JP2650357B2 - 光学情報記録部材の記録方法 - Google Patents
光学情報記録部材の記録方法Info
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- JP2650357B2 JP2650357B2 JP63248113A JP24811388A JP2650357B2 JP 2650357 B2 JP2650357 B2 JP 2650357B2 JP 63248113 A JP63248113 A JP 63248113A JP 24811388 A JP24811388 A JP 24811388A JP 2650357 B2 JP2650357 B2 JP 2650357B2
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、レーザー光等を用いて回転する光ディスク
上に、情報を記録、消去するための光学情報記録部材の
記録方法に関するものである。
上に、情報を記録、消去するための光学情報記録部材の
記録方法に関するものである。
従来の技術 レーザー光を利用して情報の記録・再生を行う技術は
既に公知であり、現在、文書フィイル、データフィイル
へと応用が盛んに行われている。また、消去機能を持つ
書換え可能な記録システムについても研究開発の事例が
報告されつつある。
既に公知であり、現在、文書フィイル、データフィイル
へと応用が盛んに行われている。また、消去機能を持つ
書換え可能な記録システムについても研究開発の事例が
報告されつつある。
この中の一つの方式に、アモルファス−結晶間、ある
いは結晶−結晶間の可逆的な状態変化を利用した、いわ
ゆる相変化型光ディスクがある。これに用いる記録薄膜
は、レーザー光による加熱と冷却条件により、アモルフ
ァス状態または結晶状態をとりかつ二つの状態が可逆的
に変化するという特徴をもつ。アモルファス状態と結晶
状態では、屈折率ｎと消衰係数ｋからなる複素屈折率が
異なり、この結果生じる透過率または反射率の差を利用
して信号の記録を行う。
いは結晶−結晶間の可逆的な状態変化を利用した、いわ
ゆる相変化型光ディスクがある。これに用いる記録薄膜
は、レーザー光による加熱と冷却条件により、アモルフ
ァス状態または結晶状態をとりかつ二つの状態が可逆的
に変化するという特徴をもつ。アモルファス状態と結晶
状態では、屈折率ｎと消衰係数ｋからなる複素屈折率が
異なり、この結果生じる透過率または反射率の差を利用
して信号の記録を行う。
これらを実現するため、記録パワーPwと消去パワーPe
（Pw＞Pe）の二つのパワーレベル間で変調したレーザー
光を記録媒体上に照射する方法がある（特開昭56−1455
30号公報）。即ち、信号に応じて強度変調したレーザー
光を記録材料上に照射すると、照射部は以前の状態がア
モルファスあるいは結晶のいずれかであっても、記録パ
ワーPwが照射された部分はアモルファス状態となり、消
去パワーPeが照射された部分は結晶状態となる。この結
果、一つのスポットで重ね書き（オーバーライト）が可
能となる。ここでは、アモルファス−結晶間の状態変化
について述べたが、結晶−結晶間の状態変化において
も、前述のアモルファス状態を準安定の結晶状態とする
ことで同等の特性が得られる。
（Pw＞Pe）の二つのパワーレベル間で変調したレーザー
光を記録媒体上に照射する方法がある（特開昭56−1455
30号公報）。即ち、信号に応じて強度変調したレーザー
光を記録材料上に照射すると、照射部は以前の状態がア
モルファスあるいは結晶のいずれかであっても、記録パ
ワーPwが照射された部分はアモルファス状態となり、消
去パワーPeが照射された部分は結晶状態となる。この結
果、一つのスポットで重ね書き（オーバーライト）が可
能となる。ここでは、アモルファス−結晶間の状態変化
について述べたが、結晶−結晶間の状態変化において
も、前述のアモルファス状態を準安定の結晶状態とする
ことで同等の特性が得られる。
その他の方法として光磁気記録という方法がある。原
理は、厚さ方向に異方性を持つ磁性薄膜にレーザー光を
照射すると、その磁化方向によって反射する光の偏向量
が異なる（カー効果）。この偏向量の差を検出すること
によって、信号の再生を行う方法である。
理は、厚さ方向に異方性を持つ磁性薄膜にレーザー光を
照射すると、その磁化方向によって反射する光の偏向量
が異なる（カー効果）。この偏向量の差を検出すること
によって、信号の再生を行う方法である。
これらを実現するために、磁性薄膜をあらかじめ一定
の方向に磁化させておき、次に外部から前記磁化方向と
は逆方向の磁界を印加し、同時に記録したい信号に応じ
て記録パワーPwとゼロの間でパワー変調させたレーザー
光を照射する。記録パワーPwの光が照射された部分の磁
性薄膜は、温度がキューリー温度を超え磁化方向が反転
する。この結果は、信号に応じた磁化の反転パターンが
磁性薄膜上に記録される。消去する場合は、外部から磁
界を印加したままで記録パワーPwと同等のレーザー光を
連続的に照射する。
の方向に磁化させておき、次に外部から前記磁化方向と
は逆方向の磁界を印加し、同時に記録したい信号に応じ
て記録パワーPwとゼロの間でパワー変調させたレーザー
光を照射する。記録パワーPwの光が照射された部分の磁
性薄膜は、温度がキューリー温度を超え磁化方向が反転
する。この結果は、信号に応じた磁化の反転パターンが
磁性薄膜上に記録される。消去する場合は、外部から磁
界を印加したままで記録パワーPwと同等のレーザー光を
連続的に照射する。
発明が解決しようとする課題 二つのパワーレベルの間で変調されたレーザー光の照
射により、光ディスク上に記録が行われる。しかし、多
数回信号の記録消去の繰り返しを行った場合、記録媒体
が熱履歴により徐々に劣化し、その結果再生信号の振幅
が減少するという傾向がある。特に、一定のパターンの
信号を記録媒体上の同一箇所に繰り返し記録した後で、
異なるパターンの信号を記録すると、信号の振幅に歪み
が生じ、信号を復調する過程でデータの読み取り誤差
（ビットエラー）を生じるという問題があった。このビ
ットエラーを生じる繰り返し回数は、異なる信号を繰り
返し、記録した場合に比べ著しく小さい回数となる。
射により、光ディスク上に記録が行われる。しかし、多
数回信号の記録消去の繰り返しを行った場合、記録媒体
が熱履歴により徐々に劣化し、その結果再生信号の振幅
が減少するという傾向がある。特に、一定のパターンの
信号を記録媒体上の同一箇所に繰り返し記録した後で、
異なるパターンの信号を記録すると、信号の振幅に歪み
が生じ、信号を復調する過程でデータの読み取り誤差
（ビットエラー）を生じるという問題があった。このビ
ットエラーを生じる繰り返し回数は、異なる信号を繰り
返し、記録した場合に比べ著しく小さい回数となる。
この現象は、同一パターン信号の記録を繰り返し行っ
た場合の記録媒体上の各点を比較した時強いレーザー光
が集中する部分と、弱いレーザー光だけが照射される部
分とが生じる。このため、光ディスクのトラック方向で
繰り返し回数の異なる部分が混在したような状態とな
り、その上に異なるパターンの信号を記録した場合、記
録部が以前にどのようなレーザー光照射を受けてきたか
によって、記録した信号の再生振幅の差を生じるためと
考えられる。即ち強いレーザー照射が集中していた部分
の再生振巾は小さく、反対に弱いレーザー光だけが照射
されていた部分の再生振巾は初期と同等となる。このよ
うな振幅の差が、データ信号を復調する際にピークシフ
トや信号の欠落を生じ、ビットエラーとなると考えられ
る。実際の記録において、まったく同一の信号を繰り返
し記録することは考えにくい。しかしデータ信号の場
合、データ値そのものが変化したとしても、データとデ
ータの間、またクロック信号部等は同一パターンの信号
となる場合がある。本発明はかかる点に鑑みて、レーザ
ー光の照射条件を改良することにより、記録消去の繰り
返し回数を向上させる方法を提供することを目的とす
る。
た場合の記録媒体上の各点を比較した時強いレーザー光
が集中する部分と、弱いレーザー光だけが照射される部
分とが生じる。このため、光ディスクのトラック方向で
繰り返し回数の異なる部分が混在したような状態とな
り、その上に異なるパターンの信号を記録した場合、記
録部が以前にどのようなレーザー光照射を受けてきたか
によって、記録した信号の再生振幅の差を生じるためと
考えられる。即ち強いレーザー照射が集中していた部分
の再生振巾は小さく、反対に弱いレーザー光だけが照射
されていた部分の再生振巾は初期と同等となる。このよ
うな振幅の差が、データ信号を復調する際にピークシフ
トや信号の欠落を生じ、ビットエラーとなると考えられ
る。実際の記録において、まったく同一の信号を繰り返
し記録することは考えにくい。しかしデータ信号の場
合、データ値そのものが変化したとしても、データとデ
ータの間、またクロック信号部等は同一パターンの信号
となる場合がある。本発明はかかる点に鑑みて、レーザ
ー光の照射条件を改良することにより、記録消去の繰り
返し回数を向上させる方法を提供することを目的とす
る。
課題を解決するための手段 光学的に識別可能な二つ以上の状態を持つ光学情報記
録部材上に信号を記録する、または古い信号を消去しな
がら新しい信号を記録する方法であって、前記記録部材
上のフォーマット信号を基に基準ゲート信号を生成する
記録ゲート発生手段と、前記基準ゲート信号を複数種類
の遅延時間幅で遅延する遅延手段と、前記遅延手段の遅
延時間幅の種類をランダムに選択する選択手段とを用
い、前記情報層での記録開始位置を繰返し記録ごとに変
化させ、前記情報信号を前記記録媒体上に記録する際
に、前記遅延時間幅が前記情報信号のクロックに同期
し、前記クロックの周期に基づいた刻みである。
録部材上に信号を記録する、または古い信号を消去しな
がら新しい信号を記録する方法であって、前記記録部材
上のフォーマット信号を基に基準ゲート信号を生成する
記録ゲート発生手段と、前記基準ゲート信号を複数種類
の遅延時間幅で遅延する遅延手段と、前記遅延手段の遅
延時間幅の種類をランダムに選択する選択手段とを用
い、前記情報層での記録開始位置を繰返し記録ごとに変
化させ、前記情報信号を前記記録媒体上に記録する際
に、前記遅延時間幅が前記情報信号のクロックに同期
し、前記クロックの周期に基づいた刻みである。
作用 本発明によるレーザーの駆動信号の始点と、光学情報
記録部材の相対的な位置関係を、繰り返し記録ごとに変
化させることで、同一パターンの信号の記録消去を繰り
返し行った場合においても、記録媒体上では異なる位置
に記録マークが形成される。このため、記録媒体上の各
点は、平均的な熱履歴となり、局部的な振幅の歪みを解
消することができる。従って記録媒体の繰り返し寿命が
向上する。
記録部材の相対的な位置関係を、繰り返し記録ごとに変
化させることで、同一パターンの信号の記録消去を繰り
返し行った場合においても、記録媒体上では異なる位置
に記録マークが形成される。このため、記録媒体上の各
点は、平均的な熱履歴となり、局部的な振幅の歪みを解
消することができる。従って記録媒体の繰り返し寿命が
向上する。
実施例 以下本発明の一実施例の光学情報記録部材の記録方法
について、図面を参照しながら説明する。
について、図面を参照しながら説明する。
第１図ａは光ディスクから発生するフォーマット信号
を示し、ｂ〜ｋは、本発明の実証するために用いた記録
信号のタイミングチャートを示す。ｂは記録を行おうと
する信号の基準ゲートを示し、記録するデータ信号を、
光ディスクのフォーマット信号ａに同期させることによ
り得られる。また、ｃは記録するデータ信号から形成さ
れるクロック信号である。このようにクロック信号を記
録するデータ信号に基づいて形成することにより、回路
構成を簡素化できる。ｄ〜ｋは基準ゲートｂから一定の
時間遅れを持つ記録ゲート信号であり、ｄはITの場合、
ｅは2Tの場合、ｆは3Tの場合、ｋは8Tの場合を示す。こ
のように、1Tの間隔で合計８種類のパターンのゲートを
設ける。従来は、このｂゲートだけを用いて記録を行っ
てきた。本発明による方法では、この記録ゲートを１パ
ターンだけでなく信号の記録する際に、基準ゲートｂに
対し遅延時間の異なる複数のゲートの中の１つを選択す
ることにより行う。即ち、このようなゲートの遅延時間
を変化させることは、記録に用いるレーザーの駆動信号
と、光ディスクの相対的な位置を変化させたことに相当
する。この方法によると、毎回同じパターンの信号を繰
り返し同一のトラックに記録したとしても、実際の光デ
ィスク上では毎回微少に異なる位置にマークが形成され
る。この結果、繰り返し記録したトラック上の各点は、
ほぼ等しいレーザー光の照射を受け、一様な熱履歴とな
る。このため、繰り返しにより振幅が低下した場合にお
いても、隣り合うマークから再生される信号の振幅が同
等であるために再生波形のピークシフトや信号の欠落が
生じにくく、ビットエラーとはならない。
を示し、ｂ〜ｋは、本発明の実証するために用いた記録
信号のタイミングチャートを示す。ｂは記録を行おうと
する信号の基準ゲートを示し、記録するデータ信号を、
光ディスクのフォーマット信号ａに同期させることによ
り得られる。また、ｃは記録するデータ信号から形成さ
れるクロック信号である。このようにクロック信号を記
録するデータ信号に基づいて形成することにより、回路
構成を簡素化できる。ｄ〜ｋは基準ゲートｂから一定の
時間遅れを持つ記録ゲート信号であり、ｄはITの場合、
ｅは2Tの場合、ｆは3Tの場合、ｋは8Tの場合を示す。こ
のように、1Tの間隔で合計８種類のパターンのゲートを
設ける。従来は、このｂゲートだけを用いて記録を行っ
てきた。本発明による方法では、この記録ゲートを１パ
ターンだけでなく信号の記録する際に、基準ゲートｂに
対し遅延時間の異なる複数のゲートの中の１つを選択す
ることにより行う。即ち、このようなゲートの遅延時間
を変化させることは、記録に用いるレーザーの駆動信号
と、光ディスクの相対的な位置を変化させたことに相当
する。この方法によると、毎回同じパターンの信号を繰
り返し同一のトラックに記録したとしても、実際の光デ
ィスク上では毎回微少に異なる位置にマークが形成され
る。この結果、繰り返し記録したトラック上の各点は、
ほぼ等しいレーザー光の照射を受け、一様な熱履歴とな
る。このため、繰り返しにより振幅が低下した場合にお
いても、隣り合うマークから再生される信号の振幅が同
等であるために再生波形のピークシフトや信号の欠落が
生じにくく、ビットエラーとはならない。
第２図は本方式を用いた光ディスク記録装置の一例を
示す構成図である。本装置は、回転する光ディスクＡ、
レーザー光を光ディスクＡ上に集光するための光学系
Ｂ、レーザー光の変調を行うための情報記録部Ｃ、光デ
ィスクＡから情報を再生しかつ光スポットの制御を行う
ための再生制御部Ｅから構成される。
示す構成図である。本装置は、回転する光ディスクＡ、
レーザー光を光ディスクＡ上に集光するための光学系
Ｂ、レーザー光の変調を行うための情報記録部Ｃ、光デ
ィスクＡから情報を再生しかつ光スポットの制御を行う
ための再生制御部Ｅから構成される。
光ディスクＡは、基板１と、基板１上の記録薄膜２か
ら構成されている。基板１としては、ポリメチルメタア
クリレート（PMMA）やポリカーボネート（PC）等の樹脂
やガラスが使用できる。
ら構成されている。基板１としては、ポリメチルメタア
クリレート（PMMA）やポリカーボネート（PC）等の樹脂
やガラスが使用できる。
光照射による相変化を利用して信号を記録する記録材
料３には、アモルファス−結晶の相変化では、GeTe、Ge
Sb2Te4、Ge2Sb2T5、InSe系、InSeTlCo系、GeSnTeAu系、
GeSbTeSe系、SeSnTeO系、SeTeS系等を用いることができ
る。また結晶−結晶間の相変化材料としてはInSb系、Ag
Zn系等を用いることができる。光磁気記録用の記録材料
には、TbFeCO,GdTbFeなどがある。
料３には、アモルファス−結晶の相変化では、GeTe、Ge
Sb2Te4、Ge2Sb2T5、InSe系、InSeTlCo系、GeSnTeAu系、
GeSbTeSe系、SeSnTeO系、SeTeS系等を用いることができ
る。また結晶−結晶間の相変化材料としてはInSb系、Ag
Zn系等を用いることができる。光磁気記録用の記録材料
には、TbFeCO,GdTbFeなどがある。
光ディスクに記録するためのデータ信号は、情報記録
部Ｃに導かれて、最初にバッファメモリ３に一時記憶さ
れる。バッファメモリ３のデータは記録ゲート発生部４
が出力するゲート信号に同期して読み出され、変調回路
５によって例えば２−７変調される。この変調回路３は
前記記録データの２−７変調を行うだけでなく、一定の
フォーマットに従ってセクター信号、同期信号、頭出し
信号等を発生して前記変調データに挿入している。駆動
回路６は前記記録ゲート発生部４からの書き込みゲート
に同期して前記２−７変調データに対応した波形のパル
スを発生する。なお、前記記録ゲート発生部４からのゲ
ート信号は、ゲート遅延回路７によりランダムな時間遅
れを生じるようになっている。
部Ｃに導かれて、最初にバッファメモリ３に一時記憶さ
れる。バッファメモリ３のデータは記録ゲート発生部４
が出力するゲート信号に同期して読み出され、変調回路
５によって例えば２−７変調される。この変調回路３は
前記記録データの２−７変調を行うだけでなく、一定の
フォーマットに従ってセクター信号、同期信号、頭出し
信号等を発生して前記変調データに挿入している。駆動
回路６は前記記録ゲート発生部４からの書き込みゲート
に同期して前記２−７変調データに対応した波形のパル
スを発生する。なお、前記記録ゲート発生部４からのゲ
ート信号は、ゲート遅延回路７によりランダムな時間遅
れを生じるようになっている。
光学系Ｂは、光源として波長780nmの半導体レーザー
８を用いた。半導体レーザー８の光はコリメータレンズ
９により平行光となり、偏向ビームスプリッター10、1/
4波長板11を透過し、対物レンズ12でもって光ディスク
Ａの記録薄膜２上に波長限界である１μｍの大きさのス
ポット径に集光される。また、記録薄膜２からの反射光
は、再び対物レンズ12、1/4波長板11を経て、偏向ビー
ムスプリッター10によって反射され、光検出器13上によ
り受光される。光検出器13により光電変換された信号
は、再生制御部Ｅのプリアンプ14により増幅される。
８を用いた。半導体レーザー８の光はコリメータレンズ
９により平行光となり、偏向ビームスプリッター10、1/
4波長板11を透過し、対物レンズ12でもって光ディスク
Ａの記録薄膜２上に波長限界である１μｍの大きさのス
ポット径に集光される。また、記録薄膜２からの反射光
は、再び対物レンズ12、1/4波長板11を経て、偏向ビー
ムスプリッター10によって反射され、光検出器13上によ
り受光される。光検出器13により光電変換された信号
は、再生制御部Ｅのプリアンプ14により増幅される。
再生・制御部Ｅは、フォーカス・トラッキング制御部
15によりプリアンプ14からの信号の低周波数成分を用い
て制御信号に変換し、前記対物レンズ12を支持するボイ
スコイル16を駆動し、光ディスク上のスポットのフォー
カシングおよびトラッキングを行う。一方復調回路16で
は、プリアンプ14からの信号の高周波成分を用いて光デ
ィスクＡ上に形成されたマークからのデータ信号を復調
する。これにより復調された再生データはバファメモリ
17に一時記憶される。このバファメモリ17に格納された
データを読み出すことにより、光ディスクの再生が行わ
れる。
15によりプリアンプ14からの信号の低周波数成分を用い
て制御信号に変換し、前記対物レンズ12を支持するボイ
スコイル16を駆動し、光ディスク上のスポットのフォー
カシングおよびトラッキングを行う。一方復調回路16で
は、プリアンプ14からの信号の高周波成分を用いて光デ
ィスクＡ上に形成されたマークからのデータ信号を復調
する。これにより復調された再生データはバファメモリ
17に一時記憶される。このバファメモリ17に格納された
データを読み出すことにより、光ディスクの再生が行わ
れる。
第３図は、第２図のゲート遅延回路７の一例を示す構
成図である。データ信号と光ディスク上のフォーマット
信号を元に記録ゲート発生部４により作られた基準ゲー
ト信号（ｂ）とクロック信号（ｃ）が、シフトレジスタ
18に加わる。シフトレジスタにおいて1T刻みの時間遅れ
を８種類の信号（ｄ）〜（ｋ）が作られる。なお、それ
ぞれの信号波形は、第１図に示す。また、ゲート信号は
カウンタ19に加わり、２進のカウント信号（ｌ）〜
（ｎ）が出力される。選択器20においては、カウンタ19
からの信号により指定されたアドレスのゲート信号を選
択、即ちシフトレジスタ18からの信号（ｄ）〜（ｋ）の
中の１個を記録ゲート信号（ｏ）を出力する。この結
果、初期の記録ゲート（ｂ）に対し８種類の時間遅れを
持つ記録ゲートが得られる。なお、ここでは８ビットの
系について説明したが必要に応じてビット数、即ち遅延
ゲートパターンの数を増減することができる。
成図である。データ信号と光ディスク上のフォーマット
信号を元に記録ゲート発生部４により作られた基準ゲー
ト信号（ｂ）とクロック信号（ｃ）が、シフトレジスタ
18に加わる。シフトレジスタにおいて1T刻みの時間遅れ
を８種類の信号（ｄ）〜（ｋ）が作られる。なお、それ
ぞれの信号波形は、第１図に示す。また、ゲート信号は
カウンタ19に加わり、２進のカウント信号（ｌ）〜
（ｎ）が出力される。選択器20においては、カウンタ19
からの信号により指定されたアドレスのゲート信号を選
択、即ちシフトレジスタ18からの信号（ｄ）〜（ｋ）の
中の１個を記録ゲート信号（ｏ）を出力する。この結
果、初期の記録ゲート（ｂ）に対し８種類の時間遅れを
持つ記録ゲートが得られる。なお、ここでは８ビットの
系について説明したが必要に応じてビット数、即ち遅延
ゲートパターンの数を増減することができる。
ここで実際に記録ゲートを遅延する効果を明らかにす
るため、光ディスクに繰り返し記録を行った場合の記録
ゲートの遅延時間巾とビットエラーを生じない最大繰り
返し回数の相関性を示したのが第４図である。
るため、光ディスクに繰り返し記録を行った場合の記録
ゲートの遅延時間巾とビットエラーを生じない最大繰り
返し回数の相関性を示したのが第４図である。
光ディスクＡは、基板１は表面にアドレス信号及びト
ラッキング用のガイドトラックを設けたポリカーボネー
ト樹脂、記録薄膜にGeSb2Te4、また記録薄膜の両側にZn
Sからなる保護層を設けた構成とした。光ディスクは、
記録部における線速度が10m/sとなるような速度で回転
させた。記録に用いたデータ信号の変調方式には２−7R
LLコードのピット位置変調記録を用い、その転送レート
は5Mbpsとした。また、信号の誤り訂正方式にはリード
ソロモン符号を用いた。光ディスクへの記録（オーバー
ライト）は、半導体レーザ８のパワーをデータ信号に応
じて記録パワーと消去パワーの間で変調することによっ
て行われる。なお、光ディスク上での各パワーは、記録
パワーを16mW、消去パワーを8mW、再生パワーを1mWとし
た。
ラッキング用のガイドトラックを設けたポリカーボネー
ト樹脂、記録薄膜にGeSb2Te4、また記録薄膜の両側にZn
Sからなる保護層を設けた構成とした。光ディスクは、
記録部における線速度が10m/sとなるような速度で回転
させた。記録に用いたデータ信号の変調方式には２−7R
LLコードのピット位置変調記録を用い、その転送レート
は5Mbpsとした。また、信号の誤り訂正方式にはリード
ソロモン符号を用いた。光ディスクへの記録（オーバー
ライト）は、半導体レーザ８のパワーをデータ信号に応
じて記録パワーと消去パワーの間で変調することによっ
て行われる。なお、光ディスク上での各パワーは、記録
パワーを16mW、消去パワーを8mW、再生パワーを1mWとし
た。
前記記録条件において繰り返し記録を行った。記録す
るデータ信号のパターンを２種類設定し、第１パターン
の信号を1000回繰り返し記録した後、第２パターンの信
号記録を行い、その後光ディスク上の記録マークによる
再生信号と前記第２パターン信号を比較することにより
ビットエラーを検出する。この1000回の記録、ビットエ
ラー測定のサイクルを再生信号にビットエラーが検出さ
れるまで続ける。その際に各繰り返し回数ごとに記録ゲ
ートは、ゲート遅延回路の発生するパターンに応じて変
化する。また各ゲートパターンの遅延時間Ｄの間隔は、
記録するデータ信号のクロックの周期1Tとした。このゲ
ートパターンの種類は、最大のゲート遅延時間を4Tの場
合1T〜4Tの４種類、20Tの場合1T〜20Tの20種類とする。
以上のような条件の測定を行った結果を示したのが第４
図であり、ゲート遅延時間巾の増大と共に、繰り返し回
数が向上し、遅延時間巾が16T以上となると一定の値を
示している。このようにデータ信号を記録するタイミン
グをランダムに変化させることで、記録薄膜上の各位置
での熱履歴を平均化することができる。かつ、その平均
化の傾向が遅延時間巾と共に顕著となる。一方、この遅
延時間が大きくなるに従って、光ディスクのフォーマッ
ト信号間にデータを記録する記録ゲート巾が小さくな
り、光ディスクとしての総容量が低下する。このため実
用上は、繰返し回数の向上の効果が最大となる最小遅延
時間巾、即ち16Tを用いることは自明である。また、光
ディスクの用途に応じて、必要データ容量、繰返し回数
に応じて遅延時間を選択することも可能である。第４図
に示すように記録信号に遅延を加えることによる効果
は、最大遅延時間が4T〜8Tの範囲においても10倍の繰返
し回数向上を示し、遅延時間繰返し回数が１万回で充分
な用途であればこれらの範囲を最大遅延時間とすること
も可能である。
るデータ信号のパターンを２種類設定し、第１パターン
の信号を1000回繰り返し記録した後、第２パターンの信
号記録を行い、その後光ディスク上の記録マークによる
再生信号と前記第２パターン信号を比較することにより
ビットエラーを検出する。この1000回の記録、ビットエ
ラー測定のサイクルを再生信号にビットエラーが検出さ
れるまで続ける。その際に各繰り返し回数ごとに記録ゲ
ートは、ゲート遅延回路の発生するパターンに応じて変
化する。また各ゲートパターンの遅延時間Ｄの間隔は、
記録するデータ信号のクロックの周期1Tとした。このゲ
ートパターンの種類は、最大のゲート遅延時間を4Tの場
合1T〜4Tの４種類、20Tの場合1T〜20Tの20種類とする。
以上のような条件の測定を行った結果を示したのが第４
図であり、ゲート遅延時間巾の増大と共に、繰り返し回
数が向上し、遅延時間巾が16T以上となると一定の値を
示している。このようにデータ信号を記録するタイミン
グをランダムに変化させることで、記録薄膜上の各位置
での熱履歴を平均化することができる。かつ、その平均
化の傾向が遅延時間巾と共に顕著となる。一方、この遅
延時間が大きくなるに従って、光ディスクのフォーマッ
ト信号間にデータを記録する記録ゲート巾が小さくな
り、光ディスクとしての総容量が低下する。このため実
用上は、繰返し回数の向上の効果が最大となる最小遅延
時間巾、即ち16Tを用いることは自明である。また、光
ディスクの用途に応じて、必要データ容量、繰返し回数
に応じて遅延時間を選択することも可能である。第４図
に示すように記録信号に遅延を加えることによる効果
は、最大遅延時間が4T〜8Tの範囲においても10倍の繰返
し回数向上を示し、遅延時間繰返し回数が１万回で充分
な用途であればこれらの範囲を最大遅延時間とすること
も可能である。
繰り返し回数の飽和する遅延時間16Tは、２−7RLLコ
ードの最大レベル反転一間隔4Tの４倍に相当することか
ら、記録トラックの各点のレーザー光の照射履歴が平均
化すると考えられる。なお、本測定系およびディスクの
回転には必ずジッターが含まれている。このジッターが
大きい系においては、遅延時間が16T以下でも同様な効
果が得られる。反対にジッターの小さい系においてはさ
らに遅延量を増大させる必要がある。また本測定系では
ゲート遅延時間のピッチを1Tとしたが、２−7RLLコード
の最短マーク間隔が1.5Tであり、測定系のジッターが0.
5T以下となった場合は、１個の記録マークの周辺に光照
射履歴の少ない微少領域が形成される。これに対応する
には、さらに短いゲート遅延時間ピッチを例えば0.5T、
0.25Tとした方がよい。ここまで示したゲート遅延時間
ピッチ1T、0.5T,0.25Tはいずれもクロック周波数の整数
分の１の周期であり、これらの周期はデータ信号を発生
させる過程で用いるクロックそのものあるいは、クロッ
ク発生する過程で用いる高次の周波数成分の中から容易
に抽出することが可能であり、簡便な回路により所定の
遅延時間を得ることが可能となる。
ードの最大レベル反転一間隔4Tの４倍に相当することか
ら、記録トラックの各点のレーザー光の照射履歴が平均
化すると考えられる。なお、本測定系およびディスクの
回転には必ずジッターが含まれている。このジッターが
大きい系においては、遅延時間が16T以下でも同様な効
果が得られる。反対にジッターの小さい系においてはさ
らに遅延量を増大させる必要がある。また本測定系では
ゲート遅延時間のピッチを1Tとしたが、２−7RLLコード
の最短マーク間隔が1.5Tであり、測定系のジッターが0.
5T以下となった場合は、１個の記録マークの周辺に光照
射履歴の少ない微少領域が形成される。これに対応する
には、さらに短いゲート遅延時間ピッチを例えば0.5T、
0.25Tとした方がよい。ここまで示したゲート遅延時間
ピッチ1T、0.5T,0.25Tはいずれもクロック周波数の整数
分の１の周期であり、これらの周期はデータ信号を発生
させる過程で用いるクロックそのものあるいは、クロッ
ク発生する過程で用いる高次の周波数成分の中から容易
に抽出することが可能であり、簡便な回路により所定の
遅延時間を得ることが可能となる。
本実施例では、２−7RLLコードの変調方式の場合の結
果であるが、他の変調方式についても同様に本方式を適
用することができる。例えばこの場合においても、最大
のゲート遅延時間をＤ、その変調方式の最大信号反転間
隔をTmaxとした場合に、 Dmax≧4Tmax の関係が成り立つように、ゲート遅延時間を設定すれば
よい。さらに他の相変化型の記録媒体、及び光磁気記録
媒体においても同様に本方式を適応することができる。
果であるが、他の変調方式についても同様に本方式を適
用することができる。例えばこの場合においても、最大
のゲート遅延時間をＤ、その変調方式の最大信号反転間
隔をTmaxとした場合に、 Dmax≧4Tmax の関係が成り立つように、ゲート遅延時間を設定すれば
よい。さらに他の相変化型の記録媒体、及び光磁気記録
媒体においても同様に本方式を適応することができる。
発明の効果 以上のように光ディスクの記録信号パルス裂の記録タ
イミングを記録する度に情報信号に基づく刻みのクロッ
クによりランダムに変化させることによって簡単な回路
構成で光ディスクの繰り返し記録回数を向上させること
ができる。
イミングを記録する度に情報信号に基づく刻みのクロッ
クによりランダムに変化させることによって簡単な回路
構成で光ディスクの繰り返し記録回数を向上させること
ができる。
第１図は本発明の一実施例における記録方式を示す概念
図、第２図は本方式を用いた記録再生装置の構成図、第
３図はゲート遅延回路の一例を示す構成図、第４図は記
録ゲートの遅延時間巾と繰り返し回数の関係を示す特性
図である。 ａ……光ディスクのフォーマット信号、ｂ……基準ゲー
ト信号、ｃ……クロック信号、d,e,f,k……ゲート遅延
信号。
図、第２図は本方式を用いた記録再生装置の構成図、第
３図はゲート遅延回路の一例を示す構成図、第４図は記
録ゲートの遅延時間巾と繰り返し回数の関係を示す特性
図である。 ａ……光ディスクのフォーマット信号、ｂ……基準ゲー
ト信号、ｃ……クロック信号、d,e,f,k……ゲート遅延
信号。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−159376（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−219675（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−229625（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−194640（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−116906（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−54830（ＪＰ，Ａ) 特開 昭56−148740（ＪＰ，Ａ)
Claims (4)
- 【請求項１】光学的に識別可能な状態間を可逆的に変化
する情報層を備えた光学情報記録部材上に、情報信号を
繰返し記録する方法であって、前記記録部材上のフォー
マット信号を基に基準ゲート信号を生成する記録ゲート
発生手段と、前記基準ゲート信号を複数種類の遅延時間
幅で遅延する遅延手段と、前記遅延手段の遅延時間幅の
種類をランダムに選択する選択手段とを用い、前記情報
層での記録開始位置を繰返し記録ごとに変化させ、前記
情報信号を前記記録媒体上に記録する際に、前記遅延時
間幅が前記情報信号のクロックに同期し、前記クロック
の周期に基づいた刻みであることを特徴とする光学情報
記録部材の記録方法。 - 【請求項２】遅延時間幅の最大値をDmax、情報信号の変
調方式の最大レベル反転間隔をTmaxとした場合に、Dmax
≧4Tmaxの関係にあることを特徴とする請求項（１）記
載の光学情報記録部材の記録方法。 - 【請求項３】複数種類の遅延時間幅の設定間隔Dstep
が、クロック信号の周期Ｔとした場合に、Dstep≧Ｔの
関係にあることを特徴とする請求項（２）記載の光学情
報記録部材の記録方法。 - 【請求項４】遅延手段としてシフトレジスタを用い、情
報信号のクロックの周期で情報の時間遅れを与えること
を特徴とする請求項（１）記載の光学情報記録部材の記
録方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63248113A JP2650357B2 (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 | 光学情報記録部材の記録方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63248113A JP2650357B2 (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 | 光学情報記録部材の記録方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0294113A JPH0294113A (ja) | 1990-04-04 |
| JP2650357B2 true JP2650357B2 (ja) | 1997-09-03 |
Family
ID=17173425
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63248113A Expired - Lifetime JP2650357B2 (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 | 光学情報記録部材の記録方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2650357B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0847046B1 (en) * | 1994-12-20 | 2001-08-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd | Variable signal to space relation for optical information media |
| US6487151B1 (en) | 1994-12-20 | 2002-11-26 | Matsushita Electric Industrial Co. Ltd. | Optical information recording and reproducing system with overwrite capability and recording medium for use therewith |
| JP3023310B2 (ja) | 1996-05-31 | 2000-03-21 | 松下電器産業株式会社 | 光学的情報記録媒体の記録再生方法および記録再生装置 |
| JP2856391B2 (ja) | 1996-05-30 | 1999-02-10 | 株式会社日立製作所 | 情報記録方法及び情報記録装置 |
| US6711105B1 (en) | 1996-05-31 | 2004-03-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method and apparatus for writing and reading optical recording medium |
| EP0957475B1 (en) | 1996-12-20 | 2009-03-04 | Panasonic Corporation | Optical recording method and optical recorder |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56148740A (en) * | 1980-04-18 | 1981-11-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method for recording and erasing of optical information |
| JPS59116906A (ja) * | 1982-12-23 | 1984-07-06 | Olympus Optical Co Ltd | インデツクス信号調整装置 |
| JPS61194640A (ja) * | 1985-02-22 | 1986-08-29 | Hitachi Ltd | 光デイスク装置 |
| JPS6254830A (ja) * | 1985-09-02 | 1987-03-10 | Sharp Corp | 光デイスク記録再生装置 |
| JPH0810489B2 (ja) * | 1987-03-19 | 1996-01-31 | 松下電器産業株式会社 | 光ディスクの記録方法及び光ディスク装置 |
-
1988
- 1988-09-30 JP JP63248113A patent/JP2650357B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0294113A (ja) | 1990-04-04 |
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Legal Events
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