TWI385453B - 液晶顯示裝置 - Google Patents

液晶顯示裝置 Download PDF

Info

Publication number
TWI385453B
TWI385453B TW096144016A TW96144016A TWI385453B TW I385453 B TWI385453 B TW I385453B TW 096144016 A TW096144016 A TW 096144016A TW 96144016 A TW96144016 A TW 96144016A TW I385453 B TWI385453 B TW I385453B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
test
data line
scanning
electrostatic protection
data
Prior art date
Application number
TW096144016A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200832028A (en
Inventor
Hiromitsu Ishii
Yayoi Nakamura
Original Assignee
Casio Computer Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Casio Computer Co Ltd filed Critical Casio Computer Co Ltd
Publication of TW200832028A publication Critical patent/TW200832028A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI385453B publication Critical patent/TWI385453B/zh

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136204—Arrangements to prevent high voltage or static electricity failures
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254—Checking; Testing
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S345/00—Computer graphics processing and selective visual display systems
    • Y10S345/904—Display with fail/safe testing feature

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)

Description

液晶顯示裝置
本發明係關於一種液晶顯示裝置，進一步詳細而言，是關於一種具備靜電保護電路以及測試用電路的液晶顯示裝置。
以往的主動矩陣型之液晶顯示裝置必須防止因靜電所引起之開關用薄膜電晶體的特性偏移和絕緣破壞等的不良。特開2005－93459號公報中揭露了具有這種靜電保護電路的液晶顯示裝置。在上述習知文獻中，靜電保護電路係在設成矩陣狀之複數個掃描線和複數個資料線的各交點附近設有畫素電極以及與該畫素電極連接之開關用薄膜電晶體的顯示區域外側，由以下所構成：掃描線用靜電保護用薄膜電晶體，其設置在掃描線用靜電保護線以及該掃描線用靜電保護線和各掃描線之間；以及資料線用靜電保護用薄膜電晶體，其設在資料線用靜電保護線以及該資料線用靜電保護線和各資料線之間。
不過，在上述以往的液晶顯示裝置中，因為在顯示區域外側設置掃描線用靜電保護線以及掃描線用靜電保護用薄膜電晶體和資料線用靜電保護線以及資料線用靜電保護用薄膜電晶體，由於為了確保這些配置區域，所以會有邊框尺寸變大的問題。在此，換言之，邊框尺寸也就是指液晶顯示裝置之顯示面板的非顯示區域之尺寸，除去液晶顯示裝置之表示面板之顯示區域的區域就是所謂收納圖像的邊框形狀。
另外，在以往這種液晶顯示裝置中，在進行線路缺陷等之檢查的情況下，則考慮在顯示區域外側，於掃描線用靜電保護用薄膜電晶體以及資料線用靜電保護用薄膜電晶體之各配置區域的相反側，設置測試端子。在此情況下，選擇性地驅動掃描線以及資料線時，則必須在測試端子和各掃描線以及各資料線之間，配置掃描線用測試用薄膜電晶體以及資料線用測試用薄膜電晶體，為了確保這些配置區域，所以會有進一步加大邊框面積的問題。
因此，本發明之目的在於提供一種能縮小邊框面積的液晶顯示裝置。
本發明的顯示裝置係具有：基板(1)，其界定有顯示區域(3)和非顯示區域；複數個畫素電極(4,4R,4G,4B)，其排列在前述基板(1)上；複數個開關用薄膜電晶體(5)，其連接於前述各顯示用電極(4,4R,4G,4B)，且具有控制用電極和資料用電極；複數個掃描線(6)，其連接於前述各開關用薄膜電晶體(5)的閘極；以及複數個資料線(7)，其連接於前述各開關用薄膜電晶體(5)上的源、汲極。另外，還具有形成在前述基板(1)之非顯示區域內的掃描線用靜電保護兼測試用電路(14)以及資料線用靜電保護兼測試電路(22)之至少一者。前述掃描線用靜電保護兼測試用電路(14)係具備：靜電保護電路，其包含連接於前述掃描線(6)且因產生之靜電而導通的保護元件(18)；以及檢查電路，其用以檢查前述掃描線(6)的導通狀態；而前述資料線用靜電保護兼測試電路(22)係具備：靜電保護電路，其包含連接於前述資料線(7)且因產生之靜電而導通的保護元件(27)；以及檢查電路，其用以檢查前述資料線(7)的導通狀態。
 (第1實施形態)
第1圖係表示本發明之第1實施形態的液晶顯示裝置之主要部分的等效電路平面圖。此液晶顯示裝置係由以下所組成：主動基板1與位於該主動基板1上方的對向基板2係介由略方形框狀的密封材料(未圖示)而貼合，在密封材料內側的兩片基板1、2之間封入液晶(未圖示)。在此情況下，主動基板1之下側部從對向基板2突出。以下，這突出的部分叫做突出部1a。另外，在第1圖中，以一點鏈線所包圍的方形區域就成為顯示區域3。
在主動基板1上的顯示區域3中，設有：配置成矩陣狀的複數個紅色、綠色、藍色之各色顯示用之畫素電極(顯示用電極)4R、4G、4B；開關用薄膜電晶體5，其具有連接於各畫素電極4R、4G、4B之一邊的源、汲極；掃描線6，其在列方向上延伸，用以供給掃描信號於各開關用薄膜電晶體5之閘極(控制用電極)；以及資料線7，其用以供給資料信號於各開關用薄膜電晶體5之另一邊的源、汲極(資料用電極)。
在此，在第1圖中，畫素電極4R、4G、4B僅以4個×6個來進行圖示是為了使圖面更加明確，實際上是排列了數百個×數百個甚至以上的個數。在此情況下，紅色顯示用之畫素電極4R係排列在第(1＋3n)行(n是含有0的正整數)上，綠色顯示用之畫素電極4G係排列在第(2＋3n)行上，藍色顯示用之畫素電極4B係排列在第(3＋3n)行上。
掃描線6之右端部係介由設在顯示區域3之右側以及下側的掃描用繞線8，而連接於掃描用輸出端子10，該掃描用輸出端子10係設置在主動基板1之突出部1a上的右側以虛線表示的掃描線驅動用驅動器搭載區域9內之上側。資料線7之下端部係介由設在顯示區域3下側的資料用繞線11，而連接於資料用輸出端子13，該資料用輸出端子13係設置在主動基板1之突出部1a上的左側以虛線表示的資料線驅動用驅動器搭載區域12內之上側。
在掃描線驅動用驅動器搭載區域9內，設有掃描線用靜電保護兼測試用電路14。亦即，在掃描線驅動用驅動器搭載區域9內的左側，設有第1、第2、第3掃描線用測試端子15、16、17。在掃描線驅動用驅動器搭載區域9內，於各掃描用輸出端子10下側設有掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18。掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18之一邊的源、汲極係連接於其上側的掃描用輸出端子10。掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(保護元件)18之閘極係介由第1掃描線測試用繞線19而連接於第1掃描線用測試端子15。
在第1圖中，從掃描線用靜電保護兼測試用電路14左側數過來第奇數個之掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18之另一邊源、汲極，係介由第2掃描線測試用繞線20而連接於第2掃描線用測試端子16。從掃描線用靜電保護兼測試用電路14左側數過來第偶數個之掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18之另一邊源、汲極，係介由第3掃描線測試用繞線21而連接於第3掃描線用測試端子17。
資料線驅動用驅動器搭載區域12內係設有資料線用靜電保護兼測試用電路22。亦即，在資料線驅動用驅動器搭載區域12內的左側係設有第1~第4資料線用測試端子23~26。在資料線驅動用驅動器搭載區域12內，於各資料用輸出端子13下側係設有資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(保護元件)27。資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27的一邊源、汲極係連接於其上側的資料用輸出端子13。資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27的閘極係介由第1資料線測試用繞線28而連接於第1資料線用測試端子23。
在第1圖中，從資料線用靜電保護兼測試用電路22左側數過來第(1＋3n)個資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27之另一邊源、汲極，係介由第2資料線測試用繞線29而連接於第2資料線用測試端子24。從資料線用靜電保護兼測試用電路22左側數過來第(2＋3n)個資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27之另一邊源、汲極，係介由第3資料線測試用繞線30而連接於第3資料線用測試端子25。從資料線用靜電保護兼測試用電路22左側數過來第(3＋3n)個資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27之另一邊源、汲極，係介由第4資料線測試用繞線31而連接於第4資料線用測試端子26。
在掃描線驅動用驅動器搭載區域9內的下側係設有掃描用輸入端子32。掃描用輸入端子32係介由設在其下側的掃描用繞線33，而連接於設在其下側的掃描用外部連接端子34。資料線驅動用驅動器搭載區域12內的下側係設有資料用輸入端子35。資料用輸入端子35係介由設在其下側的資料用繞線36，而連接於設在其下側的資料用外部連接端子37。
此外，為了使圖面更加明確，雖在第1圖中省略，但如第11圖所示，在主動基板1的掃描線驅動用驅動器搭載區域9上，係搭載有內建掃描線驅動電路部的掃描線驅動用驅動器晶片101。掃描線驅動用驅動器晶片101的外部電極係藉由焊料球101a，以COG(Chip On Glass)法而接合於掃描用輸出端子10、第1~第3掃描線用測試端子15~17以及掃描用輸入端子32。接合方法方面，即使不使用焊接法，也可以是異方性導電黏著材料等其他的接合材料的方法。
另外，在主動基板1的資料線驅動用驅動器搭載區域12上，係搭載有內建資料線驅動電路部的資料線驅動用驅動器晶片102。資料線驅動用驅動器晶片102的外部電極係藉由焊料球102a，以COG法而接合於資料用輸出端子13、第1~第4資料線用測試端子23~26以及資料用輸入端子35。在此情況下亦然，接合方法方面，即使不使用焊接法，也可以是異方性導電黏著材料等其他的接合材料的方法。另外，在上述中，掃描線驅動用驅動器晶片和資料線驅動用驅動器晶片分別可以係非個別分開(discrete)，而是兩者為一體化的單一晶片(one－chip)。
接著，說明此液晶顯示裝置之一部分具體的構造。首先，第2圖係表示第1圖所示之開關用薄膜電晶體5以及畫素電極4(4R、4G、4B)的部分截面圖。在由玻璃等組成的主動基板1上面的既定處，係設有由鉻等組成的閘極41、與該閘極41連接的掃描線6以及與該掃描線6連接的掃描用繞線8(參照第1圖)。
含有閘極41以及掃描線6等的主動基板1上面，係設有由氮化矽組成的閘絕緣膜42。在閘極41上的閘絕緣膜42上面的既定處係設有由本徵非晶矽組成的半導體薄膜43。半導體薄膜43上面大致中央部係設有由氮化矽組成的通道保護膜44。
在通道保護膜44上面兩側以及此兩側的半導體薄膜43上面，係設有由n型非晶矽所組成之歐姆接觸層45、46。一邊的歐姆接觸層45上面以及其附近的閘絕緣膜42上面的既定處，係設有由鉻等組成的一邊源、汲極47。在另一邊的歐姆接觸層46上面以及閘絕緣膜42上面的既定處，係設有由鉻等組成之另一邊源、汲極48、與該另一邊源、汲極48連接的資料線7以及與該資料線7連接的資料用繞線11(參照第1圖)。
在此，開關用薄膜電晶體5係由閘極41、閘絕緣膜42、半導體薄膜43、通道保護膜44、歐姆接觸層45、46以及源、汲極47、48所構成。
在含有開關用薄膜電晶體5以及資料線7等的閘絕緣膜42上面，設有由氮化矽組成的覆蓋膜49。覆蓋膜49上面的既定處係設有由ITO等的透明導電材料所組成的畫素電極4。畫素電極4係介由在覆蓋膜49的既定處上設置的接觸孔50而連接於一邊的源、汲極47。
接著，第3圖係表示第1圖所示之從掃描線驅動用驅動器搭載區域9內左側數過來第奇數個之掃描用輸出端子10及與其連接之掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18等的部分截面圖。掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18係與第2圖所示之開關用薄膜電晶體5大致相同的構造，由閘極41、閘絕緣膜42、半導體薄膜43、通道保護膜44、歐姆接觸層45、46以及源、汲極47、48所組成。
掃描用輸出端子10係一種2層構造，且介由在覆蓋膜49上設置的開口部52而露出，該2層構造具有：下層金屬層10a，其由設在主動基板1上面的鉻等所組成；以及上層金屬層10b，其由設在介由於閘絕緣膜42上設置之接觸孔51而露出的下層金屬層10a上面以及設在其周圍之閘絕緣膜42上面的鉻等所組成。
第1掃描線用測試端子15係由設在主動基板1上面的鉻等金屬層所組成，且介由設在閘絕緣膜42以及覆蓋膜49上的開口部53、54而被露出。第2掃描線用測試端子16係由設在主動基板1上面的鉻等金屬層所組成，且介由設在閘絕緣膜42以及覆蓋膜49上的開口部55、56而被露出。
第2掃描線測試用繞線20係由以設在主動基板1上面的鉻等所組成的下層繞線20a(第1圖中，在列方向上延伸的線)、以及以設在閘絕緣膜42上面的鉻等所組成的上層繞線20b(第1圖中，在行方向上延伸的線)所構成，上層繞線20b的一端部係介由設在閘絕緣膜42上的接觸孔57而連接於下層繞線20a。
然後，掃描用輸出端子10的下層金屬層10a係連接於由設在主動基板1上面的鉻等所組成的掃描用繞線8。掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18的閘極41，係介由以設在主動基板1上面的鉻等所組成之第1掃描線測試用繞線19而連接於第1掃描線用測試端子15，一邊的源、汲極47係連接於掃描用輸出端子10的上層金屬層10b，另一邊的源、汲極48係介由以上層繞線20b以及下層繞線20a所組成的第2掃描線測試用繞線20，而連接於第2掃描線用測試端子16。
接著，第4圖係表示第1圖所示之從掃描線驅動用驅動器搭載區域9內左側數過來第偶數個之掃描用輸出端子10及與其連接之掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18等的部分截面圖。在第4圖中，僅說明與第3圖所示之情況不同的部分，第3掃描線用測試端子17係由設在閘絕緣膜42上面的鉻等之金屬層所組成。然後，掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18的另一邊源、汲極48係介由以設在閘絕緣膜42上面的鉻等所組成之第3掃描線測試用繞線21，而連接於第3掃描線用測試端子17。
在此情況下，第3掃描線測試用繞線21不管是在第1圖中在列方向上延伸的部分21a還是在行方向上延伸的部分21b，都會形成在閘絕緣膜42的正上方，其中，在行方向上延伸的部分21b係與第2掃描線測試用繞線20當中在第1圖中在列方向上延伸的部分(下層繞線20a)交叉，但因為在其間介入有閘絕緣膜42，所以不會短路。
接著，第5圖係表示第1圖所示之從資料線驅動用驅動器搭載區域12內左側數過來第(1＋3n)個資料用輸出端子13及與其連接之資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27等的部分截面圖。資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27係與第2圖所示之開關用薄膜電晶體5大致相同的構造，由閘極41、閘絕緣膜42、半導體薄膜43、通道保護膜44、歐姆接觸層45、46以及源、汲極47、48所組成。
資料用輸出端子13係由設在閘絕緣膜42上面的鉻等的金屬層所組成，且介由設在覆蓋膜49上的開口部61而露出。第1資料線用測試端子23係由設在主動基板1上面的鉻等的金屬層所組成，且介由設在閘絕緣膜42以及覆蓋膜49上的開口部62、63而露出。第2資料線用測試端子24係由設在主動基板1上面的鉻等的金屬層所組成，且介由設在閘絕緣膜42以及覆蓋膜49上的開口部64、65而露出。
第2資料線測試用繞線29係由以設在主動基板1上面的鉻等所組成的下層繞線29a(第1圖中，在列方向上延伸的線)、以及以設在閘絕緣膜42上面的鉻等所組成的上層繞線29b(第1圖中，在行方向上延伸的線)所構成，上層繞線29b的一端部係介由設在閘絕緣膜42上的接觸孔66而連接於下層繞線29a。
然後，資料用輸出端子13係連接於以設在主動基板1上面的鉻等所組成的資料用繞線11。資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27的閘極41，係介由以設在主動基板1上面的鉻等所組成之第1資料線測試用繞線28而連接於第1資料線用測試端子23，一邊的源、汲極47係連接於資料用輸出端子13，另一邊的源、汲極48係介由以上層繞線29b以及下層繞線29a所組成的第2掃描線測試用繞線29，而連接於第2資料線用測試端子24。
接著，第6圖係表示第1圖所示之從資料線驅動用驅動器搭載區域12內左側數過來第(2＋3n)個資料用輸出端子13及與其連接之資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27等的部分截面圖。在第6圖中，僅說明與第5圖所示之情況不同的部分，第3資料線用測試端子25係由設在主動基板1上面的鉻等的金屬層所組成，且介由設在閘絕緣膜42以及覆蓋膜49上的開口部67、68而露出。
第3資料線測試用繞線30係由設在主動基板1上面且由鉻等所組成的下層繞線30a(第1圖中，在列方向上延伸的線)、以及以設在閘絕緣膜42上面的鉻等所組成的上層繞線30b(第1圖中，在行方向上延伸的線)所構成，上層繞線30b的一端部係介由設在閘絕緣膜42上的接觸孔69而連接於下層繞線30a。
然後，資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27的另一邊源、汲極48係介由以上層繞線30b及下層繞線30a所組成的第3資料線測試用繞線30，而連接於第3資料線用測試端子25。在此情況下，第3資料線測試用繞線30當中在第1圖中在行方向上延伸的部分(上層繞線30b)係與第2資料線測試用繞線29當中在第1圖中在列方向上延伸的部分(下層繞線29a)交叉，但因為在其間介入有閘絕緣膜42，所以不會短路。
接著，第7圖係表示第1圖所示之從資料線驅動用驅動器搭載區域12內左側數過來第(3＋3n)個資料用輸出端子13及與其連接之資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27等的部分截面圖。在第7圖中，僅說明與第5圖所示之情況不同的部分，第4資料線用測試端子26係由設在閘絕緣膜42上面的鉻等之金屬層所組成，且介由設在覆蓋膜49上的開口部70而被露出。第4資料線測試用繞線31係由設在閘絕緣膜42上面的鉻等之金屬層所組成。
然後，資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27的另一邊源、汲極48係介由第4資料線測試用繞線31，而連接於第4資料線用測試端子26。在此情況下，第4資料線測試用繞線31當中在第1圖中在行方向上延伸的部分31b，係與第2資料線測試用繞線29當中在第1圖中在列方向上延伸的部分(下層繞線29a)、以及第3資料線測試用繞線30當中在第1圖中在列方向上延伸的部分(下層繞線30a)交叉，但因為在其間介入有閘絕緣膜42，所以不會短路。
接著，在上述構成的液晶顯示裝置中，說明在主動基板1之製程中的靜電保護動作。根據實驗結果，在上述構成的液晶顯示裝置中，正靜電會侵入，而負靜電沒有侵入。以此狀況為基礎，針對靜電的保護對策則是以正靜電侵入的情況來進行說明。因此，以下的動作則是說明正靜電侵入的情況。另外，在主動基板1的製程中，測試用探針(未圖示)未接觸於第1掃描線用測試端子15以及第1資料線用測試端子23。因此，掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18以及資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27成為浮接(floating)的(非導通)狀態。
那麼，在第1圖中從下側數過來第奇數個掃描線61＋2n 中，由於某種理由而正靜電從外部侵入至某1條掃描線61 。於是，介由掃描用繞線8以及掃描用輸出端子10而連接於該掃描線61 的掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18會成為ON(導通)狀態，電流從該掃描線61 而介由與其連接之掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18，而流動於第2掃描線測試用繞線20，第2掃描線測試用繞線20成為高電位。
第2掃描線測試用繞線20成為高電位時，在第1圖中從下側數過來第奇數個掃描線61＋2n 中，與其他所有的掃描線61＋2n 連接的掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18會成為導通狀態，電流會從第2掃描線測試用繞線20而介由掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18，流動於其他所有的掃描線61＋2n ，在第1圖中從下側數過來第奇數個掃描線61＋2n 全部成為相同電位。藉此，能夠緩和施加於與第奇數個掃描線61＋2n 連接之各開關用薄膜電晶體5上的電荷，能防止各開關用薄膜電晶體5以及各絕緣膜的特性變動和破壞。
在第1圖中從下側數過來第偶數個掃描線62＋2n 中，由於某種理由而正靜電從外部侵入至某1條掃描線62 的情況下，藉由與上述相同的靜電保護動作，第3掃描線測試用繞線21會成為高電位，在第1圖中從下側數過來第偶數個掃描線62＋2n 全部成為相同電位。藉此，能夠緩和施加於與第偶數個掃描線62＋2n 連接之各開關用薄膜電晶體5上的電荷。如此一來，即使因某種理由而正靜電從外部侵入至掃描線6，也能防止開關用薄膜電晶體5以及各絕緣膜之靜電所引起之特性變動和破壞等的不良。
另一方面，在第1圖中從左側數過來第(1＋3n)個紅色顯示用的資料線71＋3n 中，由於某種理由而正靜電從外部侵入至某1條資料線71 。於是，連接於該資料線71 的資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27會成為導通狀態，電流從該資料線71 而介由與其連接之資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27，而流動於第2資料線測試用繞線29，第2資料線測試用繞線29成為高電位。
第2資料線測試用繞線29成為高電位時，紅色顯示用的資料線7中，與其他所有的資料線71＋3n 連接的資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27會成為導通狀態，電流會從第2資料線測試用繞線29而介由資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27，流動於該剩下的的資料線71＋3n ，紅色顯示用的資料線71＋3n 全部成為相同電位。
在第1圖中從左側數過來第(2＋3n)個(或者是第(3＋3n)個)綠色顯示用(或是藍色顯示用)的資料線72＋3n (73＋3n )中，由於某種理由而正靜電從外部侵入至某1條資料線72 (73 )的情況下，藉由與上述相同的靜電保護動作，第3資料線測試用繞線30(或是第4資料線測試用繞線31)會成為高電位，綠色顯示用(或是藍色顯示用)的資料線7全部成為相同電位。如此一來，即使因某種理由而正靜電從外部侵入至資料線72＋3n (73＋3n )，也能防止開關用薄膜電晶體5以及各絕緣膜之靜電所引起之特性變動和破壞等的不良。
接著，說明上述構成之液晶顯示裝置的點亮檢查方法。首先，使連接於檢查裝置的測試用探針(未圖示)接觸於所有的測試端子15~17、23~26。然後，第一，在例如供給驅動電壓於第2掃描線用測試端子16，且供給驅動電壓於第2~第4資料線用測試端子24~26的狀態下，當供給閘電壓於第1掃描線用測試端子15以及第1資料線用測試端子23時，在第1圖中，與從下側數過來第奇數列的畫素電極4R、4G、4B對應的畫素會點亮。此時，在相互鄰接之掃描線6之間發生短路的情況下，從與發生短路之部分對應的下側數過來第偶數列的畫素電極4R、4G、4B所對應的畫素會點亮，可檢測出相互鄰接之掃描線6之間的短路不良。另外，此時，在從下側數過來第奇數列之某列的畫素電極4R、4G、4B之至少一部分不點亮的情況下，與此對應之列的掃描線6會成為斷線，檢測出掃描線6的斷線不良。同樣地，驅動電壓不供給於第2掃描線用測試端子16，而是供給於第3掃描線用測試端子17，藉此，能夠檢測出從下側數過來第偶數列是否與相互鄰接之掃描線6短路，以及從下側數過來第偶數列之掃描線6是否斷線。
第二，例如在供給驅動電壓於第2、第3掃描線用測試端子16、17，而且供給驅動電壓於第2資料線用測試端子24的狀態下，當供給閘電壓於第1掃描線用測試端子15以及第1資料線用測試端子23時，所有和紅色顯示用之畫素電極4R對應的畫素會點亮。此時，在相互鄰接之資料線7之間發生短路的時候，與此發生短路之部分對應的綠色顯示用之畫素電極4G或藍色顯示用之畫素電極4B會點亮，而檢測出相互鄰接之資料線7之間的短路不良。另外，此時，在某一行的紅色顯示用之畫素電極4R有至少一部份未點亮的情況下，與其對應之資料線71＋3n 會變成斷線，而檢測出資料線71＋3n 的斷線不良。在綠色顯示用之畫素電極4G以及藍色顯示用之畫素電極4B方面亦然，不供給驅動電壓於第2資料線用測試端子24，而是供給於第3或第4資料線用測試端子25或者26，藉此，與紅色顯示用之畫素電極4R相同，能夠檢測出相互鄰接之資料線7之間的短路以及連接有該顯示色的顯示用之畫素電極4的資料線72＋3n 或是73＋3n 的斷線不良。
另外，在此液晶顯示裝置中，如第1圖所示，因為在主動基板1上的顯示區域3外側之突出部1a上的掃描線驅動用驅動器搭載區域9內，設置掃描線用靜電保護兼測試用電路14、亦即掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18、第1~第3掃描線測試用繞線19~21以及第1~第3掃描線用測試端子15~17，所以不需要用於配置這些的專用配置區域，能夠藉以縮小邊框面積。
另外，在此液晶顯示裝置中，如第1圖所示，因為在主動基板1上的顯示區域3外側之突出部1a上的資料線驅動用驅動器搭載區域12內，設置資料線用靜電保護兼測試用電路22、亦即資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27、第1~第4資料線測試用繞線28~31以及第1~第4資料線用測試端子23~26，所以不需要用於配置這些的專用配置區域，能夠藉以縮小邊框面積。
接著，說明在此液晶顯示裝置中，在掃描線驅動用驅動器搭載區域9上搭載掃描線驅動用驅動器(未圖示)，藉由面朝下(face down)接合等適當的方法，來將資料線驅動用驅動器(未圖示)以COG組裝於資料線驅動用驅動器搭載區域12上，進行實際驅動時的一部分。在此情況下，掃描線驅動用驅動器的外部電極係藉由焊料、異方性導電性材料、金屬共晶等適宜的連接材料，分別連接於對應的掃描用輸出端子10、第1~第3掃描線用測試端子15~17以及掃描用輸入端子32，資料線驅動用驅動器的外部電極係分別連接於對應的資料用輸出端子13、第1~第4資料線用測試端子23~26以及資料用輸入端子35。
然後，在從掃描線驅動用驅動器，介由掃描用輸出端子10供給電壓Vgl(例如Vgl＝－20~－15V)至非選擇狀態之掃描線6的情況下，亦從掃描線驅動用驅動器供給電壓Vgl於第1掃描線用測試端子15，全部的掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18被保持在OFF狀態。另外，亦從掃描線驅動用驅動器供給電壓Vgl於第2、第3掃描線用測試端子16、17，掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18之另一邊源、汲極的電位被保持於Vgl。
在此狀態下，從掃描線驅動用驅動器，介由掃描用輸出端子10及掃描用繞線8而依序供給電壓Vgh，並掃瞄各掃描線6。
另外，在實際驅動中，開關用薄膜電晶體5成為ON狀態的時間僅是一瞬間，大部分的時間是OFF狀態。因此，大部分的時間電壓Vgl被供給於非選擇狀態的掃描線6。其結果，介由第1掃描線用測試端子15而供給於掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18之閘極的電壓Vgl，與供給於非選擇狀態之掃描線6的電壓Vgl相同，能夠減低來自掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18的漏電流。
另外，介由第2、第3掃描線用測試端子16、17而供給於掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18之另一邊源極、汲極的電壓Vgl，係和介由與非選擇狀態之掃描線6連接的掃描用輸出端子10而供給於掃描線用靜電保護兼測試用薄膜薄膜電晶體18之一邊源、汲極的電壓Vgl相同，能夠減低來自掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18的漏電流。此外，供給於第2、第3掃描線用測試端子16、17的電壓可以是GND電位或者是未達GND電位的負電位。
另一方面，從資料線驅動用驅動器供給電壓Vgl於第1資料線用測試端子23，全部的資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27被保持在OFF狀態。另外，從資料線驅動用驅動器供給其基極電壓(作為LSI－GND)於第2~第4資料線用測試端子24~26，第2~第4資料線測試用繞線29~31的電位被保持在LSI－GND。
在此狀態下，從資料線驅動用驅動器，與掃描線6的掃描時序同步而輸出畫像資料，並介由資料用輸出端子13以及資料用繞線11，而供給於各資料線7。
在此情況下，全部的資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27被保持為OFF狀態時，資料線7彼此因高阻抗而被分離，能夠避免介由資料用輸出端子13而供給於資料線7的資料信號發生干涉，另外，能夠減低來自資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27的漏電流。
在此，如第5圖以及第6圖所示，第2、第3資料線測試用繞線29、30之構造為：上層繞線29b、30b的一端部介由接觸孔66、69而連接於下層繞線29a、30a，而接觸孔66、69的一部分被覆蓋膜49所覆蓋。然而，在接觸孔66、69之部分的覆蓋膜49上容易發生缺陷。
另一方面，因為接觸孔66、69之部分的覆蓋膜49上被資料線驅動用驅動器所覆蓋，所以在接觸孔66、69之部分的覆蓋膜49上有缺陷，而且在接觸孔66、69之部分的上層繞線29b、30b和資料線驅動用驅動器之間有電位差時，由於離子的移動，會成為在接觸孔66、69之部分的上層繞線29b、30b發生腐蝕的原因。
相對於此，從資料線驅動用驅動器供給電壓LSI－GND於第2~第4資料線用測試端子24~26，當第2~第4資料線測試用繞線29~31的電位被保持在LSI－GND時，因為在接觸孔66、69之部分的上層繞線29b、30b和資料線驅動用驅動器之間不會發生電位差，所以即使在接觸孔66、69之部分的覆蓋膜49上有缺陷，也能避免發生上述的繞線腐蝕。
此外，如第3圖所示，當在主動基板1上面設置第2掃描線用測試端子16時，第2掃描線測試用繞線20之構造必須是介由設在閘絕緣膜42上的接觸孔57，使設在主動基板1上面的下層繞線20a之一端部連接於設在閘絕緣膜42上面的下層繞線20a。因此，需要接觸孔57。接著說明的第2實施形態就不需要接觸孔57。
(第2實施形態)
第8圖係表示作為本發明之第2實施形態的液晶顯示裝置之掃描線驅動用驅動器搭載區域9的部分等效電路平面圖，第9圖係表示作為本發明之第2實施形態的液晶顯示裝置之與第3圖相同的截面圖。在此液晶顯示裝置中，首先，如第8圖所示，第2掃描線用測試端子16係配置在第1掃描線用測試端子15上側，第2掃描線測試用繞線20當中沿著列方向延伸的同通部分係被配置在掃描線驅動用驅動器搭載區域9上方側，亦即掃描用輸出端子10側。
此外，在第8圖中，掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18係以交錯狀(鋸齒狀)而配置，但這是為了在圖面上明確表示從左側數過來第偶數個掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18及其上側之第2掃描線測試用繞線20的一部分。因此，掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18係如第8圖所示，可以配置成交錯狀，但也可以如第1圖所示，配置在同一直線上較佳。
接著，如第9圖所示，第2掃描線用測試端子16係由設在閘絕緣膜42上面的鉻等之金屬層所組成，並介由設在覆蓋膜49上的接觸孔56而露出。然後，掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18之另一邊源、汲極19，係介由設在閘絕緣膜42上面的鉻所組成之第2掃描線測試用繞線20，而連接於第2掃描線用測試端子16。因此，不需要第3圖所示的接觸孔57。
此外，如第10圖所示，第2掃描線用測試端子16係配置在第1掃描線用測試端子15和第3掃描線用測試端子17之間，第2掃描線測試用繞線20係配置成通過第1掃描線用測試端子15左側，第2掃描線測試用繞線20中沿著列方向延伸的共同部分也可以在掃描線驅動用驅動器搭載區域9內，配置在掃描用輸出端子10上側。
(其他的實施形態)
在第1圖中，在掃描線驅動用驅動器搭載區域9中，將掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18區分成從左側數過來第奇數個和第偶數個，但如上述，這是為了能夠檢測出相互鄰接的掃描線6之間的短路不良。在不進行這種短路檢查的時候，也可以介由第3掃描線測試用繞線21，而將全部的掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18之另一邊源、汲極，連接於第3掃描線用測試端子17，而省略第2掃描線測試用繞線20以及第2掃描線用測試端子16。
在這種情況下，因為能將靜電侵入於某1個掃描線6時之放電目標分散設於剩下的所有掃描線6，所以能提升靜電耐受度。另外，因為變得不需要第3圖所示之接觸孔57，所以能避免發生這種接觸孔所引起的繞線腐蝕。
另外，在第1圖中，在資料線驅動用驅動器搭載區域12中，將資料線測試用薄膜電晶體27區分成用於紅色、綠色、藍色的各色顯示，但如同上述，這是為了能夠依照紅色、綠色、藍色的各顏色類別來進行檢查。在不進行這種各顏色類別的檢查時，或者是複數色的畫素電極介由開關用薄膜電晶體5而連接於1條資料線7的情況下，也可以介由第4資料線測試用繞線31，將全部的資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27之另一邊源、汲極連接於第4資料線用測試端子26，而省略第2、第3資料線測試用繞線29、30以及第2、第3資料線用測試端子24、25。
在這種情況下，因為能將靜電侵入於某1個資料線7時之放電目標分散設於剩下的所有資料線7，所以能提升靜電耐受度。另外，因為變得不需要第5圖以及第6圖所示之接觸孔66、69，所以能避免發生這種接觸孔引起的繞線腐蝕。在此情況下，在實際驅動中，供給於第4資料線用測試端子26的電壓除了LSI－GND電位以外，也可以是Vsig中心或者Vcom中心之電位。在實際驅動中，在將供給於第4資料線用測試端子26的電壓設為Vsig中心或者Vcom中心之電位的情況下，因為資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27的兩源、汲極之間的電位差小，所以能進一步減低漏電流。
另外，在第1圖中，將掃描線驅動用驅動器搭載區域9與資料線驅動用驅動器搭載區域12分離，但使掃描線驅動用驅動器和資料線驅動用驅動器成為單一晶片化者已在市場上販售，在使用這種單一晶片驅動器的情況下，也可以連續地形成掃描線驅動用驅動器搭載區域和資料線驅動用驅動器搭載區域。
另外，在第1圖中，將掃描線驅動用驅動器搭載區域9與資料線驅動用驅動器搭載區域12形成在主動基板1之一邊的突出部1a，但也能夠以主動基板之複數個邊作為突出部，來於各突出部上形成掃描線驅動用驅動器搭載區域和資料線驅動用驅動器搭載區域。
[發明的效果]
藉由申請專利範圍第1項記載的發明，因為在基板上的非顯示區域內設置掃描線用靜電保護兼測試用電路，所以不需要用於配置掃描線用靜電保護兼測試用電路之其專用的配置區域，能藉以縮小邊框面積。
藉由申請專利範圍第13項記載的發明，因為在基板上的非顯示區域內設置資料線用靜電保護兼測試用電路，所以不需要用於配置資料線用靜電保護兼測試用電路之其專用的配置區域，能藉以縮小邊框面積。
1．．．主動基板
2．．．對向基板
3．．．顯示區域
4、4R、4G、4B．．．畫素電極
5．．．開關用薄膜電晶體
6．．．掃描線
7．．．資料線
8．．．掃描用繞線
9．．．掃描線驅動用驅動器搭載區域
10．．．掃描用輸出端子
11．．．資料用繞線
12．．．資料線驅動用驅動器搭載區域
13．．．資料用輸出端子
14．．．掃描線用靜電保護兼測試用電路
15~17．．．第1~第3掃描線用測試端子
18．．．掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體
19~21．．．第1~第3掃描線測試用繞線
22．．．資料線用靜電保護兼測試用電路
23~26．．．第1~第4資料線用測試端子
27．．．資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體
28~31．．．第1~第4資料線測試用繞線
第1圖係作為本發明之第1實施形態的液晶顯示裝置之主要部分的等效電路平面圖。
第2圖係第1圖所示之開關用薄膜電晶體以及畫素電極的部分截面圖。
第3圖係第1圖所示之掃描線驅動用驅動器搭載區域內之從左側數過來第奇數個掃描用輸出端子以及與其連接之掃瞄線測試用薄膜電晶體等的部分截面圖。
第4圖係第1圖所示之掃描線驅動用驅動器搭載區域內之從左側數過來第偶數個掃描用輸出端子以及與其連接之掃瞄線測試用薄膜電晶體等的部分截面圖。
第5圖係第1圖所示之資料線驅動用驅動器搭載區域內之從左側數過來第(1＋3n)個資料用輸出端子以及與其連接之資料線測試用薄膜電晶體等的部分截面圖。
第6圖係第1圖所示之資料線驅動用驅動器搭載區域內之從左側數過來第(2＋3n)個資料用輸出端子以及與其連接之資料線測試用薄膜電晶體等的部分截面圖。
第7圖係第1圖所示之資料線驅動用驅動器搭載區域內之從左側數過來第(3＋3n)個資料用輸出端子以及與其連接之資料線測試用薄膜電晶體等的部分截面圖。
第8圖係作為本發明之第2實施形態的液晶顯示裝置之掃描線驅動用驅動器搭載區域的部分等效電路平面圖。
第9圖係作為本發明之第2實施形態的液晶顯示裝置之與第3圖相同的截面圖。
第10圖係用於說明第8圖所示之情況的變形例而表示之同樣的等效電路平面圖。
第11圖係從正面近側觀看第1圖所示之液晶顯示裝置的側面圖。
1．．．主動基板
2．．．對向基板
3．．．顯示區域
4、4R、4G、4B．．．畫素電極
5．．．開關用薄膜電晶體
6．．．掃描線
7．．．資料線
8．．．掃描用繞線
9．．．掃描線驅動用驅動器搭載區域
10．．．掃描用輸出端子
11．．．資料用繞線
12．．．資料線驅動用驅動器搭載區域
13．．．資料用輸出端子
14．．．掃描線用靜電保護兼測試用電路
15~17．．．第1~第3掃描線用測試端子
18．．．掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體
19~21．．．第1~第3掃描線測試用繞線
22．．．資料線用靜電保護兼測試用電路
23~26．．．第1~第4資料線用測試端子
27．．．資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體
28~31．．．第1~第4資料線測試用繞線

Claims (17)

  1. 一種顯示裝置，其特徵為具備：基板(1)，其具有顯示區域(3)和非顯示區域；複數個畫素電極(4,4R,4G,4B)，其排列在前述基板(1)上；複數個開關元件(5)，其連接於前述各畫素電極(4,4R,4G,4B)，且具有控制用電極和資料用電極；複數個掃描線(6)，其連接於前述各開關元件(5)的控制用電極，被供給使前述各開關元件(5)成為選擇狀態之第1電位或成為非選擇狀態之與前述第1電位不同之第2電位的掃描信號；複數個資料線(7)，其連接於前述各開關元件(5)上的資料用電極；以及掃描線用靜電保護兼測試電路(14)，其具備：靜電保護電路，其包含複數個保護元件，其連接於前述掃描線(6)，平常為非導通狀態，但會因產生之靜電而成為導通狀態；以及檢查電路，其透過前述各保護元件與前述各開關元件(5)來檢查前述各掃描線的導通狀態，而前述掃描線用靜電保護兼測試用電路(14)係設置在前述基板的前述非顯示區域內之搭載有輸出前述掃描信號之掃描線驅動用驅動器晶片的掃描線驅動用驅動器搭載區域(9)內， 前述掃描線用靜電保護兼測試用電路(14)係具有：複數個掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)，其作為前述複數個保護元件，源極及汲極中之一者連接於前述各掃描線；第1掃描線用測試端子(15)，其連接於前述各掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)之閘極；以及複數個其他掃描線用測試端子(16,17)，其連接於前述各掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)之源極及汲極中之另一者，前述各掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)係在檢查前述各掃描線的導通狀態時，依施加於前述第1掃描線用測試端子(15)及前述各其他掃描線用測試端子(16,17)的驅動電壓而被設定為導通狀態或非導通狀態中之任一者，在前述掃描線驅動用驅動器搭載區域(9)上搭載有前述掃描線驅動用驅動器，在前述顯示區域顯示影像資訊的實驅動中，於前述第1掃描線用測試端子(15)及其他掃描線用測試端子(16,17)，從前述掃描線驅動用驅動器，供給與前述掃描信號之前述第2電位等電位之電壓，前述各掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)被設定為非導通狀態。
  2. 如申請專利範圍第1項的顯示裝置，其中，在設置於前述基板(1)之前述掃描線驅動用驅動器搭載區域(9)內，設置連接有掃描線驅動用驅動器晶片的複數個掃描用輸出端子(10)以及複數個掃描用輸入端子(32)。
  3. 如申請專利範圍第1項的顯示裝置，其中，前述第1掃描線用測試端子(15)係透過第1掃描線測試用繞線(19)而連接於前述各掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)之前述閘極，該各其他掃描線用測試端子(16,17)係透過其他掃描線測試用繞線(20,21)而連接於前述各掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)之源極及汲極中的該另一者。
  4. 如申請專利範圍第3項的顯示裝置，其中，在前述掃描線驅動用驅動器搭載區域(9)內，設置連接有前述掃描線驅動用驅動器晶片的複數個掃描用輸出端子(10)以及複數個掃描用輸入端子(32)，前述掃描線(6)以及前述掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)之源極及汲極中之該一者係連接於設在前述掃描線驅動用驅動器搭載區域(9)內的前述掃描用輸出端子(10)。
  5. 如申請專利範圍第3項的顯示裝置，其中，前述其他掃瞄線測試用繞線(20、21)係由第2、第3掃描線測試用繞線(20、21)所組成，前述其他掃描線用測試端子(16、17)係由第2、第3掃描線用測試端子(16、17)所組成，從前述掃描線中一側數過來第奇數個掃描線(6)係透過與其對應之前述掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)以及前述第2掃描線測試用繞線(20)，而連接於前述第2掃描線用測試端子(16)， 從前述掃描線中一側數過來第偶數個掃描線(6)係透過與其對應之前述掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)以及前述第3掃描線測試用繞線(21)，而連接於前述第3掃描線用測試端子(17)。
  6. 如申請專利範圍第5項的顯示裝置，其中，前述第2、第3掃描線測試用繞線(20、21)係配置成避免在同一層上互相交叉。
  7. 如申請專利範圍第4項的顯示裝置，其中，所有前述掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)之另一邊的源極及汲極，係透過1個前述掃描線測試用繞線(21)而連接於1個前述掃描線用測試端子(17)。
  8. 如申請專利範圍第1項的顯示裝置，其中，在前述基板(1)上的前述非顯示區域中，設置資料線用靜電保護兼測試用電路(22)，其具備：靜電保護電路，其連接於前述資料線(7)，平常為OFF狀態，但會因產生之靜電而導通；以及檢查電路，其檢查前述資料線(7)之導通狀態以及前述畫素電極(4,4R,4G,4B)之點亮狀態。
  9. 如申請專利範圍第8項的顯示裝置，其中，設在前述基板(1)上的前述資料線用靜電保護兼測試用電路(22)，係設置在搭載有資料線驅動用驅動器的資料線驅動用驅動器區域(12)內。
  10. 如申請專利範圍第9項的顯示裝置，其中，在前述資料線驅動用驅動器區域(12)內，設置連接有資料線驅動用驅動器晶片的複數個資料用輸出端子(13)以及複數個資料用輸入端子(37)。
  11. 一種顯示裝置，其特徵為具備：基板(1)，其具有顯示區域(3)和非顯示區域；複數個畫素電極(4,4R,4G,4B)，其排列在前述基板(1)上；複數個開關元件(5)，其連接於前述各畫素電極(4,4R,4G,4B)，且具有控制用電極和資料用電極；複數個掃描線(6)，其連接於前述各開關元件(5)的控制用電極，被供給使前述各開關元件(5)成為選擇狀態之第1電位或成為非選擇狀態之與前述第1電位不同之第2電位的掃描信號；複數個資料線(7)，其連接於前述各開關元件(5)的資料用電極；以及資料線用靜電保護兼測試電路(22)，其具備：靜電保護電路，其包含複數個保護元件(27)，其連接於前述資料線(7)，平常為非導通狀態，但會因產生之靜電而成為導通狀態的；以及檢查電路，其透過前述各保護元件與前述各開關元件(5)來檢查前述各資料線(7)的導通狀態，而前述資料線用靜電保護兼測試用電路(22)係設置在前述基板(1)的前述非顯示區域內之搭載有資料線驅動用驅動器晶片的資料線驅動用驅動器搭載區域(12)內，前述資料線用靜電保護兼測試用電路(22)係具有：複數個資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)，其作為前述複數個保護元件，源極及汲極中之一者連接於前述各資料線；第1資料線用測試端子(23)，其連接於前述各 資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)之閘極；以及複數個其他資料線用測試端子(24~26)，其連接於前述各資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)之源極及汲極中之另一者，前述各資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)係在檢查前述各資料線的導通狀態時，依施加於前述第1資料線用測試端子(23)及前述各其他資料線用測試端子(24~26)的驅動電壓而被設定為導通狀態或非導通狀態中之任一者，在前述資料線驅動用驅動器搭載區域(12)上搭載有前述資料線驅動用驅動器，在前述顯示區域顯示影像資訊的實驅動中，於前述第1資料線用測試端子(23)及前述各其他資料線用測試端子(24~26)，從前述資料線驅動用驅動器，供給與前述掃描信號之前述第2電位等電位之電壓，前述各資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)被設定為非導通狀態。
  12. 如申請專利範圍第11項的顯示裝置，其中，在前述資料線驅動用驅動器搭載區域(12)內，設置連接有前述資料線驅動用驅動器晶片的複數個資料用輸出端子(13)以及複數個資料用輸入端子(37)。
  13. 如申請專利範圍第11項的顯示裝置，其中，前述第1資料線用測試端子(23)係透過第1資料線測試用繞線(28)而連接於前述各資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)之閘極， 該各其他資料線用測試端子(24~26)係透過其他資料線測試用繞線(29~31)而連接於前述各資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)之源極及汲極中的該另一者。
  14. 如申請專利範圍第13項的顯示裝置，其中，在前述資料線驅動用驅動器搭載區域(12)內，設置連接有資料線驅動用驅動器晶片的複數個資料用輸出端子(13)以及複數個資料用輸入端子(37)，前述資料線(7)以及前述資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)之源極及汲極中之該一者係連接於設在前述基板(1)上之前述資料線驅動用驅動器搭載區域(12)內的前述資料用輸出端子(13)。
  15. 如申請專利範圍第13項的顯示裝置，其中，前述其他資料線測試用繞線(29~31)係由第2~第4資料線測試用繞線(29~31)所組成，前述其他資料線用測試端子(24~26)係由第2~第4資料線用測試端子(24~26)所組成，前述資料線(7)中第1顏色顯示用的資料線(7)係透過與其對應之前述資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)以及前述第2資料線測試用繞線(29)，而連接於前述第2資料線用測試端子(24)，前述資料線(7)中第2顏色顯示用的資料線(7)係透過與其對應之前述資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)以及前述第3資料線測試用繞線(30)，而連接於前述第3資料線用測試端子(25)， 前述資料線(7)中第3顏色顯示用的資料線(7)係透過與其對應之前述資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)以及前述第4資料線測試用繞線(31)，而連接於前述第4資料線用測試端子(26)。
  16. 如申請專利範圍第13項的顯示裝置，其中，所有前述資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)之另一邊的源極及汲極，係透過1個前述資料線測試用繞線(31)而連接於1個前述資料線用測試端子(26)。
  17. 一種顯示裝置，其特徵為具備：基板(1)，其具有顯示區域(3)、和在前述顯示區域(3)外部配置的掃描線驅動用驅動器搭載區域(9)以及資料線驅動用驅動器搭載區域(12)；複數個畫素電極(4,4R,4G,4B)，其在前述基板(1)上排列成複數行×複數列；複數個開關用薄膜電晶體(5)，其連接於前述各畫素電極(4,4R,4G,4B)，且具有閘極和源極及汲極；複數列的掃描線(6)，其連接於前述各開關用薄膜電晶體(5)的閘極，被供給使前述各開關元件(5)成為選擇狀態之第1電位或成為非選擇狀態之與前述第1電位不同之第2電位的掃描信號；複數行的資料線(7)，其連接於前述各開關用薄膜電晶體(5)的源極及汲極；掃描線用靜電保護兼測試用電路(14)，其包含：複數個掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)，其源極及 汲極中之一者連接於前述各掃描線(6)；第1掃描線用測試端子(15)，其連接於前述各掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)的閘極；以及複數個其他掃描線用測試端子(16,17)，其透過複數個繞線(20,21)而連接於前述各掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)之源極及汲極中的另一者；以及資料線用靜電保護兼測試用電路(22)，其包含：複數個資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)，其源極及汲極中之一者連接於前述各資料線(7)；第1資料線用測試端子(23)，其連接於前述各資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)的閘極；以及複數個其他資料線用測試端子(24~26)，其透過複數個繞線(29,30)而連接於前述各資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)之源極及汲極中的另一者，前述掃描線用靜電保護兼測試用電路(14)係設置在前述掃描線驅動用驅動器搭載區域(9)內，前述掃描線用靜電保護兼測試用電路(22)係設置於前述資料線驅動用驅動器搭載區域(12)，前述各掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)係平常為非導通狀態，但會因產生之靜電而成為導通狀態，在檢查前述各掃描線之導通狀態時，依施加於前述第1掃描線用測試端子(15)及前述各其他掃描線用測試端子(16,17)的驅動電壓而被設定為導通狀態或非導通狀態中之任一者， 在前述掃描線驅動用驅動器搭載區域(9)上搭載有前述掃描線驅動用驅動器，在前述顯示區域顯示影像資訊的實驅動中，於前述第1掃描線用測試端子(15)及其他掃描線用測試端子(16,17)，從前述掃描線驅動用驅動器，供給與前述掃描信號之前述第2電位等電位之電壓，前述各掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(18)被設定為非導通狀態，前述各資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)係平常為非導通狀態，但會因產生之靜電而成為導通狀態，在檢查前述各掃描線之導通狀態時，依施加於前述第1資料線用測試端子(23)及前述各其他資料線用測試端子(24-26)的驅動電壓而被設定為導通狀態或非導通狀態中之任一者，在前述資料線驅動用驅動器搭載區域(12)上搭載有前述資料線驅動用驅動器，在前述顯示區域顯示前述影像資訊的實驅動中，於前述第1資料線用測試端子(23)及前述各其他資料線用測試端子(24~26)，從前述資料線驅動用驅動器，供給與前述掃描信號之前述第2電位等電位之電壓，前述各資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體(27)被設定為非導通狀態。
TW096144016A 2006-11-22 2007-11-21 液晶顯示裝置 TWI385453B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006315152A JP5140999B2 (ja) 2006-11-22 2006-11-22 液晶表示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200832028A TW200832028A (en) 2008-08-01
TWI385453B true TWI385453B (zh) 2013-02-11

Family

ID=39416560

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW096144016A TWI385453B (zh) 2006-11-22 2007-11-21 液晶顯示裝置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8063865B2 (zh)
JP (1) JP5140999B2 (zh)
KR (1) KR100867307B1 (zh)
CN (1) CN101221330B (zh)
TW (1) TWI385453B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9947251B2 (en) 2015-04-01 2018-04-17 Chunghwa Picture Tubes, Ltd. Active device array substrate

Families Citing this family (59)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101458910B1 (ko) 2008-03-28 2014-11-10 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
TWI370310B (en) * 2008-07-16 2012-08-11 Au Optronics Corp Array substrate and display panel thereof
CN101630072B (zh) * 2008-07-18 2012-01-11 群康科技(深圳)有限公司 液晶显示面板
KR101592013B1 (ko) 2008-10-13 2016-02-05 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법
TWI393946B (zh) * 2009-05-21 2013-04-21 Au Optronics Corp 顯示裝置
JP5433309B2 (ja) * 2009-06-03 2014-03-05 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
JP5029670B2 (ja) * 2009-09-28 2012-09-19 カシオ計算機株式会社 表示装置
JP5585102B2 (ja) * 2010-02-01 2014-09-10 カシオ計算機株式会社 アクティブマトリクス型表示パネル用基板とこれを用いた液晶表示パネル
KR101113476B1 (ko) * 2010-03-10 2012-03-02 삼성모바일디스플레이주식회사 액정표시장치
CN102455553B (zh) * 2010-10-22 2016-05-04 京东方科技集团股份有限公司 Tft-lcd、阵列基板及其制造方法
TWI431388B (zh) * 2010-12-15 2014-03-21 E Ink Holdings Inc 顯示裝置結構、電泳顯示器之顯示面板結構，以及顯示裝置製造方法
CN102540525B (zh) * 2010-12-30 2015-02-25 上海天马微电子有限公司 一种液晶显示装置
CN102692774A (zh) * 2012-05-23 2012-09-26 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板
CN103294251B (zh) * 2012-09-25 2016-05-18 上海天马微电子有限公司 一种触摸屏的esd保护装置
US9520715B2 (en) 2012-09-25 2016-12-13 Shanghai Tianma Micro-electronics Co., Ltd. ESD protection device of touch panel
WO2014073483A1 (ja) * 2012-11-08 2014-05-15 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板、及びこれを用いた表示装置
CN104769657B (zh) * 2012-11-08 2017-03-22 夏普株式会社 有源矩阵基板和显示装置
CN103871354B (zh) * 2012-12-17 2016-03-02 上海中航光电子有限公司 一种用于显示器的切换装置、显示器
CN103018991B (zh) 2012-12-24 2015-01-28 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其制造方法、显示装置
JP2014149429A (ja) * 2013-02-01 2014-08-21 Japan Display Inc 液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法
JP6173705B2 (ja) 2013-02-07 2017-08-02 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
CN103345914B (zh) * 2013-07-19 2016-04-13 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于显示面板的检测电路
KR102105369B1 (ko) * 2013-09-25 2020-04-29 삼성디스플레이 주식회사 표시 기판용 모기판, 이의 어레이 검사 방법 및 표시 기판
CN103926717B (zh) * 2013-12-31 2016-09-14 上海中航光电子有限公司 显示面板的检测电路、显示面板及其检测方法
CN103913863B (zh) * 2014-03-18 2016-08-17 京东方科技集团股份有限公司 显示面板检测结构、显示面板及显示装置
CN103871341A (zh) * 2014-03-19 2014-06-18 深圳市华星光电技术有限公司 一种测试电路及显示面板
CN104021747A (zh) 2014-05-23 2014-09-03 京东方科技集团股份有限公司 面板功能测试电路、显示面板及功能测试、静电防护方法
CN104280970B (zh) 2014-11-06 2017-12-22 上海天马微电子有限公司 阵列基板及液晶显示面板
CN104732947B (zh) * 2015-04-16 2017-02-22 京东方科技集团股份有限公司 一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置
TWI588694B (zh) * 2015-06-12 2017-06-21 群創光電股份有限公司 觸控顯示裝置
KR102412456B1 (ko) * 2015-08-26 2022-06-27 엘지디스플레이 주식회사 표시장치
CN105261317B (zh) * 2015-09-17 2018-05-29 京东方科技集团股份有限公司 数据线短接不良的检测方法和检测装置
CN105425492B (zh) * 2016-01-06 2018-12-11 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其制备方法
KR102409881B1 (ko) * 2016-03-21 2022-06-17 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 쇼트 검사 방법
CN105789220B (zh) * 2016-03-24 2019-05-14 京东方科技集团股份有限公司 一种双栅线阵列基板、测试方法、显示面板和显示装置
CN109690661B (zh) * 2016-09-02 2021-01-01 夏普株式会社 有源矩阵基板和具备有源矩阵基板的显示装置
CN106444107B (zh) * 2016-10-27 2019-08-20 武汉华星光电技术有限公司 一种液晶盒测试电路、显示面板和装置
CN106601162B (zh) * 2016-12-23 2019-09-24 上海天马有机发光显示技术有限公司 显示面板及包含其的显示装置
KR102628756B1 (ko) * 2016-12-27 2024-01-24 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 및 표시 패널 크랙 검출 방법
CN106611089B (zh) * 2016-12-28 2019-11-19 北京华大九天软件有限公司 一种平行端口之间奇偶相间等电阻布线方法
CN106842749B (zh) * 2017-03-29 2019-11-15 武汉华星光电技术有限公司 液晶显示面板及液晶显示装置
CN107315293B (zh) * 2017-05-22 2020-08-11 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其制造方法、显示装置
JP7159536B2 (ja) * 2017-05-30 2022-10-25 凸版印刷株式会社 液晶表示装置
CN107402674B (zh) * 2017-07-28 2020-06-26 上海天马微电子有限公司 压力触控检测电路、方法和显示面板
WO2019064342A1 (ja) * 2017-09-26 2019-04-04 シャープ株式会社 表示デバイス、表示デバイスの製造方法、表示デバイスの製造装置
US10777107B2 (en) 2017-10-31 2020-09-15 Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Array substrate, testing method and display apparatus
CN107578735A (zh) * 2017-10-31 2018-01-12 武汉华星光电技术有限公司 一种阵列基板、测试方法及显示装置
CN108766373B (zh) * 2018-05-08 2020-11-24 昆山龙腾光电股份有限公司 一种检测电路和液晶显示装置
CN108807492B (zh) * 2018-06-29 2021-12-28 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其制作方法、检测方法和显示装置
CN109584802B (zh) * 2019-01-04 2021-09-21 京东方科技集团股份有限公司 一种驱动电路及其工作方法、显示装置
CN109841535B (zh) * 2019-01-31 2022-04-15 合肥鑫晟光电科技有限公司 阵列基板及其制备方法、显示面板、显示装置
CN110111738B (zh) 2019-05-31 2022-02-22 京东方科技集团股份有限公司 像素电路、显示基板、显示装置及驱动方法
CN113196159B (zh) * 2019-11-29 2023-07-14 京东方科技集团股份有限公司 显示基板和显示装置
CN111505854B (zh) * 2020-04-29 2023-07-11 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及显示装置
CN111489662B (zh) * 2020-05-15 2022-06-10 武汉华星光电技术有限公司 一种驱动基板、显示面板、显示屏及电子设备
CN111638617A (zh) * 2020-06-05 2020-09-08 武汉华星光电技术有限公司 一种静电防护线路、静电防护线路制程方法及显示面板
CN115956220A (zh) * 2021-07-20 2023-04-11 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、显示面板和测试阵列基板的方法
CN113690153B (zh) * 2021-08-10 2023-10-31 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 防止esd破坏tft的方法、tft的制备方法
CN115113446B (zh) * 2022-06-13 2023-08-08 武汉华星光电技术有限公司 显示模组、驱动方法及显示装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6025891A (en) * 1996-11-29 2000-02-15 Lg Electronics Inc. Liquid crystal display device
US6882397B2 (en) * 2002-09-10 2005-04-19 Hitachi Displays, Ltd. Liquid crystal display device

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2792634B2 (ja) * 1991-06-28 1998-09-03 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板の検査方法
JP3247799B2 (ja) * 1994-06-09 2002-01-21 シャープ株式会社 液晶表示パネルおよびその検査方法
JPH09329796A (ja) * 1996-06-10 1997-12-22 Hitachi Ltd 液晶表示基板
US5973658A (en) 1996-12-10 1999-10-26 Lg Electronics, Inc. Liquid crystal display panel having a static electricity prevention circuit and a method of operating the same
JP3667548B2 (ja) * 1998-03-27 2005-07-06 シャープ株式会社 アクティブマトリクス型液晶表示パネル及びその検査方法
JP3087730B2 (ja) * 1998-08-07 2000-09-11 株式会社日立製作所 液晶表示装置の製造方法
JP3718355B2 (ja) * 1998-11-26 2005-11-24 株式会社 日立ディスプレイズ 液晶表示装置
JP4141696B2 (ja) * 2002-01-31 2008-08-27 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 画像表示パネルとその製造方法、画像表示装置
KR100956345B1 (ko) * 2003-07-02 2010-05-06 삼성전자주식회사 박막 트랜지스터 표시판
JP4385691B2 (ja) 2003-09-12 2009-12-16 カシオ計算機株式会社 表示パネルの静電気保護構造及び液晶表示パネル
JP2005115049A (ja) * 2003-10-08 2005-04-28 Sharp Corp アクティブマトリクス基板
JP4547957B2 (ja) 2004-03-24 2010-09-22 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置および電子機器

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6025891A (en) * 1996-11-29 2000-02-15 Lg Electronics Inc. Liquid crystal display device
US6882397B2 (en) * 2002-09-10 2005-04-19 Hitachi Displays, Ltd. Liquid crystal display device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9947251B2 (en) 2015-04-01 2018-04-17 Chunghwa Picture Tubes, Ltd. Active device array substrate

Also Published As

Publication number Publication date
JP5140999B2 (ja) 2013-02-13
JP2008129374A (ja) 2008-06-05
US8063865B2 (en) 2011-11-22
CN101221330B (zh) 2012-11-14
US20080117345A1 (en) 2008-05-22
TW200832028A (en) 2008-08-01
KR20080046603A (ko) 2008-05-27
CN101221330A (zh) 2008-07-16
KR100867307B1 (ko) 2008-11-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI385453B (zh) 液晶顯示裝置
US7724314B2 (en) Method for repairing a short in a substrate for a display and display repaired according to that method
US5657139A (en) Array substrate for a flat-display device including surge protection circuits and short circuit line or lines
KR100298995B1 (ko) 액정 표시 장치 및 그 검사 방법
EP2275861B1 (en) Active matrix substrate, display device, method for inspecting active matrix substrate, and method for inspecting display device
US7675600B2 (en) Liquid crystal display panel and liquid crystal display apparatus having the same
US9097921B2 (en) Active matrix display device
JPH08101397A (ja) 薄膜トランジスタ型液晶表示装置とその製造方法
JP4886278B2 (ja) 表示装置
US9405162B2 (en) Active matrix display device with auxiliary repair line
US11966132B2 (en) Display device
US20040125332A1 (en) Open gate line repair in an LCD
JP4252528B2 (ja) アクティブマトリクス型液晶表示パネル及びその検査方法
JP2002098999A (ja) 液晶表示装置
JP2008065152A (ja) 液晶表示パネル、検査装置、および検査方法
JP4891676B2 (ja) 表示装置
JPWO2004109628A1 (ja) アレイ基板の検査方法
JPH08152652A (ja) フラットパネル表示装置用アレイ基板
JP3273905B2 (ja) 液晶表示装置のアクティブマトリクス基板及びその検査方法
KR20160090971A (ko) 표시장치용 표시패널 및 표시패널 검사 방법
JP2006227291A (ja) 表示装置
JPH11119246A (ja) 液晶表示装置の製造方法
US11482144B2 (en) Display device including coupling arrangement of switches and driver terminals
US11971637B2 (en) Display device and method of inspection
JPH079521B2 (ja) 点欠陥の検出及び補修の可能なアクティブマトリクス基板の製造方法