JP2011141260A - タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 - Google Patents
タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011141260A JP2011141260A JP2010068107A JP2010068107A JP2011141260A JP 2011141260 A JP2011141260 A JP 2011141260A JP 2010068107 A JP2010068107 A JP 2010068107A JP 2010068107 A JP2010068107 A JP 2010068107A JP 2011141260 A JP2011141260 A JP 2011141260A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- height
- tire
- mask
- inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 103
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 116
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 51
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 46
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 24
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 12
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 9
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000013461 design Methods 0.000 claims description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 4
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 2
- 238000007373 indentation Methods 0.000 abstract 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 14
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 2
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000004073 vulcanization Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0608—Height gauges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M17/00—Testing of vehicles
- G01M17/007—Wheeled or endless-tracked vehicles
- G01M17/02—Tyres
- G01M17/027—Tyres using light, e.g. infrared, ultraviolet or holographic techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
- G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30164—Workpiece; Machine component
Landscapes
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Immunology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
【解決手段】サンプルタイヤのサイドウォール面の二次元画像であるサンプル原画像において、凹凸マークの輪郭である境界線を検出し、境界線の位置を示すマスク画像を生成するマスク画像生成工程と、サンプル原画像において、マスク画像に示された境界線の位置に対応する領域を除き、残りの領域の高さを離散的な複数の高さ閾値を用いて分類することで得られる高さオフセット画像を生成する高さオフセット画像生成工程と、検査タイヤのサイドウォール面の二次元画像である検査画像から、高さオフセット画像を差し引くと共に、マスク画像が表す境界領域を除去する差分処理工程とを経て、差分処理工程の結果として得られた凹凸除去画像に基づいて、検査タイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査する。
【選択図】図3
Description
例えば、特許文献1には、相対的に回転するタイヤの表面に照射したライン光の像を撮像し、その撮像画像に基づいて光切断法による形状検出を行うことによって前記タイヤの表面形状を検出するタイヤ形状検出装置であって、前記タイヤの表面に一の光切断線が形成されるように、該光切断線における検出高さ方向とは異なる方向から複数のライン光を連ねて照射するライン光照射手段と、前記タイヤの表面に照射された前記複数のライン光それぞれの主光線が前記タイヤの表面に対して正反射する方向において撮像する撮像手段と、を具備するタイヤ形状検出装置が開示されている。
また、特許文献2には、タイヤ表面の、凹凸により形成された一以上の図形の三次元形状を検査する方法であって、これらの図形を含む、所定のタイヤ表面領域内の各面積要素について凹凸の高さを測定して凹凸分布データを取得する工程と、それぞれの図形に対して、図形の雛形として予め準備された図形モデルの三次元形状データと、取得された前記凹凸分布データとから、前記タイヤ表面領域のうち図形モデルに対応するタイヤ表面部分を特定する工程と、それぞれの図形に対して、特定されたタイヤ表面部分の凹凸分布データと図形モデルの三次元データとの一致度を求め、この一致度に基づいて前記図形の三次元形状の合否を判定する工程とを有するタイヤ凹凸図形の検査方法が開示されている。
しかしこの場合、使用するタイヤ高さ画像中には正常な凹凸図形のみが存在し、且つ検出対象の凹凸欠陥(Bulge/Dent)や、タイヤ周方向の大きなうねり変形成分であるRunout成分の高さ変化が全く無い高さ画像データが要求される。検出対象の凹凸欠陥やRunout成分が存在する高さ画像データをティーチングデータとして使用した場合、文字等の正常凹凸マークは、オンライン検査時に差分処理によって平面化(除去)されるが、ティーチングデータに存在する凹凸欠陥やRunout成分が検査対象の高さ画像に転写される結果となるため、このような高さ画像データを検査に使うことはできない。また、Runout成分が存在しない真平らなタイヤを特にティーチングデータ登録用に製作することは、現実的では無い。
本発明に係るタイヤ形状検査方法は、凹凸マークが形成されたサイドウォール面を有するサンプルタイヤの前記サイドウォール面の画像を用いて、検査タイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査するタイヤ形状検査方法であって、ティーチング作業工程として、前記サンプルタイヤのサイドウォール面の二次元画像であるサンプル原画像において、前記凹凸マークの輪郭である境界線を検出し、前記境界線の位置を示すマスク画像を生成するマスク画像生成工程と、前記サンプル原画像において、前記マスク画像に示された前記境界線の位置に対応する領域を除き、残りの領域の高さを離散的な複数の高さ閾値を用いて分類することで得られる高さオフセット画像を生成する高さオフセット画像生成工程と、を具備し、検査作業工程として、前記検査タイヤのサイドウォール面の二次元画像である検査画像から、前記高さオフセット画像を差し引くと共に、前記マスク画像が表す境界領域を除去する差分処理工程と、前記差分処理工程の結果として得られた凹凸除去画像に基づいて、検査タイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査する形状欠陥検査工程と、を具備することを特徴とする。
また、前記微分フィルタの適用前に、前記サンプル原画像内の未検出点を補間して除去し、前記サイドウォール面のプロファイル形状を基に、前記未検出点を除去した画像からサイドウォール面の湾曲成分を除去して、前記未検出点を除去した画像を平面化してもよい。
また、前記高さオフセット画像生成工程は、前記サンプル原画像のタイヤ周方向に沿ったラインデータを抽出し、前記抽出されたラインデータを複製して輝度高さ方向にシフトすることで複製ラインを生成し、前記抽出したラインデータの凹凸マーク部以外における低周波成分を示す曲線と、シフトした複製ラインの凹凸マーク部の低周波成分を示す曲線とが略連続するように前記複製ラインデータをシフトして、そのときのシフト量を決定し、前記シフト量を、前記離散的な高さ閾値としてもよい。
また、前記差分処理工程は、前記差分処理工程で得られた画像内における、当該差分処理工程にて用いたマスク画像でマスクされたマスク範囲に対し、下記の(I)〜(III)のいずれかの手段で高さ座標値を補間する補間工程を有していてもよい。(I)前記マスク範囲を挟む2つの位置での高さ座標値を選び、一方の高さ座標値から他方の高さ座標値に向かって線形的に変化させて得られる高さ座標値を、前記マスク範囲に割り当てることで補間する。(II)前記マスク範囲を挟む2つの位置での高さ座標値を選び、一方の高さ座標値と他方の高さ座標値の平均値を求めることで得られる平均高さ座標値を、前記マスク範囲に割り当てることで補間する。(III)前記マスク範囲に少なくとも一部が重なり且つ前記マスク範囲よりも短いウインドを設け、前記ウインドを前記マスク範囲の一端から一端へ移動させつつ、前記検査画像において前記ウインドに対応する位置の最大の高さ座標値又は最小の高さ座標値を選択して、選択した高さ座標値を前記マスク範囲に割り当てることで補間する。
本発明の実施形態に係るタイヤ形状検査装置1は、回転するタイヤTの表面に照射したライン光の像をカメラによって撮像し、その撮像画像に基づいて光切断法による形状検出を行うことでタイヤT各部の高さを測定する。次にタイヤ形状検査装置1は、測定されたタイヤT各部の高さをそれぞれ対応する輝度値に置き換え、タイヤT表面の二次元画像(検査画像)を得る。
図2に示す如く、タイヤTにおけるサイドウォール面とは、路面と接するトレッド面とリムに挟み込まれるビード部との間の部分である。図2において、白抜きで示された部分は、サイドウォール面上に形成された表示マーク(文字、ロゴ、模様等の正常図形)であり「正常凹凸マーク」と考えることができる。この正常凹凸マークは、サイドウォール面上で正常凹凸マークが形成されていない部分(基面)に対して、所定の高さを有する凹凸で構成されている。
図1(a)に示すように、タイヤ形状検査装置1は、タイヤ回転機2、センサユニット(撮像手段)3(3a、3b)、エンコーダ4、画像処理装置5等を備えている。
タイヤ回転機2は、形状検査の対象であるタイヤTをその回転軸を中心に回転させるモータ等を備えた回転装置である。タイヤ回転機2は、例えば60rpmの回転速度でタイヤTを回転させる。この回転中に、後述するセンサユニット3によって、サイドウォール面の全周範囲の表面形状を検出する。
図1(b)において、Y軸はタイヤTの形状検出位置におけるタイヤT円周の半径方向、Z軸はタイヤTの形状検出位置におけるサイドウォール表面からの検出高さ方向(検出する表面高さの方向)、X軸はY軸及びZ軸に直交する方向を表す。即ち、タイヤTのサイドウォール面の形状検出に用いられるセンサユニット3においては、Z軸はタイヤTの回転軸と平行の座標軸であり、Y軸はタイヤTの回転軸に対する法線の方向を表す座標軸である。なお、タイヤTと座標軸との対応関係は、カメラの支持の態様に応じて変わり得る。
また、撮像カメラ6は、カメラレンズ8及び撮像素子9を備え、タイヤTのサイドウォール面に連ねて照射された複数のライン光の像v1(一の線Ls上の光切断線の像)を撮像するものである。
例えば、60rpmの速度で回転するタイヤTが所定の角度で回転するたびにエンコーダ4から出力される検出信号を受信し、検出信号の受信タイミングに合わせてシャッターが切られるようにセンサユニット3a、3bの撮像カメラ6を制御する。これにより、検出信号の受信タイミングに合った所定の撮像レートで撮像が行われる。
画像処理装置5は、入力された1ライン画像に対して三角測量法の原理を適用することで、光切断線が照射された部分(サイドウォール面上の1ライン部分)の高さ分布情報を得る。次に画像処理装置5は、測定されたタイヤT表面各部の高さをそれぞれ対応する輝度値に置き換えると共に、内蔵されたフレームメモリ(撮像メモリ)に記憶し、タイヤT表面の二次元画像(検査画像)を得る。
なお、高さ分布情報としては、図7(b)に例示したものが相当し、検査画像やサンプル原画像としては、図7(a)に例示したものが対応する。なお、高さ分布情報における縦軸の値(高さ画素値)と、検査画像の輝度値とは一対一に対応するものであって、以降の説明では同義的に使用することとする。
なお、画像処理装置5は、例えばパーソナルコンピュータなどで構成されたハードウエアによって実現される。
図3は、画像処理装置5が実施する処理内容を示すフローチャートである。
この図から明らかなように、画像処理装置5が実施する処理は、タイヤのサイドウォール面に存在する凹凸欠陥をオンライン検査する「検査作業工程」を有している。更に、検査作業工程に先立つ前工程として、「ティーチング作業工程」を有している。
まず、図4を参照して、ティーチング作業工程の詳細を説明する。
ここで得られた高さ画像(生データ)には、「未検出点」が存在する。未検出点とは、正常凹凸マークの段差の影響でシート光がカメラに戻らず受光強度が規定値以下となったために、高さ座標を取得できなかった点であって、高さ座標0(黒点)が出力されている。そこで、未検出点近傍で高さ座標を検出済みであって、且つ未検出点を挟んでタイヤ周方向に並ぶ2つの画素の高さ座標を用いて直線補間値を計算し、計算した直線補間値を未検出点の座標として埋め込む。
まず、湾曲成分方向の平均的な断面プロファイル形状を求め、例えば、断面プロファイル形状の二次曲線による最小二乗フィッティングにより湾曲成分を数式モデル化し、数式モデル化された湾曲成分を、上記直線補間後の高さ画像から除去する。
続いて、図3におけるマスク画像生成工程(S2)について説明する。
このマスク画像生成工程(S2)は、図4(a)において、マスク画像生成のフローチャートとして示されている。
このように得られた微分値の画像に対して、1ラインごとに平均値(Ave)および分散(1σ)を求める。求めた平均値(Ave)および分散(1σ)を用いて、正常凹凸マークの境界線を背景ノイズ的な微分値から分離することのできる二値化閾値を決定し、この二値化閾値を基に微分値の画像を二値化する。これによって、正常凹凸マークの境界線を示す二値化画像が得られる(S23)。
以上の処理を経て得られた画像は、境界線部分の二値画素点の値が1、境界線以外の部分の二値画素点の値が0となるマスク画像であり、図5(c)に示されるようなものである。このマスク画像は、画像処理装置5内のメモリに保存される(S24)。
図7(a)に模式図として示す平面化後のサンプル原画像中、実線で表す部分は、1ラインの位相調整ラインの一部であり、正常凹凸マーク部分を指している。図7(b)のグラフは、例えば、図7(a)で示したような模式的な1ラインの位相調整ラインの高さ画素プロファイル(断面形状)を示している。このプロファイルには、サイドウォール面のうねりである低周波の高さ画素変化(低周波成分)が全体的に存在した上で、正常凹凸マークの部分では、高さ画素値が急激に変化していることがわかる。なお、低周波の高さ画素変化とは、例えば、20次〜70次程度(離散フーリエ変換後の20次〜70次程度)の低周波が示す変化である。
図7(c)のグラフを見ながら、さらに詳しく説明する。
タイヤのサイドウォール面における正常凹凸マーク(文字、図形等)が数種類の高さオフセット値のみから構成されているようなタイヤを前提とすれば、上記の過程は、その数種類の高さオフセット値に対応する離散的な複数の高さ固定値を、Runout成分等の不規則な高さ変化を含む高さプロファイルの中から求める作業であることがわかる。
図6は、本実施形態によるタイヤ形状検査方法において高さ画素プロファイルとラベル領域との関係を示す図である。
図6(a)は、サンプル原画像におけるサイドウォール周方向の高さプロファイル1ラインにおいて、タイヤ周方向のX座標に沿って数百点分を拡大したグラフである。グラフ中の矩形波は、先に求めたマスク画像を反転して生成された反転マスク画像の内、高さプロファイルと同じ位置にある画像を重ねて表示している。
反転マスク画像では、境界線部分の二値画素点の値が0、境界線以外の部分の二値画素点の値が1となるので、図6においては、反転マスク画像の高さ画素値0に相当する領域が正常凹凸マークの境界線部分を指している。反転マスク画像において、境界線部分で区切られる高さ画素値1に相当する領域にそれぞれラベル番号を割り振り、それら領域をラベル領域として決定する。
以降は、同様の方法で、順に隣接する2つの領域W3、W4、・・・の高さ差を求め、求めた高さ差と最も差が小さい高さ固定値を高さオフセット値として割り当てる(S33)。1ライン1周分に対して高さオフセット値を割り当てると、順に別の1ライン1周分に対して同様の割り当てを行いサンプル原画像の全範囲のラインに対して高さオフセット値を割り当てて、図5(b)に示す高さオフセット画像を得る(S34)。
図3の情報登録工程(S4)でマスク画像とオフセット画像とを画像処理装置5に登録して、ティーチング作業工程を終了する。以上により、ティーチングしたタイヤサンプル画像に対して、コンピュータGUI上での確認・修正作業が可能となり、短時間でのティーチング作業を実現できる。
図3及び図5を参照しつつ、以下に、検査作業工程について説明する。
検査作業工程においては、まず、図5(a)に示す検査対象タイヤのサイドウォール面の原画像(検査画像)を取得する。
続いて、図3の差分処理工程(S6)で、検査画像から、ティーチング時に登録された高さオフセット画像を差し引く。これにより、正常凹凸マークの高さが差し引かれたサイドウォール面の高さ画像が得られる。
例えば、1ライン上で周回方向のマスク範囲が連続するX座標値にして数点分程度である場合、マスク画像のマスク範囲を挟んで隣接する2つの正常凹凸マークの両端の平均高さ座標を求め、その平均高さ座標をマスク範囲の高さ座標に採用することで直線補間する。
このような処理を経て、図5(d)に示す文字凹凸除去後の画像を得る。
以上述べたような本発明のタイヤ形状検査方法を用いることで、タイヤサイドウォール面上に存在する正常凹凸であるマーク(文字、ロゴ、模様等)に影響されることなく、正常凹凸マークと同程度の高さ変化を持つ凹凸欠陥(凸欠陥=Bulge、 凹欠陥=Dent)を確実に検査することができるようになる。特に、タイヤ形状の検査において、ゴム製品特有の変形やタイヤに空気を入れたことによる変形等の影響を受けることなくタイヤ形状の検査が可能となる。
例えば、マスク画像生成工程(S2)や高さオフセット画像生成工程(S3)などの各工程を自動で行うようにしてもよいしオペレータが画像を参照しつつ手動で行うようにしてもよい。また、各工程を複数回繰り返し行ってもよい。
仮に確認作業によって、マスク画像に不具合箇所があれば、GUIにより境界線の追加・削除を行い、修正した場合はマスク画像の再計算を行うようにするとよい。次に、設定された高さオフセット画像を確認し、ラベル毎に設定されている一種類の高さ固定値が異常ではないかどうかを確認する。不具合箇所があれば、修正領域を指定して高さオフセット値を変更(±1ずつ増減)し、修正した場合は高さオフセット画像の再計算を行うようにするとよい。
ところで、本実施形態で生成されたマスク画像には、検出したい凹凸欠陥(Bulge/Dent)よりも大きなマスク範囲(マスク領域)が存在することがある。このような大きなマスク範囲に凹凸欠陥が存在する場合、マスクされているがゆえに検出したい凹凸欠陥を見落とすことになる。そのため、高さ座標値を補間する処理を設けることは好ましい。マスク範囲の大きさ(長さ)によってマスク範囲の補間処理を変えると、さらに好ましい。
先に説明したように、差分処理工程(S6)では、まず、検査画像からティーチング時に登録された高さオフセット画像を差し引いて、タイヤサイドウォール面の高さ画像を得る。図8(a)は、得られた高さ画像の1ラインにおける一部分を示している。
平均補間とは、図8(d)に示すように、マスク画像のマスク範囲に対応する位置を挟んで隣接する2つの正常凹凸マークの両端の高さ座標値の平均を求め、その高さ座標値の平均(平均高さ座標値)をマスク範囲に対応する位置の高さ座標値として割り当てることで補間する方法である。
ウインドの設定方法について説明する。以下の説明において、図8(b)の反転マスク画像に示すマスク範囲は、例えば、X軸方向に40画素の長さを持つと仮定する。図8(a)の高さ画像において、マスク範囲の最もX座標が小さい点(最左点)をウインド中心点とする。このウインド中心点とウインド中心点の左右数画素を含む範囲をウインドとして、図8(a)の高さ画像に設定する。例えば、ウインド中心点とその左右10画素を含んでウインドを設定する場合、マスク範囲の最左点をウインド中心点として、21画素分が、ウインドとして設定される。一般に、ウインドの画素数は、マスク範囲の画素数の半分程度又は半分以下が望ましい。
次に、ウインド中心点をX軸方向に1画素分移動させ、上述の方法で、移動後のウインド中心点を含む新たなウインドを設定する。設定された新たなウインド内で、最大の高さ座標値を検出し、検出した値を、ウインド中心点に対応する位置の高さ座標値としてマスク後高さ画像に割り当てる。
最小の高さ座標値を割り当てた場合、得られる高さ画像は、図8(a)の高さ画像が示す正常凹凸マークのベース部分のプロファイルの概形をほぼ再現するものとなる。つまり、最大の高さ座標値を割り当てた場合でも、最小の高さ座標値を割り当てた場合でも、タイヤサイドウォール面におけるマスク範囲の大局的な(低周波成分が示す)凹凸変化を評価することができる。また、ウインド範囲における高さ座標値の最大値と最小値の平均を、ウインド中心点に対応する位置の高さ座標値として割り当てることもできる。
2 タイヤ回転機
3a、3b センサユニット
4 エンコーダ
5 画像処理装置
6 撮像カメラ
7 ライン光源
8 カメラレンズ
9 撮像素子
Claims (10)
- 凹凸マークが形成されたサイドウォール面を有するサンプルタイヤの前記サイドウォール面の画像を用いて、検査タイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査するタイヤ形状検査方法であって、
ティーチング作業工程として、
前記サンプルタイヤのサイドウォール面の二次元画像であるサンプル原画像において、前記凹凸マークの輪郭である境界線を検出し、前記境界線の位置を示すマスク画像を生成するマスク画像生成工程と、
前記サンプル原画像において、前記マスク画像に示された前記境界線の位置に対応する領域を除き、残りの領域の高さを離散的な複数の高さ閾値を用いて分類することで得られる高さオフセット画像を生成する高さオフセット画像生成工程と、を具備し、
検査作業工程として、
前記検査タイヤのサイドウォール面の二次元画像である検査画像から、前記高さオフセット画像を差し引くと共に、前記マスク画像が表す境界領域を除去する差分処理工程と、
前記差分処理工程の結果として得られた凹凸除去画像に基づいて、検査タイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査する形状欠陥検査工程と、を具備することを特徴とするタイヤ形状検査方法。 - 前記マスク画像生成工程は、
微分フィルタを適用することで前記凹凸マークの境界線部分を強調した微分画像を得て、
前記得られた微分画像に対して所定の閾値を適用することで、前記微分画像を二値化して、前記マスク画像を生成することを特徴とする請求項1に記載のタイヤ形状検査方法。 - 前記微分フィルタの適用前に、
前記サンプル原画像内の未検出点を補間して除去し、
前記サイドウォール面のプロファイル形状を基に、前記未検出点を除去した画像からサイドウォール面の湾曲成分を除去して、前記未検出点を除去した画像を平面化することを特徴とする請求項2に記載のタイヤ形状検査方法。 - 前記高さオフセット画像生成工程は、
前記サンプル原画像と、前記マスク画像と、前記凹凸マークに対して設定された前記離散的な複数の高さ閾値とを用いて、
(I)前記サンプル原画像のタイヤ周方向に沿った1つのラインデータに対応するラインデータを、前記マスク画像から抽出し、
(II)前記サンプル原画像の1ラインデータ上で、マスク画像から抽出した前記ラインデータが示す境界線で区切られる各領域を、それぞれ1つのラベル領域とし、
(III)前記ラベル領域のうち、周方向に最も長いラベル領域を高さオフセット値の計算開始領域とし、又は、前記マスク画像が示す境界線で囲まれた領域中、最も面積が大きい領域を高さオフセット値の計算開始領域とし、
(IV)前記計算開始領域から順に、隣接するラベル領域との高さ差を求め、
(V)前記離散的な複数の高さ閾値のうち、求めた高さ差に最も近い高さ閾値を、隣接するラベル領域の高さオフセット値としてすべてのラベル領域について設定し、
前記サンプル原画像の全てのラインデータについて、前記(I)から(V)のステップを繰り返すことで高さオフセット画像を生成することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のタイヤ形状検査方法。 - 前記高さオフセット画像生成工程は、
前記マスク画像を前記高さオフセット画像に重ね合わせ、
前記マスク画像が示す境界線で囲まれた領域ごとに、領域内で最も数多く存在する高さオフセット値を、該領域全体の高さオフセット値として設定することを特徴とする請求項4に記載のタイヤ形状検査方法。 - 前記高さオフセット画像生成工程は、
前記サンプル原画像のタイヤ周方向に沿ったラインデータを抽出し、
前記抽出されたラインデータを複製して輝度高さ方向にシフトすることで複製ラインを生成し、
前記抽出したラインデータの凹凸マーク部以外における低周波成分を示す曲線と、シフトした複製ラインの凹凸マーク部の低周波成分を示す曲線とが略連続するように前記複製ラインデータをシフトして、そのときのシフト量を決定し、
前記シフト量を、前記離散的な高さ閾値とすることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載のタイヤ形状検査方法。 - 前記高さオフセット画像生成工程は、
前記サンプルタイヤの設計図又は金型CADデータから得られる前記凹凸マークの高さ寸法数値、又は前記サンプルタイヤの凹凸マークの高さ寸法の実測値を前記離散的な高さ閾値とすることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載のタイヤ形状検査方法。 - 前記差分処理工程で得られた画像内における、当該差分処理工程にて用いたマスク画像でマスクされたマスク範囲に対し、下記の(I)〜(III)のいずれかの処理で高さ座標値を補間する補間工程を有することを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載のタイヤ形状検査方法。
(I)前記マスク範囲を挟む2つの位置での高さ座標値を選び、一方の高さ座標値から他方の高さ座標値に向かって線形的に変化させて得られる高さ座標値を、前記マスク範囲に割り当てることで補間する。
(II)前記マスク範囲を挟む2つの位置での高さ座標値を選び、一方の高さ座標値と他方の高さ座標値の平均値を求めることで得られる平均高さ座標値を、前記マスク範囲に割り当てることで補間する。
(III)前記マスク範囲に少なくとも一部が重なり且つ前記マスク範囲よりも短いウインドを設け、前記ウインドを前記マスク範囲の一端から一端へ移動させつつ、前記検査画像において前記ウインドに対応する位置の最大の高さ座標値又は最小の高さ座標値を選択して、選択した高さ座標値を前記マスク範囲に割り当てることで補間する。 - 凹凸マークが形成されたサイドウォール面を有するサンプルタイヤの前記サイドウォール面の画像を用いて、検査タイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査するタイヤ形状検査装置であって、
前記サイドウォール面の二次元画像を撮像する撮像手段と、
前記サンプルタイヤのサイドウォール面の二次元画像であるサンプル原画像において、前記凹凸マークの輪郭である境界線を検出し、前記境界線の位置を示すマスク画像を生成するマスク画像生成手段と、
前記サンプル原画像において、前記マスク画像に示された前記境界線の位置に対応する領域を除き、残りの領域の高さを離散的な複数の高さ閾値を用いて分類することで得られる高さオフセット画像を生成する高さオフセット画像生成手段と、を具備し、
前記検査タイヤのサイドウォール面の二次元画像である検査画像から、前記高さオフセット画像を差し引くと共に、前記マスク画像が表す境界領域を除去する差分処理手段と、
前記差分処理工程の結果として得られた凹凸除去画像に基づいて、検査タイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査する形状欠陥検査手段と、を具備することを特徴とするタイヤ形状検査装置。 - 前記撮像手段は、
前記サイドウォール面に一の光切断線を照射するライン光照射手段と、
前記サイドウォール面に照射された前記ライン光の像を撮像する撮像カメラと、
前記撮像カメラが撮像した1ライン画像を逐次蓄えることで、前記サイドウォール面の二次元画像を構成する撮像メモリと、を具備することを特徴とする請求項9に記載のタイヤ形状検査装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010068107A JP5371848B2 (ja) | 2009-12-07 | 2010-03-24 | タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 |
MYPI2012002506A MY162918A (en) | 2009-12-07 | 2010-12-02 | Device and method for inspecting tyre shape |
CN201080055305.2A CN103038601B (zh) | 2009-12-07 | 2010-12-02 | 轮胎形状检查方法以及轮胎形状检查装置 |
PCT/JP2010/007038 WO2011070750A1 (ja) | 2009-12-07 | 2010-12-02 | タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 |
EP10835677.5A EP2500686B1 (en) | 2009-12-07 | 2010-12-02 | Device and method for inspecting tyre shape |
US13/514,285 US9097514B2 (en) | 2009-12-07 | 2010-12-02 | Device and method for inspecting tyre shape |
TW099142630A TWI453385B (zh) | 2009-12-07 | 2010-12-07 | A tire shape inspection method, and a tire shape inspection apparatus |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009277667 | 2009-12-07 | ||
JP2009277667 | 2009-12-07 | ||
JP2010068107A JP5371848B2 (ja) | 2009-12-07 | 2010-03-24 | タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011141260A true JP2011141260A (ja) | 2011-07-21 |
JP5371848B2 JP5371848B2 (ja) | 2013-12-18 |
Family
ID=44145313
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010068107A Active JP5371848B2 (ja) | 2009-12-07 | 2010-03-24 | タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9097514B2 (ja) |
EP (1) | EP2500686B1 (ja) |
JP (1) | JP5371848B2 (ja) |
CN (1) | CN103038601B (ja) |
MY (1) | MY162918A (ja) |
TW (1) | TWI453385B (ja) |
WO (1) | WO2011070750A1 (ja) |
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013065565A1 (ja) * | 2011-11-04 | 2013-05-10 | Ntn株式会社 | 樹脂製保持器の欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
WO2013069389A1 (ja) * | 2011-11-07 | 2013-05-16 | 株式会社神戸製鋼所 | タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 |
WO2014038444A1 (ja) | 2012-09-04 | 2014-03-13 | 株式会社神戸製鋼所 | タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 |
JP2014081218A (ja) * | 2012-10-12 | 2014-05-08 | Ricoh Elemex Corp | 外観検査装置 |
WO2014083749A1 (ja) * | 2012-11-29 | 2014-06-05 | 株式会社神戸製鋼所 | 計測方法及び計測装置 |
JP2014153224A (ja) * | 2013-02-08 | 2014-08-25 | Ricoh Elemex Corp | 外観検査装置および外観検査方法 |
WO2014167784A1 (ja) | 2013-04-08 | 2014-10-16 | 株式会社神戸製鋼所 | 形状検査装置 |
JP2015059843A (ja) * | 2013-09-19 | 2015-03-30 | 株式会社デンソー | 溶接部外観検査装置および溶接部外観検査方法 |
JP2015078960A (ja) * | 2013-10-18 | 2015-04-23 | リコーエレメックス株式会社 | 外観検査装置および外観検査方法 |
JP2015078957A (ja) * | 2013-10-18 | 2015-04-23 | リコーエレメックス株式会社 | 外観検査装置および外観検査方法 |
JP2015175666A (ja) * | 2014-03-13 | 2015-10-05 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 情報処理方法、情報処理システム、情報処理装置、およびプログラム |
JP2015232482A (ja) * | 2014-06-09 | 2015-12-24 | 株式会社キーエンス | 検査装置、検査方法およびプログラム |
JP2016505815A (ja) * | 2012-11-15 | 2016-02-25 | アンドロイド インダストリーズ エルエルシー | タイヤの均一性を決定するためのシステム及び方法 |
JP2016142559A (ja) * | 2015-01-30 | 2016-08-08 | 横浜ゴム株式会社 | タイヤのビード部の検査方法及び検査装置 |
JP2017001628A (ja) * | 2015-06-15 | 2017-01-05 | 横浜ゴム株式会社 | タイヤ測定用パターン形成方法、タイヤ測定方法 |
JP2017187348A (ja) * | 2016-04-04 | 2017-10-12 | 新日鐵住金株式会社 | 表面欠陥検査システム、方法及びプログラム |
JP2018200328A (ja) * | 2018-09-18 | 2018-12-20 | 株式会社キーエンス | 検査装置、検査方法およびプログラム |
WO2023157493A1 (ja) * | 2022-02-21 | 2023-08-24 | 株式会社神戸製鋼所 | 欠陥検出方法、積層造形物の製造方法、欠陥検出装置及び積層造形装置 |
Families Citing this family (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2602585B1 (en) * | 2010-08-04 | 2017-01-04 | Bridgestone Corporation | Tire contour measurement data correction method and tire visual inspection device |
DE102012202271A1 (de) * | 2011-07-11 | 2013-01-17 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Reifenprüfung |
US20130279750A1 (en) * | 2012-04-20 | 2013-10-24 | Dmetrix, Inc. | Identification of foreign object debris |
US8737717B2 (en) * | 2012-04-25 | 2014-05-27 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Method and apparatus for defect identification |
JP5978002B2 (ja) * | 2012-05-22 | 2016-08-24 | リコーエレメックス株式会社 | 検査方法及び外観検査装置 |
JP6019798B2 (ja) * | 2012-06-22 | 2016-11-02 | ソニー株式会社 | 情報処理装置、情報処理システム及び情報処理方法 |
DE102013207374A1 (de) * | 2013-04-23 | 2014-10-23 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Erkennen von Beschriftungen auf Fahrzeugreifen |
US9466101B2 (en) * | 2013-05-01 | 2016-10-11 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited | Detection of defects on wafer during semiconductor fabrication |
CN103292737A (zh) * | 2013-06-13 | 2013-09-11 | 山东万通模具有限公司 | 轮胎模具三维检测仪 |
JP5964788B2 (ja) * | 2013-08-07 | 2016-08-03 | 株式会社神戸製鋼所 | データ生成方法及びデータ生成装置 |
JP5775132B2 (ja) * | 2013-11-01 | 2015-09-09 | 株式会社ブリヂストン | タイヤの検査装置 |
JP5964803B2 (ja) * | 2013-12-03 | 2016-08-03 | 株式会社神戸製鋼所 | データ処理方法及びデータ処理装置 |
US10451408B2 (en) * | 2014-04-07 | 2019-10-22 | The Yokohama Rubber Co., Ltd. | Method and device for inspecting engravings in tire mold |
FR3022380A1 (fr) * | 2014-06-13 | 2015-12-18 | Michelin & Cie | Procede de redressement d'image de pneumatiques |
JP5865442B2 (ja) * | 2014-07-08 | 2016-02-17 | 株式会社ブリヂストン | 空気入りタイヤ |
BR112017013327B1 (pt) | 2014-12-22 | 2022-05-24 | Pirelli Tyre S.P.A. | Método e aparelho para verificar pneus em uma linha de produção de pneu. |
EP3237834B1 (en) | 2014-12-22 | 2020-02-19 | Pirelli Tyre S.p.A. | Apparatus for controlling tyres in a production line |
CN105891231B (zh) * | 2015-01-26 | 2019-01-18 | 青岛农业大学 | 一种基于图像处理的胡萝卜表面缺陷检测方法 |
JP6452508B2 (ja) * | 2015-03-17 | 2019-01-16 | オリンパス株式会社 | 3次元形状測定装置 |
JP6802794B2 (ja) * | 2015-07-24 | 2020-12-23 | オリンパス株式会社 | 補正情報生成装置及び回転する検査対象の画像補正のための補正情報生成方法 |
RU2733978C2 (ru) | 2015-12-16 | 2020-10-08 | Пирелли Тайр С.П.А. | Способ и установка для контроля шин |
KR102595037B1 (ko) | 2015-12-16 | 2023-10-27 | 피렐리 타이어 소시에떼 퍼 아찌오니 | 타이어를 검사하는 장치 및 방법 |
KR20180093958A (ko) * | 2015-12-16 | 2018-08-22 | 피렐리 타이어 소시에떼 퍼 아찌오니 | 타이어를 분석하는 장치 및 방법 |
EP3640621B1 (en) * | 2015-12-17 | 2022-08-31 | Pirelli Tyre S.p.A. | Method and apparatus for calibrating optical tools of a tyre checking system |
WO2017115300A1 (en) | 2015-12-28 | 2017-07-06 | Pirelli Tyre S.P.A. | Apparatus and method for checking tyres |
BR112018012635B1 (pt) | 2015-12-28 | 2022-11-08 | Pirelli Tyre S.P.A | Aparelho para verificação de pneus |
DE102015017010A1 (de) * | 2015-12-30 | 2017-07-06 | Faurecia Innenraum Systeme Gmbh | Verfahren zur Ermittlung von Oberflächendefekten sowie Computer-Programmprodukt |
CN107121058B (zh) * | 2016-02-25 | 2020-09-15 | 株式会社三丰 | 测量方法 |
ITUA20163534A1 (it) | 2016-05-18 | 2017-11-18 | Pirelli | Metodo e linea di controllo di pneumatici per ruote di veicoli |
CN106839931A (zh) * | 2016-08-05 | 2017-06-13 | 通力轮胎有限公司 | 一种轮胎断面测量仪及测量方法 |
CN107632026A (zh) * | 2017-09-22 | 2018-01-26 | 柳州博泽科技有限公司 | 一种基于计算机的轮胎印字检测装置 |
CN107894421B (zh) * | 2017-10-25 | 2020-07-03 | 共享铸钢有限公司 | 摄影测量***和光笔测量***结合检测标识铸件缺陷方法 |
JP7057206B2 (ja) * | 2018-05-07 | 2022-04-19 | Toyo Tire株式会社 | タイヤ歪検出方法 |
CN108656721B (zh) * | 2018-05-24 | 2023-10-13 | 中策橡胶集团股份有限公司 | 一种反光带热转印贴合设备 |
JP7018380B2 (ja) * | 2018-11-30 | 2022-02-10 | 株式会社神戸製鋼所 | タイヤ表面の画像表示方法およびその画像表示に用いる画像処理装置 |
EP3916342A4 (en) * | 2019-01-25 | 2022-09-28 | Toray Industries, Inc. | INSPECTION METHOD AND MANUFACTURING METHOD FOR STRUCTURE AND INSPECTION DEVICE AND MANUFACTURING DEVICE FOR STRUCTURE |
JP7380076B2 (ja) * | 2019-10-23 | 2023-11-15 | 富士フイルムビジネスイノベーション株式会社 | 3dモデル評価システム |
CN111060527B (zh) * | 2019-12-30 | 2021-10-29 | 歌尔股份有限公司 | 一种字符缺陷检测方法及装置 |
CN114485527A (zh) * | 2020-10-26 | 2022-05-13 | 王运斌 | 一种轮胎内轮廓测量方法 |
CN114812411B (zh) * | 2022-05-16 | 2022-11-18 | 泰州汇品不锈钢有限公司 | 一种激光测量法兰厚度的设备 |
TWI819914B (zh) * | 2022-12-06 | 2023-10-21 | 緯創資通股份有限公司 | 輪胎尺寸辨識方法、輪胎尺寸辨識系統及電腦可讀取儲存媒體 |
CN117147187B (zh) * | 2023-10-30 | 2023-12-26 | 南通东来汽车用品有限公司 | 一种新能源汽车轮胎生产用检测装置 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05187843A (ja) * | 1992-01-14 | 1993-07-27 | Kobe Steel Ltd | タイヤ等の被検体の外形状計測装置 |
JPH0634347A (ja) * | 1992-07-21 | 1994-02-08 | Chuo Denshi Keisoku Kk | ホイールアライメント測定装置 |
JPH10160452A (ja) * | 1996-12-03 | 1998-06-19 | Bridgestone Corp | タイヤの外形状判定方法及び装置 |
JP2000180374A (ja) * | 1998-12-15 | 2000-06-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 欠陥検出方法 |
JP2002350126A (ja) * | 2001-05-28 | 2002-12-04 | Altia Co Ltd | 被検体の距離測定装置 |
JP2005331274A (ja) * | 2004-05-18 | 2005-12-02 | Bridgestone Corp | タイヤ凹凸図形の検査方法、および、タイヤ凹凸図形検査装置 |
JP2006284471A (ja) * | 2005-04-04 | 2006-10-19 | Mitsubishi Electric Corp | パターン検査方法及びパターン検査装置並びにパターン検査用プログラム |
JP2008064486A (ja) * | 2006-09-05 | 2008-03-21 | Dainippon Printing Co Ltd | 印刷物検査装置、印刷物検査方法 |
JP2008111671A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-15 | Bridgestone Corp | 分離フィルタ決定装置及びタイヤ検査装置 |
JP2008221896A (ja) * | 2007-03-08 | 2008-09-25 | Kobe Steel Ltd | タイヤ形状検出装置,タイヤ形状検出方法 |
JP2010048718A (ja) * | 2008-08-22 | 2010-03-04 | Toyota Motor Corp | ホイールアライメント測定方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3949796B2 (ja) * | 1997-11-06 | 2007-07-25 | 株式会社ブリヂストン | タイヤ形状判定装置 |
DE19849793C1 (de) * | 1998-10-28 | 2000-03-16 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung und Verfahren zur berührungslosen Erfassung von Unebenheiten in einer gewölbten Oberfläche |
DE10062254C2 (de) * | 2000-12-14 | 2002-12-19 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und Vorrichtung zum Charakterisieren einer Oberfläche und Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung einer Formanomalie einer Oberfläche |
DE10062251C2 (de) * | 2000-12-14 | 2002-12-12 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätsüberprüfung eines Körpers |
JP4034168B2 (ja) * | 2002-11-01 | 2008-01-16 | 株式会社ブリヂストン | タイヤサイド部凹凸状態の検査方法及びその装置 |
JP4339048B2 (ja) * | 2003-08-25 | 2009-10-07 | 国際計測器株式会社 | タイヤのユニフォーミティ計測方法及び装置、並びにタイヤ修正方法及び装置 |
US7269997B2 (en) * | 2004-06-03 | 2007-09-18 | Snap-On Incorporated | Non-contact method and system for tire analysis |
JP4977415B2 (ja) * | 2006-07-21 | 2012-07-18 | 株式会社ブリヂストン | タイヤ検査用基準形状データの作成装置および作成方法 |
EP2634529B1 (en) * | 2008-06-04 | 2014-12-24 | Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho | Tire shape inspection method and tire shape inspection device |
-
2010
- 2010-03-24 JP JP2010068107A patent/JP5371848B2/ja active Active
- 2010-12-02 CN CN201080055305.2A patent/CN103038601B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2010-12-02 MY MYPI2012002506A patent/MY162918A/en unknown
- 2010-12-02 US US13/514,285 patent/US9097514B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-12-02 EP EP10835677.5A patent/EP2500686B1/en active Active
- 2010-12-02 WO PCT/JP2010/007038 patent/WO2011070750A1/ja active Application Filing
- 2010-12-07 TW TW099142630A patent/TWI453385B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05187843A (ja) * | 1992-01-14 | 1993-07-27 | Kobe Steel Ltd | タイヤ等の被検体の外形状計測装置 |
JPH0634347A (ja) * | 1992-07-21 | 1994-02-08 | Chuo Denshi Keisoku Kk | ホイールアライメント測定装置 |
JPH10160452A (ja) * | 1996-12-03 | 1998-06-19 | Bridgestone Corp | タイヤの外形状判定方法及び装置 |
JP2000180374A (ja) * | 1998-12-15 | 2000-06-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 欠陥検出方法 |
JP2002350126A (ja) * | 2001-05-28 | 2002-12-04 | Altia Co Ltd | 被検体の距離測定装置 |
JP2005331274A (ja) * | 2004-05-18 | 2005-12-02 | Bridgestone Corp | タイヤ凹凸図形の検査方法、および、タイヤ凹凸図形検査装置 |
JP2006284471A (ja) * | 2005-04-04 | 2006-10-19 | Mitsubishi Electric Corp | パターン検査方法及びパターン検査装置並びにパターン検査用プログラム |
JP2008064486A (ja) * | 2006-09-05 | 2008-03-21 | Dainippon Printing Co Ltd | 印刷物検査装置、印刷物検査方法 |
JP2008111671A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-15 | Bridgestone Corp | 分離フィルタ決定装置及びタイヤ検査装置 |
JP2008221896A (ja) * | 2007-03-08 | 2008-09-25 | Kobe Steel Ltd | タイヤ形状検出装置,タイヤ形状検出方法 |
JP2010048718A (ja) * | 2008-08-22 | 2010-03-04 | Toyota Motor Corp | ホイールアライメント測定方法 |
Cited By (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013065565A1 (ja) * | 2011-11-04 | 2013-05-10 | Ntn株式会社 | 樹脂製保持器の欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
US9109974B2 (en) | 2011-11-07 | 2015-08-18 | Kobe Steel, Ltd. | Tire shape inspection method and tire shape inspection apparatus |
WO2013069389A1 (ja) * | 2011-11-07 | 2013-05-16 | 株式会社神戸製鋼所 | タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 |
JP2013096972A (ja) * | 2011-11-07 | 2013-05-20 | Kobe Steel Ltd | タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 |
WO2014038444A1 (ja) | 2012-09-04 | 2014-03-13 | 株式会社神戸製鋼所 | タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 |
US9638606B2 (en) | 2012-09-04 | 2017-05-02 | Kobe Steel, Ltd. | Tire shape inspection method and tire shape inspection device |
EP2851650A4 (en) * | 2012-09-04 | 2015-11-25 | Kobe Steel Ltd | TIRE SHAPE INSPECTION METHOD AND TIRE SHAPE INSPECTION DEVICE |
JP2014081218A (ja) * | 2012-10-12 | 2014-05-08 | Ricoh Elemex Corp | 外観検査装置 |
JP2016505815A (ja) * | 2012-11-15 | 2016-02-25 | アンドロイド インダストリーズ エルエルシー | タイヤの均一性を決定するためのシステム及び方法 |
KR101684818B1 (ko) * | 2012-11-29 | 2016-12-08 | 가부시키가이샤 고베 세이코쇼 | 계측 방법 및 계측 장치 |
US9704237B2 (en) | 2012-11-29 | 2017-07-11 | Kobe Steel, Ltd. | Measuring method and measuring device |
WO2014083749A1 (ja) * | 2012-11-29 | 2014-06-05 | 株式会社神戸製鋼所 | 計測方法及び計測装置 |
JP2014104913A (ja) * | 2012-11-29 | 2014-06-09 | Kobe Steel Ltd | 計測方法及び計測装置 |
KR20150074152A (ko) * | 2012-11-29 | 2015-07-01 | 가부시키가이샤 고베 세이코쇼 | 계측 방법 및 계측 장치 |
JP2014153224A (ja) * | 2013-02-08 | 2014-08-25 | Ricoh Elemex Corp | 外観検査装置および外観検査方法 |
CN105051486A (zh) * | 2013-04-08 | 2015-11-11 | 株式会社神户制钢所 | 形状检查装置 |
WO2014167784A1 (ja) | 2013-04-08 | 2014-10-16 | 株式会社神戸製鋼所 | 形状検査装置 |
CN105051486B (zh) * | 2013-04-08 | 2017-11-24 | 株式会社神户制钢所 | 形状检查装置 |
US9625353B2 (en) | 2013-04-08 | 2017-04-18 | Kobe Steel, Ltd. | Shape inspection device |
JP2014202676A (ja) * | 2013-04-08 | 2014-10-27 | 株式会社神戸製鋼所 | 形状検査装置 |
JP2015059843A (ja) * | 2013-09-19 | 2015-03-30 | 株式会社デンソー | 溶接部外観検査装置および溶接部外観検査方法 |
JP2015078957A (ja) * | 2013-10-18 | 2015-04-23 | リコーエレメックス株式会社 | 外観検査装置および外観検査方法 |
JP2015078960A (ja) * | 2013-10-18 | 2015-04-23 | リコーエレメックス株式会社 | 外観検査装置および外観検査方法 |
JP2015175666A (ja) * | 2014-03-13 | 2015-10-05 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 情報処理方法、情報処理システム、情報処理装置、およびプログラム |
JP2015232482A (ja) * | 2014-06-09 | 2015-12-24 | 株式会社キーエンス | 検査装置、検査方法およびプログラム |
JP2016142559A (ja) * | 2015-01-30 | 2016-08-08 | 横浜ゴム株式会社 | タイヤのビード部の検査方法及び検査装置 |
JP2017001628A (ja) * | 2015-06-15 | 2017-01-05 | 横浜ゴム株式会社 | タイヤ測定用パターン形成方法、タイヤ測定方法 |
JP2017187348A (ja) * | 2016-04-04 | 2017-10-12 | 新日鐵住金株式会社 | 表面欠陥検査システム、方法及びプログラム |
JP2018200328A (ja) * | 2018-09-18 | 2018-12-20 | 株式会社キーエンス | 検査装置、検査方法およびプログラム |
WO2023157493A1 (ja) * | 2022-02-21 | 2023-08-24 | 株式会社神戸製鋼所 | 欠陥検出方法、積層造形物の製造方法、欠陥検出装置及び積層造形装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
MY162918A (en) | 2017-07-31 |
TW201131152A (en) | 2011-09-16 |
EP2500686B1 (en) | 2020-09-23 |
WO2011070750A1 (ja) | 2011-06-16 |
EP2500686A1 (en) | 2012-09-19 |
JP5371848B2 (ja) | 2013-12-18 |
CN103038601B (zh) | 2015-05-27 |
TWI453385B (zh) | 2014-09-21 |
US20120242824A1 (en) | 2012-09-27 |
US9097514B2 (en) | 2015-08-04 |
EP2500686A4 (en) | 2017-11-29 |
CN103038601A (zh) | 2013-04-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5371848B2 (ja) | タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 | |
JP5726045B2 (ja) | タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 | |
US8452072B2 (en) | Method and apparatus for inspecting tire shape | |
JP4894628B2 (ja) | 外観検査方法および外観検査装置 | |
JP6753553B1 (ja) | 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、鋼材の製造方法、鋼材の品質管理方法、鋼材の製造設備、表面欠陥判定モデルの生成方法、及び表面欠陥判定モデル | |
WO2014083749A1 (ja) | 計測方法及び計測装置 | |
JP5124997B2 (ja) | タイヤ金型サイドプレートの検査方法および検査装置、タイヤ金型サイドプレート種類の判定方法および判定装置、タイヤ金型加工工程の検査方法および検査装置 | |
CN110959114A (zh) | 缺陷检查方法及缺陷检查装置 | |
JP2010181320A (ja) | タイヤ形状検査方法,タイヤ形状検査装置 | |
Jia et al. | A 3D reconstruction method based on grid laser and gray scale photo for visual inspection of welds | |
JP5923054B2 (ja) | 形状検査装置 | |
JP2014215163A (ja) | 検査装置 | |
JP4279833B2 (ja) | 外観検査方法及び外観検査装置 | |
JP2019194549A (ja) | タイヤ金型サイドプレートの検査方法 | |
KR20180037671A (ko) | 타이어 완제품의 트레드 프로파일 편차 분석방법 | |
JP2014190805A (ja) | タイヤ形状検査装置のデータ処理方法、タイヤ形状検査装置のデータ処理プログラム、及び、タイヤ形状検査装置のデータ処理装置 | |
JP5381846B2 (ja) | 物品検査方法 | |
KR100972640B1 (ko) | 모아레를 이용한 3차원 측정장치의 기준격자 획득방법 및장치 | |
JP2016197043A (ja) | タイヤ形状測定装置及びタイヤ形状測定方法 | |
JP2018044809A (ja) | 線状縞模様除去方法、タイヤ内面検査方法、及びタイヤ内面検査装置 | |
JP2021081390A (ja) | 版の検査方法及び版の検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20121001 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130910 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130917 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5371848 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |