JP4597155B2 - データ処理装置、およびデータ処理方法 - Google Patents
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Description
ADR(自動レビュー:Automatic Defect Review) を実行する。次に、レビュー装置は、取得した画像から、欠陥の大きさ,形状,種類などで自動的に分類するADC(自動欠陥分類:Automatic Defect Classification)を実行する。これらのように、人間が介在することによる結果の差が生じないように自動化が試みられているが、半導体デバイスの微細化に伴う欠陥の種類の増加,外観検査装置で抽出される欠陥の数の増加によって、結果の正確度がなかなか向上できない。
(実時間欠陥分類:Real-Time Defect Classification)の機能が外観検査装置に取り入れられ、擬似欠陥を除去する試みがなされている。
21を取得する。外観検査装置1が複数の場合は、外観検査装置1の個々のIDも指定する。欠陥情報21には、図3に示したデータだけでなく、外観検査装置1で得た欠陥ADR画像も含まれている。
ADC結果を含むADR/ADC情報22aを、通信回線4を通してデータ処理装置3に送る。
23bのうち、ダイレイアウトの中のアライメント情報を用いて座標変換を行い、欠陥の座標データを変換して、ADRにより欠陥を探索し抽出する。欠陥が抽出できたらその画像を取得し、ADCを実行する。SEM式レビュー装置25は、欠陥ごとに、または半導体ウェハごとに、欠陥のADR画像とADC結果を含むADR/ADC情報23aを、通信回線4を通してデータ処理装置3に送る。
910)。実行された場合は、図6に示した画面を閉じる(ステップ911)。
1201にポインタを合わせ、マウスのボタンを押したままマウスを移動させると、頂点A1201の位置を変更することができる。このとき、辺ABと辺ACは頂点A1201の移動に伴って自動的に伸び、位置を変える。このようにして、図6に示したグラフを表示する領域503の上で、欠陥を囲む多角形の大きさを任意に変更することができる。
509をクリック等で指定すると、多角形の外側の欠陥が消去される。多角形の内側でプルダウンメニュー300の消去ボタン1302をクリック等で指定すると、多角形の内側の欠陥が選択され、図6に示した反映ボタン509をクリック等で指定すると、多角形の内側の欠陥が消去される。また、多角形の外側でプルダウンメニュー300を表示させ、選択ボタン1301をクリック等で指定すると、多角形の外側の欠陥が選択され、図6に示した反映ボタン509をクリック等で指定すると、多角形の内側の欠陥が消去される。多角形の外側でプルダウンメニュー300の消去ボタン1302をクリック等で指定すると、多角形の外側の欠陥が選択され、図6に示した反映ボタン509をクリック等で指定すると、多角形の外側の欠陥が消去される。図6に示した三角形の領域604の線の上に跨った、あるいは接触した欠陥は、例えば、予め領域604の内側に存在すると定義しておくか、外側であると定義しておくかを決めておくと簡便である。もちろん欠陥毎に内側であるかどうかを判定する画面を表示させてもよい。
1201,頂点B1202,頂点C1203と欠陥P1204のなす角は、角APB,角BPC,角CPAであり、3つの正の角度の総和は360度になるので、欠陥P1204は三角形の内部にあると判定する。図12(b)において、欠陥Q1208が三角形の外側にあるときは、頂点A1205,頂点B1206,頂点C1207と欠陥Q1208のなす角は、角AQB,角BQC,角CQAとなるが、角BQCの角度は180度よりも大きいので、360度から引いて負の符号を付けると、角AQBの角度と角CQAの角度の和に絶対値が等しく符合が反対なので、角度の総和はゼロになる。したがって、欠陥Q
1208は三角形の外側にあると判定する。
(d)に示す欠陥S1220が四角形の外側にあるときは、頂点A1216,頂点B1217,頂点C1218,頂点D1219と欠陥S1220のなす角は、角ASB,角BSC,角CSD,角DSAとなるが、角ASBの角度は180度よりも大きいので、360度から引いて負の符号を付けると、角BSCの角度と角CSDの角度と角DSAの角度の和に絶対値が等しく符合が反対なので、角度の総和はゼロになる。したがって、欠陥S1220は四角形の外側にあると判定する。
2 レビュー装置
3 データ処理装置
4 通信回線
30 画面
400 画像一覧表示画面
500 グラフ表示画面
501 ウェハマップ
503 領域
504 縦軸設定領域
505 横軸設定領域
700 表示設定画面
800 プルダウンメニュー
Claims (17)
- 試料の欠陥を抽出する外観検査装置から通信回線を介して送信される複数の欠陥の少なくとも座標を含む欠陥検査情報と、前記抽出された複数の欠陥のうち少なくとも一部の欠陥の画像を取得し該欠陥の特徴量を付与するレビュー装置から前記通信回線を介して送信される少なくとも前記特徴量を含む欠陥レビュー情報とを、ディスプレイ上のひとつの画面に表示させるマイクロプロセッサを備えたデータ処理装置であって、
前記ディスプレイには、前記欠陥検査情報または前記欠陥レビュー情報に含まれる特徴量のうちの少なくとも二つを軸としたグラフ領域が表示され、
前記外観検査装置またはレビュー装置によって付与された特徴量に応じた前記グラフ領域上の位置に、前記欠陥が、前記レビュー装置による観察結果である前記欠陥の画像の有無に応じて視覚的に区別されて表示されることを特徴とするデータ処理装置。 - 請求項1に記載のデータ処理装置において、前記グラフ領域とともに、前記欠陥の前記
試料上の分布を表すマップが前記画面に表示されることを特徴とするデータ処理装置。 - 請求項1に記載のデータ処理装置において、前記グラフ領域の軸である前記特徴量の変
更により、前記欠陥の表示が該変更された特徴量に応じた位置に変更されることを特徴と
するデータ処理装置。 - 請求項1に記載のデータ処理装置において、前記グラフ領域の軸である前記特徴量の変
更により、変更後の特徴量を有しない欠陥の表示は前記グラフ領域から消去されることを
特徴とするデータ処理装置。 - 請求項1に記載のデータ処理装置において、前記グラフ領域に、任意の多角形を作画可
能であることを特徴とするデータ処理装置。 - 請求項5に記載のデータ処理装置において、前記多角形は少なくともひとつの斜辺を備
えていることを特徴とするデータ処理装置。 - 請求項5に記載のデータ処理装置において、前記多角形で囲まれた前記欠陥の表示が選
択されて、該選択された以外の欠陥の表示が消去可能であることを特徴とするデータ処理
装置。 - 請求項7に記載のデータ処理装置において、前記ディスプレイに表示された前記欠陥検
査情報と前記欠陥レビュー情報とから、前記多角形で選択された欠陥についての情報のみ
を選択して表示することを特徴とするデータ処理装置。 - 請求項5に記載のデータ処理装置において、前記多角形で囲まれた前記欠陥の表示が選
択されて、該選択された欠陥の表示が消去可能であることを特徴とするデータ処理装置。 - 請求項9に記載のデータ処理装置において、前記画面に表示された前記欠陥検査情報と
前記欠陥レビュー情報とから、前記選択された欠陥以外の欠陥についての情報のみを選択
して表示することを特徴とするデータ処理装置。 - 試料の欠陥を抽出する外観検査装置から通信回線を介して送信される複数の欠陥の少なくとも座標を含む欠陥検査情報と、前記抽出された複数の欠陥のうち少なくとも一部の欠陥の画像を取得し該欠陥の特徴量を付与するレビュー装置から前記通信回線を介して送信される少なくとも前記特徴量を含む欠陥レビュー情報とを受信し、
前記欠陥検査情報または前記欠陥レビュー情報に含まれる特徴量のうちの少なくとも二つを軸としたグラフ領域をディスプレイに表示するとともに、
前記外観検査装置またはレビュー装置によって付与された特徴量に応じた前記グラフ領域上の位置に、前記欠陥を、前記レビュー装置による観察結果である前記欠陥の画像の有無に応じて視覚的に区別して表示することを特徴とするデータ処理方法。 - 請求項11に記載のデータ処理方法において、前記グラフ領域の軸である前記特徴量の
変更により、前記欠陥の表示が該変更された特徴量に応じた位置に変更されることを特徴
とするデータ処理方法。 - 請求項11に記載のデータ処理方法において、前記グラフ領域の軸である前記特徴量の
変更により、変更後の特徴量を有しない欠陥の表示は前記グラフ領域から消去されること
を特徴とするデータ処理方法。 - 請求項11に記載のデータ処理方法において、前記グラフ領域に、任意の多角形を作画
可能であることを特徴とするデータ処理方法。 - 請求項14に記載のデータ処理方法において、前記多角形は少なくともひとつの斜辺を
備えていることを特徴とするデータ処理方法。 - 請求項14に記載のデータ処理方法において、前記多角形で囲まれた前記欠陥の表示が
選択されて、該選択された以外の欠陥の表示が消去可能であることを特徴とするデータ処
理方法。 - 請求項16に記載のデータ処理方法において、前記ディスプレイに表示された前記欠陥
検査情報と前記欠陥レビュー情報とから、前記多角形で選択された欠陥についての情報の
みを選択して表示することを特徴とするデータ処理方法。
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