JP2007134369A - 積層基板の製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】電子部品が埋設された積層基板においてそりが発生することのない製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】硬化後の熱硬化性樹脂で構成され、上面に設けられたランドと電子部品の電極とが接続固定材により接続固定された第1の基板と、この第1の基板の上面に配置され、熱流動性を有する樹脂を含浸した織布あるいは不織布からなるシートと、このシートの上面に配置され、硬化後の熱硬化性樹脂で構成された第2の基板とを加熱圧着して一体化する。
【選択図】図1

Description

本発明は、パソコン、移動体通信機器、ビデオカメラ、デジタルカメラ等の各種電子機器に用いられる電子部品が埋設された積層基板の製造方法に関するものである。
以下、従来の電子部品が埋設された積層基板について説明する。従来の電子部品が埋設された積層基板は、図6に示すような構成であった。図6において、30は金属ベース部材からなる基板であり、この基板30の上方には熱可塑性樹脂で形成された基板31a〜31eが積層されていた。
そして、この基板31c、31d内に電子部品32を埋設すべく孔33が設けられていた。34は、基板31a〜31eに設けられたパターンであり、35は基板31a〜31eに設けられたビアホール36内に充填された導電ペーストである。また、37は電子部品32の両端に設けられた電極であり、導電ペースト35と導通するようになっていた。
ここで、導電ペースト35は錫粒と銀粒の混合物である。また、電極37と導電ペースト35が充填されたビアホール36を精密に合わせるため、孔33と電子部品32とのクリアランスは電子部品32の全周にわたって20μmとしており、略電子部品32の外形寸法と略同一寸法になっていた。
以上のように構成された積層基板を、温度250℃〜350℃、圧力1〜10MPa、時間10〜20分で加熱圧着して積層基板を形成していた。即ち、この加熱圧着により、錫が溶融して銀と一体化するとともに、電子部品32の電極37と接続されて、電子部品32が電気的・機械的に固定されていた。
なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献1が知られている。
また上記構成の内、金属ベース部材に替えて熱硬化性樹脂基板をベース部材として採用し、その上方に織布あるいは不織布に加熱流動性のある熱硬化性樹脂を含浸させたシートを積層して同様の構成とする発明も提唱されている。
この発明に関連する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献2が知られている。
特開2003−86949号公報 特開2005−158770号公報
しかしながら、前記従来の構成の金属ベース部材を用いた技術においては、金属ベース板に比較して、その上方に積層される熱可塑性樹脂基板の加熱圧着時の硬化収縮量が極端に大きいので、このことが主原因となって加熱圧着後の積層基板に上方向(上側から見て凹形状)のそりが発生するという課題を有していた。
また同様に、従来の構成の熱硬化性樹脂基板を用いた技術においては、ベース部材である熱硬化性樹脂基板に比較して、その上方に積層される熱硬化性樹脂シートの加熱圧着時の硬化収縮量が極端に大きいので、このことが主原因となって加熱圧着後の積層基板に上方向(上側から見て凹形状)のそりが発生するという課題を有していた。
ここでベース部材である熱硬化性樹脂基板には上面に予め電子部品が加熱リフロー等の手段により接続固定されており、この時の加熱温度は熱硬化性樹脂基板を硬化処理時の温度よりもはるかに高温である。そのため通常の熱硬化性樹脂基板よりも硬化反応が促進されており、加熱圧着時の硬化収縮量が通常の熱硬化性樹脂基板よりも小さく、上記のそり発生をより助長するという課題を有していた。
またベース部材である熱硬化性樹脂基板は電子部品を接続固定するためにある程度の厚みを持たせなければならない。そのために、たとえ小さなそり量であってもその剛性を考慮するとこのそり量を打ち消すためには大きな力が必要となり、通常用いられる金属パターンによる設計的補強や完成品をローラーに通してそりの逆方向に力を加える等の周知の方法では改善できないという課題を有していた。
本発明は前記従来の課題を解決するもので、そりが発生することのない電子部品が埋設された積層基板の製造方法を提供することを目的とする。
前記従来の課題を解決するために、本発明の請求項1に記載の発明は、硬化後の熱硬化性樹脂で構成され、上面に設けられたランドと電子部品の電極とが接続固定材により接続固定された第1の基板と、この第1の基板の上面に配置され、熱流動性を有する樹脂を含浸した織布あるいは不織布からなるシートと、このシートの上面に配置され、硬化後の熱硬化性樹脂で構成された第2の基板とを加熱圧着して一体化することを特徴とする積層基板の製造方法としたものである。
この構成により、第1の基板、第2の基板、シートの加熱圧着時の硬化収縮量を比較すると、シートの収縮量が第1の基板および第2の基板よりも極端に大きいため、第1の基板とシート間ではシートが配置された側、すなわち上方向(上側から見て凹形状)へそりを起こそうとする内部応力が発生するが、第2の基板とシート間では同じくシートが配置された側、すなわち下方向(上側から見て凸形状)へそりを起こそうとする内部応力が発生し、この2つの内部応力が相殺し加熱圧着後の積層基板のそりを低減することができる。
本発明の請求項2に記載の発明は、第2の基板は加熱圧着工程前に単独で加熱する熱処理工程を有する請求項1に記載の積層基板の製造方法としたものであり、この構成により、第2の基板の硬化反応を促進させることで加熱圧着時の硬化収縮量を低減することができるので、第1の基板とシート間で発生する上方向(上側から見て凹形状)へそりを起こそうとする内部応力を相殺するための下方向(上側から見て凸形状)へそりを起こそうとする内部応力を確保することができ、加熱圧着後の積層基板のそりを低減することができる。
本発明の請求項3に記載の発明は、第2の基板は少なくとも1層以上の配線層を有する基板である請求項2に記載の積層基板の製造方法としたものであり、この構成により、加熱処理時の熱収縮が極めて小さい配線層が第2の基板の加熱圧着時の硬化収縮を妨げるので、第1の基板とシート間で発生する上方向(上側から見て凹形状)へそりを起こそうとする内部応力を相殺するための下方向(上側から見て凸形状)へそりを起こそうとする内部応力を確保することができ、加熱圧着後の積層基板のそりを低減することができる。
本発明の請求項4に記載の発明は、第2の基板の配線層を回路形成した後に熱処理を行う請求項3に記載の積層基板の製造方法としたものであり、この構成により、事前に硬化処理を施した第2の基板の配線層を回路形成した後に再度熱処理を行うことで、第2の基板の硬化処理時に発生した熱硬化性樹脂と配線層の間の残留応力を開放することができる。この残留応力を持ったままで後の加熱圧着を行うと、加熱圧着時にこの残留応力が開放され積層基板にそり、ねじれが発生する。しかもこのそり、ねじれの方向性もしくは形状は回路形成の図柄によって異なるものであるので層構成、板厚その他の要因で吸収することは不可能である。また、回路形成後に熱処理を行うとしたのは、回路形成によって配線層が除去された部分の熱硬化性樹脂の残留応力が熱処理によって開放されるためである。したがって第2の基板の配線層を回路形成した後に熱処理を行うことで、加熱圧着後の積層基板のそりを低減することができるという作用を有する。
本発明の請求項5に記載の発明は、第2の基板の熱処理工程の加熱温度が、第2の基板の硬化処理時の加熱温度以上の温度である請求項2に記載の積層基板の製造方法としたものであり、この構成により、第2の基板の硬化反応を事前の硬化処理よりもさらに促進させることで加熱圧着時の硬化収縮量を低減することができるので、第1の基板とシート間で発生する上方向(上側から見て凹形状)へそりを起こそうとする内部応力を相殺するための下方向(上側から見て凸形状)へそりを起こそうとする内部応力を確保することができ、加熱圧着後の積層基板のそりを低減することができる。
本発明の請求項6に記載の発明は、第2の基板の熱処理工程の加熱温度が、第2の基板を構成する熱硬化性樹脂のガラス転移温度以上の温度であるという構成を有しており、熱硬化性樹脂の硬化を促進させる作用を有することで加熱圧着時の硬化収縮量を低減することができるので、第1の基板とシート間で発生する上方向(上側から見て凹形状)へそりを起こそうとする内部応力を相殺するための下方向(上側から見て凸形状)へそりを起こそうとする内部応力を確保することができ、加熱圧着後の積層基板のそりを低減することができる。
本発明の請求項7に記載の発明は、第2の基板の熱処理工程の加熱処理が、第2の基板の平面状態を保持した状態で施されるという構成を有しており、第2の基板単体でのそり量を低減することができ、加熱圧着後の積層基板のそりを低減することができるという作用を有する。
本発明の請求項8に記載の発明は、第2の基板の熱処理工程の加熱処理が、複数枚の第2の基板同士を重ね合わせて処理するという構成を有しており、この構成により、複数枚の第2の基板同士を重ね合わせることで平面状態を保持することが可能となり、第2の基板単体でのそり量を低減することができ、加熱圧着後の積層基板のそりを低減することができるという作用を有する。また同時に多くの基板を処理することが可能となり、コストダウンとしての作用を有する。
本発明の請求項9に記載の発明は、第2の基板の熱処理工程の加熱処理が、第2の基板を金属板で挟持した状態で施されるという構成を有しており、第2の基板単体でのそり量を低減することができ、加熱圧着後の積層基板のそりを低減することができるという作用を有する。また同時に第2の基板にあるパターン同士の密着を避け、基板の平坦性を向上する作用を有する。
本発明の請求項10に記載の発明は、第2の基板の熱処理工程の加熱処理が、第2の基板をステンレス板で挟持した状態で施されるという構成を有しており、第2の基板単体でのそり量を低減することができ、加熱圧着後の積層基板のそりを低減することができるという作用を有する。また同時に第2の基板にあるパターン同士の密着を避け、基板の平坦性を向上する作用を有する。
本発明の請求項11に記載の発明は、第2の基板の熱処理工程の加熱処理が、酸素を含まない気体中で施されるという構成を有しており、第2の基板にある金属箔の酸化を防ぎ、金属箔の変色を防止する作用を有する。また同時に積層基板のそりを低減することができるという作用を有する。
本発明の請求項12に記載の発明は、第2の基板の熱処理工程の加熱処理が、不活性ガス中で施されるという構成を有しており、第2の基板にある金属箔の酸化を防ぎ、金属箔の変色を防止する作用を有する。また同時に積層基板のそりを低減することができるという作用を有する。
本発明の請求項13に記載の発明は、第2の基板の熱処理工程の加熱処理が、窒素ガス中で施されるという構成を有しており、第2の基板にある金属箔の酸化および金属箔の変色の防止を安価で実現するという作用を有する。また同時に積層基板のそりを低減することができるという作用を有する。
本発明の請求項14に記載の発明は、加熱圧着工程で用いる第1の基板に対して、加熱圧着工程と同等の加熱処理を単体で行った時の硬化収縮量をΔL1とし、加熱圧着工程で用いる第2の基板に対して、加熱圧着工程と同等の加熱処理を単体で行った時の硬化収縮量をΔL2とした場合に、ΔL2<ΔL1の関係を満足するという構成を有しており、この構成により、第2の基板の硬化収縮量を低減することで、第1の基板とシート間で発生する上方向(上側から見て凹形状)へそりを起こそうとする内部応力を相殺するための下方向(上側から見て凸形状)へそりを起こそうとする内部応力を確保することができ、加熱圧着後の積層基板のそりを低減することができる。
本発明のプリント配線板の製造方法によれば、第2の基板の硬化収縮量を少なくすることにより、第1の基板とシート間で発生する上方向(上側から見て凹形状)へそりを起こそうとする内部応力を相殺するための下方向(上側から見て凸形状)へそりを起こそうとする内部応力を確保することができ、加熱圧着後の積層基板のそりを低減することができるという効果を奏するものである。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
(実施の形態1)
図1は本発明の実施の形態1における積層基板の製造方法を示す断面図である。
まず、図1において、第1の基板1は熱硬化性の樹脂基板であり、多層に形成されている。そして、この層内にはインナービア8で各層の上面と下面が接続されている。また、各層毎に金属パターン9が敷設され、各電子回路を形成している。
この金属パターン9は、電気導電性を有する物質、例えばCu(銅)箔や各種の導電性樹脂組成物からなっており、本実施の形態においてはCu箔を用いている。インナービア8は、例えば金属粒子と熱硬化性樹脂とを混合した導電性樹脂組成物でなる熱硬化性の電気導電性物質で充填され、その金属粒子としては、Au、AgあるいはCuなどを用いることができる。金属粒子としてのAu、AgあるいはCuは、電気導電性および熱伝導性が高いために好ましく、中でもCuは電気導電性が高くマイグレーションも少なく、また低コストであるためより好ましい。熱硬化性樹脂としては、例えばエポキシ樹脂、フェノール樹脂あるいはシアネート樹脂を用いることができるが、中でもエポキシ樹脂は耐熱性が高いためにより好ましい。
そして第1の基板1の上面には金属パターン9が形成されていて、第1の基板1の上面に載置された集積回路2(電子部品の一例として用いた)や抵抗3(電子部品の一例として用いた)と半田4(接続固定材の一例として用いた)で接続されている。
なお、この半田4は例えば、錫・銀・銅系の鉛フリー半田を用いることが可能であるが、その他の半田材料であっても使用可能である。ただし、近年の環境問題から鉛フリー半田を用いることが望ましい。
上記の電子部品が接続された第1の基板1の上にシート5を積層する。シート5は熱流動性を有する樹脂を含浸した織布あるいは不織布からなり、集積回路2や抵抗3が挿入される箇所には孔10が設けられている。この孔10はドリルやレーザーによって加工され、形状や個数は任意である。シート5の枚数は載置された部品の高さによって変更することが容易にできる。そして、シート5の上面には孔の形成されていないシート6が配置されている。シート6は熱流動性を有する樹脂を含浸した織布あるいは不織布からなる。
なお、シート5、6で使用される絶縁樹脂は、無機フィラーと熱硬化性樹脂とを含む混合物からなっている。無機フィラーには、例えばAl23、MgO、BN、AlN、SiO2およびBaTiO3などを用いることができる。
熱硬化性樹脂には、エポキシ樹脂、フェノール樹脂あるいはシアネート樹脂が好ましいが、中でもエポキシ樹脂は耐熱性が高いためにより好ましい。
そして、シート6の上面に第2の基板7を積層する。第2の基板7は熱硬化性の樹脂基板であり、熱硬化処理を行った後、図2で述べるような熱処理を施したものである。図2については次段落にて説明する。また、この層内は第1の基板1と同様の構成によってインナービアで上面と下面が接続されていてもよい。また、各層毎に金属パターン9が敷設され、各電子回路を形成している。本実施の形態においては第2の基板7には2層基板を用いているが、多層基板にしてもかまわない。
図2は、本発明の実施の形態1における積層基板の製造方法の熱処理工程を示す断面図である。次の加熱圧着工程の前に第2の基板7を予め加熱する熱処理工程を示すものであり、第2の基板7としては外層の回路形成後のものを用いた。金属板11は、第2の基板7をはさむようにして順々に重ねていく。重ねる枚数は任意に設定できる。金属板11は本実施の形態1ではSUS板を用いているが、その他の金属材料であってもかまわない。そのようにして重ねられた金属板11と第2の基板7を不活性ガス12の雰囲気に水平に保持し、加熱をする。不活性ガス12は本実施の形態1ではN2ガスを用いているが、その他のHe,Ar等の不活性ガスでもかまわない。
熱処理の温度は第2の基板7の熱硬化を促進するために少なくともガラス転移温度(以下Tgとする)である190℃を超える温度にて設定する必要がある。特に、予め第2の基板7を熱硬化させた時の温度である200℃を超える温度にて設定するのがより好ましい。
ただし、温度が250℃を超えると、熱硬化性樹脂の劣化により、金属箔との剥離が起こるため、注意が必要である。Tgを超える温度域では温度は高いほうが、そり量の低下につながっている。本実施の形態1では、220℃で1時間の処理を行った。
以上の手順によって得られた、第1の基板1、シート5、シート6、第2の基板7を図1に示すようにこの順に積層した後に加熱圧着を施すことで図3の状態が得られる。
図3は、本発明の実施の形態1における積層基板の製造方法の加熱圧着後の積層基板の断面図である。半田4が溶融しない程度に低い温度で加熱圧着されて一体化される。本実施の形態1における加熱圧着条件は以下のような条件で行って良好な結果を得ている。即ち、加熱温度は180℃〜200℃、加圧圧力は1平方センチあたり約40kg、加圧時間は約1時間である。また、この加熱圧着は真空室内で行っている。これは孔10内の空気を十分に抜いて、樹脂を十分に充填する上で重要なことである。
加熱圧着後の積層基板は必要に応じ、貫通孔加工と貫通孔に金属めっきを施すことで第1の基板1と第2の基板7を電気的に接続することも可能である。
その後、必要に応じ周知の方法により、最外層にソルダレジスト形成、部品図印刷、実装ランドの防錆処理等を行って積層基板が完成する。
次に、本実施の形態におけるそり低減の詳細なメカニズムについて説明する。本発明者は検討を繰り返し、以下のような考案を得た。
図4は、本発明のそりの低減のメカニズムを示した図である。第1の基板1の加熱圧着工程前の寸法をL1[mm]、単体で加熱圧着工程相当の熱処理を加えた時の硬化収縮量をΔL1[mm]とし、板厚をt1[mm]とする。また、第2の基板7についても同様に加熱圧着工程前の寸法をL2[mm]、単体で加熱圧着工程相当の熱処理を加えた時の硬化収縮量をΔL2[mm]とし、板厚をt2[mm]とする。シート5、6についても同様に加熱圧着工程前の寸法をLp[mm]、板厚をtp[mm]、単体で加熱圧着工程相当の熱処理を加えた時の硬化収縮量をΔLp[mm]とする。また、第1の基板1とシート5、6の層間で発生する応力をσa[N/mm2]、第2の基板7とシート5、6の層間で発生する応力をσb[N/mm2]とする。そりは各層での物性の相違によって、加熱圧着後の収縮量が異なるために、σa、σbといった、層間で応力を発生させる。各層間での力の差がそりを発生させている。よって、第1の基板1とシート5、6の層間で発生する力をF1[N]とし、第2の基板7とシート5、6の層間で発生する力をF2[N]として、それぞれの式を求めると、
F1=σa×(t1+tp)×{(L1−ΔL1)−(Lp−ΔLp)}
F2=σb×(t2+tp)×{(L2−ΔL2)−(Lp−ΔLp)}
となる。F1−F2の値の絶対値が小さくなるほどそりは少なくなり、また、大きくなるほどそりは増大する。
上に示した図であるが、本発明の実施の形態では、第1の基板1と第2の基板7の材料としては、両者とも同系の樹脂を用いているため、σaとσb、ΔL1とΔL2の間に大きな差は出てこない。よって、第1の基板1と第2の基板7の板厚の差が大きな影響を与えることがわかる。ここで、第1の基板1は部品を実装するため、最低でも4層以上の積層板である必要がある。本実施の形態では6層基板としている。それに対して、近年の薄型化への要求が大きくなっている背景を踏まえると、部品を実装しない第2の基板7に対してはなるべく薄く作製することが要求されている。本実施の形態では2層基板を用いている。そのため板厚に関してはt1>t2となり、層間で発生する力の関係としてF1>F2となる。また、異系の樹脂を用いた場合、必ずしも板厚によらない場合が発生するが、その際は、F1、F2値を計算することにより、値の低い方に熱処理工程を施すことで同様の効果を得ることができる。
ここで、第2の基板7が加熱圧着工程前に熱処理工程を施す時を考えてみる。
図5は第2の基板7を単体で熱処理工程を施した回数とそのときの硬化収縮量を表したグラフである。1回目の熱処理では第2の基板の硬化収縮量は200μm程度なのに対して、2回目以降では硬化収縮量も10μm前後となり、それ以降何回熱処理を加えても一定の値となることがわかる。このことから、第2の基板7に1回予め熱処理を加えたものでは、上記したF2の式において、ΔL2が小さくなるので、F2の値としては大きくなることがわかる。したがってF1−F2の値の絶対値が熱処理を加えることによって、低減することが出来るために、そり量が小さくなる。
以上のように本発明の積層板の製造方法は、電子部品が埋設された積層板をそりが発生することなく製造し得るものであり、パソコン、移動体通信機器、ビデオカメラ、デジタルカメラ等の各種電子機器に用いられる積層基板の製造方法として有用である。
本発明の実施の形態1における積層基板の製造方法を示す断面図 本発明の実施の形態1における積層基板の製造方法の熱処理工程を示す断面図 本発明の実施の形態1における積層基板の製造方法の加熱圧着後の積層基板の断面図 本発明の実施の形態1における積層基板の製造方法のそり低減のメカニズムを示した図 本発明の実施の形態1における積層基板の製造方法の第2の基板7を単体で熱処理工程を施した回数とそのときの硬化収縮量を表したグラフ 従来の積層基板の組み立てを示す断面図
符号の説明
1 第1の基板
2 集積回路
3 抵抗
4 半田
5 シート(孔あり)
6 シート(孔なし)
7 第2の基板
8 インナービア
9 金属パターン
10 孔
11 金属板
12 不活性ガス

Claims (14)

  1. 硬化後の熱硬化性樹脂で構成され、上面に設けられたランドと電子部品の電極とが接続固定材により接続固定された第1の基板と、この第1の基板の上面に配置され、熱流動性を有する樹脂を含浸した織布あるいは不織布からなるシートと、このシートの上面に配置され、硬化後の熱硬化性樹脂で構成された第2の基板とを加熱圧着して一体化することを特徴とする積層基板の製造方法。
  2. 第2の基板は加熱圧着工程前に単独で加熱する熱処理工程を有する請求項1に記載の積層基板の製造方法。
  3. 第2の基板は少なくとも1層以上の配線層を有する基板である請求項2に記載の積層基板の製造方法。
  4. 第2の基板の配線層を回路形成した後に熱処理を行う請求項3に記載の積層基板の製造方法。
  5. 第2の基板の熱処理工程の加熱温度が、第2の基板の硬化処理時の加熱温度以上の温度である請求項2に記載の積層基板の製造方法。
  6. 第2の基板の熱処理工程の加熱温度が、第2の基板を構成する熱硬化性樹脂のガラス転移温度以上の温度である請求項2に記載の積層基板の製造方法。
  7. 第2の基板の熱処理工程の加熱処理が、第2の基板の平面状態を保持した状態で施される請求項2に記載の積層基板の製造方法。
  8. 第2の基板の熱処理工程の加熱処理が、複数枚の第2の基板同士を重ね合わせて処理する請求項2に記載の積層基板の製造方法。
  9. 第2の基板の熱処理工程の加熱処理が、第2の基板を金属板で挟持した状態で施される請求項2に記載の積層基板の製造方法。
  10. 第2の基板の熱処理工程の加熱処理が、第2の基板をステンレス板で挟持した状態で施される請求項2に記載の積層基板の製造方法。
  11. 第2の基板の熱処理工程の加熱処理が、酸素を含まない気体中で施される請求項2に記載の積層基板の製造方法。
  12. 第2の基板の熱処理工程の加熱処理が、不活性ガス中で施される請求項11に記載の積層基板の製造方法。
  13. 第2の基板の熱処理工程の加熱処理が、窒素ガス中で施される請求項11に記載の積層基板の製造方法。
  14. 加熱圧着工程で用いる第1の基板に対して、加熱圧着工程と同等の加熱処理を単体で行った時の硬化収縮量をΔL1とし、加熱圧着工程で用いる第2の基板に対して、加熱圧着工程と同等の加熱処理を単体で行った時の硬化収縮量をΔL2とした場合に、ΔL2<ΔL1の関係を満足する請求項2に記載の積層基板の製造方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01215514A (ja) * 1988-02-24 1989-08-29 Matsushita Electric Works Ltd 電気用積層板の製造方法
JPH08264943A (ja) * 1995-03-27 1996-10-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 回路形成基板の製造方法および回路形成基板の製造装置
JPH09214139A (ja) * 1996-01-30 1997-08-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 多層プリント配線基板の製造方法
JP2003209357A (ja) * 2002-01-15 2003-07-25 Sony Corp 多層基板製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01215514A (ja) * 1988-02-24 1989-08-29 Matsushita Electric Works Ltd 電気用積層板の製造方法
JPH08264943A (ja) * 1995-03-27 1996-10-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 回路形成基板の製造方法および回路形成基板の製造装置
JPH09214139A (ja) * 1996-01-30 1997-08-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 多層プリント配線基板の製造方法
JP2003209357A (ja) * 2002-01-15 2003-07-25 Sony Corp 多層基板製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101488280B1 (ko) 2013-12-10 2015-02-04 현우산업 주식회사 회로기판

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