JP2013245392A - 蒸着マスク及び蒸着マスクの製造方法 - Google Patents

蒸着マスク及び蒸着マスクの製造方法 Download PDF

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修二 工藤
Michinobu Mizumura
通伸 水村
Koichi Kajiyama
康一 梶山
Jun Nishiwaki
醇 西脇
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Abstract

【課題】高精細な薄膜パターンの形成が可能で、且つ製造を容易にする。
【解決手段】基板上に複数の薄膜パターンを並べて蒸着形成するための蒸着マスクであって、前記薄膜パターンと同じ並びで、該薄膜パターンと同じ形状寸法の貫通する複数の開口パターン5を形成した樹脂製のフィルム1と、前記フィルム1の両面にめっき形成され、前記開口パターン5に対応して該開口パターン5と形状寸法の同じ、又はそれよりも形状寸法の大きい開口部5を設けた磁性金属材料からなる保持部材2A,2Bと、を備えたものである。
【選択図】図1

Description

本発明は、基板上に複数の薄膜パターンを一定の配列ピッチで並べて蒸着形成するための蒸着マスクに関し、特に高精細な薄膜パターンの形成が可能で、且つ製造が容易な蒸着マスク及び蒸着マスクの製造方法に係るものである。
従来の蒸着マスクは、貫通する複数の開口パターンが形成された金属薄板材を支持フレームの片面側に張りを持たせて接合させたものであった(例えば、特許文献1参照)。
また、他の蒸着マスクは、貫通する複数の開口パターンを有する2種以上の異なる金属層からなる積層体であり、少なくとも1層以上の金属層をめっき法で形成するものであった(例えば、特許文献2参照)。
特開2004−225077号公報 特開2005−154879号公報
しかし、このような従来の蒸着マスクにおいて、上記特許文献1に記載の蒸着マスクは、金属薄板材に複数の開口パターンをフォトエッチングにより加工形成するものであったので、エッチング加工性に劣り、300dpi以上の微細な孔を高精度に形成することが困難であった。
また、上記特許文献2に記載の蒸着マスクは、金属層の積層体を例えば鏡面仕上げされたステンレス板の母材上にめっき形成するものであったので、上記積層体を母材から引き剥がす際に、積層体の一部が剥離せず、破損するという問題が発生するおそれがあった。特に、開口パターンが高精細になればなるほど隣接する開口パターン間の金属層部分が細くて脆弱となり、上記問題がより発生し易くなるおそれがあった。
そこで、本発明は、このような問題点に対処し、高精細な薄膜パターンの形成が可能で、且つ製造が容易な蒸着マスク及び蒸着マスクの製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明による蒸着マスクは、基板上に複数の薄膜パターンを並べて蒸着形成するための蒸着マスクであって、前記薄膜パターンと同じ並びで、該薄膜パターンと同じ形状寸法の貫通する複数の開口パターンを形成した樹脂製のフィルムと、前記フィルムの両面にめっき形成され、前記開口パターンに対応して該開口パターンと形状寸法の同じ、又はそれよりも形状寸法の大きい開口部を設けた磁性金属材料からなる保持部材と、を備えたものである。
好ましくは、前記フィルムは、ポリイミドであるのが望ましい。
さらに好ましくは、前記保持部材の磁性金属材料は、インバー又はインバー合金であるのが望ましい。
そして、前記一方の保持部材の周縁部に一端面を接合した枠状のフレームをさらに備えてもよい。
また、本発明による蒸着マスクの製造方法は、基板上に複数の薄膜パターンを並べて蒸着形成するための蒸着マスクの製造方法であって、樹脂製のフィルムの両面に導電性の金属膜からなる下地層を形成する第1工程と、前記下地層を形成した前記フィルムの両面にフォトレジストを形成した後、前記フィルムの両面側から前記フォトレジストを露光及び現像し、前記フィルムの両面の同位置に前記薄膜パターンと同じ並びで、該薄膜パターンと形状寸法の同じ、又はそれよりも形状寸法の大きい島パターンを形成する第2工程と、前記島パターンの外部領域にて前記下地層上に磁性金属材料をめっきして保持部材を形成する第3工程と、前記島パターンを除去して、前記下地層に達する開口部を形成する第4工程と、前記開口部内の下地層をエッチングして除去してマスク用部材を形成する第5工程と、前記開口部内の前記フィルムを加工して前記薄膜パターンと同じ並びで、該薄膜パターンと同じ形状寸法の貫通する複数の開口パターンを形成する第6工程と、を行なうものである。
好ましくは、前記フィルムが可視光を透過する樹脂製であり、前記開口部の形状寸法が前記薄膜パターンの形状寸法よりも大きいとき、前記第6工程は、基板上に前記薄膜パターンと同じ並びで、該薄膜パターンと形状寸法の同じ複数の基準パターンを設けた基準基板上に、前記基準パターンが前記保持部材の前記開口部内に位置するように前記マスク用部材を位置決めして載置した後、前記基準パターンに対応した前記フィルムの部分にレーザ光を照射して前記開口部内の前記フィルムを加工するのが望ましい。
又は、前記第6工程は、前記開口部の形状寸法が前記薄膜パターンの形状寸法よりも大きいとき、前記マスク用部材の両面にフォトレジストを形成した後、一面側の前記フォトレジストを露光及び現像して前記薄膜パターンと同じ形状寸法の複数の孔部を有するレジストマスクを形成し、該レジストマスクを用いて前記開口部内の前記フィルムをエッチングしてもよい。
若しくは、前記第6工程は、前記開口部の形状寸法が前記薄膜パターンの形状寸法と同じであるとき、前記保持部材をマスクとして前記開口部内の前記フィルムをエッチング、又はレーザ加工するとよい。
そして、前記第6工程を行なった後、前記フィルムの一面に密接して設けられた一方の保持部材の周縁部に枠状のフレームの一端面を接合する第7工程をさらに行なってもよい。
本発明の蒸着マスクによれば、蒸着形成しようとする薄膜パターンに対応して樹脂製のフィルムに開口パターンを形成しているので、従来技術におけるようなメタルマスクに開口パターンを形成する場合に比べて微細な開口パターンを高精度に形成することができる。したがって、300dpi以上の高精細な薄膜パターンの蒸着形成も容易に行うことができる。また、磁性金属材料から成る保持部材は、従来技術と違って、フィルムの両面にめっき形成されるため、保持部材をめっき母材から引き剥がす必要がない。したがって、薄膜パターンの高精細化に伴って保持部材の隣接する開口部間の部分が狭くなっても、同部分が壊れるおそれがない。それ故、高精細な薄膜パターンの形成を可能とする蒸着マスクの製造を容易に行うことができる。
また、本発明の蒸着マスクの製造方法によれば、フィルムに開口パターンを形成する最終工程を除く、残りの全工程をウェットプロセスにより一貫して製造することができ、蒸着マスクの生産性を向上することができる。したがって、蒸着マスクの大量生産を容易に行うことができ、蒸着マスクの製造コストを低減することができる。なお、フィルムへの開口パターンの形成は、フィルムをエッチングすることによっても実施することができる。この場合には、蒸着マスクの製造をウェットプロセスによる完全一貫生産とすることができ、蒸着マスクの生産性をより向上することができる。
本発明による蒸着マスクの第1の実施形態を示す図であり、(a)は平面図、(b)は(a)のA−A線断面矢視図である。 本発明による蒸着マスクの製造方法を説明するフローチャートである。 上記蒸着マスクの製造方法の前半工程を断面で示す工程図である。 上記蒸着マスクの製造方法の後半工程を断面で示す工程図である。 上記第1の実施形態における開口パターンの形成工程を断面で示す工程図である。 本発明による蒸着マスクの第2の実施形態を示す図であり、(a)は平面図、(b)は(a)のB−B線断面矢視図である。 レーザ加工による上記開口パターンの形成工程を示す説明図である。
以下、本発明の実施形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。図1は本発明による蒸着マスクの第1の実施形態を示す図であり、(a)は平面図、(b)は(a)のA−A線断面矢視図である。この蒸着マスクは、基板上に複数の薄膜パターンを一定の配列ピッチで並べて蒸着形成するためのもので、フィルム1と、保持部材2A,2Bと、フレーム3と、を備えて構成されている。
上記フィルム1は、例えば可視光を透過する、厚みが10μm〜25μm程度のポリイミドや、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエーテルイミド(PEI)等の樹脂製であり、蒸着形成しようとする薄膜パターンの配列ピッチと同じ配列ピッチで並べて該薄膜パターンと同じ形状寸法の貫通する複数の開口パターン4が形成されている。好ましくは、フィルム1は、耐熱性及び熱膨張係数の低いポリイミドが望ましい。
上記開口パターン4の形状は、蒸着基板が例えば有機EL表示装置のTFT基板である場合には、図1に示すように、一列に並んだ同じ色に対応する複数のアノード電極に跨ったストライプ状であってもよく、又は個々のアノード電極に対応した矩形状であってもよい。
上記フィルム1の両面には、保持部材2A,2Bがめっき形成されている。この保持部材2A,2Bは、開口パターン4に対応して該開口パターン4よりも形状寸法の大きい開口部5を設けた厚みが30μm〜50μm程度の、例えばニッケル、ニッケル合金、インバー、又はインバー合金等の磁性金属材料で形成されている。
一般に、蒸着マスクが蒸着基板に対して密着して使用される場合、保持部材2A,2Bの材料には、蒸着基板の熱膨張係数に近い熱膨張係数を有する磁性金属材料を選択するのがよい。しかし、本発明の蒸着マスクは、磁性金属材料の熱伝導率(例えば、インバー合金の熱伝導率は13.4W/mK)に対して熱伝導率が2桁小さい樹脂製フィルム1(例えば、ポリイミドの熱伝導率は0.16W/mK)を介して蒸着基板に密接されるため、蒸着源からの輻射熱が上記樹脂製のフィルム1によって遮断され、蒸着基板に伝わり難い。したがって、蒸着中の蒸着基板の熱膨張は、メタルマスクを蒸着基板に密接させて使用する場合に比べて小さくなる。それ故、本実施形態においては、保持部材2A,2Bは、インバー又はインバー合金のような熱膨張係数が2×10−6以下の磁性金属材料を選択するのが望ましい。
保持部材2A又は2Bは、フィルム1の片面に密接させて設けられてもよいが、本発明のように、フィルム1の両面に設けるのが望ましい。これにより、保持部材2A,2Bとフィルム1との熱膨張係数が異なっていても、両者間の熱膨張の差により発生する反りを抑制することができる。また、インバー合金はめっき皮膜の内部応力が高いため、樹脂製のフィルム3の片面だけにインバー合金のめっき皮膜を形成した場合には、めっき皮膜の引張応力により該めっき皮膜側を凸にした反りが発生する。したがって、このような反りの発生を抑制するためにも、インバー合金は、フィルム3の両面にめっき形成するのが望ましい。なお、図1において、符号6は、蒸着マスクを蒸着基板に対して位置合わせをするためのマスク側アライメントマークである。
一方の上記保持部材2A又は2Bの周縁部に一端面を接合させて枠状のフレーム3が設けられている。このフレーム3は、保持部材2A,2Bを上記一端面に張りを持たせた状態で接合して支持するもので、中央部に保持部材2A,2Bの開口部5形成領域よりも面積が広い開口7を設けた、厚みtが数100μm〜数mm程度の金属部材である。好ましくは、保持部材2A,2Bと同じ磁性金属材料で形成されるのが望ましい。
次に、このように構成された蒸着マスクの製造方法について説明する。図2は本発明による蒸着マスクの製造方法を説明するフォローチャートであり、図3,4は本発明による蒸着マスクの製造方法を断面で示す工程図である。
先ず、ステップS1においては、厚みが10μm〜25μm程度の例えばポリイミドのフィルム1に対して大気プラズマ又はUVO処理して表面を洗浄し、さらに触媒を付与する前処理が実行される。この表面洗浄及び前処理は、フィルム1への金属皮膜の密着性改善及び樹脂製フィルム1の表面に触媒を吸着させて無電解めっきを可能にさせるために行なうものである。
次に、ステップS2においては、フィルム1を例えば金属めっき浴に浸漬してフィルム1の両面に、50nm程度の厚みの例えばニッケル等の金属皮膜の下地層8を無電解めっきにより形成する(図3(a)参照)。
次いで、ステップS3においては、フィルム1の両面を洗浄し、めっき液を除去する。
さらに、ステップS4においては、フィルム1の両面にフォトレジスト9を30μm〜50μmの厚みにディップコートした後、フォトレジスト9を一定温度で一定時間乾燥させる(図3(b)参照)。
ステップS5においては、フォトマスク10を使用してフィルム1の両面側からフォトレジスト9を露光し(図3(c)参照)、さらにステップS6において現像して、フィルム1の両面の同位置に、蒸着形成しようとする薄膜パターンの配列ピッチと同じ配列ピッチで並べて該薄膜パターンよりも形状寸法の大きい島パターン11を形成する(図3(d)参照)。この場合、島パターン11を形成したフィルム1の中央領域の外側に該島パターン11のいずれか1つと一定の位置関係を成してマスク側アライメントマーク6用の島パターンも同時に形成する。
上記フォトマスク10は、使用するフォトレジスト9がネガ型であるときには、形成しようとする島パターン11に対応した部分を開口したものであり、フォトレジスト9がポジ型であるときには、フォトマスク10は、形成しようとする島パターン11に対応した部分を遮光したものである。なお、図3(c)はフォトレジスト9としてネガ型のレジストを使用した場合を示している。ネガ型のフォトレジスト9を使用することにより、島パターン11の側壁を、図3(d)に示すように該島パターン11の横断面積が表面から奥に向かって狭くなるようにテーパ状に形成することができる。これにより、めっき形成される保持部材2A,2Bの開口部5の内壁を、該開口部5の面積がフィルム1側から表面側に向かって広がるようにテーパ状に形成することができ(図4(b)参照)、開口部5の縁部が蒸着の影となるのを防止することができる。
ステップS7においては、下地層8の表面の汚れを洗浄して除去すると共に下地層8へのめっき金属膜の密着性をよくするために、公知の技術を適用して表面を荒らす前処理を行なう。
ステップS8においては、フィルム1をめっき浴に浸漬して、フィルム1両面の島パターン11の外側の下地層8上に例えばインバー又はインバー合金の磁性金属材料12の膜を25μm程度の厚みに電気めっきして保持部材2A,2Bを形成する(図4(a)参照)。
ステップS9においては、レジスト剥離液を満たした浴槽にフィルム1を浸漬してフォトレジスト9(島パターン11)を剥離する。これにより、保持部材2A,2Bには、下地層8に達する開口部5が形成される(図4(b)参照)。
ステップS10において、フィルム1の表面に付着したレジスト剥離液を洗浄して除去した後、ステップS11において、下地層8のエッチング液を満たした浴槽中に上記フィルム1を一定時間浸漬し、又はフィルム1を上記エッチング液のシャワー中を通過させて、フィルム1両面の上記開口部5内の下地層8をエッチングして除去し、マスク用部材13を形成する(図4(c)参照)。同時に、マスク側アライメントマーク6が形成される。
ステップS12においては、上記マスク側アライメントマーク6を基準にして開口部5内のフィルム1を加工して薄膜パターンの配列ピッチと同じ配列ピッチで並べて、該薄膜パターンと同じ形状寸法の貫通する複数の開口パターン4を形成する。
ここで、上記開口パターン4の形成について図5を参照して詳細に説明する。
先ず、図5(a)に示すように、マスク用部材13の両面にフォトレジスト14をディップコートした後、一定温度で一定時間だけフォトレジスト14を乾燥する。ここで使用するフォトレジスト14は、例えばポジ型のレジストである。
次に、図5(b)に示すように、マスク用部材13の一面に近接対向させてポジ型のフォトマスク15を配置し、上記マスク側アライメントマーク6とフォトマスク15に予め形成された図示省略のアライメントマークとに基づいてマスク用部材13とフォトマスク15との位置合わせをした後、露光し、さらに現像して、図5(c)に示すように薄膜パターンと同じ形状寸法の複数の孔部16を有するレジストマスク17を形成する。
次いで、図5(d)に示すように、上記レジストマスク17を用いて開口部5内のフィルム1をエッチングし、フィルム1を貫通する複数の開口パターン4を形成する。その後、フォトレジスト14の溶解液を満たした浴槽に上記フィルム1を浸漬し、又はフィルム1の両面に上記溶解液をスプレー噴射してフォトレジスト14(レジストマスク17)を溶解させて除去する。これにより、図4(d)に示すような、例えば300dpi以上の高精細な薄膜パターンに対応した開口パターン4をフィルム1に形成することができる。
ステップS13においては、フィルム1の一面に密接して設けられた一方の保持部材2A又は2Bの周縁部に枠状のフレーム3の一端面を、例えば接着又は半田付け等により接合する。これにより、図1に示す蒸着マスクが完成する。なお、ステップS13は、省略してもよい。また、保持部材2A又は2Bの周縁部へのフレーム3の接合は、ステップS11においてマスク用部材13を形成した後、ステップS12において開口パターン4を形成する前に行ってもよい(図4(c),(d)参照)。この場合、マスク用部材13に張力をかけることによって、開口部5内のフィルム1に、蒸着マスクが実際に使用されるときと略同じ張力をかけた状態で開口パターン4を形成することが可能となる。
このように、上記第1の実施形態によれば、蒸着マスクをウェットプロセスにより一貫して製造することができ、生産性を向上することができる。したがって、蒸着マスクの大量生産を容易に行うことができ、蒸着マスクの製造コストを低減することができる。
図6は本発明による蒸着マスクの第2の実施形態を示す図であり、(a)は平面図、(b)は(a)のB−B線断面矢視図である。以下、第2の実施形態について上記第1の実施形態と異なる部分を説明する。
上記第2の実施形態は、例えば大型テレビジョンに対応した有機EL表示装置用の蒸着マスクであり、開口パターン4の形成精度が上記第1の実施形態の開口パターン4の形成精度ほど高精度は要求されないものである。したがって、この蒸着マスクは、フィルム1の開口パターン4と保持部材2A,2Bの開口部5とが薄膜パターンの配列ピッチと同じ配列ピッチで並べて、該薄膜パターンと同じ形状寸法で形成されている。
このような蒸着マスクの製造は、上記第1の実施形態と同様にして行なうことができるが、製造工程において上記第1の実施形態と異なる部分は、上記ステップS5及びステップS11である。そこで、先ずステップS5において、第1の実施形態と異なる点について説明する。
上記ステップS5おいて、本第2の実施形態は、フォトマスク10を使用してフィルム1の両面側からフォトレジスト9を露光及び現像して、フィルム1の両面の同位置に、形成しようとする薄膜パターンの配列ピッチと同じ配列ピッチで並べて該薄膜パターンと同じ形状寸法の島パターン11を形成する。
また、ステップS11においては、保持部材2A,2Bをマスクとして開口部5内のフィルム1をエッチングして除去し、保持部材2A,2Bの開口部5と同じ形状寸法の開口パターン4を形成する。
上記第2の実施形態によれば、上記第1の実施形態と同様に、蒸着マスクをウェットプロセスにより一貫して製造することができ、生産性を向上することができる。また、磁性金属材料12からなる2枚の保持部材2A,2Bの間に、熱伝導率が保持部材2A,2Bの熱伝導率よりも2桁小さい樹脂製のフィルム1を介在させているので、フィルム1の厚みを制御することにより、蒸着源からの輻射熱が蒸着マスクを介して蒸着基板に伝達されるのを効果的に抑制することができる。したがって、蒸着基板の熱膨張を抑えて薄膜パターンを位置精度よく形成することができる。
なお、以上の説明においては、開口パターン4をウェットエッチングにより形成する場合について述べたが、本発明はこれに限られず、開口パターン4はレーザ加工により形成されてもよい。以下、開口パターン4をレーザ加工により形成する方法を、図7を参照して説明する。ここでは、先ず、保持部材2A,2Bの開口部5の面積よりも小さい面積の開口パターン4を形成する場合について説明する。この場合、フィルム1は可視光を透過する樹脂製であるのが望ましい。
先ず、図7(a)に示すように、基板18上に薄膜パターンの配列ピッチと同じ配列ピッチで並べて該薄膜パターンと同じ形状寸法を有し、レーザ光の照射目標となる複数の基準パターン19を設けた基準基板20上に、基準パターン19が保持部材2A,2Bの開口部5内に位置するようにマスク用部材13を位置決めして載置する。
次に、図7(b)に示すように、観察用カメラ21によりフィルム1を透かして基準基板20上を撮影し、基準パターン19を検出する。
続いて、図7(c)に示すように、上記基準パターン19の検出位置を基準にして、同図に矢印で示す保持部材2A,2Bの開口部5の配列方向に薄膜パターンの配列ピッチと同じ距離だけ、基準基板20とマスク用部材13とを一体的にステップ移動させながら、光束径を薄膜パターンの形状寸法に合わせて整形した、例えば紫外線のレーザ光Lを保持部材2A,2Bの開口部5内の上記基準パターン19に対応したフィルム1の部分に照射し、開口パターン4をレーザ加工する。これにより、保持部材2A,2Bの開口部5内に該開口部5の面積よりも小さい面積の開口パターン4を位置精度よく形成することができる。
なお、レーザ加工は、基準基板20とマスク用部材13とを一体的に移動するのではなく、観察用カメラ21とレーザとを一体的に図7(c)の矢印と反対方向にステップ移動させながら行ってもよい。
また、基準基板20を使用しない場合には、レーザとマスク用部材13とを相対的にステップ移動しながら、マスク用部材13のマスク側アライメントマーク6を基準にして保持部材2A,2Bの開口部5内のフィルム1部分に上記レーザ光Lを照射し、開口部5の面積よりも小さい面積の開口パターン4を形成してもよい。この場合、レーザ光Lの照射は下地層8の除去前又は除去後のいずれであってもよい。
さらに、保持部材2A,2Bの開口部5の面積と同じ面積の開口パターン4をレーザ加工して形成する場合には、保持部材2A,2Bの開口部5の面積よりも断面積が大きいレーザ光Lを開口部5に照射するとよい。この場合も、レーザ光Lの照射は下地層8の除去前又は除去後のいずれであってもよい。
以上の説明においては、一定の配列ピッチで並べて薄膜パターンを蒸着形成するための蒸着マスクについて述べたが、本発明はこれに限られず、ランダムに並べて薄膜パターンを蒸着形成する場合には、蒸着マスクの開口パターン4及び開口部5は薄膜パターンの並びに合わせて同じ並びで形成するとよい。
1…フィルム
2A,2B…保持部材
3…フレーム
4…開口パターン
5…開口部
8…下地層
9…フォトレジスト
11…島パターン
12…磁性金属材料
13…マスク用部材
14…フォトレジスト
16…孔部
17…レジストマスク
19…基準パターン
20…基準基板
L…レーザ光

Claims (9)

  1. 基板上に複数の薄膜パターンを並べて蒸着形成するための蒸着マスクであって、
    前記薄膜パターンと同じ並びで、該薄膜パターンと同じ形状寸法の貫通する複数の開口パターンを形成した樹脂製のフィルムと、
    前記フィルムの両面にめっき形成され、前記開口パターンに対応して該開口パターンと形状寸法の同じ、又はそれよりも形状寸法の大きい開口部を設けた磁性金属材料からなる保持部材と、
    を備えたことを特徴とする蒸着マスク。
  2. 前記フィルムは、ポリイミドであることを特徴とする請求項1記載の蒸着マスク。
  3. 前記保持部材の磁性金属材料は、インバー又はインバー合金であることを特徴とする請求項1又は2記載の蒸着マスク。
  4. 前記一方の保持部材の周縁部に一端面を接合した枠状のフレームをさらに備えたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の蒸着マスク。
  5. 基板上に複数の薄膜パターンを並べて蒸着形成するための蒸着マスクの製造方法であって、
    樹脂製のフィルムの両面に導電性の金属膜からなる下地層を形成する第1工程と、
    前記下地層を形成した前記フィルムの両面にフォトレジストを形成した後、前記フィルムの両面側から前記フォトレジストを露光及び現像し、前記フィルムの両面の同位置に前記薄膜パターンと同じ並びで、該薄膜パターンと形状寸法の同じ、又はそれよりも形状寸法の大きい島パターンを形成する第2工程と、
    前記島パターンの外部領域にて前記下地層上に磁性金属材料をめっきして保持部材を形成する第3工程と、
    前記島パターンを除去して、前記下地層に達する開口部を形成する第4工程と、
    前記開口部内の下地層をエッチングして除去してマスク用部材を形成する第5工程と、
    前記開口部内の前記フィルムを加工して前記薄膜パターンと同じ並びで、該薄膜パターンと同じ形状寸法の貫通する複数の開口パターンを形成する第6工程と、
    を行なうことを特徴とする蒸着マスクの製造方法。
  6. 前記フィルムが可視光を透過する樹脂製であり、前記開口部の形状寸法が前記薄膜パターンの形状寸法よりも大きいとき、前記第6工程は、基板上に前記薄膜パターンと同じ並びで、該薄膜パターンと形状寸法の同じ複数の基準パターンを設けた基準基板上に、前記基準パターンが前記保持部材の前記開口部内に位置するように前記マスク用部材を位置決めして載置した後、前記基準パターンに対応した前記フィルムの部分にレーザ光を照射して前記開口部内の前記フィルムを加工することを特徴とする請求項5記載の蒸着マスクの製造方法。
  7. 前記第6工程は、前記開口部の形状寸法が前記薄膜パターンの形状寸法よりも大きいとき、前記マスク用部材の両面にフォトレジストを形成した後、一面側の前記フォトレジストを露光及び現像して前記薄膜パターンと同じ形状寸法の複数の孔部を有するレジストマスクを形成し、該レジストマスクを用いて前記開口部内の前記フィルムをエッチングすることを特徴とする請求項5記載の蒸着マスクの製造方法。
  8. 前記第6工程は、前記開口部の形状寸法が前記薄膜パターンの形状寸法と同じであるとき、前記保持部材をマスクとして前記開口部内の前記フィルムをエッチング、又はレーザ加工することを特徴とする請求項5記載の蒸着マスクの製造方法。
  9. 前記第6工程を行なった後、前記フィルムの一面に密接して設けられた一方の保持部材の周縁部に枠状のフレームの一端面を接合する第7工程をさらに行なうことを特徴とする請求項5〜8のいずれか1項に記載の蒸着マスクの製造方法。
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