JP2006300925A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2006300925A5
JP2006300925A5 JP2006056493A JP2006056493A JP2006300925A5 JP 2006300925 A5 JP2006300925 A5 JP 2006300925A5 JP 2006056493 A JP2006056493 A JP 2006056493A JP 2006056493 A JP2006056493 A JP 2006056493A JP 2006300925 A5 JP2006300925 A5 JP 2006300925A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
specimen
substrate
unit
inspection apparatus
terahertz wave
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006056493A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006300925A (ja
JP4878180B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2006056493A priority Critical patent/JP4878180B2/ja
Priority claimed from JP2006056493A external-priority patent/JP4878180B2/ja
Publication of JP2006300925A publication Critical patent/JP2006300925A/ja
Publication of JP2006300925A5 publication Critical patent/JP2006300925A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4878180B2 publication Critical patent/JP4878180B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (11)

  1. テラヘルツ波を用いて検体を検査するための検査装置であって、
    前記検体を保持する構造を含む基板と、
    前記基板に設けられ、前記構造に保持された前記検体にテラヘルツ波を発信するための発信部と、
    前記基板に設けられ、前記検体からのテラヘルツ波を受信するための受信部と、を備えることを特徴とする検査装置。
  2. 前記発信部あるいは前記受信部はアンテナ構造を有することを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
  3. 前記アンテナ構造は、複数の導体から成り、該複数の導体を間隙を有して対向配置したボウタイ型のアンテナであることを特徴とする請求項2に記載の検査装置。
  4. 前記発信部と前記受信部とが、前記基板を挟んで対向して配置されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の検査装置。
  5. 前記発信部は前記基板の上部に設けられ、前記受信部は前記基板の下部に設けられることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の検査装置。
  6. 前記発信部あるいは前記受信部は、負性抵抗素子を有ることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の検査装置。
  7. 前記発信部と前記受信部とは、共通の構造であり、前記テラヘルツ波を発信する機能とテラヘルツ波を受信する機能を兼ね備えていることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の検査装置。
  8. 前記検体保持部に前記検体を挿入するための検体挿入手段を備えることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の検査装置。
  9. 前記検体挿入手段は、前記検体を前記検体保持部に噴射して挿入するためのインクジェットであることを特徴とする請求項8に記載の検査装置。
  10. 前記発信部から発信するテラヘルツ波を発生させるための発生手段と、
    前記受信部で受信したテラヘルツ波を検出するための検出手段と、
    前記検体保持部に保持された検体の物理的特性を予め保持しておくデータベースと、
    前記検出手段によって検出されたテラヘルツ波の情報と前記データベースが保持する情報を比較する比較と、を有することを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の検査装置。
  11. 電磁波を用いて検体を検査するための検査装置であって、
    前記検体を保持する構造を含む基板と、
    前記基板の上部に設けられ、前記構造に保持された前記検体に電磁波を発信するためのアンテナ構造を有する発信部と、
    前記基板を介して前記発信部に対向して該基板の下部に設けられ、前記検体からの電磁波を受信するためのアンテナ構造を有する受信部と、を備えることを特徴とする検査装置。
JP2006056493A 2005-03-24 2006-03-02 電磁波を用いる検査装置 Expired - Fee Related JP4878180B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006056493A JP4878180B2 (ja) 2005-03-24 2006-03-02 電磁波を用いる検査装置

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005087326 2005-03-24
JP2005087326 2005-03-24
JP2006056493A JP4878180B2 (ja) 2005-03-24 2006-03-02 電磁波を用いる検査装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2006300925A JP2006300925A (ja) 2006-11-02
JP2006300925A5 true JP2006300925A5 (ja) 2009-12-17
JP4878180B2 JP4878180B2 (ja) 2012-02-15

Family

ID=36607347

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006056493A Expired - Fee Related JP4878180B2 (ja) 2005-03-24 2006-03-02 電磁波を用いる検査装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7633299B2 (ja)
EP (1) EP1864111B1 (ja)
JP (1) JP4878180B2 (ja)
AT (1) ATE441847T1 (ja)
DE (1) DE602006008908D1 (ja)
WO (1) WO2006101252A1 (ja)

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8548415B2 (en) * 2004-12-16 2013-10-01 Northrop Grumman Systems Corporation Carbon nanotube devices and method of fabricating the same
JP4636917B2 (ja) * 2005-03-28 2011-02-23 キヤノン株式会社 検体保持用のデバイス、それを用いた検体検出装置及び検体検出方法
JP5006642B2 (ja) * 2006-05-31 2012-08-22 キヤノン株式会社 テラヘルツ波発振器
JP4398972B2 (ja) 2006-12-11 2010-01-13 株式会社東芝 電磁波センサ、撮像素子及び撮像装置
JP4977048B2 (ja) * 2007-02-01 2012-07-18 キヤノン株式会社 アンテナ素子
JP5186176B2 (ja) * 2007-10-19 2013-04-17 株式会社ジェーシービー 認証システム及び認証用可搬媒体
JP4807707B2 (ja) * 2007-11-30 2011-11-02 キヤノン株式会社 波形情報取得装置
JP4975000B2 (ja) * 2007-12-07 2012-07-11 キヤノン株式会社 電磁波発生素子、電磁波集積素子、及び電磁波検出装置
JP4975001B2 (ja) * 2007-12-28 2012-07-11 キヤノン株式会社 波形情報取得装置及び波形情報取得方法
JP5341488B2 (ja) 2008-01-18 2013-11-13 キヤノン株式会社 テラヘルツ波を測定するための装置及び方法
JP5328319B2 (ja) * 2008-01-29 2013-10-30 キヤノン株式会社 テラヘルツ波を用いた検査装置及び検査方法
JP5328265B2 (ja) * 2008-08-25 2013-10-30 キヤノン株式会社 テラヘルツ波発生素子、及びテラヘルツ波発生装置
US8113427B2 (en) * 2008-12-18 2012-02-14 Ncr Corporation Methods and apparatus for automated product identification in point of sale applications
JP5632599B2 (ja) 2009-09-07 2014-11-26 キヤノン株式会社 発振器
JP5735824B2 (ja) 2011-03-04 2015-06-17 キヤノン株式会社 情報取得装置及び情報取得方法
JP5799538B2 (ja) * 2011-03-18 2015-10-28 セイコーエプソン株式会社 テラヘルツ波発生装置、カメラ、イメージング装置、計測装置および光源装置
JP6214201B2 (ja) * 2013-05-02 2017-10-18 キヤノン株式会社 画像取得装置
DE102013213233A1 (de) * 2013-07-05 2015-01-08 Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft Verfahren zum Herstellen eines Gehäuses mit einer Schirmung vor elektrischer und/oder magnetischer Strahlung und Gehäuse mit Schirmung vor elektrischer und/oder magnetischer Strahlung
JP2015087163A (ja) * 2013-10-29 2015-05-07 パイオニア株式会社 テラヘルツ波計測装置
CN104132894B (zh) * 2014-06-12 2017-01-11 清华大学 一种用于模拟太赫兹大气传播的实验装置及方法
KR20190056771A (ko) * 2017-11-17 2019-05-27 현대자동차주식회사 수밀 검사 장치 및 방법
JP7362409B2 (ja) 2019-10-17 2023-10-17 キヤノン株式会社 照明装置およびカメラシステム
JP7211538B2 (ja) * 2019-12-20 2023-01-24 日本電信電話株式会社 誘電率測定方法、誘電率測定装置及び誘電率測定プログラム
CN113219223B (zh) * 2021-03-15 2022-02-01 北京航空航天大学 一种全封闭矩形太赫兹暗室

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0618421A (ja) 1992-06-30 1994-01-25 Toshiba Corp 溶液成分センサ
US5623145A (en) 1995-02-15 1997-04-22 Lucent Technologies Inc. Method and apparatus for terahertz imaging
DE29711571U1 (de) * 1997-07-02 1998-11-05 Tews Elektronik Dipl.-Ing. Manfred Tews, 22459 Hamburg Feuchte- und Dichtesensor
US6448553B1 (en) 1999-04-26 2002-09-10 Canon Kabushiki Kaisha Signal detector to be used with scanning probe and atomic force microscope
GB2360842B (en) * 2000-03-31 2002-06-26 Toshiba Res Europ Ltd An apparatus and method for investigating a sample
GB2371618B (en) * 2001-01-30 2004-11-17 Teraprobe Ltd A probe, apparatus and method for examining a sample
JP3477496B2 (ja) 2001-02-27 2003-12-10 独立行政法人通信総合研究所 電磁波検出装置および検出方法
JP2002310882A (ja) 2001-04-17 2002-10-23 Canon Inc 走査型プローブによる信号検出装置、該装置によるプローブ顕微鏡、及び走査型プローブによる信号検出方法、該方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法
US6846454B2 (en) * 2001-12-24 2005-01-25 Agilent Technologies, Inc. Fluid exit in reaction chambers
JP4588947B2 (ja) * 2001-12-28 2010-12-01 日本電波工業株式会社 コプレーナライン型の高周波発振器
US6815683B2 (en) * 2002-05-31 2004-11-09 New Jersey Institute Of Technology Terahertz imaging system and method
JP3764711B2 (ja) * 2002-08-27 2006-04-12 株式会社東芝 管状バイオ検知システム
JP3877661B2 (ja) * 2002-08-29 2007-02-07 三洋電機株式会社 マイクロ化学分析装置
JP4183546B2 (ja) * 2003-04-11 2008-11-19 独立行政法人理化学研究所 テラヘルツ波光学系
US7230244B2 (en) 2003-05-16 2007-06-12 Sarnoff Corporation Method and apparatus for the detection of terahertz radiation absorption
EP1903328B1 (en) * 2003-06-25 2011-12-21 Canon Kabushiki Kaisha High frequency electrical signal control device and sensing system
JP3950820B2 (ja) * 2003-06-25 2007-08-01 キヤノン株式会社 高周波電気信号制御装置及びセンシングシステム
JP4533044B2 (ja) * 2003-08-27 2010-08-25 キヤノン株式会社 センサ
JP4136858B2 (ja) 2003-09-12 2008-08-20 キヤノン株式会社 位置検出装置、及び情報入力装置
JP4217646B2 (ja) 2004-03-26 2009-02-04 キヤノン株式会社 認証方法及び認証装置
US7449695B2 (en) * 2004-05-26 2008-11-11 Picometrix Terahertz imaging system for examining articles
JP3913253B2 (ja) * 2004-07-30 2007-05-09 キヤノン株式会社 光半導体装置およびその製造方法
JP2006121643A (ja) 2004-09-21 2006-05-11 Canon Inc 平面アンテナ
JP4898472B2 (ja) 2006-04-11 2012-03-14 キヤノン株式会社 検査装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006300925A5 (ja)
US9360461B2 (en) Acoustic coupling shoes for use in inspecting non-flat surfaces
JP2008027219A5 (ja)
EP1924840A4 (en) SENSOR DEVICE
TW200700736A (en) Conductive contacter holder and conductive contacter unit
WO2008051953A3 (en) Non-destructive testing of physical characteristics of composite structures
ATE441847T1 (de) Prüfvorrichtung mit terahertz-wellen
WO2008084471A3 (en) Improved electronic pen device
EP2239853A3 (en) Sensor-based wireless communication systems using compressive sampling
CN102928715B (zh) 测试电磁屏蔽织物反射及透射电磁波强度的装置及方法
EP2790038A3 (en) System and method for sensing signal disruption
MY144509A (en) Instrumentation probe for in situ measurement and testing of the seabed
WO2008105918A3 (en) Methods of detection using acousto-mechanical detection systems
WO2013005134A3 (en) Imaging using probes
EP2551955A3 (en) Integrated antenna and sensor element apparatus for a portable wireless terminal
WO2007054685A3 (en) Passive detection apparatus
DK1910869T3 (da) Lasermåleindretning og fremgangsmåde
Jin et al. Data communications using guided elastic waves by time reversal pulse position modulation: Experimental study
WO2009041313A1 (ja) 超音波探傷方法とその装置
GB2449043A (en) Water soluble conjugates for electrochemical detection
EP2138981A3 (en) Ticket examining apparatus and ticket examining method
WO2008001279A3 (en) Disposable assay device with removables modules and remote data transfer system
CN101238365A (zh) 超声文件检查***
CN106225742A (zh) 一种基于缝隙耦合微带天线的应变传感器
CN104865316A (zh) 一种单侧空气耦合超声扫描成像装置及方法