JP4360998B2 - 電流センサ - Google Patents

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Description

本発明は、導体を流れる電流の変化を高感度に検知可能な小型の電流センサに関する。
一般に、制御機器等の制御をおこなうための制御電流を測定する方法としては、その制御電流によって発生する電流磁界の勾配を検出することによって間接的に測定する方法がある。具体的には、例えば、巨大磁気抵抗効果(Giant Magneto-Resistive effect)を発現する巨大磁気抵抗効果素子(以下、GMR素子)などの磁気抵抗効果素子を4つ用いてホイートストンブリッジを形成し、上記の電流磁界中に配置して、その勾配を検出する方法である(例えば、特許文献1参照。)。
米国特許第5621377号明細書
このように、ホイートストンブリッジを形成することにより、外部からのノイズ(妨害磁界)や環境温度による影響を比較的低く抑えることができる。特に、4つの磁気抵抗効果素子の特性が均一な場合は、より安定した検出特性を得ることができる。
また、補償電流ラインを設けることにより、環境温度や外部からのノイズに起因する出力電圧の変化をさらに低減するようにした例も開示されている(例えば、特許文献2参照。)。
米国特許第5933003号明細書
ところで、最近では、より微弱な電流を検出する必要性が高まっていることから、磁気抵抗効果素子として、インピーダンスが大きく、より感度の高いものが求められるようになりつつある。しかしながら、このように高インピーダンスであり高感度な磁気抵抗効果素子を用いてホイートストンブリッジを形成することにより、大きなオフセットが発生したり、接続抵抗のばらつき等の影響が大きくなったりするので、4つの磁気抵抗効果素子のバランス調整が困難な場合が多かった。
本発明はかかる問題に鑑みてなされたもので、その目的は、零磁界でのオフセット値の調整をより簡便におこなうことができ、検出対象電流による電流磁界を高感度、かつ、高精度に検出可能な電流センサを提供することにある。
本発明の電流センサは、導体を流れる検出対象電流により生ずる電流磁界に応じて抵抗値が互いに逆方向の変化を示すこととなるように導体に沿って配置された第1および第2の磁気抵抗効果素子と、第1および第2の磁気抵抗効果素子のそれぞれに、互いに等しい値の定電流を供給する第1および第2の定電流源と、定電流によって第1および第2の磁気抵抗効果素子のそれぞれに生ずる電圧降下の差分を検出する差分検出器とを備え、その電圧降下の差分に基づいて検出対象電流を検出するように構成されたものである。
ここで、第1および第2の磁気抵抗効果素子は、膜面内において電流磁界の方向と直交する方向に固着された磁化方向を有する固着層と、膜面内において固着層の磁化方向と平行な磁化容易軸を有すると共に電流磁界に応じて磁化方向が変化する自由層と、固着層および自由層の間に挟まれた中間層とをそれぞれ含んでいる。なお、自由層がいわゆる感磁部分である。
さらに、本発明の電流センサは、第1および第2の磁気抵抗効果素子に対し、膜面内において固着層の磁化方向と直交する方向にバイアス磁界を印加するバイアス印加手段を備えている。
本発明の電流センサでは、2つの磁気抵抗効果素子を用いて回路を構成するので、4つの磁気抵抗効果素子を用いた場合よりもバランスが取りやすく、零磁界でのオフセット値の低減が容易である。さらに、互いに等しい第1の定電流源および第2の定電流源によって、第1の磁気抵抗効果素子と第2の磁気抵抗効果素子とに対して、互いに等しい電流が流れるように構成されているので、第1および第2の磁気抵抗効果素子にそれぞれ接続される回路インピーダンスの相違に影響されず、第1の磁気抵抗効果素子および第2の磁気抵抗効果素子における抵抗値の相違に基づく出力電圧が得られ易くなる。
さらに、自由層が、膜面内において電流磁界の方向と直交する固着層の磁化方向と平行な磁化容易軸を有するので、電流磁界の変化に対する各磁気抵抗効果素子の抵抗変化率の変化に表れるヒステリシスが低減される。
さらに、バイアス印加手段によって、第1および第2の磁気抵抗効果素子に対し、膜面内において固着層の磁化方向と直交する方向にバイアス磁界が印加されるので、電流磁界の変化が、第1および第2の磁気抵抗効果素子の抵抗変化として、より高精度に検出される。
本発明の電流センサでは、電圧降下の差分に応じた補償電流が流れることにより、検出対象電流に基づいて第1および第2の磁気抵抗効果素子に印加される各電流磁界とは逆方向の補償電流磁界を第1および第2の磁気抵抗効果素子の各々に付与するように構成された補償電流ラインをさらに備えるようにすることが望ましい。その場合、補償電流ラインを流れる補償電流に基づいて検出対象電流を検出するようにすることが望ましい。
本発明の電流センサでは、第1および第2の磁気抵抗効果素子が、互いを結ぶ仮想直線上の中間点を通る中心線を対称軸として線対称に配置され、かつ、その中心線の延在方向と同じ方向に延在しており、導体が、互いに平行に延在すると共にその中心線を対称軸として線対称に配置された一対の平行部分を有するU字形部分を含むようにするとよい。より厳密には、第1および第2の磁気抵抗効果素子におけるそれぞれの感磁部分が上記中心線と対称軸として対称に配置されていることが好ましい。その場合、補償電流ラインは、導体のU字形部分に対して逆U字形をなすように構成されることとなる。ここで、U字形部分とは、一対の平行部分とそれらを繋ぐ折り返し部分とを含む形状であり、逆U字形とは、このU字形とは上下反転した形状である。さらに、一対の平行部分を繋ぐ折り返し部分は、曲線部分に限られず1箇所以上の屈曲部分を含むようにしてもよい。また、「平行」とは、幾何学上でいうところの厳密な平行(互いのなす角度が0°である状態)を意味すると共に、製造上の誤差などに起因して0°からずれている状態をも含む意である。
本発明の電流センサでは、永久磁石や、固着層の磁化方向に延びるバイアス電流ラインをバイアス印加手段として用いることができる。
本発明の電流センサでは、第1および第2の磁気抵抗効果素子が、それぞれの固着層の磁化方向が互いに平行をなすように配置されていることが望ましい。さらに、第1の磁気抵抗効果素子と第1の定電流源とが、第1の磁気抵抗効果素子における固着層の磁化方向に延びる直線上に配置されており、第2の磁気抵抗効果素子と第2の定電流源とが、第2の磁気抵抗効果素子における固着層の磁化方向に延びる直線上に配置されていることが望ましい。
本発明の電流センサによれば、導体を流れる検出対象電流により生ずる電流磁界に応じて抵抗値が互いに逆方向の変化を示すこととなるように導体に沿って配置された第1および第2の磁気抵抗効果素子と、これら第1および第2の磁気抵抗効果素子のそれぞれに、互いに等しい値の定電流を供給する第1および第2の定電流源と、定電流によって第1および第2の磁気抵抗効果素子のそれぞれに生ずる電圧降下の差分を検出する差分検出器とを備え、その差分に基づいて検出対象電流を検出するように構成したので、4つの磁気抵抗効果素子を用いた場合よりも零磁界でのオフセット値の調整を簡便におこなうことができ、第1および第2の磁気抵抗効果素子として、より高感度なものを用いることができる。さらに、第1および第2の磁気抵抗効果素子に対して互いに等しく安定した電流を供給することができる。したがって、微弱な検出対象電流であっても、その電流磁界を高感度、かつ、高精度に検出することができる。
また、磁気抵抗効果素子における自由層の磁化容易軸を、電流磁界の方向と直交する固着層の磁化方向と平行としたので、電流磁界の変化に対する各磁気抵抗効果素子の抵抗変化率の変化に表れるヒステリシスが低減され、それに起因する1/fノイズが極めて小さくなり、高感度で安定した検出動作が可能となる。
さらに、第1および第2の磁気抵抗効果素子に対し、膜面内において固着層の磁化方向と直交する方向にバイアス磁界を印加するようにしたので、検出対象電流による電流磁界をより高精度に検出することができる。
特に、電圧降下の差分に応じた補償電流が流れることにより、検出対象電流に基づいて第1および第2の磁気抵抗効果素子に印加される各電流磁界とは逆方向の補償電流磁界を第1および第2の磁気抵抗効果素子の各々に付与するように構成された補償電流ラインをさらに備えるようにした場合には、第1および第2の磁気抵抗効果素子同士の特性のばらつきや回路中の接続抵抗のばらつき、あるいは温度分布などに起因した出力電圧の変化をキャンセルすることができ、検出対象電流によって生じる電流磁界を、より高感度かつ、より高精度に検出可能となる。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
最初に、図1および図2を参照して、本発明の一実施の形態としての電流センサの構成について説明する。図1は、本実施の形態の電流センサ10の斜視構成を表す概略図である。図2は、図1の電流センサ10における回路構成を表したものである。なお、図2における検出対象電流Im、補償電流Id、電流磁界Hm、補償電流磁界Hd、バイアス磁界Hb1,Hb2および電流I0(いずれも後出)のすべての矢印の方向は、第1および第2の磁気抵抗効果素子との相対的な方向を示している。
電流センサ10は、基体3上に形成された導体4に供給される検出対象電流Imを測定する電流計であり、第1の接続点P1において互いに接続された第1および第2の磁気抵抗効果素子1A,1B(以下、単に磁気抵抗効果素子1A,1Bと記す。)を備えている。これらの磁気抵抗効果素子1A,1Bは、互いを結ぶ仮想直線上の中間点を通る中心線CLを対称軸として線対称に配置され、かつ、中心線CLに沿って(図中Y軸方向へ)延在している。導体4は、一対の平行部分4A,4Bを有するU字形部分を含むものである。この一対の平行部分4A,4Bは、磁気抵抗効果素子1Aおよび磁気抵抗効果素子1Bを含む面と平行な面において中心線CLを対称軸として線対称に配置されると共に、中心線CLに沿って互いに平行に延在している。これにより、検出対象電流Imによって生じる電流磁界Hmが、図2に矢印で示したように、磁気抵抗効果素子1Aに対して−X方向へ印加されると共に磁気抵抗効果素子1Bに対して+X方向へ印加されることとなる。すなわち、磁気抵抗効果素子1A,1Bは、電流センサ10の駆動時において、電流磁界Hmによって各々の抵抗値R1,R2が互いに逆方向の変化を示すように配置されている。その上、導体4の平行部分4Aから磁気抵抗効果素子1Aまでの距離と、平行部分4Bから磁気抵抗効果素子1Bまでの距離とが等しいので、磁気抵抗効果素子1A,1Bにそれぞれ印加される電流磁界Hmの絶対値は互いに等しくなっている。なお、磁気抵抗効果素子1A,1Bは、いずれも導体4の上に設けられた回路基板5の上に形成されている。
電流センサ10は、さらに、互いの一端同士が第2の接続点P2において接続された、定電流源2A(第1の定電流源)および定電流源2B(第2の定電流源)を備えている。定電流源2Aは、第3の接続点P3において、磁気抵抗効果素子1Aにおける第1の接続点P1とは反対側の端部と接続されており、一方の定電流源2Bは、第4の接続点P4において、磁気抵抗効果素子1Bにおける第1の接続点P1とは反対側の端部と接続されている。より具体的には、磁気抵抗効果素子1Aと定電流源2Aとが中心線CLに沿って直列接続されていると共に、磁気抵抗効果素子1Bと定電流源2Bとが中心線CLに沿って直列接続されており、それらが、中心線CLと直交する方向(X軸方向)へ並ぶように配列され、互いに並列接続された状態となっている。ここで、定電流源2Aおよび定電流源2Bは、互いに等しい値の定電流I0を磁気抵抗効果素子1Aおよび磁気抵抗効果素子1Bにそれぞれ供給するように構成されている。なお、定電流源2A,2Bは、基体3の上に設けられた回路基板6の内部に形成されている。
また、磁気抵抗効果素子1A,1Bの近傍には、これらの磁気抵抗効果素子1A,1Bに対して−X方向のバイアス磁界Hb1,Hb2を印加するバイアス印加手段としての永久磁石HM1,HM2が配置されている。さらに、電流センサ10は補償電流ラインCを備えており、第1の接続点P1と第2の接続点P2との間に電圧が印加されたときの第3の接続点P3と第4の接続点P4との間の電位差に基づく補償電流Idが、これに供給されるようになっている。補償電流ラインCは、入力側が第2および第3の接続点P2,P3と接続された差分検出器としての差動増幅器AMPの出力側と接続されており、それと反対側の端部は抵抗体RLを介して接地されている。抵抗体RLにおける差動増幅器AMPの側には、補償電流検出手段Sが接続点T1において接続されている。ここで、補償電流ラインCは、補償電流Idが磁気抵抗効果素子1A,1Bに対して補償電流磁界Hdをそれぞれ付与するように構成されている。補償電流磁界Hdは、検出対象電流Imによって生じる電流磁界Hmとは逆方向となっている。すなわち、補償電流Idによる補償電流磁界Hdは、図2に矢印で示したように、磁気抵抗効果素子1Aに対して+X方向へ印加されると共に磁気抵抗効果素子1Bに対して−X方向へ印加される。
次に、図3を参照して、磁気抵抗効果素子1A,1Bの構成について、より詳しく説明する。図3は、磁気抵抗効果素子1A,1Bの構成を分解して示す分解斜視図である。
図3に示したように、磁気抵抗効果素子1A,1Bは、磁性層を含む複数の機能膜が積層されたスピンバルブ構造をなすGMR素子であり、中心線CLに沿った方向(図中+Y方向)に固着された磁化方向J11を有する固着層11と、電流磁界Hmをはじめとする外部磁界Hに応じて磁化方向J13が変化する自由層13と、固着層11と自由層13との間に挟まれ、特定の磁化方向を示さない中間層12とをそれぞれ含むものである。自由層13は、ニッケル鉄合金(NiFe)などの軟磁性材料により構成されている。中間層12は、銅(Cu)により構成され、上面が固着層11と接すると共に下面が自由層13と接している。中間層12は、銅のほか、金(Au)などの導電率の高い非磁性金属により構成することができる。なお、固着層11の上面(中間層12と反対側の面)および自由層13の下面(中間層12と反対側の面)は、それぞれ図示しない保護膜によって保護されている。また、固着層11と自由層13との間には磁化方向J11における交換バイアス磁界Hin(以下、単に「交換バイアス磁界Hin」と記す。)が生じており、中間層12を介して互いに作用し合っている。交換バイアス磁界Hinの強度は、固着層11と自由層13との相互間隔(すなわち中間層12の厚み)に応じて自由層13のスピン方向が回転することにより変化する。さらに、図3では、下から自由層13、中間層12、固着層11の順に積層された場合の構成例を示しているが、これに限定されず、反対の順序で構成するようにしてもよい。
図4に、固着層11の詳細な構成を示す。固着層11は、中間層12の側から磁化固定膜14と反強磁性膜15とが順に積層された構成となっている。磁化固定膜14は、コバルト(Co)やコバルト鉄合金(CoFe)などの強磁性材料によって構成されている。この磁化固定膜14の示す磁化方向が固着層11全体としての磁化方向J11となる。反強磁性膜15は、白金マンガン合金(PtMn)やイリジウムマンガン合金(IrMn)などの反強磁性材料により構成されている。反強磁性膜15は、+Y方向のスピン磁気モーメントと反対方向(−Y方向)のスピン磁気モーメントとが完全に打ち消し合った状態にあり、磁化固定膜14の磁化方向J11を固定するように機能するものである。
以上のように構成された第1および第2の磁気抵抗効果素子1A,1Bでは、電流磁界Hmが印加されることにより自由層13の磁化方向J13が回転し、それによって磁化方向J13と磁化方向J11との相対角度が変化する。その相対角度は、電流磁界Hmの大きさや向きによって決まるものである。
なお、図3は、電流磁界Hmが零(Hm=0)であり、かつ、永久磁石HM1,HM2によるバイアス磁界Hb1,Hb2を印加しない無負荷状態(すなわち、外部磁界Hが零の状態)を示している。自由層13の磁化容易軸方向AE13が固着層11の磁化方向J11と平行となるように形成されていることから、この状態では、磁化容易軸方向AE13と、磁化方向J13と、磁化方向J11とが全て+Y方向に沿って互いに平行となっている。このため、自由層13における各磁区のスピン方向がほぼ同一方向に揃うこととなるので、磁気抵抗効果素子1A,1Bに対し、磁化方向J11と直交する方向(+X方向または−X方向)へ外部磁界Hが印加された場合には、図5に示したような特性が得られる。図5は、+X方向への外部磁界Hを正として外部磁界Hと抵抗変化率ΔR/Rとの関係を示したものであるが、両者の関係は、外部磁界H=0において極小(ΔR/R=0)となり、ヒステリシスをほとんど示すことのない1本の曲線C1で表される。この場合、ヒステリシスに起因する1/fノイズが極めて小さくなるので、高感度かつ安定したセンシングが可能となる。
ただし、図5から明らかなように、外部磁界Hが零(H=0)の近傍においては直線的な変化が得られないので、実際に電流磁界Hmを測定する場合には永久磁石HM1,HM2によるバイアス磁界Hb1,Hb2を磁化方向J11と直交する方向へ印加し、図6に示したように、磁化方向J13を回転させ、+X方向の成分または−X方向の成分を含むように僅かに傾ける(図6では+X方向へ傾けた場合を例示する)。こうすることにより、図5に示したバイアスポイントBP1,BP2を中心とする線形領域L1,L2において電流磁界Hmの変化を精度良く検出することができる。電流センサ10においては、磁気抵抗効果素子1A,1Bの各々の固着層11における磁化方向J11が同一方向(+Y方向)であるので、磁気抵抗効果素子1A,1Bの双方に対して同一方向(図2では−X方向)のバイアス磁界Hb1,Hb2を印加するようにする。こうすることにより、電流磁界Hmを検出したときに、磁気抵抗効果素子1Aの抵抗値R1と磁気抵抗効果素子1Bの抵抗値R2とが互いに逆の変化を生じることとなる。例えば、磁気抵抗効果素子1A,1Bに対して、予め+X方向へバイアスポイントBP1(図5参照)に相当する強度のバイアス磁界を印加しておく。図2に示したように検出対象電流Imを流すと、磁気抵抗効果素子1Aは、−X方向の電流磁界Hmが印加されることにより、図5から明らかなように抵抗変化率が減少する(抵抗値R1が減少する)。これに対し、磁気抵抗効果素子1Bは、+X方向の電流磁界Hmが印加されることにより、図5から明らかなように抵抗変化率が増加する(抵抗値R2が増加する)のである。
このような構成の電流センサ10では、第1の接続点P1と第2の接続点P2との間に電圧が印加されたときの第3の接続点P3と第4の接続点P4との間の電位差V0(磁気抵抗効果素子1A,1Bのそれぞれに生ずる電圧降下の差分)に基づく補償電流Idが差分検出器としての差動増幅器AMPを介して補償電流ラインCを流れ、その補償電流Idが補償電流検出手段Sによって検出されるようになっている。差動増幅器AMPは、差分V0が零となるように補償電流Idを調整するものである。
以下、図2を参照して、検出対象電流Imによって形成される電流磁界Hmを測定する方法について説明する。
図2において、第1の接続点P1と第2の接続点P2との間に所定の電圧を印加した際の定電流源2A,2Bからの定電流をI0とし、磁気抵抗効果素子1A,1Bの抵抗値をそれぞれR1,R2とする。電流磁界Hmが印加されていない場合、第3の接続点P3における電位V1は、
V1=I0・R1
であり、第4の接続点P4における電位V2は、
V2=I0・R2
となる。よって、第3の接続点P3と第4の接続点P4との間の電位差は、
V0=V1−V2
=I0・R1−I0・R2
=I0・(R1−R2) …(1)
この回路では、電流磁界Hmが印加されたときに、電位差V0を測定することにより抵抗変化量が得られる。例えば電流磁界Hmが印加されたときに、抵抗値R1,R2がそれぞれ変化量ΔR1,ΔR2だけ増加したとすると、式(1)は、
V0=V1−V2
=I0・(R1−R2)
=I0・{(R1+ΔR1)−(R2+ΔR2)} …(2)
となる。
すでに述べたように、磁気抵抗効果素子1A,1Bは電流磁界Hmによって各々の抵抗値R1,R2が互いに逆方向の変化を示すように配置されていることから、変化量ΔR1と変化量ΔR2とは互いの正負が逆の符号となる。したがって、式(2)において、電流磁界Hmが印加される前の抵抗値R1および抵抗値R2は互いに打ち消し合う一方で、変化量ΔR1および変化量ΔR2はそのまま維持される。
仮に、磁気抵抗効果素子1A,1Bが全く同一の特性を有するとした場合、すなわち、R1=R2=R
かつ
ΔR1=−ΔR2=ΔR
であると仮定した場合、式()は、
V0=I0・(R1+ΔR1−R2−ΔR2)
=I0・(R+ΔR−R+ΔR)
=I0・(2ΔR) …(
となる。したがって、予め外部磁界と抵抗変化量との関係を把握した磁気抵抗効果素子1A,1Bを用いるようにすれば、電流磁界Hmの大きさを測定することができ、その電流磁界Hmを発生する検出対象電流Imの大きさを推定することができる。この場合、2つの磁気抵抗効果素子1A,1Bを用いてセンシングを行っているので、磁気抵抗効果素子1Aまたは磁気抵抗効果素子1Bを単独で用いてセンシングを行う場合と比べて2倍の抵抗変化量を取り出すことができ、測定値の高精度化に有利となる。また、4つの磁気抵抗効果素子を用いてブリッジ回路を構成してセンシングを行う場合と比べ、磁気抵抗効果素子同士の特性のばらつきや接続抵抗のばらつき等を小さく抑えることができるので、感度が高い磁気抵抗効果素子を用いた場合であってもバランス調整が容易である。また、磁気抵抗効果素子自体の個数を減らすことができ、それに伴い端子の数も減るので、省スペース化に有利となる。
さらに、電流センサ10では、第3の接続点P3において検出される電位V1と第4の接続点P4において検出される電位V2とが差動増幅器AMPに供給されて、その差分(電位差V0)が零となるような補償電流Idが出力される。差動増幅器AMPからの補償電流Idは、磁気抵抗効果素子1A,1Bの近傍を検出対象電流Imとは正反対の方向へ流れることにより電流磁界Hmとは逆方向の補償電流磁界Hdを生じ、回路中の接続抵抗のばらつきや磁気抵抗効果素子1A,1Bの相互間における特性のばらつき、温度分布の偏り、あるいは外部からの妨害磁界などに起因する誤差分をキャンセルするように作用するので、結果として電流磁界Hmのみに比例した大きさに近づくこととなる。したがって、補償電流検出手段Sにおいて、出力電圧Voutを測定し、既知の抵抗体RLとの関係から補償電流Idを算出することにより、電流磁界Hmをより正確に求めることができ、ひいては検出対象電流Imの大きさを高精度に推定することができる。
以上のように、本実施の形態の電流センサ10によれば、導体4を流れる検出対象電流Imが発生する電流磁界Hmにより抵抗値R1,R2が互いに逆方向の変化を示すこととなるように導体4に沿って配置され、互いに並列接続された磁気抵抗効果素子1A,1Bと、第3の接続点P3において磁気抵抗効果素子1Aと直列接続された定電流源2Aと、第4の接続点P4において磁気抵抗効果素子1Bと直列接続された定電流源2Bとを備え、定電流源2Aと定電流源2Bとを第2の接続点P2において接続し、第1の接続点P1と第2の接続点P2との間に電圧が印加されたときの第3の接続点P3と第4の接続点P4との間の電位差V0に基づいて検出対象電流Imが検出されるように構成したので、4つの磁気抵抗効果素子を用いた場合よりも零磁界でのオフセット値の調整を簡便におこなうことができ、磁気抵抗効果素子1A,1Bとして、より高感度なものを用いることができる。さらに、磁気抵抗効果素子1A,1Bに対して互いに等しく安定した電流を供給することができる。したがって、微弱な検出対象電流Imであっても、その電流磁界Hmを高感度、かつ、高精度に検出することができる。なお、定電流源2A,2Bを設けることにより磁気抵抗効果素子1A,1Bを含めたバランス調整は必要となるが、電気的に制御が可能であるので、4つの磁気抵抗効果素子を用いた場合よりもそのバランス調整は容易である。
特に、第3の接続点P3において検出される電位V1と第4の接続点P4において検出される電位V2との差分(磁気抵抗効果素子1A,1Bのそれぞれに生ずる電圧降下の差分)V0に基づいた補償電流Idが供給される補償電流ラインCをさらに備え、補償電流Idが電流磁界Hmとは逆方向の補償電流磁界Hdを磁気抵抗効果素子1A,1Bに対してそれぞれ付与するように構成したので、磁気抵抗効果素子同士の特性のばらつきや回路中の接続抵抗のばらつき、あるいは温度分布などに起因した出力電圧Voutの変化をキャンセルすることができ、電流磁界Hmを、より高感度かつ、より高精度に検出可能となる。
さらに、電流センサ10では、中心線CLを対称軸として線対称をなすように磁気抵抗効果素子1A,1B、定電流源2A,2Bおよび補償電流ラインCを設けると共に、導体4における一対の平行部分4A,4Bを、磁気抵抗効果素子1A,1Bを含む面と平行な面において中心線CLを対称軸として線対称に配置すると共に中心線CLに沿って互いに平行に延在するように配置したので、中心線CLに対して対称な温度分布となるようにすることができる。したがって、温度分布に依存した零点ドリフトを抑制することができる。
以上、実施の形態を挙げて本発明を説明したが、本発明は実施の形態に限定されず、種々の変形が可能である。例えば本実施の形態では、バイアス印加手段として永久磁石を用いるようにしたが、これに限定されるものではない。例えば、第1および第2の磁気抵抗効果素子における各固着層の磁化方向に延びるバイアス電流ラインを設け、これに所定の電流を流すことによりバイアス磁界を形成するようにしてもよい。また、補償電流ラインを設けなくともよい。その場合には、バイアス印加手段が不要となる。
さらに、本実施の形態では、第1の定電流源と第2の定電流源とが第2の接続点において互いに接続されるようにしたが、互いに接続されず、それぞれ別々の電源電圧と接続されるようにしてもよい。
さらに、本実施の形態では、導体の形状をU字形状としたがこれに限定されるものではない。例えばコの字形状(一対の平行部分を1つの直線で結んだ形状)や、V字形状またはM字形状とすることもできる。
本発明の電流センサは、上記実施の形態において説明したように、電流値そのものを図ることを目的とする場合に用いられるほか、プリント配線の欠陥などの検査を行う渦電流探傷技術に応用可能である。例えば、磁気抵抗効果素子を直線上に多数個配置した電流センサとし、渦電流の変化を磁束の変化として捉えるような応用例が考えられる。
本発明の一実施の形態に係る電流センサの構成を示す斜視図である。 図1に示した電流センサに対応する回路図である。 図2に示した電流センサの要部である磁気抵抗効果素子の構成を示す分解斜視図である。 図3に示した磁気抵抗効果素子における一部の構成を示す斜視図である。 図3に示した磁気抵抗効果素子における抵抗変化率の磁界依存性を示す特性図である。 図2に示した電流センサの要部である磁気抵抗効果素子の構成を示す他の分解斜視図である。
符号の説明
1A…第1の磁気抵抗効果素子、1B…第2の磁気抵抗効果素子、2A…第1の定電流源、2B…第2の定電流源、3…基体、4…導体、5,6…回路基板、10…電流センサ、11…固着層、12…中間層、13…自由層、AE13…磁化容易軸、CL…中心線、Im…検出対象電流、Hm…電流磁界、HM1,HM2…永久磁石、J11,J13…磁化方向。

Claims (9)

  1. 導体を流れる検出対象電流により生ずる電流磁界に応じて抵抗値が互いに逆方向の変化を示すこととなるように前記導体に沿って配置され、膜面内において前記電流磁界の方向と直交する方向に固着された磁化方向を有する固着層と、膜面内において前記固着層の磁化方向と平行な磁化容易軸を有すると共に前記電流磁界に応じて磁化方向が変化する自由層と、前記固着層および前記自由層の間に挟まれた中間層とをそれぞれ含む第1および第2の磁気抵抗効果素子と、
    前記第1および第2の磁気抵抗効果素子のそれぞれに、互いに等しい値の定電流を供給する第1および第2の定電流源と、
    前記定電流によって前記第1および第2の磁気抵抗効果素子のそれぞれに生ずる電圧降下の差分を検出する差分検出器と、
    前記第1および第2の磁気抵抗効果素子に対し、膜面内において前記固着層の磁化方向と直交する方向にバイアス磁界を印加するバイアス印加手段と
    を備え、前記電圧降下の差分に基づいて前記検出対象電流を検出する
    ことを特徴とする電流センサ。
  2. 前記バイアス印加手段は、永久磁石または前記固着層の磁化方向に延びるバイアス電流ラインのうちのいずれか一方である
    ことを特徴とする請求項に記載の電流センサ。
  3. 前記第1および第2の磁気抵抗効果素子は、それぞれの前記固着層の磁化方向が互いに平行をなすように配置されている
    ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の電流センサ。
  4. 前記第1の磁気抵抗効果素子と前記第1の定電流源とは、前記第1の磁気抵抗効果素子における固着層の磁化方向に延びる直線上に配置されており、
    前記第2の磁気抵抗効果素子と前記第2の定電流源とは、前記第2の磁気抵抗効果素子における固着層の磁化方向に延びる直線上に配置されている
    ことを特徴とする請求項に記載の電流センサ。
  5. 前記第1および第2の磁気抵抗効果素子は、その一端同士が第1の接続点において接続され、
    前記第1および第2の定電流源は、その一端同士が第2の接続点において接続され、
    さらに、前記第1の磁気抵抗効果素子の他端と前記第1の定電流源の他端とが第3の接続点において接続され、かつ、前記第2の磁気抵抗効果素子の他端と前記第2の定電流源の他端とが第4の接続点において接続されており、
    前記第1の接続点と前記第2の接続点との間に電圧が印加されたときの前記第3の接続点と前記第4の接続点との間の電位差に基づいて前記検出対象電流が検出されるように構成されている
    ことを特徴とする請求項1から請求項のいずれか1項に記載の電流センサ。
  6. 前記第1および第2の磁気抵抗効果素子は、互いを結ぶ仮想直線上の中間点を通る中心線を対称軸として線対称に配置され、かつ、前記中心線の延在方向と同じ方向に延在しており、
    前記導体は、前記第1および第2の磁気抵抗効果素子を含む面と平行な面において前記中心線を対称軸として線対称に配置されると共に前記中心線に沿って互いに平行に延在する一対の平行部分を有するU字形部分を含んでいる
    ことを特徴とする請求項1から請求項のいずれか1項に記載の電流センサ。
  7. 前記電圧降下の差分に応じた補償電流が流れることにより、前記検出対象電流に基づいて前記第1および第2の磁気抵抗効果素子に印加される各電流磁界とは逆方向の補償電流磁界を前記第1および第2の磁気抵抗効果素子の各々に付与するように構成された補償電流ラインをさらに備えた
    ことを特徴とする請求項1から請求項のいずれか1項に記載の電流センサ。
  8. 前記補償電流ラインを流れる補償電流に基づいて前記検出対象電流を検出する
    ことを特徴とする請求項に記載の電流センサ。
  9. 前記補償電流ラインは、前記導体のU字形部分に対して逆U字形をなすように構成されている
    ことを特徴とする請求項または請求項に記載の電流センサ。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8593134B2 (en) 2010-03-18 2013-11-26 Tdk Corporation Current sensor

Families Citing this family (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7259545B2 (en) * 2003-02-11 2007-08-21 Allegro Microsystems, Inc. Integrated sensor
US7476816B2 (en) * 2003-08-26 2009-01-13 Allegro Microsystems, Inc. Current sensor
US7709754B2 (en) * 2003-08-26 2010-05-04 Allegro Microsystems, Inc. Current sensor
US20060219436A1 (en) * 2003-08-26 2006-10-05 Taylor William P Current sensor
JP4433820B2 (ja) * 2004-02-20 2010-03-17 Tdk株式会社 磁気検出素子およびその形成方法ならびに磁気センサ、電流計
US7777607B2 (en) * 2004-10-12 2010-08-17 Allegro Microsystems, Inc. Resistor having a predetermined temperature coefficient
EP1855118A4 (en) * 2005-02-23 2009-12-09 Asahi Kasei Emd Corp CURRENT MEASURING INSTRUMENT
JP4224483B2 (ja) * 2005-10-14 2009-02-12 Tdk株式会社 電流センサ
US7768083B2 (en) 2006-01-20 2010-08-03 Allegro Microsystems, Inc. Arrangements for an integrated sensor
US20070279053A1 (en) * 2006-05-12 2007-12-06 Taylor William P Integrated current sensor
JP5176397B2 (ja) 2006-06-01 2013-04-03 ソニー株式会社 表示装置及びその駆動方法
US7483295B2 (en) * 2007-04-23 2009-01-27 Mag Ic Technologies, Inc. MTJ sensor including domain stable free layer
JP4877095B2 (ja) * 2007-06-25 2012-02-15 Tdk株式会社 電流センサおよびその製造方法
US7394248B1 (en) 2007-08-02 2008-07-01 Magic Technologies, Inc. Method and structure to reset multi-element MTJ
US7795862B2 (en) 2007-10-22 2010-09-14 Allegro Microsystems, Inc. Matching of GMR sensors in a bridge
US8269491B2 (en) * 2008-02-27 2012-09-18 Allegro Microsystems, Inc. DC offset removal for a magnetic field sensor
US7816905B2 (en) 2008-06-02 2010-10-19 Allegro Microsystems, Inc. Arrangements for a current sensing circuit and integrated current sensor
US8058871B2 (en) * 2008-07-08 2011-11-15 Magic Technologies, Inc. MTJ based magnetic field sensor with ESD shunt trace
US8093670B2 (en) * 2008-07-24 2012-01-10 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for integrated circuit having on chip capacitor with eddy current reductions
US7973527B2 (en) 2008-07-31 2011-07-05 Allegro Microsystems, Inc. Electronic circuit configured to reset a magnetoresistance element
US8063634B2 (en) * 2008-07-31 2011-11-22 Allegro Microsystems, Inc. Electronic circuit and method for resetting a magnetoresistance element
US20110133732A1 (en) * 2009-12-03 2011-06-09 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for enhanced frequency response of magnetic sensors
WO2012013906A1 (fr) * 2010-07-30 2012-02-02 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Capteur intègre de mesure de tension ou de courant a base de magnétorésistances
JP5794777B2 (ja) 2010-12-22 2015-10-14 三菱電機株式会社 半導体装置
KR101831800B1 (ko) * 2011-02-01 2018-02-23 가부시키가이샤 Sirc 전력계측장치
JP5584918B2 (ja) 2011-09-29 2014-09-10 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ
JP2013088349A (ja) * 2011-10-20 2013-05-13 Alps Green Devices Co Ltd 電流センサ
US9389247B2 (en) * 2011-11-04 2016-07-12 Infineon Technologies Ag Current sensors
JP5728719B2 (ja) 2011-12-28 2015-06-03 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ
US8629539B2 (en) 2012-01-16 2014-01-14 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having non-conductive die paddle
US9666788B2 (en) 2012-03-20 2017-05-30 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame
US9812588B2 (en) 2012-03-20 2017-11-07 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor integrated circuit with integral ferromagnetic material
US10234513B2 (en) 2012-03-20 2019-03-19 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor integrated circuit with integral ferromagnetic material
US9494660B2 (en) 2012-03-20 2016-11-15 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame
DE102012012759A1 (de) * 2012-06-27 2014-01-02 Sensitec Gmbh Anordnung zur Strommessung
US10345343B2 (en) 2013-03-15 2019-07-09 Allegro Microsystems, Llc Current sensor isolation
US9190606B2 (en) 2013-03-15 2015-11-17 Allegro Micosystems, LLC Packaging for an electronic device
US9411025B2 (en) 2013-04-26 2016-08-09 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame and a magnet
JP2015125019A (ja) * 2013-12-25 2015-07-06 株式会社東芝 電流センサ、電流測定モジュール及びスマートメータ
US9354284B2 (en) 2014-05-07 2016-05-31 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor configured to measure a magnetic field in a closed loop manner
US9322887B1 (en) 2014-12-01 2016-04-26 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with magnetoresistance elements and conductive-trace magnetic source
US10598700B2 (en) * 2016-12-30 2020-03-24 Texas Instruments Incorporated Magnetic field-based current measurement
CN107300683B (zh) * 2017-06-26 2019-09-03 新纳传感***有限公司 磁传感装置及其自动校准方法、电流传感器
US10935612B2 (en) 2018-08-20 2021-03-02 Allegro Microsystems, Llc Current sensor having multiple sensitivity ranges
CN109541281A (zh) * 2018-12-26 2019-03-29 新纳传感***有限公司 玻璃隔离器件及其制造方法、电流传感器
CN109946499A (zh) * 2019-03-13 2019-06-28 无锡乐尔科技有限公司 基于pcb的电流检测装置
US10991644B2 (en) 2019-08-22 2021-04-27 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a low profile
US11187764B2 (en) 2020-03-20 2021-11-30 Allegro Microsystems, Llc Layout of magnetoresistance element
US11800813B2 (en) 2020-05-29 2023-10-24 Allegro Microsystems, Llc High isolation current sensor
CN112014001B (zh) * 2020-08-24 2022-06-10 歌尔微电子有限公司 微机电***力学传感器、传感器单体及电子设备
US11567108B2 (en) 2021-03-31 2023-01-31 Allegro Microsystems, Llc Multi-gain channels for multi-range sensor
US11768230B1 (en) 2022-03-30 2023-09-26 Allegro Microsystems, Llc Current sensor integrated circuit with a dual gauge lead frame

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH651672A5 (de) * 1980-12-24 1985-09-30 Landis & Gyr Ag Magnetoresistiver stromdetektor.
JP2796391B2 (ja) * 1990-01-08 1998-09-10 株式会社日立製作所 物理量検出方法および物理量検出装置あるいはこれらの方法あるいは装置を利用したサーボモータおよびこのサーボモータを使用したパワーステアリング装置
DE4300605C2 (de) 1993-01-13 1994-12-15 Lust Electronic Systeme Gmbh Sensorchip
JPH0766033A (ja) 1993-08-30 1995-03-10 Mitsubishi Electric Corp 磁気抵抗素子ならびにその磁気抵抗素子を用いた磁性薄膜メモリおよび磁気抵抗センサ
US5500590A (en) * 1994-07-20 1996-03-19 Honeywell Inc. Apparatus for sensing magnetic fields using a coupled film magnetoresistive transducer
JPH0870148A (ja) 1994-08-30 1996-03-12 Mitsubishi Materials Corp 磁気抵抗素子
DE4434417A1 (de) 1994-09-26 1996-03-28 Lust Antriebstechnik Gmbh Meßanordnung zur Messung eines elektrischen Stromes
JP2924741B2 (ja) 1995-10-31 1999-07-26 日本電気株式会社 電流検出器付き半導体装置
JP3623366B2 (ja) * 1998-07-17 2005-02-23 アルプス電気株式会社 巨大磁気抵抗効果素子を備えた磁界センサおよびその製造方法と製造装置
JP2001056908A (ja) 1999-08-11 2001-02-27 Nec Corp 磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果ヘッド及び磁気抵抗検出システム並びに磁気記憶システム
JP2002247751A (ja) * 2001-02-16 2002-08-30 Fuji Electric Co Ltd 過負荷電流保安装置
JP2002318250A (ja) * 2001-02-16 2002-10-31 Fuji Electric Co Ltd 電流検出装置およびこれを用いた過負荷電流保安装置
US6667682B2 (en) * 2001-12-26 2003-12-23 Honeywell International Inc. System and method for using magneto-resistive sensors as dual purpose sensors
US7259545B2 (en) 2003-02-11 2007-08-21 Allegro Microsystems, Inc. Integrated sensor
WO2005033716A1 (en) * 2003-10-01 2005-04-14 Eaton Corporation System and method for current sensing using anti-differential, error correcting current sensing
US7023724B2 (en) * 2004-01-10 2006-04-04 Honeywell International Inc. Pseudo tunnel junction
US7164263B2 (en) * 2004-01-16 2007-01-16 Fieldmetrics, Inc. Current sensor
JP4433820B2 (ja) * 2004-02-20 2010-03-17 Tdk株式会社 磁気検出素子およびその形成方法ならびに磁気センサ、電流計
CA2608167C (en) * 2005-05-12 2012-05-01 Corporation Nuvolt Inc. Current sensor
JP4466487B2 (ja) * 2005-06-27 2010-05-26 Tdk株式会社 磁気センサおよび電流センサ
JP4415923B2 (ja) * 2005-09-30 2010-02-17 Tdk株式会社 電流センサ
JP4298691B2 (ja) * 2005-09-30 2009-07-22 Tdk株式会社 電流センサおよびその製造方法
JP4224483B2 (ja) * 2005-10-14 2009-02-12 Tdk株式会社 電流センサ
JP2007218700A (ja) * 2006-02-15 2007-08-30 Tdk Corp 磁気センサおよび電流センサ
JP2007273657A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Tdk Corp 磁気抵抗効果素子およびその製造方法、ならびに薄膜磁気ヘッド、ヘッドジンバルアセンブリ、ヘッドアームアセンブリおよび磁気ディスク装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8593134B2 (en) 2010-03-18 2013-11-26 Tdk Corporation Current sensor

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