JP5923054B2 - 形状検査装置 - Google Patents
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Landscapes
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Description
7 光源
31、32、33、102 センサ部
100 マスターディスク
101 凹凸板
110 ベース面
120 凸面
130 凹面
140 ベース面
411、412、413、414 有効領域
811 計測データ算出部
812 マスク処理部
813 マスターデータ生成部
820 操作部
830 記憶部
840 表示部
Claims (5)
- タイヤの表面形状を計測し、計測結果に基づいて前記タイヤの凹凸欠陥を検査する形状検査装置であって、
既知の形状値を持つ凹凸板が計測面に取り付けられ、前記タイヤを模擬した金属製のマスターディスクの前記計測面の表面形状を計測する計測部と、
前記凹凸板内の所定の領域を有効領域とし、前記有効領域以外の領域を無効領域とするマスクデータを用いて、前記計測部により計測された計測データから前記無効領域の計測データを除去するマスク処理部と、
前記マスク処理部により前記無効領域が除去された計測データに基づいて、前記マスターディスクの前記計測面の表面形状を示すマスターデータを生成するマスターデータ生成部とを備える形状検査装置。 - 前記凹凸板は、前記計測面と連なる2つのベース面と、前記ベース面から突出した凸面と、前記ベース面から陥没した凹面とを備え、
前記有効領域は、一方の前記ベース面、他方の前記ベース面、前記凸面、及び前記凹面のそれぞれに1箇所ずつ設けられている請求項1記載の形状検査装置。 - 前記マスターディスクの種類に応じたマスクデータを予め記憶する記憶部を更に備え、
前記マスク処理部は、前記計測部により計測されたマスターディスクに対応するマスクデータを用いて前記無効領域の計測データを除去する請求項1又は2記載の形状検査装置。 - 前記計測部は、光切断法により前記計測面の表面形状を計測する請求項1〜3のいずれかに記載の形状検査装置。
- 前記計測面はサイドウォール面である請求項1〜4のいずれかに記載の形状検査装置。
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US7614292B2 (en) * | 2005-04-22 | 2009-11-10 | Bridgestone Corporation | Method and device for detecting defect in outer shape of tire side portion |
US7369956B2 (en) * | 2005-10-25 | 2008-05-06 | Commercial Time Sharing, Inc. | System for testing tire sidewall irregularities and related methods |
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US8712720B2 (en) * | 2008-12-19 | 2014-04-29 | Michelin Recherche at Technigue S.A. | Filtering method for improving the data quality of geometric tire measurements |
JP5176975B2 (ja) * | 2009-01-20 | 2013-04-03 | トヨタ自動車株式会社 | ステータコイルの形状検査方法および形状検査用治具 |
JP5371848B2 (ja) * | 2009-12-07 | 2013-12-18 | 株式会社神戸製鋼所 | タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 |
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