JP3619545B2 - カメラの測距装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、カメラの測距装置、より詳しくは、投射した光束を受光して被写体までの距離を測距するカメラの測距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、光源からの光束を被写体に向けて投射してその反射光を受光し、その受光位置から被写体までの距離を算出するいわゆるアクティブ式測距装置は、広く知られて用いられている。
【０００３】
このような測距装置においては、投光像が基線長方向で被写体に一部しか当たらない、いわゆるスポット欠けが発生すると、被写体までの距離を誤測距してしまう可能性がある。
【０００４】
この問題を解決する技術手段として、例えば特開平１−２２２２３５号公報には、受光手段を２つ備えて、誤測距を防止する技術が提案されている。
【０００５】
また、このようなアクティブ式測距装置では、光束の投射された画面内の一部分しか測距することができない、いわゆる中抜けが発生することがあるという問題もあった。
【０００６】
この問題点を解決する技術手段としては、複数の発光素子を備えて複数方向の測距を行ういわゆるマルチＡＦが知られており、また特開平１−２２２２３６号公報には、カメラの姿勢によって発光させる素子を切り替えて、縦構図でも横構図でも適切な範囲を測距する技術が提案されている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記特開平１−２２２２３５号公報に記載のもののように、受光手段たる受光部を２つ有することは、装置の大型化を招いてカメラのレイアウト上の制限が増えるとともに、部品数も増加するためにコスト高を招く要因となっていた。
【０００８】
また、上記特開平１−２２２２３６号公報に記載のものでは、必要な測距ポイントの数だけ投光手段たる発光素子が必要となるために、測距ポイントを増やせば増やすほどコスト高を招くことになってしまう。さらに、余りに近接した複数のポイントを測距しようとすると、発光素子をレイアウトすることができないという問題を抱えていた。
【０００９】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、受光手段を増やすことなくスポット欠けによる誤測距を防止することができるカメラの測距装置を提供することを目的としている。
【００１０】
また、本発明は、投光手段を増やすことなく中抜けを防止することができるカメラの測距装置を提供することを目的としている。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、本発明による第１のカメラの測距装置は、カメラの測距装置において、投射光束を被写体に向けて投射する投光手段と、上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に配置すると共に、上記被写体からの上記投射光束の反射光位置を２次元的に検出し入射位置情報を出力する受光手段と、上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、カメラの姿勢を検出する姿勢検出手段と、を有し、上記演算手段は上記姿勢検出手段により当該カメラが横位置であると検出された場合は、上記受光手段が有する撮影画面の略縦方向の入射位置情報出力のみを用いて上記被写体距離を演算し、一方、上記姿勢検出手段により当該カメラが縦位置であると検出された場合は、上記受光手段が有する撮影画面の略横方向の入射位置情報出力のみを用いて上記被写体距離を演算することを特徴とする。
【００１２】
また、本発明による第２のカメラの測距装置は、カメラの測距装置において、投射光束を被写体に向けて投射する投光手段と、上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に所定の基線長隔てて配置すると共に、上記被写体からの上記投射光束の反射光位置を２次元的に検出し、撮影画面の略縦方向と略横方向との直交する２方向の入射位置情報を出力可能な受光手段と、上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、上記受光手段に基づき、上記投光手段の投射光束が被写体に全て投射されているか否かを判定する判定手段と、カメラの姿勢を検出する姿勢検出手段と、を有し、上記演算手段は、上記判定手段が上記投射光束の一部しか被写体に投射されていないと判断した場合に、上記姿勢検出手段によりカメラが横位置であると検出された際には、上記受光手段が出力する直交する２方向の上記入射位置情報のうち、撮影画面の略縦方向のみの入射位置情報出力を用いて上記被写体距離を演算し、上記判定手段が上記投射光束の一部しか被写体に投射されていないと判断した場合に、上記姿勢検出手段によりカメラが縦位置であると検出された際には、上記受光手段が有する撮影画面の略横方向のみの入射位置情報出力を用いて上記被写体距離を演算し、上記判定手段が上記光束の全て被写体に投射されていると判断した場合は、上記受光手段が出力する直交する２方向の入射位置情報出力を用いて上記被写体距離を演算することを特徴とする。
【００１４】
【実施例】
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。
図１から図５は本発明の第１実施例を示したものであり、図１はカメラの測距装置の構成を示すブロック図、図２は投光レンズと受光レンズの位置関係を示すカメラの正面図である。
【００１５】
図１に示すように、このカメラの測距装置には、測距用の光束を被写体に投射するための光源である赤外発光ダイオード（以下、ＩＲＥＤと省略する。）１が設けられていて、このＩＲＥＤ１は、ドライバ９により発光制御されるようになっている。
【００１６】
上記ＩＲＥＤ１が発した光は、投光レンズ２により集光されて測距用光として被写体に向けて投射される。なお、上記ＩＲＥＤ１，投光レンズ２およびドライバ９により、投光手段２１が構成されている。
【００１７】
上記測距用光を受けた被写体からの反射光は、受光レンズ３を介して受光素子４上に結像するようになっていて、これら受光レンズ３および受光素子４により受光手段２２が構成されている。
【００１８】
ここで図２に示すように、投光レンズ２はカメラ２４の左上に配設され、撮影レンズ８を挟んでカメラ２４の右下には受光レンズ３が配置されている。
【００１９】
そして、これら投光レンズ２と受光レンズ３は、同図２に示すように、カメラ２４の横方向であるＸ方向（図４参照）に対してθ傾いて基線長Ｓ１だけ離れて設置されていて、すなわち、投光レンズ２を構成要素とする上記投光手段２１と、受光レンズ３を構成要素とする受光手段２２も、カメラ２４の横方向に対してθ傾いて基線長Ｓ１傾いて設置されていることになる。
【００２０】
さらに、該図２に示すように、上記投光レンズ２と受光レンズ３の間の縦方向であるＹ方向（図４参照）の寸法は基線長Ｓ２、同横方向であるＸ方向の寸法は基線長Ｓ３となっている。
【００２１】
図１に戻って、上記受光素子４は、上記測距用光の反射光の入射位置を２次元で検知するための光電変換素子であり、例えば２次元位置検出用の半導体光位置検出素子からなり、カメラ２４の横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）の入射位置を検知できるように設置されていて、受光位置に応じて光電変換信号を出力するものである。
【００２２】
オートフォーカス集積回路（以下、ＡＦＩＣと省略する。）５は、上記受光素子４の出力に基づいて上記反射光のカメラの横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）の２方向の入射位置を算出するものである。このＡＦＩＣ５の入射位置信号は、演算手段たるＣＰＵ６に入力されるようになっている。
【００２３】
また、このカメラの測距装置には、カメラ２４の姿勢を検出する姿勢検出手段７が設けられていて、その検出結果をＣＰＵ６に出力するようになっている。
【００２４】
上記ＣＰＵ６は、カメラ全体のシーケンスを司るワンチップマイコン等からなる演算制御回路であり、上記ＡＦＩＣ５が出力した入射位置信号と姿勢検出手段７の出力とから上記被写体までの距離を算出し、その算出結果に基づいて撮影レンズ８の焦点調節を行うものである。
【００２５】
また、上記ＣＰＵ６には警告手段３１が接続されていて、この警告手段３１は、ＣＰＵ６が誤測距の可能性があると判断したときは、該ＣＰＵ６の出力に基づいて撮影者に警告して知らせるものである。
【００２６】
なお、カメラ２４の撮影画面は、横方向である上記Ｘ方向が長辺方向であり、縦方向である上記Ｙ方向が短辺方向となっている。
【００２７】
次に、図３を参照してこの第１実施例の作用を説明する。
カメラ２４には、２段スイッチでなる図示しないレリーズ釦が設けられていて、このレリーズ釦の１段目の押し込み、つまり１ｓｔレリーズスイッチがオンになったことを検知すると（ステップＳ１）、図示しない測光手段により被写体輝度を測定して、その測定結果に基づきＣＰＵ６が撮影レンズ８の図示しないシャッタ機構の開口時間と絞り値とを決定する（ステップＳ２）。
【００２８】
次に、ドライバ９によりＩＲＥＤ１を発光させて、測距用光として被写体に向けて投射し（ステップＳ３）、測距用光の被写体での反射光を受光素子４により受光する（ステップＳ４）。
【００２９】
受光素子４による信号がＡＦＩＣ５に入力され、該ＡＦＩＣ５が上記反射光の入射位置をカメラの横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）の受光位置信号として算出して、ＣＰＵ６に出力する（ステップＳ５）。
【００３０】
この受光位置信号に基づいてＣＰＵ６は、そのときスポット欠けが発生しているか否かを判定する（ステップＳ６）。
【００３１】
このステップＳ６でスポット欠けが発生していないと判定された場合は、ＣＰＵ６は基線長をＳ１と考えて、上記ステップＳ５で出力したＸ方向とＹ方向の受光位置信号から被写体の距離を算出して（ステップＳ９）、その後、後述するステップＳ１３へと進む。
【００３２】
一方、上記ステップＳ６でスポット欠けが発生していると判定された場合は、ＣＰＵ６は、上記姿勢検出手段７の出力に基づいて、カメラの姿勢が横位置であるかどうかを判定する（ステップＳ７）。
【００３３】
カメラが横位置である場合には、基線長をＳ２と考えて、ＣＰＵ６は、上記ステップＳ５で算出したＹ方向の受光位置信号に基づいて被写体距離を算出し（ステップＳ８）、その後、後述するステップＳ１３へと進む。
【００３４】
また、上記ステップＳ７で横位置でない場合には、ＣＰＵ６は、上記姿勢検出手段７の出力に基づいて、カメラが縦位置であるかどうかを判定する（ステップＳ１０）。
【００３５】
なお、上述したカメラの横位置，縦位置は、撮影レンズ８の光軸を中心に水平方向に対しての傾きで判定し、本実施例では、カメラが０°±１０°の範囲内にある場合に横位置であると判定し、９０°±１０°の範囲内にある場合に縦位置であると判定する。
【００３６】
上記ステップＳ１０において、カメラが縦位置であると判定した場合は、基線長をＳ３と考えて、ＣＰＵ６は、上記ステップＳ５で算出したＸ方向の入射位置信号に基づいて被写体距離を算出し（ステップＳ１１）、その後、後述するステップＳ１３へと進む。
【００３７】
一方、上記ステップＳ１０でカメラが縦位置ではないと判定した場合は、警告手段３１により撮影者に警告出しを行う（ステップＳ１２）。
【００３８】
そして、レリーズ釦の２段目の押し込み、つまり２ｎｄレリーズスイッチがオンになったかを検知し（ステップＳ１６）、押し込みが検知されれば、上記ステップＳ５で算出したＸ，Ｙ方向受光位置から被写体距離を算出し（ステップＳ１７）、後述するステップＳ１４へ進む。
【００３９】
また、上記ステップＳ１６においてレリーズ釦の２段目の押し込みが検知できなかったときは、再度レリーズ釦の１段目の押し込みを確認し（ステップＳ１８）、押し込みがなされていれば上記ステップＳ１２へと戻り、押し込みがなされていなければ上記ステップＳ１へと戻る。
【００４０】
上記ステップＳ８またはステップＳ９もしくはステップＳ１１が終了したら、上記レリーズ釦の２段目の押し込みを検知し（ステップＳ１３）、押し込みが検知されなかったときは、レリーズ釦の１段目の押し込みを再度確認し（ステップＳ１５）、レリーズ釦の１段目の押し込みが検知されればステップＳ１３へと戻り、押し込みが検知されなければ上記ステップＳ１へと戻る。
【００４１】
一方、上記ステップＳ１３においてレリーズ釦の２段目の押し込みを検知した場合には、ＣＰＵ６が、算出した被写体距離情報により撮影レンズ８の焦点調節を行い、シャッタ開口時間と絞り値とに基づいて図示しないシャッタ機構の開口を制御して撮影を行った後、撮影レンズ８を初期位置に戻して（ステップＳ１４）、本シーケンスを終了する。
【００４２】
なお、上記ステップＳ１２において警告出しを行うのは、カメラが縦位置でも横位置でもない場合には、スポット欠けが発生して正確な測距が行えない可能性があることを撮影者に知らしめて、構図を変更する等して再測距を促すためである。
【００４３】
また、上記ステップＳ１６でレリーズ釦の２段目の押し込みがなされている場合に、Ｘ，Ｙ方向受光位置から被写体距離を求めて撮影するのは、シャッタチャンスを逃すことなく撮影を行うためである。
【００４４】
さらにこの場合、撮影レンズ８の図示しない絞り機構を絞り込んで撮影を行えば被写界深度が広くなり、ピントが良好な写真を得ることができる。
【００４５】
また、ステップＳ１６でレリーズ釦の２段目の押し込みがなされた場合にも、警告出しを行うとともにレリーズロック等により撮影を禁止して、いわゆるピンボケ写真が撮影されるのを防止するようにしても良い。
【００４６】
次に、上記ステップＳ６で行われるスポット欠けが発生しているか否かの判定方法と、上記ステップＳ８，ステップＳ９，ステップＳ１１等で行われる被写体距離の算出法について説明する。
【００４７】
図４は本実施例の測距装置の要部を示す斜視図である。図中の座標軸はカメラ２４の縦横を基準にして設定した座標軸であり、つまり、Ｘ方向はカメラ２４の横方向、Ｙ方向はカメラ２４の縦方向、Ｚ方向はカメラ２４の厚さ方向にそれぞれ対応している。
【００４８】
ＩＲＥＤ１で発光した光は、上述のように、投光レンズ２を介して射出され、受光レンズ３を介して受光素子４上に受光像２６を結ぶ。
【００４９】
このとき、上記投光レンズ２の主点２ｇと受光レンズ３の主点３ｇとを結んでできる基線長はＳ１となっていて、受光レンズ３の主点３ｇから投光レンズ２の主点２ｇを見上げたときの水平方向に対する仰角はθである。そして、上記投光レンズ２の主点２ｇと受光レンズ３の主点３ｇのＸ方向寸法は基線長Ｓ３、Ｙ方向寸法は基線長Ｓ２となっている。
【００５０】
また、受光素子４のＸ方向，Ｙ方向の寸法はそれぞれｔｘ，ｔｙとなっていて、該受光素子４上の受光像２６の重心は２６ｇである。
【００５１】
この受光像２６の重心２６ｇは、受光レンズ３の光軸と受光素子４が交わる交点からの基線長Ｓ１方向の距離はΔｕとなっていて、同交点からのＸ方向位置はΔｘ、Ｙ方向位置はΔｙである。
【００５２】
上記反射光の受光像２６の重心２６ｇは、スポット欠けが発生することなく測距が行われた場合には、受光素子４上の１ライン上、すなわち投光レンズ２の主点２ｇと受光レンズ３の主点３ｇを結んだ基線長Ｓ１の方向と平行で受光レンズ３の光軸を通る受光素子４上のラインである基準ライン３２上を通るようになっている。
【００５３】
従って、上記ステップＳ４で出力した入射位置信号がこの基準ライン３２上にあるかどうかで、スポット欠けが発生しているか否かの判定が可能であり、基準ライン３２上でなければスポット欠けが発生しているし、基準ライン３２上であればスポット欠けは発生していないと判定することができる。以上のようにして、スポット欠けが発生しているか否かの判定を行う。
【００５４】
次に、被写体距離の算出は、受光素子４が出力する光電変換信号である電流Ｉａ，Ｉｂ，Ｉｃ，Ｉｄから、受光素子４上の受光像２６の重心２６ｇの位置Δｘ，Δｙ，Δｕを求めて、これらに基づいて三角測距の原理により被写体までの距離を演算すれば良い。
【００５５】
これらΔｘ，Δｙと電流Ｉａ，Ｉｂ，Ｉｃ，Ｉｄの間には、以下のような関係がある。
【００５６】
Δｘ＝ｔｘ・Ｉｄ／（Ｉｃ＋Ｉｄ） ……（１）
Δｙ＝ｔｙ・Ｉｂ／（Ｉａ＋Ｉｂ） ……（２）
こうして、電流Ｉａ，Ｉｂから重心２６ｇのＹ方向位置が、電流Ｉｃ，Ｉｄから重心２６ｇのＸ方向位置が求められる。
【００５７】
さらに、Δｕは、図４から明らかなように、三平方の定理により、
Δｕ＝ｓｑａｒ（Δｘ×Δｘ＋Δｙ×Δｙ） ……（３）
と表すことができる。
【００５８】
また、三角測距の原理から被写体距離を考えると、
被写体距離＝受光レンズ焦点距離×基線長／受光像重心位置 …（４）
と表すことができる。
【００５９】
図５は基線長をＳ１としたときの被写体２５までの被写体距離ｌと受光像重心位置２６ｇの関係を示す図である。ここにｆｊは、受光レンズ３の焦点距離である。この図５から明らかなように、基線長をＳ１としたときの被写体距離ｌの算出式は、上記（４）式から、
ｌ＝ｆｊ・Ｓ１／Δｕ ……（５）
と表すことができる。
【００６０】
また、基線長をＳ２あるいはＳ３としたときの被写体距離ｌの算出式は、基線長Ｓ１のときと同様にして、
ｌ＝ｆｊ・Ｓ２／Δｙ ……（６）
ｌ＝ｆｊ・Ｓ３／Δｘ ……（７）
と表すことができる。
【００６１】
このように、基線長Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３のいずれに基づいても、被写体距離ｌを算出することができるが、どの基線長に基づいて算出した被写体距離ｌを用いるかの使い分けは、以下のように行う。
【００６２】
スポット欠けが発生していない場合には、基線長をＳ１と考えて被写体距離を算出する。また、スポット欠けが発生した場合には、カメラが横位置であれば基線長をＳ２として被写体距離を算出し、カメラが縦位置であれば基線長をＳ３として被写体距離を算出する。
【００６３】
このようにスポット欠けの発生の有無およびカメラの姿勢によって、基線長を適切に選択して被写体距離を算出するのは、次に説明する理由による。
【００６４】
アクティブ式測距装置の場合には、上述したように、基線長方向にスポット欠けが発生すると誤測距してしまうことがあるが、基線長と直交する方向のスポット欠けではこの誤測距が発生することはない。よって、基線長方向とスポット欠けの方向が互いに直交する方向にあれば良いことになる。
【００６５】
ここでスポット欠けの発生し易い方向について考えると、例えば被写体が人間であれば、鉛直方向は一般に身長方向となり、一方、水平方向は人の幅方向であることから、人の身長と幅の比を考えれば、スポット欠けは鉛直方向よりも水平方向に起こり易いことが容易に推測できる。
【００６６】
こうして、基線長方向を鉛直方向にとった方がスポット欠けによる誤測距は起こりにくいと考えられるので、スポット欠けが発生した場合には、カメラが横位置であれば基線長をＳ２として被写体距離を算出し、カメラが縦位置であれば基線長をＳ３として被写体距離を算出する。
【００６７】
また、スポット欠けが発生していない場合に基線長をＳ１として被写体距離を算出するのは、図２を見ても明らかなように、基線長Ｓ２，Ｓ３に比べて基線長Ｓ１が一番長いために、測距精度を高めることができるからである。
【００６８】
以上説明したように、このような第１実施例によれば、スポット欠けの有無およびカメラの姿勢によって適切な基線長と受光位置信号を用いて被写体距離を算出するので、鉛直方向に比べてスポット欠けの発生し易い水平方向のスポット欠けが起きても誤測距することなく測距することができると共に、スポット欠けが発生していない場合は、基線長を長くとって被写体距離を演算することで測距精度を高めることができる。
【００６９】
図６から図１３は本発明の第２実施例を示したものである。この第２実施例において、上述の第１実施例と同様である部分については説明を省略し、主として異なる点についてのみ説明する。
【００７０】
この第２実施例のカメラの測距装置には、図６に示すように、被写体に対して光束（測距用光）を投射するための光源としてキセノン管（以下、Ｘｅ管と略記する。）１０が用いられていて、発光回路１１により発光駆動されるようになっている。
【００７１】
このＸｅ管１０の周りには、円筒形状のロールマスク１２が回動自在に取り付けられていて、このロールマスク１２には、該Ｘｅ管１０の長手方向に直線をなす走査手段たるスリット状の開口部１２ａ（図７（Ｂ）参照）が設けられている。
【００７２】
そして、上記ロールマスク１２の周りには、やはり円筒形状をなすロールマスク１３が回動自在に取り付けられていて、このロールマスク１３には、円周方向に真っ直ぐなスリット状の走査手段たる開口部１３ａ（図７（Ａ）参照）と、螺旋をなすスリット状の走査手段たる開口部１３ｂ（図７（Ａ）参照）とが設けられている。
【００７３】
これにより、上記ロールマスク１２，１３がそれぞれ有する開口部１２ａと開口部１３ａ，１３ｂとが重なった部分から、上記Ｘｅ管１０の光の一部が射出されるようになっている。この射出された光は、投光レンズ２により集光され、被写体に向けて測距用光として投射される。
【００７４】
なお、上述のＸｅ管１０とロールマスク１２，１３と投光レンズ２により、投光手段２１が構成されている。
【００７５】
上記ロールマスク１２，１３の端部には伝達部たるギヤー部１２ｇ，１３ｇがそれぞれ一体的に設けられており、これらのギヤー部１２ｇ，１３ｇはやはり伝達部をなすギヤー列１４，１５にそれぞれ噛合している。
【００７６】
このギヤー列１４，１５の他端側は、走査方向切換手段たる遊星クラッチ１８を介して駆動部たるモータ１７に噛合していて、この遊星クラッチ１８を操作することで、モータ１７の駆動力をロールマスク１２側とロールマスク１３側とに切り替えて、それぞれを回転させるようになっている。
【００７７】
上記モータ１７は、モータドライバ１６を介してＣＰＵ６により駆動制御されるものであり、その駆動状態は、円筒マスク位置検出手段３５に入力されるようになっている。
【００７８】
この円筒マスク位置検出手段３５は、モータ１７から入力した信号により、上記円筒マスク１２，１３の位置を検出して、その位置から上記投光手段２１により投射される測距用光の投射方向を判別するものである。つまり、この第２実施例では、該円筒マスク位置検出手段３５が投射方向検出手段に相当している。
【００７９】
この円筒マスク位置検出手段３５の検出結果は、ＣＰＵ６と後述する補正手段３６に出力されるようになっている。
【００８０】
上記投光手段２１から投射された測距用光は、被写体で反射した後、受光レンズ３を介して受光素子４上に結像するようになっている。なお、これら受光レンズ３および受光素子４により、受光手段２２が構成されている。
【００８１】
上記投光手段２１と受光手段２２とは、上述の第１実施例と同様に、基線長Ｓ１だけ離れて設置されており、この基線長方向Ｓ１は、カメラ２４の横方向に対してθ傾いている。
【００８２】
上記受光素子４は、上記測距用光が被写体で反射した光の入射位置を２次元で検知するための光電変換素子であり、上述の第１実施例と同様に、２次元位置検出用の半導体光位置検出素子からなっている。そして、該受光素子４は、カメラ２４の横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）の入射位置を検知できるように設置されており、受光位置に応じて光電変換信号を出力するものである。
【００８３】
この受光素子４の出力はオートフォーカス集積回路（ＡＦＩＣ）５に入力されるようになっていて、このＡＦＩＣ５は、該受光素子４の出力に基づいて上記反射光のカメラの横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）との２方向の入射位置を算出して、上記補正手段３６に出力するものである。
【００８４】
この補正手段３６は、上記ＡＦＩＣ５で算出した反射光の入射位置を上記円筒マスク位置検出手段３５の出力に基づいて補正し、ＣＰＵ６に出力するようになっている。
【００８５】
また、このカメラの測距装置には、カメラ２４の姿勢を検出する姿勢検出手段７が設けられていて、その検出結果をＣＰＵ６に出力するようになっている。
【００８６】
上記ＣＰＵ６は、カメラ全体のシーケンスを司るワンチップマイコン等からなる演算制御回路であり、上記円筒マスク位置検出手段３５の出力に基づいてモータドライバ１６に制御信号を送ってモータ１７の駆動を制御するとともに、発光回路１１に発光信号を送出して、Ｘｅ管１０の発光タイミングを制御するものである。
【００８７】
さらに、ＣＰＵ６は、上記姿勢検出手段７の出力に基づいて測距用光の走査方向を決定して、上記モータ１７の制御を行うようになっているとともに、上記補正手段３６が出力した入射位置信号と上記姿勢検出手段７の出力とに基づいて上記被写体までの距離を算出して、その算出結果に基づいて撮影レンズ８の焦点調節を行うものである。
【００８８】
なお、カメラ２４の撮影画面は、上述の第１実施例と同様に、横方向であるＸ方向が長辺方向であり、縦方向であるＹ方向が短辺方向となっている。
【００８９】
次に、モータ１７を正転あるいは逆転することにより、被写体に投射する測距用光の走査方向が切り替わる機構について説明する。
【００９０】
まず、遊星クラッチ１８の動きを図９，図１０を参照して説明する。図９は遊星クラッチ１８の構成を示す斜視図である。
【００９１】
図９に示すように、モータ１７の出力軸には遊星クラッチ１８の太陽ギヤーたるピニオンギヤー１８ａが回動一体に取り付けられていて、このピニオンギヤー１８ａは遊星ギヤー１８ｂに噛合している。
【００９２】
この遊星ギヤー１８ｂは、上記ピニオンギヤー１８ａに回動自在に取り付けられた連接棒１８ｃの一端部に、図示しないフリクション機構を介して取り付けられていて、この連設棒１８ｃの他端部がストッパ１８ｄ，１８ｅに当接することにより、その公転運動が規制されるようになっている。
【００９３】
このように構成された遊星クラッチ１８の作用を、図１０（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）の遊星クラッチ１８を示す側面図を参照して説明する。
図１０（Ａ）は、中立の状態を示しており、遊星ギヤー１８ｂはギヤー列１４，１５のいずれとも噛合しておらず、この状態では走査は行わない。
【００９４】
この状態からモータ１７を図１０（Ａ）の矢印ａの方向へ回転（正回転）させると、連接棒１８ｃは、遊星ギヤー１８ｂとの間の図示しないフリクション機構により、ピニオンギヤー１８ａの回転に従ってストッパ１８ｄに当接するまで回転する。このときには、ピニオンギヤー１８ａの回転は連接棒１８ｃが回転するために用いられて、遊星ギヤー１８ｂは自転しない。
【００９５】
連接棒１８ｃがストッパ１８ｄに当接すると、図１０（Ｂ）に示すような状態になり、遊星ギヤー１８ｂはギヤー列１５と噛合して、モータ１７の駆動力によりロールマスク１３が回転する。
【００９６】
この図１０（Ｂ）に示す状態が、撮影画面の長辺方向に測距用光を走査するときの状態である。
【００９７】
また、モータ１７を図１０（Ａ）の矢印ｂの方向に回転（逆回転）させると、モータ１７を正回転させたときと同様に、連接棒１８ｃはピニオンギヤー１８ａの回転に従ってストッパ１８ｅに当接するまで回転し、図１０（Ｃ）に示すような状態になる。
【００９８】
そして、遊星ギヤー１８ｂはギヤー列１４と噛合して、モータ１７の駆動力によりロールマスク１２が回転する。
【００９９】
この図１０（Ｃ）に示す状態が、撮影画面の短辺方向に測距用光を走査するときの状態である。
【０１００】
続いて、ロールマスク１２，１３の回転により、測距用光の走査方向がどのように変化するかを説明する。
【０１０１】
図１１（Ａ）から図１１（Ｆ）は、右側の図がロールマスク１２とロールマスク１３の位置関係を示すカメラ２４の正面から見た図、左側の図がそのときのカメラ２４側から見た撮影範囲３４と投光像３３との関係を示す図である。
【０１０２】
また、図中の座標軸は、カメラ２４の正面から見た座標軸であり、Ｘ方向はカメラ２４の横方向、Ｙ方向はカメラ２４の縦方向である。
【０１０３】
図１１（Ａ）は初期状態を、図１１（Ｂ），図１１（Ｃ）はロールマスク１２を回転させたときの状態を、図１１（Ｄ）から図１１（Ｆ）はロールマスク１３を回転させたときの状態を、それぞれ示している。
【０１０４】
モータ１７を逆回転させてロールマスク１２を回転させると、ロールマスク１２は図１１（Ａ）中矢印ｂ方向に回転する。
【０１０５】
すると、ロールマスク１２の開口部１２ａとロールマスク１３の開口部１３ａとが重なった部分は、ロールマスク１２が回転することにより図１１（Ａ）に示す状態から図１１（Ｂ）に示す状態へと変化し、さらに、図の裏側に開口部１２ａが一旦隠れた後、図１１（Ｃ）へと順次変化して投光方向も変化する。
【０１０６】
つまり２つの開口部１２ａ，１３ａが重なった部分が図中上下方向に移動し、投光レンズ２の主点とのなす角がカメラのＹ方向に変化することになり、カメラのＹ方向（撮影画面の短辺方向）に走査しながら投光することができる。
【０１０７】
つまり、図１１（Ｂ），図１１（Ｃ）に示したように、ロールマスク１２を回転させたときは、撮影画面の短辺方向に走査して測距することになる。
【０１０８】
また、Ｘｅ管１０の発光タイミングは、円筒マスク位置検出手段３５の出力を参照して、ＣＰＵ６が制御する。
【０１０９】
次に、上記図１１（Ａ）に示す状態において、モータ１７を正回転させてロールマスク１３を回転させると、ロールマスク１３は同図１１（Ａ）中矢印ａ方向に回転する。
【０１１０】
すると、該図１１（Ａ）では裏側にあったロールマスク１３の開口部１３ｂが表側に現れて、開口部１３ｂとロールマスク１２に設けられた開口部１２ａとが重なった部分から測距用光が投射されることになる。
【０１１１】
さらにロールマスク１３が回転することにより、開口部１３ｂと開口部１２ａの重なった部分は、図１１（Ａ）に示す状態から、図１１（Ｄ），図１１（Ｅ），図１１（Ｆ）に示す状態へと順次変化して、投光方向も変化する。
【０１１２】
つまり、開口部１３ｂと開口部１２ａの重なった部分がＸｅ管１０の長手方向に移動して、投光レンズ２の主点とのなす角がカメラのＸ方向に変化することになり、すなわち、撮影画面の長辺方向であるカメラのＸ方向に走査しながら投光することができる。
【０１１３】
こうして、図１１（Ｄ）から図１１（Ｆ）に示したように、ロールマスク１３を回転させたときは、撮影画面の長辺方向に走査して測距することになる。
【０１１４】
このときのＸｅ管１０の発光タイミングも、上記円筒マスク位置検出手段３５の出力に基づいてＣＰＵ６により制御され、本実施例では、図１１（Ａ）の状態から図１１（Ｄ）の状態になるまでの間は発光を行わず、図１１（Ｄ）の状態になってから図１１（Ｆ）の状態に至る間で、Ｘｅ管１０の発光を行って測距を行う。
【０１１５】
なお、図１１（Ａ）の状態から図１１（Ｄ）の状態に至る間も、Ｘｅ管１０を発光して中央部のみ測距を繰り返して行い、その結果を平均化して中央部の測距データとすることで、中央部の測距データの精度を高めるようにしても良い。
【０１１６】
また、ロールマスク１２，１３の駆動方法については、本実施例に示す手段に限定されるものではなく、例えばディファレンシャルギヤー等を用いてモータ１７の駆動力を切り替えるようにしても良いし、もちろん、ロールマスク１２，１３をそれぞれ別々のアクチュエータで駆動することも可能である。
【０１１７】
次に、図８に示すフローチャートを参照して、この第２実施例の作用を説明する。
カメラ２４には、２段スイッチでなる図示しないレリーズ釦が設けられていて、このレリーズ釦の１段目の押し込み、つまり１ｓｔレリーズスイッチがオンになったことを検知すると（ステップＳ２１）、測距回数を示す変数であるｎを０にリセットし（ステップＳ２２）、姿勢検出手段７の出力からカメラ２４が水平方向に対し光軸を中心に何度傾いているかを検出して、どの方向に測距用光を走査するかをＣＰＵ６が決定する。
【０１１８】
このとき、この第２実施例では、カメラ２４の傾きが水平方向に対して４５°以上であるか否かを判断し（ステップＳ２３）、カメラ２４の傾きが水平方向に対して４５°までであるときは、撮影画面の長辺方向に走査するものとし、カメラ２４の傾きがそれより大きい場合には、撮影画面の短辺方向に走査するものとする。
【０１１９】
このステップＳ２３において、撮影画面の長辺方向に走査すると決定した場合は、モータ１７を正回転して遊星クラッチ１８をギヤー列１５に噛合させて、ロールマスク１３を回転させる（ステップＳ２４）。
【０１２０】
次に、ｎをインクリメントし（ステップＳ２５）、発光回路１１を駆動してＸｅ管１０を発光させ、測距用光として被写体に向けて投射する（ステップＳ２６）。
【０１２１】
このステップＳ２６で投射した測距用光の被写体での反射光を受光手段２２が受光し（ステップＳ２７）、受光素子４が光電変換信号を出力する。
【０１２２】
ステップＳ２７で発光素子４が出力した光電変換信号からＡＦＩＣ５がＸ方向とＹ方向の受光位置を算出し、補正手段３６が円筒マスク位置検出手段３５の出力に応じてＸ方向の受光位置に補正を掛ける（ステップＳ２８）。
【０１２３】
ステップＳ２８で算出したＹ方向の受光位置および補正されたＸ方向の受光位置から、スポット欠けが発生しているか否かをＣＰＵ６が判定する（ステップＳ２９）。
【０１２４】
スポット欠けが発生していると判定された場合は、ステップＳ２８で算出したＹ方向の受光位置から基線長をＳ２としてＣＰＵ６が被写体距離を算出し（ステップＳ３０）、後述するステップＳ３２へと進む。
【０１２５】
一方、上記ステップＳ２９でスポット欠けが発生していないと判定された場合は、上記ステップＳ２８で算出したＹ方向の受光位置および補正されたＸ方向の受光位置から、基線長をＳ１としてＣＰＵ６が被写体距離を算出する（ステップＳ３１）。
【０１２６】
次に、上記測距回数を示す変数ｎがｎ＝７であるか否かを判定し（ステップＳ３２）、ｎ＝７になっていなければ上記ステップＳ２５へと戻って、ｎ＝７になるまで上述のステップＳ２５からステップＳ３２を繰り返す。
【０１２７】
一方、上記ステップＳ２３において撮影画面の長辺方向に走査しないと判定した場合には、モータ１７を逆回転させる（ステップＳ３３）。
【０１２８】
そして、ｎをインクリメントし（ステップＳ３４）、発光回路１１を駆動してＸｅ管１０を発光させ、測距用光として被写体に向けて投射する（ステップＳ３５）。
【０１２９】
このステップＳ３５で投射した測距用光の被写体での反射光を受光手段２２が受光し（ステップＳ３６）、受光素子４が光電変換信号を出力する。
【０１３０】
ステップＳ３６で発光素子４が出力した光電変換信号からＡＦＩＣ５がＸ方向とＹ方向との受光位置を算出し、補正手段３６が円筒マスク位置検出手段３５の出力に応じてＹ方向の受光位置に補正を掛ける（ステップＳ３７）。
【０１３１】
ステップＳ３７で算出したＸ方向の受光位置および補正されたＹ方向の受光位置から、スポット欠けが発生しているか否かをＣＰＵ６が判定する（ステップＳ３８）。
【０１３２】
スポット欠けが発生していると判定された場合は、ステップＳ３７で算出したＸ方向の受光位置から基線長をＳ３として、ＣＰＵ６が被写体距離を算出して（ステップＳ３９）、後述するステップＳ４１へと進む。
【０１３３】
一方、上記ステップＳ３８でスポット欠けが発生していないと判定された場合は、上記ステップＳ３７で算出したＸ方向の受光位置とステップＳ３７で算出し補正したＹ方向受光位置から、基線長をＳ１としてＣＰＵ６が被写体距離を算出する（ステップＳ４０）。
【０１３４】
次に、測距回数を示す変数であるｎがｎ＝７になったか否かを判定し（ステップＳ４１）、ｎ＝７になっていなければ上記ステップＳ３４へと戻って、ｎ＝７になるまで上述のステップＳ３４からステップＳ４１を繰り返す。
【０１３５】
上記ステップＳ３２またはステップＳ４１においてｎ＝７になったと判定された場合は、ＣＰＵ６は、上記ステップＳ２５からステップＳ３２までか、あるいは上記ステップＳ３４からステップＳ４１までの繰り返しによって得られた７個の測距データのうち、最も近い測距データを選択する（ステップＳ４２）。
【０１３６】
そして、図示しない測光手段が被写体輝度を測定してＣＰＵ６に出力し、ＣＰＵ６がその被写体輝度に適合した撮影レンズ８の図示しないシャッタ機構の開口時間と絞り値を決定する（ステップＳ４３）。
【０１３７】
その後、上記レリーズ釦の２段目の押し込みがされたか否かを判定し（ステップＳ４４）、レリーズ釦の２段目の押し込みがなされてないときは、レリーズ釦の１段目の押し込みがされたか否かを判定し（ステップＳ４７）、レリーズ釦の１段目の押し込みが検知されれば上記ステップＳ４４へと戻り、レリーズ釦の１段目の押し込みが検知できなければ上記ステップＳ２１へと戻る。
【０１３８】
また、上記ステップＳ４４においてレリーズ釦の２段目の押し込みを検知すると、上記ステップＳ４２で選択した測距データに基づいてＣＰＵ６が撮影レンズ８の焦点調節を行い、上記ステップＳ４３で決定したシャッタ開口時間と絞り値に従って、ＣＰＵ６が図示しないシャッタ機構の開閉を制御して撮影を行い（ステップＳ４５）、撮影が終了した後は撮影レンズ８を初期位置に戻す。
【０１３９】
そして、例えばフォトリフレクタ等の図示しない位置検出手段の出力に基づいて、ＣＰＵ６がモータ１７を制御することにより、走査手段たる開口部１２ａ，１３ａ，１３ｂを備えたロールマスク１２，１３を図１１（Ａ）に示す位置に初期化して（ステップＳ２６）、本シーケンスを終了する。
【０１４０】
ここで測距用光の投射方向によって受光位置信号を補正して被写体距離を演算する理由について説明する。
【０１４１】
図１２は本実施例のカメラの測距装置における測距用光の投射方向と反射光の入射位置の関係を示す斜視図である。図中の座標軸はカメラ２４の縦横を基準にして設定した座標軸であり、つまり、Ｘ，Ｙ，Ｚ方向はそれぞれカメラ２４の横方向，縦方向，厚さ方向にそれぞれ対応している。
【０１４２】
Ｘｅ管１０で発光してロールマスク１２の開口部１２ａとロールマスク１３の開口部１３ａ，１３ｂの重なった部分を通過した光は、投光レンズ２を介して射出され、被写体２５で反射された後、受光レンズ３を介して受光素子４上に受光像２６を結ぶ。
【０１４３】
このとき、上記投光レンズ２の主点２ｇと受光レンズ３の主点３ｇとを結んでできる基線長はＳ１となっていて、受光レンズ３の主点３ｇから投光レンズ２の主点２ｇを見上げたときの水平方向に対する仰角はθである。そして、上記投光レンズ２の主点２ｇと受光レンズ３の主点３ｇのＸ方向寸法は基線長Ｓ３、Ｙ方向寸法は基線長Ｓ２となっている。
【０１４４】
また、受光素子４のＸ方向，Ｙ方向の寸法はそれぞれｔｘ，ｔｙとなっていて、該受光素子４上の受光像２６の重心は２６ｇである。
【０１４５】
この受光像２６の重心２６ｇは、受光レンズ３の光軸と受光素子４が交わる交点からの重心２６ｇの基線長Ｓ１方向の距離はΔｕとなっていて、同交点からのＸ方向位置はΔｘ、Ｙ方向位置はΔｙである。
【０１４６】
一方、上記投光レンズ２の光軸に対してＸ−Ｚ平面上で角度ζをなす測距用光を投射したときには、その受光素子４上の受光像２６の重心は２６ｇζとなっていて、このときのＸ方向位置はΔｘζ、Ｙ方向位置はΔｙζである。
【０１４７】
測距用光を投光レンズ２の光軸方向に投射したときと、この光軸に対してＸ−Ｚ平面上で角度ζをなすように投射したときとでは、図から明らかなように、受光素子４上の反射光の入射位置は、Ｙ方向には変化しないが、Ｘ方向にはズレを生じる。
【０１４８】
よって、光軸方向に測距用光を投射したときと同じように演算処理すると誤測距してしまうために、演算する際に投射方向による補正を掛ける必要がある。
【０１４９】
この補正方法について、図１２を参照して引き続いて説明する。
基線長をＳ３としてＸ方向の受光位置から被写体距離を算出すると、投光レンズ２の光軸に沿って測距用光を投射した場合（走査角０°）は、
ｌ＝ｆｊ・Ｓ３／Δｘ ……（８）
と表すことができる。ここにｆｊは、受光レンズ３の焦点距離である。
【０１５０】
一方、投光レンズ２の光軸に対してＸ−Ｚ平面上で角度ζをなす方向に測距用光を投射した（走査角ζ）場合は、走査角０°で測距用光を投射したときに比べてＸ方向に受光位置が変化するので、
ｌ：ｆｊ＝（Ｓ３＋ｌ・ｔａｎζ）：Δｘζ ……（９）
となり、
ｌ＝ｆｊ・Ｓ３／（Δｘζ−ｆｊ・ｔａｎζ） ……（１０）
と表すことができる。
【０１５１】
よって（８）式および（１０）式から、ΔｘとΔｘζの関係式は、
Δｘ＝Δｘζ−ｆｊ・ｔａｎζ ……（１１）
と表すことができる。
【０１５２】
こうして、Ｘ方向の受光位置は測距用光の投射方向（走査角ζ）に応じて、（１１）式に示すような補正を掛ければ良いことになる。
【０１５３】
また、Ｙ方向の受光位置は、走査角０°で測距用光を投射したときと走査角ζで投射したときでは変化しないために、ΔｙとΔｙζの関係は、
Δｙ＝Δｙζ ……（１２）
と表すことができて、Ｙ方向の受光位置にはなんら補正を掛ける必要がないことが分かる。
【０１５４】
よって、測距用光の走査方向に平行な方向の受光位置は走査角により変化して、このときには補正式は（１１）式のように表すことができ、一方、走査方向と直交する方向の受光位置は走査角によって変化しないために、なんら補正を掛ける必要はない。
【０１５５】
さらに、スポット欠けが発生しているか否かの判定は、走査角に応じて補正を掛けた受光位置が、上述の第１実施例と同様にして、基準ライン３２上にあるかどうかで行うことができる。つまり、基準ライン３２上にあればスポット欠けは発生していないと判定し、基準ライン３２上になければスポット欠けが発生していると判定すれば良い。
【０１５６】
また、本実施例では、撮影画面の長辺方向と短辺方向に走査して測距を行ったが、ロールマスク１２，１３に設けられた開口部の形状や、駆動パターンを変えれば多種多様な走査方向を得ることができる。
【０１５７】
図１３は、ロールマスク１２，１３の開口部の形状と、走査方向の一例を示す図である。
【０１５８】
図中矢印１２ｓは、ロールマスク１３が図の状態にあるときにロールマスク１２を回転させたときの走査方向であり、矢印１３ｓは、ロールマスク１２が図の状態にあるときにロールマスク１３を回転させたときの走査方向を示す。
【０１５９】
図１３（Ａ）に示すように、ロールマスク１２には長手方向に伸びたスリット形状の開口部が設けられ、ロールマスク１３には螺旋状に伸びたスリット形状の開口部が設けられている。この図１３（Ａ）に示す場合には、ロールマスク１２とロールマスク１３のいずれかを回転させることにより、撮影画面に対して長辺方向と斜め方向に走査することができる。
【０１６０】
図１３（Ｂ）に示すように、ロールマスク１２には長手方向に伸びたスリット形状の開口部が設けられ、ロールマスク１３には螺旋状に伸びたスリット形状の開口部と円周方向に伸びたスリット形状の開口部とが組み合わせて設けられている。この図１３（Ｂ）に示す場合には、画面の長辺方向と短辺方向および斜め方向に走査することができるとともに、ロールマスク１３のみを回転させたときは、上述の画面長辺方向に走査しつつ、画面の中央部１点に連続的に測距用光を投射することができる。
【０１６１】
図１３（Ｃ）に示すように、ロールマスク１２には円形孔と、この円形孔を中心として対向する２つの円弧状スリットをなす開口部が設けられていて、ロールマスク１３には長手方向に伸びたスリット形状の開口部が設けられている。この図１３（Ｃ）に示す場合には、画面の中央部１点と画面の長辺方向および画面の中央を中心とした円弧状に走査することができる。
【０１６２】
図１３（Ｄ）に示すように、ロールマスク１２には、表側に長手方向に伸びたスリット形状の開口部が、裏側に円周方向に伸びたスリット形状の開口部が設けられ、ロールマスク１３には螺旋状に伸びたスリット形状の開口部が設けられている。この図１３（Ｄ）に示す場合には、ロールマスク１２の表側と裏側に異なった形状の開口部を設けたことにより、ロールマスク１２の表側と裏側を切り替えて使えば、ロールマスク１３の回転だけで画面の長辺方向と短辺方向の両方向に走査することができる。
【０１６３】
また、上述では、ロールマスク１２，１３の一方を動かすときは、他方を固定していたが、例えば図１３（Ａ）の場合では、ロールマスク１２をステップ駆動しながら、ロールマスク１３を回転させることにより、破線部１２ｈの範囲内を全て走査することができて、つまり２次元的な測距範囲を得ることができる。このように２つのロールマスク１２，１３を独立に回転させることで、２次元的な測距範囲を得ることが可能である。
【０１６４】
また、本実施例では、スリット状の開口部を有する２つのロールマスクを回転させて測距用光を走査していたが、２枚の平板にスリット状の開口部を設けて、これらを相対的に動かしても測距用光を走査することができることはいうまでもない。
【０１６５】
さらに、本実施例では、ロールマスクに細長いスリット状の開口部を設けているが、ロールマスクに小孔を複数個穿設して開口部としてももちろん良い。
【０１６６】
加えて、ここまでは走査方向を切り替える方法例について述べてきたが、本実施例のようなロールマスクによる走査手段であれば、測距用光の結像距離を変化させることもできる。
【０１６７】
つまり、外側のロールマスクの回転軸に垂直な断面の形状を、例えば楕円や、これに準じた回転軸からの距離が回転角により異なる断面形状のものにするか、あるいは、ロールマスクの回転軸をロールマスクの中心軸に対して偏心させて、外側のロールマスクを回転させれば、Ｘｅ管１０から光線を取り出す開口部と投光レンズ２の主点との距離が変化して、上記測距用光の結像距離を変化させることができる。
【０１６８】
よって、測距用光の結像距離を測距装置の測距範囲内の距離で変化させれば、被写体距離がどこであっても測距用光が良好なピントで被写体上に結像するので、そのときの距離情報を用いて測距精度を高めることも可能である。
【０１６９】
なお、被写体に測距用光が良好なピントで結像したかどうかの判定法は、受光素子の受光光量を検出して、受光光量が最も大きいときが良好なピントで結像したと判定しても良いし、投光レンズ２の焦点距離は既知であるので、そのときの投光レンズ２の主点２ｇからロールマスクの開口部までの距離と、被写体距離情報とから判断しても良い。
【０１７０】
例えば、図１３（Ｂ）に示したロールマスクの組合せの場合には、ロールマスク１３をロールマスク１２の外側に設置し、ロールマスク１３の中心軸に対して偏心させてロールマスク１３を回転させれば、撮影画面の中央１点については、測距装置における最至近測距距離から最遠測距距離まで変化させることも可能である。
【０１７１】
このとき、受光素子４も測距用光の結像距離にある投光像が該受光素子４上に結像するように受光レンズ３の光軸方向に動かせば、より測距精度を高めることができる。さらにこのとき、外側のロールマスクの開口部のエッジ部分が、投受光の基線長方向である方が望ましい。
【０１７２】
また本実施例では、複数ケ所の測距情報のうち最至近のものを無条件で選択しているが、スポット欠けの発生している箇所の距離情報はキャンセルして、スポット欠けのない距離情報のみを使用して測距精度を高めるようにしても良い。
【０１７３】
さらに本実施例では、測距用光の投射方向を検出して受光位置に補正を掛けて被写体距離を演算しているが、上述したように、走査方向と直交する方向の受光位置は走査の影響を受けないので、スポット欠けによる影響を考慮しなくとも良ければ、本実施例のように投射方向検出手段と補正手段を設けなくとも、走査方向に直交する方向の受光位置のみにより、被写体距離を演算することも可能である。
【０１７４】
またこのときは、走査方向と平行な方向の受光位置から投射方向を算出して、投射方向検出手段として利用することも可能である。この場合、投受光の配置は画面の斜め方向には限定されず、走査方向と同方向でなければ良い。なぜならば、走査方向と基線長方向が同方向であると、その直交方向において基線長が０となり、被写体距離を演算することができないからである。
【０１７５】
さらに本実施例では、被写体で反射した測距用光の受光位置を、走査角に応じて補正して被写体距離を演算しているが、各走査角に応じた調整値を予め記憶手段等に記憶させておいても良い。
【０１７６】
また本実施例において、カメラが横位置のときにカメラのＸ方向に走査し、カメラが縦位置のときにカメラのＹ方向に走査するのは、走査方向を常に水平方向とすることで、人物が２人並んで撮影するとき等に起こりがちな、いわゆる中抜けを防止するためである。
【０１７７】
以上説明したようにこの第２実施例によれば、簡単な構成で撮影においてカメラを縦に構えても横に構えても常に適切な範囲を測距できるように走査方向を切り替えることができて、中抜けを効果的に防止することができるとともに、スポット欠けの発生の有無とカメラの姿勢によって適切な基線長方向を選択して被写体距離を算出しているので、誤測距することなく高精度な測距を行うことができる。
【０１７８】
さらに本実施例を応用すれば、上述したように、測距用光の投射方向を検出することなく正確な測距を行うことも可能である。
【０１７９】
図１４から図１６は本発明の第３実施例を示したものであり、図１４はカメラの測距装置を示すブロック図である。この第３実施例において、上述の第１，第２実施例と同様である部分については説明を省略し、主として異なる点についてのみ説明する。
【０１８０】
図示のように、このカメラの測距装置には、測距用の光束を被写体に投射するための光源である赤外発光ダイオード（ＩＲＥＤ）１が設けられていて、このＩＲＥＤ１は、ドライバ９により発光制御されるようになっている。
【０１８１】
上記ＩＲＥＤ１の発光部１ａは細長い形状に形成されていて、このＩＲＥＤ１が発した光は、投光レンズ２により集光されて測距用光として被写体に向けて投射される。なお、上記ＩＲＥＤ１，投光レンズ２およびドライバ９により、投光手段２１が構成されている。
【０１８２】
上記ＩＲＥＤ１は、ＩＲＥＤ回転手段３８により、上記投光レンズ２の光軸周りに回転駆動されるように構成されていて、これにより、撮影画面の長辺方向（Ｘ方向）に細長い投光像と、撮影画面の短辺方向（Ｙ方向）に細長い投光像とを、上記被写体に向けて投射することが可能となっている。
【０１８３】
上記測距用光を受けた被写体からの反射光は、受光レンズ３を介して受光素子４上に結像するようになっていて、これら受光レンズ３および受光素子４により受光手段２２が構成されている。
【０１８４】
上記投光手段２１と受光手段２２は、上述の第１，第２実施例と同様に、撮影画面の縦横に対して斜め方向に基線長Ｓ１だけ離れて設置されている。
【０１８５】
上記受光素子４は、上記測距用光の反射光の入射位置を２次元で検知するための光電変換素子であり、例えば２次元位置検出用の半導体光位置検出素子からなり、カメラ２４の横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）の入射位置を検知できるように設置され、受光位置に応じて光電変換信号を出力するものである。
【０１８６】
オートフォーカス集積回路（ＡＦＩＣ）５は、上記受光素子４の出力に基づいて上記反射光のカメラの横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）の２方向の入射位置を算出するものである。このＡＦＩＣ５の入射位置信号は、判定手段３７に入力されるようになっている。
【０１８７】
この判定手段３７は、ＡＦＩＣ５の出力信号からスポット欠けの影響がない受光位置信号を選択して、ＣＰＵ６に出力するものである。
【０１８８】
上記ＣＰＵ６は、カメラ全体のシーケンスを司るワンチップマイコン等からなる演算制御回路であり、上記判定手段３７が選択した受光位置信号から上記被写体までの距離を算出し、その算出結果に基づいて撮影レンズ８の焦点調節を行うものである。
【０１８９】
なお、カメラ２４の撮影画面は、横方向であるＸ方向が長辺方向であり、縦方向であるＹ方向が短辺方向となっている。
【０１９０】
次に、図１５を参照して第３実施例の作用を説明する。
カメラ２４には、２段スイッチでなる図示しないレリーズ釦が設けられていて、このレリーズ釦の１段目の押し込み、つまり１ｓｔレリーズスイッチがオンになったことを検知すると（ステップＳ５１）、ＩＲＥＤ回転手段３８によりＩＲＥＤ１の位置を初期化して横長位置にし（ステップＳ５２）、この横長の初期位置においてドライバ９を駆動してＩＲＥＤ１を発光し、測距用光として被写体に向けて投射する（ステップＳ５３）。
【０１９１】
上記ＩＲＥＤ１の初期位置は、発光部１ａの長手方向がカメラのＸ方向になっている位置であるために、上記ステップＳ５３で投射された測距用光の被写体上での投光像は、Ｘ方向に細長い投光像（横長投光）となる。
【０１９２】
次に、上記ステップＳ５３で投射した測距用光の被写体での反射光を、受光素子４が受光する（ステップＳ５４）。
【０１９３】
ＡＦＩＣ５が、上記反射光の受光位置をカメラの横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）の受光位置信号として算出して、上記判定手段３７へ出力する（ステップＳ５５）。
【０１９４】
次に、ＩＲＥＤ回転手段３８によりＩＲＥＤ１を回転駆動して、上記ＩＲＥＤ１の発光部１ａの長手方向をカメラの縦方向であるＹ方向にした後、ドライバ９によりＩＲＥＤ１を発光させて、測距用光として被写体に向けて投射する（ステップＳ５６）。
【０１９５】
つまり、このステップＳ５６で投射される測距用光の被写体上での投光像は、Ｙ方向に細長い投光像（縦長投光）となる。
【０１９６】
次に、上記ステップＳ５６で投射した測距用光の被写体での反射光を、受光素子４が受光する（ステップＳ５７）。
【０１９７】
このステップＳ５７で受光した上記反射光の受光位置を、ＡＦＩＣ５がＸ方向とＹ方向の受光位置信号として算出し、判定手段３７へと出力する（ステップＳ５８）。
【０１９８】
そして、上記ステップＳ５５とステップＳ５８とでＡＦＩＣ５が出力した受光位置信号のうち、スポット欠けの影響のない受光位置信号を判定手段３７が選択してＣＰＵ６に出力し、ＣＰＵ６が、この受光位置信号から上記被写体までの距離を算出する（ステップＳ５９）。
【０１９９】
上記レリーズ釦の２段目の押し込みがなされたか否かを判定し（ステップＳ６０）、レリーズ釦の２段目の押し込みが検知されない場合には、レリーズ釦の１段目の押し込みがなされているかを再確認し（ステップＳ６１）、１段目の押し込みがなされていれば上記ステップＳ６０へと戻り、１段目の押し込みがなされていなければ上記ステップＳ５１へと戻る。
【０２００】
一方、上記ステップＳ６０において、レリーズ釦の２段目の押し込みが検知さた場合には、図示しない測光手段により上記被写体の輝度を測定し、ＣＰＵ６が撮影レンズ８の図示しないシャッタ機構の開口時間と絞り値とを決定する（ステップＳ６２）。
【０２０１】
そして、上記ステップＳ５９で算出した被写体距離に従って撮影レンズ８の焦点調節をＣＰＵ６が行い、ステップＳ６２で決定したシャッタ機構の開口時間と絞り値に基づいて、ＣＰＵ６が、上記シャッタ機構の開口を制御して撮影を行い（ステップＳ６３）、撮影が終了したら、撮影レンズ８の焦点位置を初期化してから本シーケンスを終了する。
【０２０２】
ここで、横長投光と縦長投光を行って、スポット欠けの影響のない上記反射光の受光位置を判定手段３７が選択する選択方法について、図１６を参照して説明する。
【０２０３】
この図１６（Ａ）から図１６（Ｄ）において、左側の図はカメラ２４側から見た被写体２５上における横長の投光像３３ａおよび縦長の投光像３３ｂの位置を示す図、右側の図はカメラ２４の正面側から見た上記投光像３３ａ，３３ｂに係る受光素子４上の各受光像の受光像重心２６ｇａ，２６ｇｂを示す図である。また、図中の座標軸は、カメラ２４を正面から見たときのカメラ２４の座標軸であり、Ｘ方向はカメラ２４の横方向、Ｙ方向はカメラ２４の縦方向にそれぞれ対応している。
【０２０４】
図１６（Ａ）は横長投光、縦長投光ともにスポット欠けが発生することなく被写体２５に測距用光が投射されているときの図であり、この場合に比べて、図１６（Ｂ），（Ｃ），（Ｄ）に示すように、スポット欠けが発生したときは、受光像の重心位置がずれることが分かる。
【０２０５】
このときに、細長い投光像であればスポット欠けは投光像の長辺方向に発生し易いことは明らかであるから、スポット欠けが発生した場合には、そのときの投光像の短辺方向の受光像重心位置は変化しないと考えられる。
【０２０６】
よって図１６（Ｂ）に示すように、横長投光の受光像のみにスポット欠けが発生した場合は、縦長投光時の受光像重心２６ｇｂはスポット欠けが発生していないので、この受光像重心２６ｇｂについてはＸ方向，Ｙ方向ともにスポット欠けの影響を受けていないし、また、受光像重心２６ｇａについてもＹ方向はスポット欠けしていないときと同じ値である。
【０２０７】
図１６（Ｃ）は横長投光と縦長投光の両方ともにスポット欠けが発生しているときの図であり、同図１６（Ｃ）の符号３３ａ，３３ｂに示すように投光像が投射されてどちらも基準ライン３２上にない場合には、受光像重心２６ｇａのＹ方向の位置と、受光像重心２６ｇｂのＸ方向の位置は変化していないと考えられる。
【０２０８】
また、図１６（Ｄ）は、縦長投光時に全く測距用光が被写体に投射されていないときの図であり、同図１６（Ｄ）に示したようなスポット欠けが発生しているときは、縦長投光時は被写体に測距用光が投射されていないので受光出力はないが、横長投光時のＹ方向の受光像重心位置をスポット欠けの影響のない受光位置信号として用いることができる。
【０２０９】
つまり、スポット欠けが発生した場合は、そのときの投光像の短辺方向の受光像重心位置を、スポット欠けの影響のない受光位置信号として用いれば良いことになる。
【０２１０】
また、そのときスポット欠けが発生しているか否かの判定については、上述の第１実施例で説明したように、基準ライン３２上に上記受光像重心があるかどうかで判定すれば良い。
【０２１１】
以上のような理論に基づいて、スポット欠けが発生したときに、スポット欠けの影響のない受光位置信号を判定手段３７が選択する。
【０２１２】
つまり、被写体距離の算出は、縦長投光と横長投光の両方ともにスポット欠けが発生していなければ、縦長投光もしくは横長投光で得られる２つの受光位置信号から基線長をＳ１として被写体距離を算出すれば良い。
【０２１３】
また、縦長投光と横長投光の内のどちらか１方のみにスポット欠けが発生している場合は、スポット欠けが発生していない方のＸ方向およびＹ方向の受光位置信号を用いて、基線長をＳ１として被写体距離を算出すれば良い。
【０２１４】
さらに、縦長投光と横長投光の両方ともにスポット欠けが発生している場合は、縦長投光時のＸ方向の受光位置信号と横長投光時のＹ方向の受光位置信号とから、基線長をＳ１として被写体距離を算出すれば良い。
【０２１５】
加えて、これら縦長投光と横長投光の内のどちらか１方が被写体に全く投射されなかった場合には、被写体に投射されている方の受光位置信号の内、短辺方向の受光位置信号を用いて被写体距離を算出する。
【０２１６】
すなわち、縦長投光のみ被写体に投射されている場合は、この縦長投光時のＸ方向の受光位置信号を用いて基線長はＳ３として被写体距離を算出し、横長投光時のみ被写体に投射されている場合は、横長投光時のＹ方向の受光位置信号を用いて基線長はＳ２として被写体距離を算出する。
【０２１７】
各基線長Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３の定義は上述の第１，第２実施例と同様であり、被写体距離の演算方法も上述の第１実施例で説明した通りである。
【０２１８】
また、本実施例では、縦長投光と横長投光にともにスポット欠けが発生していないときに、縦長投光か横長投光のどちらかの受光位置信号を用いて被写体距離を算出しているが、縦長投光時と横長投光時の各々の受光位置信号を用いて被写体距離を算出して、２つの距離情報を平均化することにより、測距の信頼性を高めるようにしても良い。
【０２１９】
さらに、本実施例では、横長投光時にスポット欠けが発生していなくても縦長投光を行うが、横長投光時にスポット欠けが発生していないときは、縦長投光を行わずに横長投光の結果のみで被写体距離を算出して、測距の高速化を図ることも可能である。
【０２２０】
なお、本実施例では、横長投光と縦長投光を行う順番についてはなんら制限はないが、カメラの姿勢を検知する姿勢検出手段を別途設けて、カメラが横位置であると検出されたときには縦長投光を先に行い、カメラが縦位置であると検出されたときには横長投光を先に行うようにすれば、１回目の投光時においてスポット欠けが発生する可能性がより低くくなり、測距の高速化が可能となる。
【０２２１】
また、カメラが横位置のときに縦長投光を行い、縦位置のときに横長投光を行うとスポット欠けが起きづらくなるのは、本実施例で説明した投光像の形状によりスポット欠けの発生しづらい方向と、上述の第１実施例で説明したカメラの姿勢によってスポット欠けの発生し易い方向とを同方向としているためである。
【０２２２】
このような第３実施例によれば、同一の投光手段を用いて縦長投光と横長投光を行うことにより、複数の受光手段を設けることなく、スポット欠けが発生しても誤測距することがない、高精度の測距が可能なカメラの測距装置となる。
【０２２３】
［付記］
以上詳述したような本発明の上記実施態様によれば、以下のごとき構成を得ることができる。
【０２２４】
（１） カメラの測距装置において、
発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、
上記投光手段の光束の投射方向を変化させ被写体上を走査する走査手段と、
上記光束の投射方向を検出する投射方向検出手段と、
上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に配置し、上記被写体からの反射光位置を２次元的に検出し、撮影画面の略縦方向と略横方向の入射位置情報を出力する受光手段と、
上記受光手段の入射位置情報出力を上記投射方向検出手段の出力に応じて補正する補正手段と、
上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、
カメラの姿勢を検出する姿勢検出手段と、
上記投光手段の投射光束が被写体に全て投射されているか否かを判定する判定手段と、
上記姿勢検出手段の出力に応じて上記走査手段の走査方向を選択し切り替える制御手段と、
を有し、上記演算手段は、上記判定手段が上記光束の一部しか被写体に投射されていないと判断した場合は、上記姿勢検出手段の出力に応じて上記受光手段が有する撮影画面の略縦方向と略横方向とのいずれか１方向の入射位置情報出力を用いて上記被写体距離を演算し、上記判定手段が上記光束の全て被写体に投射されていると判断した場合は、上記受光手段が有する撮影画面の略縦方向と略横方向との２方向の入射位置情報出力を用いて上記被写体距離を演算することを特徴とするカメラの測距装置。
【０２２５】
（２） カメラの測距装置において、
発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、
上記投光手段の光束の投射方向を変化させ被写体上を走査する走査手段と、
上記投射方向を検出する投射方向検出手段と、
上記投光手段から基線長だけ離れて配置され、上記被写体から投射された光束の被写体での反射光を受光し、その入射位置を検出する受光手段と、
上記受光手段の入射位置情報出力を上記投射方向検出手段の出力に応じて補正する補正手段と、
上記補正手段の出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、
カメラの姿勢を検出する姿勢検出手段と、
上記姿勢検出手段の出力に応じて上記走査手段の走査方向を選択し切り替える制御手段と、
を具備することを特徴とするカメラの測距装置。
【０２２６】
（３） 光源からの光束を被写体に向けて投射する投光手段と、上記投光手段の光束の投射方向を切り替える走査手段とを有するカメラの測距装置において、
上記走査手段は、開口部を有する第１の円筒マスクと、この第１の円筒マスクの内側もしくは外側に設置される開口部を有する第２の円筒マスクとからなり、上記２つの円筒マスクを相対的に動かすことにより投射方向を切り替えることを特徴とするカメラの測距装置。
【０２２７】
（４） 上記走査手段は、上記第１および第２の円筒マスクの駆動を切り替えることにより走査方向を切り替えることを特徴とする付記３に記載のカメラの測距装置。
【０２２８】
（５） 上記第１の円筒マスクは開口部を２つ以上有し、上記第２の円筒マスクは１つの開口部を有し、この第２の円筒マスクを回転することにより投射方向を変化させ、上記第１の円筒マスクを選択的に動かすことにより走査方向を切り替えることを特徴とする付記３に記載のカメラの測距装置。
【０２２９】
（６） カメラの測距装置において、
発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、
上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に配置すると共に、上記被写体からの反射光位置を２次元的に検出し入射位置情報を出力する受光手段と、
上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、
上記受光手段に基づき、上記投光手段の投射光束が被写体に全て投射されているか否かを判定する判定手段と、
上記判定手段が上記光束の一部しか被写体に投射されていないと判断した場合は、撮影者に警告する警告手段と、
を具備することを特徴とするカメラの測距装置。
【０２３０】
（７） カメラの測距装置において、
発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、
上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に配置すると共に、上記被写体からの反射光位置を２次元的に検出し入射位置情報を出力する受光手段と、
上記光束が、被写体に全て投射されているか否かを判定する判定手段と、
上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、
を有し、上記投光手段は１回の測距動作で被写体に向けて２種類の異なる形状の光束を投射し、上記演算手段は、上記判定手段の出力に応じて上記２種類の異なる形状の光束の上記反射光の入射位置情報出力から１つ以上を選択して、被写体距離を算出することを特徴とするカメラの測距装置。
【０２３１】
（８） 上記光束の形状が上記受光手段の入射位置検出方向と同方向に細長いことを特徴とする付記７に記載のカメラの測距装置。
【０２３２】
（９） 発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、この投光手段の光束の投射方向を切り替える走査手段と、を有するカメラの測距装置において、
上記走査手段は、開口部を有する第１の円筒マスクと、この第１の円筒マスクの外側に設置される開口部を有する第２の円筒マスクとからなり、この第２の円筒マスクの回動軸が上記第２の円筒マスクの中心軸に対し偏心して配設され、上記第２の円筒マスクを回動することにより上記光束の投射方向を切り替えることを特徴とするカメラの測距装置。
【０２３３】
（１０） 発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、この投光手段の光束の投射方向を切り替える走査手段と、を有するカメラの測距装置において、
上記走査手段は、開口部を有する第１の円筒マスクと、この第１の円筒マスクの外側に設置されていて、開口部を有するとともに、円筒マスクの断面形状が楕円である第２の円筒マスクとからなり、この第２の円筒マスクを回動することにより上記光束の投射方向を切り替えることを特徴とするカメラの測距装置。
【０２３４】
（１１） 上記円筒マスクの代わりに平板によってマスクを形成することを特徴とする付記３または付記４に記載のカメラの測距装置。
【０２３５】
（１２） マスクに小孔を複数個設けていることを特徴とする付記３または付記４または付記１０または付記１１に記載のカメラの測距装置。
【０２３６】
（１３） カメラの測距装置において、
発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、
上記投光手段の光束の投射方向を変化させ被写体上を走査する走査手段と、
上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に配置すると共に、上記被写体からの反射光位置を２次元的に検出し入射位置情報を出力する受光手段と、
上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、
カメラの姿勢を検出する姿勢検出手段と、
上記走査手段の走査方向は撮影画面の短辺方向と長辺方向との２方向であり、上記姿勢検出手段の出力に応じて上記走査手段の２つの走査方向を選択し切り替える制御手段とを有し、横構図のときには長辺方向に走査し、縦構図のときには短辺方向に走査することを特徴とするカメラの測距装置。
【０２３７】
（１４） カメラの測距装置において、
発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、
上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に配置すると共に、上記被写体からの反射光位置を２次元的に検出し入射位置情報を出力する受光手段と、
上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、
カメラの姿勢を検出する姿勢検出手段と、
上記受光手段に基づき、上記投光手段の投射光束が被写体に全て投射されているか否かを判定する判定手段と、
を有し、上記演算手段は、上記判定手段が上記光束の一部しか被写体に投射されていないと判断した場合は、撮影レンズの絞りを絞り込んで撮影することを特徴とするカメラの測距装置。
【０２３８】
【発明の効果】
以上説明したように本発明のカメラの測距装置によれば、受光手段を増やすことなくスポット欠けによる誤測距を防止することができる。
【０２３９】
また、本発明のカメラの測距装置によれば、投光手段を増やすことなく中抜けを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施例のカメラの測距装置の構成を示すブロック図。
【図２】上記第１実施例の測距装置の投光レンズと受光レンズの位置関係を示すカメラの正面図。
【図３】上記第１実施例のカメラの作用を示すフローチャート。
【図４】上記第１実施例のカメラの測距装置の要部を示す斜視図。
【図５】上記図４のカメラの測距装置の要部の側面図。
【図６】本発明の第２実施例のカメラの測距装置の構成を示すブロック図。
【図７】上記第２実施例のロールマスクの開口部を示す展開図。
【図８】上記第２実施例のカメラの作用を示すフローチャート。
【図９】上記第２実施例の遊星クラッチを示す斜視図。
【図１０】上記第２実施例の遊星クラッチが、（Ａ）中立状態，（Ｂ）外側のロールマスクに駆動力を伝達する状態，（Ｃ）内側のロールマスクに駆動力を伝達する状態をそれぞれ示す側面図。
【図１１】上記第２実施例において、ロールマスクの位置と撮影範囲内の投光像との関係を示す図。
【図１２】上記第２実施例のカメラの測距装置の要部を示す斜視図。
【図１３】上記第２実施例のロールマスクの開口部の形状の例と、そのときの走査方向を示す図。
【図１４】本発明の第３実施例のカメラの測距装置の構成を示すブロック図。
【図１５】上記第３実施例のカメラの作用を示すフローチャート。
【図１６】上記第３実施例において、カメラ側から見たときの被写体上の投光像と、カメラを正面側から見たときの受光素子上の受光像の重心位置との関係を示す図。
【符号の説明】
１…赤外発光ダイオード（ＩＲＥＤ）
２…投光レンズ
３…受光レンズ
４…受光素子
５…オートフォーカス集積回路（ＡＦＩＣ）
６…ＣＰＵ（演算手段）
７…姿勢検出手段
１２，１３…ロールマスク
１２ａ，１３ａ，１３ｂ…開口部（走査手段）
２１…投光手段
２２…受光手段
３１…警告手段
３５…円筒マスク位置検出手段
３６…補正手段
３７…判定手段
３８…ＩＲＥＤ回転手段
【産業上の利用分野】
本発明は、カメラの測距装置、より詳しくは、投射した光束を受光して被写体までの距離を測距するカメラの測距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、光源からの光束を被写体に向けて投射してその反射光を受光し、その受光位置から被写体までの距離を算出するいわゆるアクティブ式測距装置は、広く知られて用いられている。
【０００３】
このような測距装置においては、投光像が基線長方向で被写体に一部しか当たらない、いわゆるスポット欠けが発生すると、被写体までの距離を誤測距してしまう可能性がある。
【０００４】
この問題を解決する技術手段として、例えば特開平１−２２２２３５号公報には、受光手段を２つ備えて、誤測距を防止する技術が提案されている。
【０００５】
また、このようなアクティブ式測距装置では、光束の投射された画面内の一部分しか測距することができない、いわゆる中抜けが発生することがあるという問題もあった。
【０００６】
この問題点を解決する技術手段としては、複数の発光素子を備えて複数方向の測距を行ういわゆるマルチＡＦが知られており、また特開平１−２２２２３６号公報には、カメラの姿勢によって発光させる素子を切り替えて、縦構図でも横構図でも適切な範囲を測距する技術が提案されている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記特開平１−２２２２３５号公報に記載のもののように、受光手段たる受光部を２つ有することは、装置の大型化を招いてカメラのレイアウト上の制限が増えるとともに、部品数も増加するためにコスト高を招く要因となっていた。
【０００８】
また、上記特開平１−２２２２３６号公報に記載のものでは、必要な測距ポイントの数だけ投光手段たる発光素子が必要となるために、測距ポイントを増やせば増やすほどコスト高を招くことになってしまう。さらに、余りに近接した複数のポイントを測距しようとすると、発光素子をレイアウトすることができないという問題を抱えていた。
【０００９】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、受光手段を増やすことなくスポット欠けによる誤測距を防止することができるカメラの測距装置を提供することを目的としている。
【００１０】
また、本発明は、投光手段を増やすことなく中抜けを防止することができるカメラの測距装置を提供することを目的としている。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、本発明による第１のカメラの測距装置は、カメラの測距装置において、投射光束を被写体に向けて投射する投光手段と、上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に配置すると共に、上記被写体からの上記投射光束の反射光位置を２次元的に検出し入射位置情報を出力する受光手段と、上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、カメラの姿勢を検出する姿勢検出手段と、を有し、上記演算手段は上記姿勢検出手段により当該カメラが横位置であると検出された場合は、上記受光手段が有する撮影画面の略縦方向の入射位置情報出力のみを用いて上記被写体距離を演算し、一方、上記姿勢検出手段により当該カメラが縦位置であると検出された場合は、上記受光手段が有する撮影画面の略横方向の入射位置情報出力のみを用いて上記被写体距離を演算することを特徴とする。
【００１２】
また、本発明による第２のカメラの測距装置は、カメラの測距装置において、投射光束を被写体に向けて投射する投光手段と、上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に所定の基線長隔てて配置すると共に、上記被写体からの上記投射光束の反射光位置を２次元的に検出し、撮影画面の略縦方向と略横方向との直交する２方向の入射位置情報を出力可能な受光手段と、上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、上記受光手段に基づき、上記投光手段の投射光束が被写体に全て投射されているか否かを判定する判定手段と、カメラの姿勢を検出する姿勢検出手段と、を有し、上記演算手段は、上記判定手段が上記投射光束の一部しか被写体に投射されていないと判断した場合に、上記姿勢検出手段によりカメラが横位置であると検出された際には、上記受光手段が出力する直交する２方向の上記入射位置情報のうち、撮影画面の略縦方向のみの入射位置情報出力を用いて上記被写体距離を演算し、上記判定手段が上記投射光束の一部しか被写体に投射されていないと判断した場合に、上記姿勢検出手段によりカメラが縦位置であると検出された際には、上記受光手段が有する撮影画面の略横方向のみの入射位置情報出力を用いて上記被写体距離を演算し、上記判定手段が上記光束の全て被写体に投射されていると判断した場合は、上記受光手段が出力する直交する２方向の入射位置情報出力を用いて上記被写体距離を演算することを特徴とする。
【００１４】
【実施例】
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。
図１から図５は本発明の第１実施例を示したものであり、図１はカメラの測距装置の構成を示すブロック図、図２は投光レンズと受光レンズの位置関係を示すカメラの正面図である。
【００１５】
図１に示すように、このカメラの測距装置には、測距用の光束を被写体に投射するための光源である赤外発光ダイオード（以下、ＩＲＥＤと省略する。）１が設けられていて、このＩＲＥＤ１は、ドライバ９により発光制御されるようになっている。
【００１６】
上記ＩＲＥＤ１が発した光は、投光レンズ２により集光されて測距用光として被写体に向けて投射される。なお、上記ＩＲＥＤ１，投光レンズ２およびドライバ９により、投光手段２１が構成されている。
【００１７】
上記測距用光を受けた被写体からの反射光は、受光レンズ３を介して受光素子４上に結像するようになっていて、これら受光レンズ３および受光素子４により受光手段２２が構成されている。
【００１８】
ここで図２に示すように、投光レンズ２はカメラ２４の左上に配設され、撮影レンズ８を挟んでカメラ２４の右下には受光レンズ３が配置されている。
【００１９】
そして、これら投光レンズ２と受光レンズ３は、同図２に示すように、カメラ２４の横方向であるＸ方向（図４参照）に対してθ傾いて基線長Ｓ１だけ離れて設置されていて、すなわち、投光レンズ２を構成要素とする上記投光手段２１と、受光レンズ３を構成要素とする受光手段２２も、カメラ２４の横方向に対してθ傾いて基線長Ｓ１傾いて設置されていることになる。
【００２０】
さらに、該図２に示すように、上記投光レンズ２と受光レンズ３の間の縦方向であるＹ方向（図４参照）の寸法は基線長Ｓ２、同横方向であるＸ方向の寸法は基線長Ｓ３となっている。
【００２１】
図１に戻って、上記受光素子４は、上記測距用光の反射光の入射位置を２次元で検知するための光電変換素子であり、例えば２次元位置検出用の半導体光位置検出素子からなり、カメラ２４の横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）の入射位置を検知できるように設置されていて、受光位置に応じて光電変換信号を出力するものである。
【００２２】
オートフォーカス集積回路（以下、ＡＦＩＣと省略する。）５は、上記受光素子４の出力に基づいて上記反射光のカメラの横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）の２方向の入射位置を算出するものである。このＡＦＩＣ５の入射位置信号は、演算手段たるＣＰＵ６に入力されるようになっている。
【００２３】
また、このカメラの測距装置には、カメラ２４の姿勢を検出する姿勢検出手段７が設けられていて、その検出結果をＣＰＵ６に出力するようになっている。
【００２４】
上記ＣＰＵ６は、カメラ全体のシーケンスを司るワンチップマイコン等からなる演算制御回路であり、上記ＡＦＩＣ５が出力した入射位置信号と姿勢検出手段７の出力とから上記被写体までの距離を算出し、その算出結果に基づいて撮影レンズ８の焦点調節を行うものである。
【００２５】
また、上記ＣＰＵ６には警告手段３１が接続されていて、この警告手段３１は、ＣＰＵ６が誤測距の可能性があると判断したときは、該ＣＰＵ６の出力に基づいて撮影者に警告して知らせるものである。
【００２６】
なお、カメラ２４の撮影画面は、横方向である上記Ｘ方向が長辺方向であり、縦方向である上記Ｙ方向が短辺方向となっている。
【００２７】
次に、図３を参照してこの第１実施例の作用を説明する。
カメラ２４には、２段スイッチでなる図示しないレリーズ釦が設けられていて、このレリーズ釦の１段目の押し込み、つまり１ｓｔレリーズスイッチがオンになったことを検知すると（ステップＳ１）、図示しない測光手段により被写体輝度を測定して、その測定結果に基づきＣＰＵ６が撮影レンズ８の図示しないシャッタ機構の開口時間と絞り値とを決定する（ステップＳ２）。
【００２８】
次に、ドライバ９によりＩＲＥＤ１を発光させて、測距用光として被写体に向けて投射し（ステップＳ３）、測距用光の被写体での反射光を受光素子４により受光する（ステップＳ４）。
【００２９】
受光素子４による信号がＡＦＩＣ５に入力され、該ＡＦＩＣ５が上記反射光の入射位置をカメラの横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）の受光位置信号として算出して、ＣＰＵ６に出力する（ステップＳ５）。
【００３０】
この受光位置信号に基づいてＣＰＵ６は、そのときスポット欠けが発生しているか否かを判定する（ステップＳ６）。
【００３１】
このステップＳ６でスポット欠けが発生していないと判定された場合は、ＣＰＵ６は基線長をＳ１と考えて、上記ステップＳ５で出力したＸ方向とＹ方向の受光位置信号から被写体の距離を算出して（ステップＳ９）、その後、後述するステップＳ１３へと進む。
【００３２】
一方、上記ステップＳ６でスポット欠けが発生していると判定された場合は、ＣＰＵ６は、上記姿勢検出手段７の出力に基づいて、カメラの姿勢が横位置であるかどうかを判定する（ステップＳ７）。
【００３３】
カメラが横位置である場合には、基線長をＳ２と考えて、ＣＰＵ６は、上記ステップＳ５で算出したＹ方向の受光位置信号に基づいて被写体距離を算出し（ステップＳ８）、その後、後述するステップＳ１３へと進む。
【００３４】
また、上記ステップＳ７で横位置でない場合には、ＣＰＵ６は、上記姿勢検出手段７の出力に基づいて、カメラが縦位置であるかどうかを判定する（ステップＳ１０）。
【００３５】
なお、上述したカメラの横位置，縦位置は、撮影レンズ８の光軸を中心に水平方向に対しての傾きで判定し、本実施例では、カメラが０°±１０°の範囲内にある場合に横位置であると判定し、９０°±１０°の範囲内にある場合に縦位置であると判定する。
【００３６】
上記ステップＳ１０において、カメラが縦位置であると判定した場合は、基線長をＳ３と考えて、ＣＰＵ６は、上記ステップＳ５で算出したＸ方向の入射位置信号に基づいて被写体距離を算出し（ステップＳ１１）、その後、後述するステップＳ１３へと進む。
【００３７】
一方、上記ステップＳ１０でカメラが縦位置ではないと判定した場合は、警告手段３１により撮影者に警告出しを行う（ステップＳ１２）。
【００３８】
そして、レリーズ釦の２段目の押し込み、つまり２ｎｄレリーズスイッチがオンになったかを検知し（ステップＳ１６）、押し込みが検知されれば、上記ステップＳ５で算出したＸ，Ｙ方向受光位置から被写体距離を算出し（ステップＳ１７）、後述するステップＳ１４へ進む。
【００３９】
また、上記ステップＳ１６においてレリーズ釦の２段目の押し込みが検知できなかったときは、再度レリーズ釦の１段目の押し込みを確認し（ステップＳ１８）、押し込みがなされていれば上記ステップＳ１２へと戻り、押し込みがなされていなければ上記ステップＳ１へと戻る。
【００４０】
上記ステップＳ８またはステップＳ９もしくはステップＳ１１が終了したら、上記レリーズ釦の２段目の押し込みを検知し（ステップＳ１３）、押し込みが検知されなかったときは、レリーズ釦の１段目の押し込みを再度確認し（ステップＳ１５）、レリーズ釦の１段目の押し込みが検知されればステップＳ１３へと戻り、押し込みが検知されなければ上記ステップＳ１へと戻る。
【００４１】
一方、上記ステップＳ１３においてレリーズ釦の２段目の押し込みを検知した場合には、ＣＰＵ６が、算出した被写体距離情報により撮影レンズ８の焦点調節を行い、シャッタ開口時間と絞り値とに基づいて図示しないシャッタ機構の開口を制御して撮影を行った後、撮影レンズ８を初期位置に戻して（ステップＳ１４）、本シーケンスを終了する。
【００４２】
なお、上記ステップＳ１２において警告出しを行うのは、カメラが縦位置でも横位置でもない場合には、スポット欠けが発生して正確な測距が行えない可能性があることを撮影者に知らしめて、構図を変更する等して再測距を促すためである。
【００４３】
また、上記ステップＳ１６でレリーズ釦の２段目の押し込みがなされている場合に、Ｘ，Ｙ方向受光位置から被写体距離を求めて撮影するのは、シャッタチャンスを逃すことなく撮影を行うためである。
【００４４】
さらにこの場合、撮影レンズ８の図示しない絞り機構を絞り込んで撮影を行えば被写界深度が広くなり、ピントが良好な写真を得ることができる。
【００４５】
また、ステップＳ１６でレリーズ釦の２段目の押し込みがなされた場合にも、警告出しを行うとともにレリーズロック等により撮影を禁止して、いわゆるピンボケ写真が撮影されるのを防止するようにしても良い。
【００４６】
次に、上記ステップＳ６で行われるスポット欠けが発生しているか否かの判定方法と、上記ステップＳ８，ステップＳ９，ステップＳ１１等で行われる被写体距離の算出法について説明する。
【００４７】
図４は本実施例の測距装置の要部を示す斜視図である。図中の座標軸はカメラ２４の縦横を基準にして設定した座標軸であり、つまり、Ｘ方向はカメラ２４の横方向、Ｙ方向はカメラ２４の縦方向、Ｚ方向はカメラ２４の厚さ方向にそれぞれ対応している。
【００４８】
ＩＲＥＤ１で発光した光は、上述のように、投光レンズ２を介して射出され、受光レンズ３を介して受光素子４上に受光像２６を結ぶ。
【００４９】
このとき、上記投光レンズ２の主点２ｇと受光レンズ３の主点３ｇとを結んでできる基線長はＳ１となっていて、受光レンズ３の主点３ｇから投光レンズ２の主点２ｇを見上げたときの水平方向に対する仰角はθである。そして、上記投光レンズ２の主点２ｇと受光レンズ３の主点３ｇのＸ方向寸法は基線長Ｓ３、Ｙ方向寸法は基線長Ｓ２となっている。
【００５０】
また、受光素子４のＸ方向，Ｙ方向の寸法はそれぞれｔｘ，ｔｙとなっていて、該受光素子４上の受光像２６の重心は２６ｇである。
【００５１】
この受光像２６の重心２６ｇは、受光レンズ３の光軸と受光素子４が交わる交点からの基線長Ｓ１方向の距離はΔｕとなっていて、同交点からのＸ方向位置はΔｘ、Ｙ方向位置はΔｙである。
【００５２】
上記反射光の受光像２６の重心２６ｇは、スポット欠けが発生することなく測距が行われた場合には、受光素子４上の１ライン上、すなわち投光レンズ２の主点２ｇと受光レンズ３の主点３ｇを結んだ基線長Ｓ１の方向と平行で受光レンズ３の光軸を通る受光素子４上のラインである基準ライン３２上を通るようになっている。
【００５３】
従って、上記ステップＳ４で出力した入射位置信号がこの基準ライン３２上にあるかどうかで、スポット欠けが発生しているか否かの判定が可能であり、基準ライン３２上でなければスポット欠けが発生しているし、基準ライン３２上であればスポット欠けは発生していないと判定することができる。以上のようにして、スポット欠けが発生しているか否かの判定を行う。
【００５４】
次に、被写体距離の算出は、受光素子４が出力する光電変換信号である電流Ｉａ，Ｉｂ，Ｉｃ，Ｉｄから、受光素子４上の受光像２６の重心２６ｇの位置Δｘ，Δｙ，Δｕを求めて、これらに基づいて三角測距の原理により被写体までの距離を演算すれば良い。
【００５５】
これらΔｘ，Δｙと電流Ｉａ，Ｉｂ，Ｉｃ，Ｉｄの間には、以下のような関係がある。
【００５６】
Δｘ＝ｔｘ・Ｉｄ／（Ｉｃ＋Ｉｄ） ……（１）
Δｙ＝ｔｙ・Ｉｂ／（Ｉａ＋Ｉｂ） ……（２）
こうして、電流Ｉａ，Ｉｂから重心２６ｇのＹ方向位置が、電流Ｉｃ，Ｉｄから重心２６ｇのＸ方向位置が求められる。
【００５７】
さらに、Δｕは、図４から明らかなように、三平方の定理により、
Δｕ＝ｓｑａｒ（Δｘ×Δｘ＋Δｙ×Δｙ） ……（３）
と表すことができる。
【００５８】
また、三角測距の原理から被写体距離を考えると、
被写体距離＝受光レンズ焦点距離×基線長／受光像重心位置 …（４）
と表すことができる。
【００５９】
図５は基線長をＳ１としたときの被写体２５までの被写体距離ｌと受光像重心位置２６ｇの関係を示す図である。ここにｆｊは、受光レンズ３の焦点距離である。この図５から明らかなように、基線長をＳ１としたときの被写体距離ｌの算出式は、上記（４）式から、
ｌ＝ｆｊ・Ｓ１／Δｕ ……（５）
と表すことができる。
【００６０】
また、基線長をＳ２あるいはＳ３としたときの被写体距離ｌの算出式は、基線長Ｓ１のときと同様にして、
ｌ＝ｆｊ・Ｓ２／Δｙ ……（６）
ｌ＝ｆｊ・Ｓ３／Δｘ ……（７）
と表すことができる。
【００６１】
このように、基線長Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３のいずれに基づいても、被写体距離ｌを算出することができるが、どの基線長に基づいて算出した被写体距離ｌを用いるかの使い分けは、以下のように行う。
【００６２】
スポット欠けが発生していない場合には、基線長をＳ１と考えて被写体距離を算出する。また、スポット欠けが発生した場合には、カメラが横位置であれば基線長をＳ２として被写体距離を算出し、カメラが縦位置であれば基線長をＳ３として被写体距離を算出する。
【００６３】
このようにスポット欠けの発生の有無およびカメラの姿勢によって、基線長を適切に選択して被写体距離を算出するのは、次に説明する理由による。
【００６４】
アクティブ式測距装置の場合には、上述したように、基線長方向にスポット欠けが発生すると誤測距してしまうことがあるが、基線長と直交する方向のスポット欠けではこの誤測距が発生することはない。よって、基線長方向とスポット欠けの方向が互いに直交する方向にあれば良いことになる。
【００６５】
ここでスポット欠けの発生し易い方向について考えると、例えば被写体が人間であれば、鉛直方向は一般に身長方向となり、一方、水平方向は人の幅方向であることから、人の身長と幅の比を考えれば、スポット欠けは鉛直方向よりも水平方向に起こり易いことが容易に推測できる。
【００６６】
こうして、基線長方向を鉛直方向にとった方がスポット欠けによる誤測距は起こりにくいと考えられるので、スポット欠けが発生した場合には、カメラが横位置であれば基線長をＳ２として被写体距離を算出し、カメラが縦位置であれば基線長をＳ３として被写体距離を算出する。
【００６７】
また、スポット欠けが発生していない場合に基線長をＳ１として被写体距離を算出するのは、図２を見ても明らかなように、基線長Ｓ２，Ｓ３に比べて基線長Ｓ１が一番長いために、測距精度を高めることができるからである。
【００６８】
以上説明したように、このような第１実施例によれば、スポット欠けの有無およびカメラの姿勢によって適切な基線長と受光位置信号を用いて被写体距離を算出するので、鉛直方向に比べてスポット欠けの発生し易い水平方向のスポット欠けが起きても誤測距することなく測距することができると共に、スポット欠けが発生していない場合は、基線長を長くとって被写体距離を演算することで測距精度を高めることができる。
【００６９】
図６から図１３は本発明の第２実施例を示したものである。この第２実施例において、上述の第１実施例と同様である部分については説明を省略し、主として異なる点についてのみ説明する。
【００７０】
この第２実施例のカメラの測距装置には、図６に示すように、被写体に対して光束（測距用光）を投射するための光源としてキセノン管（以下、Ｘｅ管と略記する。）１０が用いられていて、発光回路１１により発光駆動されるようになっている。
【００７１】
このＸｅ管１０の周りには、円筒形状のロールマスク１２が回動自在に取り付けられていて、このロールマスク１２には、該Ｘｅ管１０の長手方向に直線をなす走査手段たるスリット状の開口部１２ａ（図７（Ｂ）参照）が設けられている。
【００７２】
そして、上記ロールマスク１２の周りには、やはり円筒形状をなすロールマスク１３が回動自在に取り付けられていて、このロールマスク１３には、円周方向に真っ直ぐなスリット状の走査手段たる開口部１３ａ（図７（Ａ）参照）と、螺旋をなすスリット状の走査手段たる開口部１３ｂ（図７（Ａ）参照）とが設けられている。
【００７３】
これにより、上記ロールマスク１２，１３がそれぞれ有する開口部１２ａと開口部１３ａ，１３ｂとが重なった部分から、上記Ｘｅ管１０の光の一部が射出されるようになっている。この射出された光は、投光レンズ２により集光され、被写体に向けて測距用光として投射される。
【００７４】
なお、上述のＸｅ管１０とロールマスク１２，１３と投光レンズ２により、投光手段２１が構成されている。
【００７５】
上記ロールマスク１２，１３の端部には伝達部たるギヤー部１２ｇ，１３ｇがそれぞれ一体的に設けられており、これらのギヤー部１２ｇ，１３ｇはやはり伝達部をなすギヤー列１４，１５にそれぞれ噛合している。
【００７６】
このギヤー列１４，１５の他端側は、走査方向切換手段たる遊星クラッチ１８を介して駆動部たるモータ１７に噛合していて、この遊星クラッチ１８を操作することで、モータ１７の駆動力をロールマスク１２側とロールマスク１３側とに切り替えて、それぞれを回転させるようになっている。
【００７７】
上記モータ１７は、モータドライバ１６を介してＣＰＵ６により駆動制御されるものであり、その駆動状態は、円筒マスク位置検出手段３５に入力されるようになっている。
【００７８】
この円筒マスク位置検出手段３５は、モータ１７から入力した信号により、上記円筒マスク１２，１３の位置を検出して、その位置から上記投光手段２１により投射される測距用光の投射方向を判別するものである。つまり、この第２実施例では、該円筒マスク位置検出手段３５が投射方向検出手段に相当している。
【００７９】
この円筒マスク位置検出手段３５の検出結果は、ＣＰＵ６と後述する補正手段３６に出力されるようになっている。
【００８０】
上記投光手段２１から投射された測距用光は、被写体で反射した後、受光レンズ３を介して受光素子４上に結像するようになっている。なお、これら受光レンズ３および受光素子４により、受光手段２２が構成されている。
【００８１】
上記投光手段２１と受光手段２２とは、上述の第１実施例と同様に、基線長Ｓ１だけ離れて設置されており、この基線長方向Ｓ１は、カメラ２４の横方向に対してθ傾いている。
【００８２】
上記受光素子４は、上記測距用光が被写体で反射した光の入射位置を２次元で検知するための光電変換素子であり、上述の第１実施例と同様に、２次元位置検出用の半導体光位置検出素子からなっている。そして、該受光素子４は、カメラ２４の横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）の入射位置を検知できるように設置されており、受光位置に応じて光電変換信号を出力するものである。
【００８３】
この受光素子４の出力はオートフォーカス集積回路（ＡＦＩＣ）５に入力されるようになっていて、このＡＦＩＣ５は、該受光素子４の出力に基づいて上記反射光のカメラの横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）との２方向の入射位置を算出して、上記補正手段３６に出力するものである。
【００８４】
この補正手段３６は、上記ＡＦＩＣ５で算出した反射光の入射位置を上記円筒マスク位置検出手段３５の出力に基づいて補正し、ＣＰＵ６に出力するようになっている。
【００８５】
また、このカメラの測距装置には、カメラ２４の姿勢を検出する姿勢検出手段７が設けられていて、その検出結果をＣＰＵ６に出力するようになっている。
【００８６】
上記ＣＰＵ６は、カメラ全体のシーケンスを司るワンチップマイコン等からなる演算制御回路であり、上記円筒マスク位置検出手段３５の出力に基づいてモータドライバ１６に制御信号を送ってモータ１７の駆動を制御するとともに、発光回路１１に発光信号を送出して、Ｘｅ管１０の発光タイミングを制御するものである。
【００８７】
さらに、ＣＰＵ６は、上記姿勢検出手段７の出力に基づいて測距用光の走査方向を決定して、上記モータ１７の制御を行うようになっているとともに、上記補正手段３６が出力した入射位置信号と上記姿勢検出手段７の出力とに基づいて上記被写体までの距離を算出して、その算出結果に基づいて撮影レンズ８の焦点調節を行うものである。
【００８８】
なお、カメラ２４の撮影画面は、上述の第１実施例と同様に、横方向であるＸ方向が長辺方向であり、縦方向であるＹ方向が短辺方向となっている。
【００８９】
次に、モータ１７を正転あるいは逆転することにより、被写体に投射する測距用光の走査方向が切り替わる機構について説明する。
【００９０】
まず、遊星クラッチ１８の動きを図９，図１０を参照して説明する。図９は遊星クラッチ１８の構成を示す斜視図である。
【００９１】
図９に示すように、モータ１７の出力軸には遊星クラッチ１８の太陽ギヤーたるピニオンギヤー１８ａが回動一体に取り付けられていて、このピニオンギヤー１８ａは遊星ギヤー１８ｂに噛合している。
【００９２】
この遊星ギヤー１８ｂは、上記ピニオンギヤー１８ａに回動自在に取り付けられた連接棒１８ｃの一端部に、図示しないフリクション機構を介して取り付けられていて、この連設棒１８ｃの他端部がストッパ１８ｄ，１８ｅに当接することにより、その公転運動が規制されるようになっている。
【００９３】
このように構成された遊星クラッチ１８の作用を、図１０（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）の遊星クラッチ１８を示す側面図を参照して説明する。
図１０（Ａ）は、中立の状態を示しており、遊星ギヤー１８ｂはギヤー列１４，１５のいずれとも噛合しておらず、この状態では走査は行わない。
【００９４】
この状態からモータ１７を図１０（Ａ）の矢印ａの方向へ回転（正回転）させると、連接棒１８ｃは、遊星ギヤー１８ｂとの間の図示しないフリクション機構により、ピニオンギヤー１８ａの回転に従ってストッパ１８ｄに当接するまで回転する。このときには、ピニオンギヤー１８ａの回転は連接棒１８ｃが回転するために用いられて、遊星ギヤー１８ｂは自転しない。
【００９５】
連接棒１８ｃがストッパ１８ｄに当接すると、図１０（Ｂ）に示すような状態になり、遊星ギヤー１８ｂはギヤー列１５と噛合して、モータ１７の駆動力によりロールマスク１３が回転する。
【００９６】
この図１０（Ｂ）に示す状態が、撮影画面の長辺方向に測距用光を走査するときの状態である。
【００９７】
また、モータ１７を図１０（Ａ）の矢印ｂの方向に回転（逆回転）させると、モータ１７を正回転させたときと同様に、連接棒１８ｃはピニオンギヤー１８ａの回転に従ってストッパ１８ｅに当接するまで回転し、図１０（Ｃ）に示すような状態になる。
【００９８】
そして、遊星ギヤー１８ｂはギヤー列１４と噛合して、モータ１７の駆動力によりロールマスク１２が回転する。
【００９９】
この図１０（Ｃ）に示す状態が、撮影画面の短辺方向に測距用光を走査するときの状態である。
【０１００】
続いて、ロールマスク１２，１３の回転により、測距用光の走査方向がどのように変化するかを説明する。
【０１０１】
図１１（Ａ）から図１１（Ｆ）は、右側の図がロールマスク１２とロールマスク１３の位置関係を示すカメラ２４の正面から見た図、左側の図がそのときのカメラ２４側から見た撮影範囲３４と投光像３３との関係を示す図である。
【０１０２】
また、図中の座標軸は、カメラ２４の正面から見た座標軸であり、Ｘ方向はカメラ２４の横方向、Ｙ方向はカメラ２４の縦方向である。
【０１０３】
図１１（Ａ）は初期状態を、図１１（Ｂ），図１１（Ｃ）はロールマスク１２を回転させたときの状態を、図１１（Ｄ）から図１１（Ｆ）はロールマスク１３を回転させたときの状態を、それぞれ示している。
【０１０４】
モータ１７を逆回転させてロールマスク１２を回転させると、ロールマスク１２は図１１（Ａ）中矢印ｂ方向に回転する。
【０１０５】
すると、ロールマスク１２の開口部１２ａとロールマスク１３の開口部１３ａとが重なった部分は、ロールマスク１２が回転することにより図１１（Ａ）に示す状態から図１１（Ｂ）に示す状態へと変化し、さらに、図の裏側に開口部１２ａが一旦隠れた後、図１１（Ｃ）へと順次変化して投光方向も変化する。
【０１０６】
つまり２つの開口部１２ａ，１３ａが重なった部分が図中上下方向に移動し、投光レンズ２の主点とのなす角がカメラのＹ方向に変化することになり、カメラのＹ方向（撮影画面の短辺方向）に走査しながら投光することができる。
【０１０７】
つまり、図１１（Ｂ），図１１（Ｃ）に示したように、ロールマスク１２を回転させたときは、撮影画面の短辺方向に走査して測距することになる。
【０１０８】
また、Ｘｅ管１０の発光タイミングは、円筒マスク位置検出手段３５の出力を参照して、ＣＰＵ６が制御する。
【０１０９】
次に、上記図１１（Ａ）に示す状態において、モータ１７を正回転させてロールマスク１３を回転させると、ロールマスク１３は同図１１（Ａ）中矢印ａ方向に回転する。
【０１１０】
すると、該図１１（Ａ）では裏側にあったロールマスク１３の開口部１３ｂが表側に現れて、開口部１３ｂとロールマスク１２に設けられた開口部１２ａとが重なった部分から測距用光が投射されることになる。
【０１１１】
さらにロールマスク１３が回転することにより、開口部１３ｂと開口部１２ａの重なった部分は、図１１（Ａ）に示す状態から、図１１（Ｄ），図１１（Ｅ），図１１（Ｆ）に示す状態へと順次変化して、投光方向も変化する。
【０１１２】
つまり、開口部１３ｂと開口部１２ａの重なった部分がＸｅ管１０の長手方向に移動して、投光レンズ２の主点とのなす角がカメラのＸ方向に変化することになり、すなわち、撮影画面の長辺方向であるカメラのＸ方向に走査しながら投光することができる。
【０１１３】
こうして、図１１（Ｄ）から図１１（Ｆ）に示したように、ロールマスク１３を回転させたときは、撮影画面の長辺方向に走査して測距することになる。
【０１１４】
このときのＸｅ管１０の発光タイミングも、上記円筒マスク位置検出手段３５の出力に基づいてＣＰＵ６により制御され、本実施例では、図１１（Ａ）の状態から図１１（Ｄ）の状態になるまでの間は発光を行わず、図１１（Ｄ）の状態になってから図１１（Ｆ）の状態に至る間で、Ｘｅ管１０の発光を行って測距を行う。
【０１１５】
なお、図１１（Ａ）の状態から図１１（Ｄ）の状態に至る間も、Ｘｅ管１０を発光して中央部のみ測距を繰り返して行い、その結果を平均化して中央部の測距データとすることで、中央部の測距データの精度を高めるようにしても良い。
【０１１６】
また、ロールマスク１２，１３の駆動方法については、本実施例に示す手段に限定されるものではなく、例えばディファレンシャルギヤー等を用いてモータ１７の駆動力を切り替えるようにしても良いし、もちろん、ロールマスク１２，１３をそれぞれ別々のアクチュエータで駆動することも可能である。
【０１１７】
次に、図８に示すフローチャートを参照して、この第２実施例の作用を説明する。
カメラ２４には、２段スイッチでなる図示しないレリーズ釦が設けられていて、このレリーズ釦の１段目の押し込み、つまり１ｓｔレリーズスイッチがオンになったことを検知すると（ステップＳ２１）、測距回数を示す変数であるｎを０にリセットし（ステップＳ２２）、姿勢検出手段７の出力からカメラ２４が水平方向に対し光軸を中心に何度傾いているかを検出して、どの方向に測距用光を走査するかをＣＰＵ６が決定する。
【０１１８】
このとき、この第２実施例では、カメラ２４の傾きが水平方向に対して４５°以上であるか否かを判断し（ステップＳ２３）、カメラ２４の傾きが水平方向に対して４５°までであるときは、撮影画面の長辺方向に走査するものとし、カメラ２４の傾きがそれより大きい場合には、撮影画面の短辺方向に走査するものとする。
【０１１９】
このステップＳ２３において、撮影画面の長辺方向に走査すると決定した場合は、モータ１７を正回転して遊星クラッチ１８をギヤー列１５に噛合させて、ロールマスク１３を回転させる（ステップＳ２４）。
【０１２０】
次に、ｎをインクリメントし（ステップＳ２５）、発光回路１１を駆動してＸｅ管１０を発光させ、測距用光として被写体に向けて投射する（ステップＳ２６）。
【０１２１】
このステップＳ２６で投射した測距用光の被写体での反射光を受光手段２２が受光し（ステップＳ２７）、受光素子４が光電変換信号を出力する。
【０１２２】
ステップＳ２７で発光素子４が出力した光電変換信号からＡＦＩＣ５がＸ方向とＹ方向の受光位置を算出し、補正手段３６が円筒マスク位置検出手段３５の出力に応じてＸ方向の受光位置に補正を掛ける（ステップＳ２８）。
【０１２３】
ステップＳ２８で算出したＹ方向の受光位置および補正されたＸ方向の受光位置から、スポット欠けが発生しているか否かをＣＰＵ６が判定する（ステップＳ２９）。
【０１２４】
スポット欠けが発生していると判定された場合は、ステップＳ２８で算出したＹ方向の受光位置から基線長をＳ２としてＣＰＵ６が被写体距離を算出し（ステップＳ３０）、後述するステップＳ３２へと進む。
【０１２５】
一方、上記ステップＳ２９でスポット欠けが発生していないと判定された場合は、上記ステップＳ２８で算出したＹ方向の受光位置および補正されたＸ方向の受光位置から、基線長をＳ１としてＣＰＵ６が被写体距離を算出する（ステップＳ３１）。
【０１２６】
次に、上記測距回数を示す変数ｎがｎ＝７であるか否かを判定し（ステップＳ３２）、ｎ＝７になっていなければ上記ステップＳ２５へと戻って、ｎ＝７になるまで上述のステップＳ２５からステップＳ３２を繰り返す。
【０１２７】
一方、上記ステップＳ２３において撮影画面の長辺方向に走査しないと判定した場合には、モータ１７を逆回転させる（ステップＳ３３）。
【０１２８】
そして、ｎをインクリメントし（ステップＳ３４）、発光回路１１を駆動してＸｅ管１０を発光させ、測距用光として被写体に向けて投射する（ステップＳ３５）。
【０１２９】
このステップＳ３５で投射した測距用光の被写体での反射光を受光手段２２が受光し（ステップＳ３６）、受光素子４が光電変換信号を出力する。
【０１３０】
ステップＳ３６で発光素子４が出力した光電変換信号からＡＦＩＣ５がＸ方向とＹ方向との受光位置を算出し、補正手段３６が円筒マスク位置検出手段３５の出力に応じてＹ方向の受光位置に補正を掛ける（ステップＳ３７）。
【０１３１】
ステップＳ３７で算出したＸ方向の受光位置および補正されたＹ方向の受光位置から、スポット欠けが発生しているか否かをＣＰＵ６が判定する（ステップＳ３８）。
【０１３２】
スポット欠けが発生していると判定された場合は、ステップＳ３７で算出したＸ方向の受光位置から基線長をＳ３として、ＣＰＵ６が被写体距離を算出して（ステップＳ３９）、後述するステップＳ４１へと進む。
【０１３３】
一方、上記ステップＳ３８でスポット欠けが発生していないと判定された場合は、上記ステップＳ３７で算出したＸ方向の受光位置とステップＳ３７で算出し補正したＹ方向受光位置から、基線長をＳ１としてＣＰＵ６が被写体距離を算出する（ステップＳ４０）。
【０１３４】
次に、測距回数を示す変数であるｎがｎ＝７になったか否かを判定し（ステップＳ４１）、ｎ＝７になっていなければ上記ステップＳ３４へと戻って、ｎ＝７になるまで上述のステップＳ３４からステップＳ４１を繰り返す。
【０１３５】
上記ステップＳ３２またはステップＳ４１においてｎ＝７になったと判定された場合は、ＣＰＵ６は、上記ステップＳ２５からステップＳ３２までか、あるいは上記ステップＳ３４からステップＳ４１までの繰り返しによって得られた７個の測距データのうち、最も近い測距データを選択する（ステップＳ４２）。
【０１３６】
そして、図示しない測光手段が被写体輝度を測定してＣＰＵ６に出力し、ＣＰＵ６がその被写体輝度に適合した撮影レンズ８の図示しないシャッタ機構の開口時間と絞り値を決定する（ステップＳ４３）。
【０１３７】
その後、上記レリーズ釦の２段目の押し込みがされたか否かを判定し（ステップＳ４４）、レリーズ釦の２段目の押し込みがなされてないときは、レリーズ釦の１段目の押し込みがされたか否かを判定し（ステップＳ４７）、レリーズ釦の１段目の押し込みが検知されれば上記ステップＳ４４へと戻り、レリーズ釦の１段目の押し込みが検知できなければ上記ステップＳ２１へと戻る。
【０１３８】
また、上記ステップＳ４４においてレリーズ釦の２段目の押し込みを検知すると、上記ステップＳ４２で選択した測距データに基づいてＣＰＵ６が撮影レンズ８の焦点調節を行い、上記ステップＳ４３で決定したシャッタ開口時間と絞り値に従って、ＣＰＵ６が図示しないシャッタ機構の開閉を制御して撮影を行い（ステップＳ４５）、撮影が終了した後は撮影レンズ８を初期位置に戻す。
【０１３９】
そして、例えばフォトリフレクタ等の図示しない位置検出手段の出力に基づいて、ＣＰＵ６がモータ１７を制御することにより、走査手段たる開口部１２ａ，１３ａ，１３ｂを備えたロールマスク１２，１３を図１１（Ａ）に示す位置に初期化して（ステップＳ２６）、本シーケンスを終了する。
【０１４０】
ここで測距用光の投射方向によって受光位置信号を補正して被写体距離を演算する理由について説明する。
【０１４１】
図１２は本実施例のカメラの測距装置における測距用光の投射方向と反射光の入射位置の関係を示す斜視図である。図中の座標軸はカメラ２４の縦横を基準にして設定した座標軸であり、つまり、Ｘ，Ｙ，Ｚ方向はそれぞれカメラ２４の横方向，縦方向，厚さ方向にそれぞれ対応している。
【０１４２】
Ｘｅ管１０で発光してロールマスク１２の開口部１２ａとロールマスク１３の開口部１３ａ，１３ｂの重なった部分を通過した光は、投光レンズ２を介して射出され、被写体２５で反射された後、受光レンズ３を介して受光素子４上に受光像２６を結ぶ。
【０１４３】
このとき、上記投光レンズ２の主点２ｇと受光レンズ３の主点３ｇとを結んでできる基線長はＳ１となっていて、受光レンズ３の主点３ｇから投光レンズ２の主点２ｇを見上げたときの水平方向に対する仰角はθである。そして、上記投光レンズ２の主点２ｇと受光レンズ３の主点３ｇのＸ方向寸法は基線長Ｓ３、Ｙ方向寸法は基線長Ｓ２となっている。
【０１４４】
また、受光素子４のＸ方向，Ｙ方向の寸法はそれぞれｔｘ，ｔｙとなっていて、該受光素子４上の受光像２６の重心は２６ｇである。
【０１４５】
この受光像２６の重心２６ｇは、受光レンズ３の光軸と受光素子４が交わる交点からの重心２６ｇの基線長Ｓ１方向の距離はΔｕとなっていて、同交点からのＸ方向位置はΔｘ、Ｙ方向位置はΔｙである。
【０１４６】
一方、上記投光レンズ２の光軸に対してＸ−Ｚ平面上で角度ζをなす測距用光を投射したときには、その受光素子４上の受光像２６の重心は２６ｇζとなっていて、このときのＸ方向位置はΔｘζ、Ｙ方向位置はΔｙζである。
【０１４７】
測距用光を投光レンズ２の光軸方向に投射したときと、この光軸に対してＸ−Ｚ平面上で角度ζをなすように投射したときとでは、図から明らかなように、受光素子４上の反射光の入射位置は、Ｙ方向には変化しないが、Ｘ方向にはズレを生じる。
【０１４８】
よって、光軸方向に測距用光を投射したときと同じように演算処理すると誤測距してしまうために、演算する際に投射方向による補正を掛ける必要がある。
【０１４９】
この補正方法について、図１２を参照して引き続いて説明する。
基線長をＳ３としてＸ方向の受光位置から被写体距離を算出すると、投光レンズ２の光軸に沿って測距用光を投射した場合（走査角０°）は、
ｌ＝ｆｊ・Ｓ３／Δｘ ……（８）
と表すことができる。ここにｆｊは、受光レンズ３の焦点距離である。
【０１５０】
一方、投光レンズ２の光軸に対してＸ−Ｚ平面上で角度ζをなす方向に測距用光を投射した（走査角ζ）場合は、走査角０°で測距用光を投射したときに比べてＸ方向に受光位置が変化するので、
ｌ：ｆｊ＝（Ｓ３＋ｌ・ｔａｎζ）：Δｘζ ……（９）
となり、
ｌ＝ｆｊ・Ｓ３／（Δｘζ−ｆｊ・ｔａｎζ） ……（１０）
と表すことができる。
【０１５１】
よって（８）式および（１０）式から、ΔｘとΔｘζの関係式は、
Δｘ＝Δｘζ−ｆｊ・ｔａｎζ ……（１１）
と表すことができる。
【０１５２】
こうして、Ｘ方向の受光位置は測距用光の投射方向（走査角ζ）に応じて、（１１）式に示すような補正を掛ければ良いことになる。
【０１５３】
また、Ｙ方向の受光位置は、走査角０°で測距用光を投射したときと走査角ζで投射したときでは変化しないために、ΔｙとΔｙζの関係は、
Δｙ＝Δｙζ ……（１２）
と表すことができて、Ｙ方向の受光位置にはなんら補正を掛ける必要がないことが分かる。
【０１５４】
よって、測距用光の走査方向に平行な方向の受光位置は走査角により変化して、このときには補正式は（１１）式のように表すことができ、一方、走査方向と直交する方向の受光位置は走査角によって変化しないために、なんら補正を掛ける必要はない。
【０１５５】
さらに、スポット欠けが発生しているか否かの判定は、走査角に応じて補正を掛けた受光位置が、上述の第１実施例と同様にして、基準ライン３２上にあるかどうかで行うことができる。つまり、基準ライン３２上にあればスポット欠けは発生していないと判定し、基準ライン３２上になければスポット欠けが発生していると判定すれば良い。
【０１５６】
また、本実施例では、撮影画面の長辺方向と短辺方向に走査して測距を行ったが、ロールマスク１２，１３に設けられた開口部の形状や、駆動パターンを変えれば多種多様な走査方向を得ることができる。
【０１５７】
図１３は、ロールマスク１２，１３の開口部の形状と、走査方向の一例を示す図である。
【０１５８】
図中矢印１２ｓは、ロールマスク１３が図の状態にあるときにロールマスク１２を回転させたときの走査方向であり、矢印１３ｓは、ロールマスク１２が図の状態にあるときにロールマスク１３を回転させたときの走査方向を示す。
【０１５９】
図１３（Ａ）に示すように、ロールマスク１２には長手方向に伸びたスリット形状の開口部が設けられ、ロールマスク１３には螺旋状に伸びたスリット形状の開口部が設けられている。この図１３（Ａ）に示す場合には、ロールマスク１２とロールマスク１３のいずれかを回転させることにより、撮影画面に対して長辺方向と斜め方向に走査することができる。
【０１６０】
図１３（Ｂ）に示すように、ロールマスク１２には長手方向に伸びたスリット形状の開口部が設けられ、ロールマスク１３には螺旋状に伸びたスリット形状の開口部と円周方向に伸びたスリット形状の開口部とが組み合わせて設けられている。この図１３（Ｂ）に示す場合には、画面の長辺方向と短辺方向および斜め方向に走査することができるとともに、ロールマスク１３のみを回転させたときは、上述の画面長辺方向に走査しつつ、画面の中央部１点に連続的に測距用光を投射することができる。
【０１６１】
図１３（Ｃ）に示すように、ロールマスク１２には円形孔と、この円形孔を中心として対向する２つの円弧状スリットをなす開口部が設けられていて、ロールマスク１３には長手方向に伸びたスリット形状の開口部が設けられている。この図１３（Ｃ）に示す場合には、画面の中央部１点と画面の長辺方向および画面の中央を中心とした円弧状に走査することができる。
【０１６２】
図１３（Ｄ）に示すように、ロールマスク１２には、表側に長手方向に伸びたスリット形状の開口部が、裏側に円周方向に伸びたスリット形状の開口部が設けられ、ロールマスク１３には螺旋状に伸びたスリット形状の開口部が設けられている。この図１３（Ｄ）に示す場合には、ロールマスク１２の表側と裏側に異なった形状の開口部を設けたことにより、ロールマスク１２の表側と裏側を切り替えて使えば、ロールマスク１３の回転だけで画面の長辺方向と短辺方向の両方向に走査することができる。
【０１６３】
また、上述では、ロールマスク１２，１３の一方を動かすときは、他方を固定していたが、例えば図１３（Ａ）の場合では、ロールマスク１２をステップ駆動しながら、ロールマスク１３を回転させることにより、破線部１２ｈの範囲内を全て走査することができて、つまり２次元的な測距範囲を得ることができる。このように２つのロールマスク１２，１３を独立に回転させることで、２次元的な測距範囲を得ることが可能である。
【０１６４】
また、本実施例では、スリット状の開口部を有する２つのロールマスクを回転させて測距用光を走査していたが、２枚の平板にスリット状の開口部を設けて、これらを相対的に動かしても測距用光を走査することができることはいうまでもない。
【０１６５】
さらに、本実施例では、ロールマスクに細長いスリット状の開口部を設けているが、ロールマスクに小孔を複数個穿設して開口部としてももちろん良い。
【０１６６】
加えて、ここまでは走査方向を切り替える方法例について述べてきたが、本実施例のようなロールマスクによる走査手段であれば、測距用光の結像距離を変化させることもできる。
【０１６７】
つまり、外側のロールマスクの回転軸に垂直な断面の形状を、例えば楕円や、これに準じた回転軸からの距離が回転角により異なる断面形状のものにするか、あるいは、ロールマスクの回転軸をロールマスクの中心軸に対して偏心させて、外側のロールマスクを回転させれば、Ｘｅ管１０から光線を取り出す開口部と投光レンズ２の主点との距離が変化して、上記測距用光の結像距離を変化させることができる。
【０１６８】
よって、測距用光の結像距離を測距装置の測距範囲内の距離で変化させれば、被写体距離がどこであっても測距用光が良好なピントで被写体上に結像するので、そのときの距離情報を用いて測距精度を高めることも可能である。
【０１６９】
なお、被写体に測距用光が良好なピントで結像したかどうかの判定法は、受光素子の受光光量を検出して、受光光量が最も大きいときが良好なピントで結像したと判定しても良いし、投光レンズ２の焦点距離は既知であるので、そのときの投光レンズ２の主点２ｇからロールマスクの開口部までの距離と、被写体距離情報とから判断しても良い。
【０１７０】
例えば、図１３（Ｂ）に示したロールマスクの組合せの場合には、ロールマスク１３をロールマスク１２の外側に設置し、ロールマスク１３の中心軸に対して偏心させてロールマスク１３を回転させれば、撮影画面の中央１点については、測距装置における最至近測距距離から最遠測距距離まで変化させることも可能である。
【０１７１】
このとき、受光素子４も測距用光の結像距離にある投光像が該受光素子４上に結像するように受光レンズ３の光軸方向に動かせば、より測距精度を高めることができる。さらにこのとき、外側のロールマスクの開口部のエッジ部分が、投受光の基線長方向である方が望ましい。
【０１７２】
また本実施例では、複数ケ所の測距情報のうち最至近のものを無条件で選択しているが、スポット欠けの発生している箇所の距離情報はキャンセルして、スポット欠けのない距離情報のみを使用して測距精度を高めるようにしても良い。
【０１７３】
さらに本実施例では、測距用光の投射方向を検出して受光位置に補正を掛けて被写体距離を演算しているが、上述したように、走査方向と直交する方向の受光位置は走査の影響を受けないので、スポット欠けによる影響を考慮しなくとも良ければ、本実施例のように投射方向検出手段と補正手段を設けなくとも、走査方向に直交する方向の受光位置のみにより、被写体距離を演算することも可能である。
【０１７４】
またこのときは、走査方向と平行な方向の受光位置から投射方向を算出して、投射方向検出手段として利用することも可能である。この場合、投受光の配置は画面の斜め方向には限定されず、走査方向と同方向でなければ良い。なぜならば、走査方向と基線長方向が同方向であると、その直交方向において基線長が０となり、被写体距離を演算することができないからである。
【０１７５】
さらに本実施例では、被写体で反射した測距用光の受光位置を、走査角に応じて補正して被写体距離を演算しているが、各走査角に応じた調整値を予め記憶手段等に記憶させておいても良い。
【０１７６】
また本実施例において、カメラが横位置のときにカメラのＸ方向に走査し、カメラが縦位置のときにカメラのＹ方向に走査するのは、走査方向を常に水平方向とすることで、人物が２人並んで撮影するとき等に起こりがちな、いわゆる中抜けを防止するためである。
【０１７７】
以上説明したようにこの第２実施例によれば、簡単な構成で撮影においてカメラを縦に構えても横に構えても常に適切な範囲を測距できるように走査方向を切り替えることができて、中抜けを効果的に防止することができるとともに、スポット欠けの発生の有無とカメラの姿勢によって適切な基線長方向を選択して被写体距離を算出しているので、誤測距することなく高精度な測距を行うことができる。
【０１７８】
さらに本実施例を応用すれば、上述したように、測距用光の投射方向を検出することなく正確な測距を行うことも可能である。
【０１７９】
図１４から図１６は本発明の第３実施例を示したものであり、図１４はカメラの測距装置を示すブロック図である。この第３実施例において、上述の第１，第２実施例と同様である部分については説明を省略し、主として異なる点についてのみ説明する。
【０１８０】
図示のように、このカメラの測距装置には、測距用の光束を被写体に投射するための光源である赤外発光ダイオード（ＩＲＥＤ）１が設けられていて、このＩＲＥＤ１は、ドライバ９により発光制御されるようになっている。
【０１８１】
上記ＩＲＥＤ１の発光部１ａは細長い形状に形成されていて、このＩＲＥＤ１が発した光は、投光レンズ２により集光されて測距用光として被写体に向けて投射される。なお、上記ＩＲＥＤ１，投光レンズ２およびドライバ９により、投光手段２１が構成されている。
【０１８２】
上記ＩＲＥＤ１は、ＩＲＥＤ回転手段３８により、上記投光レンズ２の光軸周りに回転駆動されるように構成されていて、これにより、撮影画面の長辺方向（Ｘ方向）に細長い投光像と、撮影画面の短辺方向（Ｙ方向）に細長い投光像とを、上記被写体に向けて投射することが可能となっている。
【０１８３】
上記測距用光を受けた被写体からの反射光は、受光レンズ３を介して受光素子４上に結像するようになっていて、これら受光レンズ３および受光素子４により受光手段２２が構成されている。
【０１８４】
上記投光手段２１と受光手段２２は、上述の第１，第２実施例と同様に、撮影画面の縦横に対して斜め方向に基線長Ｓ１だけ離れて設置されている。
【０１８５】
上記受光素子４は、上記測距用光の反射光の入射位置を２次元で検知するための光電変換素子であり、例えば２次元位置検出用の半導体光位置検出素子からなり、カメラ２４の横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）の入射位置を検知できるように設置され、受光位置に応じて光電変換信号を出力するものである。
【０１８６】
オートフォーカス集積回路（ＡＦＩＣ）５は、上記受光素子４の出力に基づいて上記反射光のカメラの横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）の２方向の入射位置を算出するものである。このＡＦＩＣ５の入射位置信号は、判定手段３７に入力されるようになっている。
【０１８７】
この判定手段３７は、ＡＦＩＣ５の出力信号からスポット欠けの影響がない受光位置信号を選択して、ＣＰＵ６に出力するものである。
【０１８８】
上記ＣＰＵ６は、カメラ全体のシーケンスを司るワンチップマイコン等からなる演算制御回路であり、上記判定手段３７が選択した受光位置信号から上記被写体までの距離を算出し、その算出結果に基づいて撮影レンズ８の焦点調節を行うものである。
【０１８９】
なお、カメラ２４の撮影画面は、横方向であるＸ方向が長辺方向であり、縦方向であるＹ方向が短辺方向となっている。
【０１９０】
次に、図１５を参照して第３実施例の作用を説明する。
カメラ２４には、２段スイッチでなる図示しないレリーズ釦が設けられていて、このレリーズ釦の１段目の押し込み、つまり１ｓｔレリーズスイッチがオンになったことを検知すると（ステップＳ５１）、ＩＲＥＤ回転手段３８によりＩＲＥＤ１の位置を初期化して横長位置にし（ステップＳ５２）、この横長の初期位置においてドライバ９を駆動してＩＲＥＤ１を発光し、測距用光として被写体に向けて投射する（ステップＳ５３）。
【０１９１】
上記ＩＲＥＤ１の初期位置は、発光部１ａの長手方向がカメラのＸ方向になっている位置であるために、上記ステップＳ５３で投射された測距用光の被写体上での投光像は、Ｘ方向に細長い投光像（横長投光）となる。
【０１９２】
次に、上記ステップＳ５３で投射した測距用光の被写体での反射光を、受光素子４が受光する（ステップＳ５４）。
【０１９３】
ＡＦＩＣ５が、上記反射光の受光位置をカメラの横方向（Ｘ方向）と縦方向（Ｙ方向）の受光位置信号として算出して、上記判定手段３７へ出力する（ステップＳ５５）。
【０１９４】
次に、ＩＲＥＤ回転手段３８によりＩＲＥＤ１を回転駆動して、上記ＩＲＥＤ１の発光部１ａの長手方向をカメラの縦方向であるＹ方向にした後、ドライバ９によりＩＲＥＤ１を発光させて、測距用光として被写体に向けて投射する（ステップＳ５６）。
【０１９５】
つまり、このステップＳ５６で投射される測距用光の被写体上での投光像は、Ｙ方向に細長い投光像（縦長投光）となる。
【０１９６】
次に、上記ステップＳ５６で投射した測距用光の被写体での反射光を、受光素子４が受光する（ステップＳ５７）。
【０１９７】
このステップＳ５７で受光した上記反射光の受光位置を、ＡＦＩＣ５がＸ方向とＹ方向の受光位置信号として算出し、判定手段３７へと出力する（ステップＳ５８）。
【０１９８】
そして、上記ステップＳ５５とステップＳ５８とでＡＦＩＣ５が出力した受光位置信号のうち、スポット欠けの影響のない受光位置信号を判定手段３７が選択してＣＰＵ６に出力し、ＣＰＵ６が、この受光位置信号から上記被写体までの距離を算出する（ステップＳ５９）。
【０１９９】
上記レリーズ釦の２段目の押し込みがなされたか否かを判定し（ステップＳ６０）、レリーズ釦の２段目の押し込みが検知されない場合には、レリーズ釦の１段目の押し込みがなされているかを再確認し（ステップＳ６１）、１段目の押し込みがなされていれば上記ステップＳ６０へと戻り、１段目の押し込みがなされていなければ上記ステップＳ５１へと戻る。
【０２００】
一方、上記ステップＳ６０において、レリーズ釦の２段目の押し込みが検知さた場合には、図示しない測光手段により上記被写体の輝度を測定し、ＣＰＵ６が撮影レンズ８の図示しないシャッタ機構の開口時間と絞り値とを決定する（ステップＳ６２）。
【０２０１】
そして、上記ステップＳ５９で算出した被写体距離に従って撮影レンズ８の焦点調節をＣＰＵ６が行い、ステップＳ６２で決定したシャッタ機構の開口時間と絞り値に基づいて、ＣＰＵ６が、上記シャッタ機構の開口を制御して撮影を行い（ステップＳ６３）、撮影が終了したら、撮影レンズ８の焦点位置を初期化してから本シーケンスを終了する。
【０２０２】
ここで、横長投光と縦長投光を行って、スポット欠けの影響のない上記反射光の受光位置を判定手段３７が選択する選択方法について、図１６を参照して説明する。
【０２０３】
この図１６（Ａ）から図１６（Ｄ）において、左側の図はカメラ２４側から見た被写体２５上における横長の投光像３３ａおよび縦長の投光像３３ｂの位置を示す図、右側の図はカメラ２４の正面側から見た上記投光像３３ａ，３３ｂに係る受光素子４上の各受光像の受光像重心２６ｇａ，２６ｇｂを示す図である。また、図中の座標軸は、カメラ２４を正面から見たときのカメラ２４の座標軸であり、Ｘ方向はカメラ２４の横方向、Ｙ方向はカメラ２４の縦方向にそれぞれ対応している。
【０２０４】
図１６（Ａ）は横長投光、縦長投光ともにスポット欠けが発生することなく被写体２５に測距用光が投射されているときの図であり、この場合に比べて、図１６（Ｂ），（Ｃ），（Ｄ）に示すように、スポット欠けが発生したときは、受光像の重心位置がずれることが分かる。
【０２０５】
このときに、細長い投光像であればスポット欠けは投光像の長辺方向に発生し易いことは明らかであるから、スポット欠けが発生した場合には、そのときの投光像の短辺方向の受光像重心位置は変化しないと考えられる。
【０２０６】
よって図１６（Ｂ）に示すように、横長投光の受光像のみにスポット欠けが発生した場合は、縦長投光時の受光像重心２６ｇｂはスポット欠けが発生していないので、この受光像重心２６ｇｂについてはＸ方向，Ｙ方向ともにスポット欠けの影響を受けていないし、また、受光像重心２６ｇａについてもＹ方向はスポット欠けしていないときと同じ値である。
【０２０７】
図１６（Ｃ）は横長投光と縦長投光の両方ともにスポット欠けが発生しているときの図であり、同図１６（Ｃ）の符号３３ａ，３３ｂに示すように投光像が投射されてどちらも基準ライン３２上にない場合には、受光像重心２６ｇａのＹ方向の位置と、受光像重心２６ｇｂのＸ方向の位置は変化していないと考えられる。
【０２０８】
また、図１６（Ｄ）は、縦長投光時に全く測距用光が被写体に投射されていないときの図であり、同図１６（Ｄ）に示したようなスポット欠けが発生しているときは、縦長投光時は被写体に測距用光が投射されていないので受光出力はないが、横長投光時のＹ方向の受光像重心位置をスポット欠けの影響のない受光位置信号として用いることができる。
【０２０９】
つまり、スポット欠けが発生した場合は、そのときの投光像の短辺方向の受光像重心位置を、スポット欠けの影響のない受光位置信号として用いれば良いことになる。
【０２１０】
また、そのときスポット欠けが発生しているか否かの判定については、上述の第１実施例で説明したように、基準ライン３２上に上記受光像重心があるかどうかで判定すれば良い。
【０２１１】
以上のような理論に基づいて、スポット欠けが発生したときに、スポット欠けの影響のない受光位置信号を判定手段３７が選択する。
【０２１２】
つまり、被写体距離の算出は、縦長投光と横長投光の両方ともにスポット欠けが発生していなければ、縦長投光もしくは横長投光で得られる２つの受光位置信号から基線長をＳ１として被写体距離を算出すれば良い。
【０２１３】
また、縦長投光と横長投光の内のどちらか１方のみにスポット欠けが発生している場合は、スポット欠けが発生していない方のＸ方向およびＹ方向の受光位置信号を用いて、基線長をＳ１として被写体距離を算出すれば良い。
【０２１４】
さらに、縦長投光と横長投光の両方ともにスポット欠けが発生している場合は、縦長投光時のＸ方向の受光位置信号と横長投光時のＹ方向の受光位置信号とから、基線長をＳ１として被写体距離を算出すれば良い。
【０２１５】
加えて、これら縦長投光と横長投光の内のどちらか１方が被写体に全く投射されなかった場合には、被写体に投射されている方の受光位置信号の内、短辺方向の受光位置信号を用いて被写体距離を算出する。
【０２１６】
すなわち、縦長投光のみ被写体に投射されている場合は、この縦長投光時のＸ方向の受光位置信号を用いて基線長はＳ３として被写体距離を算出し、横長投光時のみ被写体に投射されている場合は、横長投光時のＹ方向の受光位置信号を用いて基線長はＳ２として被写体距離を算出する。
【０２１７】
各基線長Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３の定義は上述の第１，第２実施例と同様であり、被写体距離の演算方法も上述の第１実施例で説明した通りである。
【０２１８】
また、本実施例では、縦長投光と横長投光にともにスポット欠けが発生していないときに、縦長投光か横長投光のどちらかの受光位置信号を用いて被写体距離を算出しているが、縦長投光時と横長投光時の各々の受光位置信号を用いて被写体距離を算出して、２つの距離情報を平均化することにより、測距の信頼性を高めるようにしても良い。
【０２１９】
さらに、本実施例では、横長投光時にスポット欠けが発生していなくても縦長投光を行うが、横長投光時にスポット欠けが発生していないときは、縦長投光を行わずに横長投光の結果のみで被写体距離を算出して、測距の高速化を図ることも可能である。
【０２２０】
なお、本実施例では、横長投光と縦長投光を行う順番についてはなんら制限はないが、カメラの姿勢を検知する姿勢検出手段を別途設けて、カメラが横位置であると検出されたときには縦長投光を先に行い、カメラが縦位置であると検出されたときには横長投光を先に行うようにすれば、１回目の投光時においてスポット欠けが発生する可能性がより低くくなり、測距の高速化が可能となる。
【０２２１】
また、カメラが横位置のときに縦長投光を行い、縦位置のときに横長投光を行うとスポット欠けが起きづらくなるのは、本実施例で説明した投光像の形状によりスポット欠けの発生しづらい方向と、上述の第１実施例で説明したカメラの姿勢によってスポット欠けの発生し易い方向とを同方向としているためである。
【０２２２】
このような第３実施例によれば、同一の投光手段を用いて縦長投光と横長投光を行うことにより、複数の受光手段を設けることなく、スポット欠けが発生しても誤測距することがない、高精度の測距が可能なカメラの測距装置となる。
【０２２３】
［付記］
以上詳述したような本発明の上記実施態様によれば、以下のごとき構成を得ることができる。
【０２２４】
（１） カメラの測距装置において、
発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、
上記投光手段の光束の投射方向を変化させ被写体上を走査する走査手段と、
上記光束の投射方向を検出する投射方向検出手段と、
上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に配置し、上記被写体からの反射光位置を２次元的に検出し、撮影画面の略縦方向と略横方向の入射位置情報を出力する受光手段と、
上記受光手段の入射位置情報出力を上記投射方向検出手段の出力に応じて補正する補正手段と、
上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、
カメラの姿勢を検出する姿勢検出手段と、
上記投光手段の投射光束が被写体に全て投射されているか否かを判定する判定手段と、
上記姿勢検出手段の出力に応じて上記走査手段の走査方向を選択し切り替える制御手段と、
を有し、上記演算手段は、上記判定手段が上記光束の一部しか被写体に投射されていないと判断した場合は、上記姿勢検出手段の出力に応じて上記受光手段が有する撮影画面の略縦方向と略横方向とのいずれか１方向の入射位置情報出力を用いて上記被写体距離を演算し、上記判定手段が上記光束の全て被写体に投射されていると判断した場合は、上記受光手段が有する撮影画面の略縦方向と略横方向との２方向の入射位置情報出力を用いて上記被写体距離を演算することを特徴とするカメラの測距装置。
【０２２５】
（２） カメラの測距装置において、
発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、
上記投光手段の光束の投射方向を変化させ被写体上を走査する走査手段と、
上記投射方向を検出する投射方向検出手段と、
上記投光手段から基線長だけ離れて配置され、上記被写体から投射された光束の被写体での反射光を受光し、その入射位置を検出する受光手段と、
上記受光手段の入射位置情報出力を上記投射方向検出手段の出力に応じて補正する補正手段と、
上記補正手段の出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、
カメラの姿勢を検出する姿勢検出手段と、
上記姿勢検出手段の出力に応じて上記走査手段の走査方向を選択し切り替える制御手段と、
を具備することを特徴とするカメラの測距装置。
【０２２６】
（３） 光源からの光束を被写体に向けて投射する投光手段と、上記投光手段の光束の投射方向を切り替える走査手段とを有するカメラの測距装置において、
上記走査手段は、開口部を有する第１の円筒マスクと、この第１の円筒マスクの内側もしくは外側に設置される開口部を有する第２の円筒マスクとからなり、上記２つの円筒マスクを相対的に動かすことにより投射方向を切り替えることを特徴とするカメラの測距装置。
【０２２７】
（４） 上記走査手段は、上記第１および第２の円筒マスクの駆動を切り替えることにより走査方向を切り替えることを特徴とする付記３に記載のカメラの測距装置。
【０２２８】
（５） 上記第１の円筒マスクは開口部を２つ以上有し、上記第２の円筒マスクは１つの開口部を有し、この第２の円筒マスクを回転することにより投射方向を変化させ、上記第１の円筒マスクを選択的に動かすことにより走査方向を切り替えることを特徴とする付記３に記載のカメラの測距装置。
【０２２９】
（６） カメラの測距装置において、
発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、
上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に配置すると共に、上記被写体からの反射光位置を２次元的に検出し入射位置情報を出力する受光手段と、
上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、
上記受光手段に基づき、上記投光手段の投射光束が被写体に全て投射されているか否かを判定する判定手段と、
上記判定手段が上記光束の一部しか被写体に投射されていないと判断した場合は、撮影者に警告する警告手段と、
を具備することを特徴とするカメラの測距装置。
【０２３０】
（７） カメラの測距装置において、
発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、
上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に配置すると共に、上記被写体からの反射光位置を２次元的に検出し入射位置情報を出力する受光手段と、
上記光束が、被写体に全て投射されているか否かを判定する判定手段と、
上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、
を有し、上記投光手段は１回の測距動作で被写体に向けて２種類の異なる形状の光束を投射し、上記演算手段は、上記判定手段の出力に応じて上記２種類の異なる形状の光束の上記反射光の入射位置情報出力から１つ以上を選択して、被写体距離を算出することを特徴とするカメラの測距装置。
【０２３１】
（８） 上記光束の形状が上記受光手段の入射位置検出方向と同方向に細長いことを特徴とする付記７に記載のカメラの測距装置。
【０２３２】
（９） 発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、この投光手段の光束の投射方向を切り替える走査手段と、を有するカメラの測距装置において、
上記走査手段は、開口部を有する第１の円筒マスクと、この第１の円筒マスクの外側に設置される開口部を有する第２の円筒マスクとからなり、この第２の円筒マスクの回動軸が上記第２の円筒マスクの中心軸に対し偏心して配設され、上記第２の円筒マスクを回動することにより上記光束の投射方向を切り替えることを特徴とするカメラの測距装置。
【０２３３】
（１０） 発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、この投光手段の光束の投射方向を切り替える走査手段と、を有するカメラの測距装置において、
上記走査手段は、開口部を有する第１の円筒マスクと、この第１の円筒マスクの外側に設置されていて、開口部を有するとともに、円筒マスクの断面形状が楕円である第２の円筒マスクとからなり、この第２の円筒マスクを回動することにより上記光束の投射方向を切り替えることを特徴とするカメラの測距装置。
【０２３４】
（１１） 上記円筒マスクの代わりに平板によってマスクを形成することを特徴とする付記３または付記４に記載のカメラの測距装置。
【０２３５】
（１２） マスクに小孔を複数個設けていることを特徴とする付記３または付記４または付記１０または付記１１に記載のカメラの測距装置。
【０２３６】
（１３） カメラの測距装置において、
発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、
上記投光手段の光束の投射方向を変化させ被写体上を走査する走査手段と、
上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に配置すると共に、上記被写体からの反射光位置を２次元的に検出し入射位置情報を出力する受光手段と、
上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、
カメラの姿勢を検出する姿勢検出手段と、
上記走査手段の走査方向は撮影画面の短辺方向と長辺方向との２方向であり、上記姿勢検出手段の出力に応じて上記走査手段の２つの走査方向を選択し切り替える制御手段とを有し、横構図のときには長辺方向に走査し、縦構図のときには短辺方向に走査することを特徴とするカメラの測距装置。
【０２３７】
（１４） カメラの測距装置において、
発光光束を被写体に向けて投射する投光手段と、
上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に配置すると共に、上記被写体からの反射光位置を２次元的に検出し入射位置情報を出力する受光手段と、
上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、
カメラの姿勢を検出する姿勢検出手段と、
上記受光手段に基づき、上記投光手段の投射光束が被写体に全て投射されているか否かを判定する判定手段と、
を有し、上記演算手段は、上記判定手段が上記光束の一部しか被写体に投射されていないと判断した場合は、撮影レンズの絞りを絞り込んで撮影することを特徴とするカメラの測距装置。
【０２３８】
【発明の効果】
以上説明したように本発明のカメラの測距装置によれば、受光手段を増やすことなくスポット欠けによる誤測距を防止することができる。
【０２３９】
また、本発明のカメラの測距装置によれば、投光手段を増やすことなく中抜けを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施例のカメラの測距装置の構成を示すブロック図。
【図２】上記第１実施例の測距装置の投光レンズと受光レンズの位置関係を示すカメラの正面図。
【図３】上記第１実施例のカメラの作用を示すフローチャート。
【図４】上記第１実施例のカメラの測距装置の要部を示す斜視図。
【図５】上記図４のカメラの測距装置の要部の側面図。
【図６】本発明の第２実施例のカメラの測距装置の構成を示すブロック図。
【図７】上記第２実施例のロールマスクの開口部を示す展開図。
【図８】上記第２実施例のカメラの作用を示すフローチャート。
【図９】上記第２実施例の遊星クラッチを示す斜視図。
【図１０】上記第２実施例の遊星クラッチが、（Ａ）中立状態，（Ｂ）外側のロールマスクに駆動力を伝達する状態，（Ｃ）内側のロールマスクに駆動力を伝達する状態をそれぞれ示す側面図。
【図１１】上記第２実施例において、ロールマスクの位置と撮影範囲内の投光像との関係を示す図。
【図１２】上記第２実施例のカメラの測距装置の要部を示す斜視図。
【図１３】上記第２実施例のロールマスクの開口部の形状の例と、そのときの走査方向を示す図。
【図１４】本発明の第３実施例のカメラの測距装置の構成を示すブロック図。
【図１５】上記第３実施例のカメラの作用を示すフローチャート。
【図１６】上記第３実施例において、カメラ側から見たときの被写体上の投光像と、カメラを正面側から見たときの受光素子上の受光像の重心位置との関係を示す図。
【符号の説明】
１…赤外発光ダイオード（ＩＲＥＤ）
２…投光レンズ
３…受光レンズ
４…受光素子
５…オートフォーカス集積回路（ＡＦＩＣ）
６…ＣＰＵ（演算手段）
７…姿勢検出手段
１２，１３…ロールマスク
１２ａ，１３ａ，１３ｂ…開口部（走査手段）
２１…投光手段
２２…受光手段
３１…警告手段
３５…円筒マスク位置検出手段
３６…補正手段
３７…判定手段
３８…ＩＲＥＤ回転手段
Claims (2)
- カメラの測距装置において、
投射光束を被写体に向けて投射する投光手段と、
上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に配置すると共に、上記被写体からの上記投射光束の反射光位置を２次元的に検出し入射位置情報を出力する受光手段と、
上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、
カメラの姿勢を検出する姿勢検出手段と、
を有し、上記演算手段は上記姿勢検出手段により当該カメラが横位置であると検出された場合は、上記受光手段が有する撮影画面の略縦方向の入射位置情報出力のみを用いて上記被写体距離を演算し、一方、上記姿勢検出手段により当該カメラが縦位置であると検出された場合は、上記受光手段が有する撮影画面の略横方向の入射位置情報出力のみを用いて上記被写体距離を演算することを特徴とするカメラの測距装置。 - カメラの測距装置において、
投射光束を被写体に向けて投射する投光手段と、
上記投光手段から、撮影画面の縦横に対して斜め方向に所定の基線長隔てて配置すると共に、上記被写体からの上記投射光束の反射光位置を２次元的に検出し、撮影画面の略縦方向と略横方向との直交する２方向の入射位置情報を出力可能な受光手段と、
上記受光手段からの出力に応じて上記被写体までの距離を算出する演算手段と、
上記受光手段に基づき、上記投光手段の投射光束が被写体に全て投射されているか否かを判定する判定手段と、
カメラの姿勢を検出する姿勢検出手段と、
を有し、上記演算手段は、上記判定手段が上記投射光束の一部しか被写体に投射されていないと判断した場合に、上記姿勢検出手段によりカメラが横位置であると検出された際には、上記受光手段が出力する直交する２方向の上記入射位置情報のうち、撮影画面の略縦方向のみの入射位置情報出力を用いて上記被写体距離を演算し、上記判定手段が上記投射光束の一部しか被写体に投射されていないと判断した場合に、上記姿勢検出手段によりカメラが縦位置であると検出された際には、上記受光手段が有する撮影画面の略横方向のみの入射位置情報出力を用いて上記被写体距離を演算し、上記判定手段が上記光束の全て被写体に投射されていると判断した場合は、上記受光手段が出力する直交する２方向の入射位置情報出力を用いて上記被写体距離を演算することを特徴とするカメラの測距装置。
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