JP3266971B2 - 光学情報の記録方法 - Google Patents
光学情報の記録方法Info
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- JP3266971B2 JP3266971B2 JP05986093A JP5986093A JP3266971B2 JP 3266971 B2 JP3266971 B2 JP 3266971B2 JP 05986093 A JP05986093 A JP 05986093A JP 5986093 A JP5986093 A JP 5986093A JP 3266971 B2 JP3266971 B2 JP 3266971B2
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/006—Overwriting
- G11B7/0062—Overwriting strategies, e.g. recording pulse sequences with erasing level used for phase-change media
Landscapes
- Optical Head (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザー光線等を用い
て高速かつ高密度に光学的な情報を記録再生する光ディ
スクを中心とした光学情報記録部材への信号の記録方法
および記録装置に関するものである。
て高速かつ高密度に光学的な情報を記録再生する光ディ
スクを中心とした光学情報記録部材への信号の記録方法
および記録装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】レーザー光線を利用して高密度な情報の
再生あるいは記録を行う技術は公知であり、主に光ディ
スクとして実用化されている。光ディスクは再生専用
型、追記型、書き換え型に大別することができる。再生
専用型は音楽情報を記録したコンパクト・ディスクや画
像情報を記録したレーザー・ビデオ・ディスク等とし
て、また追記型は文書ファイルや静止画ファイル等とし
て商品化されている。現在では書き換え型を中心に研究
開発が進められており、パソコン用のデータファイル等
として商品化されつつある。
再生あるいは記録を行う技術は公知であり、主に光ディ
スクとして実用化されている。光ディスクは再生専用
型、追記型、書き換え型に大別することができる。再生
専用型は音楽情報を記録したコンパクト・ディスクや画
像情報を記録したレーザー・ビデオ・ディスク等とし
て、また追記型は文書ファイルや静止画ファイル等とし
て商品化されている。現在では書き換え型を中心に研究
開発が進められており、パソコン用のデータファイル等
として商品化されつつある。
【０００３】書換え型はレーザー光線等の照射条件を変
えることにより２つ以上の状態間で可逆的に変化する記
録薄膜を用いるものであり、主なものとして光磁気型と
相変化型がある。このうち相変化ディスクはレーザー光
の照射条件を変化させることにより記録膜をアモルファ
スと結晶間で可逆的に状態変化させて信号を記録し、ア
モルファスと結晶の反射率の違いを光学的に検出して再
生するものである。従って、再生専用型や追記型と同様
にレーザー光の反射率変化として信号の再生が可能であ
り、またレーザーパワーを消去レベルと記録レベルの間
で変調することにより、オーバーライトが１ビームでで
きるため装置構成を簡単にできるといったメリットがあ
る。
えることにより２つ以上の状態間で可逆的に変化する記
録薄膜を用いるものであり、主なものとして光磁気型と
相変化型がある。このうち相変化ディスクはレーザー光
の照射条件を変化させることにより記録膜をアモルファ
スと結晶間で可逆的に状態変化させて信号を記録し、ア
モルファスと結晶の反射率の違いを光学的に検出して再
生するものである。従って、再生専用型や追記型と同様
にレーザー光の反射率変化として信号の再生が可能であ
り、またレーザーパワーを消去レベルと記録レベルの間
で変調することにより、オーバーライトが１ビームでで
きるため装置構成を簡単にできるといったメリットがあ
る。
【０００４】すでに商品化されている書き換え可能な光
ディスクにおける信号の記録方法は、ほとんどの場合、
それぞれの記録マークの位置がデジタル信号の１に対応
するパルス位置変調方式（以下ＰＰＭ）である。しかし
さらなる高密度化のために、記録マークの前後のエッジ
位置がデジタル信号の１に対応するパルス幅変調方式
（以下ＰＷＭ）が検討されている。
ディスクにおける信号の記録方法は、ほとんどの場合、
それぞれの記録マークの位置がデジタル信号の１に対応
するパルス位置変調方式（以下ＰＰＭ）である。しかし
さらなる高密度化のために、記録マークの前後のエッジ
位置がデジタル信号の１に対応するパルス幅変調方式
（以下ＰＷＭ）が検討されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ＰＷＭ方式では記録マ
ークの幅が情報を持つため、記録マークを歪なく、すな
わち前後対称に記録する必要がある。しかし、光ディス
クに信号を記録する場合には、レーザー照射部は蓄熱効
果により照射開始点より終点の方が高温に達するため、
記録マークは先端より終端の幅が広くなり、記録マーク
形状が先端部で細く終端部で太くなって涙滴状に歪むと
いう課題ある。これは再生波形の歪を引き起こすため
に、記録した信号が正しく読み出せないということの原
因となる場合があった。そこで発明者らはこの記録マー
クの歪を低減する方法として、一つの記録マークを複数
の短パルス列の照射によって形成するオーバーライト方
法を提案した（特開平３−１８５６２８号公報）。
ークの幅が情報を持つため、記録マークを歪なく、すな
わち前後対称に記録する必要がある。しかし、光ディス
クに信号を記録する場合には、レーザー照射部は蓄熱効
果により照射開始点より終点の方が高温に達するため、
記録マークは先端より終端の幅が広くなり、記録マーク
形状が先端部で細く終端部で太くなって涙滴状に歪むと
いう課題ある。これは再生波形の歪を引き起こすため
に、記録した信号が正しく読み出せないということの原
因となる場合があった。そこで発明者らはこの記録マー
クの歪を低減する方法として、一つの記録マークを複数
の短パルス列の照射によって形成するオーバーライト方
法を提案した（特開平３−１８５６２８号公報）。
【０００６】しかしこの方法は光ディスクを一定回転数
とした場合の内周と外周のようにレーザースポットの相
対速度が異なる場合には、特に相対速度が速い領域にお
いてレーザーパワー不足になったり、あるいは回路設計
が困難になったりするという新たな課題が発生する場合
もあった。
とした場合の内周と外周のようにレーザースポットの相
対速度が異なる場合には、特に相対速度が速い領域にお
いてレーザーパワー不足になったり、あるいは回路設計
が困難になったりするという新たな課題が発生する場合
もあった。
【０００７】
【課題を解決するための手段】光学情報記録媒体上に、
パルス幅変調されたデジタル信号を一つのレーザースポ
ットを用いて記録する場合に、記録すべき入力信号のパ
ルス波形を前記パルス波形に応じて波形補正した補正波
形に応じて波形補正し、補正した補正波形に基づいてレ
ーザーパワー変調した記録パルスで信号を記録する方法
であって、前記光学情報記録媒体と前記レーザースポッ
トとの相対速度に応じて前記補正波形を変える。
パルス幅変調されたデジタル信号を一つのレーザースポ
ットを用いて記録する場合に、記録すべき入力信号のパ
ルス波形を前記パルス波形に応じて波形補正した補正波
形に応じて波形補正し、補正した補正波形に基づいてレ
ーザーパワー変調した記録パルスで信号を記録する方法
であって、前記光学情報記録媒体と前記レーザースポッ
トとの相対速度に応じて前記補正波形を変える。
【０００８】これを容易に行うためには、記録すべき入
力信号のパルス波形を前記パルス波形に応じた補正波形
に波形補正する補正波形手段と、スピンドルモーターに
取り付けられた前記光学情報記録媒体上に照射された前
記レーザースポットの位置を判定する位置判定手段と、
前記位置判定手段の判定結果に応じて、前記複数の補正
波形手段のうちの一つの補正波形を選択して前記入力信
号のパルス波形を補正波形とする補正波形選択手段と、
前記補正波形選択手段で選択された補正波形に基づき、
記録レベルと消去レベルまたは前記消去レベルより低い
レベルの何れかとの間でレーザーパワー変調して前記光
学情報記録媒体上に信号を記録する手段とを有する記録
装置、または、記録すべき入力信号のパルス波形を前記
パルス波形に応じた補正波形に波形補正する複数の補正
波形手段と、スピンドルモーターに取り付けられた前記
光学情報記録媒体と前記レーザースポットとの相対速度
を判定する相対速度判定手段と、前記相対速度判定手段
の判定結果に応じて、前記複数の補正波形手段のうちの
一つの補正波形を選択して前記入力信号のパルス波形を
補正波形とする補正波形選択手段と、前記補正波形選択
手段で選択された補正波形に基づき、記録レベルと消去
レベルまたは前記消去レベルより低いレベルの何れかと
の間でレーザーパワー変調して前記光学情報記録媒体上
に信号を記録する手段とを有する記録装置を用いる。
力信号のパルス波形を前記パルス波形に応じた補正波形
に波形補正する補正波形手段と、スピンドルモーターに
取り付けられた前記光学情報記録媒体上に照射された前
記レーザースポットの位置を判定する位置判定手段と、
前記位置判定手段の判定結果に応じて、前記複数の補正
波形手段のうちの一つの補正波形を選択して前記入力信
号のパルス波形を補正波形とする補正波形選択手段と、
前記補正波形選択手段で選択された補正波形に基づき、
記録レベルと消去レベルまたは前記消去レベルより低い
レベルの何れかとの間でレーザーパワー変調して前記光
学情報記録媒体上に信号を記録する手段とを有する記録
装置、または、記録すべき入力信号のパルス波形を前記
パルス波形に応じた補正波形に波形補正する複数の補正
波形手段と、スピンドルモーターに取り付けられた前記
光学情報記録媒体と前記レーザースポットとの相対速度
を判定する相対速度判定手段と、前記相対速度判定手段
の判定結果に応じて、前記複数の補正波形手段のうちの
一つの補正波形を選択して前記入力信号のパルス波形を
補正波形とする補正波形選択手段と、前記補正波形選択
手段で選択された補正波形に基づき、記録レベルと消去
レベルまたは前記消去レベルより低いレベルの何れかと
の間でレーザーパワー変調して前記光学情報記録媒体上
に信号を記録する手段とを有する記録装置を用いる。
【０００９】
【作用】本発明によれば、光ディスク上の線速度の異な
る領域に、あるいは異なった回転速度で使用する異種の
ディスク上に、現実的な装置構成によりパルス幅変調さ
れたデジタル信号を常に記録マークの歪が小さく記録す
ることができるようになり、再生波形歪も低減し、高密
度記録が可能になる。
る領域に、あるいは異なった回転速度で使用する異種の
ディスク上に、現実的な装置構成によりパルス幅変調さ
れたデジタル信号を常に記録マークの歪が小さく記録す
ることができるようになり、再生波形歪も低減し、高密
度記録が可能になる。
【００１０】
【実施例】以下本発明を図面を参照しながら詳細に説明
する。最初に光ディスク上に信号を記録するときに記録
マークが、涙滴状に歪む原因を図８を参照しながら説明
する。図８（ａ）は記録すべき入力信号の波形であり、
従来方法では（ｂ）のように入力信号で直接レーザー光
出力を消去パワーレベルＰｂと記録パワーレベルＰｐの
間で変調することで信号を記録していた。この場合記録
膜の到達温度は（ｃ）のように、蓄熱効果によって記録
マークの先端部分よりも終端部分の方が高くなり、結果
として記録マークの形状は（ｄ）のように先端よりも終
端の方が広くなって涙滴状に歪む。蓄熱効果は光ディス
クとレーザースポットの相対速度（以下線速度と記す）
が遅いほど大きくなるため、涙滴状歪も線速度が遅いほ
ど大きくなる。この歪は再生波形の歪を引き起こすた
め、記録した信号が正しく読み出せない場合があった。
そこで発明者らはこの記録マークの歪を低減する方法と
して、一つの記録マークを複数の短パルス列の照射によ
って形成するオーバーライト方法を提案した（特開平３
−１８５６２８号公報）。
する。最初に光ディスク上に信号を記録するときに記録
マークが、涙滴状に歪む原因を図８を参照しながら説明
する。図８（ａ）は記録すべき入力信号の波形であり、
従来方法では（ｂ）のように入力信号で直接レーザー光
出力を消去パワーレベルＰｂと記録パワーレベルＰｐの
間で変調することで信号を記録していた。この場合記録
膜の到達温度は（ｃ）のように、蓄熱効果によって記録
マークの先端部分よりも終端部分の方が高くなり、結果
として記録マークの形状は（ｄ）のように先端よりも終
端の方が広くなって涙滴状に歪む。蓄熱効果は光ディス
クとレーザースポットの相対速度（以下線速度と記す）
が遅いほど大きくなるため、涙滴状歪も線速度が遅いほ
ど大きくなる。この歪は再生波形の歪を引き起こすた
め、記録した信号が正しく読み出せない場合があった。
そこで発明者らはこの記録マークの歪を低減する方法と
して、一つの記録マークを複数の短パルス列の照射によ
って形成するオーバーライト方法を提案した（特開平３
−１８５６２８号公報）。
【００１１】これは図９（ａ）のような入力信号を、短
パルス列に変換した後（ｂ）のようにレーザー出力を消
去パワーレベルＰｂと記録パワーレベルＰｐの間で変調
することで信号をオーバーライトするものである。ここ
で短パルス列は、幅の広い先頭パルスとこれより狭い後
続パルス列からなり、先頭パルスの幅は記録マークの長
さに係わらず常に一定で、さらに後続パルス列中の各パ
ルスの幅と間隔はそれぞれ等しく、かつ長さがｎ番目の
記録マークを形成する場合の前記後続パルス中のパルス
数はｎ−１個とするものである。例えばコンパクト・デ
ィスクで採用されている８−１４変調信号（以下ＥＦＭ
信号と記す）は、３Ｔ（Ｔはクロック周期）から１１Ｔ
までの９種類の長さのパルスで構成されているが、この
ＥＦＭ信号を記録する場合には最も短い３Ｔのパルスは
先頭パルスのみに、次の４Ｔのパルスは先頭のパルスと
１つの後続パルスに、５Ｔのパルスは先頭のパルスと２
つの後続パルスに、というように変換し、最も長い１１
Ｔのパルスは先頭のパルスと８つの後続パルスに変換す
る。このような規則性をもって変換することにより、信
号の変換回路を簡単な構成にすることができる。この場
合記録膜の到達温度は（ｃ）のように、先端では幅の広
い先頭パルスにより急激に昇温するが、その後はパルス
列によって照射されるために終端部分の昇温が抑えられ
て、結果として記録マークの形状は（ｄ）のように先端
と終端の対称性が良くなって涙滴状歪が低減される。
パルス列に変換した後（ｂ）のようにレーザー出力を消
去パワーレベルＰｂと記録パワーレベルＰｐの間で変調
することで信号をオーバーライトするものである。ここ
で短パルス列は、幅の広い先頭パルスとこれより狭い後
続パルス列からなり、先頭パルスの幅は記録マークの長
さに係わらず常に一定で、さらに後続パルス列中の各パ
ルスの幅と間隔はそれぞれ等しく、かつ長さがｎ番目の
記録マークを形成する場合の前記後続パルス中のパルス
数はｎ−１個とするものである。例えばコンパクト・デ
ィスクで採用されている８−１４変調信号（以下ＥＦＭ
信号と記す）は、３Ｔ（Ｔはクロック周期）から１１Ｔ
までの９種類の長さのパルスで構成されているが、この
ＥＦＭ信号を記録する場合には最も短い３Ｔのパルスは
先頭パルスのみに、次の４Ｔのパルスは先頭のパルスと
１つの後続パルスに、５Ｔのパルスは先頭のパルスと２
つの後続パルスに、というように変換し、最も長い１１
Ｔのパルスは先頭のパルスと８つの後続パルスに変換す
る。このような規則性をもって変換することにより、信
号の変換回路を簡単な構成にすることができる。この場
合記録膜の到達温度は（ｃ）のように、先端では幅の広
い先頭パルスにより急激に昇温するが、その後はパルス
列によって照射されるために終端部分の昇温が抑えられ
て、結果として記録マークの形状は（ｄ）のように先端
と終端の対称性が良くなって涙滴状歪が低減される。
【００１２】上記短パルス化して記録する方法は、線速
度が遅くてかつ記録周波数が低い場合には非常に有効で
あるが、線速度が速い場合や、記録信号の周波数が高い
場合等においては新たな課題が発生することもあること
が分かった。
度が遅くてかつ記録周波数が低い場合には非常に有効で
あるが、線速度が速い場合や、記録信号の周波数が高い
場合等においては新たな課題が発生することもあること
が分かった。
【００１３】記録波形を短パルス化すると、記録膜に与
えられるエネルギーは従来方法に比べて小さくなるた
め、大きな記録パワーＰｐが必要になる。これは低線速
度の時には問題にならないが、線速度が速くなってさら
に大きな記録パワーが必要になる場合には高出力のレー
ザー光源が必要になり、記録装置コストが高くなってし
まう。
えられるエネルギーは従来方法に比べて小さくなるた
め、大きな記録パワーＰｐが必要になる。これは低線速
度の時には問題にならないが、線速度が速くなってさら
に大きな記録パワーが必要になる場合には高出力のレー
ザー光源が必要になり、記録装置コストが高くなってし
まう。
【００１４】また、入力信号を短パルス化するためには
入力信号のパルス周期（上記ＥＦＭ信号の場合にはＴ）
の整数分の１の周期を持つクロック信号が必要であり、
記録信号の周波数が高い場合には、クロック信号の周波
数が高くなりすぎて回路設計が困難になる。さらに、レ
ーザー出力も高周波で変調するほど波形の歪が大きくな
ってしまう。
入力信号のパルス周期（上記ＥＦＭ信号の場合にはＴ）
の整数分の１の周期を持つクロック信号が必要であり、
記録信号の周波数が高い場合には、クロック信号の周波
数が高くなりすぎて回路設計が困難になる。さらに、レ
ーザー出力も高周波で変調するほど波形の歪が大きくな
ってしまう。
【００１５】光ディスクの一般的な使用方法を考えた場
合、光ディスクを一定の回転数で回転させる場合（以下
ＣＡＶ）には内周より外周の方が線速度が速くなる。す
なわち、上述の線速度の高低は１枚の光ディスクでも当
該光ディスクを回転する方式により発生し得ると共に、
例えば光ディスクの仕様に応じた線速度の高低でも変化
する。さらには記録マーク長を内周と外周とで同じにし
て記録密度を上げるために、外周ほど記録周波数を上げ
る方法も提案されている。また、光ディスクを全ての領
域において一定の線速度で回転させる場合（以下ＣＬ
Ｖ）でも、同じ記録装置で異なる種類のディスクに記録
する場合には、ディスクの種類によって線速度や記録周
波数を変える必要がある。
合、光ディスクを一定の回転数で回転させる場合（以下
ＣＡＶ）には内周より外周の方が線速度が速くなる。す
なわち、上述の線速度の高低は１枚の光ディスクでも当
該光ディスクを回転する方式により発生し得ると共に、
例えば光ディスクの仕様に応じた線速度の高低でも変化
する。さらには記録マーク長を内周と外周とで同じにし
て記録密度を上げるために、外周ほど記録周波数を上げ
る方法も提案されている。また、光ディスクを全ての領
域において一定の線速度で回転させる場合（以下ＣＬ
Ｖ）でも、同じ記録装置で異なる種類のディスクに記録
する場合には、ディスクの種類によって線速度や記録周
波数を変える必要がある。
【００１６】そこで発明者らは、以上の点を鑑みて詳細
に検討したところ、光ディスク上にパルス幅変調された
デジタル信号を一つのレーザースポットを用いて記録、
特にオーバーライトする場合に、線速度の変化に応じ
て、記録レーザー波形を最適形状に補正することが上記
課題を解決するのに非常に有効であることを見いだし
た。
に検討したところ、光ディスク上にパルス幅変調された
デジタル信号を一つのレーザースポットを用いて記録、
特にオーバーライトする場合に、線速度の変化に応じ
て、記録レーザー波形を最適形状に補正することが上記
課題を解決するのに非常に有効であることを見いだし
た。
【００１７】例えば入力信号が図１（１）の様な場合
（ここではＥＦＭ信号を想定）、線速度があらかじめ設
定された値Ｌ０より遅い場合には、レーザーの変調波形
は（２）のように短パルス列化し（以下この短パルス列
化された波形を記録波形Ａと記す）、Ｌ０より速い場合
には、レーザーの変調波形は（３）のように入力パルス
幅を少し短くしたパルス（以下この波形を記録波形Ｂと
記す）に変換して光ディスク上に照射する。
（ここではＥＦＭ信号を想定）、線速度があらかじめ設
定された値Ｌ０より遅い場合には、レーザーの変調波形
は（２）のように短パルス列化し（以下この短パルス列
化された波形を記録波形Ａと記す）、Ｌ０より速い場合
には、レーザーの変調波形は（３）のように入力パルス
幅を少し短くしたパルス（以下この波形を記録波形Ｂと
記す）に変換して光ディスク上に照射する。
【００１８】次に具体的実施例をもって説明する。 （実施例１）最初に一枚の相変化光ディスク上に、線速
度と記録波形を種々変えながら記録・再生して、線速度
と再生波形歪の関係について求めた。
度と記録波形を種々変えながら記録・再生して、線速度
と再生波形歪の関係について求めた。
【００１９】実験に用いた光ディスクの構造を図２に示
す。基板１はポリカーボネイト製で信号記録用トラック
を設けた直径２００ｍｍの円盤である。記録膜２はGeSb
Teの３元からなり、その膜厚は２０ｎｍとした。記録膜
の上下の誘電体膜３、４はＺｎＳであり、基板側が１５
０ｎｍ、反対側が１５ｎｍである。反射膜５としてはＡ
ｕを５０ｎｍ設けた。この光ディスクの記録膜をあらか
じめ全面結晶化（信号の消去状態）させた後、レーザー
照射によりアモルファスの記録マークとして信号を記録
した。
す。基板１はポリカーボネイト製で信号記録用トラック
を設けた直径２００ｍｍの円盤である。記録膜２はGeSb
Teの３元からなり、その膜厚は２０ｎｍとした。記録膜
の上下の誘電体膜３、４はＺｎＳであり、基板側が１５
０ｎｍ、反対側が１５ｎｍである。反射膜５としてはＡ
ｕを５０ｎｍ設けた。この光ディスクの記録膜をあらか
じめ全面結晶化（信号の消去状態）させた後、レーザー
照射によりアモルファスの記録マークとして信号を記録
した。
【００２０】光ディスクの線速度は、その回転数を変え
ることにより、１．５ｍ／ｓ，３ｍ／ｓ，６ｍ／ｓ，９
ｍ／ｓの４つの速度を選択した。
ることにより、１．５ｍ／ｓ，３ｍ／ｓ，６ｍ／ｓ，９
ｍ／ｓの４つの速度を選択した。
【００２１】入力信号としてはＥＦＭ信号を採用した。
そして半導体レーザーを、１）ＥＦＭの入力波形で直接
変調する方法（以下この波形を記録波形Ｃと記す）、
２）記録波形Ａのように短パルス列に補正し変調する方
法、３）記録波形Ｂのようにパルス列を若干短く補正し
変調する方法、で駆動して信号を記録した。
そして半導体レーザーを、１）ＥＦＭの入力波形で直接
変調する方法（以下この波形を記録波形Ｃと記す）、
２）記録波形Ａのように短パルス列に補正し変調する方
法、３）記録波形Ｂのようにパルス列を若干短く補正し
変調する方法、で駆動して信号を記録した。
【００２２】本実施例で採用した具体的な記録波形の形
状を図３に示す。（１）はＥＦＭ信号の入力波形の一例
であり、Ｔはクロック周期である。（２）は（１）の入
力波形で直接レーザーを変調した記録波形Ｃである。
（３）は記録波形Ａである。この場合、短パルス列中の
先頭パルスの幅は１．５Ｔ、後続パルスの幅および間隔
はどちらも０．５Ｔとした。すなわちこの記録波形Ａの
クロック周期は０．５ＴでありしたがってＥＦＭ信号の
２倍の周波数のクロックが必要である。（４）は記録波
形Ｂである。この場合、すべての記録パルスの幅をＥＦ
Ｍ信号よりＴだけ短くしている。
状を図３に示す。（１）はＥＦＭ信号の入力波形の一例
であり、Ｔはクロック周期である。（２）は（１）の入
力波形で直接レーザーを変調した記録波形Ｃである。
（３）は記録波形Ａである。この場合、短パルス列中の
先頭パルスの幅は１．５Ｔ、後続パルスの幅および間隔
はどちらも０．５Ｔとした。すなわちこの記録波形Ａの
クロック周期は０．５ＴでありしたがってＥＦＭ信号の
２倍の周波数のクロックが必要である。（４）は記録波
形Ｂである。この場合、すべての記録パルスの幅をＥＦ
Ｍ信号よりＴだけ短くしている。
【００２３】なお、ＥＦＭ信号のクロック周波数は、線
速度が変わっても記録マーク長が同じになるように変化
させた。具体的には、１．５ｍ／ｓのとき４．３ＭＨ
ｚ，３ｍ／ｓのとき８．６ＭＨｚ，６ｍ／ｓのとき１
７．２ＭＨｚ，９ｍ／ｓのとき２５．８ＭＨｚである。
速度が変わっても記録マーク長が同じになるように変化
させた。具体的には、１．５ｍ／ｓのとき４．３ＭＨ
ｚ，３ｍ／ｓのとき８．６ＭＨｚ，６ｍ／ｓのとき１
７．２ＭＨｚ，９ｍ／ｓのとき２５．８ＭＨｚである。
【００２４】記録された信号を再生し、その再生波形の
歪の大きさを求めた。再生波形歪の定量的な評価は、再
生波形を予め２値化した後タイム・インターバル・アナ
ライザーに入力してジッター量を位相マージンとして求
めた。位相マージンが大きい程、記録マークの前後のエ
ッジ位置のずれ量が小さく、記録マークの歪が小さい。
歪の大きさを求めた。再生波形歪の定量的な評価は、再
生波形を予め２値化した後タイム・インターバル・アナ
ライザーに入力してジッター量を位相マージンとして求
めた。位相マージンが大きい程、記録マークの前後のエ
ッジ位置のずれ量が小さく、記録マークの歪が小さい。
【００２５】図４に各条件に於ける最大の位相マージン
と線速度の関係を、また図５にその時の記録パワー（光
ディスクの盤面上）と線速度の関係を示す。なお、消去
パワーは全ての記録波形の違いに係わらず、それぞれの
線速度において一定にした。
と線速度の関係を、また図５にその時の記録パワー（光
ディスクの盤面上）と線速度の関係を示す。なお、消去
パワーは全ての記録波形の違いに係わらず、それぞれの
線速度において一定にした。
【００２６】図４から明かなように、記録波形Ｂ，Ｃの
場合には線速度が速いほど位相マージンは大きくなって
いる。これは一つの記録マークを一つのパルスで記録す
る方法では、線速度が小さい程記録マークの歪が大きく
なり、従って再生波形の歪も大きいことを示している。
ここで記録波形Ｃよりも記録波形Ｂの方が位相マージン
が大きくなっている。これはオーバーライトの場合、記
録膜は消去レベル以上のパワーで照射されて常に予熱さ
れているために、記録マークは記録パルス幅よりもトラ
ック方向に長くなってしまうためと考えられる。すなわ
ち、所望の長さの記録マークを得るためには、その長さ
よりも短い記録パルスで照射するのがよいことを示して
いる。
場合には線速度が速いほど位相マージンは大きくなって
いる。これは一つの記録マークを一つのパルスで記録す
る方法では、線速度が小さい程記録マークの歪が大きく
なり、従って再生波形の歪も大きいことを示している。
ここで記録波形Ｃよりも記録波形Ｂの方が位相マージン
が大きくなっている。これはオーバーライトの場合、記
録膜は消去レベル以上のパワーで照射されて常に予熱さ
れているために、記録マークは記録パルス幅よりもトラ
ック方向に長くなってしまうためと考えられる。すなわ
ち、所望の長さの記録マークを得るためには、その長さ
よりも短い記録パルスで照射するのがよいことを示して
いる。
【００２７】記録波形Ａの場合には、線速度にあまり依
存せずほぼ一定であり、特に低線速度でも大きな位相マ
ージンが得られており、記録波形Ｂ，Ｃより優れている
のが分かる。しかし、線速度が速くなるにつれて記録波
形ＡとＢの場合の位相マージンは近付き、６ｍ／ｓでは
ほとんど等しくなっている。なお、９ｍ／ｓの場合には
入力波形を記録波形Ａに変換するための回路のクロック
周波数が高くなすぎたために、記録波形Ａでの記録再生
は行っていない。
存せずほぼ一定であり、特に低線速度でも大きな位相マ
ージンが得られており、記録波形Ｂ，Ｃより優れている
のが分かる。しかし、線速度が速くなるにつれて記録波
形ＡとＢの場合の位相マージンは近付き、６ｍ／ｓでは
ほとんど等しくなっている。なお、９ｍ／ｓの場合には
入力波形を記録波形Ａに変換するための回路のクロック
周波数が高くなすぎたために、記録波形Ａでの記録再生
は行っていない。
【００２８】また記録パワーは図５に示すように、記録
波形Ｃ，Ｂ，Ａの順に大きくなる。記録波形Ａでは記録
膜に与えるエネルギーを短パルス列で与えているため、
大きな記録パワーが必要になり、そのため特に高線速度
においては、光源として出力の大きな半導体レーザーが
必要になる。
波形Ｃ，Ｂ，Ａの順に大きくなる。記録波形Ａでは記録
膜に与えるエネルギーを短パルス列で与えているため、
大きな記録パワーが必要になり、そのため特に高線速度
においては、光源として出力の大きな半導体レーザーが
必要になる。
【００２９】以上のように図４、図５によれば、本実施
例の構成では、線速度が約６ｍ／ｓより遅いところでは
記録波形Ａが優れ、約６ｍ／ｓより速いところでは記録
波形Ｂが優れており、したがって、光ディスクの線速度
を検出して、それに基づいて記録波形の補正手段を変え
ることが、位相マージン、装置構成、記録感度等の観点
から望ましいことが分かる。
例の構成では、線速度が約６ｍ／ｓより遅いところでは
記録波形Ａが優れ、約６ｍ／ｓより速いところでは記録
波形Ｂが優れており、したがって、光ディスクの線速度
を検出して、それに基づいて記録波形の補正手段を変え
ることが、位相マージン、装置構成、記録感度等の観点
から望ましいことが分かる。
【００３０】また、図６の記録波形Ｄのように、図３の
記録波形Ａの記録パルス列の前後でレーザーパワーを消
去レベルより低くしてもよい。このようにすればマーク
間隔を狭くして記録する場合に、記録パワーで照射され
た領域の熱が後方に拡散して、次の記録マークを大きく
書いてしまうという熱干渉の現象を小さくできるため、
位相マージンを広くするのに有効である。レーザーパワ
ーを消去レベルより低くする期間が長すぎると記録膜が
結晶化温度以上に到達しなくなり、消し残りが生じてし
まう。しかし消去レベルより低くする期間τがτ≦λ／
Ｖ（λ：レーザー波長、Ｖ：レーザースポットと光ディ
スクの相対速度）の範囲内であれば、その期間の前後の
ＰｂおよびＰｐで重複して照射されるし、またその期間
の前後のＰｂおよびＰｐで照射された領域からの伝導熱
によっても昇温されるので記録膜は結晶化温度に達し消
し残りは小さくできる。
記録波形Ａの記録パルス列の前後でレーザーパワーを消
去レベルより低くしてもよい。このようにすればマーク
間隔を狭くして記録する場合に、記録パワーで照射され
た領域の熱が後方に拡散して、次の記録マークを大きく
書いてしまうという熱干渉の現象を小さくできるため、
位相マージンを広くするのに有効である。レーザーパワ
ーを消去レベルより低くする期間が長すぎると記録膜が
結晶化温度以上に到達しなくなり、消し残りが生じてし
まう。しかし消去レベルより低くする期間τがτ≦λ／
Ｖ（λ：レーザー波長、Ｖ：レーザースポットと光ディ
スクの相対速度）の範囲内であれば、その期間の前後の
ＰｂおよびＰｐで重複して照射されるし、またその期間
の前後のＰｂおよびＰｐで照射された領域からの伝導熱
によっても昇温されるので記録膜は結晶化温度に達し消
し残りは小さくできる。
【００３１】なお、記録波形Ｄでは記録パルス列の前と
後ろの双方でレーザーパワーを消去レベルより低くした
が、前または後ろの一方のみとしても充分効果がある。
また、消去レベルより低いレベルとしては、再生パワー
レベル、もしくはレーザーのオフレベルとすれば装置構
成が簡単にできる。
後ろの双方でレーザーパワーを消去レベルより低くした
が、前または後ろの一方のみとしても充分効果がある。
また、消去レベルより低いレベルとしては、再生パワー
レベル、もしくはレーザーのオフレベルとすれば装置構
成が簡単にできる。
【００３２】また、図３の記録波形Ｂにおいても記録パ
ワーの前後もしくはそのどちらか一方に消去レベルより
低いレベルを設けてもよい。
ワーの前後もしくはそのどちらか一方に消去レベルより
低いレベルを設けてもよい。
【００３３】さらには図３の記録波形Ａを図６の記録波
形Ｅのように、記録パルス列に対応する期間において
は、例えば再生パワーレベルあるいはレーザーのオフレ
ベルのように消去パワーレベルよりも低いパワーレベル
と記録パワーとの間で変調してもよい。この方法では記
録マーク内の全ての場所において記録膜が溶融後急冷さ
れるため安定した記録マークが形成でき、位相マージン
を広くするのに有効である。なお、消去パワーレベルよ
りも低いパワーレベルのレベル値、記録パルス列中で記
録パワーと消去パワーレベルよりも低いパワーレベルと
に分割する数及びその幅は、記録すべき入力信号に応じ
て適宜選択して用いられる。
形Ｅのように、記録パルス列に対応する期間において
は、例えば再生パワーレベルあるいはレーザーのオフレ
ベルのように消去パワーレベルよりも低いパワーレベル
と記録パワーとの間で変調してもよい。この方法では記
録マーク内の全ての場所において記録膜が溶融後急冷さ
れるため安定した記録マークが形成でき、位相マージン
を広くするのに有効である。なお、消去パワーレベルよ
りも低いパワーレベルのレベル値、記録パルス列中で記
録パワーと消去パワーレベルよりも低いパワーレベルと
に分割する数及びその幅は、記録すべき入力信号に応じ
て適宜選択して用いられる。
【００３４】また図４に示したように、線速度の速いと
ころでは記録波形Ｃでも良好な位相マージンが得られ
る。すなわち線速度の速い場合には、入力信号でレーザ
ーパワーを直接変調し、線速度が遅いところでは記録波
形Ａのようなパルス列に変換してからレーザーパワーを
変調して信号を記録してもよい。この場合には線速度が
速い場合において波形の変換回路が不用となり装置構成
が簡単になる。
ころでは記録波形Ｃでも良好な位相マージンが得られ
る。すなわち線速度の速い場合には、入力信号でレーザ
ーパワーを直接変調し、線速度が遅いところでは記録波
形Ａのようなパルス列に変換してからレーザーパワーを
変調して信号を記録してもよい。この場合には線速度が
速い場合において波形の変換回路が不用となり装置構成
が簡単になる。
【００３５】（実施例２）次に本発明による光ディスク
装置について図７を用いて説明する。光ディスク６はス
ピンドルモーター７に取り付けられ、一定の回転数で回
転している。ここでは光ディスク６は実施例１と同じデ
ィスクを用いた。光学ヘッド８は半導体レーザーを光源
とし、コリメータレンズ、対物レンズ等により光ディス
ク上にレーザースポットを形成する。半導体レーザーは
レーザー駆動回路９により駆動されるが、信号を記録す
る場合には入力信号は波形補正回路Ａ（１０）もしくは
波形補正回路Ｂ（１１）のいずれかの回路により、波形
補正された後レーザー駆動回路へ入力される。ここでは
入力信号はＥＦＭ信号であり、波形補正回路ＡはＥＦＭ
信号を短パルス列に変換する回路であり（具体的回路構
成は例えば特開平３−１８５６２８号公報参照）、短パ
ルス列化された波形でレーザー駆動回路を変調すると図
３（３）の記録波形が得られる。また波形補正回路Ｂは
パルス幅を短く変換する回路であり、短かくされた波形
でレーザー駆動回路を変調すると図３（４）の記録波形
が得られる。波形補正回路Ｂは遅延素子とＡＮＤ回路に
より構成できる。すなわち入力信号を遅延素子を通した
後、元の入力信号との論理積を求めることで図３（４）
の記録波形が得られる。
装置について図７を用いて説明する。光ディスク６はス
ピンドルモーター７に取り付けられ、一定の回転数で回
転している。ここでは光ディスク６は実施例１と同じデ
ィスクを用いた。光学ヘッド８は半導体レーザーを光源
とし、コリメータレンズ、対物レンズ等により光ディス
ク上にレーザースポットを形成する。半導体レーザーは
レーザー駆動回路９により駆動されるが、信号を記録す
る場合には入力信号は波形補正回路Ａ（１０）もしくは
波形補正回路Ｂ（１１）のいずれかの回路により、波形
補正された後レーザー駆動回路へ入力される。ここでは
入力信号はＥＦＭ信号であり、波形補正回路ＡはＥＦＭ
信号を短パルス列に変換する回路であり（具体的回路構
成は例えば特開平３−１８５６２８号公報参照）、短パ
ルス列化された波形でレーザー駆動回路を変調すると図
３（３）の記録波形が得られる。また波形補正回路Ｂは
パルス幅を短く変換する回路であり、短かくされた波形
でレーザー駆動回路を変調すると図３（４）の記録波形
が得られる。波形補正回路Ｂは遅延素子とＡＮＤ回路に
より構成できる。すなわち入力信号を遅延素子を通した
後、元の入力信号との論理積を求めることで図３（４）
の記録波形が得られる。
【００３６】本装置は信号を記録する場合に、最初にレ
ーザースポットを光ディスク上に照射して、信号トラッ
クに予め設けられたアドレス信号をアドレス再生回路１
２で判読し、システムコントローラー１３によりレーザ
ースポット照射部分の線速度を計算する。その線速度が
予め設定された値より小さければ、波形補正手段として
スイッチ１４により波形補正回路Ａが選択され、逆に線
速度が予め設定された値より大きければ、波形補正手段
としてスイッチ１４により波形補正回路Ｂが選択され
る。
ーザースポットを光ディスク上に照射して、信号トラッ
クに予め設けられたアドレス信号をアドレス再生回路１
２で判読し、システムコントローラー１３によりレーザ
ースポット照射部分の線速度を計算する。その線速度が
予め設定された値より小さければ、波形補正手段として
スイッチ１４により波形補正回路Ａが選択され、逆に線
速度が予め設定された値より大きければ、波形補正手段
としてスイッチ１４により波形補正回路Ｂが選択され
る。
【００３７】すなわちこの装置によれば、実施例１の結
果を生かして、光ディスクの全領域において位相マージ
ンが広い記録手段を容易に提供することができる。
果を生かして、光ディスクの全領域において位相マージ
ンが広い記録手段を容易に提供することができる。
【００３８】なお本実施例では波形補正手段として２つ
の波形補正回路を用いたが、さらに異なる種類の複数の
補正手段を用いてもよい。すなわち、上記実施例では光
ディスクを線速度の異なる２つの領域に分割してそれぞ
れに最適な記録波形を対応させたが、さらに線速度の異
なる領域を３つ以上の領域に分割して、それぞれの領域
に最適な記録波形を対応させるのも本発明に含まれる。
の波形補正回路を用いたが、さらに異なる種類の複数の
補正手段を用いてもよい。すなわち、上記実施例では光
ディスクを線速度の異なる２つの領域に分割してそれぞ
れに最適な記録波形を対応させたが、さらに線速度の異
なる領域を３つ以上の領域に分割して、それぞれの領域
に最適な記録波形を対応させるのも本発明に含まれる。
【００３９】さらには、実施例１、２では波形補正手段
として、線速度の遅い領域では記録パルスを複数の短パ
ルスからなるパルス列に波形補正したのち信号を記録
し、線速度の速い領域では記録パルスを短く波形補正し
たのち信号を記録する方法を示した。しかしながら最適
な波形補正手段は光ディスクの構造や記録媒体の種類に
よっても異なる場合があり、本実施例１、２で示した波
形が常に最適補正手段であるとは限らない。
として、線速度の遅い領域では記録パルスを複数の短パ
ルスからなるパルス列に波形補正したのち信号を記録
し、線速度の速い領域では記録パルスを短く波形補正し
たのち信号を記録する方法を示した。しかしながら最適
な波形補正手段は光ディスクの構造や記録媒体の種類に
よっても異なる場合があり、本実施例１、２で示した波
形が常に最適補正手段であるとは限らない。
【００４０】例えば、場合によっては線速度に関わらず
記録パルスを、消去パワーレベルよりも低いパワーレベ
ルと記録パワーレベルとを有する複数の短パルスからな
るパルス列に波形補正する方法を採用し、線速度の速い
領域と遅い領域とで変改された短パルス列の先頭パルス
の幅を変える（例えば線速度の速い領域で広くする）方
法または短パルス列の最後のパルス幅を変える方法等を
単独または適宜組み合わせることにより、光ディスクの
全領域で位相マージンを大きくすることも可能であり、
このような補正方法も本発明に含まれる。この場合も、
短パルス列中の記録パワーレベルと消去パワーレベルよ
りも低いパワーレベルとの分割数及び／または消去パワ
ーレベルより低いパワーレベルのレベル値及び／または
消去パワーレベルよりも低いパワーレベルの幅は、記録
すべき入力信号に応じて適宜選択して用いられることは
前述と同様である。
記録パルスを、消去パワーレベルよりも低いパワーレベ
ルと記録パワーレベルとを有する複数の短パルスからな
るパルス列に波形補正する方法を採用し、線速度の速い
領域と遅い領域とで変改された短パルス列の先頭パルス
の幅を変える（例えば線速度の速い領域で広くする）方
法または短パルス列の最後のパルス幅を変える方法等を
単独または適宜組み合わせることにより、光ディスクの
全領域で位相マージンを大きくすることも可能であり、
このような補正方法も本発明に含まれる。この場合も、
短パルス列中の記録パワーレベルと消去パワーレベルよ
りも低いパワーレベルとの分割数及び／または消去パワ
ーレベルより低いパワーレベルのレベル値及び／または
消去パワーレベルよりも低いパワーレベルの幅は、記録
すべき入力信号に応じて適宜選択して用いられることは
前述と同様である。
【００４１】さらには線速度に関わらず記録パルスを複
数の短パルスからなるパルス列に波形補正する方法を採
用し、線速度の速い領域と遅い領域で変換された短パル
ス列のパルスの幅を変えても良い。例えば線速度の遅い
領域では記録波形を図１０（１）の記録波形Ｆとし、線
速度の速い領域では記録波形Ｆの短パルス列のパルス幅
を広げて図１０（２）の記録波形Ｇのようにする。信号
記録時の蓄熱効果は線速度が速くなると小さくなるた
め、短パルス列のパルス幅を広げても涙状歪は大きくな
らない。短パルス列のパルス幅を広げると記録膜に供給
されるエネルギーが増えるため、結果としてパルス幅が
狭い場合より記録パワーを低下させることができる。
数の短パルスからなるパルス列に波形補正する方法を採
用し、線速度の速い領域と遅い領域で変換された短パル
ス列のパルスの幅を変えても良い。例えば線速度の遅い
領域では記録波形を図１０（１）の記録波形Ｆとし、線
速度の速い領域では記録波形Ｆの短パルス列のパルス幅
を広げて図１０（２）の記録波形Ｇのようにする。信号
記録時の蓄熱効果は線速度が速くなると小さくなるた
め、短パルス列のパルス幅を広げても涙状歪は大きくな
らない。短パルス列のパルス幅を広げると記録膜に供給
されるエネルギーが増えるため、結果としてパルス幅が
狭い場合より記録パワーを低下させることができる。
【００４２】なお、図１０の記録波形Ｆ，Ｇにおいて
も、図６の記録波形ＤあるいはＥのように記録パルス列
の前後もしくはその一方でレーザーパワーを消去レベル
より低くしたり、あるいは、記録パルス列に対応する期
間、記録パワーと再生パワーレベルあるいはレーザーの
オフレベルとの間で変調してもよいことは言うまでもな
い。
も、図６の記録波形ＤあるいはＥのように記録パルス列
の前後もしくはその一方でレーザーパワーを消去レベル
より低くしたり、あるいは、記録パルス列に対応する期
間、記録パワーと再生パワーレベルあるいはレーザーの
オフレベルとの間で変調してもよいことは言うまでもな
い。
【００４３】
【発明の効果】本発明の光学情報の記録方法および記録
装置によれば、光ディスクの全領域において歪の小さい
良好な記録マークの形成が簡単な装置構成ででき、再生
波形のジッタを小さく押えながら記録することができ
る。これは光ディスクのエラーレートの低減につなが
り、しいては光ディスクの記録容量の拡大をはかること
ができる。
装置によれば、光ディスクの全領域において歪の小さい
良好な記録マークの形成が簡単な装置構成ででき、再生
波形のジッタを小さく押えながら記録することができ
る。これは光ディスクのエラーレートの低減につなが
り、しいては光ディスクの記録容量の拡大をはかること
ができる。
【図１】本発明により提供される記録波形を示す図
【図２】実施例で用いた光ディスクの断面図
【図３】実施例で採用した記録波形を示す図
【図４】複数の記録波形を採用した場合の線速度と位相
マージンの関係を示す図
マージンの関係を示す図
【図５】複数の記録波形を採用した場合の線速度と記録
パワーの関係を示す図
パワーの関係を示す図
【図６】本発明により提供される他の記録波形を示す図
【図７】本発明により提供される記録装置を示す図
【図８】従来の記録方法を説明するための図
【図９】従来の記録方法を説明するための図
【図１０】本発明により提供される他の記録波形を示す
図
図
１ 基板 ２ 記録膜 ３、４ 誘電体膜 ５ 反射膜 ６ 光ディスク ７ スピンドル・モーター ８ 光学ヘッド ９ レーザー駆動回路 １０ 波形補正回路 １１ 波形補正回路 １２ アドレス再生回路 １３ システムコントローラー
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山田 昇 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 赤平 信夫 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 平２−278518（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−185628（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 7/00 - 7/013 G11B 7/125
Claims (4)
- 【請求項１】レーザー光線の照射によって、光学的に識
別可能な状態間で可逆的に変化する記録薄膜を有する光
学情報記録媒体上に、パルス幅変調されたデジタル信号
を一つのレーザースポットを用いて記録する光学情報の
記録方法において、記録すべき入力信号のパルス波形を
前記パルス波形に応じて波形補正した補正波形に基づい
てレーザーパワー変調した記録パルスで信号を記録する
場合に、前記光学情報記録媒体と前記レーザースポット
との相対速度が予め決められた速度より遅い場合には、
一つの記録マークを形成するための記録パルスを複数の
短パルスからなるパルス列に波形補正したのちレーザー
パワーを変調して信号を記録し、前記相対速度が予め決
められた速度より速い場合には、前記入力信号で直接レ
ーザーパワーを変調して信号を記録することを特徴とす
る光学情報の記録方法。 - 【請求項２】レーザー光線の照射によって、光学的に識
別可能な状態間で可逆的に変化する記録薄膜を有する光
学情報記録媒体上に、パルス幅変調されたデジタル信号
を一つのレーザースポットを用いて記録する光学情報の
記録方法において、記録すべき入力信号のパルス波形を
前記パルス波形に応じて波形補正した補正波形に基づい
てレーザーパワー変調した記録パルスで信号を記録する
場合に、前記光学情報記録媒体と前記レーザースポット
との相対速度が予め決められた速度より遅い場合には、
一つの記録マークを形成するための記録パルスを複数の
短パルスからなるパルス列に波形補正したのちレーザー
パワーを変調して信号を記録し、前記相対速度が予め決
められた速度より速い場合には、一つの記録マークを形
成するための記録パルスのパルス幅を短く波形補正した
のちレーザーパワーを変調して信号を記録することを特
徴とする光学情報の記録方法。 - 【請求項３】前記レーザーパワーの変調は記録レベルと
消去レベルまたは前記消去レベルより低いレベルの何れ
かとの間で行われることを特徴とする請求項１または２
に記載の光学情報の記録方法。 - 【請求項４】一つの記録マークを形成するレーザー光照
射の前と後の少なくとも一方で、レーザーパワーを予め
決められた期間消去レベルより低いレベルとすることを
特徴とする請求項１〜３の何れかに記載の光学情報の記
録方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05986093A JP3266971B2 (ja) | 1992-03-23 | 1993-03-19 | 光学情報の記録方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4-64524 | 1992-03-23 | ||
| JP6452492 | 1992-03-23 | ||
| JP05986093A JP3266971B2 (ja) | 1992-03-23 | 1993-03-19 | 光学情報の記録方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0612674A JPH0612674A (ja) | 1994-01-21 |
| JP3266971B2 true JP3266971B2 (ja) | 2002-03-18 |
Family
ID=26400937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05986093A Expired - Fee Related JP3266971B2 (ja) | 1992-03-23 | 1993-03-19 | 光学情報の記録方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3266971B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2299441A2 (en) | 2003-02-19 | 2011-03-23 | Victor Company Of Japan, Ltd. | Optical recording method and optical recording apparatus |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR19980023062A (ko) * | 1996-09-25 | 1998-07-06 | 구자홍 | 광기록 장치의 광원 제어 방법 |
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| US7391698B2 (en) | 1998-07-23 | 2008-06-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Adaptive writing method for high-density optical recording apparatus and circuit thereof |
| US7158461B1 (en) | 1997-12-30 | 2007-01-02 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Adaptive writing method for high-density optical recording apparatus and circuit thereof |
| JPH11273076A (ja) | 1998-03-23 | 1999-10-08 | Toshiba Corp | 光学的情報記録方法および装置 |
| JP4063978B2 (ja) | 1998-07-03 | 2008-03-19 | 株式会社リコー | 情報記録方法 |
| US6650607B1 (en) | 1998-10-12 | 2003-11-18 | Hitachi, Ltd. | Information recording method, information recording medium, and information recording apparatus |
| JP2000322739A (ja) | 1999-05-10 | 2000-11-24 | Tdk Corp | 光記録方法 |
| DE60042907D1 (de) * | 1999-05-19 | 2009-10-15 | Mitsubishi Kagaku Media Co Ltd | Aufzeichnen bei konstanter Winkelgeschwindigkeit |
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| JP3839213B2 (ja) | 2000-02-08 | 2006-11-01 | 株式会社リコー | 相変化型光記録媒体の記録方法および記録再生装置 |
| JP2002230764A (ja) | 2001-02-05 | 2002-08-16 | Yamaha Corp | 光ディスク記録装置 |
| US7095691B2 (en) | 2001-08-30 | 2006-08-22 | Teac Corporation | Optical disk device |
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| WO2003069602A1 (en) | 2002-02-13 | 2003-08-21 | Mitsubishi Chemical Corporation | Rewritable optical recording medium and optical recording method |
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