JP4333425B2 - センサ装置及びその製造方法 - Google Patents

センサ装置及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4333425B2
JP4333425B2 JP2004076994A JP2004076994A JP4333425B2 JP 4333425 B2 JP4333425 B2 JP 4333425B2 JP 2004076994 A JP2004076994 A JP 2004076994A JP 2004076994 A JP2004076994 A JP 2004076994A JP 4333425 B2 JP4333425 B2 JP 4333425B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
removal region
mother
sensor device
sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004076994A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005265550A (ja
Inventor
啓介 鈴井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2004076994A priority Critical patent/JP4333425B2/ja
Publication of JP2005265550A publication Critical patent/JP2005265550A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4333425B2 publication Critical patent/JP4333425B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Description

本発明は、少なくとも、センサ素子を有する複数の基板を組み合わせてなるセンサ装置及びその製造方法に関するものである。
従来、少なくとも、センサ素子を有する複数の基板を組み合わせてなるセンサ装置として、例えば非特許文献1が開示されている。
非特許文献1に示される磁気センサは、3軸磁界を検出するための3つのホール素子を有する磁気センサであり、2つの基板により構成される。第1の基板(n−Siウエハ)は、イオン注入により形成された3つのホール素子を有しており、2つのホール素子(例えばx,y検出用)を含む所定領域が、基板表面にポリイミドを有するカンチレバー状に加工されている。そして、2つのカンチレバーは、ホール素子の形成面が基板表面に対して垂直となるように、ポリイミドの熱収縮により折曲されている。尚、2つのカンチレバーは、ホール素子の形成面同士のなす角が略90度となるように、基板に対して所定位置に形成されている。また、第2の基板(n−Siウエハ)は、カンチレバーを収納・固定するための、異方性エッチングにより形成されたキャビティ部を有している。
そして、キャビティ部にカンチレバーの折曲部位を挿入した状態で、第2の基板を第1の基板上に固定し、静電力によりキャビティ部の内壁面にカンチレバーを密着させ、さらに加熱する。これにより、ポリイミドを接着層(中間層)として2つの基板を組み合わせてなる磁気センサが形成される。
渡部善幸ら、微小組立技術により作製したホール効果型3軸磁気センサ、 電気学会論文誌E、平成14年、122巻、4号、p212−216
上述の磁気センサの場合、第1の基板のカンチレバーを折曲させ、第2の基板のキャビティ部内壁面にカンチレバーを固定することにより、ホール素子の形成面同士(第1の基板表面と第2の基板のキャビティ部内壁面に固定されたカンチレバーの折曲面)のなす角を所定角度に保持している。
しかしながら、このようにカンチレバーを折曲させるためには、折曲部位を薄肉化する必要があり、折曲により当該折曲部位にクラックが生じ、場合によっては折曲部位が切断される恐れがある。また、ホール素子の形成面同士のなす角を所定角度とするためには、第1の基板に対して第2の基板を高精度に位置決めして固定する必要がある。
そこで本発明は、上記問題点に鑑み、基板の折曲が不要で、基板同士の位置決めが容易な複数の基板からなるセンサ装置及びその製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成する為に請求項1に記載のセンサ装置は、少なくとも、センサ素子を有する複数の基板を組み合わせてなるセンサ装置であって、基板表面に対して所定深さをもつ除去領域を少なくとも1箇所有する母基板と、少なくとも一部が除去領域に挿入される挿入基板とを備え、挿入基板が除去領域に挿入され、母基板に固定された状態で、センサ素子の形成面同士が、互いに所定の角度をなしていることを特徴とする。
このように、本発明のセンサ装置によると、母基板に設けられた除去領域に挿入基板を挿入することにより、母基板と挿入基板の位置決めがなされる。従って、両基板の相対的な位置を決定する位置決めが従来よりも容易である。
また、センサ素子が形成された別個の基板表面同士のなす角が、センサ素子の形成面同士のなす角となる。従って、従来のように基板を折曲しなくとも、基板同士のなす角を調整することで、センサ素子の形成面同士のなす角を所定の角度とすることができる。従って、本発明のセンサ装置は、異なる位相(多軸)を検出することができる。
尚、少なくとも、センサ素子を有する複数の基板を組み合わせてなるセンサ装置とは、センサ素子を有する複数の基板だけを組みあせて構成されても良いし、センサ素子を有する複数の基板とともに、センサ素子を有さない基板を組み合わせて構成されても良い。
ここで、センサ素子の形成面同士がなす所定の角度とは、少なくともセンサ素子の形成面同士が同一平面にない状態にあれば良いが、略90度の角度をなしていると、各センサ素子からの出力に基づいた角度演算が容易となるため好ましい。
センサ素子の形成面同士が、互いに略90度の角度をなす構成としては、例えば請求項2に記載のように、母基板が除去領域を2箇所有し、除去領域に挿入されるそれぞれの挿入基板がセンサ素子を有している場合、挿入基板が除去領域に挿入された状態で、挿入基板におけるセンサ素子の形成面同士が、互いに略90度の角度をなす構成とすることができる。
この場合、除去領域に挿入基板を挿入・固定した状態で、センサ素子を備える2つの挿入基板の表面同士のなす角が略90度となるように、母基板に2つの除去領域が形成されれば、除去領域に挿入基板を挿入・固定した状態で、挿入基板に設けられたセンサ素子の形成面同士のなす角を略90度とすることができる。
また、請求項3に記載のように、母基板及び挿入基板がそれぞれセンサ素子を有し、除去領域が母基板の表面に対して略垂直な側面を有する場合も、挿入基板が除去領域に挿入され、母基板に固定された状態で、センサ素子の形成面同士が、互いに略90度の角度をなす構成とすることができる。
このように、除去領域が母基板の表面に対して略垂直な側面を有していると、除去領域に挿入基板を挿入・固定した状態で、母基板及び挿入基板の表面同士が、互いに略90度の角度をなすこととなる。従って、母基板及び挿入基板にそれぞれ形成されたセンサ素子の形成面同士のなす角を略90度とすることができる。
母基板に対する挿入基板の固定は、例えば挿入基板の挿入部位と略同等に設けられた除去領域に対して、挿入基板を挿入することによりなされても良い。それ以外にも、例えば請求項4に記載のように、挿入基板が基板表面から突出する突出部を有し、挿入基板が除去領域に挿入された状態で、突出部が母基板における除去領域の周囲部位に固定されても良い。この場合、突出部が母基板における除去領域の周囲部位に係止して位置決めされた状態で、突出部と周囲部が固定される。固定方法としては、接着剤による接着や、突出部と周囲部位に設けられた突出部に対応する溝部との嵌合等を適用することができる。
具体的には、請求項5に記載のように、挿入基板が、突出部としてセンサ素子に電気的に接続された複数の接続端子を有し、母基板が除去領域を除く基板表面に挿入基板に設けられたセンサ素子の配線部を有しており、接続端子が母基板における除去領域の周囲部位に固定された状態で、接続端子と配線部が電気的に接続していると良い。
ここで、除去領域の内壁に所定パターンの配線部を設けるのは困難である。しかしながら、本発明によると、接続端子が母基板における除去領域の周囲部位に固定されるので、当該周囲部位を含む基板表面に配線部を有していれば、接続端子と配線部の電気的な接続を容易に確保することができる。また、母基板の同一平面上に、各センサ素子の出力検出用の電極等を設けることができる。
尚、請求項5においては、接続端子が溶融されて配線部と接合していることが好ましい。この場合、挿入基板に設けられたセンサ素子と母基板に設けられた配線部とが安定して電気的に接続される。また、母基板に対して挿入基板が安定して固定される。
ここで、除去領域は非貫通孔である溝部であっても良いし、請求項7に記載のように、母基板の対向する両表面を貫通する貫通孔であっても良い。貫通孔の場合、液体内に母基板と挿入基板を配置し、除去領域である貫通孔を通過する液体の流れにより、自動的に挿入基板を母基板の貫通孔に位置決めすることも可能である。
具体的には、請求項8に記載のように、挿入基板が略正方形の表面を有し、当該表面を構成する4辺に対して、複数を1組とする接続端子がそれぞれ平行に設けられていると、どの辺を挿入先端として貫通孔に挿入されても、挿入基板のセンサ素子と母基板の配線部との電気的な接続を確保することができる。
また、請求項9に記載のように、挿入基板の表面は矩形状を有し、接続端子は、矩形状の角部を構成する2辺における角部頂点からの距離が等しい点を結んだ直線上に設けられていると、角部を挿入先端として挿入基板が貫通孔に挿入される場合に、挿入基板のセンサ素子と母基板の配線部との電気的な接続を確保することができる。
また、請求項10に記載のように、挿入基板がその挿入先端に、当該基板よりも比重の大きな材料からなる重り部を有していると、挿入基板は重り部を挿入先端として貫通孔に挿入される。従って、重り部に対して基板の所定位置に接続端子が形成されていれば、挿入基板のセンサ素子と母基板の配線部との電気的な接続を確保することができる。
また、請求項11に記載のように、挿入基板の対向する両表面に、同一の大きさ及び形状を有するセンサ素子が、それぞれ設けられていると、貫通孔を挟んだ貫通孔の周囲部位の一方のみに配線部が形成されていても、挿入基板の表裏面に関係なく、接続端子と配線部との電気的な接続を確保することができる。
また、請求項12に記載のように、母基板の除去領域を挟んで対向する両周辺部位に、配線部がそれぞれ設けられていると、請求項11とは逆に、挿入基板の対向する両表面の一方のみにセンサ素子及び接続端子が形成されていても、挿入基板の表裏面に関係なく、接続端子と配線部との電気的な接続を確保することができる。
尚、請求項1〜12のセンサ素子としては、請求項13に記載のようにホール素子を適用することができる。
次に、少なくともセンサ素子を有する複数の基板を組み合わせてなるセンサ装置の製造方法は、請求項14に記載のように、複数の基板の少なくとも一部にセンサ素子を形成する工程と、複数の基板の1つを母基板とし、当該母基板に所定深さの除去領域を少なくとも1箇所形成する工程と、残りの基板を挿入基板とし、当該挿入基板の少なくとも一部を除去領域に挿入し、挿入基板を母基板に固定する工程とを備え、挿入基板を母基板に固定した状態で、センサ素子の形成面同士が、互いに所定の角度をなすことを特徴とする。
本発明の作用効果は、請求項1に記載の発明の作用効果と同一であるので、その記載を省略する。
尚、除去領域は、例えば請求項15に記載のように、母基板をエッチングすることにより形成しても良い。また、母基板が複数層からなる場合には、請求項16に記載のように、予め所定形状に加工された各層を積層することにより形成しても良い。
請求項17〜22に記載の発明の作用効果は、請求項2〜7に記載の発明の作用効果と同様であるので、その記載を省略する。
除去領域が貫通孔である場合、請求項23に記載のように、挿入基板及び母基板を液体中に配置し、母基板の除去領域を通過する液体の流れにより、除去領域に挿入基板の少なくとも一部を挿入しても良い。この場合、例えば、挿入基板が小さく、人手等による取り扱いが困難な場合であっても、上述の方法によれば、自動で除去領域に挿入基板を挿入させることができる。
請求項24〜29に記載の発明の作用効果は、請求項8〜13に記載の発明の作用効果と同様であるので、その記載を省略する。
以下、本発明の実施の形態を、図に基づいて説明する。尚、本実施形態においては、複数のセンサ素子を有し、複数の基板を組み合わせてなるセンサ装置として、磁気センサを例にとり以下に説明する。
(第1の実施形態)
図1は、本実施形態における磁気センサの概略構成を示す図であり、(a)は斜視図、(b)は(a)のA−A断面における断面図である。尚、図1(b)においては、便宜上、配線部等を省略し、基板と接続端子のみを図示している。
図1(a),(b)に示すように、本実施形態における磁気センサ100は、複数の基板として、母基板10及び挿入基板20の2枚の基板により構成される。
母基板10は、半導体基板であるp型シリコン基板であり、挿入基板20の挿入部位の形状に対応し、基板表面に対して略垂直な側面を有する四角柱状の除去領域11を1箇所有している。このように、母基板10が半導体基板であると、公知のトレンチ形成技術(トレンチエッチング)により、基板表面に対して略垂直な側面を有する除去領域11を形成することができる。尚、除去領域11の形状は及び個数は、上記例に限定されるものではない。しかしながら、除去領域11の形状及び大きさは、除去領域11にて挿入基板20を位置決めするために、挿入基板20の挿入部位の形状と略同一であり、挿入基板20の挿入部位と略同等か挿入しやすいように若干大きめの大きさを有していることが好ましい。
また、母基板10は、除去領域11が開口している表面に、1つのホール素子30aを有している。本実施形態において、ホール素子30aは、上面側から母基板10に燐等のn型不純物を注入し、熱拡散させることにより形成されている。それ以外にも、インジウムアンチモンやガリウム砒素等の材料を用い、スパッタや蒸着等によりホール素子30aを形成することもできる。尚、図1(a)において、便宜上、ホール素子30aを簡略化して図示している。
さらに、母基板10は、除去領域11の周囲部位を含む所定の領域に、挿入基板20に設けられているホール素子の配線部31を有している。本実施形態において、配線部31はAlからなり、後述するそれぞれの接続端子に接続するように4本形成されている。
挿入基板20は、母基板10に設けられている除去領域11に挿入されつつ母基板10に対して固定されており、固定状態で母基板10の表面と挿入基板20の表面が、互いに略90度の角度をなしている。
また、挿入基板20は、その表面に母基板10同様、1つのホール素子30bを有している。ホール素子30bは、繋ぎ配線32を介して基板表面から突出した突出部としての接続端子33と電気的に接続されている。本実施形態における挿入基板20は、母基板10同様、p型のシリコン基板であり、イオン注入によりホール素子30bが形成されている。それ以外にも、インジウムアンチモンやガリウム砒素等の材料を用い、スパッタや蒸着等によりホール素子30bを形成することもできる。尚、図1(a)において、便宜上、ホール素子30bを簡略化して図示している。
接続端子33ははんだバンプであり、ホール素子30bにバイアス電流を流すための一対のバンプと、ホール素子30bに生じたホール起電力を検出するための一対のバンプとの計4個から構成されている。そして、挿入基板20を除去領域11に挿入した状態で、接続端子33が除去領域11の周囲部位に係止し、接続端子33自体が溶融されて母基板10の周囲部位に設けられた配線部31と接合している。従って、挿入基板20に設けられたホール素子30bは、母基板10に設けられた配線部31と接続端子33を介して電気的に接続されている。また、母基板10表面に、全てのホール素子30a,30bに対するバイアス電流を流すための印加電極や、ホール起電力の検出電極が設けられている。従って、印加電極や検出電極に対する配線が容易である。
このように、本実施形態における磁気センサ100は、挿入基板20が除去領域11に挿入された状態で、挿入基板20に設けられた接続端子33が母基板10に設けられた配線部31と接合しているので、母基板10に挿入基板20が安定して固定されている。そして、当該固定状態において、2つのホール素子30a,30bの形成面が互いに略90度の角度をなしている。従って、ホール素子30a,30bの出力電圧が略90度位相のずれた正弦波となるので、角度演算が容易となる。このように、本実施形態における磁気センサ100は、2次元の磁界変化を検出する回転角センサとして適用することができる。
尚、上述の磁気センサ100は、例えば以下に示す製造工程にて製造することができる。先ず、母基板10を準備する工程を説明する。母基板10としてp型シリコン基板を準備し、除去領域11の形成領域以外の部位にホール素子30aを形成する。本実施形態においては、母基板10の所定領域に、燐(P)等のn型不純物をイオン注入し、イオン注入後、活性化のための熱処理を行って、n型の低濃度不純物拡散領域を形成し、ホール素子30aとした。
ホール素子30aの形成後、図1(a),(b)に示すように、母基板10に所定深さの除去領域11を形成する。ホール素子30aを含む母基板10の表面に、例えば酸化シリコン膜を積層し、除去領域11の形成領域が開口するようにパターニングしてエッチングマスク(図示せず)とする。尚、除去領域11の形成領域は挿入基板20の挿入部位に応じて決定される。そして、エッチングマスクを介して、母基板10の所定領域をプラズマによりトレンチエッチングする。これにより、母基板10表面に対して略垂直な側面を有する四角柱状の除去領域11が形成される。
そして、図1(a)に示すように、除去領域11の周囲部位において、挿入基板20の各接続端子33と接触するように母基板10の表面にAlを成膜し、パターニングして配線部31を形成する。以上の工程により母基板10が準備される。
次に、挿入基板20を準備する工程を説明する。挿入基板20としてp型シリコン基板を準備し、基板表面にホール素子30bを形成する。本実施形態においては、挿入基板20の所定領域に、燐(P)等のn型不純物をイオン注入し、イオン注入後、活性化のための熱処理を行って、n型の低濃度不純物拡散領域を形成し、ホール素子30bとした。
また、ホール素子30bと一部が接続するように、燐(P)等のn型不純物をイオン注入し、活性化のための熱処理を行って、繋ぎ配線32である高濃度不純物拡散領域を形成する。
さらに、挿入基板20表面に、例えば窒化シリコン膜からなる層間絶縁膜(図示せず)を堆積させる。そして、ホトリソグラフィとドライエッチングにより、ホール素子30bに接続されない繋ぎ配線32の端部位置にコンタクトホール(図示せず)を形成し、図1(a),(b)に示すように、接続端子33であるはんだバンプを形成する。このとき、接続端子33は、挿入基板20の突出部形成部位が除去領域11内に挿入されないような高さをもって形成される。従って、後述する挿入工程において、接続端子33が母基板10の表面に係止することにより、母基板10に対して挿入基板20を位置決めすることができる。以上の工程により挿入基板20が準備される。
尚、接続端子33の高さは、接続端子33が母基板10の表面に係止し、母基板10に対して挿入基板20が位置決め可能な高さであれば、上記例に限定されるものではない。例えば、突出部が母基板10に設けられた凹部に嵌合することにより、位置決めと固定が同時になされるような場合には、突出部の高さは上記例に限定されない。
次いで、挿入基板20を母基板10の除去領域11に挿入する。これにより、接続端子33が、配線部31と接するように母基板10の表面に係止し、母基板10に対して挿入基板20が位置決めされる。尚、本実施形態における除去領域11は、挿入基板20の挿入部位(接続端子33までの部位)と同一形状を持って略同等の大きさに設けられている。従って、挿入基板20の挿入部位自体も除去領域11の内壁に少なくとも一部が接した状態となり、母基板10に対して挿入基板20が安定して位置決めされる。
そして、位置決め状態において、加熱により接続端子33を溶融し、接続端子33と配線部31とを接合させる。以上の工程により磁気センサ100が形成される。
このように、本実施形形態においては、母基板10に設けられた除去領域11に挿入基板20を挿入することにより、接続端子33が除去領域11の周囲部位に係止して、母基板10と挿入基板20の位置決めがなされる。従って、両基板10,20の相対的な位置を決定する位置決めが従来よりも容易である。
また、各基板10,20にホール素子30a,30bが形成されており、基板表面同士のなす角がホール素子30a,30bの形成面同士のなす角となる。従って、従来のように基板を折曲しなくとも、母基板10の表面に対して垂直な側面を有する除去領域11に挿入基板20を挿入することにより、ホール素子30a,30bの形成面同士のなす角を略90度とすることができる。
尚、母基板10上に全てのホール素子30a,30bの電極(バイアス電流印加用及びホール起電力検出用)を形成しようとする場合、挿入基板20が突出部としての接続端子33を有していないと、母基板10の表面にてホール素子30bと配線部31との電気的な接続を確保することができないので、除去領域11の側面内壁に所定パターンの配線部31を設ける必要がある。しかしながら、除去領域11の側面内壁にパターン化された配線部31を設けるのは困難である。
それに対し、本実施形態においては、挿入基板20に接続端子33を形成し、母基板10の除去領域11の周囲部位を含む所定領域に配線部31を形成する。従って、挿入基板20を母基板10の除去領域11に挿入した際に、母基板10の表面にて、接続端子33が配線部31と接することができる。すなわち、配線部31の形成が容易である。
尚、上述した磁気センサ100の製造工程において、除去領域11に挿入基板20を挿入した後に、除去領域11に樹脂を充填し、除去領域11と挿入基板20との隙間を埋めても良い。これにより、母基板10に対する挿入基板20の固定状態を安定化させることができる。
また、母基板10及び挿入基板20におけるホール素子30a,30bの形成は別工程としても良いが、同一工程として実施すると、製造工程を短縮することができる。
また、本実施形態において、エッチングにより除去領域11を形成する例を示した。しかしながら、母基板10が複数層を積層してなる積層基板の場合には、予め加工された各層を積層することにより、母基板10に除去領域11を形成することができる。
(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態を図2及び図3に基づいて説明する。図2及び図3は、本実施形態における磁気センサ100の製造方法の概略を示す図であり、図2は挿入前、図3は挿入後を示す図である。尚、図2及び図3において、(a)は挿入基板20の表面側から見た平面図であり、(b)は挿入基板20の側面側から見た断面図である。また、図2及び図3においては、便宜上、挿入基板20の接続端子33のみを図示しており、母基板10における除去領域の形成部位を破線で示している。
第2の実施形態における磁気センサ100は、第1の実施形態によるものと共通するところが多いので、以下、共通部分については詳しい説明は省略し、異なる部分を重点的に説明する。
第2の実施形態において、第1の実施形態と異なる点は、除去領域が貫通孔である点である。
図2(a),(b)に示すように、本実施形態における母基板10は、基板表面に対して垂直な側面を有し、貫通孔である四角柱状の除去領域11aを有している。また、図示されないが、母基板10及び挿入基板20にそれぞれホール素子30a,30bが形成されている。
このように、除去領域11aが貫通孔であっても、第1の実施形態同様、挿入基板20に形成された接続端子33を、母基板10の除去領域11aの周囲部位に係止させて位置決めし、配線部31と接合することにより、挿入基板20を母基板10に固定することができる。従って、形成された磁気センサ100において、ホール素子30a,30bの形成面同士は略90度の角度をなすこととなり、本実施形態に示す磁気センサ100も、2次元の磁界変化を検出する回転角センサとして適用することができる。
ここで、第1の実施形態に示したように除去領域11が非貫通孔であると、例えば挿入基板20が非常に小さい場合には、人手や機械等により除去領域11に挿入するのが困難である。しかしながら、本実施形態に示すように、除去領域11aが貫通孔であると、除去領域11aを通過する液体の流れにより、挿入基板20を除去領域11aに自動的に挿入させることができる。
具体的には、ホール素子30a,30b等が形成された(第1実施形態における挿入工程前までの状態の)母基板10及び挿入基板20を、純水等の液体40が充填された装置(図示せず)内に配置する。そして、母基板10を固定装置(図示せず)に固定した状態で、図2(a),(b)に示すように、母基板10において、配線部31の形成された面側から、対向する面側へ除去領域11aを通過する液体40の流れ(図2(a),(b)における白抜き矢印)を作る。
これにより、図3(a),(b)に示すように、液体40の流れに沿って除去領域11aに挿入基板20が挿入され、挿入基板20に設けられた接続端子33が母基板10の表面に係止する。そして係止した状態で、液体40を排出するか、液体40中から両基板10,20を取り出し、加熱により接続端子33を溶融させて配線部31と接合させる。以上により、本実施形態における磁気センサ100を形成することができる。
尚、上述のように、自動で挿入基板20を母基板10に挿入させる場合、挿入基板20の接続端子33が除去領域11a内に挿入されないように所定高さに形成する必要がある。
尚、図2及び図3においては、第1の実施形態同様、挿入基板20に4個の接続端子33が設けられている例を示した。しかしながら、液体40の流れにより、挿入基板20を除去領域11aに挿入する場合、必ずしも一定の位置から挿入基板20が除去領域11aに挿入されるとは限らない。そこで、例えば図4に示すように、挿入基板20が略正方形の表面を有し、当該表面を構成する4辺に対して、4個を1組とする接続端子33を各辺に平行に設けても良い。この場合、挿入基板20がどの辺を挿入先端として除去領域11aに挿入されても、接続端子33を介して、挿入基板20のホール素子30bと配線部31との電気的な接続を確保することができる。尚、図4は、挿入基板20の概略平面図であり、接続端子33のみを図示している。
また、挿入基板20は基板の角部から除去領域11aに挿入されることも考えられる。従って、挿入基板20の表面が矩形状を有し、矩形状の角部を構成する2辺における角部頂点からの距離が等しい点を結んだ直線上に、4個を1組とする接続端子33を設けても良い。この場合、角部を挿入先端として挿入基板20が除去領域11aに挿入されても、接続端子33を介して、挿入基板20のホール素子30bと配線部31との電気的な接続を確保することができる。特に、図5に示すように、挿入基板20が略正方形の表面を有し、4個を1組とする接続端子33が各角部に対して設けられていると、どの角部が挿入先端として除去領域11aに挿入されても、接続端子33を介して、挿入基板20のホール素子30bと配線部31との電気的な接続を確保することができるので好ましい。尚、図5も、挿入基板20の概略平面図であり、接続端子33のみを図示している。
また、図6に示すように、挿入基板20の挿入先端に、当該基板20よりも比重の大きな材料(例えばガラス)からなる重り部50を設けても良い。この場合、挿入基板20は重り部50を挿入先端として除去領域11aに挿入されるので、重り部50に対して挿入基板20の所定位置に接続端子33が形成されていれば、接続端子33を介して、挿入基板20のホール素子30bと配線部31との電気的な接続を確保することができる。尚、図6は、挿入基板20の概略平面図であり、便宜上、ホール素子30b及び繋ぎ配線32を省略して図示している。
ここで、挿入基板20の一方の表面のみにホール素子30b等が形成され、母基板10の除去領域11aを挟んだ対向する一方の周囲部位のみに配線部31が形成される場合、液体40中での挿入では、ホール素子30bの形成面と配線部31の形成位置とが一致しない場合がある。従って、例えば図7に示すように、挿入基板20の対向する両表面に、同一の大きさ及び形状を有するホール素子30bを形成すれば、母基板10の除去領域11aを挟んだ周囲部位の一方のみに配線部31が形成されていても、挿入基板20の表裏面に関係なく、接続端子33と配線部31との電気的な接続を確保することができる。尚、図7は、挿入基板20の概略側面図であり、便宜上、接続端子33のみを図示している。
また、図8に示すように、母基板10の除去領域11aを挟んで対向する両周辺部位に、配線部31をそれぞれ形成しても良い。この場合、上述した図7とは逆に、挿入基板20の対向する両表面の一方のみにホール素子30b等が形成されていても、挿入基板20の表裏面に関係なく、接続端子33と配線部31との接続を確保することができる。尚、図8は、母基板10の概略平面図であり、便宜上、除去領域11a及びその周囲部位における配線部31のみを図示している。
以上本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は上述の実施形態のみに限定されず、種々変更して実施する事ができる。
本実施形態において、センサ素子がホール素子30a,30bである例を示した。しかしながら、センサ素子は上記例に限定されるものではない。
また、本実施形態において、磁気センサ100がホール素子30a,30bを2個備える例を示した。しかしながら、ホール素子の形成個数は2個に限定されるものではない。例えば、図9に示すように、母基板10に2箇所の除去領域11が形成され、それぞれの除去領域11に挿入基板20が挿入・固定される構成の場合、各基板10,20にホール素子30a,30b,30cを形成することで、ホール素子30a,30b,30cの形成面同士のなす角を略90度とすることができる。この場合、3次元の磁界変化を検出することができるので、磁気センサ100を位置センサとして適用することができる。
また、本実施形態においては、各基板10,20がそれぞれホール素子30a,30bを有している例を示した。しかしながら、磁気センサは、ホール素子を有する複数の基板だけを組みあせて構成されても良いし、ホール素子を有する複数の基板とともに、ホール素子を有さない基板を組み合わせて構成されても良い。例えば、上述した図9において、母基板10がホール素子30aを有さない構成としても良い。この場合、挿入基板20に形成されたホール素子30b,30cの形成面同士が互いに略90度であるので、磁気センサ100は2次元の磁界変化を検出することができる。
尚、センサ素子の形成面同士のなす角は略90度に限定されるものではない。センサ素子の形成面同士がなす所定の角度とは、少なくともセンサ素子の形成面同士が同一平面にない状態にあれば良い。所定の角度とは、母基板10の基板表面に対する除去領域11の側面の角度、及び/又は、挿入基板20から突出する突出部(接続端子33)の基板表面に対する角度によって決定される。しかしながら、本実施形態で示したように、センサ素子の形成面同士が互いに略90度の角度をなしていると、各センサ素子からの出力に基づいた角度演算を容易とすることができる。
また、本実施形態において、挿入基板20が基板表面から突出する突出部として接続端子33を有し、当該接続端子33自体が加熱により溶融されて配線部31と接合する例を示した。しかしながら、突出部は上記例に限定されるものではない。例えば、突出部が母基板10における除去領域11(11a)の周囲部位に係止して位置決めされた状態で、接着等により突出部を周囲部位に固定しても良い。また、母基板10の周囲部位に、突出部に対応する凹部を形成し、当該凹部に突出部を嵌合させることにより固定しても良い。
また、本実施形態において、挿入基板20が接続端子33を有し、当該接続端子33を溶融して、挿入基板20を母基板10に固定する例を示した。しかしながら、挿入基板20は必ずしも接続端子33(突出部)を有していなくとも良い。例えば、図10(a),(b)に示すように、エッチング等により挿入基板20自体に凹凸が設けられ、当該凹凸に対応して形成された除去領域11(11a)に挿入基板20を挿入し、嵌合により挿入基板20を母基板10に固定することもできる。尚、図10(a)は上面側から見た平面図、図10(b)は(a)のB−B断面における断面図である。
本実施形態における磁気センサの概略構成を示す図であり、(a)は斜視図、(b)は(a)のA−A断面における断面図である。 第2の実施形態における磁気センサの製造方法を示す図であり、挿入基板の挿入前を示している。(a)は挿入基板の表面側から見た平面図であり、(b)は挿入基板の側面側から見た断面図である。 磁気センサの製造方法を示す図であり、挿入基板の挿入後を示している。(a)は挿入基板の表面側から見た平面図であり、(b)は挿入基板の側面側から見た断面図である。 第2の実施形態における変形例を示す挿入基板の平面図である。 第2の実施形態における変形例を示す挿入基板の平面図である。 第2の実施形態における変形例を示す挿入基板の平面図である。 第2の実施形態における変形例を示す挿入基板の側面図である。 第2の実施形態における変形例を示す母基板の概略平面図である。 その他の例を示す斜視図である。 その他の例を示す図であり、(a)は上面側から見た平面図、(b)は(a)のB−B断面における断面図である。
符号の説明
10・・・母基板
11・・・除去領域
11a・・・除去領域(貫通孔)
20・・・挿入基板
30a,30b,30c・・・ホール素子
31・・・配線部
33・・・接続端子
40・・・液体
100・・・磁気センサ

Claims (29)

  1. 少なくとも、センサ素子を有する複数の基板を組み合わせてなるセンサ装置であって、
    基板表面に対して所定深さをもつ除去領域を少なくとも1箇所有する母基板と、
    少なくとも一部が前記除去領域に挿入される挿入基板とを備え、
    前記挿入基板が前記除去領域に挿入され、前記母基板に固定された状態で、前記センサ素子の形成面同士が、互いに所定の角度をなしていることを特徴とするセンサ装置。
  2. 前記母基板が前記除去領域を2箇所有し、
    前記除去領域に挿入されるそれぞれの前記挿入基板が前記センサ素子を有しており、
    前記挿入基板が前記除去領域に挿入された状態で、前記挿入基板における前記センサ素子の形成面が、互いに略90度の角度をなしていることを特徴とする請求項1に記載のセンサ装置。
  3. 前記母基板及び前記挿入基板がそれぞれ前記センサ素子を有し、
    前記除去領域が前記母基板の表面に対して略垂直な側面を有しており、
    前記挿入基板が前記除去領域に挿入され、前記母基板に固定された状態で、前記センサ素子の形成面同士が、互いに略90度の角度をなしていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のセンサ装置。
  4. 前記挿入基板は、基板表面から突出する突出部を有し、
    前記挿入基板が前記除去領域に挿入された状態で、前記突出部が前記母基板における前記除去領域の周囲部位に固定されていることを特徴とする請求項3に記載のセンサ装置。
  5. 前記挿入基板が、前記突出部として、前記センサ素子に電気的に接続された複数の接続端子を有し、
    前記母基板が、前記除去領域を除く基板表面に、前記挿入基板に設けられたセンサ素子の配線部を有しており、
    前記接続端子が前記母基板における前記除去領域の周囲部位に固定された状態で、前記接続端子と前記配線部とが電気的に接続していることを特徴とする請求項4に記載のセンサ装置。
  6. 前記接続端子が溶融され、前記配線部と接合していることを特徴とする請求項5に記載のセンサ装置。
  7. 前記除去領域は、前記母基板の対向する両表面を貫通する貫通孔であることを特徴とする請求項5又は請求項6に記載のセンサ装置。
  8. 前記挿入基板は略正方形の表面を有しており、当該表面を構成する4辺に対して、前記接続端子がそれぞれ平行に設けられていることを特徴とする請求項7に記載のセンサ装置。
  9. 前記挿入基板の表面は矩形状を有しており、前記接続端子は、矩形状の角部を構成する2辺における角部頂点からの距離が等しい点を結んだ直線上に設けられていることを特徴とする請求項7に記載のセンサ装置。
  10. 前記挿入基板は、その挿入先端に、当該基板よりも比重の大きな材料からなる重り部を有していることを特徴とする請求項7に記載のセンサ装置。
  11. 前記挿入基板の対向する両表面に、同一の大きさ及び形状を有する前記センサ素子が、それぞれ設けられていることを特徴とする請求項7〜10いずれか1項に記載のセンサ装置。
  12. 前記母基板の前記除去領域を挟んで対向する両周辺部位に、前記配線部がそれぞれ設けられていることを特徴とする請求項7〜10いずれか1項に記載のセンサ装置。
  13. 前記センサ素子は、ホール素子であることを特徴とする請求項1〜12いずれか1項に記載のセンサ装置。
  14. 少なくとも、センサ素子を有する複数の基板を組み合わせてなるセンサ装置の製造方法であって、
    複数の前記基板の少なくとも一部に前記センサ素子を形成する工程と、
    複数の前記基板の1つを母基板とし、当該母基板に所定深さの除去領域を少なくとも1箇所形成する工程と、
    残りの前記基板を挿入基板とし、当該挿入基板の少なくとも一部を前記除去領域に挿入し、前記挿入基板を前記母基板に固定する工程とを備え、
    前記挿入基板を前記母基板に固定した状態で、前記センサ素子の形成面同士が、互いに所定の角度をなすことを特徴とするセンサ装置の製造方法。
  15. 前記母基板をエッチングすることにより、前記除去領域を形成することを特徴とする請求項14に記載のセンサ装置の製造方法。
  16. 前記母基板は複数層からなり、予め所定形状に加工された各層を積層することにより、前記除去領域を形成することを特徴とする請求項14に記載のセンサ装置の製造方法。
  17. 前記母基板に2つの前記除去領域を形成し、
    前記除去領域に挿入されるそれぞれの前記挿入基板に前記センサ素子を形成することにより、
    前記挿入基板を前記母基板に固定した状態で、それぞれの前記挿入基板における前記センサ素子の形成面が、互いに略90度の角度をなすことを特徴とする請求項14〜16いずれか1項に記載のセンサ装置の製造方法。
  18. 前記母基板及び前記挿入基板にそれぞれ前記センサ素子を形成し、
    前記母基板の表面に対して、略垂直な側面を有するように前記除去領域を形成することにより、
    前記挿入基板を前記母基板に固定した状態で、前記センサ素子の形成面同士が、互いに略90度の角度をなすことを特徴とする請求項14〜17いずれか1項に記載のセンサ装置の製造方法。
  19. 前記挿入基板に、基板表面から突出する突出部を形成する工程をさらに備え、
    前記挿入基板を前記除去領域に挿入した状態で、前記突出部が前記母基板における前記除去領域の周囲部位に固定されることを特徴とする請求項18に記載のセンサ装置の製造方法。
  20. 前記母基板の前記除去領域を除く基板表面に、前記挿入基板に形成されたセンサ素子の配線部を形成する工程をさらに備え、
    前記センサ素子の形成された前記挿入基板の表面に、前記突出部として、前記センサ素子に電気的に接続されつつ基板表面から突出する複数の接続端子を形成し、前記挿入基板を前記除去領域に挿入した状態で、前記接続端子が前記母基板における前記除去領域の周囲部位に固定され、前記接続端子が前記配線部と電気的に接続されることを特徴とする請求項19に記載のセンサ装置の製造方法。
  21. 前記接続端子が前記配線部と接した状態で前記接続端子を溶融させて、前記配線部と接合させることを特徴とする請求項20に記載のセンサ装置の製造方法。
  22. 前記母基板の対向する両表面を貫通するように、前記除去領域を形成することを特徴とする請求項20又は請求項21に記載のセンサ装置の製造方法。
  23. 前記挿入基板及び前記母基板を液体中に配置し、前記母基板の前記除去領域を通過する前記液体の流れにより、前記除去領域に前記挿入基板の少なくとも一部を挿入することを特徴とする請求項22に記載のセンサ装置の製造方法。
  24. 前記挿入基板は略正方形の表面を有しており、当該表面を構成する4辺それぞれに対して、平行に前記接続端子を形成し、当該接続端子を有する前記挿入基板を前記液体中に配置することを特徴とする請求項23に記載のセンサ装置の製造方法。
  25. 前記挿入基板の表面は矩形状を有しており、矩形状のそれぞれの角部を構成する各2辺において、角部頂点からの距離が等しい点を結んだそれぞれの直線上に前記接続端子を形成し、当該接続端子を有する前記挿入基板を前記液体中に配置することを特徴とする請求項23に記載のセンサ装置の製造方法。
  26. 前記挿入基板の挿入先端に、当該基板よりも比重の大きな材料からなる重り部を接合し、当該重り部を有する前記挿入基板を前記液体中に配置することを特徴とする請求項23に記載のセンサ装置の製造方法。
  27. 前記挿入基板の対向する両表面に、同一の大きさ及び形状を有する前記センサ素子を、それぞれ形成し、当該センサ素子の形成された前記挿入基板を前記液体中に配置することを特徴とする請求項23〜26いずれか1項に記載のセンサ装置の製造方法。
  28. 前記母基板の前記除去領域を挟んで対向する両周辺部位に、前記配線部をそれぞれ形成し、当該配線部の形成された前記母基板を前記液体中に配置することを特徴とする請求項23〜26いずれか1項に記載のセンサ装置の製造方法。
  29. 前記センサ素子は、ホール素子であることを特徴とする請求項14〜28いずれか1項に記載のセンサ装置の製造方法。
JP2004076994A 2004-03-17 2004-03-17 センサ装置及びその製造方法 Expired - Fee Related JP4333425B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004076994A JP4333425B2 (ja) 2004-03-17 2004-03-17 センサ装置及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004076994A JP4333425B2 (ja) 2004-03-17 2004-03-17 センサ装置及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005265550A JP2005265550A (ja) 2005-09-29
JP4333425B2 true JP4333425B2 (ja) 2009-09-16

Family

ID=35090273

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004076994A Expired - Fee Related JP4333425B2 (ja) 2004-03-17 2004-03-17 センサ装置及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4333425B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4904052B2 (ja) * 2005-12-27 2012-03-28 アルプス電気株式会社 磁気方位検出装置
CN110808236B (zh) * 2019-11-13 2021-04-13 宁波中车时代传感技术有限公司 一种pcb芯片及其二次封装工艺

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005265550A (ja) 2005-09-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7509859B2 (en) Acceleration sensor with redundant contact holes
JP5218455B2 (ja) 半導体力学量センサおよびその製造方法
US8336381B2 (en) Sensor and method of manufacturing the same
EP2239778A1 (en) Unit Pixel of Image Sensor having three-dimensional structure and method for manufacturing the same
JP4737276B2 (ja) 半導体力学量センサおよびその製造方法
CN102017125A (zh) 起动分子键合的方法
JP5874609B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP2007003237A (ja) 電流センサ
JP2005223221A (ja) 磁気検出装置およびその製造方法
JP2008060135A (ja) センサーユニットおよびその製造方法
JP2008288384A (ja) 3次元積層デバイスとその製造方法、及び3次元積層デバイスの接合方法
JP6020341B2 (ja) 容量式物理量センサおよびその製造方法
JP2001203371A (ja) マイクロメカニカル装置
JP4333425B2 (ja) センサ装置及びその製造方法
JP6123613B2 (ja) 物理量センサおよびその製造方法
CN101943623A (zh) 压力传感器及压力传感器的制造方法
JP2011119432A (ja) 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP2010171432A (ja) 3次元集積回路積上げ用システム及び方法
US20180052067A1 (en) Pressure sensor and manufacture method thereof
JP2010027925A (ja) 物理量センサ及びその製造方法、ならびに、物理量センサ実装構造
JP2007263765A (ja) ウェハレベルパッケージ構造体およびセンサ装置
JP6048435B2 (ja) Soi基板およびそれを用いた物理量センサ、soi基板の製造方法および物理量センサの製造方法
JP2010025822A (ja) 物理量センサ及びその製造方法
JP2005156179A (ja) 磁気センサ及びその製造方法
JP2024005410A (ja) 慣性センサー、慣性センサーの製造方法、および慣性計測装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060427

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071227

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090602

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090615

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130703

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees