JP3612068B2 - ワークにおける座標測定法 - Google Patents
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Description
さらに、光学式のプローブヘッドを支持している座標測定装置も公知である。この光学式のプローブヘッドは測定対象物を無接触に「プロービング」する。光学式のプローブヘッドとしては、光点を用いて作動する三角測量プローブの他に、たいていはビデオプローブヘッドが使用される。すなわち、このビデオプローブヘッドはワーク表面の大部分を同時に検出する。ワークの関与ジオメトリ要素の座標は、たとえば画像処理ソフトウェアを介して求められる。
最近では、光学・機械的にプロービングする、組み合わされた座標測定装置も公知である。このような座標測定装置は、たとえば米国特許第4908951号明細書に開示されている。この公知の座標測定装置は2つのセンタスリーブを有している。一方のセンタスリーブは機械的なプローブヘッドを支持しており、他方のプローブヘッドはビデオカメラを保持している。このビデオカメラの光路には、同時にさらにz座標における測定、つまりビデオカメラの光軸に沿った測定のためのレーザプローブが反射されている。
光学・機械的にプロービングする、このような組み合わされた座標測定装置は、種々異なるワーク、たとえばプリント配線板またはモータケーシングを、それぞれ最適な測定方法で無接触式に光学的に測定するか、または接触式に機械的に測定することを可能にするだけではなく、同一のワークにおける所定の個所を第1にビデオカメラを用いて測定し、第2に機械的なプローブを用いて測定することをも可能にする。なぜならば、較正過程を介して両プローブシステムの相互関係を確立することができるからである。
本来の測定過程は次のように行われる。
a)手動制御式の運転
ワークにおける、機械的なプローブヘッドを用いてプロービングしたい個所が、目による直接的なコントロール下にプロービングされ、プローブエレメントによるワークの、たいていは音響学的に表示される接触に基づき、コンピュータがプロービング点の座標を引き取り、オペレータはワーク表面における次の測定個所をプローブエレメントによってプロービングする。ビデオカメラを用いた測定において、このビデオカメラがワークにおける対応する個所にわたって移動させられ、モニタを用いてワーク表面の画像の鮮明個所が監視され、引き続きデータ引取りが発動される。
b)CNC運転
機械的なプローブヘッドもしくはビデオカメラによってプロービングしたい位置が、パーツ遠隔プログラミングされるか、または基準ワークにおける学習プログラミングの枠内で、特別な測定プログラムのためのプローブ位置のプロービングを含めた運動経過が実施され、次いでメモリされ、さらに連続測定運転において、測定したい一連の同様の部分に対して任意の回数繰り返される。
手動制御式のプロービングは、特にアクセスの困難な内面を有する複雑なワークの場合に問題を生ぜしめる。なぜならば、プローブエレメントに対する視覚コンタクトを維持することが困難であるからである。視覚コンタクトが失われると、ワークとの衝突によってプローブヘッドまたはプローブピンが損傷を受けるか、またはワークにおける誤った個所がプロービングされてしまう危険が生じる。このような危険はCNC運転の学習プログラミング時でも生じる。なぜならば、この場合、プローブエレメントが同じく手動制御式に移動させられるからである。
たしかに、ドイツ民主共和国特許第12609号明細書に基づき、照明測定パールを用いて目によるコントロール下に孔を測定することが公知である。この場合、測定パールは孔壁と機械的に接触させられる。しかし、上記ドイツ民主共和国特許第12609号明細書に記載の方法は座標測定装置においては使用されず、また上記測定パールも、プロービング点の座標を自動的に記録するような機械的なプローブを成していない。それどころが、上記測定パールは、孔直径を測定顕微鏡に設けられた接眼レンズプレートを用いて視覚的に測定するための測定マークとしてしか役立たない。さらに、この公知の方法は、両側でアクセス可能であるような孔においてしか使用することができない。
本発明の課題は、手動制御式の運転における座標測定装置を用いた機械的なプロービング過程における確実性を高めるか、もしくはオペレータのための測定手順を簡単にすることである。
この課題は本発明によれば、請求項1の特徴部に記載の手段によって解決される。
本発明によれば、プローブエレメントによる、機械的に測定したい個所のプロービングが、ビデオカメラとモニタとを用いて視覚的に監視される。このことは、直接的な視覚コンタクトを保持することができないか、または直接的な視覚コンタクトを保持することが極めて困難であるような孔に極めて小さなプローブピンが侵入する場合に特に有利である。本発明による方法は付加的にかかる大きな手間を必要としない。なぜならば、ビデオカメラとモニタは、組み合わされた光学・機械測定式の座標測定装置では当初より装備されているからである。測定過程中にプローブエレメントがビデオカメラの視野内に位置していることが確保されるだけでよい。このことは、ビデオカメラと機械的なプローブとを適当に位置調整することによって確保することができる。この場合、たとえばプローブエレメントがアームもしくはL字形部材を介してプローブヘッドに固定されているか、またはプローブエレメントもしくは機械的なプローブヘッド全体もしくはビデオカメラが、座標測定装置に設けられた移動可能なセンタスリーブもしくは横方向アームに回転可能もしくは旋回可能に取り付けられている。また、たとえば鏡またはプリズムまたは適当なフレキシブルな画像導通性のエレメント、たとえばガラス繊維ケーブルによってビデオカメラの光路だけをプローブエレメントの方向に変向させることも可能である。
機械的なプローブヘッドとビデオカメラとの間の三次元的/ジオメトリ的な関係が長時間安定的に保証されるようにするためには、機械的なプローブヘッドとビデオカメラとが共通の支持体に固定されていると有利である。種々異なる測定データに適合させるためには、機械的なプローブヘッドのプローブエレメントが、このような場合に従来行われるように、交換ホルダを介してプローブヘッドに交換可能に固定されていてよい。
機械的なプローブヘッドが、たとえばドイツ連邦共和国実用新案第9115942号明細書に記載されているような振動水晶プローブの形のミニチュア化されたプローブヘッドであると特に有利である。このようなプローブヘッドはいずれにせよ数mmの長さのプローブピンと、1/10mmの直径の数球の形のプローブエレメントとを有しているに過ぎない。この場合、機械的なプロービング過程の経過中にプローブピンが破折してしまうだけでなく、プロービングシステム全体が損傷を受けてしまう危険が特に大きい。
このような機械的なミニチュアプローブはビデオカメラと一緒に同じ交換ホルダに固定されていると有利である。この場合、ミニチュアプローブは、たとえば「大きな」プローブピンの代わりに純機械的に作動する座標測定装置のプローブヘッドに取り付けることができる。これにより、慣用の機械的なプローブヘッドを用いても、純光学的なビデオプローブヘッドを用いても解決することのできない測定課題を、付加的に振動水晶プローブを用いて解決することができる。
さらに、プローブエレメントを一層良好に目に見えるようにするためには、プローブエレメントを励起して散乱放射線を放射するような照明装置が設けられていると有利である。
特にワークに設けられた孔またはその他の中空室における作動時では、立体画像を撮影するために適当な2つのレンズ系を有するようにビデオプローブヘッドを設計し、さらにプローブエレメントを視野の前記両レンズ系に対して共通の部分に配置することが有利である。こうして、このような写真測量・光学的なビデオプローブヘッドの深さ解像度をz方向における測定のために利用することができる。さらに、オペレータによるプローブエレメントの位置決めも適当な3Dモニタの使用において改善される。このようなモニタは、たとえばドイツ連邦共和国特許第4134033号明細書に開示されている。
ビデオカメラの光軸が座標測定装置の機械軸の1つに対して傾斜させられていると、走行方向と目標方向との間の視差に基づき、ワークにおける所望の点を手動でプロービングすることが困難となる。この場合、ビデオカメラの光軸と当該機械軸線との間の傾斜角度に応じてプローブヘッドが同時に少なくとも2つの機械軸線方向に移動させられるように座標測定装置の制御装置が調整されると有利である。
本発明による方法を用いると、検査したい部分の本来の検査における測定経過を一層確実に実施するか、もしくは簡単にすることができるだけではなく、基準ワークにおける測定経過のプログラミングをも簡単にすることができる。この場合、機械的なプローブを用いてプロービングしたいワーク個所があらかじめ、つまり学習プログラミング中に、機械的なプローブではなくビデオプローブヘッドによってプロービングされる。手動制御されるこのような過程中では、機械的なプローブが使用されないので、損傷は確実に回避されている。これに関連して、あとで機械的にプロービングしたいワーク個所がビデオプローブヘッドによってモニタコントロール下にプロービングされて、モニタ上の画像に、形状および大きさの点で、引き続き本来の測定経過を実施する機械的なプローブヘッドのプローブエレメントに相当する、電子的に生ぜしめられたマークが重畳されると有利である。
さらに、ビデオカメラに複数の光源を備えた照明装置を所属させると有利である。前記光源は種々異なる方向に光線を放射する。これらの光源の電子装置は、光源が個々にまたはグループごとに制御可能となるように設計されている。このような照明装置は特に米国特許第5038258号明細書に記載されている。この照明装置を用いると、光源入射の強度もしくは方向を意図的に調節して、各測定目的に最適に適合させることができる。
本発明の別の利点は、以下に第1図〜第8図につき説明する実施例に記載されている。
第1図は、本発明による方法を実施するために適した座標測定装置の斜視図を示しており、
第2図は、第1図に示した座標測定装置のプローブヘッドの部分断面図を示しており、
第3図は、第2図の実施例に比べて少しだけ変えられたプローブヘッドの別の実施例を示しており、
第4図は、第2図および第3図の実施例に比べて少しだけ変えられたプローブヘッドの第3実施例を示しており、
第5a図は、第2図および第3図の実施例に比べて少しだけ変えられたプローブヘッドの第4実施例を示しており、
第5b図は、第5a図に示したビデオカメラ6によって撮影されたプローブエレメントの画像を備えた、第1図に示した座標測定装置のモニタ10を示しており、
第6図は、第2図および第3図の実施例に比べて少しだけ変えられたプローブヘッドの第5実施例を示しており、
第7図は、第2図および第3図の実施例に比べて少しだけ変えられたプローブヘッドの第6実施例を示しており、
第8図は、本発明による方法を実施するための請求項3記載の座標測定装置の主要構成要素を示すブロック回路図を示している。
第1図に示したガントリ形の座標測定装置は、たとえば花崗岩から成る測定テーブルを有している。この測定テーブルには、測定したいワーク9を載置することができる。この測定テーブルはさらに、可動のガントリ2をy方向で案内するためにも働く。ガントリ2の横方向支持体は可動の横方向キャリッジ3のためのx方向を形成している。この横方向キャリッジ3には、この座標測定法装置のセンタスリーブ4が鉛直方向に移動可能に支承されている。センタスリーブ4の下端部には、共通の保持装置5を介して機械的なプローブヘッド7と、ビデオカメラ6とが固定されている。
座標測定装置の運動経過は制御装置11によって監視される。この制御装置はコンピュータ12と連絡している。このコンピュータはCNC運転のための測定プログラムと、測定結果を生ぜしめるための評価プログラムとを有している。
モニタ10には、ビデオカメラ6によって撮影されたワーク表面の画像が映し出される。
図2には、センタスリーブ4の下端部に取り付けられた保持装置5と、この保持装置に固定されたビデオプローブヘッド6と、機械的なプローブヘッド7とが示されている。ビデオカメラは対物レンズ13を有している。この対物レンズはワーク表面をCCDチップ14に結像させる。このビデオプローブヘッドの視野は符号17で示した円錐体に相当する。この視野は、ビデオカメラ6を取り囲むように設置された光ファイバのリング照明器15によって照明される。リング照明器の代わりに、米国特許第5038258号明細書に開示されているような照明装置を使用することもできる。
プローブヘッド7の可動の、もしくは変位可能な部分7aには、公知の電磁式の交換ホルダ19を介して機械的なプローブのプローブ球8が固定されている。この場合、プローブ球8はプローブピン20を介して固定されている。このプローブピンはL字形部材の形を有している。このL字形部材の寸法は、プローブ球8がビデオカメラの視野17の鮮明に結像された範囲に位置するように設定されている。したがって、ワーク9もしくはこの場所で測定したい孔9aに対して相対的なプローブ球8の位置をモニタ10を用いて極めて正確に追跡して、孔9aへの侵入時にプロービング過程を手動により制御することが可能になる。
同様のことは、第3図に示した本発明の別の実施例による構成に関しても云える。この実施例では、プローブ球28が慣用の形式で、プローブ軸線に沿って位置調整された真直なプローブピン30を介して、機械的なプローブヘッド7の電磁式の交換ホルダ19に固定されている。しかし、ビデオカメラ26は回転ジョイント22と旋回ジョイント21とを介して保持装置5に固定されている。こうして、ビデオカメラ26を全ての空間方向に向けることができる。プロービング過程を視覚的に観察するためには、対物レンズ23がプローブ球28を画像センサ24に結像するようにビデオカメラ26が位置調整されている。符号27でやはり、ビデオカメラの視野の大きさを表す円錐体が示されている。
ビデオカメラ26はさらに補助光源25を有している。この補助光源は前置されたコリメータレンズ系を備えた、可視領域で放射するレーザダイオードとして形成されている。レーザダイオードから放出された光線はビデオカメラの対物レンズ23の前方で鏡25aを介してビデオカメラの光軸に反射されて、ビデオカメラの正確な位置調整においてプローブ球28に衝突する。この場所から放出される散乱放射線はプローブ球28を明るくさせ、このプローブ球をモニタ画像に明瞭に映し出す。
オペレータがモニタを用いて視覚的に監視しながらプローブ球28を、ワーク9のプロービングしたい所定の点、たとえば図示したように孔9aにわたって位置決めしようと試みると、ワーク表面に対するビデオカメラの光軸の傾斜に基づく視差により、プローブ球はむしろ符号128で示した位置で、実際の目標点の傍らに位置決めされてしまう。引き続き行われるプロービング過程において、プローブヘッドがプローブピンと共に鉛直の機械軸線zに沿って移動させられると、プローブ球は孔に侵入せずに、ワーク表面に衝突してしまう。このことを回避し、しかも操作を容易にするために、座標測定装置の制御装置は、矢印129で示したようにワーク9の方向への移動時にプローブヘッド7を2つの軸線で、しかもカメラ軸線の傾斜に対応して移動させるようにプログラミングされていてよい。
第4図に示した実施例では、機械的なプローブヘッド7とビデオカメラ36とが、第2図に示した実施例の場合のように鉛直に向けられて保持装置5でセンタスリーブ4の下端部に固定されている。機械的なプローブヘッド7のプローブ球28を備えたプローブピン30はプローブ軸線に沿って鉛直に向けられている。
しかし、ビデオカメラ36は旋回鏡31を備えている。この旋回鏡はプローブ球28の位置を視覚的に監視する目的で、第4図に実線で示した位置に旋回させられる。この旋回鏡31はビデオカメラ36の対物レンズ33の光路を変向させて、プローブ球28がセンサ34の視野に位置するようにする。
ビデオカメラ36しか必要にならないような測定目的のためには、旋回鏡31が矢印32で示したように位置31a(破線で示す)にまで旋回させられる。
第5a図に示した実施例では、センタスリーブ4の下端部に設けられた保持装置5が、既に第2図につき説明したビデオカメラ6を支持している。しかし、機械的なプローブヘッド47は、方向とは無関係の小さな切換式のプローブヘッドである。このプローブヘッドは延長部41を介して回転/旋回ジョイント42に取り付けされており、したがって任意の空間方向に位置調整され得る。プローブヘッド47は5つのプローブ球48a,48b,48c,48d,48eを備えた星形プローブ40を支持している。
モニタ10を用いて機械的なプロービング過程を視覚的に監視するためには、星形プローブ40がビデオカメラの対物レンズ13の視野17内に位置するようにプローブヘッド47が位置調整されている。
第6図に示した実施例では、センタスリーブ4にメジャリング式のプローブヘッド55が直接に取り付けられている。このようなプローブヘッドは、たとえば米国特許第3869799号明細書もしくはドイツ連邦共和国特許出願公開第3823993号明細書に開示されている。
このようなプローブヘッドの可動部分55aはアクチュエータ(図示しない)を介して数mmもしくは数cmの長さの距離にわたって、矢印で示したように3つの空間方向に変位され得る。メジャリング式のプローブヘッド55の可動部分55aには、電磁式の交換装置が組み込まれている(たとえば米国特許第46371419号明細書参照)。この電磁式の交換装置に設けられた交換ディスクは符号49で示されている。この交換ディスク49はその下面に小さなビデオカメラ56を支持して、さらにL字形部材51を介して機械的なプローブヘッド57をも支持している。このプローブヘッドは振動水晶プローブとして構成されている。振動水晶プローブは、約40kHzで振動する水晶から成っており、この水晶には、数mmの長さのガラス棒50が取り付けられている。このガラス棒50はその前端部にプローブエレメント58を支持している。このプローブエレメントは、ガラス棒50に溶着されたガラス球から成っている。
L字形部材51は交換ディスク49の下端部に回転可能に取り付けられている。この場合、L字形部材51は、プローブエレメント58がビデオカメラ56の視野内に位置するように位置調整されている。このプローブエレメントはビデオカメラの光路に反射された可視のレーザビーム52によって照明され、したがってモニタ(図示しない)のスクリーンで明瞭に見える。
プローブエレメント58によって、座標測定装置のモニタを用いて視覚監視しながら、手動制御でプラスチックケーシング59の微細構造が測定される。この場合、シャフトプロービングに基づき振動水晶プローブのガラス棒50が破折することを阻止するために、良好な視覚コンタクトは特に重要である。
プラスチックケーシング59のウェブと凹部とを測定する場合には、切換運転で作業するだけでなく、プローブエレメント58が駆動装置によって座標測定装置の3つの軸に向かって移動させられる。それどころか、プローブヘッド55に組み込まれたアクチュエータを用いてワーク表面の一層小さな範囲を機械軸の停止状態においてスキャニングすることも可能となる。この場合に、プローブ球58はスキャニング過程の間、ワーク59と直接に接触したままとなる。
第6図に示した実施例で用いられた交換ディスクー49の代わりに、第7図で説明する光学−機械的なプローブ組合せを有する第2の交換ディスク79を使用することができる。このようなプローブは写真測量式のビデオプローブヘッド、つまり2つのレンズ系73a,73bを備えたビデオプローブヘッドから成っている。これらのレンズ系の画像は光ファイバ性の画像導体72a,72bを介してビデオカメラの画像センサ74の感光性表面に伝送される。こうして、両レンズ系の両視野87a,87bによって共通にカバーされた範囲80の立体画像が形成される。
ビデオプローブヘッド76の両レンズ系73a,73bの間には、機械的な振動水晶プローブ77が配置されている。この振動水晶プローブの振動水晶81は第6図に示した実施例の場合と同様に、数mmの長さのガラス棒を支持している。このガラス棒の端部には、球78が溶着されており、この球がプローブエレメントを形成している。この球78はビデオプローブヘッド76の両視野87a,87bによって共通にカバーされた範囲80に位置している。
したがって、適当な立体モニタを用いて、プローブエレメント78の空間的位置を視覚的に極めて良好に追跡し、手動のプロービング過程を制御することができる。この場合に、ワークにおける測定したい個所は直接にオペレータの目によるコントロール下にプローブエレメント78によってプロービングされる。
ビデオプローブヘッドと振動水晶プローブとに対する給電は交換ディスク49の背面に設けられた接点82を介して行われる。これらの接点を介して、画像センサ74の信号も座標測定装置の制御装置に伝送される。
測定個所に沿った機械的なプローブエレメントの手動プロービングの他に、学習プログラミング中に測定個所をモニタコントロール下にビデオカメラだけでプロービングして、あとでCNC運転で機械的なプローブエレメントによってプロービングしたいプローブ位置を規定することも可能である。このような方法のために適した座標測定装置のブロック回路図が第8図に示されている。機械的な構造に関しては、第8図に示した座標測定装置は第1図および第2図に示した座標測定装置とほぼ一致しているが、ただしプローブヘッド7には、通常ではビデオカメラ6の視野17に位置していないようなプローブエレメント28が取り付けられている。このプローブエレメント28はビデオカメラ6の焦点70に対して間隔r[x,y,z]を有している。この間隔は自体公知の形式で、共通の基準ワーク(リングゲージ)で、機械的なプローブヘッド7によって得られた測定値と、ビデオプローブヘッド6によって検出された測定値との間の比較による較正によって規定することができる。
データバスを介して座標測定装置のコンピュータ12に接続された制御装置11は、座標測定装置の運動経過を制御するために必要となる構成要素と、測定値検出のために必要となるモジュールとを有している。たとえば、符号90で示したモジュールは、座標測定装置の3つの測定軸x,y,zにおける光電式の長さ測定システムの信号と、モジュール69で処理された前記プローブヘッド7の信号とから、機械的なプローブヘッドによって検出された測定値を生ぜしめる。さらに前記制御装置11は「画像評価」モジュールを有している。このモジュールはビデオカメラの画像センサ14のビデオ信号を引き続き処理して、移動距離測定システムの信号と相まって、ビデオカメラにより生ぜしめられた光学プロービングの測定値を提供する。
さらに、制御装置11は画像発生器61を有している。この画像発生器の出力信号はミクサ62を介してモニタ10に送信される。画像発生器はモニタ画像に測定マーク70′を重畳する。この測定マークは結像倍率を考慮した形状および寸法の点でプローブ球28に相当している。このような測定マーク70′はビデオカメラ6の焦点70を表す。
測定マーク70′の画像がワーク表面9の画像に重畳されているので、こうして「シュミレーション」されたプローブエレメントによって学習プログラミング中に、引き続きCNC制御された一連の測定運転時に直接にプローブ球28によってプロービングしたい基準ワークの個所をプロービングすることができる。この方法を実施するためには、オペレータが学習プログラミング時にモニタ画像の視覚的コントロール下に測定マーク70′をワーク9のジオメトリ要素、たとえば孔9aにおける、モニタに映し出された測定個所と手動制御により重ね合わせて、データ引取りを発動し、この場合、プロービングしたい個所の座標がメモリされる。この座標は引き続き、前記較正過程において求められた、機械的なプローブエレメント28とビデオカメラの焦点70;70′との間の公知の三次元関係r[x,y,z]を用いて、機械的なプローブエレメント28のプロービング座標に換算される。次いで、このプロービング座標は、場合によっては必要となるCNC制御式に測定したい部分のワーク座標系への換算後に、コンピュータのコントロール下に自動的にプローブエレメント28によってプロービングすることができる。
プロービングエレメントをシュミレーションする測定マークを用いた学習プログラミング時では、プローブエレメント28を備えたプローブピンを交換する必要はない。それどころか、前記プローブピンは引き続き使用されて、ビデオカメラに対して相対的に較正され得る。
Claims (12)
- ビデオカメラ(6,26,36,56,66,76)と、ワーク表面を接触式に測定するためのプローブエレメント(8,28,48,58,78)を備えた機械的なプローブヘッド(7,47,57,77)とを支持している座標測定装置(1,2,3,4)を用いて、ワークにおける座標を測定する方法において、機械的なプローブエレメント(40)を回転もしく は旋回させることによって、機械的なプローブエレメント(8,28,48,58,78)とビデオカメラ(6,26,36,56,66)とを、プローブエレメントがビデオカメラの視野(17,27,37,77)内に位置するように互いに位置調整し、ワークにおける、プローブエレメントを用いて機械的にプロービングしたい個所を、同時にビデオカメラに接続されたモニタ(10)を用いて視覚コントロールしながら、機械的なプローブエレメントによってプロービングすることを特徴とする、ワークにおける座標測定法。
- ビデオカメラ(6,26,36,56,66,76)と、ワ ーク表面を接触式に測定するためのプローブエレメント (8,28,48,58,78)を備えた機械的なプローブヘッド (7,47,57,77)とを支持している座標測定装置(1,2,3, 4)を用いて、ワークにおける座標を測定する方法にお いて、ビデオカメラ(26)を回転もしくは旋回させるこ とによって、機械的なプローブエレメント(8,28,48,5 8,78)とビデオカメラ(6,26,36,56,66)とを、プロー ブエレメントがビデオカメラの視野(17,27,37,77)内 に位置するように互いに位置調整し、ワークにおける、 プローブエレメントを用いて機械的にプロービングした い個所を、同時にビデオカメラに接続されたモニタ(1 0)を用いて視覚コントロールしながら、機械的なプロ ーブエレメントによってプロービングすることを特徴と する、ワークにおける座標測定法。
- ビデオカメラ(6,26,36,56,66,76)と、ワ ーク表面を接触式に測定するためのプローブエレメント (8,28,48,58,78)を備えた機械的なプローブヘッド (7,47,57,77)とを支持している座標測定装置(1,2,3, 4)を用いて、ワークにおける座標を測定する方法にお いて、ビデオカメラ(36)の光路をプローブエレメント (28)の方向に変向させることによって、機械的なプロ ーブエレメント(8,28,48,58,78)とビデオカメラ(6,2 6,36,56,66)とを、プローブエレメントがビデオカメラ の視野(17,27,37,77)内に位置するように互いに位置 調整し、ワークにおける、プローブエレメントを用いて 機械的にプロービングしたい個所を、同時にビデオカメ ラに接続されたモニタ(10)を用いて視覚コントロール しながら、機械的なプローブエレメントによってプロー ビングすることを特徴とする、ワークにおける座標測定 法。
- 座標測定装置であって、
ビデオカメラ(6,26,36,56,66)が設けられていて、該 ビデオカメラがモニタ(10)に接続されており、
少なくとも2つの空間方向に移動可能な機械的なプロー ブヘッド(7,47,57,77)が設けられていて、該プローブ ヘッドがプローブエレメント(8)を支持しており、
コンピュータ(12)と、該コンピュータに接続された制 御ユニット(11)とが設けられていて、該制御ユニット によって前記プローブヘッドの運動が制御されて、かつ 前記プローブヘッドによって送出された測定信号が引き 続き処理されるようになっている形式のものにおいて、
前記プローブエレメントがビデオカメラの視野(17,27, 37,87)内に位置するようにビデオカメラと機械的なプ ローブヘッドとが、互いに位置調整されており、これに よってワークにおける、プローブエレメントを用いて機 械的にプロービングしたい個所が、同時にビデオカメラ に接続されたモニタ(10)を用いて視覚コントロールさ れながら、機械的なプローブエレメントによってプロー ビングされるようになっており、
しかも、前記プローブエレメントとビデオカメラとを位 置調整するために前記プローブエレメント(40)が回転 可能もしくは旋回可能であることを特徴とする、座標測 定装置。 - 座標測定装置であって、
ビデオカメラ(6,26,36,56,66)が設けられていて、該 ビデオカメラがモニタ(10)に接続されており、
少なくとも2つの空間方向に移動可能な機械的なプロー ブヘッド(7,47,57,77)が設けられていて、該プローブ ヘッドがプローブエレメント(8)を支持しており、
コンピュータ(12)と、該コンピュータに接続された制 御ユニット(11)とが設けられていて、該制御ユニット によって前記プローブヘッドの運動が制御されて、かつ 前記プローブヘッドによって送出された測定信号が引き 続き処理されるようになっている形式のものにおいて、
前記プローブエレメントがビデオカメラの視野(17,27, 37,87)内に位置するようにビデオカメラと機械的なプ ローブヘッドとが、互いに位置調整されており、これに よってワークにおける、プローブエレメントを用いて機 械的にプロービングしたい個所が、同時にビデオカメラ に接続されたモニタ(10)を用いて視覚コントロールさ れながら、機械的なプローブエレメントによってプロー ビングされるようになっており、
しかも、前記プローブエレメントとビデオカメラとを位 置調整するためにビデオカメラ(26)が回転可能もしく は旋回可能であることを特徴とする、座標測定装置。 - 座標測定装置であって、
ビデオカメラ(6,26,36,56,66)が設けられていて、該 ビデオカメラがモニタ(10)に接続されており、
少なくとも2つの空間方向に移動可能な機械的なプロー ブヘッド(7,47,57,77)が設けられていて、該プローブ ヘッドがプローブエレメント(8)を支持しており、
コンピュータ(12)と、該コンピュータに接続された制 御ユニット(11)とが設けられていて、該制御ユニット によって前記プローブヘッドの運動が制御されて、かつ 前記プローブヘッドによって送出された測定信号が引き 続き処理されるようになっている形式のものにおいて、
前記プローブエレメントがビデオカメラの視野(17,27, 37,87)内に位置するようにビデオカメラと機械的なプ ローブヘッドとが、互いに位置調整されており、これに よってワークにおける、プローブエレメントを用いて機 械的にプロービングしたい個所が、同時にビデオカメラ に接続されたモニタ(10)を用いて視覚コントロールさ れながら、機械的なプローブエレメントによってプロー ビングされるようになっており、
しかも、前記プローブエレメントとビデオカメラとを位 置調整するために、ビデオカメラ(36)の光路をプロー ブエレメント(28)の方向に変向させる装置(31)が設 けられていることを特徴とする、座標測定装置。 - 機械的なプローブヘッドが、振動水晶プロ ーブ(57,77)の形のミニチュアプローブヘッドであ る、請求項4から6までのいずれか1項記載の座標測定 装置。
- 前記ミニチュアプローブヘッド(77)が、 機械的な第2のプローブヘッドの、複数の空間方向に運 動可能な可動部分に交換可能に固定されている、請求項 7記載の座標測定装置。
- 照明装置(25)が設けられていて、該照明 装置が、プローブエレメント(28)を目に見えるように するか、もしくはプローブエレメント(28)を励起して 散乱放射線を生ぜしめるようになっている、請求項4か ら8までのいずれか1項記載の座標測定装置。
- ビデオカメラ(76)が、立体画像を撮影 するために適した2つのレンズ系(73a,73b)を有して おり、プローブエレメント(78)が、視野(87a,87b) の前記両レンズ系に対して共通の部分(80)に位置して いる、請求項4から9までのいずれか1項記載の座標測 定装置。
- ビデオカメラ(26,36)の光軸が、座標 測定装置の機械軸線の少なくとも1つに対して傾斜させ られており、座標測定装置の制御装置が、ビデオカメラ の光軸と当該機械軸線(z)との間の傾斜角度に応じ て、機械的なプローブヘッドを少なくとも2つの座標方 向に同時に移動させるようになっている、請求項4から 10までのいずれか1項記載の座標測定装置。
- ビデオカメラに、複数の光源を備えた照 明装置が配属されており、前記光源が、互いに異なる方 向に光線を放射するようになっており、照明光線の強度 および/または方向が調節可能となるように前記光源が 個々にまたはグループごとに制御可能である、請求項4 から11のいずれか1項記載の座標測定装置。
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---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07505958A JPH07505958A (ja) | 1995-06-29 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP50863894A Expired - Fee Related JP3612068B2 (ja) | 1992-09-25 | 1993-09-17 | ワークにおける座標測定法 |
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---|---|
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007064670A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 表面形状測定機 |
US8363904B2 (en) | 2009-10-13 | 2013-01-29 | Mitutoyo Corporation | Offset amount calibrating method and surface texture measuring machine |
US8654351B2 (en) | 2009-10-13 | 2014-02-18 | Mitutoyo Corporation | Offset amount calibrating method and surface profile measuring machine |
US8650939B2 (en) | 2009-10-13 | 2014-02-18 | Mitutoyo Corporation | Surface texture measuring machine and a surface texture measuring method |
Families Citing this family (165)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06186025A (ja) * | 1992-12-16 | 1994-07-08 | Yunisun:Kk | 三次元測定装置 |
DE4425879A1 (de) * | 1994-07-09 | 1996-01-11 | Ges Zur Foerderung Angewandter Optik Optoelektronik Quantenelektronik & Spektroskopie Ev | Vorrichtung zum Ritzen von im wesentlichen einkristallinen Substraten |
IT1279210B1 (it) * | 1995-05-16 | 1997-12-04 | Dea Spa | Dispositivo e metodo di visione per la misura tridimensionale senza contatto. |
US5825666A (en) * | 1995-06-07 | 1998-10-20 | Freifeld; Daniel | Optical coordinate measuring machines and optical touch probes |
DE19639780A1 (de) * | 1996-09-27 | 1998-04-02 | Leitz Brown & Sharpe Mestechni | Verfahren zur Durchführung von optischen und mechanischen Messungen in der Koordinatenmeßtechnik |
EP0988505B1 (de) * | 1997-06-12 | 2002-01-09 | Werth Messtechnik GmbH | Koordinatenmessgerät mit biegeelastischer Tasterverlängerung und optischem Sensor |
DE19805892A1 (de) * | 1997-06-12 | 1998-12-24 | Werth Messtechnik Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Messung von Strukturen eines Objekts |
DE19816272C2 (de) * | 1998-04-11 | 2000-05-11 | Werth Messtechnik Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Messung von Strukturen eines Objekts |
DE19816270A1 (de) * | 1998-04-11 | 1999-10-21 | Werth Messtechnik Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Erfassung der Geometrie von Gegenständen mittels eines Koordinatenmeßgeräts |
DE19820307C2 (de) * | 1998-05-07 | 2003-01-02 | Mycrona Ges Fuer Innovative Me | Berührungslose Temperaturerfassung an einer Mehrkoordinatenmeß- und Prüfeinrichtung |
DE29808320U1 (de) * | 1998-05-12 | 1998-10-15 | Wegu-Messtechnik GmbH, 66787 Wadgassen | Mehrkoordinatenmeß- und -prüfeinrichtung |
WO1999063301A1 (de) * | 1998-05-29 | 1999-12-09 | Werth Messtechnik Gmbh | Anordnung zur messung von strukturen eines objektes |
DE19847711B4 (de) * | 1998-05-29 | 2004-08-19 | Werth Messtechnik Gmbh | Anordnung zur Messung von Strukturen eines Objektes |
US6240651B1 (en) * | 1998-06-17 | 2001-06-05 | Mycrona Gmbh | Coordinate measuring machine having a non-sensing probe |
EP0965816A3 (de) | 1998-06-17 | 2002-06-19 | MYCRONA Gesellschaft für innovative Messtechnik mbH | Vorrichtung zur Messung der geometrischen Struktur eines Objekts |
US5978748A (en) * | 1998-07-07 | 1999-11-02 | Faro Technologies, Inc. | Host independent articulated arm |
JP2000035325A (ja) * | 1998-07-16 | 2000-02-02 | Mitsutoyo Corp | 洗浄装置付測定機 |
JP4387454B2 (ja) * | 1998-08-25 | 2009-12-16 | 株式会社ミツトヨ | 遠隔操作式測定システム |
JP4386979B2 (ja) * | 1998-08-25 | 2009-12-16 | 株式会社ミツトヨ | 遠隔操作式測定システム |
DE29918341U1 (de) * | 1999-10-18 | 2001-03-01 | Tassakos Charalambos | Vorrichtung zur Positionsbestimmung von Meßpunkten eines Meßobjekts relativ zu einem Bezugssystem |
EP1152209B1 (en) * | 2000-05-01 | 2009-06-03 | Mitutoyo Corporation | Form measuring sensor and form measuring instrument |
US6606403B2 (en) * | 2000-05-04 | 2003-08-12 | Daniel Freifeld | Repetitive inspection system with intelligent tools |
EP1299691B1 (de) * | 2000-07-13 | 2004-12-08 | Werth Messtechnik GmbH | Verfahren zum berührungslosen messen von geometrien von gegenständen |
US20050259271A1 (en) * | 2000-09-20 | 2005-11-24 | Ralf Christoph | Assembly and method for the optical-tactile measurement of a structure |
JP4689890B2 (ja) * | 2001-02-08 | 2011-05-25 | 株式会社ミツトヨ | 表面性状測定装置 |
DE10108774A1 (de) * | 2001-02-23 | 2002-09-05 | Zeiss Carl | Koordinatenmessgerät zum Antasten eines Werkstücks, Tastkopf für ein Koordinatenmessgerät und Verfahren zum Betrieb eines Koordinatenmessgerätes |
JP3905771B2 (ja) | 2001-03-02 | 2007-04-18 | 株式会社ミツトヨ | 測定機の校正方法及び装置 |
US20020131633A1 (en) * | 2001-03-13 | 2002-09-19 | Zwick Robert Leonard | System and method for machine vision inspection through platen |
US20030048448A1 (en) * | 2001-03-19 | 2003-03-13 | Fleming Timothy J. | Automated apparatus for testing optical filters |
US7065892B2 (en) * | 2001-03-19 | 2006-06-27 | Veeco Instruments Inc. | Method and apparatus for calibrating a vision system to a parts handling device |
US6983547B2 (en) * | 2001-03-19 | 2006-01-10 | Veeco Instruments Inc. | Goniometer |
US20020166220A1 (en) * | 2001-05-11 | 2002-11-14 | United Air Lines, Inc. | Process for repairing a structure |
AU2002311510A1 (en) * | 2001-06-12 | 2002-12-23 | Hexagon Metrology Ab | A communication method and common control bus interconnecting a controller and a precision measurement assembly |
DE50205454D1 (de) * | 2001-07-16 | 2006-02-02 | Werth Messtechnik Gmbh | Verfahren zur messung von oberflächeneigenschaften sowie koordinatenmessgerät |
FR2829571A1 (fr) * | 2001-09-11 | 2003-03-14 | Ms Mesure | Systeme et procede de metrologie tridimensionnelle, et micro-machine de mesure mise en oeuvre dans ce systeme |
DE10294376D2 (de) * | 2001-09-24 | 2004-08-26 | Jpk Instruments Ag | Vorrichtung und Verfahren für ein Rastersondenmikroskop |
DE10157174A1 (de) * | 2001-11-22 | 2003-06-05 | Wolfgang Madlener | Verfahren und Vorrichtung zum räumlichen Vermessen von Werkstücken an einer Werkzeugmaschine |
DE10211070A1 (de) * | 2002-03-13 | 2003-09-25 | Gurny Broesch Andrea | Vorrichtung zum Vermessen eines Messobjekts |
FR2837567B1 (fr) * | 2002-03-19 | 2005-05-06 | Romain Granger | Capteur pour machine de mesure de coordonnees tridimensionnelles |
DE10226801B4 (de) * | 2002-06-15 | 2005-03-31 | Bundesrepublik Deutschland, vertr. d. d. Bundesministerium für Wirtschaft und Arbeit, dieses vertr. d. d. Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt | Oberflächenmessvorrichtung und Verfahren zur mechanischen sowie berührungslosen-optischen Untersuchung von Objektoberflächen |
JP4047096B2 (ja) * | 2002-08-09 | 2008-02-13 | キヤノン株式会社 | 表面形状測定装置および方法 |
DE10240292A1 (de) * | 2002-08-31 | 2004-03-18 | Carl Mahr Holding Gmbh | Tasteinrichtung für vielfältige Messaufgaben |
JP3867230B2 (ja) * | 2002-09-26 | 2007-01-10 | 本田技研工業株式会社 | メカニカルスクライブ装置 |
JP2004177192A (ja) * | 2002-11-26 | 2004-06-24 | Dainippon Printing Co Ltd | 欠陥高さ検査装置及び欠陥高さ検査方法 |
AU2003290051A1 (en) * | 2002-12-13 | 2004-07-09 | Werth Messtechnik Gmbh | Method for measuring a contour of a workpiece by scanning |
JP4031375B2 (ja) * | 2003-01-24 | 2008-01-09 | 株式会社ミツトヨ | 測定機 |
JP2004294311A (ja) * | 2003-03-27 | 2004-10-21 | Nikon Corp | 画像測定装置 |
US7152456B2 (en) | 2004-01-14 | 2006-12-26 | Romer Incorporated | Automated robotic measuring system |
US7693325B2 (en) * | 2004-01-14 | 2010-04-06 | Hexagon Metrology, Inc. | Transprojection of geometry data |
DE102004011707B3 (de) * | 2004-03-10 | 2005-12-22 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Koordinatenmeßsystem und Koordinatenmeßverfahren unter Einsatz eines Koordinatenmeßgeräts |
FR2868349B1 (fr) * | 2004-04-06 | 2006-06-23 | Kreon Technologies Sarl | Palpeur mixte, optique et mecanique et procede de recalage y afferant |
US20050235506A1 (en) * | 2004-04-22 | 2005-10-27 | Eastman Kodak Company | Method for profilometer position registration |
DE102005021645B4 (de) * | 2004-09-09 | 2016-09-01 | Werth Messtechnik Gmbh | Verfahren zum opto-taktilen Messen eines Objektes |
US8711365B2 (en) | 2004-12-16 | 2014-04-29 | Werth Messtechnik Gmbh | Coordinate measuring device and method for measuring with a coordinate measuring device |
WO2006063838A1 (de) * | 2004-12-16 | 2006-06-22 | Werth Messtechnik Gmbh | Koordinatenmessgerät sowie verfahren zum messen mit einem koordinatenmessgerät |
DE102005011258A1 (de) * | 2005-03-11 | 2006-09-14 | Forschungszentrum Karlsruhe Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Strukturen eines Objekts |
JP4588525B2 (ja) * | 2005-05-02 | 2010-12-01 | 株式会社ミツトヨ | 画像プローブ |
JP4500729B2 (ja) * | 2005-05-11 | 2010-07-14 | キヤノン株式会社 | 表面形状測定装置 |
DE502006000556D1 (de) * | 2005-06-21 | 2008-05-15 | Bernina Int Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Minimierung von Einstichfehlern bei Stickvorrichtungen |
WO2007033273A2 (en) * | 2005-09-13 | 2007-03-22 | Romer Incorporated | Vehicle comprising an articulator of a coordinate measuring machine |
DE102006001531A1 (de) | 2005-09-20 | 2007-03-22 | Werth Messtechnik Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Messung von Strukturen eines Objekts |
JP4639135B2 (ja) * | 2005-10-19 | 2011-02-23 | 株式会社ミツトヨ | プローブ観察装置、表面性状測定装置 |
DE102006002619B3 (de) * | 2006-01-19 | 2007-07-26 | Forschungszentrum Karlsruhe Gmbh | Vorrichtung zur Messung von Strukturen eines Objekts |
US7568293B2 (en) * | 2006-05-01 | 2009-08-04 | Paul Ferrari | Sealed battery for coordinate measurement machine |
US7805854B2 (en) | 2006-05-15 | 2010-10-05 | Hexagon Metrology, Inc. | Systems and methods for positioning and measuring objects using a CMM |
DE102006031580A1 (de) | 2006-07-03 | 2008-01-17 | Faro Technologies, Inc., Lake Mary | Verfahren und Vorrichtung zum dreidimensionalen Erfassen eines Raumbereichs |
US7652275B2 (en) * | 2006-07-28 | 2010-01-26 | Mitutoyo Corporation | Non-contact probe control interface |
US7508529B2 (en) * | 2006-07-31 | 2009-03-24 | Mitutoyo Corporation | Multi-range non-contact probe |
JP5728769B2 (ja) | 2006-11-20 | 2015-06-03 | ヘキサゴン メトロロジー アクチボラゲット | 継ぎ手を改良された座標測定機 |
WO2008080142A1 (en) * | 2006-12-22 | 2008-07-03 | Romer, Inc. | Improved joint axis for coordinate measurement machine |
JP5168985B2 (ja) * | 2007-03-30 | 2013-03-27 | 株式会社東京精密 | 測定ヘッド調整装置 |
DE102007000306B4 (de) * | 2007-05-08 | 2015-07-09 | Werth Messtechnik Gmbh | Koordinatenmessvorrichtung |
US7546689B2 (en) * | 2007-07-09 | 2009-06-16 | Hexagon Metrology Ab | Joint for coordinate measurement device |
JP5132775B2 (ja) * | 2007-09-17 | 2013-01-30 | コノプチカ エイエス | 回転パーツの位置及び変化を見出す方法及び装置 |
US7774949B2 (en) * | 2007-09-28 | 2010-08-17 | Hexagon Metrology Ab | Coordinate measurement machine |
US8122610B2 (en) * | 2008-03-28 | 2012-02-28 | Hexagon Metrology, Inc. | Systems and methods for improved coordination acquisition member comprising calibration information |
US7779548B2 (en) * | 2008-03-28 | 2010-08-24 | Hexagon Metrology, Inc. | Coordinate measuring machine with rotatable grip |
US20090266445A1 (en) * | 2008-04-28 | 2009-10-29 | Lee-Cheng Chang | Work Bench for a Hand Jointer |
US7640674B2 (en) * | 2008-05-05 | 2010-01-05 | Hexagon Metrology, Inc. | Systems and methods for calibrating a portable coordinate measurement machine |
GB0809037D0 (en) * | 2008-05-19 | 2008-06-25 | Renishaw Plc | Video Probe |
US7908757B2 (en) | 2008-10-16 | 2011-03-22 | Hexagon Metrology, Inc. | Articulating measuring arm with laser scanner |
CN101769729A (zh) * | 2008-12-27 | 2010-07-07 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 量测数据动态提示***及方法 |
US9551575B2 (en) | 2009-03-25 | 2017-01-24 | Faro Technologies, Inc. | Laser scanner having a multi-color light source and real-time color receiver |
DE102009015920B4 (de) | 2009-03-25 | 2014-11-20 | Faro Technologies, Inc. | Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung |
US20100294399A1 (en) * | 2009-05-22 | 2010-11-25 | Bor-Yann Chuang | Working platform provided with a manual wood planer |
EP3620762A1 (en) * | 2009-06-30 | 2020-03-11 | Hexagon Technology Center GmbH | Coordinate measurement machine with vibration detection |
DE102009031323B4 (de) | 2009-06-30 | 2023-03-30 | M & H Inprocess Messtechnik Gmbh | Signalübertragungseinheit sowie Signalübertragungssystem |
JP5350170B2 (ja) * | 2009-10-13 | 2013-11-27 | 株式会社ミツトヨ | 表面性状測定機 |
JP2011085405A (ja) * | 2009-10-13 | 2011-04-28 | Mitsutoyo Corp | 表面性状測定機 |
US8099877B2 (en) * | 2009-11-06 | 2012-01-24 | Hexagon Metrology Ab | Enhanced position detection for a CMM |
EP2322897A1 (de) * | 2009-11-11 | 2011-05-18 | Günther Battenberg | Optisches und mechanisches Verfahren und Vorrichtung zum Vermessen von Werkstücken |
US9113023B2 (en) | 2009-11-20 | 2015-08-18 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional scanner with spectroscopic energy detector |
US9210288B2 (en) | 2009-11-20 | 2015-12-08 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional scanner with dichroic beam splitters to capture a variety of signals |
US9529083B2 (en) | 2009-11-20 | 2016-12-27 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional scanner with enhanced spectroscopic energy detector |
DE102009057101A1 (de) | 2009-11-20 | 2011-05-26 | Faro Technologies, Inc., Lake Mary | Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung |
CN102822618B (zh) | 2009-11-26 | 2017-02-15 | 沃思测量技术股份有限公司 | 用于接触‑光学确定测量物体的几何形状的方法和装置 |
US20110213247A1 (en) * | 2010-01-08 | 2011-09-01 | Hexagon Metrology, Inc. | Articulated arm with imaging device |
US8630314B2 (en) | 2010-01-11 | 2014-01-14 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for synchronizing measurements taken by multiple metrology devices |
US8875409B2 (en) | 2010-01-20 | 2014-11-04 | Faro Technologies, Inc. | Coordinate measurement machines with removable accessories |
GB2489370B (en) * | 2010-01-20 | 2014-05-14 | Faro Tech Inc | Coordinate measuring machine having an illuminated probe end and method of operation |
US8615893B2 (en) | 2010-01-20 | 2013-12-31 | Faro Technologies, Inc. | Portable articulated arm coordinate measuring machine having integrated software controls |
US9628775B2 (en) | 2010-01-20 | 2017-04-18 | Faro Technologies, Inc. | Articulated arm coordinate measurement machine having a 2D camera and method of obtaining 3D representations |
US8832954B2 (en) | 2010-01-20 | 2014-09-16 | Faro Technologies, Inc. | Coordinate measurement machines with removable accessories |
GB2490812A (en) | 2010-01-20 | 2012-11-14 | Faro Tech Inc | Use of inclinometers to improve relocation of a portable articulated arm coordinate measuring machine |
US8898919B2 (en) | 2010-01-20 | 2014-12-02 | Faro Technologies, Inc. | Coordinate measurement machine with distance meter used to establish frame of reference |
US9879976B2 (en) | 2010-01-20 | 2018-01-30 | Faro Technologies, Inc. | Articulated arm coordinate measurement machine that uses a 2D camera to determine 3D coordinates of smoothly continuous edge features |
US8677643B2 (en) | 2010-01-20 | 2014-03-25 | Faro Technologies, Inc. | Coordinate measurement machines with removable accessories |
US9607239B2 (en) | 2010-01-20 | 2017-03-28 | Faro Technologies, Inc. | Articulated arm coordinate measurement machine having a 2D camera and method of obtaining 3D representations |
US9163922B2 (en) | 2010-01-20 | 2015-10-20 | Faro Technologies, Inc. | Coordinate measurement machine with distance meter and camera to determine dimensions within camera images |
CN102713776B (zh) | 2010-01-20 | 2015-04-22 | 法罗技术股份有限公司 | 利用了多总线臂技术的便携式铰接臂坐标测量机 |
JP5410330B2 (ja) * | 2010-02-24 | 2014-02-05 | 株式会社ミツトヨ | スタイラス観察装置 |
USD643319S1 (en) | 2010-03-29 | 2011-08-16 | Hexagon Metrology Ab | Portable coordinate measurement machine |
DE102010014812A1 (de) * | 2010-04-13 | 2011-10-13 | Eads Deutschland Gmbh | Verfahren zur Messung des Schwingungsverhaltens von elektronischen Bauteilen |
DE102010018819B4 (de) * | 2010-04-29 | 2012-01-19 | Hommel-Etamic Gmbh | Oberflächenmeßgerät |
DE102010020925B4 (de) | 2010-05-10 | 2014-02-27 | Faro Technologies, Inc. | Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung |
US8127458B1 (en) | 2010-08-31 | 2012-03-06 | Hexagon Metrology, Inc. | Mounting apparatus for articulated arm laser scanner |
JP2013539541A (ja) | 2010-09-08 | 2013-10-24 | ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド | プロジェクタを有するレーザスキャナまたはレーザ追跡装置 |
US9168654B2 (en) | 2010-11-16 | 2015-10-27 | Faro Technologies, Inc. | Coordinate measuring machines with dual layer arm |
DE102010062626A1 (de) * | 2010-12-08 | 2012-06-14 | Robert Bosch Gmbh | Tastsystem zur Erfassung der Form, des Durchmessers und/oder der Rauhigkeit einer Oberfläche |
JP5693978B2 (ja) * | 2011-01-11 | 2015-04-01 | 株式会社ミツトヨ | 画像プローブの校正方法 |
JP5500653B2 (ja) * | 2011-01-21 | 2014-05-21 | 学校法人 中村産業学園 | 位置測定装置 |
CN102735138B (zh) * | 2011-04-12 | 2015-07-01 | 科马斯控股股份公司 | 测量结构以及用于至少确定压接触头的导线压接体的压接高度的方法 |
NL2006590C2 (nl) * | 2011-04-12 | 2012-10-15 | W L F M Donkers Beheer B V | Inrichting en werkwijze voor het bepalen van de dikte van de rhizoom van een plant. |
JP5829884B2 (ja) * | 2011-10-18 | 2015-12-09 | 株式会社小坂研究所 | 触針式測定装置 |
EP3144632B1 (en) * | 2015-09-18 | 2021-08-11 | Hexagon Technology Center GmbH | Coordinate measuring machine having a camera |
DE102011056805A1 (de) | 2011-12-21 | 2013-06-27 | Werth Messtechnik Gmbh | Verfahren zum opto-taktilen Messen eines Objektes sowie Koordinatenmessgerät |
US8763267B2 (en) | 2012-01-20 | 2014-07-01 | Hexagon Technology Center Gmbh | Locking counterbalance for a CMM |
DE102012100609A1 (de) | 2012-01-25 | 2013-07-25 | Faro Technologies, Inc. | Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung |
US9019511B2 (en) | 2012-02-27 | 2015-04-28 | Quality Vision International, Inc. | Optical probe for vision measurements |
US9069355B2 (en) | 2012-06-08 | 2015-06-30 | Hexagon Technology Center Gmbh | System and method for a wireless feature pack |
US8997362B2 (en) | 2012-07-17 | 2015-04-07 | Faro Technologies, Inc. | Portable articulated arm coordinate measuring machine with optical communications bus |
US8903516B2 (en) | 2012-09-04 | 2014-12-02 | United Technologies Corporation | Visual alignment system and method for workpiece marking |
US10218672B2 (en) * | 2012-09-05 | 2019-02-26 | Hexagon Technology Center Gmbh | Measuring machine communication with automatic address allocation |
DE102012109481A1 (de) | 2012-10-05 | 2014-04-10 | Faro Technologies, Inc. | Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung |
US10067231B2 (en) | 2012-10-05 | 2018-09-04 | Faro Technologies, Inc. | Registration calculation of three-dimensional scanner data performed between scans based on measurements by two-dimensional scanner |
US9513107B2 (en) | 2012-10-05 | 2016-12-06 | Faro Technologies, Inc. | Registration calculation between three-dimensional (3D) scans based on two-dimensional (2D) scan data from a 3D scanner |
US9250214B2 (en) | 2013-03-12 | 2016-02-02 | Hexagon Metrology, Inc. | CMM with flaw detection system |
DE102013208397B4 (de) * | 2013-05-07 | 2018-05-24 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Koordinatenmessgerät mit einem zusätzlichen, berührungslos messenden Oberflächenvermessungsgerät |
DE102014113051A1 (de) * | 2013-09-10 | 2015-03-12 | Cognex Corp. | Drahtlose Bildverarbeitungssysteme und Verfahren zur Verwendung unter rauen Umgebungsbedingungen |
CN103727869A (zh) * | 2013-09-22 | 2014-04-16 | 雷孔成 | 袖珍三坐标测长仪 |
US9429416B2 (en) | 2013-12-06 | 2016-08-30 | Tesa Sa | Accessory for coordinate measuring machine |
US9594250B2 (en) | 2013-12-18 | 2017-03-14 | Hexagon Metrology, Inc. | Ultra-portable coordinate measurement machine |
US9163921B2 (en) | 2013-12-18 | 2015-10-20 | Hexagon Metrology, Inc. | Ultra-portable articulated arm coordinate measurement machine |
US9759540B2 (en) | 2014-06-11 | 2017-09-12 | Hexagon Metrology, Inc. | Articulating CMM probe |
DE112014006850B4 (de) * | 2014-07-31 | 2023-06-15 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Tastkopf für ein Koordinatenmessgerät |
US11159784B2 (en) | 2014-10-23 | 2021-10-26 | Cognex Corporation | System and method for calibrating a vision system with respect to a touch probe |
US9784564B2 (en) * | 2014-12-19 | 2017-10-10 | Quality Vision International, Inc. | Deployment mechanism for optical measurement system |
DE102015208772B4 (de) | 2015-05-12 | 2023-09-28 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Koordinatenmessgerät mit einer Beleuchtung, über die zumindest eines der Tastelemente eines Tasters beleuchtet werden kann |
JP6530974B2 (ja) * | 2015-06-10 | 2019-06-12 | 株式会社ミツトヨ | 測定機の衝突防止装置 |
EP3147627B1 (de) | 2015-09-22 | 2023-04-26 | GF Machining Solutions AG | Optische messtaster-kalibration |
DE102015122844A1 (de) | 2015-12-27 | 2017-06-29 | Faro Technologies, Inc. | 3D-Messvorrichtung mit Batteriepack |
DE102016100308A1 (de) | 2016-01-11 | 2017-07-13 | Datron Ag | Verfahren zur Bestimmung von einer Referenzkoordinate eines Werkstücks und Bearbeitungsmaschine |
JP6692658B2 (ja) * | 2016-02-25 | 2020-05-13 | 株式会社ミツトヨ | 内壁測定装置及びオフセット量算出方法 |
DE102016220127B4 (de) | 2016-10-14 | 2020-09-03 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren zum Betrieb eines Koordinatenmessgeräts |
JP6829062B2 (ja) * | 2016-11-29 | 2021-02-10 | ヘキサゴン・メトロジー株式会社 | 三次元測定装置 |
GB201702391D0 (en) | 2017-02-14 | 2017-03-29 | Renishaw Plc | Surface sensing device |
CN107199482B (zh) * | 2017-06-07 | 2023-07-14 | 广东长盈精密技术有限公司 | 电子装置、壳体侧孔的加工方法及其加工装置 |
DE102017220833A1 (de) * | 2017-11-22 | 2019-05-23 | Siemens Aktiengesellschaft | Messsystem zur Erfassung der räumlichen Lage eines Sicherungsstiftes und Verfahren zum Ausbohren eines Sicherungsstiftes |
JP6701460B1 (ja) * | 2018-04-02 | 2020-05-27 | クオリティー ヴィジョン インターナショナル インコーポレイテッドQuality Vision International, Inc. | 複数方向での撮像センサのアライメントシステム |
CH715610A1 (fr) * | 2018-12-04 | 2020-06-15 | Watch Out S A | Système et procédés de mesure du profil d'une pièce. |
JP6788207B2 (ja) * | 2019-04-16 | 2020-11-25 | 株式会社東京精密 | 変位検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機 |
US11168971B2 (en) * | 2019-04-19 | 2021-11-09 | The Boeing Company | Systems and methods for evaluating a surface of a bore formed in a structure |
DE102021115046A1 (de) | 2021-06-10 | 2022-12-15 | Hans-Georg Grün | Messkopf für ein taktiles Koordinatenmessgerät, Verfahren zum Vermessen eines Werkstücks mit einem taktilen Koordinatenmessgerät sowie Koordinatenmessgerät |
CN114184114A (zh) * | 2021-12-20 | 2022-03-15 | 河源市皓吉达通讯器材有限公司 | 一种微型轻质塑胶产品的接触式测量装置及方法 |
CN114858056A (zh) * | 2022-05-19 | 2022-08-05 | 华中科技大学 | 一种基于深孔测量装置自动大量测量小深孔孔深的方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2242355C2 (de) * | 1972-08-29 | 1974-10-17 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Elektronischer Mehrkoordinatentaster |
DE3348472C2 (de) * | 1983-06-03 | 1994-09-29 | Zeiss Carl Fa | Taststiftwechselhalter |
DD222391A1 (de) * | 1984-03-01 | 1985-05-15 | Zeiss Jena Veb Carl | Verfahren und anordnung zur optischen kontrolle mechanischer messobjektabtastung |
DE3806686A1 (de) * | 1988-03-02 | 1989-09-14 | Wegu Messtechnik | Mehrkoordinatenmess- und -pruefeinrichtung |
DE3809656A1 (de) * | 1988-03-22 | 1989-10-12 | Reinert Guido Georg | Fernsehokular fuer visuelle optische geraete |
DE3823993A1 (de) * | 1988-07-15 | 1990-01-18 | Zeiss Carl Fa | Verfahren zur koordinatenmessung an werkstuecken |
DE8915535U1 (de) * | 1989-03-02 | 1990-10-25 | Carl Zeiss, 89518 Heidenheim | Auflicht-Objektbeleuchtungseinrichtung |
GB8920447D0 (en) * | 1989-09-09 | 1989-10-25 | Renishaw Plc | Method and apparatus of datuming a coordinate positioning machine |
JPH03142301A (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-18 | Erionikusu:Kk | 走査トンネル顕微鏡 |
JPH04225173A (ja) * | 1990-12-27 | 1992-08-14 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
IT1245014B (it) * | 1991-01-29 | 1994-09-13 | Dea Spa | Sistema per la misura tridimensionale di superfici sculturate da matematizzare |
DE9115942U1 (de) * | 1991-12-21 | 1992-05-27 | Hahn-Schickard-Gesellschaft für angewandte Forschung e.V., 7000 Stuttgart | Antastvorrichtung für die Längenmeßtechnik |
-
1993
- 1993-08-13 DE DE4327250A patent/DE4327250C5/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-09-17 DE DE59305773T patent/DE59305773D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-09-17 US US08/244,497 patent/US5615489A/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-09-17 JP JP50863894A patent/JP3612068B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1993-09-17 EP EP93920757A patent/EP0614517B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1993-09-17 WO PCT/EP1993/002523 patent/WO1994008205A1/de active IP Right Grant
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007064670A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 表面形状測定機 |
US8363904B2 (en) | 2009-10-13 | 2013-01-29 | Mitutoyo Corporation | Offset amount calibrating method and surface texture measuring machine |
US8654351B2 (en) | 2009-10-13 | 2014-02-18 | Mitutoyo Corporation | Offset amount calibrating method and surface profile measuring machine |
US8650939B2 (en) | 2009-10-13 | 2014-02-18 | Mitutoyo Corporation | Surface texture measuring machine and a surface texture measuring method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4327250B4 (de) | 2006-08-24 |
EP0614517A1 (de) | 1994-09-14 |
JPH07505958A (ja) | 1995-06-29 |
EP0614517B1 (de) | 1997-03-12 |
DE4327250A1 (de) | 1994-03-31 |
DE4327250C5 (de) | 2008-11-20 |
US5615489A (en) | 1997-04-01 |
WO1994008205A1 (de) | 1994-04-14 |
DE59305773D1 (de) | 1997-04-17 |
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