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  1. 基板上方の第1の導電層と、
    前記基板上方の第2の導電層と、
    前記第1の導電層上方及び前記第2の導電層上方の第1の絶縁層と、
    前記第1の絶縁層上方の酸化物半導体と、
    前記酸化物半導体上方の第3の導電層と、
    前記酸化物半導体上方の第4の導電層と、
    前記第1の絶縁層上方の第5の導電層と、
    前記第3の導電層上方、前記第4の導電層上方及び前記第5の導電層上方の第2の絶縁層と、
    前記第2の絶縁層上方の第6の導電層と、
    前記第2の絶縁層上方の第7の導電層と、を有し、
    前記第1の導電層は、トランジスタのゲート電極として機能する領域を有し、
    前記第2の導電層は、容量線として機能する領域を有し、
    前記酸化物半導体層は、前記トランジスタのチャネル形成領域を有し、
    前記第3の導電層は、前記トランジスタのソース電極又はドレイン電極の一方として機能する領域を有し、
    前記第4の導電層は、前記トランジスタのソース電極又はドレイン電極の他方として機能する領域を有し、
    前記第5の導電層は、端子として機能する領域を有し、
    前記第5の導電層は、前記第3の導電層と電気的に接続され、
    前記第6の導電層は、画素電極として機能する領域を有し、
    前記第6の導電層は、前記第4の導電層と電気的に接続され、
    前記第6の導電層は、前記第2の導電層と重なる領域を有し、
    前記第7の導電層は、前記第5の導電層と電気的に接続され、
    前記酸化物半導体は、不活性ガス雰囲気下において加熱処理が施されたものであることを特徴とする表示装置。
  2. 請求項1において、
    前記酸化物半導体の端部は、前記第1の導電層と重なっていることを特徴とする表示装置。
  3. 請求項1又は請求項2において、
    駆動回路を有し、
    前記駆動回路は、n(nは自然数)個の第1のトランジスタと、n個の第2のトランジスタと、第3のトランジスタと、第4のトランジスタと、を有し、
    前記n個の第1のトランジスタのソース又はドレインの一方のそれぞれは、第1の配線と電気的に接続され、
    前記n個の第1のトランジスタのソース又はドレインの他方のそれぞれは、前記第4のトランジスタのゲートと電気的に接続され、
    前記n個の第2のトランジスタのソース又はドレインの一方のそれぞれは、前記第1の配線と電気的に接続され、
    前記n個の第2のトランジスタのソース又はドレインの他方のそれぞれは、前記第1の導電層と電気的に接続され、
    前記第3のトランジスタのソース又はドレインの一方は、第2の配線と電気的に接続され、
    前記第3のトランジスタのソース又はドレインの他方は、前記第4のトランジスタのゲートと電気的に接続され、
    前記第3のトランジスタのゲートは、前記第2の配線と電気的に接続され、
    前記第4のトランジスタのソース又はドレインの一方は、前記第2の配線と電気的に接続され、
    前記第4のトランジスタのソース又はドレインの他方は、前記第1の導電層と電気的に接続され、
    前記n個の第1のトランジスタのゲートのそれぞれは、前記n個の第2のトランジスタのゲートのそれぞれと電気的に接続され、
    前記n個の第1のトランジスタのゲートのそれぞれには、nビットの制御信号のそれぞれが入力されることを特徴とする表示装置。
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