JP2006268904A - 磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 ガラス基板の表面を機械的に研磨し、更に、弗酸の濃度が0.01重量%〜0.5重量%で蓚酸の濃度が1重量%〜5重量%の弗酸と蓚酸とを含む混合液で、研磨後のガラス基板をエッチングする。これにより、微小うねりの高さWaが3Å以下で、表面平均粗さRaが6〜10Åのガラス基板が作製され、ガラス基板表面1aにテクスチャー5が良好に形成される。そしてエッチング後のガラス基板を、濃度が0.05重量%〜3重量%の水酸化ナトリウム水溶液、又は、濃度が0.05重量%〜3重量%の水酸化カリウム水溶液に浸漬する。これにより、エッチング後のガラス基板表面1aに残存する付着物を除去することができる。
【選択図】 図2
Description
次に、この実施形態に係る磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法の具体的な実施例について説明する。実施例を説明する前に、アルカリ性水溶液による処理を施さない比較例について説明する。
この比較例で用いたガラス基板について説明する。この比較例のガラス基板には中央に孔が形成されている。
材質:ホウ珪酸ガラスからなるアモルファスガラス
外径:65[mm]
内径:20[mm]
厚さ:0.635[mm]
ガラス基板1枚あたりの面積:0.0030m2
定盤の回転数:30rpm
研磨荷重:150kg(100枚のガラス基板に対する研磨圧力は500kg/m2)
加工時間:10分
加工除去量:3μm
加工数量:100枚
上述の条件で研磨した後、調整加工を実施した。
定盤の回転数:40rpm
調整時間:2分
研磨荷重:80kg(100枚のガラス基板に対する研磨圧力は266kg/m2)
上記の条件で調整加工を実施し、微小うねりの高さWa、表面平均粗さRa、端部ロールオフ値を測定した。この実施例で用いた研磨機、研磨布及び研磨材を以下に示す。
研磨機:「浜井産業」製の16B型両面研磨機
研磨布:「カネボウ」製のスエードタイプ研磨布
研磨材:「昭和電工」製の酸化セリウム研磨材(平均粒子径0.5μm)
<微小うねりの高さWa>
(平均値):2.4Å、(最大値):2.8Å、(最小値):2.1Å、(標準偏差):0.13Å
<表面平均粗さRa>
(平均値):4.3Å、(最大値):4.6Å、(最小値):3.8Å、(標準偏差):0.16Å
<端部ロールオフ値>
(平均値):−0.09μm、(最大値):−0.03μm(最小値):−0.16μm、(標準偏差):0.041μm
エッチング液の温度:50℃
エッチング時間:160秒
上記の条件で調整加工後のガラス基板をエッチング液に浸漬してエッチングを行なった。
<微小うねりの高さWa>
(平均値):2.2Å、(最大値):2.7Å、(最小値):1.9Å、(標準偏差):0.091Å
<表面平均粗さRa>
(平均値):7.2Å、(最大値):7.8Å、(最小値):6.8Å、(標準偏差):0.32Å
<端部ロールオフ値>
(平均値):−0.03μm、(最大値):±0.00μm、(最小値):−0.10μm、(標準偏差):0.0068μm
付着物のカウント数:(平均値)83.2個/枚、(最大値)147個/枚、(最小値)47個/枚
次に、この発明の実施例である、エッチングされたガラス基板をアルカリ性水溶液に浸漬した例について説明する。この実施例で用いたガラス基板は、比較例に使用したガラス基板と同じものである。具体的には、微小うねりの高さWaを低くするための調整加工が施され、その後、平均表面粗さRaを高くするためのエッチング処理が施されたガラス基板を用いた。
(平均値):2.3Å、(最大値):2.8Å、(最小値):1.8Å、(標準偏差):0.10Å
<表面平均粗さRa>
(平均値):7.1Å、(最大値):7.6Å、(最小値):6.7Å、(標準偏差):0.33Å
<端部ロールオフ値>
(平均値):−0.03μm、(最大値):±0.00μm、(最小値):−0.10μm、(標準偏差):0.0065μm
NaOHの濃度:0.5重量%
水溶液の温度:30℃
浸漬時間:5分
超音波洗浄装置の超音波周波数:80kHz
数量:50枚
(平均値):2.2Å、(最大値):2.8Å、(最小値):1.7Å、(標準偏差):0.11Å
<表面平均粗さRa>
(平均値):6.8Å、(最大値):7.2Å、(最小値):6.6Å、(標準偏差):0.13Å
<端部ロールオフ値>
(平均値):−0.03μm、(最大値):±0.00μm、(最小値):−0.10μm、(標準偏差):0.0065μm
付着物のカウント数:(平均値)12.5個/枚、(最大値)32個/枚、(最小値)5個/枚
この実施例2で用いたガラス基板は、比較例及び実施例1で使用したガラス基板と同じものである。具体的には、微小うねりの高さWaを低くするための調整加工が施され、その後、平均表面粗さRaを高くするためのエッチング処理が施されたガラス基板を用いた。
NaOHの濃度:0.05重量%
水溶液の温度:30℃
浸漬時間:15分
超音波洗浄装置の超音波周波数:80kHz
数量:50枚
(平均値):2.3Å、(最大値):2.8Å、(最小値):1.8Å、(標準偏差):0.12Å
<表面平均粗さRa>
(平均値):6.9Å、(最大値):7.3Å、(最小値):6.6Å、(標準偏差):0.15Å
<端部ロールオフ値>
(平均値):−0.03μm、(最大値):±0.00μm、(最小値):−0.10μm、(標準偏差):0.0065μm
付着物のカウント数:(平均値)11.4個/枚、(最大値)31個/枚、(最小値)4個/枚
この実施例3に用いたガラス基板は、比較例及び実施例1、2で使用したガラス基板と同じものである。具体的には、微小うねりの高さWaを低くするための調整加工が施され、その後、平均表面粗さRaを高くするためのエッチング処理が施されたガラス基板を用いた。
NaOHの濃度:0.5重量%
水溶液の温度:70℃
浸漬時間:2分
超音波洗浄装置の超音波周波数:80kHz
数量:50枚
(平均値):2.1Å、(最大値):2.5Å、(最小値):1.9Å、(標準偏差):0.09Å
<表面平均粗さRa>
(平均値):6.8Å、(最大値):7.1Å、(最小値):6.6Å、(標準偏差):0.10Å
<端部ロールオフ値>
(平均値):−0.03μm、(最大値):±0.00μm、(最小値):−0.10μm、(標準偏差):0.0065μm
付着物のカウント数:(平均値)13.3個/枚、(最大値)28個/枚、(最小値)7個/枚
この実施例4に用いたガラス基板は、比較例及び実施例1、2、3で使用したガラス基板と同じものである。具体的には、微小うねりの高さWaを低くするための調整加工が施され、その後、平均表面粗さRaを高くするためのエッチング処理が施されたガラス基板を用いた。
NaOHの濃度:3.0重量%
水溶液の温度:30℃
浸漬時間:2分
超音波洗浄装置の超音波周波数:80kHz
数量:50枚
(平均値):2.2Å、(最大値):2.5Å、(最小値):2.0Å、(標準偏差):0.08Å
<表面平均粗さRa>
(平均値):6.7Å、(最大値):7.1Å、(最小値):6.6Å、(標準偏差):0.08Å
<端部ロールオフ値>
(平均値):−0.03μm、(最大値):±0.00μm、(最小値):−0.10μm、(標準偏差):0.0065μm
付着物のカウント数:(平均値)15.1個/枚、(最大値)31個/枚、(最小値)7個/枚
次に、アルカリ性水溶液として水酸化カリウム水溶液を用いた例について説明する。この実施例5では、上記実施例1、2、3、4と同じ条件で、アルカリ性水溶液を水酸化カリウム水溶液に換えて処理を行った。この実施例5に用いたガラス基板は、比較例及び実施例1、2、3、4で使用したガラス基板と同じものである。具体的には、微小うねりの高さWaを低くするための調整加工が施され、その後、平均表面粗さRaを高くするためのエッチング処理が施されたガラス基板を用いた。
KOHの濃度:0.05重量%
水溶液の温度:30℃
浸漬時間:15分
超音波洗浄装置の超音波周波数:80kHz
数量:50枚
(平均値):2.3Å、(最大値):2.9Å、(最小値):1.7Å、(標準偏差):0.13Å
<表面平均粗さRa>
(平均値):6.6Å、(最大値):7.0Å、(最小値):6.3Å、(標準偏差):0.09Å
<端部ロールオフ値>
(平均値):−0.03μm、(最大値):±0.00μm、(最小値):−0.10μm、(標準偏差):0.0062μm
付着物のカウント数:(平均値)11.3個/枚、(最大値)28個/枚、(最小値)4個/枚
この実施例6に用いたガラス基板は、比較例及び実施例1、2、3、4で使用したガラス基板と同じものである。
KOHの濃度:3.0重量%
水溶液の温度:30℃
浸漬時間:2分
超音波洗浄装置の超音波周波数:80kHz
数量:50枚
(平均値):2.1Å、(最大値):2.6Å、(最小値):2.0Å、(標準偏差):0.10Å
<表面平均粗さRa>
(平均値):6.4Å、(最大値):7.0Å、(最小値):6.3Å、(標準偏差):0.11Å
<端部ロールオフ値>
(平均値):−0.03μm、(最大値):±0.00μm、(最小値):−0.10μm、(標準偏差):0.0060μm
付着物のカウント数:(平均値)12.3個/枚、(最大値)24個/枚、(最小値)4個/枚
1a ガラス基板の表面
2 ローラ
3 テープ部材
4 ダイヤモンドスラリー
5 テクスチャー(溝)
Claims (5)
- 平面を有するガラス基板の表面を機械的に研磨する第1の工程と、弗酸と蓚酸とを含む混合液で前記研磨後のガラス基板をエッチングする第2の工程と、前記エッチング後のガラス基板をアルカリ性水溶液に浸漬する第3の工程と、を含むことを特徴とする磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。
- 前記アルカリ性水溶液は、濃度が0.05重量%〜3重量%の水酸化ナトリウム水溶液、又は、濃度が0.05重量%〜3重量%の水酸化カリウム水溶液からなることを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。
- 前記第1の工程では、研磨圧力が266kg/m2〜333kg/m2で前記ガラス基板を研磨し、前記第2の工程では、前記弗酸の濃度が0.01重量%〜0.5重量%で、前記蓚酸の濃度が1重量%〜5重量%の混合液でエッチングすることを特徴とする請求項1又は請求項2のいずれかに記載の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。
- 平面を有するガラス基板の表面を、研磨圧力が266kg/m2〜333kg/m2で機械的に研磨する第1の工程と、弗酸の濃度が0.01重量%〜0.5重量%で蓚酸の濃度が1重量%〜5重量%の弗酸と蓚酸とを含む混合液で、前記研磨後のガラス基板をエッチングする第2の工程と、前記エッチング後のガラス基板を、濃度が0.05重量%〜3重量%の水酸化ナトリウム水溶液、又は、濃度が0.05重量%〜3重量%の水酸化カリウム水溶液に浸漬する第3の工程と、を含むことを特徴とする磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。
- 平面を有するガラス基板の表面を機械的に研磨することにより微小うねりの高さWaを3Å以下にする第1の工程と、弗酸と蓚酸とを含む混合液で前記研磨後のガラス基板をエッチングすることにより表面平均粗さRaを6Å〜10Åにする第2の工程と、前記エッチング後のガラス基板を、濃度が0.05重量%〜3重量%の水酸化ナトリウム水溶液、又は、濃度が0.05重量%〜3重量%の水酸化カリウム水溶液に浸漬する第3の工程と、を含むことを特徴とする磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。
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