光に対応した前記光学画像を取得し、
    前記走査マップ作成手段は、前記励起光に対応した前記光学画像から前記走査領域と前記走査領域群に照射する1以上の前記励起光とを関連付けることを特徴とする請求項1〜8のいずれか一つに記載の走査型顕微鏡システム。
  10. 前記光学画像取得手段が取得する画像サイズは、前記走査領域の大きさとほぼ等しいかまたは複数の走査領域を含む大きさであることを特徴とする請求項2に記載の走査型顕微鏡システム。
  11. 前記走査マップ作成手段は、走査領域として選定されたブロックの縁部まで前記輝度値が確認された場合、その走査領域の隣のブロックも走査領域として選定することを特徴とする請求項3に記載の走査型顕微鏡システム。
  12. 前記走査マップ作成手段は、前記光学画像取得手段により取得された前記深さ方向の異なる複数毎の共焦点画像のそれぞれに対して、画像を構成する画素群の輝度値をもとに前記走査領域を選定することにより、走査領域選定を3次元的におこなうことを特徴とする請求項7に記載の走査型顕微鏡システム。
  13. 前記光学画像の画像情報またはその取得条件にもとづいて、前記点走査型観察部による走査画像の取得条件を設定することを特徴とする請求項1〜12のいずれか一つに記載の走査型顕微鏡システム。
  14. 前記光学画像の画像情報またはその取得条件は当該光学画像の輝度値または撮像露光時間であり、前記走査画像の取得条件は前記走査画像取得手段において前記蛍光を受光する光電変換器の感度であることを特徴とする請求項13に記載の走査型顕微鏡システム。
JP2003360760A 2003-10-21 2003-10-21 走査型顕微鏡システム Expired - Fee Related JP4756819B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003360760A JP4756819B2 (ja) 2003-10-21 2003-10-21 走査型顕微鏡システム
US10/968,698 US7253420B2 (en) 2003-10-21 2004-10-18 Scanning microscope system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003360760A JP4756819B2 (ja) 2003-10-21 2003-10-21 走査型顕微鏡システム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2005128086A JP2005128086A (ja) 2005-05-19
JP2005128086A5 JP2005128086A5 (ja) 2006-11-30
JP4756819B2 true JP4756819B2 (ja) 2011-08-24

Family

ID=34509918

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003360760A Expired - Fee Related JP4756819B2 (ja) 2003-10-21 2003-10-21 走査型顕微鏡システム

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7253420B2 (ja)
JP (1) JP4756819B2 (ja)

Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3892838B2 (ja) * 2003-10-16 2007-03-14 ファナック株式会社 3次元測定装置
US7653260B2 (en) * 2004-06-17 2010-01-26 Carl Zeis MicroImaging GmbH System and method of registering field of view
JP4970869B2 (ja) * 2005-09-12 2012-07-11 オリンパス株式会社 観察装置および観察方法
JP2007114742A (ja) * 2005-09-21 2007-05-10 Olympus Corp 観察装置
JP4694336B2 (ja) * 2005-09-30 2011-06-08 富士フイルム株式会社 電子内視鏡装置
JP2008112059A (ja) * 2006-10-31 2008-05-15 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡及びその調整方法、並びにプログラム
JP4962769B2 (ja) * 2006-11-13 2012-06-27 横河電機株式会社 3次元顕微鏡システム
JP5354938B2 (ja) * 2007-05-02 2013-11-27 オリンパス株式会社 蛍光顕微鏡装置
JP4288323B1 (ja) * 2008-09-13 2009-07-01 独立行政法人科学技術振興機構 顕微鏡装置及びそれを用いた蛍光観察方法
US9846313B2 (en) 2008-09-25 2017-12-19 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Devices, apparatus and method for providing photostimulation and imaging of structures
JP5208650B2 (ja) * 2008-09-29 2013-06-12 オリンパス株式会社 顕微鏡システム
JP5299078B2 (ja) * 2009-05-15 2013-09-25 株式会社ニコン レーザ走査顕微鏡、3次元画像取得方法、及びプログラム
JP5447516B2 (ja) * 2009-06-02 2014-03-19 株式会社ニコン 画像処理装置、画像処理方法、プログラム、および、顕微鏡
JP2010286565A (ja) * 2009-06-09 2010-12-24 Olympus Corp 蛍光観察装置
JP5562582B2 (ja) * 2009-06-16 2014-07-30 オリンパス株式会社 蛍光観察装置
JP5516108B2 (ja) * 2010-06-15 2014-06-11 株式会社ニコン 観察装置、観察方法、及びプログラム
JP5734588B2 (ja) * 2010-07-15 2015-06-17 オリンパス株式会社 細胞観察装置および観察方法
JP2012098244A (ja) * 2010-11-05 2012-05-24 National Agriculture & Food Research Organization 成分分布分析方法、成分分布分析装置、および、プログラム
JP2012118126A (ja) * 2010-11-29 2012-06-21 Olympus Corp 観察装置および観察方法
JP2013109119A (ja) * 2011-11-21 2013-06-06 Nikon Corp 顕微鏡制御装置およびプログラム
JP5926966B2 (ja) * 2012-01-30 2016-05-25 オリンパス株式会社 蛍光観察装置
JP5969803B2 (ja) * 2012-04-23 2016-08-17 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
EP2860568B1 (en) 2012-06-07 2017-10-18 Sony Corporation Image processing apparatus, image processing program, and image processing method
RU2502983C1 (ru) * 2012-08-17 2013-12-27 Игорь Викторович Чеботарь Способ наноскопии
DE102013102988A1 (de) * 2013-03-22 2014-09-25 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtmikroskopisches Verfahren zur Lokalisierung von Punktobjekten
EP3076219B1 (en) 2014-01-07 2020-04-08 Sony Corporation Analysis system, analysis program, and analysis method
JP2014157158A (ja) * 2014-04-17 2014-08-28 Olympus Corp 細胞観察方法、三次元細胞画像解析システム及びそれに用いる三次元細胞画像解析装置
JP6552793B2 (ja) * 2014-07-09 2019-07-31 オリンパス株式会社 標本観察装置
JP2016070961A (ja) * 2014-09-26 2016-05-09 オリンパス株式会社 レーザ顕微鏡
CN104536122B (zh) * 2014-12-17 2017-02-22 严俊文 一种用于共焦显微***的控制装置
EP3620838A1 (en) * 2015-06-02 2020-03-11 Life Technologies Corporation Systems and methods for calibrating a structured illumination imaging system and for capturing a structured illumination image
US20180045937A1 (en) * 2016-08-10 2018-02-15 Zeta Instruments, Inc. Automated 3-d measurement
WO2018089839A1 (en) 2016-11-10 2018-05-17 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Rapid high-resolution imaging methods for large samples
JP6951853B2 (ja) * 2017-03-28 2021-10-20 オリンパス株式会社 解析結果閲覧装置
TWI659227B (zh) * 2017-06-20 2019-05-11 Academia Sinica 以影像導引之顯微照射的顯微鏡系統及方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4202037A (en) * 1977-04-22 1980-05-06 Der Loos Hendrik Van Computer microscope apparatus and method for superimposing an electronically-produced image from the computer memory upon the image in the microscope's field of view
US4647531A (en) * 1984-02-06 1987-03-03 Ortho Diagnostic Systems, Inc. Generalized cytometry instrument and methods of use
JPH03209415A (ja) * 1990-01-12 1991-09-12 Fuji Photo Film Co Ltd 顕微鏡像出力方法および走査型顕微鏡
US5127730A (en) 1990-08-10 1992-07-07 Regents Of The University Of Minnesota Multi-color laser scanning confocal imaging system
JP3321198B2 (ja) * 1992-06-22 2002-09-03 オリンパス光学工業株式会社 顕微鏡静止画像観察システム
JP3377548B2 (ja) * 1993-03-30 2003-02-17 オリンパス光学工業株式会社 顕微鏡画像観察システム
JPH09274142A (ja) * 1996-02-08 1997-10-21 Olympus Optical Co Ltd 走査型顕微鏡
JPH09253427A (ja) * 1996-03-26 1997-09-30 Kawasaki Steel Corp 濾過方法
JPH10253889A (ja) * 1997-03-13 1998-09-25 Olympus Optical Co Ltd 走査型顕微鏡装置
JP3896196B2 (ja) * 1997-09-18 2007-03-22 オリンパス株式会社 走査型顕微鏡
JP2003005078A (ja) 2001-06-20 2003-01-08 Olympus Optical Co Ltd 共焦点顕微鏡
US7190832B2 (en) * 2001-07-17 2007-03-13 Amnis Corporation Computational methods for the segmentation of images of objects from background in a flow imaging instrument
JP4827335B2 (ja) * 2001-08-13 2011-11-30 オリンパス株式会社 走査型レーザ顕微鏡

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005128086A (ja) 2005-05-19
US7253420B2 (en) 2007-08-07
US20050082494A1 (en) 2005-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4756819B2 (ja) 走査型顕微鏡システム
US9575308B2 (en) Slide scanner with dynamic focus and specimen tilt and method of operation
EP2758825B1 (en) Slide scanner with a tilted image plane
JP5566188B2 (ja) 生体観察装置
JP3803673B2 (ja) 測定方法及び測定装置
WO2012159205A1 (en) 3d pathology slide scanner
WO2005114287A1 (ja) 顕微鏡装置
WO2005114293A1 (ja) 顕微鏡装置
JP2005128086A5 (ja)
ES2928577T3 (es) Barrido en Z fijo bidimensional y tridimensional
WO2013126999A1 (en) Scanner with increased dynamic range
US20080251689A1 (en) Scanning optical device and observation method
US11215804B2 (en) Microscope and method for imaging a sample
JP5202936B2 (ja) 走査型顕微鏡
JP4526988B2 (ja) 微小高さ測定方法及びそれに用いる微小高さ測定装置並びに変位ユニット
CA3072858A1 (en) Scanning microscope for 3d imaging using msia
CN110114709A (zh) 确定荧光强度的方法和显微镜
JP2006275964A (ja) 走査型蛍光顕微鏡のシェーディング補正方法
JP7119085B2 (ja) 衝撃再走査システム
CN107850766A (zh) 用于光学显微镜中的图像处理的***和方法
JP5738580B2 (ja) 顕微鏡装置および観察方法
JP2007102102A (ja) 共焦点顕微鏡及び合焦カラー画像の生成方法
JP2006003805A (ja) 共焦点観察システム、光照射方法、及び光照射プログラム
JP2004177732A (ja) 光学測定装置
CN114442298A (zh) 用于捕获图像数据的设备和方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061018

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061018

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100105

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100308

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100817

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110517

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110531

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4756819

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140610

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees