JP3487585B2 - カメラの測距装置 - Google Patents
カメラの測距装置Info
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- JP3487585B2 JP3487585B2 JP2000181948A JP2000181948A JP3487585B2 JP 3487585 B2 JP3487585 B2 JP 3487585B2 JP 2000181948 A JP2000181948 A JP 2000181948A JP 2000181948 A JP2000181948 A JP 2000181948A JP 3487585 B2 JP3487585 B2 JP 3487585B2
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はカメラに搭載される
多点測距装置に係り、特に前に検出された距離に従っ
て、次の投光ポイント位置を決定するカメラの測距装置
に関する。
多点測距装置に係り、特に前に検出された距離に従っ
て、次の投光ポイント位置を決定するカメラの測距装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、カメラで撮影する際に、撮影画面
の中央部に被写体が位置していない場合でも、正確なピ
ント合わせができるように、画面内の複数のポイントを
測距するカメラがある。
の中央部に被写体が位置していない場合でも、正確なピ
ント合わせができるように、画面内の複数のポイントを
測距するカメラがある。
【0003】例えば、特開昭60−60511号公報で
は、順次測定した複数の測距ポイントからの測距結果の
うち、最至近の距離にピント合わせをすることにより、
正確なピント合わせを実現する測距装置が提案されてい
るが、完全にピントはずれをなくすためには、画面内の
全域に渡って測距する必要がある。
は、順次測定した複数の測距ポイントからの測距結果の
うち、最至近の距離にピント合わせをすることにより、
正確なピント合わせを実現する測距装置が提案されてい
るが、完全にピントはずれをなくすためには、画面内の
全域に渡って測距する必要がある。
【0004】また、U.S.P4943824において
は、撮影画面内の全域に渡り、所定等間隔の測距ポイン
トを配置して測距する構成が記載されている。
は、撮影画面内の全域に渡り、所定等間隔の測距ポイン
トを配置して測距する構成が記載されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前述した従来
の測距装置において、撮影画面内の全測距ポイントを同
時に測距しようとすると、測距用センサの数が増え、処
理回路が大型化される。また、同時に多点測距する測距
装置は、1測距ポイント毎に時分割して順次、測距する
装置に比べ、構成する回路のS/N比が不利になること
や、原価が上がることが周知であった。このような理由
から主として、マルチAF方式の測距装置は、多点測距
ポイントの内、1測距ポイント毎に時分割して、順次測
距する構成が採用されていた。
の測距装置において、撮影画面内の全測距ポイントを同
時に測距しようとすると、測距用センサの数が増え、処
理回路が大型化される。また、同時に多点測距する測距
装置は、1測距ポイント毎に時分割して順次、測距する
装置に比べ、構成する回路のS/N比が不利になること
や、原価が上がることが周知であった。このような理由
から主として、マルチAF方式の測距装置は、多点測距
ポイントの内、1測距ポイント毎に時分割して、順次測
距する構成が採用されていた。
【0006】このような従来の多点測距装置(マルチA
F)は、測距ポイント数が少なく、測距に十分な精度を
求めることができなかった。そのため、さらに精度を改
善するように、より多くの測距ポイントを測距できるよ
うにしても、1測距ポイント毎に順次測距を行うため、
結果的に測距時間が長くなり、タイムラグが長くなって
しまうという問題が生じた。
F)は、測距ポイント数が少なく、測距に十分な精度を
求めることができなかった。そのため、さらに精度を改
善するように、より多くの測距ポイントを測距できるよ
うにしても、1測距ポイント毎に順次測距を行うため、
結果的に測距時間が長くなり、タイムラグが長くなって
しまうという問題が生じた。
【0007】そこで本発明は、測距時間の短時間化を図
り、廉価かつ高精度の多点測距を実現する測距装置を提
供することを目的とする。
り、廉価かつ高精度の多点測距を実現する測距装置を提
供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、ファインダ内の撮影画面に画面長手方向に
複数の測距ポイントが配置されており、該複数の測距ポ
イントを順次、測距するカメラの測距装置において、上
記複数の測距ポイントのうち、撮影時の撮影レンズの焦
点距離が望遠側にある時に、上記配列の周辺部の測距ポ
イント間のスキャンピッチの角度が、望遠時における上
記配列の中央部の測距ポイント間のスキャンピッチの角
度よりも広くなるように制御する測距ポイント制御手段
を有し、上記測距ポイント間のスキャンピッチの角度は
被写体距離に応じて決定されるカメラの測距装置を提供
する。また、撮影時の撮影レンズの焦点距離が広角側に
ある時には、上記複数の測距ポイント間のスキャンピッ
チの角度が均一となる。
するために、ファインダ内の撮影画面に画面長手方向に
複数の測距ポイントが配置されており、該複数の測距ポ
イントを順次、測距するカメラの測距装置において、上
記複数の測距ポイントのうち、撮影時の撮影レンズの焦
点距離が望遠側にある時に、上記配列の周辺部の測距ポ
イント間のスキャンピッチの角度が、望遠時における上
記配列の中央部の測距ポイント間のスキャンピッチの角
度よりも広くなるように制御する測距ポイント制御手段
を有し、上記測距ポイント間のスキャンピッチの角度は
被写体距離に応じて決定されるカメラの測距装置を提供
する。また、撮影時の撮影レンズの焦点距離が広角側に
ある時には、上記複数の測距ポイント間のスキャンピッ
チの角度が均一となる。
【0009】
【0010】
【作用】以上のような構成の測距装置により、測距ポイ
ント制御手段は、撮影レンズの焦点距離が望遠側にある
場合、測距ポイントの数が多く測距時間がかかるため、
撮影画面内に配列された測距ポイントのうち、望遠の焦
点距離にある時には、その配列の周辺部の測距ポイント
間のスキャンピッチの角度が、望遠時における上記配列
の中央部の測距ポイント間のスキャンピッチの角度より
も広く設定いされる。また、広角時における測距ポイン
ト間のスキャンピッチの角度は均一となる。
ント制御手段は、撮影レンズの焦点距離が望遠側にある
場合、測距ポイントの数が多く測距時間がかかるため、
撮影画面内に配列された測距ポイントのうち、望遠の焦
点距離にある時には、その配列の周辺部の測距ポイント
間のスキャンピッチの角度が、望遠時における上記配列
の中央部の測距ポイント間のスキャンピッチの角度より
も広く設定いされる。また、広角時における測距ポイン
ト間のスキャンピッチの角度は均一となる。
【0011】
【0012】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態について詳細に説明する。
施形態について詳細に説明する。
【0013】図1には、本発明による測距装置の概念的
な構成を示し説明する。
な構成を示し説明する。
【0014】この測距装置において、全体を制御する演
算制御部(CPU)1が測距部2で得られた測距値に基
づき、ピント合せ部3を駆動させて撮影レンズ9のピン
ト合わせる。そのピントが合った時の焦点距離fがf入
力部8を介して、演算制御部1に入力される。また、後
述する図2(b)に示すような測距ポイント13の位置
を図2(c)に示すような測距ポイントの位置に変更す
る場合には、演算制御部1からスキャンピッチ変更部4
に変更することを制御する信号が入力され、該スキャン
ピッチ変更部4はスキャン用アクチュエータ5によりス
キャン機構部6を駆動させる。前記演算制御部1は、全
体のシーケンスをつかさどるワンチップマイコン等で構
成された回路である。
算制御部(CPU)1が測距部2で得られた測距値に基
づき、ピント合せ部3を駆動させて撮影レンズ9のピン
ト合わせる。そのピントが合った時の焦点距離fがf入
力部8を介して、演算制御部1に入力される。また、後
述する図2(b)に示すような測距ポイント13の位置
を図2(c)に示すような測距ポイントの位置に変更す
る場合には、演算制御部1からスキャンピッチ変更部4
に変更することを制御する信号が入力され、該スキャン
ピッチ変更部4はスキャン用アクチュエータ5によりス
キャン機構部6を駆動させる。前記演算制御部1は、全
体のシーケンスをつかさどるワンチップマイコン等で構
成された回路である。
【0015】図2(a)は、前述した測距装置を搭載し
たカメラの外観を示す図である。このカメラ10におい
て、カメラ前面の撮影レンズ9の上方に、矢印の方向の
被写体が測距できるように回動可能な測距部2と、ファ
インダ11が配置されている。このカメラの上面には、
レリーズボタン7が設けられている。
たカメラの外観を示す図である。このカメラ10におい
て、カメラ前面の撮影レンズ9の上方に、矢印の方向の
被写体が測距できるように回動可能な測距部2と、ファ
インダ11が配置されている。このカメラの上面には、
レリーズボタン7が設けられている。
【0016】図2(b)は、ファインダ11の画面12
内に設けられた複数の測距ポイント13の配置例を示
す。図1に示したスキャン機構をスキャン用アクチュエ
ータ5で2次元的に動かすことにより、図2(c)に示
すような測距ポイントの配置に移動可能となる。
内に設けられた複数の測距ポイント13の配置例を示
す。図1に示したスキャン機構をスキャン用アクチュエ
ータ5で2次元的に動かすことにより、図2(c)に示
すような測距ポイントの配置に移動可能となる。
【0017】次に図3に示すフローチャートを参照し
て、このように構成された測距装置の動作について説明
する。
て、このように構成された測距装置の動作について説明
する。
【0018】図2(a)の矢印に示すような測距方向
を、θ方向に回動しながら測距する場合に、まず、その
回動角(測距位置の角度)を変数θ=0として初期化す
る(ステップS1)。次にスキャン機構部6が初期位置
になっていることを、図示しない初期位置スイッチによ
って確認し(ステップS2)、測距を行う(ステップS
3)。
を、θ方向に回動しながら測距する場合に、まず、その
回動角(測距位置の角度)を変数θ=0として初期化す
る(ステップS1)。次にスキャン機構部6が初期位置
になっていることを、図示しない初期位置スイッチによ
って確認し(ステップS2)、測距を行う(ステップS
3)。
【0019】次に求められた測距結果Lθと、前回の測
距位置角度θから、次に測距すべき位置θを求める(ス
テップS4)。
距位置角度θから、次に測距すべき位置θを求める(ス
テップS4)。
【0020】そして、前記測距位置角度θが予め定めた
所定の測距角度θ1に達したか否か判定し(ステップS
5)、測距角度θ1に達していないと判定された時には
(NO)、前記ステップS4で計算された次の測距位置
角度θに測距部2がスキャンされ、新たな測距ポイント
が設定され(ステップS6)、ステップS3に戻る。一
方ステップS5の判定で、求められた測距位置角度θが
所定の測距角度θ1に達する時は(YES)、一連のス
キャン、測距にて得られた測距結果から主要被写体と考
えられる距離を選択し、Lxとする(ステップS7)。
所定の測距角度θ1に達したか否か判定し(ステップS
5)、測距角度θ1に達していないと判定された時には
(NO)、前記ステップS4で計算された次の測距位置
角度θに測距部2がスキャンされ、新たな測距ポイント
が設定され(ステップS6)、ステップS3に戻る。一
方ステップS5の判定で、求められた測距位置角度θが
所定の測距角度θ1に達する時は(YES)、一連のス
キャン、測距にて得られた測距結果から主要被写体と考
えられる距離を選択し、Lxとする(ステップS7)。
【0021】次に選択された距離Lxに基づいて、ピン
ト合せ部3により、撮影レンズ9のピント合せが行なわ
れ(ステップS8)、撮影される(ステップS9)。そ
の撮影終了の後、スキャン機構部6を移動させ、スキャ
ン位置を初期化して(ステップS10)、シーケンスを
終了する。以上のシーケンスは演算制御回路(CPU)
1が制御する。
ト合せ部3により、撮影レンズ9のピント合せが行なわ
れ(ステップS8)、撮影される(ステップS9)。そ
の撮影終了の後、スキャン機構部6を移動させ、スキャ
ン位置を初期化して(ステップS10)、シーケンスを
終了する。以上のシーケンスは演算制御回路(CPU)
1が制御する。
【0022】ここで、前述したシーケンスにおいて、ス
テップS10で測距位置を初期化しているのにも関わら
ず、ステップS2で初期化確認しているのは、例えばカ
メラを持ち運んでいる際に、初期化されている位置が振
動等でずれた場合等を想定して再度確認を行っているも
のである。つまり、初期化された位置がずれて、ステッ
プS2による初期化の確認できなかった時には、スキャ
ン用アクチュエータ5を測距中とは、逆方向に駆動し
て、スキャン位置を初期化してから、次のステップS3
に移行するようにする。
テップS10で測距位置を初期化しているのにも関わら
ず、ステップS2で初期化確認しているのは、例えばカ
メラを持ち運んでいる際に、初期化されている位置が振
動等でずれた場合等を想定して再度確認を行っているも
のである。つまり、初期化された位置がずれて、ステッ
プS2による初期化の確認できなかった時には、スキャ
ン用アクチュエータ5を測距中とは、逆方向に駆動し
て、スキャン位置を初期化してから、次のステップS3
に移行するようにする。
【0023】次に図4を参照して、図3に示したステッ
プS7における主要被写体の距離Lxの選択について説
明する。
プS7における主要被写体の距離Lxの選択について説
明する。
【0024】図4(a)に示すように距離Lxの位置に
存在する例えば人物14に対して、測距を行う場合のフ
ァインダ11内の画面を図4(b)に示す。矢印の範囲
を測距する時の測距ポイントを示す測距角θと得られる
距離Lの関係を図4(c)に示す。また背景の山までの
距離L1、木までの距離L2の中で人物までの距離Lx
は、角度θxの間で得られる。
存在する例えば人物14に対して、測距を行う場合のフ
ァインダ11内の画面を図4(b)に示す。矢印の範囲
を測距する時の測距ポイントを示す測距角θと得られる
距離Lの関係を図4(c)に示す。また背景の山までの
距離L1、木までの距離L2の中で人物までの距離Lx
は、角度θxの間で得られる。
【0025】一般的に、人物の肩幅Wには個人差がある
ものの、40〜50cmぐらいと想定される。従って、肩
幅W、距離Lx、角度θxとすると、 tanθx=W/Lx …(1) の関係にあり、距離Lxを示す測距角θの範囲θxが、 40(cm)≦Lxtanθx≦50(cm) …(2) の関係にあれば、この距離Lxが人物、つまり主要被写
体までの距離と判定することができる。
ものの、40〜50cmぐらいと想定される。従って、肩
幅W、距離Lx、角度θxとすると、 tanθx=W/Lx …(1) の関係にあり、距離Lxを示す測距角θの範囲θxが、 40(cm)≦Lxtanθx≦50(cm) …(2) の関係にあれば、この距離Lxが人物、つまり主要被写
体までの距離と判定することができる。
【0026】以上説明したように、本実施形態における
測距装置の主要被写体までの距離の決定方式であるが、
図4(c)に示す測距角度θと距離Lの関係を得るに
は、図5(a)に示すように、細かいピッチで、測距角
度θを変化させつつ、時間をかけて測距を行わなければ
ならない。
測距装置の主要被写体までの距離の決定方式であるが、
図4(c)に示す測距角度θと距離Lの関係を得るに
は、図5(a)に示すように、細かいピッチで、測距角
度θを変化させつつ、時間をかけて測距を行わなければ
ならない。
【0027】しかし、(2)式のような関係を示すLx
とθxを特定するのに限定するならば、図5(b)に示
すように、ピッチをあらくして、測距時間の短縮を図る
ことができる。例えば、大体の肩幅Wを測定するには、
目盛りが5cm程度のものさしでよく、mmオーダーのもの
さしは必要ない。従って、肩幅を5cmきざみで測定する
場合、距離Lが得られると、次の測距ポイントは(1)
式より、 θ=tan−1(5cm/L) …(3) として得られるθだけ、測距の角度を振った位置とすれ
ばよい。この(3)式で明らかなように、得られたLが
近距離である程、θは大きくなり、粗い測定が可能とな
る。
とθxを特定するのに限定するならば、図5(b)に示
すように、ピッチをあらくして、測距時間の短縮を図る
ことができる。例えば、大体の肩幅Wを測定するには、
目盛りが5cm程度のものさしでよく、mmオーダーのもの
さしは必要ない。従って、肩幅を5cmきざみで測定する
場合、距離Lが得られると、次の測距ポイントは(1)
式より、 θ=tan−1(5cm/L) …(3) として得られるθだけ、測距の角度を振った位置とすれ
ばよい。この(3)式で明らかなように、得られたLが
近距離である程、θは大きくなり、粗い測定が可能とな
る。
【0028】つまり、θの測距ポイントで測距した結果
がLの時に、次の測距ポイントは、 θ=θ+tan−1(5cm/L) …(4) とすればよく、この式が図3のフローチャートのステッ
プS4の式に相当する。また、図6(a)に示すような
距離の異なる2人の人物が同一画面内に存在する場合
に、測距角θを変更していった時の距離データLの変化
は、図6(b)のようになる。図6(c)には、この場
合のピント合せする距離を決定するフローチャートの一
例を示す。但し、2人の人物の幅W1、W2共、40cm
〜50cmとするが、カメラ撮影レンズの焦点距離fによ
って、優先度を変えるようにした。
がLの時に、次の測距ポイントは、 θ=θ+tan−1(5cm/L) …(4) とすればよく、この式が図3のフローチャートのステッ
プS4の式に相当する。また、図6(a)に示すような
距離の異なる2人の人物が同一画面内に存在する場合
に、測距角θを変更していった時の距離データLの変化
は、図6(b)のようになる。図6(c)には、この場
合のピント合せする距離を決定するフローチャートの一
例を示す。但し、2人の人物の幅W1、W2共、40cm
〜50cmとするが、カメラ撮影レンズの焦点距離fによ
って、優先度を変えるようにした。
【0029】まず、カメラレンズの焦点距離fと予め定
めた所定の焦点距離fTとを比較し(ステップS2
1)、所定の焦点距離fTより焦点距離fが長焦点距離
側、つまり望遠側にある時は(YES)、画面中央に近
い方の人物を優先し(ステップS12)、この距離Lx
を選択する。
めた所定の焦点距離fTとを比較し(ステップS2
1)、所定の焦点距離fTより焦点距離fが長焦点距離
側、つまり望遠側にある時は(YES)、画面中央に近
い方の人物を優先し(ステップS12)、この距離Lx
を選択する。
【0030】しかし、所定の焦点距離fTより焦点距離
fが近距離側にある時は(NO)、画面中央の人物と、
周辺の人物が、同じぐらい重要な、被写体と想定し、よ
り像倍率の大きい近距離側の被写体距離にピントを合わ
せるようにする(ステップS13)。
fが近距離側にある時は(NO)、画面中央の人物と、
周辺の人物が、同じぐらい重要な、被写体と想定し、よ
り像倍率の大きい近距離側の被写体距離にピントを合わ
せるようにする(ステップS13)。
【0031】一般に、望遠レンズを使用して撮影しよう
とする際には、撮影者の関心(撮影すべき被写体)は、
画面中央部に存在する傾向にあるが、それ以外の時に
は、画面内に定める割合の大きい近距離の人物にピント
が合っていれば、失敗写真とはなりにくいことから、以
上のような切換を採用した。
とする際には、撮影者の関心(撮影すべき被写体)は、
画面中央部に存在する傾向にあるが、それ以外の時に
は、画面内に定める割合の大きい近距離の人物にピント
が合っていれば、失敗写真とはなりにくいことから、以
上のような切換を採用した。
【0032】また、このような撮影レンズ焦点距離を考
慮した、測距ポイントの切り換えの構成例を図7に示
す。
慮した、測距ポイントの切り換えの構成例を図7に示
す。
【0033】カメラを構成する際のスペース的な制約や
機構上の制限から、カメラ撮影レンズ9が、その焦点距
離の切り換えに応じて、図7(a)のように、θTから
θWに可変しても、測距の範囲θ1を画角以上に大きく
とることは困難である。
機構上の制限から、カメラ撮影レンズ9が、その焦点距
離の切り換えに応じて、図7(a)のように、θTから
θWに可変しても、測距の範囲θ1を画角以上に大きく
とることは困難である。
【0034】しかし前述したように、撮影レンズ9が長
焦点側にあるとき、画面中央部以外に、主要被写体が存
在することは少ない。
焦点側にあるとき、画面中央部以外に、主要被写体が存
在することは少ない。
【0035】従って、図7(b)のように、画面中央部
は最小のピッチを細かく測距し、画面周辺部は最小ピッ
チを粗く測距することにより、効率的にタイムラグを短
くすることができる。
は最小のピッチを細かく測距し、画面周辺部は最小ピッ
チを粗く測距することにより、効率的にタイムラグを短
くすることができる。
【0036】一方、撮影レンズが広角側にある時には、
図7(c)に示すように、全測距範囲θ1の間で、最小
のピッチを変更することなく測距部をスキャンするよう
にする。このような、撮影レンズ焦点距離による測距部
のスキャンピッチの変更を、図3のフローチャートに適
用させると、ステップS4の動作を図8のフローチャー
トのように変更すればよい。
図7(c)に示すように、全測距範囲θ1の間で、最小
のピッチを変更することなく測距部をスキャンするよう
にする。このような、撮影レンズ焦点距離による測距部
のスキャンピッチの変更を、図3のフローチャートに適
用させると、ステップS4の動作を図8のフローチャー
トのように変更すればよい。
【0037】図3のステップS3で得られた距離Lθに
基づく撮影レンズ9の焦点距離の設定fが所定焦点距離
f1より長いか短いかを判定する(ステップS41)。
基づく撮影レンズ9の焦点距離の設定fが所定焦点距離
f1より長いか短いかを判定する(ステップS41)。
【0038】この判定で撮影レンズ9が長焦点側にある
時(YES)、測距角度θが、画面中央部の角度θ2〜
θ3の間(図7(b)参照)にあるか否かを判定し(ス
テップS42)、角度θ2〜θ3の間にない、つまり画
面中央部以外では(NO)、(3)式で示した場合より
も、粗いピッチとなるような角度、tan−1(20cm
/L)を計算し、第1の所定の角度θ01と比較する
(ステップS44)。この判定で、得られた計算結果
が、θ01よりも小さい時は(YES)、θ01のピッ
チでスキャンを行う(ステップS45)。つまり、画面
周辺部の最小ピッチを決定する。しかし前記計算結果が
θ01よりも大きい時は(NO)、被写体上を20cmの
間隔で測距する(ステップS46)。
時(YES)、測距角度θが、画面中央部の角度θ2〜
θ3の間(図7(b)参照)にあるか否かを判定し(ス
テップS42)、角度θ2〜θ3の間にない、つまり画
面中央部以外では(NO)、(3)式で示した場合より
も、粗いピッチとなるような角度、tan−1(20cm
/L)を計算し、第1の所定の角度θ01と比較する
(ステップS44)。この判定で、得られた計算結果
が、θ01よりも小さい時は(YES)、θ01のピッ
チでスキャンを行う(ステップS45)。つまり、画面
周辺部の最小ピッチを決定する。しかし前記計算結果が
θ01よりも大きい時は(NO)、被写体上を20cmの
間隔で測距する(ステップS46)。
【0039】また、ステップS41で撮影レンズ9が長
焦点側にない時(NO)、及びステップS42で測距角
θが画面中央部の角度θ2〜θ3の間にある時(YE
S)には、次式の角度、tan−1(5cm/L)を計算
し、第2の所定角度θ02と比較する(ステップS4
3)。この所定角度θ02は、前記所定角度θ01よ
り、小さい値となっており、撮影レンズ9が広角側にあ
る時と、望遠側の中央部での最小ピッチを決定する値と
なる。
焦点側にない時(NO)、及びステップS42で測距角
θが画面中央部の角度θ2〜θ3の間にある時(YE
S)には、次式の角度、tan−1(5cm/L)を計算
し、第2の所定角度θ02と比較する(ステップS4
3)。この所定角度θ02は、前記所定角度θ01よ
り、小さい値となっており、撮影レンズ9が広角側にあ
る時と、望遠側の中央部での最小ピッチを決定する値と
なる。
【0040】この比較で、第2の所定角度θ02が計算
結果よりも大きい時(YES)、最小ピッチでのスキャ
ン測距が行われる(ステップS48)。しかし第2の所
定角度θ02が計算結果よりも小さい時(NO)、前記
(4)式にて説明したのと同様のピッチでのスキャン測
距が行われる(ステップS47)。
結果よりも大きい時(YES)、最小ピッチでのスキャ
ン測距が行われる(ステップS48)。しかし第2の所
定角度θ02が計算結果よりも小さい時(NO)、前記
(4)式にて説明したのと同様のピッチでのスキャン測
距が行われる(ステップS47)。
【0041】従って、本実施形態では、焦点距離による
ピッチ変更のほか、(4)式で算出されたピッチが細か
すぎる場合の対策として、予め定めた所定角度θ01、
θ02等による最小ピッチの制限が行われている。
ピッチ変更のほか、(4)式で算出されたピッチが細か
すぎる場合の対策として、予め定めた所定角度θ01、
θ02等による最小ピッチの制限が行われている。
【0042】図9には、前述したような測距装置の具体
的な構成の一例を示す。
的な構成の一例を示す。
【0043】この測距装置において、ワンチップマイコ
ン等からなる演算制御回路(CPU)1´であり、図1
に示した演算制御部1と、スキャンピッチ変更部4の働
きをつかさどる。前記CPU1´には測距開始用のスイ
ッチ7及び測距装置の測距角度θの初期位置を検出する
ためのスイッチ31が設けられる。
ン等からなる演算制御回路(CPU)1´であり、図1
に示した演算制御部1と、スキャンピッチ変更部4の働
きをつかさどる。前記CPU1´には測距開始用のスイ
ッチ7及び測距装置の測距角度θの初期位置を検出する
ためのスイッチ31が設けられる。
【0044】この測距装置は、投受光レンズ20,2
3、赤外発光ダイオード(IRED)21、光位置検出
素子(PSD)24、IRED用ドライバ22、及びP
SD出力を演算するAFIC25等が一体として構成さ
れ、ユニット本体30内に搭載されている。
3、赤外発光ダイオード(IRED)21、光位置検出
素子(PSD)24、IRED用ドライバ22、及びP
SD出力を演算するAFIC25等が一体として構成さ
れ、ユニット本体30内に搭載されている。
【0045】前記ユニット本体30は、ドライバ27に
制御されるモータ26によって、軸32を中心に回動す
るようにギヤで連結される。この回動による角度は、ユ
ニット本体30の外部に設けられたレバー部30aでオ
ン/オフする前記スイッチ31による信号と、ユニット
本体30の歯車部30bに連結するギア29による信号
とによって、CPU1´に入力される。
制御されるモータ26によって、軸32を中心に回動す
るようにギヤで連結される。この回動による角度は、ユ
ニット本体30の外部に設けられたレバー部30aでオ
ン/オフする前記スイッチ31による信号と、ユニット
本体30の歯車部30bに連結するギア29による信号
とによって、CPU1´に入力される。
【0046】前記ギア29の信号は、回転に従って黒白
のパターンがギア29に設けられいおり、回転に伴う反
射率の違いを、フォトリフレクタ28によって、非接触
で光検出された信号である。このギア29の回転に伴う
フォトリフレクタ28の電気信号の変化をCPU1´が
検出することにより、ユニット本体30の回転位置が検
出される。
のパターンがギア29に設けられいおり、回転に伴う反
射率の違いを、フォトリフレクタ28によって、非接触
で光検出された信号である。このギア29の回転に伴う
フォトリフレクタ28の電気信号の変化をCPU1´が
検出することにより、ユニット本体30の回転位置が検
出される。
【0047】そして前記CPU1´の命令によりドライ
バ22が駆動され、IRED21から投光レンズ20を
通って、測距用光が図示しない被写体に向かって投光さ
れる。その被写体から反射された測距用光の反射信号光
は、受光レンズ23を通ってPSD24で受光される。
ここで、投,受光レンズ20,23の主点間距離(基線
長)Sは、一定とし、三角測距の原理により被写体距離
Lと、前記PSD24で受光された信号光入射位置x
は、受光レンズ20、PSD24間の距離fとの間に次
の関係が成立する。
バ22が駆動され、IRED21から投光レンズ20を
通って、測距用光が図示しない被写体に向かって投光さ
れる。その被写体から反射された測距用光の反射信号光
は、受光レンズ23を通ってPSD24で受光される。
ここで、投,受光レンズ20,23の主点間距離(基線
長)Sは、一定とし、三角測距の原理により被写体距離
Lと、前記PSD24で受光された信号光入射位置x
は、受光レンズ20、PSD24間の距離fとの間に次
の関係が成立する。
【0048】
x=s・f/L …(5)
ここで、s・fは、共に固定値であり、AFIC25が
PSD24の出力より信号光入射位置xを検出すれば、
前述した式の演算より被写体距離Lが求められる。前記
PSD24は、この信号光入射位置xに依存した2つの
電流信号i1、i2を出力する、より具体的には、AF
IC25はi1、i2よりxを演算する回路である。
PSD24の出力より信号光入射位置xを検出すれば、
前述した式の演算より被写体距離Lが求められる。前記
PSD24は、この信号光入射位置xに依存した2つの
電流信号i1、i2を出力する、より具体的には、AF
IC25はi1、i2よりxを演算する回路である。
【0049】以上のような構成により、CPU1´は、
IRED21の発光時のAFIC25の出力より被写体
距離Lを演算しつつ、ドライバ27を介してモータ26
を回転制御することにより、図3のフローチャートで説
明した動作によって、カメラの測距、撮影シーケンスを
行う。
IRED21の発光時のAFIC25の出力より被写体
距離Lを演算しつつ、ドライバ27を介してモータ26
を回転制御することにより、図3のフローチャートで説
明した動作によって、カメラの測距、撮影シーケンスを
行う。
【0050】図3のフローチャートにおけるステップS
2の初期位置確認は、スイッチ31の状態をチェックす
ることにより行い、ステップS6の測距角度θの位置へ
のスキャンは前記フォトリフレクタ28により白黒パタ
ーンを持つギア29の回転数を検出することによりユニ
ット本体30の角度をモニタしつつ行う。
2の初期位置確認は、スイッチ31の状態をチェックす
ることにより行い、ステップS6の測距角度θの位置へ
のスキャンは前記フォトリフレクタ28により白黒パタ
ーンを持つギア29の回転数を検出することによりユニ
ット本体30の角度をモニタしつつ行う。
【0051】次に図10には、本発明による測距装置の
具体的な構成の他の一例を示し説明する。
具体的な構成の他の一例を示し説明する。
【0052】前述した図9の構成例では、投光部と受光
部が一体として移動したが、本構成例では投光部のみ、
すなわち、投光素子41と投光レンズ42の相対関係を
送りネジ45,47で変更することにより、測距用光投
射位置を変更する構成となっている。
部が一体として移動したが、本構成例では投光部のみ、
すなわち、投光素子41と投光レンズ42の相対関係を
送りネジ45,47で変更することにより、測距用光投
射位置を変更する構成となっている。
【0053】前記送りネジ45、47は、ドライバ48
により駆動されるモータ44,46により回転する。前
記ドライバ48はCPU1´によって制御される。ま
た、前記送りネジ45、47の回転数は、回転数モニタ
回路49によってカウントされ、CPU1に入力され
る。
により駆動されるモータ44,46により回転する。前
記ドライバ48はCPU1´によって制御される。ま
た、前記送りネジ45、47の回転数は、回転数モニタ
回路49によってカウントされ、CPU1に入力され
る。
【0054】従って、この構成においては、CPU1´
の制御により、IRED41を、x,y方向に移動で
き、図2(c)に示すように、画面内で2次元的に測距
ポイントが設定できるようになっている。
の制御により、IRED41を、x,y方向に移動で
き、図2(c)に示すように、画面内で2次元的に測距
ポイントが設定できるようになっている。
【0055】また、2次元的な方向に投光された測距用
光の反射信号光を受けるために、受光素子(PSD)5
1は、図9に示した受光素子(PSD)24と比べ、面
積が大きいものを利用している。
光の反射信号光を受けるために、受光素子(PSD)5
1は、図9に示した受光素子(PSD)24と比べ、面
積が大きいものを利用している。
【0056】以上説明したように本実施形態の測距装置
は、従来の多点測距装置(マルチAF)よりも多数の測
距ポイントを任意の位置に設定でき、測距に十分な精度
を実現する。さらに測距ポイントを効率の良い位置に配
置することにより、測距時間の短時間化(高速化)を図
り、且つ高精度でピント合わせができる。
は、従来の多点測距装置(マルチAF)よりも多数の測
距ポイントを任意の位置に設定でき、測距に十分な精度
を実現する。さらに測距ポイントを効率の良い位置に配
置することにより、測距時間の短時間化(高速化)を図
り、且つ高精度でピント合わせができる。
【0057】また本発明は、前述した実施形態に限定さ
れるものではなく、他にも発明の要旨を逸脱しない範囲
で種々の変形や応用が可能であることは勿論である。
れるものではなく、他にも発明の要旨を逸脱しない範囲
で種々の変形や応用が可能であることは勿論である。
【0058】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、測
距時間の短時間化を図り、廉価かつ高精度の多点測距を
実現する測距装置を提供することができる。
距時間の短時間化を図り、廉価かつ高精度の多点測距を
実現する測距装置を提供することができる。
【図1】本発明による測距装置の概念的な構成を示す図
である。
である。
【図2】図2(a)は、図1に示す測距装置を搭載した
カメラの外観を示し、図2(b),(c)は、測距ポイ
ントの配置例を示す図である。
カメラの外観を示し、図2(b),(c)は、測距ポイ
ントの配置例を示す図である。
【図3】図1及び図2に示す測距装置の動作について説
明するためのフローチャートである。
明するためのフローチャートである。
【図4】図3のフローチャートのステップS7における
主要被写体の距離Lx の選択について説明するための
図である。
主要被写体の距離Lx の選択について説明するための
図である。
【図5】測距ポイントの配置例を示す図である。
【図6】距離の異なる2人の人物が同一画面内に存在す
る場合の測距について説明するための図である。
る場合の測距について説明するための図である。
【図7】望遠側及び広角側の撮影の際の測距ポイントに
ついて説明するための図である。
ついて説明するための図である。
【図8】撮影レンズ焦点距離による測距部のスキャンピ
ッチの変更を説明するためのフローチャートである。
ッチの変更を説明するためのフローチャートである。
【図9】本発明による測距装置の具体的な構成の一例を
示す図である。
示す図である。
【図10】本発明による測距装置の具体的な構成の他の
一例を示す図である。
一例を示す図である。
1…演算制御部(CPU)
2…測距部
3…ピント合せ部
4…スキャンピッチ変更部
5…スキャン用アクチュエータ
6…スキャン機構部
7…レリーズボタン(スイッチ)
8…f(焦点距離)入力部
9…撮影レンズ
10…カメラ
11…ファインダ
12…ファインダの画面
13…測距ポイント
Claims (2)
- 【請求項1】 ファインダ内の撮影画面に画面長手方向
に複数の測距ポイントが配置されており、該複数の測距
ポイントを順次、測距するカメラの測距装置において、 上記複数の測距ポイントのうち、撮影時の撮影レンズの
焦点距離が望遠側にある時に、上記配列の周辺部の測距
ポイント間のスキャンピッチの角度が、望遠時における
上記配列の中央部の測距ポイント間のスキャンピッチの
角度よりも広くなるように制御する測距ポイント制御手
段を有し、 上記測距ポイント間のスキャンピッチの角度は 被写体距
離に応じて決定されることを特徴とするカメラの測距装
置。 - 【請求項2】 上記カメラの測距装置において、 撮影時の撮影レンズの焦点距離が広角側にある時には、 上記複数の測距ポイント間のスキャンピッチの角度が均
一となることを特徴とする請求項1に記載のカメラの測
距装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000181948A JP3487585B2 (ja) | 1993-06-18 | 2000-06-16 | カメラの測距装置 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14787193A JP3335424B2 (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | 測距装置 |
JP2000181948A JP3487585B2 (ja) | 1993-06-18 | 2000-06-16 | カメラの測距装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14787193A Division JP3335424B2 (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | 測距装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001027725A JP2001027725A (ja) | 2001-01-30 |
JP3487585B2 true JP3487585B2 (ja) | 2004-01-19 |
Family
ID=31189740
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000181948A Expired - Fee Related JP3487585B2 (ja) | 1993-06-18 | 2000-06-16 | カメラの測距装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3487585B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101698470B1 (ko) * | 2010-11-18 | 2017-01-20 | 엘지이노텍 주식회사 | 카메라 모듈 및 그의 오토 포커싱 제어 방법 |
-
2000
- 2000-06-16 JP JP2000181948A patent/JP3487585B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001027725A (ja) | 2001-01-30 |
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