JP2784570B2 - ソケツト - Google Patents

ソケツト

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JP2784570B2 JP62144526A JP14452687A JP2784570B2 JP 2784570 B2 JP2784570 B2 JP 2784570B2 JP 62144526 A JP62144526 A JP 62144526A JP 14452687 A JP14452687 A JP 14452687A JP 2784570 B2 JP2784570 B2 JP 2784570B2
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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/02—Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
    • H05K7/10—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
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Description

【発明の詳細な説明】 イ．産業上の利用分野 本発明は、装着されるべき所定の電気部品（特に半導
体集積回路チップ（以下、ICチップと称する。））に対
し弾性的な押圧状態で電気的に接続せしめられる接触子
を有するソケット、例えばICチップテスト用のソケット
に関するものである。 ロ．従来技術 従来、ICチップのテスト（例えば耐熱性テスト）のた
めに、ICチップを加熱炉に入れてその良、不良を判別す
ることが行われている。 第６図は、そうしたテストに使用するICチップ装着用
のソケットを示す。このソケット31の本体37には、ICチ
ップを装着する装着空間48に多数の板状接触子（接点）
34が臨むように固定されている。そのソケット31では、
ICチップ２を凹部48に装着する際にその形（Ｚ形）ピ
ン３に接続されてテスト回路（図示せず）に導かれる板
状の接触子34が多数本設けられ、これらに挟まれるよう
にICチップ２が装着空間48に上方から挿入される。この
装着操作を説明すると、まず、各接触子34は夫々のリー
ド脚部36が下方へ露出するようにして基体37に固定さ
れ、この固定部から上方で幾分外向きに折曲された弾性
湾曲部38を有している。また、この湾曲部38の上端に
は、ICチップ２を挟着して上記湾曲部の弾性力でICチッ
プ２に押圧される押圧部39と、この押圧部とほぼ同じ高
さ位置にあってカバー43の下端部43aで下方に押圧され
るトリガ部46とが設けられている。なお、上記のカバー
43は、本体37に対し上方から被せられ、係止爪（図示省
略）によって本体37に係止されるようにしてよい。ま
た、リード脚部36はテスト回路に接続されるプリント基
板（図示せず）のリード挿通孔に挿入され、ハンダで固
定される。このようなソケット31によれば、カバー43を
下方へ押すと、その下端部43aが接触子34のトリガ部46
を押圧し、これによって接触子34自体が破線で示す如く
に弾性変形する。この変形が装着空間48の周囲にて外向
きに生じるので、その状態でICチップ２を挿入する。こ
の挿入自体は上記弾性変形によって容易に行われる。そ
して次にカバー43に対する力を除くと、接触子34は破線
状態から実線の原形へと復元しようとし、この復元力で
接触子34の押圧部39がICチップ２に対して接触し、ICチ
ップ２はソケット31内に装着される。この際、ICチップ
２のＺ形ピン３に対し押圧部39が弾性的に接するので、
ICチップ２は接触子34を介してテスト回路に接続される
ことになる。なお、ICチップ２を取り外すときは、カバ
ー43を再び下方へ押して接触子34を破線のように弾性変
形させるとよい。 ソケットを上記のように構成することにより、次のよ
うな利点がもたらされる。 （１）．自動機でカバー43の開閉ができる。 （２）．半導体（IC）チップのリードがカバー43の下側
に隠れることがなく、リードと接触子34との接触状態を
目視で確認することが容易である。 （３）．本体37がICチップと比較して余り大きくならな
くて済む。 第６図のソケットは、上記のような利点を有するもの
の、次のような致命的欠陥がある。この問題を第７図〜
第９図によって説明する。 第７図は接触子34を示し、同図（ａ）は正面図、同図
（ｂ）は同図（ａ）のVIIb−VIIb線矢視拡大断面図であ
る。 ICチップのピンに接触する押圧部39の面39aは平面で
あって、第８図に拡大図示するように、ICチップ２のピ
ン３の先端の一方の稜3aが押圧部39の接触面39a線接触
する。この状態で前述したように加熱して耐熱性テスト
を行うのであるが、前記接触の領域が大きいため、上記
テストを繰返し行っているうちに、ICチップ２のピン３
に施された錫めっきが押圧部39の接触面39aに移って付
着し、これが酸化してピン３との電気的接続の信頼性が
低下するようになる。また、ピン３の先端は、第９図に
示すように変形し、その個所には接触痕3cが形成され
る。 上記のような問題は、繰返し使用される耐熱性テスト
用ソケット以外にも、長期間に亘って電気部品を装着す
るソケットにも同様に起こり得る。 ハ．発明の目的 本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであっ
て、繰返し使用しても、或いは長期使用しても、装着さ
れるべき電気部品との電気的接続が確実で信頼性が高
く、かつ、耐久性に優れたソケットを提供することを目
的としている。 ニ．発明の構成 すなわち、本発明は、所定の電気部品が装着される本
体と、前記電気部品の端子ピンに対し弾性的に押圧して
電気的に接続される接触子と、前記本体に対して往復運
動可能に設けられた作動部材とを有するソケットにおい
て、前記接触子は、（ａ）前記本体に固定された固定端
部と、（ｂ）前記固定端部から十分な長さに亙って折曲
され、前記固定端部の近傍に第変形時の支点を有する弾
性変形可能な折曲部と、（ｃ）前記折曲部に連接され、
この連接域から前記折曲部の折曲方向とは異なる方向の
位置に延び、この位置に前記電気部品の端子ピンに対す
る押圧点を有する押圧片部と、（ｄ）前記折曲部の折曲
端側に設けられ、前記作動部材と接触可能な接点を有
し、前記作動部材の移動により前記接点が押圧される際
に、前記折曲部の折曲角度が縮小するように前記折曲部
を弾性変形させると同時に前記電気部品の端子ピンに対
して前記押圧片部を離すトリガ部とを夫々含み、前記押
圧片部の接触面には、その押圧方向に略直交する前記押
圧片部の厚み方向の複数箇所にて前記電気部品の端子ピ
ンの端部の稜にそれぞれ食い込むための複数の刃部が互
いに平行に設けられていることを特徴とするソケットに
係わるものである。 ホ．実施例 以下、本発明の実施例を説明する。 第１図〜第４図は本実施例によるICチップテスト用の
ソケットを示すものである。 第４図はソケットの斜視図で、ソケット１は本体７と
本体７に上方から係合するカバー13とからなっている。
本体７には後述する接触子（図示せず）が多数（この例
では両側に14個ずつ）取付けられ、これら接触子がソケ
ット１内に収容されるように、本体７には細長の溝7a
が、カバー13の側壁14には切欠き15が、夫々接触子の数
だけ形成されていて、本体７とカバー13の側壁14との間
には空間17が形成されている。本体７の四隅近くにはカ
バー13のガイド溝16が嵌合するガイドバー12が設けら
れ、ガイド溝16とガイドバー12とが互いに案内し合って
本体７に対してカバー13が上下動可能にしてある。本体
７には、後述するICチップを装着する際、このICチップ
の位置を正確ならしめるために、ICチップのピンを案内
するガイド壁11がICチップ上下方向位置決め用の台５上
に設けてある。また、カバー13は天蓋を有せず、ソケッ
ト１にはICチップを装着する空間18が形成されている。 第１図は接触子を示し、同図（ａ）は正面図、同図
（ｂ）は同図（ａ）のIb−Ib線矢視拡大断面図である。
接触子４は、本体に取付けられる取付部10と取付部10か
ら延在する弾性湾曲部８とを有し、湾曲部８に隣接して
押圧部９及びトリガ部16が延設されている。また、取付
部10には、テスト回路に接続されるプリント基板のリー
ド挿通孔（いずれも図示せず）に挿入されて半田付けさ
れるリード脚部６が延設されている。接触子４は、リー
ド脚部６を図に於いて右側に実線で示すように設けたも
のと、図に於いて左側に仮想線で示すように設けたもの
との２種類があり、これらは交互に第４図の本体７に取
付けられる。押圧部９のピン（ICチップのピン）と接触
する接触部9aは、塑性加工によって潰され、第１図
（ｂ）に示すように、両側縁に２枚の刃部9b、9bが食み
出して形成されている。これらの刃部9bは、矢印Ｐで示
す押圧方向にほぼ直交する接触子の厚み方向Ｔにおいて
存在している。 第２図はソケット１にICチップ２が装着された状態を
示す断面図である。本体７の溝7aに接触子４の取付部10
からの突出部10aが嵌入し、溝7aに接する細長の貫通孔7
bを通ってリード脚部６が下方へ突出し、接触子４が本
体７に固定される。ICチップ２をソケット１に装着する
には、次のようにする。カバー13の側壁14の下端傾斜面
14aで接触子４のトリガ部16を破線で示すように押し下
げると、湾曲部８が破線で示すように弾性変形し、押圧
部９が外側へ逃げる。この状態でICチップ２を第６図で
説明したと同様に空間18に挿入し台５上に載置する。こ
のとき、ICチップ２のピン３は、ガイド壁11に案内され
て押圧部９に対向して正確に位置する。次に、カバー13
によるトリガ部16の押し下げを解除すると、湾曲部８の
弾性によって押圧部９の接触部9aがICチップ２のピン３
を押圧し、ICチップ２と接触子４とが電気的に接続す
る。 押圧部９の接触部9aには、前述したように２枚の刃部
9bが形成されているので、刃部9bはピン３の端部の一方
の稜に接触し、押圧部９を第１図（ｂ）のように断面で
見ると、２枚の刃部9bの先端の２点でピン３の稜3aに接
触する。従って、この接触領域が第７図（ｂ）で示した
従来のソケットに於ける断面線状の接触領域に較べて著
しく小さくなる。その結果、前述したようなピンの錫め
っきが押圧部へ移ってこれに付着することが抑制され、
この付着した錫の酸化によって接触不良を起こすことが
ない。また、接触領域が２つになっているので、１点接
触に較べて接触が十分になり、接触抵抗も小さくなって
好都合である。更に、ピン３の先端の一方の稜3aには、
第３図に示すように押圧部９の刃部9bが喰込んで接触痕
3bが２個所に形成されるが、ピン３の錫めっき表面が酸
化していても、刃部9bがピン３の端部の稜3aに喰込むこ
とにより、酸化被膜が破られて内部の金属が直接刃部9b
に接触し、ピン３と押圧部９との電気的接続が確実にな
る。 以上のような次第で、耐熱性テストを繰返し行って
も、ピン３と接触子４との電気的接続が確実であり、従
来のソケットに較べて信頼性、耐久性が共に著しく改善
される。 テストを終了したICチップと次のテストに供されるIC
チップとを交換するには、カバー13を押し下げて第２図
に破線で示した状態とし、ICチップ２を空間18から取外
してから、前述したようにして次のICチップをソケット
１に装着する。このように、ICチップの装着、取外しも
容易である。 第５図は第二の実施例で使用した接触子42の拡大部分
断面図で、図中82は弾性湾曲部、92は押圧部、162はト
リガ部である。押圧部92の接触部92aには、塑性加工又
は切削加工によって山形に凹凸が形成され、これによっ
て断面三角形の２個の刃部92b、92bが形成されている。
刃部92b、92bが図示しないICチップのピンの端部に接触
して接触子とICチップとが電気的に確実に接続する。そ
の他は、前記の実施例に於けると異なるところはない。 上記各実施例のほか、本発明の技術的思想に基づいて
種々の変形が可能である。例えば、刃部9b又は92bは３
個又はそれ以上設けて良い。また、接触子を４面に多数
配設して４面に多数のピンを有するICチップを装着する
ことができる。ICチップのピンもＺ形のほか、Ｊ形その
他のピンとし、押圧部の形状をピンの形状に対応した形
状とすることができる。更に、ソケットは、ICチップの
耐熱性テストのほか、各種電気機器中に配設されるソケ
ットとして使用でき、この場合も長期間に亘って使用し
ても、錫めっき等の酸化による接触不良が起こることが
なく、信頼性、耐久性の点で頗る良好な結果が得られ
る。また、装着される電気部品は、ICチップ以外の他の
電気部品であっても良い。 ヘ．発明の効果 以上説明したように、本発明に基づくソケットは、接
触子が電気部品の端子ピンを押圧する方向に略直交する
接触子の厚み方向で、電気部品の端子ピンに対して接触
子が複数個所で接触するようにしているので、接触子の
接触面に設けられた複数の刃部による上記複数個所での
接触がなされ、接触領域での電気部品材料が接触子に移
って付着してこれが酸化して接触不良を起こすことが少
なく、信頼性、耐久性が改善される。 更には、接触子の押圧片部に設けられた複数の刃部が
それぞれ電気部品の端子ピンに対して多少食い込む形で
接触するので、電気部品の表面に酸化被膜が存在したと
してもその内部金属と刃部とが接触し、電気的接続が確
実となる。
【図面の簡単な説明】 第１図〜第５図は本発明の実施例を示すものであって、 第１図は接触子を示し、同図（ａ）は正面図、同図
（ｂ）は同図（ａ）のIb−Ib線矢視拡大断面図、 第２図はソケットの断面図、 第３図は装着されたICチップのピンの拡大部分斜視図、 第４図はソケットの斜視図、 第５図は他の例による接触子の拡大部分斜視図である。 第６図〜第９図は従来例を示すものであって、 第６図はソケットの断面図、 第７図は接触子を示し、同図（ａ）は正面図、同図
（ｂ）は同図（ａ）のVIIb−VIIb線矢視拡大断面図、 第８図は接触子とICチップのピンとの接触状態を示す拡
大部分斜視図、 第９図は装着されたICチップのピンの拡大部分斜視図 である。 なお、図面に示された符号に於いて、 １……ソケット ２……ICチップ ３……ICチップのピン 3a……ピンの先端稜 3b……接触痕 ４、42……接触子 ６……リード脚部 ７……本体 ８、82……弾性湾曲部 ９、92……押圧部 9a、92a……接触部 9b、92b……刃部 10……取付部 13……カバー 14……カバーの側壁 14a……側壁の傾斜面 18……ICチップ装着空間 Ｐ……押圧方向 Ｔ……厚み方向 である。

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 １．所定の電気部品が装着される本体と、前記電気部品
    の端子ピンに対し弾性的に押圧して電気的に接続される
    接触子と、前記本体に対して往復運動可能に設けられた
    作動部材とを有するソケットにおいて、 前記接触子は、 （ａ）前記本体に固定された固定端部と、 （ｂ）前記固定端部から十分な長さに亙って折曲され、
    前記固定端部の近傍に弾性変形時の支点を有する弾性変
    形可能な折曲部と、 （ｃ）前記折曲部に連接され、この連接域から前記折曲
    部の折曲方向とは異なる方向の位置に延び、この位置に
    前記電気部品の端子ピンに対する押圧点を有する押圧片
    部と、 （ｄ）前記折曲部の折曲端側に設けられ、前記作動部材
    と接触可能な接点を有し前記作動部材の移動により前記
    接点が押圧される際に、前記折曲部の折曲角度が縮小す
    るように前記折曲部を弾性変形させると同時に前記電気
    部品の端子ピンに対して前記押圧片部を離すトリガ部
    と、 を夫々含み、前記押圧片部の接触面には、その押圧方向
    に略直交する前記押圧片部の厚み方向の複数箇所にて前
    記電気部品の端子ピンの端部の稜にそれぞれ食い込むた
    めの複数の刃部が互いに平行に設けられていることを特
    徴とするソケット。
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