JP2015031642A - 基板検査装置および基板検査方法 - Google Patents
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Abstract
Description
6 検査部
8 制御部
100a,100b 回路基板
C1,C2 コンデンサ
Dp 回路基板データ
N1〜N10 ネット
R1,R2 抵抗
Claims (6)
- 回路基板における導体パターンの導通状態を検査する検査処理を実行する処理部を備えた基板検査装置であって、
前記処理部は、前記回路基板に配設されている部品を介して他の前記導体パターンに接続されていない前記導体パターンの導通状態を検査するときには、当該各導体パターンを直列接続させた状態で当該各導体パターンの導通状態を一括して検査する一括検査処理を前記検査処理として実行し、前記一括検査処理の対象としない前記導体パターンの導通状態を検査するときには、当該各導体パターンを個別に検査する個別検査処理を前記検査処理として実行する基板検査装置。 - 前記処理部は、前記部品が予め決められた低導電性の基準を満たすときに当該部品を介して他の前記導体パターンに接続されている前記導体パターンを前記一括検査処理の対象とする請求項1記載の基板検査装置。
- 前記処理部は、前記回路基板の構成を示す回路基板データに基づいて前記一括検査処理の対象とする前記導体パターンを特定する特定処理を実行する請求項1または2記載の基板検査装置。
- 回路基板における導体パターンの導通状態を検査する検査処理を実行する基板検査方法であって、
前記回路基板に配設されている部品を介して他の前記導体パターンに接続されていない前記導体パターンの導通状態を検査するときには、当該各導体パターンを直列接続させた状態で当該各導体パターンの導通状態を一括して検査する一括検査処理を前記検査処理として実行し、前記一括検査処理の対象としない前記導体パターンの導通状態を検査するときには、当該各導体パターンを個別に検査する個別検査処理を前記検査処理として実行する基板検査方法。 - 前記部品が予め決められた低導電性の基準を満たすときに当該部品を介して他の前記導体パターンに接続されている前記導体パターンを前記一括検査処理の対象とする請求項4記載の基板検査方法。
- 前記回路基板の構成を示す回路基板データに基づいて前記一括検査処理の対象とする前記導体パターンを特定する特定処理を実行する請求項4または5記載の基板検査方法。
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-
2013
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