JP2797792B2 - レーザ駆動方法および装置 - Google Patents

レーザ駆動方法および装置

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は大容量記録媒体である光
ディスクへの情報の記録を行う光ディスクドライブのレ
ーザ駆動方法および装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光ディスクは面積あたりの記録密度が高
いのでコンパクトで容量が大きいメモリである。また、
持ち運びができる特徴を持っている。この光ディスクに
は再生型、追記型、書換型の3種類がある。このなか
で、特に、書換型が磁気媒体の代替として期待されてい
る。
【0003】この光ディスクの回転方式には線速度一定
と角速度一定の2種類がある。線速度一定方式では、光
ディスクの内周と外周とで全く同一の条件で記録消去が
行えるため記録時および消去時の照射光のパワー設定を
最適条件に選ぶことができる。また、光ディスクの加熱
冷却の状態を一定にできる。そのため、光ディスクの性
能を保証できる照射光のパワーのマージンが広い。そこ
で、記録容量を角速度一定方式よりも大きくできる特徴
を持っている。
【0004】一方、角速度一定方式はセクタ位置が決ま
っているためデータの高速検索が容易である特徴を持っ
ている。しかし、内周と外周とでは線速度が異なるため
従来法では光ディスクの加熱冷却の状態が異なる。そこ
で、中周の線速度に対して最適設計された光ディスクで
は記録時および消去時の条件が内周および外周で最適条
件と大きく異なることになり、光ディスクの性能を保証
できる照射光のパワーマージンが狭くなる。線速度の具
体的な影響は以下の通りである。
【0005】光ディスクの内周では線速度が小さいので
光を吸収して熱源となる記録膜の周囲の温度が外周の場
合に比べて高く、温度勾配が小さい。その結果、照射光
から記録膜に供給される熱が散逸しにくい。そのため、
形成されるマークが大きくなりすぎて隣接マークと干渉
して十分な再生信号振幅が得られなかったり、マークを
消去する際にトラックの端の部分が残ったりする。相変
化を利用した書換型光ディスクでは記録膜材料の非晶質
状態をマークに利用しているが、光ディスクの最内周で
は記録膜材料を非晶質状態にするために必要な急冷が不
十分なので完全に非晶質状態のマークが形成されないこ
とになる。そこで、光ディスクへのデータの書換性能が
著しく劣ることになる。
【0006】一方、光ディスクの外周では線速度が大き
いので光を吸収して熱源となる記録膜以外の温度は内周
の場合に比べて低い。そのため、照射光から供給される
熱は散逸しやすい。そこで、形成されるマークが小さく
なりすぎて再生信号のレベルが小さくなったりする。相
変化を利用した書換型光ディスクでは記録膜材料の結晶
状態を消去状態に利用しているが、光ディスクの最外周
では記録膜材料を結晶化するのに必要な転移温度域での
滞在時間が短く、完全な消去状態にならない場合があ
る。そこで、光ディスクへのデータの書換性能が著しく
劣ることになる。
【0007】このため、従来は、光ディスクの構造によ
って改善がなされていた。光ディスクの構造は光の入射
する方向から基板上に第一の誘電体膜、記録膜、第二の
誘電体膜、反射膜と積層した4層構造が一般的に用いら
れていた。この4層構造において、外周にいくほど第二
の誘電体を厚くしたり反射膜を薄くしたりして記録膜に
供給されたエネルギーの散逸状態を光ディスクの内周と
外周とで近づける試みがなされている。
【0008】光ディスクへのデータの記録方式として
は、マークの位置、すなわち、マーク間の距離に情報を
もたせるピットポジションモジュレーション(PPM)
記録方式とマークの長さに情報をもたせるピットウィデ
ュスモジュレーション(PWM)記録方式の2方法があ
る。
【0009】ここで、光ディスクを角速度一定で回転さ
せPPM方式で記録する場合は、記録パワーでの発光パ
ルス幅一定もしくはデューティー一定というレーザ駆動
方法が用いられていた。この発光パルス幅一定とは、線
速度によらず記録マークを形成する際にレーザを記録パ
ワーで発光させる時間を一定にするレーザ駆動の方法で
ある。デューティー一定というのは光ディスク上のそれ
ぞれの位置の線速度における最短記録周期に対して記録
パワーでレーザが発光する時間の占める割合を一定にす
るレーザ駆動の方法である。これらは、レーザ駆動回路
が簡便になる特徴がある。
【0010】
【発明が解決しょうとする課題】光ディスクを角速度一
定で用いる場合は、内周と外周とで線速度が倍ほど異な
り線速度によって記録消去の条件が大きく異なる。そこ
で、最内周及び最外周では光ディスクにとって最適な条
件から最もずれたところで使用することになる。その結
果、光ディスクへのデータの記録もしくは消去の性能が
最適条件下での性能と比べて劣ることになる。これに対
して従来はディスクを形成している膜の厚みを調整して
解決を図ろうとしていた。しかし、光ディスクは各膜間
での光の干渉効果を利用しているので、十分な大きさの
信号を得るためには膜厚の制限がある。したがって、従
来の方法では異なる線速度に対して十分な記録消去特性
が得られないという課題があった。
【0011】さらに、成膜時には膜厚調整用のマスクが
必要であり、連続成膜時に付着堆積した膜が剥離して形
成膜に悪影響を及ぼす恐れがある。したがって、生産効
率が悪く、かつ、成膜間の性能ばらつきが大きくなると
いう課題があった。
【0012】本発明はかかる課題を鑑みて光ディスクを
角速度一定で用いる場合において、光ディスクに工夫を
施さずに光ディスクの記録消去の性能に線速度の影響を
受けないレーザ駆動方法および装置を提供するものであ
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、線速度を検出
する手段とその線速度に合わせて記録時のレーザの発光
パルス時間を変える手段を有するレーザ駆動装置を光デ
ィスクドライブに搭載し、発光パルス時間を線速度に合
わせて変えるものである。
【0014】
【作用】本発明によって、線速度が変わっても記録時の
レーザ照射に伴う光ディスク内の温度変化を完全に略同
一にすることができるので、形成されるマークを線速度
によらず完全に同一にすることができる。その結果、ど
んな線速度に対しても光ディスクにとって最適な条件で
記録が行えるため、十分な記録特性および消去特性が得
られる。また、十分な記録特性もしくは消去特性が得ら
れるレーザのパワー範囲が広くなり光ディスクの信頼性
が向上する。書換型光ディスクでは最内周および最外周
での書換回数が向上する。
【0015】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。また、ここでは、相変化書換型の光ディスクの場
合について述べる。
【0016】図1は、本発明の光ディスクドライブのレ
ーザ駆動系および信号処理系を示すブロック概略図であ
る。1は半導体レーザであり、電力印加によって発光す
る。半導体レーザから出た光は、コリメータレンズ、集
光レンズを通って光ディスクに入射する(いずれも、図
示せず)。そして、この光は、光ディスクで反射され、
偏光ビームスプリッタ等で反射されて受光素子2に導か
れる。受光素子2で光から電気に変換された信号は、フ
ォーカス回路3、トラッキング回路4、信号再生回路
5、回転同期回路6に導かれる。フォーカス回路3は光
ディスクの記録膜に半導体レーザ1から出た光が焦点を
結ぶように制御する回路である。また、トラッキング回
路4は、光ディスク上に設けられた記録トラック上にレ
ーザ光を制御する回路である。信号再生回路5は受光素
子2から得られた信号をリミッタで2値化信号に直す回
路である。もちろん、信号の信頼性を上げるために、受
光素子2から得られた信号の極値検出をする一次微分の
ゼロクロス点の検出信号と先のリミッタで得られた2値
化信号との和信号を信号再生回路5からの出力にしても
良い。この再生回路からの出力は予めディスク基板に入
れられたアドレス信号と記録データ信号の部分からな
る。そこで、信号再生回路5で2値化処理する際に、回
転同期回路6で回転しているディスクと同期をかけて信
号が正しく読み出されるようにする必要がある。アドレ
スはアドレス検出回路7でアドレス信号から認識され
る。すなわち、アドレス信号部でオン状態になるゲート
信号と信号再生回路5からの2値化信号との和信号を求
めた後にアドレスを読み出す。記録データ信号はデータ
復調回路8で復調される。その後、エラー訂正回路でエ
ラー訂正をして元の記録データに復元される。アドレス
が検出されれば、光ディスクの線速度が逆算される。そ
こで、演算回路もしくは表を用いて記録する際の基本と
なる記録周期がわかり、かつ、最適な記録パルス幅と設
定パワーが決定できる。そこで、アドレス検出回路7か
らのアドレス情報を基本記録周期算出回路9、記録パル
ス幅算出回路10、パワー設定回路11に導く。パワー
設定回路11では消去パワーの設定も行う。ここで、基
本記録周期算出回路9では、例えば、(2、7)変調記
録をする場合であればウィンド幅の0.5T信号を作成
し、この信号を基に1.5Tから4Tまでの0.5Tお
きの信号を作成することになる。そして、半導体レーザ
駆動信号生成回路12で、回転同期回路6から得られる
同期信号を元に記録パワー、消去パワー、再生パワーの
3値を制御するゲート信号をつくってパワー制御を行
う。この記録信号は、記録データ13にエラー訂正処理
回路14でエラー処理後、変調回路15で同期信号も付
加された記録信号となり、半導体レーザ駆動信号生成回
路12に導かれる。エラー訂正処理回路14はエンコー
ダ、インタリーブ、エンコーダで構成されている。エン
コーダはエラー訂正符号をデータに付加する働きをし、
インタリーブはデータの並び替えを行う。半導体レーザ
駆動信号生成回路12では、回転同期回路6からの出力
でディスクの回転同期をとり、実際に半導体レーザ1を
駆動する電圧の制御を行う。
【0017】記録時の信号を図2に示す。図2(a)は
回転同期信号である。図2(b)は実際のディスクと回
転同期がとれた後に得られるセクタ信号である。図2
(c)は消去ゲート信号で信号(b)から求める。図2
(d)は記録ゲート信号で信号(b)から求める。図2
(e)はレーザ駆動信号である。
【0018】このレーザ駆動系の特徴は、光ディスクへ
データを記録する位置の線速度を検出し、線速度に応じ
て最適な記録パルス幅と記録パワーを設定することにあ
る。光ディスクの線速度が最低速のa倍になったら記録
パルス幅を最低速位置での記録パルス幅に対して1/a
倍より大きく、1倍より小さくなるように設定する。記
録パルス幅は、例えば、設定分解能の周期を持った振動
子とカウンタで構成すれば良い。
【0019】以下に相変化光ディスクの例を上げる。4
層構造で、ポリカーボネート基板上に下誘電体層、記録
層、上誘電体層、反射層をスパッタ法で積層し、接着剤
を介してポリカーボネート保護板と貼り合わせている。
下誘電体層はZnS−SiO2で160nm、記録層は
TeGeSbで25nm、上誘電体層はZnS−SiO
2 20nm、反射層はAl合金で110nmとした。
この時、記録層での温度の時間変化をシミュレーション
で求めた。そして、線速度に対して温度の時間変化が等
価になる条件を求めた。図3に温度の時間変化を示す。
図3(a)にレーザパワーと時間との関係を、図3
(b)に記録膜の温度と時間との関係を示す。温度の時
間変化が等価な条件とは最高到達温度に達する速度と
却速度とが各々等しい場合と定義する。冷却速度とはこ
こでは融点600℃をよぎる温度勾配ΔT/Δtであ
る。図4に最高到達温度が720℃になる場合の冷却速
度とパルス幅との関係を示す。ここで、線速度6m/s
は1800rpmで回転している5.25インチディス
クの最内周相当であり、線速度11.4m/sはその
外周相当である。線速度11.4m/sの場合、パルス
幅が50nsの時の冷却速度は34.4K/nsであ
り、線速度6m/sで等価な温度変化を与えるパルス幅
は図4から70nsである。この結果から、パルス幅の
比は線速度の比の−1/2乗に制御することが最適であ
る。図5にパワーマージンと記録パルス幅の線速度に対
する乗数との関係を示す。ここで、パワーマージンは中
心パワーと最高パワーもしくは最低パワーとの差を中心
パワーで除した比率で示した。光ディスクおよび光ディ
スクドライブの製造ばらつきと経時変化を見越してディ
スクの特性を保証するためには、パワーマージンが15
%以上必要である。図5からパワーマージンが15%以
上あるのは、最内周と最外周との記録パルス幅の比が
内周と最外周との線速度の比の−1/1.5乗倍から−
1/4乗倍の範囲に制御されている場合である。
【0020】図6に記録パワーと記録パルス幅との関係
を示す。線速度が6m/sで記録パルス幅が70nsと
線速度が11.4m/sで記録パルス幅が50nsとが
等価温度変化を与える。前者の記録パワーは19.6m
W、後者の記録パワーは21.0mWである。この結果
から、最内周と最外周とで温度の時間変化が等価になる
場合の記録パワー比は線速度比の1/10乗から1/8
乗に比例する。したがって、線速度が異なる2点での
録パワーは線速度の1/10乗倍から1/8乗倍に設定
することが望ましい。
【0021】しかし、線速度が2倍になっても記録パワ
ーの増分は1割以下である。そこで、記録パワーは線速
度が変わっても一定とし、線速度が異なる2点で線速度
が速い位置での記録パルス幅を線速度が遅い位置での記
録パルス幅に対して線速度比の−1/1.5乗倍から−
1/4乗倍の範囲に設定しても良い。
【0022】本実施例では相変化型光ディスクの場合を
示したが、穴開き型光ディスクやバブル型光ディスクや
光磁気型光ディスクであってもよい。
【0023】また、ここでは、光ディスクに書き込まれ
ているアドレスから線速度を検出する方法を取り上げた
が、光ディスクの送りを行っているステッピングモータ
から光ディスク上の位置を求めて線速度を逆算しても良
い。MCAV(Modified continiou
s angular velocity)方式の場合
は、物理的なマーク密度を等価にする記録方式である。
したがって、MCAV方式ではセクタ信号の周期とディ
スクの線速度とが対応する。そこで、このセクタ信号の
周期から線速度を求めても良い。
【0024】
【発明の効果】本発明では、データを記録する光ディス
クの位置での線速度を検出し線速度に応じて記録パルス
幅を設定することによって、線速度が変わっても記録時
のレーザ照射に伴う光ディスク内の温度変化を完全に略
同一にできるため、形成されるマークを線速度によらず
完全に同一にすることができる。その結果、どんな線速
度に対しても光ディスクにとって最適な条件で記録が行
えるため、十分な記録特性および消去特性が得られる。
また、十分な記録特性もしくは消去特性が得られるレー
ザのパワー範囲が広くなり光ディスクの信頼性が向上す
る。書換型光ディスクでは最内周および最外周での書換
回数が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例のレーザ駆動系と信号処理系を
示す概略ブロック図
【図2】記録時の信号を示す図
【図3】レーザパワーの時間変化と記録膜内の温度の時
間変化との対応図
【図4】最高到達温度を一定とした場合の冷却速度と記
録パルス幅との関係を示した図
【図5】パワーマージンと線速度比に対する記録パルス
幅比の設定乗数との関係を示した図
【図6】最高到達温度を一定とした場合の記録パワーと
記録パルス幅との関係を示した図
【符号の説明】
1 半導体レーザ 2 受光素子 3 フォーカス回路 4 トラッキング回路 5 信号再生回路 6 回転同期回路 7 アドレス検出回路 8 データ復調回路 9 基本記録周期算出回路 10 記録パルス幅算出回路 11 パワー設定回路 12 半導体レーザ駆動信号生成回路 13 記録データ 14 エラー訂正処理回路 15 変調回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 秋山 哲也 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G11B 7/00 G11B 7/125

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光ディスクの線速度が異なる2点におい
    て、線速度の比がa(但し、a>1)であるときに、線
    速度が速い位置での単パルスの記録パワーレベルの発光
    パルス幅を線速度が遅い位置での単パルスの記録パワー
    レベルの発光パルス幅に対してaの−1/1.5乗倍か
    ら−1/4乗倍の値に選ぶことを特徴とするレーザ駆動
    方法。
  2. 【請求項2】 光ディスクの線速度が異なる2点におい
    て、線速度の比がa(但し、a>1)であるときに、線
    速度が速い位置での単パルスの記録パワーレベルの発光
    パルス幅を線速度が遅い位置での単パルスの記録パワー
    レベルの発光パルス幅に対してaの−1/1.5乗倍か
    ら−1/4乗倍の値に、線速度が速い位置での記録パワ
    ーを線速度が遅い位置での記録パワーに対してaの1/
    10乗倍から1/8乗倍の値に選ぶことを特徴とするレ
    ーザ駆動方法。
  3. 【請求項3】 光ディスクの線速度を検出する手段と、
    マークを形成する単パルスの発光パルス幅を設定する手
    段と、パワーレベルを設定する手段とを有し、光ディス
    クの線速度が最低速のa倍になったときに、単パルスの
    発光パルス幅を最低速位置での単パルスの発光パルス幅
    に対してaの−1/1.5乗倍から−1/4乗倍の値
    に、パワーレベルを前記最低速位置でのパワーレベルに
    対してaの1/10乗倍から1/8乗倍の値に選定し、
    レーザパワーを変調することを特徴とするレーザ駆動装
    置。
  4. 【請求項4】 光ディスクの線速度を検出する手段と、
    マークを形成する単パルスの発光パルス幅を設定する手
    段と、パワーレベルを設定する手段とを有し、光ディス
    クの線速度が最低速のa倍になったときに、単パルスの
    発光パルス幅を前記最低速位置での単パルスの発光パル
    ス幅に対してaの−1/1.5乗倍から−1/4乗倍の
    値に、パワーレベルを所定の一定値に選定し、レーザパ
    ワーを変調することを特徴とするレーザ駆動装置。
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