JP2509489Y2 - 混成集積回路基板 - Google Patents

混成集積回路基板

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JP2509489Y2
JP2509489Y2 JP1989104281U JP10428189U JP2509489Y2 JP 2509489 Y2 JP2509489 Y2 JP 2509489Y2 JP 1989104281 U JP1989104281 U JP 1989104281U JP 10428189 U JP10428189 U JP 10428189U JP 2509489 Y2 JP2509489 Y2 JP 2509489Y2
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film resistor
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京子 飯野
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ナイルス部品株式会社
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この考案は、混成集積回路基板の改良に関し、特に導
電路の改良によって高品質の高密度実装を可能にした混
成集積回路基板に関する。
[従来の技術] 従来、混成集積回路の高密度実装を行うべく厚膜抵抗
の上部にチップ素子を載置することが有った。実公昭47
−5698号公報では高密度実装を目的としていないが基板
の上面に抵抗体及び絶縁物層を介して金属片6を載置し
たものが開示されている。
[考案が解決しようとする問題点] しかしながら、厚膜抵抗の上部にチップ素子を載置す
る場合、一箇所の導電路に前記厚膜抵抗及びチップ素子
の各端部を接続することと成る。すなわち、前記厚膜抵
抗の接続部は同時にチップ素子の接続部と成る。
前記厚膜抵抗は、抵抗ペーストを基板に印刷し約850
[℃]の熱を加えて焼成し形成するが、前記焼成時抵抗
ペースト中の非金属成分が導電路中に拡散する。該非金
属成分が拡散した導電路は、半田漏れ性すなわち半田の
接着性及び強度が低下する。その為、従来該導電路にチ
ップ素子を接続する場合、半田付け不良が多くまた信頼
性が低いという問題が有った。
[問題点を解決するための手段] この考案は、チップ素子を接続する導電路に対する厚
膜抵抗を形成する抵抗ペーストの非金属成分の拡散を防
止し、チップ素子の半田付け不良を軽減することを目的
としたものである。
そして、前記目的を達成すべく厚膜抵抗の接続部と、
隣接したチップ素子の接続部との間に、厚膜抵抗の接続
部からチップ素子の接続部に向けて厚膜抵抗を形成する
抵抗ペースト中の非金属成分が拡散することを防止する
スリットを導電路のパターン印刷によって設けたことを
特徴とする混成集積回路基板を提供する。
[作用] そして、前記のごとくスリットを設けた導電路の一方
側、すなわち厚膜抵抗の接続部に対して厚膜抵抗を焼成
する時、厚膜抵抗を形成する抵抗ペーストの非金属成分
の拡散は前記スリットから先には進行しない。その為、
前記導電路の他方側、すなわちチップ素子の接続部に於
ける半田の漏れ性及び強度の低下が招来されることはな
い。
[実施例] 添付図面第1図、第2図は、この考案の好適な実施例
を示した図面である。
同図に於いて、 1は基板、2は該基板1上に印刷形成した導電路、3は
該導電路2間に橋絡して印刷形成した厚膜抵抗、4は該
厚膜抵抗3の上部に重畳して載置しかつ端部を半田5に
よって前記各導電路2に半田付けしたチップ素子であ
る。
そして、前記各導電路2は厚膜抵抗3の接続部21とチ
ップ素子4の接続部22を分離する各スリット23を設けて
いる。
詳述すると、前記基板1はセラミック等によって構成
されれたものである。
前記各導電路2は前記基板1に導体ペーストを所定の
パターン形状で印刷し、焼成することによって形成す
る。
また、厚膜抵抗3は前記基板1及び各導電路2上に抵抗
ペーストを所定のパターン形状で印刷し、焼成すること
によって形成する。
該焼成工程は例えば赤外線焼成炉で約850[℃]の熱
を約15[分]加えて行なう。
前記厚膜抵抗3の焼成が完了した後、前記チップ素子
4の接続部22に半田ペーストを印刷してチップ素子を載
置し、リフロー炉により加熱して半田付けを行なう。
ここに於いて、前記チップ素子の載置に際しチップ素
子4が所定の位置から若干はずれることが有るが、前記
半田付けを行うときの溶融した半田の表面張力によって
自動的に位置が修正されることと成る。
[考案の効果] この考案に係る厚膜抵抗の上部に重畳して載置し端部
を導電路のチップ素子の接続部に半田付けしたチップ素
子を備えた混成集積回路基板は、厚膜抵抗の接続部と、
隣接したチップ素子の接続部との間に、厚膜抵抗の接続
部からチップ素子の接続部に向けて厚膜抵抗を形成する
抵抗ペースト中の非金属成分が拡散することを防止する
スリットを導電路のパターン印刷によって設けたことを
特徴とする。
これにより、厚膜抵抗を形成する抵抗ペースト中の非
金属成分が厚膜抵抗を焼成する際に厚膜抵抗の接続部か
らチップ素子の接続部に向けて拡散せず、そのためチッ
プ素子の接続部において半田漏れ性を維持することがで
き、そのためチップ素子の接続部における半田付け不良
を軽減することができ、しかもスリットを形成するため
に基板に孔を開ける等の特別な加工を施す必要がなく、
単に導電路のパターン印刷によって形成することができ
る効果が有る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この考案の好適な実施例を示す平面図、第2
図は第1図の矢視A−A線方向断面図である。 1……基板、2……導電路、21……厚膜抵抗の接続部、
22……チップ素子の接続部、23……スリット、3……厚
膜抵抗、4……チップ素子、5……半田。

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板(1)と、 該基板(1)上に形成するとともに厚膜抵抗の接続部
    (21)と該厚膜抵抗の接続部(21)に隣接して設けたチ
    ップ素子の接続部(22)とを有した導電路(2)と、 該導電路(2)の各厚膜抵抗の接続部(21)間に橋絡し
    て形成した厚膜抵抗(3)と、 該厚膜抵抗(3)の上部に重畳して載置しかつ端部を前
    記導電路(2)のチップ素子の接続部(22)に半田付け
    したチップ素子(4)とを備えた混成集積回路基板に於
    いて、 前記厚膜抵抗の接続部(21)と、隣接したチップ素子の
    接続部(22)との間に、厚膜抵抗の接続部(21)からチ
    ップ素子の接続部(22)に向けて厚膜抵抗(3)を形成
    する抵抗ペースト中の非金属成分が拡散することを防止
    するスリット(23)を前記導電路(2)のパターン印刷
    によって設けたことを特徴とする混成集積回路基板。
JP1989104281U 1989-09-05 1989-09-05 混成集積回路基板 Expired - Lifetime JP2509489Y2 (ja)

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JPS5722401Y2 (ja) * 1979-04-20 1982-05-15
JPS58131650U (ja) * 1982-02-27 1983-09-05 日本メクトロン株式会社 可撓性回路基板
JPS6240462U (ja) * 1985-08-29 1987-03-11

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